JP7001513B2 - 磁気センサ - Google Patents

磁気センサ Download PDF

Info

Publication number
JP7001513B2
JP7001513B2 JP2018054391A JP2018054391A JP7001513B2 JP 7001513 B2 JP7001513 B2 JP 7001513B2 JP 2018054391 A JP2018054391 A JP 2018054391A JP 2018054391 A JP2018054391 A JP 2018054391A JP 7001513 B2 JP7001513 B2 JP 7001513B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetoresistive element
magnetic
annular
magnet
radial
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2018054391A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2019168254A (ja
Inventor
直希 磯部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokai Rika Co Ltd
Original Assignee
Tokai Rika Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokai Rika Co Ltd filed Critical Tokai Rika Co Ltd
Priority to JP2018054391A priority Critical patent/JP7001513B2/ja
Priority to PCT/JP2019/007613 priority patent/WO2019181408A1/ja
Priority to DE112019001470.6T priority patent/DE112019001470T5/de
Priority to CN201980010759.9A priority patent/CN111656208B/zh
Priority to US16/967,073 priority patent/US11397224B2/en
Publication of JP2019168254A publication Critical patent/JP2019168254A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7001513B2 publication Critical patent/JP7001513B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/06Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
    • G01R33/09Magnetoresistive devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/06Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
    • G01R33/09Magnetoresistive devices
    • G01R33/091Constructional adaptation of the sensor to specific applications
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/30Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/12Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
    • G01D5/14Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage
    • G01D5/16Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying resistance
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/0017Means for compensating offset magnetic fields or the magnetic flux to be measured; Means for generating calibration magnetic fields
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N50/00Galvanomagnetic devices
    • H10N50/10Magnetoresistive devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/0094Sensor arrays

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Measuring Magnetic Variables (AREA)
  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
  • Hall/Mr Elements (AREA)

