JP7025046B2 - Test system, test method, and program - Google Patents

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Description

本発明は、試験システム、試験方法、及びプログラムに関する。 The present invention relates to test systems, test methods, and programs.

情報処理機器などに代表されるマルチメディア機器などにおける給電系統に実施するイミュニティ（耐性）試験方法のうち、国際規格で規定されたイミュニティ試験方法は定電圧条件にて試験を実施することが一般的である（例えば、特許文献１参照）。このような試験システムとして、図８に示すような、ノイズ重畳回路８０３が、給電８０１から供給された電源電圧に対しノイズ発生器８０２の発生するノイズを重畳させて、イミュニティ試験の対象となる供試験装置９００に注入するものがある。このような試験システムにおけるノイズ発生のタイミングは、試験システムで設定した一定間隔による発生、または商用電源の電圧位相角に同期した発生のみを想定している。 Among the immunity (resistance) test methods to be carried out on the power supply system in multimedia equipment such as information processing equipment, the immunity test method specified by the international standard is generally carried out under constant voltage conditions. (See, for example, Patent Document 1). As such a test system, the noise superimposition circuit 803 as shown in FIG. 8 superimposes the noise generated by the noise generator 802 on the power supply voltage supplied from the power supply 801 and is the subject of the immunity test. Some are injected into the test device 900. The timing of noise generation in such a test system is assumed to be generated only at regular intervals set in the test system or generated in synchronization with the voltage phase angle of the commercial power supply.

特開２００４－３０９１５３号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2004-309153

しかしながら、実際の運用環境では、図９に示すように、同一の給電系統ＰＬに接続された他の機器９０１の始動や動作に伴い、供試験装置９００に対する電圧変動が発生している。上述した技術では、このような実際の運用環境において発生する可能性のある商用電源の電圧変動と同じタイミングで発生したノイズについてイミュニティ試験をすることができない。 However, in an actual operating environment, as shown in FIG. 9, a voltage fluctuation with respect to the test apparatus 900 occurs with the start and operation of another device 901 connected to the same power feeding system PL. With the above-mentioned technology, it is not possible to perform an immunity test on noise generated at the same timing as the voltage fluctuation of the commercial power supply that may occur in such an actual operating environment.

そこでこの発明は、上述の課題を解決する試験システム、試験方法、及びプログラムを提供することを目的としている。 Therefore, an object of the present invention is to provide a test system, a test method, and a program that solve the above-mentioned problems.

本発明の第１の態様によれば、試験システムは、イミュニティ試験の対象となる供試験装置に供給する給電電圧を変更可能な電源制御部と、ノイズを発生するノイズ発生器と、前記電源制御部に前記給電電圧を変動させ、前記ノイズ発生器にノイズを発生させる同期処理を実行する同期部と、前記給電電圧に前記ノイズ発生器が発生させたノイズを重畳させて前記供試験装置に注入するノイズ重畳回路と、を備えることを特徴とする。 According to the first aspect of the present invention, the test system includes a power supply control unit capable of changing the feed voltage supplied to the test device to be tested for immunity, a noise generator that generates noise, and the power supply control. A synchronization unit that fluctuates the feed voltage and executes a synchronization process that generates noise in the noise generator, and a unit that superimposes the noise generated by the noise generator on the feed voltage and injects it into the test apparatus. It is characterized by including a noise superimposing circuit.

本発明の第２の態様によれば、試験方法は、イミュニティ試験の対象となる供試験装置に供給する給電電圧を電源制御部に変動させ、ノイズ発生器にノイズを発生させる同期処理を実行し、前記給電電圧に前記ノイズ発生器が発生させたノイズを重畳させて前記供試験装置に注入することを特徴とする。 According to the second aspect of the present invention, in the test method, the power supply voltage supplied to the test device to be tested for immunity is changed to the power supply control unit, and a synchronization process for generating noise in the noise generator is executed. The noise generated by the noise generator is superimposed on the feed voltage and injected into the test apparatus.

本発明の第３の態様によれば、プログラムは、制御装置のコンピュータを、イミュニティ試験の対象となる供試験装置に供給する給電電圧を電源制御部に変動させ、ノイズ重畳回路が前記給電電圧に重畳させて前記供試験装置に注入するノイズをノイズ発生器に発生させる同期処理を実行する同期手段、として機能させることを特徴とする。 According to the third aspect of the present invention, the program causes the computer of the control device to change the feed voltage supplied to the test device subject to the immunity test to the power supply control unit, and the noise superimposition circuit changes the feed voltage to the feed voltage. It is characterized in that it functions as a synchronization means for executing a synchronization process of superimposing and injecting noise into the test apparatus into a noise generator.

本発明によれば、給電電圧の変動と同じタイミングで発生したノイズについてイミュニティ試験を実施することができる。 According to the present invention, the immunity test can be performed on the noise generated at the same timing as the fluctuation of the feeding voltage.

本発明の実施形態による試験システムの構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the test system by embodiment of this invention. 本発明の実施形態による試験システムが実行する評価処理の手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the procedure of the evaluation process which the test system by embodiment of this invention performs. 本発明の実施形態による交流電源である場合の試験システムの構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the test system in the case of the AC power source by embodiment of this invention. 本発明の実施形態による交流電源におけるノイズ注入の一例を示すグラフである。It is a graph which shows an example of the noise injection in the AC power source by embodiment of this invention. 本発明の実施形態による直流電源である場合の試験システムの構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the test system in the case of the DC power source by embodiment of this invention. 本発明の実施形態による直流電源におけるノイズ注入の一例を示すグラフである。It is a graph which shows an example of the noise injection in the DC power source by embodiment of this invention. 本発明の試験システムの最小構成を示す図である。It is a figure which shows the minimum structure of the test system of this invention. 一般的な試験システムの構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of a general test system. 装置運用時における電源系統のイメージ図である。It is an image diagram of the power supply system at the time of device operation.

