JP6989375B2 - ラジアルゲートの支承部材としてのゲートピン検査装置および検査方法 - Google Patents
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Description
この値は波形が最大振幅値を示してから閾値を下回るまでの傾きの逆数を表している。すなわち、この値はAE波形が連続的に発生する度合いを評価するのに使用できる。
Claims (4)
- ラジアルゲートの支承部材としてのゲートピンに取り付けられたAEセンサと、
前記AEセンサからAE波形を取得する波形取得部と、前記波形取得部が取得した波形に基づいて得られた所定のDA値を用いてラジアルゲートの支承部材としてのゲートピンの摩擦力を評価する評価部と、前記評価部の評価結果を出力する出力部とを含み、
前記DA値は、前記AE波形が最大振幅値を示してから所定の閾値を下回るまでの傾きの逆数で表される、ラジアルゲートの支承部材としてのゲートピン検査装置。 - 前記評価部は、前記波形取得部が取得した波形のRMS値を用いて前記ラジアルゲートの支承部材としてのゲートピンの摩擦力を評価する、請求項1に記載のラジアルゲートの支承部材としてのゲートピン検査装置。
- 前記評価部は、前記波形取得部が取得したAE波形と、前記AE波形のRMS値を用いて前記ラジアルゲートの支承部材としてのゲートピンの摩擦力を複数の領域に識別する、請求項2に記載のラジアルゲートの支承部材としてのゲートピン検査装置。
- AEセンサを用いてラジアルゲートの支承部材としてのゲートピンの摩擦力を検査するラジアルゲートの支承部材としてのゲートピン検査方法であって、
ラジアルゲートの支承部材としてのゲートピンに取り付けられたAEセンサからAE波形を取得するステップと
取得した波形に基づいて所定のDA値を用いてゲートピンの摩擦力を評価するステップと、評価結果を出力する出力ステップとを含み、前記DA値は、前記AE波形が最大振幅値を示してから所定の閾値を下回るまでの傾きの逆数で表される、ラジアルゲートの支承部材としてのゲートピン検査方法。
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