Description

本発明は、磁気センサに関する。
従来の技術として、磁場センサ素子が1又は複数の測定ブリッジを形成するように接続される複数の磁気抵抗素子からなるMR(Magneto Resistive)センサを備えた角度センサが知られている(例えば、特許文献1参照。)。
この角度センサは、磁場の磁気ベクトルの方向を検出することにより、回転軸の周りを回転する測定対象の角度位置を検出することができる。
特開平11-94512号公報
このようなMRセンサを用いた磁気センサとして、検出した角度によっていくつかの状態を判定するものが知られている。この磁気センサは、外乱磁場が印可された場合、検出された磁気ベクトルの角度が磁石の磁気ベクトルの角度なのか、外乱磁場の磁気ベクトルの角度なのか区別することが困難となり誤判定が発生する可能性がある。
従って本発明の目的は、外乱磁場に対する耐性を備えた磁気センサを提供することにある。
本発明の一態様は、一点から放射状に配置された複数の感磁部を有する放射状の磁気抵抗素子と、放射状の磁気抵抗素子を囲むように配置された円環状又は多角形状の磁気抵抗素子と、放射状の磁気抵抗素子と円環状又は多角形状の磁気抵抗素子とによって形成された少なくとも1つのハーフブリッジ回路と、を備えた磁気センサを提供する。
本発明によれば、外乱磁場に対する耐性を備えることができる。
図1(a)は、第1の実施の形態に係る磁気センサの第1の磁気抵抗素子~第4の磁気抵抗素子の配置の一例を示す概略図であり、図1(b)は、磁気センサの等価回路図の一例である。 図2(a)は、第1の実施の形態に係る磁気センサと磁石の位置関係の一例を説明するための概略図であり、図2(b)は、磁気センサに作用する磁気ベクトルの一例を説明するための概略図である。 図3(a)は、第1の実施の形態に係る磁気センサから離れた磁石の一例を示す概略図であり、図3(b)は、磁気センサから離れた場合の磁気ベクトルの一例を示す概略図である。 図4(a)は、第1の実施の形態に係る磁気センサに外乱磁場が作用した場合の一例を示す概略図であり、図4(b)は、磁気センサの磁気抵抗値と中心からの距離の関係の一例を示すグラフであり、図4(c)は、磁気センサが出力する出力信号の一例を示す概略図である。 図5は、第1の実施の形態に係る磁気センサの動作の一例を示すフローチャートである。 図6(a)は、第2の実施の形態に係る磁気センサの放射状の磁気抵抗素子と円環状の磁気抵抗素子の配置の一例を示す概略図であり、図6(b)は、磁気センサの等価回路図の一例である。 図7は、第3の実施の形態に係る磁気センサの放射状の磁気抵抗素子と多角形状の磁気抵抗素子の配置の一例を示す概略図である。
(実施の形態の要約)
実施の形態に係る磁気センサは、一点から放射状に配置された複数の感磁部を有する放射状の磁気抵抗素子と、放射状の磁気抵抗素子を囲むように配置された円環状又は多角形状の磁気抵抗素子と、放射状の磁気抵抗素子と円環状又は多角形状の磁気抵抗素子とによって形成された少なくとも1つのハーフブリッジ回路と、を備えて概略構成されている。
この磁気センサは、放射状の磁気抵抗素子と円環状又は多角形状の磁気抵抗素子とで磁場の方向に対する磁気抵抗値の変化の仕方が異なるので、各磁気抵抗素子が回転対称に配置される場合と比べて、検出対象に起因する磁場の作用なのか、外乱磁場の作用なのかを容易に区別することができ、外乱磁場に対する耐性を備えることができる。
[第1の実施の形態]
(磁気センサ1の概要)
図1(a)は、第1の実施の形態に係る磁気センサの第1の磁気抵抗素子~第4の磁気抵抗素子の配置の一例を示す概略図であり、図1(b)は、磁気センサの等価回路図の一例である。図2(a)は、第1の実施の形態に係る磁気センサと磁石の位置関係の一例を説明するための概略図であり、図2(b)は、磁気センサに作用する磁気ベクトルの一例を説明するための概略図である。なお以下に記載する実施の形態に係る各図において、図形間の比率は、実際の比率とは異なる場合がある。また図1(b)では、主な信号や情報の流れを矢印で示している。さらに図2(b)、図3(b)及び図4(a)では、配線6を省略している。
磁気センサ1は、例えば、磁気センサ1に対する磁石7の接近と離脱を検出するものである。この磁気センサ1は、一例として、オンとオフを検出する非接触スイッチ、操作部の操作の有無を検出する操作装置などの2つの状態の検出するものに用いられる。本実施の形態の磁気センサ1は、一例として、磁石7の接近をオン、離脱をオフと判定する非接触スイッチに用いられるものとする。
この磁気センサ1は、例えば、図1(a)及び図1(b)に示すように、一点(中心P)から放射状に配置された複数の感磁部を有する放射状の磁気抵抗素子と、放射状の磁気抵抗素子を囲むように配置された円環状又は多角形状の磁気抵抗素子と、放射状の磁気抵抗素子と円環状又は多角形状の磁気抵抗素子とによって形成された少なくとも1つのハーフブリッジ回路と、を備えて概略構成されている。
本実施の形態における放射状の磁気抵抗素子は、複数の第1の感磁部20を有する第1の磁気抵抗素子2、及び複数の第2の感磁部30を有する第2の磁気抵抗素子3である。また本実施の形態における円環状又は多角形状の磁気抵抗素子は、第1の磁気抵抗素子2及び第2の磁気抵抗素子3を囲む円環状の第3の磁気抵抗素子4、及び第3の磁気抵抗素子4を囲む円環状の第4の磁気抵抗素子5である。そして磁気センサ1は、例えば、図1(b)に示すように、第1の磁気抵抗素子2~第4の磁気抵抗素子5で構成される2つのハーフブリッジ回路13a及びハーフブリッジ回路13bを備えている。
本実施の形態では、一例として、第3の磁気抵抗素子4及び第4の磁気抵抗素子5が円環状の磁気抵抗素子として構成されている。
第1の感磁部20及び第2の感磁部30は、例えば、図2(a)及び図2(b)に示すように、磁石7が生成する磁場70の磁気ベクトル71の方向に応じて磁気抵抗値が変化する。この第1の感磁部20及び第2の感磁部30は、例えば、図1(a)に示すように、中心Pを中心とする円を分割した扇形状を有している。