以下、本発明の一実施形態による試験システム、試験方法、及びプログラムについて図面を参照して説明する。 Hereinafter, a test system, a test method, and a program according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

＜第１の実施形態＞
まず、第１の実施形態について説明する。
図１は、本実施形態による試験システムの構成を示すブロック図である。
試験システム１００は、供試験装置５に対して給電系統のノイズに対するイミュニティ試験を実施するためのものであって、供試験装置５にイミュニティ試験のためのノイズを注入するものである。供試験装置５は、電子機器であり、例えば、コンピュータ等の情報処理機器や複合機等のマルチメディア機器である。試験システム１００は、制御装置１と、電源制御部２と、ノイズ発生器３と、ノイズ重畳回路４とを含んで構成される。 <First Embodiment>
First, the first embodiment will be described.
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a test system according to the present embodiment.
The test system 100 is for performing an immunity test on the noise of the feeding system on the test device 5, and injects the noise for the immunity test into the test device 5. The test device 5 is an electronic device, for example, an information processing device such as a computer or a multimedia device such as a multifunction device. The test system 100 includes a control device 1, a power supply control unit 2, a noise generator 3, and a noise superimposing circuit 4.

電源制御部２は、供試験装置５に供給する給電電力を制御する。例えば、電源制御部２は、給電電力の電圧（以下、「給電電圧」とする。）を変更することができる。
ノイズ発生器３は、パルス性のノイズを発生させる。
ノイズ重畳回路４は、給電電圧に、ノイズ発生器３が発生させたノイズを重畳させて、供試験装置５に対し注入する。 The power supply control unit 2 controls the power supply power supplied to the test device 5. For example, the power supply control unit 2 can change the voltage of the power supply power (hereinafter referred to as “feed power supply voltage”).
The noise generator 3 generates pulse noise.
The noise superimposing circuit 4 superimposes the noise generated by the noise generator 3 on the feeding voltage and injects it into the test apparatus 5.

制御装置１は、試験システム１００を統括して制御する。制御装置１は、電源パラメータ設定部１１と、ノイズパラメータ設定部１２と、ノイズ注入タイミング設定部１３と、同期部１４とを備える。
電源パラメータ設定部１１は、１又は複数の電源パラメータの設定入力を受け付ける。また、電源パラメータ設定部１１は、入力された電源パラメータを電源制御部２に設定する。例えば、電源パラメータ設定部１１は、入力された電源パラメータを含む制御信号を電源制御部２に出力することにより、電源パラメータを電源制御部２に設定する。電源パラメータには、給電電圧の定常電圧値、変動レベル、及び変動時間が含まれる。変動レベルは、給電電圧を変動させるレベル（例えば、変動後の値や変動させる割合等）である。変動時間は、変動後の給電電圧値を維持する時間である。 The control device 1 controls the test system 100 in an integrated manner. The control device 1 includes a power supply parameter setting unit 11, a noise parameter setting unit 12, a noise injection timing setting unit 13, and a synchronization unit 14.
The power supply parameter setting unit 11 receives the setting input of one or a plurality of power supply parameters. Further, the power supply parameter setting unit 11 sets the input power supply parameter to the power supply control unit 2. For example, the power supply parameter setting unit 11 sets the power supply parameter to the power supply control unit 2 by outputting a control signal including the input power supply parameter to the power supply control unit 2. Power supply parameters include the steady-state voltage value of the feed voltage, the fluctuation level, and the fluctuation time. The fluctuation level is a level at which the feed voltage is fluctuated (for example, the value after the fluctuation, the rate of fluctuation, etc.). The fluctuation time is the time for maintaining the feed voltage value after the fluctuation.

ノイズパラメータ設定部１２は、１又は複数のノイズパラメータの設定入力を受け付ける。また、ノイズパラメータ設定部１２は、入力されたノイズパラメータをノイズ発生器３に設定する。例えば、ノイズパラメータ設定部１２は、入力されたノイズパラメータを含む制御信号をノイズ発生器３に出力することにより、ノイズパラメータをノイズ発生器３に設定する。ノイズパラメータには、ノイズ発生器３が発生するノイズのレベル（例えば、大きさや程度等）を示すノイズレベルが含まれる。 The noise parameter setting unit 12 receives the setting input of one or a plurality of noise parameters. Further, the noise parameter setting unit 12 sets the input noise parameter in the noise generator 3. For example, the noise parameter setting unit 12 sets the noise parameter to the noise generator 3 by outputting the control signal including the input noise parameter to the noise generator 3. The noise parameter includes a noise level indicating the level (for example, magnitude, degree, etc.) of the noise generated by the noise generator 3.