また第1の感磁部20及び第2の感磁部30は、例えば、図1(a)に示すように、周方向に交互に配置されている。なお第1の磁気抵抗素子2及び第2の磁気抵抗素子3は、磁気抵抗値を含めた抵抗値を同一とする場合、抵抗値が同一となるのであれば、感磁部の形状、個数、周方向の配置順などが限定されない。
また第1の磁気抵抗素子2及び第2の磁気抵抗素子3は、第3の磁気抵抗素子4及び第4の磁気抵抗素子5の抵抗値との調整が行われる、つまりハーフブリッジ回路を組む円環状の磁気抵抗素子の抵抗値に合わせるような感磁部の形状や個数などであっても良い。
第3の磁気抵抗素子4及び第4の磁気抵抗素子5は、感磁部がリング形状(円環状)を有し、磁気ベクトル71の方向に応じて磁気抵抗値が変化する。
磁気センサ1は、第1の磁気抵抗素子2又は第2の磁気抵抗素子3と、第3の磁気抵抗素子4又は第4の磁気抵抗素子5と、が電気的に接続されて第1の中点電位を出力し、残りの磁気抵抗素子が電気的に接続されて第2の中点電位を出力するように構成されている。この磁気センサ1は、ハーフブリッジ回路13a及びハーフブリッジ回路13bによって構成されるブリッジ回路13を備えている。
具体的には、ハーフブリッジ回路13aは、例えば、図1(b)に示すように、第1の磁気抵抗素子2と第3の磁気抵抗素子4とが電気的に接続されて第1の中点電位として中点電位Vを出力する。またハーフブリッジ回路13bは、例えば、第2の磁気抵抗素子3と第4の磁気抵抗素子5とが電気的に接続されて第2の中点電位として中点電位Vを出力する。
なおブリッジ回路13は、例えば、放射状の磁気抵抗素子と円環状の磁気抵抗素子とがハーフブリッジ回路を構成する組み合わせで接続されれば良いので、他の組み合わせでも良い。従ってハーフブリッジ回路は、例えば、第1の磁気抵抗素子2と第4の磁気抵抗素子5が電気的に接続されてハーフブリッジ回路13aを構成すると共に、第2の磁気抵抗素子3と第3の磁気抵抗素子4が電気的に接続されてハーフブリッジ回路13bを構成しても良い。
さらに磁気センサ1は、例えば、図1(b)に示すように、オペアンプOPと、制御部15と、を備えて概略構成されている。また第1の磁気抵抗素子2~第4の磁気抵抗素子5は、例えば、図2(b)に示すように、基板10に形成されている。この基板10は、例えば、プリント配線基板であり、第1の磁気抵抗素子2~第4の磁気抵抗素子5からなるセンサ部12の他に、オペアンプOP及び制御部15が配置されても良い。
(第1の磁気抵抗素子2~第4の磁気抵抗素子5の構成)
第1の磁気抵抗素子2及び第2の磁気抵抗素子3は、例えば、図1(a)に示すように、第1の感磁部20及び第2の感磁部30の形状が同一である。また第3の磁気抵抗素子4及び第4の磁気抵抗素子5は、感磁部が円環状であるが、少なくとも半径が異なっている。
第1の磁気抵抗素子2~第4の磁気抵抗素子5は、例えば、Ni、Feなどの強磁性金属を主成分とする合金の薄膜として形成されている。第1の感磁部20は、例えば、図1(a)に示すように、磁気ベクトル71の方向の変化によって抵抗値が変化しない銅などの金属材料により、直列接続となるように端部が交互に接続され、直列接続の始点と終点が配線6と繋がっている。同様に、第2の感磁部30は、例えば、図1(a)に示すように、直列接続となるように端部が交互に接続され、直列接続の始点と終点が配線6と繋がっている。従って第1の感磁部20及び第2の感磁部30は、電流が径方向に流れる。
これらの感磁部を繋ぐ配線は、一例として、基板10の表面10a及び裏面10bに形成され、表面10aと裏面10bの配線が基板10を貫通するスルーホールを介して電気的に接続される。なお感磁部を繋ぐ配線は、絶縁体を挟んで表面10aに立体的に形成されても良い。
また第3の磁気抵抗素子4及び第4の磁気抵抗素子5は、例えば、図1(a)に示すように、一部に切欠きが形成されて配線6と電気的に接続されている。この配線6は、磁気ベクトル71の方向の変化によって抵抗値が変化しない銅などの金属材料によって形成されている。従って第3の磁気抵抗素子4及び第4の磁気抵抗素子5は、電流が周に沿って流れる。
第1の感磁部20及び第2の感磁部30は、一例として、同じ形状を有する扇形状の感磁部を、中心Pに対して10°ずつ回転して等間隔で配置されている。つまり第1の感磁部20及び第2の感磁部30は、中心Pに対して回転対称となるように配置される。
第1の磁気抵抗素子2~第4の磁気抵抗素子5は、ブリッジ回路13を構成するので、磁気ベクトル71が作用していない場合の磁気抵抗値を含む抵抗値が等しいことが好ましい。つまり第1の磁気抵抗素子2~第4の磁気抵抗素子5は、磁気ベクトル71が作用しても変化しない抵抗成分と、磁気ベクトル71の作用によって変化する磁気抵抗成分と、を含む抵抗値が等しいことが好ましい。磁気センサ1がこの構成を有し、磁石7がセンサ部12の直上に位置する場合、中点電位V及び中点電位Vが等しくなり、出力信号Sがゼロとなる。
従って第1の磁気抵抗素子2及び第2の磁気抵抗素子3は、第1の感磁部20及び第2の感磁部30が同じ材料、同じ面積、同じ個数となるように形成される。
同様に、第3の磁気抵抗素子4及び第4の磁気抵抗素子5は、抵抗値が等しいことが好ましい。しかし第3の磁気抵抗素子4と第4の磁気抵抗素子5は、半径が異なることから形状が異なるので、線幅、長さ、材料などによって抵抗値が等しくなるように形成されることが好ましい。本実施の形態の第1の磁気抵抗素子2~第4の磁気抵抗素子5は、抵抗値が等しくなるように材料などの選択が行われる。
なお変形例として磁気センサ1は、少なくともハーフブリッジ回路を構成する放射状の磁気抵抗素子と円環状の磁気抵抗素子の抵抗値が等しくされても良い。具体的には、例えば、ハーフブリッジ回路13aを構成する第1の磁気抵抗素子2及び第3の磁気抵抗素子4の抵抗値が等しく、またハーフブリッジ回路13bを構成する第2の磁気抵抗素子3と第4の磁気抵抗素子5の抵抗値が等しくなれば良い。
また他の変形例として磁気センサ1は、例えば、磁石7がセンサ部12の直上に位置する場合、第1の磁気抵抗素子2~第4の磁気抵抗素子5の抵抗値の違いによる中点電位の違いをオフセットする構成やしきい値Thを調整することによってオン、オフを判定する構成などであっても良い。
ここで第2の磁気抵抗素子3と第3の磁気抵抗素子4の接続点であるノード11aは、図1(b)に示すように、電源電圧VCCに電気的に接続される。第1の磁気抵抗素子2と第4の磁気抵抗素子5の接続点であるノード11cは、GNDと電気的に接続される。
ハーフブリッジ回路13aは、上述のように、第3の磁気抵抗素子4と第1の磁気抵抗素子2のノード11bにおける中点電位Vを出力する。この中点電位Vは、オペアンプOPの非反転入力端子(+側)に入力する。
ハーフブリッジ回路13bは、上述のように、第2の磁気抵抗素子3と第4の磁気抵抗素子5のノード11dにおける中点電位Vを出力する。この中点電位Vは、オペアンプOPの反転入力端子(-側)に入力する。このオペアンプOPは、非反転入力端子に入力した中点電位Vと、反転入力端子に入力した中点電位Vと、を差動増幅した出力信号Sを制御部15に出力する。
(磁石7の構成)
磁石7は、例えば、図2(a)及び図2(b)に示すように、放射状の磁気ベクトル71を生成する、円柱や四角柱などの柱体形状を有している。本実施の形態の磁石7は、例えば、円柱形状を有する。
磁石7は、例えば、図2(a)に示すように、第1の磁気抵抗素子2~第4の磁気抵抗素子5側がN極、他方がS極となるように着磁されている。この磁石7は、例えば、図2(b)に示すように、第1の磁気抵抗素子2~第4の磁気抵抗素子5に対して放射状の磁気ベクトル71が作用するように、基板10に向けて放射状の磁場70を生成する。なお磁石7は、着磁が逆であっても良い。
磁石7は、例えば、アルニコ磁石、フェライト磁石、ネオジム磁石などの永久磁石を所望の形状に成形したもの、又はフェライト系、ネオジム系、サマコバ系、サマリウム鉄窒素系などの磁性体材料と合成樹脂材料とを混合して所望の形状に成形したものである。本実施の形態の磁石7は、一例として、永久磁石である。なお磁石7は、電磁石であっても良い。
本実施の形態の磁石7は、一例として、図2(a)に示す中心線72が磁気センサ1の中心Pと一致する位置から磁気センサ1の境界120の外に移動するものとする。この中心線72とは、例えば、N極側の端面7aとS極側の端面7bの中心を結んで延長した線である。また境界120とは、例えば、センサ部12の外周、つまり第4の磁気抵抗素子5の外周である。
例えば、中心Pからセンサ部12の境界120までをオン領域80、センサ部12の外側をオフ領域81と定めた場合、制御部15は、磁石7の中心線72がオン領域80に位置する場合、オンと判定し、オフ領域81に位置する場合、オフと判定するように構成される。
(制御部15の構成)
図3(a)は、第1の実施の形態に係る磁気センサから離れた磁石の一例を示す概略図であり、図3(b)は、磁気センサから離れた場合の磁気ベクトルの一例を示す概略図である。図4(a)は、第1の実施の形態に係る磁気センサに外乱磁場が作用した場合の一例を示す概略図であり、図4(b)は、磁気センサの磁気抵抗値と中心からの距離の関係の一例を示すグラフであり、図4(c)は、磁気センサが出力する出力信号の一例を示す概略図である。図4(b)は、縦軸が磁気抵抗値であり、横軸が中心Pからの磁石7の距離である。図4(c)は、縦軸が電圧であり、横軸が中心Pからの磁石7の距離である。この磁石7の距離とは、中心Pから磁石7の中心線72までの距離(最短距離)である。
制御部15は、例えば、記憶されたプログラムに従って、取得したデータに演算、加工などを行うCPU(Central Processing Unit)、半導体メモリであるRAM(Random Access Memory)及びROM(Read Only Memory)などから構成されるマイクロコンピュータである。このROMには、例えば、制御部15が動作するためのプログラムと、しきい値Thと、が格納されている。RAMは、例えば、一時的に演算結果などを格納する記憶領域として用いられる。
制御部15は、例えば、オペアンプOPから出力された出力信号Sと、しきい値Thと、を比較して磁石7が接近したか否かを判定する。このしきい値Thは、磁石7が境界120に位置する際の出力信号S、つまり中点電位Vと中点電位Vの差分電圧に基づいて定められている。この磁石7が境界120に位置するとは、磁石7の中心線72が境界120に位置することを示している。
制御部15は、出力信号Sの電圧がしきい値Th以上の場合、オン領域80に磁石7が位置するとしてオンと判定し、しきい値Thより小さい場合、オフ領域81に磁石7が位置するとしてオフと判定する。制御部15は、オン判定を行った場合、オンしたことを示す検出情報Sを生成して接続された電子機器に出力する。
なおしきい値Thは、第1の磁気抵抗素子2と第2の磁気抵抗素子3の磁気抵抗値R12、及び第3の磁気抵抗素子4と第4の磁気抵抗素子5の磁気抵抗値R34が、磁石7が十分離れた際にほぼ同じ値に収束するので、ゼロに近い値となる。
・磁石7の中心線72がオン領域80に位置する場合
図2(a)及び図2(b)に示すように、磁石7が磁気センサ1の中心Pの直上に位置する、つまり磁石7の中心線72がセンサ部12の中心Pに一致する場合、センサ部12には、中心Pから放射状に延びる磁気ベクトル71が作用する。
第1の磁気抵抗素子2及び第2の磁気抵抗素子3は、例えば、図2(a)、図2(b)及び図4(b)に示すように、磁気ベクトル71が第1の感磁部20及び第2の感磁部30に対して平行に作用するので、磁気抵抗値R12が変化しない、つまり最大値Rmaxのままである。言い換えるなら、第1の磁気抵抗素子2及び第2の磁気抵抗素子3は、磁気ベクトル71が流れる電流に対して平行に作用するので、磁気抵抗値R12が変化しない。