ノイズ注入タイミング設定部１３は、ノイズを供試験装置５に注入するノイズ注入タイミングの設定入力を受け付ける。
同期部１４は、設定されたノイズ注入タイミングに、電源制御部２に給電電圧を変動レベルで変動させると同時に、ノイズ発生器３にノイズレベルのノイズを発生させる同期処理を実行する。例えば、同期部１４は、電源電圧が突然低下し、短い時間の後に復帰する電圧ディップ（給電電圧の急降下）と同時にノイズを発生させる。同期部１４は、電圧変動指示信号を電源制御部２に出力することにより、電源制御部２に給電電圧を変動レベルで変動させる。また、同期部１４は、ノイズ発生指示信号をノイズ発生器３に出力することにより、ノイズ発生器３にノイズレベルのノイズを発生させる。また、同期部１４は、設定されたノイズレベル全てについて同期処理を実行する。また、同期部１４は、設定された変動レベル全てについて同期処理を実行する。 The noise injection timing setting unit 13 receives a noise injection timing setting input for injecting noise into the test apparatus 5.
At the set noise injection timing, the synchronization unit 14 causes the power supply control unit 2 to change the feed voltage at a fluctuation level, and at the same time, executes a synchronization process for generating noise at the noise level in the noise generator 3. For example, the synchronization unit 14 generates noise at the same time as a voltage dip (a sudden drop in the feeding voltage) in which the power supply voltage suddenly drops and recovers after a short time. The synchronization unit 14 outputs the voltage fluctuation instruction signal to the power supply control unit 2 to change the power supply voltage to the power supply control unit 2 at the fluctuation level. Further, the synchronization unit 14 outputs a noise generation instruction signal to the noise generator 3 to generate noise at a noise level in the noise generator 3. Further, the synchronization unit 14 executes synchronization processing for all the set noise levels. Further, the synchronization unit 14 executes the synchronization process for all the set fluctuation levels.

続いて、試験システム１００における処理の流れについて説明する。
図２は、本実施形態による試験システムが実行する評価処理の手順を示すフローチャートである。
まず、制御装置１は、試験パラメータの設定入力を受け付ける（ステップＳ１０１）。試験パラメータには、１又は複数の電源パラメータ、１又は複数のノイズパラメータ、及びノイズ注入タイミングが含まれる。 Subsequently, the flow of processing in the test system 100 will be described.
FIG. 2 is a flowchart showing a procedure of evaluation processing executed by the test system according to the present embodiment.
First, the control device 1 accepts the setting input of the test parameter (step S101). The test parameters include one or more power supply parameters, one or more noise parameters, and noise injection timing.

制御装置１は、設定入力された電源パラメータのうち１を電源制御部２に設定する（ステップＳ１０２）。電源制御部２は、設定された電源パラメータに含まれる定常電圧値で供試験装置５に電力を供給する。また、制御装置１は、設定入力されたノイズパラメータのうち１をノイズ発生器３に設定する（ステップＳ１０３）。このとき、制御装置１は、ノイズパラメータの他に、必要があればその他パラメータをノイズ発生器３に設定してもよい。 The control device 1 sets one of the set and input power supply parameters in the power supply control unit 2 (step S102). The power supply control unit 2 supplies electric power to the test device 5 at a steady voltage value included in the set power supply parameter. Further, the control device 1 sets one of the noise parameters set and input to the noise generator 3 (step S103). At this time, the control device 1 may set other parameters in the noise generator 3 in addition to the noise parameters, if necessary.

制御装置１は、設定入力されたノイズ注入タイミングで、給電電圧の変動及びノイズの発生を同時に行う同期処理を実行する（ステップＳ１０４）。具体的には、制御装置１は、電圧変動指示信号を電源制御部２に、ノイズ発生指示信号をノイズ発生器３に同時に出力する。電源制御部２は、電圧変動指示信号が入力されると、設定された変動レベルで給電電圧を変動させる。また、ノイズ発生器３は、ノイズ発生指示信号が入力されると、設定されたノイズレベルのノイズを発生させる。ノイズ重畳回路４は、ノイズ発生器３が発生したノイズを給電電圧に重畳させて供試験装置５に注入する。これにより、制御装置１は、給電電圧の変動及びノイズの発生を同期させることができる。 The control device 1 executes a synchronization process in which the feed voltage fluctuates and noise is generated at the same time at the noise injection timing set and input (step S104). Specifically, the control device 1 simultaneously outputs a voltage fluctuation instruction signal to the power supply control unit 2 and a noise generation instruction signal to the noise generator 3. When the voltage fluctuation instruction signal is input, the power supply control unit 2 fluctuates the feed voltage at a set fluctuation level. Further, the noise generator 3 generates noise at a set noise level when a noise generation instruction signal is input. The noise superimposing circuit 4 superimposes the noise generated by the noise generator 3 on the feeding voltage and injects it into the test apparatus 5. As a result, the control device 1 can synchronize the fluctuation of the feeding voltage and the generation of noise.

続いて、制御装置１は、設定入力された全てのノイズパラメータ（ノイズレベル）について同期処理（ステップＳ１０４の処理）を実行したか否かを判定する（ステップＳ１０５）。全てのノイズパラメータについて同期処理を実行していない場合（ステップＳ１０５；Ｎｏ）には、設定入力されたノイズパラメータのうち実行していないノイズパラメータを選択し、ステップＳ１０３の処理に戻る。 Subsequently, the control device 1 determines whether or not the synchronization process (process of step S104) has been executed for all the noise parameters (noise levels) set and input (step S105). If the synchronization process is not executed for all the noise parameters (step S105; No), the noise parameter that has not been executed is selected from the noise parameters input for the setting, and the process returns to the process of step S103.