なお磁気抵抗値R12とは、一例として、図4(b)に実線で示す磁気抵抗値であり、第1の磁気抵抗素子2と第2の磁気抵抗素子3の磁気抵抗値が等しいとして両者の磁気抵抗値を示している。
一方、第3の磁気抵抗素子4及び第4の磁気抵抗素子5は、例えば、図2(a)、図2(b)及び図4(b)に示すように、磁気ベクトル71が垂直に作用するので、磁気抵抗値R34が最小値Rminとなる。言い換えるなら、第3の磁気抵抗素子4及び第4の磁気抵抗素子5は、磁気ベクトル71が流れる電流に対して垂直に作用するので、磁気抵抗値R34が最小となる。
なお磁気抵抗値R34とは、一例として、図4(b)に太い点線で示す磁気抵抗値であり、第3の磁気抵抗素子4と第4の磁気抵抗素子5の磁気抵抗値が等しいとして両者の磁気抵抗値を示している。
従って中点電位Vが最大となると共に、中点電位Vが最小となる。よってオペアンプOPから出力される出力信号Sは、例えば、図4(c)に示すように、最大値となる。つまり磁石7は、中心Pに位置する場合、出力信号Sが最大となる。
そして磁石7が中心Pから境界120に向かって移動すると、第1の磁気抵抗素子2~第4の磁気抵抗素子5の磁気抵抗値R12及び磁気抵抗値R34は、例えば、図4(b)に示すように、抵抗値Rに向かって減少及び増加する。制御部15は、例えば、図4(c)に示すように、中点電位Vと中点電位Vの差分を増幅した出力信号Sとしきい値Thとを比較し、出力信号Sがしきい値Thより小さくなるまでは、磁石7がオン領域80に位置すると判定する。
・磁石7の中心線72がオフ領域81に位置する場合
図3(a)及び図3(b)に示すように、磁石7が磁気センサ1の外に位置する、つまり磁石7の中心線72が境界120の外に位置する場合、センサ部12には、中心72aから放射状に延びる磁気ベクトル71の一部が作用する。
第1の磁気抵抗素子2及び第2の磁気抵抗素子3は、例えば、図3(a)、図3(b)及び図4(b)に示すように、放射状の磁気ベクトル71の中心72aから第1の感磁部20及び第2の感磁部30に接する2つの直線(図3(b)の実線)によって作られる角度θまでの磁気ベクトル71が境界120の外から作用する。
磁気ベクトル71は、例えば、図3(b)の紙面の水平方向を対称軸として第1の磁気抵抗素子2及び第2の磁気抵抗素子3に対称に作用すると共に電流と交差するので、最大値Rmaxから減少して収束する。この磁気抵抗値R12は、一例として、抵抗値Rに近い値に収束するものとする。
一方、第3の磁気抵抗素子4は、例えば、図3(a)、図3(b)及び図4(b)に示すように、放射状の磁気ベクトル71の中心72aから第3の磁気抵抗素子4に接する2つの直線(図3(b)の一点鎖線)によって作られる角度θまでの磁気ベクトル71が作用する。
同様に、第4の磁気抵抗素子5は、例えば、図3(a)、図3(b)及び図4(b)に示すように、放射状の磁気ベクトル71の中心72aから第4の磁気抵抗素子5に接する2つの直線(図3(b)の二点鎖線)によって作られる角度θまでの磁気ベクトル71が作用する。なおこれらの角度は、θ<θ<θである。
これらの磁気ベクトル71は、例えば、図3(b)の紙面の水平方向を対称軸として第3の磁気抵抗素子4及び第4の磁気抵抗素子5に対称に作用すると共に電流と交差する角度が垂直からずれるので、最小値Rminから増加して収束する。この磁気抵抗値R34は、一例として、抵抗値Rに近い値に収束するものとする。
例えば、第1の磁気抵抗素子2~第4の磁気抵抗素子5の磁気抵抗値が抵抗値Rに近い値に収束するように構成された場合、中点電位Vと中点電位Vは、ゼロに近い値となる。よってオペアンプOPから出力される出力信号Sは、ゼロに近い値となる。つまり磁石7が境界120の外に位置する場合、出力信号Sは、ゼロに近い値となる。
・外乱磁場9が作用した場合
図4(a)に示すように、外乱磁場9が磁気センサ1に作用した場合、第1の磁気抵抗素子2~第4の磁気抵抗素子5には、例えば、同じ方向の磁気ベクトル90が作用する。
この場合は、境界120の外に磁石7が位置する場合と同様に、第1の磁気抵抗素子2及び第2の磁気抵抗素子3の磁気抵抗値R12が抵抗値Rに近い値に収束する。また第3の磁気抵抗素子4及び第4の磁気抵抗素子5は、境界120の外に磁石7が位置する場合と同様に、磁気抵抗値R34が抵抗値Rに近い値に収束する。
従って第1の磁気抵抗素子2~第4の磁気抵抗素子5の磁気抵抗値R12及び磁気抵抗値R34は、磁石7がセンサ部12の外に位置する場合と同様に抵抗値Rに近い値に収束するので、出力信号Sがゼロに近い値となる。
以上より、制御部15は、出力信号Sとしきい値Thを比較することによってオンとオフを判定することができる。また制御部15は、外乱磁場9が作用している場合、磁石7がオン領域80に位置すると判定することはないので、外乱磁場9が印可されてオンと判定するような誤判定を抑制することができる。
以下に本実施の形態の磁気センサ1の動作の一例を図5のフローチャートに従って説明する。
(動作)
磁気センサ1の制御部15は、電源が投入されると、出力信号Sを監視する。制御部15は、ステップ1の「Yes」が成立する、つまり出力信号Sがしきい値Th以上となると(Step1:Yes)、磁石7がオン領域80に位置する、つまりオンであると判定する(Step2)。
制御部15は、判定した結果に基づいてオンと判定したことを示す検出情報Sを生成して接続された電子機器に出力する(Step3)。
(第1の実施の形態の効果)
本実施の形態に係る磁気センサ1は、外乱磁場9に対する耐性を備える。具体的には、磁気センサ1は、放射状の磁気抵抗素子(第1の磁気抵抗素子2及び第2の磁気抵抗素子3)と円環状の磁気抵抗素子(第3の磁気抵抗素子4及び第4の磁気抵抗素子5)とで磁場70の方向に対する磁気抵抗値の変化の仕方が異なるので、各磁気抵抗素子が回転対称に配置される場合と比べて、磁石7の磁場70の作用なのか、外乱磁場9の作用なのかを容易に区別することができ、外乱磁場9に対する耐性を備えることができる。