一方、全てのノイズパラメータについて同期処理を実行した場合（ステップＳ１０５；Ｙｅｓ）には、制御装置１は、設定入力された全ての電源パラメータについて同期処理を実行したか否かを判定する（ステップＳ１０６）。全ての電源パラメータについて同期処理を実行していない場合（ステップＳ１０６；Ｎｏ）には、設定入力された電源パラメータのうち実行していない電源パラメータを選択し、ステップＳ１０２の処理に戻る。すなわち、制御装置１は、設定されたノイズパラメータと電源パラメータとの組み合わせ全てについて同期処理を実行する。一方、全ての電源パラメータについて同期処理を実行した場合（ステップＳ１０６；Ｙｅｓ）には、処理を終了する。 On the other hand, when the synchronization processing is executed for all the noise parameters (step S105; Yes), the control device 1 determines whether or not the synchronization processing is executed for all the power supply parameters whose settings have been input (step S106). ). When the synchronization processing is not executed for all the power supply parameters (step S106; No), the power supply parameter that has not been executed is selected from the power supply parameters input for the setting, and the process returns to the process of step S102. That is, the control device 1 executes the synchronization process for all the combinations of the set noise parameter and the power supply parameter. On the other hand, when the synchronization process is executed for all the power supply parameters (step S106; Yes), the process ends.

続いて、ノイズ注入タイミングと給電電圧の変動及び発生するノイズについて具体例を用いて説明する。
図３は、本実施形態による交流電源である場合の試験システムの構成を示すブロック図である。
本例における電源制御部２は、交流電源を制御するＡＣ電源制御部２Ａである。他の構成は、図１に示すものと同様であるため、その説明を省略する。 Subsequently, the noise injection timing, the fluctuation of the feeding voltage, and the generated noise will be described with reference to specific examples.
FIG. 3 is a block diagram showing a configuration of a test system in the case of an AC power supply according to the present embodiment.
The power supply control unit 2 in this example is an AC power supply control unit 2A that controls an AC power supply. Since the other configurations are the same as those shown in FIG. 1, the description thereof will be omitted.

図４は、本実施形態による交流電源におけるノイズ注入の一例を示すグラフである。
本図に示すグラフの横軸は時間（単位はｓ（秒））であり、縦軸は電圧値（単位はＶ（ボルト））である。本例に示す定常電圧値は最大値が１．５Ｖであり、１サイクル（周期）０．０２秒である。また、本例に示す変動レベルは‐５０％であり、変動時間は２．５サイクルであり、ノイズレベルは２Ｖである。また、本例に示すノイズ注入タイミングは、電圧位相角９０°である。 FIG. 4 is a graph showing an example of noise injection in an AC power supply according to the present embodiment.
The horizontal axis of the graph shown in this figure is time (unit is s (seconds)), and the vertical axis is voltage value (unit is V (volts)). The maximum value of the steady-state voltage value shown in this example is 1.5 V, and one cycle (cycle) is 0.02 seconds. The fluctuation level shown in this example is -50%, the fluctuation time is 2.5 cycles, and the noise level is 2V. The noise injection timing shown in this example is a voltage phase angle of 90 °.

制御装置１は、給電電圧の電圧位相角９０°のノイズ注入タイミングＴ１で、電圧変動指示信号をＡＣ電源制御部２Ａに、ノイズ発生指示信号をノイズ発生器３に同時に出力する。これにより、ノイズ注入タイミングＴ１で、ＡＣ電源制御部２Ａが給電電圧を５０％降下させるとともに、ノイズ発生器３が２Ｖのノイズを発生させる。すなわち、ノイズ注入タイミングＴ１で、給電電圧の急降下（電圧ディップ）とノイズの発生とが同時に起こる。なお、ＡＣ電源制御部２Ａは、給電電圧を変動（降下）させてから変動時間の２．５サイクルが経過すると、給電電圧を定常電圧値に戻す。 The control device 1 simultaneously outputs a voltage fluctuation instruction signal to the AC power supply control unit 2A and a noise generation instruction signal to the noise generator 3 at the noise injection timing T1 having a voltage phase angle of 90 ° of the feeding voltage. As a result, at the noise injection timing T1, the AC power supply control unit 2A lowers the feeding voltage by 50%, and the noise generator 3 generates 2V noise. That is, at the noise injection timing T1, a sudden drop in the feed voltage (voltage dip) and the generation of noise occur at the same time. The AC power supply control unit 2A returns the feed voltage to the steady-state voltage value when 2.5 cycles of the fluctuation time have elapsed after the feed voltage is fluctuated (dropped).

図５は、本実施形態による直流電源である場合の試験システムの構成を示すブロック図である。
本例における電源制御部２は、直流電源を制御するＤＣ電源制御部２Ｂである。他の構成は、図１に示すものと同様であるため、その説明を省略する。 FIG. 5 is a block diagram showing a configuration of a test system in the case of a DC power supply according to the present embodiment.
The power supply control unit 2 in this example is a DC power supply control unit 2B that controls a DC power supply. Since the other configurations are the same as those shown in FIG. 1, the description thereof will be omitted.

図６は、本実施形態による直流電源におけるノイズ注入の一例を示すグラフである。
本図に示すグラフの横軸は時間（単位はｓ（秒））であり、縦軸は電圧値（単位はＶ（ボルト））である。本例に示す定常電圧値は１２Ｖである。また、本例に示す変動レベルは、変動後の電圧値を示す１０Ｖであり、変動時間は１０ミリ秒であり、ノイズレベルは４０Ｖである。 FIG. 6 is a graph showing an example of noise injection in a DC power supply according to the present embodiment.
The horizontal axis of the graph shown in this figure is time (unit is s (seconds)), and the vertical axis is voltage value (unit is V (volts)). The steady-state voltage value shown in this example is 12V. Further, the fluctuation level shown in this example is 10 V indicating the voltage value after the fluctuation, the fluctuation time is 10 milliseconds, and the noise level is 40 V.

制御装置１は、ノイズ注入タイミングＴ２で、電圧変動指示信号をＤＣ電源制御部２Ｂに、ノイズ発生指示信号をノイズ発生器３に同時に出力する。これにより、ノイズ注入タイミングＴ２で、ＤＣ電源制御部２Ｂが給電電圧を１２Ｖから１０Ｖに降下させるとともに、ノイズ発生器３が４０Ｖのノイズを発生させる。すなわち、ノイズ注入タイミングＴ２で、給電電圧の急降下（電圧ディップ）とノイズの発生とが同時に起こる。なお、ＤＣ電源制御部２Ｂは、給電電圧を変動（降下）させてから変動時間の１０ミリ秒が経過すると、給電電圧を定常電圧値である１２Ｖに戻す。 The control device 1 simultaneously outputs a voltage fluctuation instruction signal to the DC power supply control unit 2B and a noise generation instruction signal to the noise generator 3 at the noise injection timing T2. As a result, at the noise injection timing T2, the DC power supply control unit 2B lowers the feeding voltage from 12V to 10V, and the noise generator 3 generates 40V noise. That is, at the noise injection timing T2, a sudden drop in the feed voltage (voltage dip) and the generation of noise occur at the same time. The DC power supply control unit 2B returns the feed voltage to the steady-state voltage value of 12 V when 10 milliseconds of the fluctuation time elapses after the feed voltage is fluctuated (dropped).

上述したように、本実施形態による試験システム１００は、電源の種類（直流または交流）について限定することなく、利用可能である。 As described above, the test system 100 according to the present embodiment can be used without limitation on the type of power source (direct current or alternating current).

このように、本実施形態によれば、試験システム１００は、イミュニティ試験の対象となる供試験装置５に供給する給電電圧を変更可能な電源制御部２と、ノイズを発生するノイズ発生器３と、電源制御部２に給電電圧を変動させると同時にノイズ発生器３にノイズを発生させる同期処理を実行する同期部１４と、給電電圧にノイズ発生器３が発生させたノイズを重畳させて供試験装置５に注入するノイズ重畳回路４と、を備える。 As described above, according to the present embodiment, the test system 100 includes a power supply control unit 2 capable of changing the power supply voltage supplied to the test device 5 to be tested for immunity, and a noise generator 3 for generating noise. The test is performed by superimposing the noise generated by the noise generator 3 on the power supply voltage and the synchronization unit 14 that executes the synchronization processing that causes the noise generator 3 to generate noise at the same time as the power supply voltage is changed on the power supply control unit 2. A noise superimposing circuit 4 to be injected into the device 5 is provided.

このような構成により、電圧変動に加えてノイズの発生という複合的な条件が起こりうる実際の運用環境を再現して試験をすることができる。また、電圧変動と同時にノイズが印加されることで国際規格と比較し厳しい評価が可能となり、供試験装置５のノイズ耐性が向上する。また、従来の一般的な試験システムに制御装置１を追加するだけで試験システム１００を構成することができるため、比較的低コストで試験環境を構築することができる。また、ノイズ発生器３を変更することで、ＲＦ（Ｒａｄｉｏ Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ）伝導、サージ、ＥＦＴ／Ｂ（Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌ ｆａｓｔ ｔｒａｎｓｉｅｎｔ ／ ｂｕｒｓｔ）等のイミュニティ試験に対応が可能となる。また、外部制御が可能な電源システムがあれば様々な電源環境を模擬することが可能となる。 With such a configuration, it is possible to reproduce and test an actual operating environment in which a complex condition of noise generation in addition to voltage fluctuation can occur. Further, since noise is applied at the same time as the voltage fluctuation, strict evaluation is possible as compared with the international standard, and the noise immunity of the test apparatus 5 is improved. Further, since the test system 100 can be configured only by adding the control device 1 to the conventional general test system, the test environment can be constructed at a relatively low cost. Further, by changing the noise generator 3, it becomes possible to support immunity tests such as RF (Radio Frequency) conduction, surge, and EFT / B (Electrical Fast transient / burst). Moreover, if there is a power supply system capable of external control, it is possible to simulate various power supply environments.

また、試験システム１００は、ノイズ発生器３が発生するノイズのノイズレベルを１又は複数設定するノイズパラメータ設定部１２を備え、同期部１４は、設定されたノイズレベル全てについて同期処理を実行する。これにより、評価したいノイズレベルを設定するだけで、自動的に設定された全てのノイズレベルについて同期処理が実行されるため、複数項目の試験を１度の設定入力で実行することができ、試験をするユーザの手間が省かれる。 Further, the test system 100 includes a noise parameter setting unit 12 for setting one or a plurality of noise levels of the noise generated by the noise generator 3, and the synchronization unit 14 executes synchronization processing for all the set noise levels. As a result, just by setting the noise level you want to evaluate, the synchronization process is executed for all the automatically set noise levels, so you can execute the test of multiple items with one setting input, and the test. The time and effort of the user to do this is saved.