磁気センサ1は、放射状の磁気抵抗素子と円環状の磁気抵抗素子の磁気抵抗値が変化する磁気ベクトル71の方向が異なることから外乱磁場9が作用してもオン判定しないので、この構成を採用しない場合と比べて、車両などの外乱磁場9が発生し易い環境で好適に使用することができる。
[第2の実施の形態]
第2の実施の形態は、1つの放射状の磁気抵抗素子と1つの円環状の磁気抵抗素子とによって構成される点で他の実施の形態と異なっている。
図6(a)は、第2の実施の形態に係る磁気センサの放射状の磁気抵抗素子と円環状の磁気抵抗素子の配置の一例を示す概略図であり、図6(b)は、磁気センサの等価回路図の一例である。なお以下に記載する実施の形態において、第1の実施の形態と同じ機能及び構成を有する部分は、第1の実施の形態と同じ符号を付し、その説明は省略するものとする。
本実施の形態の磁気センサ1は、例えば、図6(a)及び図6(b)に示すように、一点(中心P)から放射状に配置された複数の感磁部(第1の感磁部20)を有する放射状の磁気抵抗素子2aと、磁気抵抗素子2aを囲むように配置された円環状の磁気抵抗素子4aと、放射状の磁気抵抗素子2aと円環状の磁気抵抗素子4aとによって形成されたハーフブリッジ回路14と、を備えて概略構成されている。
本実施の形態では、一例として、磁気抵抗素子4aが円環状の磁気抵抗素子として構成されている。
この磁気センサ1は、一例として、第1の感磁部20が中心Pに対して10°ずつ回転して等間隔で配置され、磁気抵抗素子2aを構成している。また磁気抵抗素子4aは、この磁気抵抗素子2aを囲むように形成されている。なお放射状の磁気抵抗素子2aと円環状の磁気抵抗素子4aの磁気抵抗値は、等しい方が好ましい。
この放射状の磁気抵抗素子2aと円環状の磁気抵抗素子4aの接続点であるノード14aは、図6(b)に示すように、電源電圧VCCに電気的に接続される。放射状の磁気抵抗素子2aと円環状の磁気抵抗素子4aの接続点であるノード14cは、GNDと電気的に接続される。
ハーフブリッジ回路14は、放射状の磁気抵抗素子2aと円環状の磁気抵抗素子4aのノード14bにおける中点電位Vを出力する。この中点電位Vは、例えば、制御部15に出力される。
磁気抵抗素子2aの磁気抵抗値と磁気抵抗素子4aの磁気抵抗値は、上記の第1の実施の形態と同様に、磁石7が中心Pから離れるに従って減少及び増加してある抵抗値に近い値に収束する。従って中点電位Vは、中心Pから離れるに従って減少する曲線となる。
制御部15は、中点電位Vとしきい値Thとを比較し、中点電位Vがしきい値Th以上となった場合、磁石7がオン領域80に位置する、つまりオンと判定する。そして制御部15は、オンしたことを示す検出情報Sを生成して接続された電子機器に出力する。
(第2の実施の形態の効果)
本実施の形態の磁気センサ1は、放射状の磁気抵抗素子2aと円環状の磁気抵抗素子4aとで磁場70の方向に対する磁気抵抗値の変化の仕方が異なるので、各磁気抵抗素子が回転対称に配置される場合と比べて、磁石7に起因する磁場70の作用なのか、外乱磁場9の作用なのかを容易に区別することができ、外乱磁場9に対する耐性を備えることができる。
[第3の実施の形態]
第3の実施の形態は、1つの放射状の磁気抵抗素子と1つの多角形状の磁気抵抗素子とによって構成される点で他の実施の形態と異なっている。
図7は、第3の実施の形態に係る磁気センサの放射状の磁気抵抗素子と多角形状の磁気抵抗素子の配置の一例を示す概略図である。
本実施の形態の磁気センサ1は、例えば、図7に示すように、一点(中心P)から放射状に配置された複数の感磁部(第1の感磁部20)を有する放射状の磁気抵抗素子2aと、磁気抵抗素子2aを囲むように配置された多角形状の磁気抵抗素子4bと、を備えて概略構成されている。
この磁気センサ1は、例えば、図6(b)に示すハーフブリッジ回路14と同様に、放射状の磁気抵抗素子2aと多角形状の磁気抵抗素子4bと、によってハーフブリッジ回路が形成される。なお磁気センサ1は、第1の実施の形態のように、2つの放射状の磁気抵抗素子と、2つの多角形状の磁気抵抗素子と、によってフルブリッジ回路が形成されても良い。
磁気抵抗素子4bは、正N角形状を有している。図7は、一例として、N=12、つまり磁気抵抗素子4bが正12角形の場合を示している。磁気抵抗素子4bは、N=無限大である場合、近似的に円環形状となるので、適切なNを選ぶことで円環形状の磁気抵抗素子と同様の検出結果を得ることができる。なお多角形状の磁気抵抗素子は、正多角形状に限定されず、円環形状の磁気抵抗素子と同様の検出結果が得られる多角形状であれば良い。
以上、本発明のいくつかの実施の形態及び変形例を説明したが、これらの実施の形態及び変形例は、一例に過ぎず、特許請求の範囲に係る発明を限定するものではない。これら新規な実施の形態及び変形例は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更などを行うことができる。また、これら実施の形態及び変形例の中で説明した特徴の組合せの全てが発明の課題を解決するための手段に必須であるとは限らない。さらに、これら実施の形態及び変形例は、発明の範囲及び要旨に含まれると共に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
1…磁気センサ、2~5…第1の磁気抵抗素子~第4の磁気抵抗素子、2a…磁気抵抗素子、4a,4b…磁気抵抗素子、6…配線、7…磁石、7a,7b…端面、9…外乱磁場、10…基板、10a…表面、10b…裏面、11a~11d…ノード、12…センサ部、13…ブリッジ回路、13a,13b,14…ハーフブリッジ回路、14a~14c…ノード、15…制御部、20…第1の感磁部、30…第2の感磁部、70…磁場、71…磁気ベクトル、72…中心線、72a…中心、80…オン領域、81…オフ領域、90…磁気ベクトル、120…境界