また、試験システム１００は、給電電圧を変動させる変動レベルを１又は複数設定する電源パラメータ設定部１１を備え、同期部１４は、設定された変動レベル全てについて同期処理を実行する。これにより、評価したい変動レベルを設定するだけで、自動的に設定された全ての変動レベルについて同期処理が実行されるため、複数項目の試験を１度の設定入力で実行することができ、試験をするユーザの手間が省かれる。 Further, the test system 100 includes a power supply parameter setting unit 11 that sets one or a plurality of fluctuation levels that fluctuate the feed voltage, and the synchronization unit 14 executes synchronization processing for all the set fluctuation levels. As a result, the synchronization process is executed for all the automatically set fluctuation levels just by setting the fluctuation level to be evaluated, so that multiple item tests can be executed with one setting input, and the test can be performed. The time and effort of the user to do this is saved.

また、試験システム１００は、ノイズを供試験装置５に注入するノイズ注入タイミングを設定するノイズ注入タイミング設定部１３を備え、同期部１４は、設定されたノイズ注入タイミングに同期処理を実行する。これにより、試験をするユーザは、ノイズ注入タイミングを任意のタイミングに適宜変更して設定することができる。 Further, the test system 100 includes a noise injection timing setting unit 13 for setting a noise injection timing for injecting noise into the test apparatus 5, and the synchronization unit 14 executes a synchronization process at the set noise injection timing. As a result, the user who conducts the test can appropriately change and set the noise injection timing to an arbitrary timing.

＜第２の実施形態＞
続いて第２の実施形態について説明する。
図７は、試験システムの最小構成を示す図である。
試験システム１００は、少なくとも、イミュニティ試験の対象となる供試験装置５に供給する給電電圧を変更可能な電源制御部２と、ノイズを発生するノイズ発生器３と、同期部１４と、ノイズ重畳回路４とを備えればよい。
同期部１４は、電源制御部２に給電電圧を変動させると同時にノイズ発生器３にノイズを発生させる同期処理を実行する。
ノイズ重畳回路４は、給電電圧にノイズ発生器３が発生させたノイズを重畳させて供試験装置に注入する。
本実施形態によれば、実際の運用環境において発生する可能性のある商用電源の電圧変動と同じタイミングで発生したノイズについてイミュニティ試験をすることができる。 <Second embodiment>
Subsequently, the second embodiment will be described.
FIG. 7 is a diagram showing the minimum configuration of the test system.
The test system 100 includes at least a power supply control unit 2 that can change the power supply voltage supplied to the test device 5 that is the subject of the immunity test, a noise generator 3 that generates noise, a synchronization unit 14, and a noise superimposition circuit. 4 and may be provided.
The synchronization unit 14 executes a synchronization process in which the power supply control unit 2 changes the feed voltage and at the same time the noise generator 3 generates noise.
The noise superimposition circuit 4 superimposes the noise generated by the noise generator 3 on the feed voltage and injects it into the test apparatus.
According to this embodiment, it is possible to perform an immunity test on noise generated at the same timing as the voltage fluctuation of the commercial power supply that may occur in an actual operating environment.

以上本発明の一実施形態について説明したが、本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。 Although one embodiment of the present invention has been described above, the present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.

例えば、上述した実施形態では、ノイズ発生器３が発生するノイズがパルス性である場合を例に説明したが、ノイズの種類についてこれに限定することなく利用可能である。 For example, in the above-described embodiment, the case where the noise generated by the noise generator 3 is pulsed has been described as an example, but the type of noise can be used without limitation.

また、上述した各実施形態や各変形例の１つまたは複数、上述した各実施形態や各変形例の一部または全部を組み合わせて本発明の一態様を実現するようにしてもよい。 Further, one or a plurality of each of the above-described embodiments and modifications, and a part or all of the above-mentioned embodiments and modifications may be combined to realize one aspect of the present invention.

なお、上述した試験システム１００及び制御装置１における各処理部の機能を実現するためのプログラムをコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録して、この記録媒体に記録されたプログラムをコンピュータシステムに読み込ませ、実行することにより上述した各処理を行ってもよい。なお、ここでいう「コンピュータシステム」とは、ＯＳや周辺機器等のハードウェアを含むものとする。また、「コンピュータシステム」は、ホームページ提供環境（あるいは表示環境）を備えたＷＷＷシステムも含むものとする。また、「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、ＲＯＭ、ＣＤ－ＲＯＭ等の可搬媒体、コンピュータシステムに内蔵されるハードディスク等の記憶装置のことをいう。さらに「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、インターネット等のネットワークや電話回線等の通信回線を介してプログラムが送信された場合のサーバやクライアントとなるコンピュータシステム内部の揮発性メモリ（ＲＡＭ）のように、一定時間プログラムを保持しているものも含むものとする。 A program for realizing the functions of each processing unit in the test system 100 and the control device 1 described above is recorded on a computer-readable recording medium, and the program recorded on the recording medium is read into the computer system. Each of the above-mentioned processes may be performed by executing the above-mentioned processes. The term "computer system" as used herein includes hardware such as an OS and peripheral devices. Further, the "computer system" shall also include a WWW system provided with a homepage providing environment (or display environment). Further, the "computer-readable recording medium" refers to a portable medium such as a flexible disk, a magneto-optical disk, a ROM, or a CD-ROM, and a storage device such as a hard disk built in a computer system. Furthermore, a "computer-readable recording medium" is a volatile memory (RAM) inside a computer system that serves as a server or client when a program is transmitted via a network such as the Internet or a communication line such as a telephone line. In addition, it shall include those that hold the program for a certain period of time.