Claims (6)

  1. 一点から放射状に配置された複数の感磁部を有する放射状の磁気抵抗素子と、
    前記放射状の磁気抵抗素子を囲むように配置された円環状又は多角形状の磁気抵抗素子と、
    前記放射状の磁気抵抗素子と前記円環状又は多角形状の磁気抵抗素子とによって形成されたハーフブリッジ回路と、
    を備え
    前記放射状の磁気抵抗素子は、複数の第1の感磁部を有する第1の磁気抵抗素子、及び複数の第2の感磁部を有する第2の磁気抵抗素子であり、
    前記円環状又は多角形状の磁気抵抗素子は、前記第1の磁気抵抗素子及び前記第2の磁気抵抗素子を囲む円環状又は多角形状の第3の磁気抵抗素子、及び前記第3の磁気抵抗素子を囲む円環状又は多角形状の第4の磁気抵抗素子であり、
    前記第1の磁気抵抗素子乃至前記第4の磁気抵抗素子で構成される2つの前記ハーフブリッジ回路を備えた、
    磁気センサ。
  2. 一点から放射状に配置された複数の感磁部を有する放射状の磁気抵抗素子と、
    前記放射状の磁気抵抗素子を囲むように配置された連続して繋がった円環状又は多角形状の磁気抵抗素子と、
    前記放射状の磁気抵抗素子と前記円環状又は多角形状の磁気抵抗素子とによって形成された少なくとも1つのハーフブリッジ回路と、
    を備えた磁気センサ。
  3. 前記放射状の磁気抵抗素子は、複数の第1の感磁部を有する第1の磁気抵抗素子、及び複数の第2の感磁部を有する第2の磁気抵抗素子であり、
    前記円環状又は多角形状の磁気抵抗素子は、前記第1の磁気抵抗素子及び前記第2の磁気抵抗素子を囲む円環状又は多角形状の第3の磁気抵抗素子、及び前記第3の磁気抵抗素子を囲む円環状又は多角形状の第4の磁気抵抗素子であり、
    前記第1の磁気抵抗素子乃至前記第4の磁気抵抗素子で構成される2つのハーフブリッジ回路を備えた、
    請求項に記載の磁気センサ。
  4. 前記第1の感磁部及び前記第2の感磁部は、前記一点を中心とする円を分割した扇形状を有する、
    請求項1又は3に記載の磁気センサ。
  5. 前記第1の感磁部及び前記第2の感磁部は、周方向に交互に配置される、
    請求項1、3及び4のいずれか1項に記載の磁気センサ。
  6. 前記第1の磁気抵抗素子又は前記第2の磁気抵抗素子と、前記第3の磁気抵抗素子又は前記第4の磁気抵抗素子と、が電気的に接続されて第1の中点電位を出力し、
    残りの磁気抵抗素子が電気的に接続されて第2の中点電位を出力する、
    請求項1、3乃至のいずれか1項に記載の磁気センサ。
JP2018054391A 2018-03-22 2018-03-22 磁気センサ Active JP7001513B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018054391A JP7001513B2 (ja) 2018-03-22 2018-03-22 磁気センサ
PCT/JP2019/007613 WO2019181408A1 (ja) 2018-03-22 2019-02-27 磁気センサ
DE112019001470.6T DE112019001470T5 (de) 2018-03-22 2019-02-27 Magnetsensor
CN201980010759.9A CN111656208B (zh) 2018-03-22 2019-02-27 磁传感器
US16/967,073 US11397224B2 (en) 2018-03-22 2019-02-27 Magnetic sensor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018054391A JP7001513B2 (ja) 2018-03-22 2018-03-22 磁気センサ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2019168254A JP2019168254A (ja) 2019-10-03
JP7001513B2 true JP7001513B2 (ja) 2022-01-19