また、上記プログラムは、このプログラムを記憶装置等に格納したコンピュータシステムから、伝送媒体を介して、あるいは、伝送媒体中の伝送波により他のコンピュータシステムに伝送されてもよい。ここで、プログラムを伝送する「伝送媒体」は、インターネット等のネットワーク（通信網）や電話回線等の通信回線（通信線）のように情報を伝送する機能を有する媒体のことをいう。また、上記プログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであっても良い。さらに、前述した機能をコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるもの、いわゆる差分ファイル（差分プログラム）であっても良い。 Further, the program may be transmitted from a computer system in which this program is stored in a storage device or the like to another computer system via a transmission medium or by a transmission wave in the transmission medium. Here, the "transmission medium" for transmitting a program refers to a medium having a function of transmitting information, such as a network (communication network) such as the Internet or a communication line (communication line) such as a telephone line. Further, the above program may be for realizing a part of the above-mentioned functions. Further, a so-called difference file (difference program) may be used, which can realize the above-mentioned function in combination with a program already recorded in the computer system.

１００・・・試験システム
１・・・制御装置
１１・・・電源パラメータ設定部
１２・・・ノイズパラメータ設定部
１３・・・ノイズ注入タイミング設定部
１４・・・同期部
２・・・電源制御部
２Ａ・・・ＡＣ電源制御部
２Ｂ・・・ＤＣ電源制御部
３・・・ノイズ発生器
４・・・ノイズ重畳回路
５・・・供試験装置 100 ... Test system 1 ... Control device 11 ... Power parameter setting unit 12 ... Noise parameter setting unit 13 ... Noise injection timing setting unit 14 ... Synchronization unit 2 ... Power supply control unit 2A ... AC power supply control unit 2B ... DC power supply control unit 3 ... Noise generator 4 ... Noise superimposition circuit 5 ... Test equipment

Claims (7)

電圧変動指示信号が入力された後、事後的に、設定された変動レベルで給電電圧を変動させて、イミュニティ試験の対象となる供試験装置に供給する給電電圧を、供給される電圧変動指示信号による電圧に変更する電源制御部と、
供給されるノイズ発生信号が入力された後、事後的に、設定さたノイズレベルのノイズを発生するノイズ発生器と、
前記電源制御部に前記給電電圧を変動させるための電圧変動指示信号と、前記ノイズ発生器にノイズを発生させるためのノイズ発生信号とを同期させて夫々出力する同期処理を実行する同期部と、
前記変更された電圧の前記給電電圧に前記ノイズ発生器が発生させたノイズを重畳させて前記供試験装置に注入するノイズ重畳回路と、
を備える試験システム。 After the voltage fluctuation instruction signal is input, the feed voltage is changed at the set fluctuation level after the fact, and the feed voltage supplied to the test equipment subject to the immunity test is supplied as the voltage fluctuation instruction signal. Power supply control unit that changes the voltage by
After the supplied noise generation signal is input, the noise generator that generates noise of the set noise level after the fact ,
A synchronization unit that executes a synchronization process that synchronizes a voltage fluctuation instruction signal for fluctuating the power supply voltage to the power supply control unit and a noise generation signal for generating noise in the noise generator, and outputs them respectively.
A noise superimposing circuit that superimposes the noise generated by the noise generator on the feeding voltage of the changed voltage and injects it into the test apparatus.
A test system equipped with. 前記同期部は、給電電圧の急降下と同時に前記ノイズを発生させる、
請求項１に記載の試験システム。 The synchronization unit generates the noise at the same time as the feeding voltage suddenly drops.
The test system according to claim 1. 前記ノイズ発生器が発生するノイズのノイズレベルを１又は複数設定するノイズパラメータ設定部を備え、
前記同期部は、設定されたノイズレベル全てについて前記同期処理を実行する、
請求項１または請求項２に記載の試験システム。 A noise parameter setting unit for setting one or more noise levels of the noise generated by the noise generator is provided.
The synchronization unit executes the synchronization process for all the set noise levels.
The test system according to claim 1 or 2. 前記給電電圧を変動させる変動レベルを１又は複数設定する電源パラメータ設定部を備え、
前記同期部は、設定された変動レベル全てについて前記同期処理を実行する、
請求項１から請求項３の何れか一項に記載の試験システム。 A power supply parameter setting unit for setting one or a plurality of fluctuation levels that fluctuate the feed voltage is provided.
The synchronization unit executes the synchronization process for all the set fluctuation levels.
The test system according to any one of claims 1 to 3. ノイズを前記供試験装置に注入するノイズ注入タイミングを設定するノイズ注入タイミング設定部を備え、
前記同期部は、設定されたノイズ注入タイミングに前記同期処理を実行する、
請求項１から請求項４の何れか一項に記載の試験システム。 It is equipped with a noise injection timing setting unit that sets the noise injection timing for injecting noise into the test device.
The synchronization unit executes the synchronization process at the set noise injection timing.
The test system according to any one of claims 1 to 4. 電圧変動指示信号が入力された後、事後的に、設定された変動レベルで給電電圧を変動させて、イミュニティ試験の対象となる供試験装置に供給する給電電圧を、供給される電圧変動指示信号による電圧に変更する電源制御部と、
供給されるノイズ発生信号が入力された後、事後的に、設定さたノイズレベルのノイズを発生するノイズ発生器と、
前記変更された電圧の給電電圧に前記ノイズ発生器が発生させたノイズを重畳させて前記供試験装置に注入するノイズ重畳回路と、
同期部と
を備える試験システムにおける試験方法であって、
前記同期部が、
前記電源制御部に前記給電電圧を変動させるための電圧変動指示信号と、前記ノイズ発生器に前記ノイズを発生させるためのノイズ発生信号とを同期させて夫々出力する同期処理を実行する、
試験方法。 After the voltage fluctuation instruction signal is input, the feed voltage is changed at the set fluctuation level after the fact, and the feed voltage supplied to the test equipment subject to the immunity test is supplied as the voltage fluctuation instruction signal. Power supply control unit that changes the voltage by
After the supplied noise generation signal is input, the noise generator that generates noise of the set noise level after the fact ,
A noise superimposing circuit that superimposes the noise generated by the noise generator on the feed voltage of the changed voltage and injects it into the test apparatus.
It is a test method in a test system equipped with a synchronization unit.
The synchronization unit
A synchronization process is executed in which the voltage fluctuation instruction signal for fluctuating the feed voltage and the noise generation signal for generating the noise are synchronized with the power supply control unit and output to the noise generator.
Test method. 電圧変動指示信号が入力された後、事後的に、設定された変動レベルで給電電圧を変動させて、イミュニティ試験の対象となる供試験装置に供給する給電電圧を、供給される電圧変動指示信号による電圧に変更する電源制御部と、
供給されるノイズ発生信号が入力された後、事後的に、設定さたノイズレベルのノイズを発生するノイズ発生器と、
前記変更された電圧の給電電圧に前記ノイズ発生器が発生させたノイズを重畳させて前記供試験装置に注入するノイズ重畳回路と、
を備える試験システムのコンピュータを、
前記電源制御部に前記給電電圧を変動させるための電圧変動指示信号と、前記ノイズ発生器に前記ノイズを発生させるためのノイズ発生信号とを同期させて夫々出力する同期処理を実行する同期手段、
として機能させるプログラム。 After the voltage fluctuation instruction signal is input, the feed voltage is changed at the set fluctuation level after the fact, and the feed voltage supplied to the test equipment subject to the immunity test is supplied as the voltage fluctuation instruction signal. Power supply control unit that changes the voltage by
After the supplied noise generation signal is input, the noise generator that generates noise of the set noise level after the fact ,
A noise superimposing circuit that superimposes the noise generated by the noise generator on the feed voltage of the changed voltage and injects it into the test apparatus.
The computer of the test system, which is equipped with
A synchronization means for executing a synchronization process of synchronizing a voltage fluctuation instruction signal for fluctuating the feed voltage to the power supply control unit and a noise generation signal for generating the noise to the noise generator and outputting them respectively.
A program that functions as.
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7409709B1 (en) 2022-07-21 2024-01-09 Ｎｅｃプラットフォームズ株式会社 Test equipment, test method, test program

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002277517A (en) 2001-03-16 2002-09-25 Matsushita Electric Ind Co Ltd Method for evaluating resistance to power source noise, and probe and semiconductor element used therein
WO2008108503A1 (en) 2007-03-06 2008-09-12 Nec Corporation Impulse immunity evaluating device
JP2010044488A (en) 2008-08-11 2010-02-25 Hitachi Kokusai Electric Inc Distributed processing program
WO2011048791A1 (en) 2009-10-21 2011-04-28 阪和電子工業株式会社 Malfunction detecting apparatus for plurality of tested circuits, and malfunction detecting method using that apparatus
JP6238374B2 (en) 2012-06-19 2017-11-29 エルジー・ケム・リミテッド Adhesive composition with improved bubble stability and method for producing the same

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6238374A (en) * 1985-08-14 1987-02-19 Canon Inc Evaluation system for electronic circuit
JPH02113176U (en) * 1989-02-25 1990-09-11
JP2930669B2 (en) * 1990-06-22 1999-08-03 株式会社アドバンテスト Semiconductor test equipment
JPH0545396A (en) * 1991-08-15 1993-02-23 Tokyo Gas Co Ltd Noise tester
JPH08240626A (en) * 1995-03-02 1996-09-17 Fujitsu Ltd Power-supply noise simulator
JP6863187B2 (en) * 2017-09-01 2021-04-21 株式会社Ihi Line noise test equipment

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002277517A (en) 2001-03-16 2002-09-25 Matsushita Electric Ind Co Ltd Method for evaluating resistance to power source noise, and probe and semiconductor element used therein
WO2008108503A1 (en) 2007-03-06 2008-09-12 Nec Corporation Impulse immunity evaluating device
JP2010044488A (en) 2008-08-11 2010-02-25 Hitachi Kokusai Electric Inc Distributed processing program
WO2011048791A1 (en) 2009-10-21 2011-04-28 阪和電子工業株式会社 Malfunction detecting apparatus for plurality of tested circuits, and malfunction detecting method using that apparatus
JP6238374B2 (en) 2012-06-19 2017-11-29 エルジー・ケム・リミテッド Adhesive composition with improved bubble stability and method for producing the same

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
高橋 丈博 ほか，技術論文 動作状態に依存したICのノイズ感受性特性の検討，エレクトロニクス実装学会誌 Journal of Japan Institute of Electronics Packaging，第１０巻第１号 通巻第６３号，安東 泰博 （社）エレクトロニクス実装学会，2007年01月01日，p.73～79

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