Family

ID=67987070

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018054391A Active JP7001513B2 (ja) 2018-03-22 2018-03-22 磁気センサ

Country Status (5)

Country Link
US (1) US11397224B2 (ja)
JP (1) JP7001513B2 (ja)
CN (1) CN111656208B (ja)
DE (1) DE112019001470T5 (ja)
WO (1) WO2019181408A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11204233B2 (en) * 2019-12-16 2021-12-21 Infineon Technologies Ag Vector length variance check for functional safety of angle sensors

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008101954A (ja) 2006-10-17 2008-05-01 Daido Steel Co Ltd 磁気センサ素子
JP2013250182A (ja) 2012-06-01 2013-12-12 Denso Corp 磁気センサ
US20140218018A1 (en) 2013-02-05 2014-08-07 Texas Instruments Deutschland Gmbh Apparatus and method for in situ current measurement in a conductor
WO2016013347A1 (ja) 2014-07-25 2016-01-28 株式会社村田製作所 磁気センサ
WO2017140877A1 (en) 2016-02-19 2017-08-24 Université De Montpellier Measurement system and method for characterizing at least one single magnetic object

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09102638A (ja) * 1995-10-06 1997-04-15 Sony Corp 磁気センサ
JPH10232242A (ja) * 1997-02-19 1998-09-02 Mitsubishi Electric Corp 検出装置
US6064197A (en) 1997-07-26 2000-05-16 U.S. Philips Corporation Angle sensor having lateral magnetic field sensor element and axial magnetic field direction measuring element for determining angular position
JP2003004412A (ja) * 2001-06-21 2003-01-08 Tokai Rika Co Ltd 回転角度検出装置
US20050140363A1 (en) * 2003-12-29 2005-06-30 International Business Machines Corporation Sensor for detection of the orientation of a magnetic field
US7279891B1 (en) * 2006-06-15 2007-10-09 Honeywell International Inc. Permalloy bridge with selectable wafer-anistropy using multiple layers
DE102007021320A1 (de) * 2007-05-07 2008-11-20 Infineon Technologies Ag Sensor zum Erfassen einer Magnetfeldrichtung, Magnetfeldrichtungserfassung, Verfahren zum Herstellen von Magnetfeldsensoren und Einschreibevorrichtung zur Herstellung vom Magnetfeldsensoren
JP2010286236A (ja) * 2007-09-20 2010-12-24 Alps Electric Co Ltd 原点検出装置
JP4921398B2 (ja) * 2008-02-26 2012-04-25 株式会社東海理化電機製作所 操作位置検出装置及びシフト装置
JP2009258042A (ja) * 2008-04-21 2009-11-05 Alps Electric Co Ltd 回転検出装置
US8451003B2 (en) * 2009-07-29 2013-05-28 Tdk Corporation Magnetic sensor having magneto-resistive elements on a substrate
JP2012070506A (ja) * 2010-09-22 2012-04-05 Nissan Motor Co Ltd 回転電機
JP5141780B2 (ja) * 2011-01-12 2013-02-13 Tdk株式会社 回転角度センサ
JP5875947B2 (ja) * 2012-06-22 2016-03-02 株式会社東海理化電機製作所 磁気センサ装置
EP2685273A1 (en) * 2012-07-13 2014-01-15 Université Montpellier 2, Sciences et Techniques Micromagnetometry detection system and method for detecting magnetic signatures of magnetic materials
JP6107589B2 (ja) * 2013-10-15 2017-04-05 株式会社デンソー 回転角センサ
US9435662B2 (en) * 2014-04-08 2016-09-06 Infineon Technologies Ag Magneto-resistive angle sensor and sensor system using the same
JP6237903B2 (ja) * 2014-07-23 2017-11-29 株式会社村田製作所 磁気センサ
JP6288481B2 (ja) * 2016-06-24 2018-03-07 Tdk株式会社 角度センサおよび角度センサシステム
US10746572B2 (en) * 2016-07-14 2020-08-18 Denso Corporation Rotation detection device
US10365123B2 (en) * 2017-07-21 2019-07-30 Texas Instruments Incorporated Anisotropic magneto-resistive (AMR) angle sensor
JP7186481B2 (ja) * 2018-05-18 2022-12-09 株式会社東海理化電機製作所 磁気センサ装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008101954A (ja) 2006-10-17 2008-05-01 Daido Steel Co Ltd 磁気センサ素子
JP2013250182A (ja) 2012-06-01 2013-12-12 Denso Corp 磁気センサ
US20140218018A1 (en) 2013-02-05 2014-08-07 Texas Instruments Deutschland Gmbh Apparatus and method for in situ current measurement in a conductor
CN104981704A (zh) 2013-02-05 2015-10-14 德克萨斯仪器股份有限公司 用于导体内原位电流测量的装置和方法
WO2016013347A1 (ja) 2014-07-25 2016-01-28 株式会社村田製作所 磁気センサ
WO2017140877A1 (en) 2016-02-19 2017-08-24 Université De Montpellier Measurement system and method for characterizing at least one single magnetic object

Also Published As

Publication number Publication date
US11397224B2 (en) 2022-07-26
JP2019168254A (ja) 2019-10-03
WO2019181408A1 (ja) 2019-09-26
DE112019001470T5 (de) 2020-12-24
US20210033684A1 (en) 2021-02-04
CN111656208A (zh) 2020-09-11
CN111656208B (zh) 2023-04-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101953009B1 (ko) 자기 각 위치 센서
EP1406068B1 (en) Rotation angle detecting device using pairs of GMR sensors connected in a wheatstone bridge
US10401195B2 (en) Magnet and displacement detection unit
JP2009069148A (ja) 磁界を測定する測定装置
JP5721804B2 (ja) 磁気検出装置、およびこれを搭載した車両用回転検出装置
JP7001513B2 (ja) 磁気センサ
US6496002B1 (en) Rotation detector having a plurality of magnetism detection elements, a plurality of magnetic resistors which are able to switch the resistance from great to small and vice-versa
US10900811B2 (en) Displacement detection device
JP7186481B2 (ja) 磁気センサ装置
CN108226818B (zh) 磁传感器
US7019607B2 (en) Precision non-contact digital switch
CN111308403B (zh) 磁传感器装置
WO2019240005A1 (ja) 磁気センサ装置
JP2019129254A (ja) 磁気センサ
JP2018105621A (ja) 磁気センサ装置
CN109931863B (zh) 用于角度检测的镰刀形磁体装置
JP5529064B2 (ja) 非接触スイッチ及び磁気センサ
JP2005345377A (ja) 回転情報検出装置
JP2019100848A (ja) 磁気センサ装置
JP4210513B2 (ja) 磁気センサ及び無接点スイッチ
JP6540010B2 (ja) 磁気センサユニット
WO2017104494A1 (ja) 磁気センサ装置
JP2022061879A (ja) 磁気センサ及び磁気センサ装置
JP2019120541A (ja) 磁気センサ装置
JP2022102470A (ja) 磁気センサ装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20200828

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20210824

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20211022

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20211207

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20211224

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7001513

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150