JP6895903B2 - 半導体レーザ素子、回折格子構造、および回折格子 - Google Patents
半導体レーザ素子、回折格子構造、および回折格子 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6895903B2 JP6895903B2 JP2017567025A JP2017567025A JP6895903B2 JP 6895903 B2 JP6895903 B2 JP 6895903B2 JP 2017567025 A JP2017567025 A JP 2017567025A JP 2017567025 A JP2017567025 A JP 2017567025A JP 6895903 B2 JP6895903 B2 JP 6895903B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- diffraction grating
- refractive index
- reflection
- high refractive
- semiconductor laser
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 79
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 114
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 79
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims description 44
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 40
- 239000012792 core layer Substances 0.000 claims description 23
- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 claims description 10
- 238000000985 reflectance spectrum Methods 0.000 claims description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 35
- 238000013461 design Methods 0.000 description 21
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 21
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 14
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 9
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 9
- 230000008859 change Effects 0.000 description 8
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 7
- 241001270131 Agaricus moelleri Species 0.000 description 6
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 5
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 5
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 4
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 238000005253 cladding Methods 0.000 description 2
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000002161 passivation Methods 0.000 description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 2
- 229910000530 Gallium indium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000003776 cleavage reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 238000002109 crystal growth method Methods 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000012552 review Methods 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 230000007017 scission Effects 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- VLCQZHSMCYCDJL-UHFFFAOYSA-N tribenuron methyl Chemical compound COC(=O)C1=CC=CC=C1S(=O)(=O)NC(=O)N(C)C1=NC(C)=NC(OC)=N1 VLCQZHSMCYCDJL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/0607—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying physical parameters other than the potential of the electrodes, e.g. by an electric or magnetic field, mechanical deformation, pressure, light, temperature
- H01S5/0612—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying physical parameters other than the potential of the electrodes, e.g. by an electric or magnetic field, mechanical deformation, pressure, light, temperature controlled by temperature
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/12—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers
- H01S5/1206—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers having a non constant or multiplicity of periods
- H01S5/1209—Sampled grating
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/12—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers
- H01S5/1237—Lateral grating, i.e. grating only adjacent ridge or mesa
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S2301/00—Functional characteristics
- H01S2301/17—Semiconductor lasers comprising special layers
- H01S2301/176—Specific passivation layers on surfaces other than the emission facet
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/02—Structural details or components not essential to laser action
- H01S5/026—Monolithically integrated components, e.g. waveguides, monitoring photo-detectors, drivers
- H01S5/0261—Non-optical elements, e.g. laser driver components, heaters
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/062—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
- H01S5/0625—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes in multi-section lasers
- H01S5/06255—Controlling the frequency of the radiation
- H01S5/06256—Controlling the frequency of the radiation with DBR-structure
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/12—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers
- H01S5/1206—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers having a non constant or multiplicity of periods
- H01S5/1215—Multiplicity of periods
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/30—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
- H01S5/34—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers
- H01S5/343—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser
- H01S5/3434—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser with a well layer comprising at least both As and P as V-compounds
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
Description
図1は、本発明の実施形態1に係る半導体レーザ素子を光導波方向(紙面左右方向)に沿って切断した模式的な断面図である。図1に示すように、半導体レーザ素子100は、電流注入によって発光する活性層である導波路コア層115を有するSG−DFB部である利得SG部110と、利得SG部110に隣接し、受動導波路コア層である導波路コア層125を有するCSG−DBR部である受動SG部120とを備える。利得SG部110、受動SG部120の各端面111、121には不図示の反射防止膜が形成されている。
反射要素としての回折格子層113は、SG構造であり、所定の周期で離散的に存在する、バンドギャップ波長が1.23μm(以下、1.23Qとする)のn型GaInAsP層の間がn型スペーサ層104と同じ半導体材料(n型InP)で埋められた分布ブラッグ反射領域である回折格子G1と、光導波路方向において回折格子G1と接続し、連続的に存在する、1.23Qのn型GaInAsP層からなる導波路領域WG1と、からなるセグメント113aが、光導波方向に複数配列された領域Aを有する。領域Aは6つのセグメント113aを有する。セグメント113aの長さは約160μmである。ただし、セグメント113aのうち、受動SG部120に隣接したセグメントは他のセグメントよりも導波路領域WG1が長く、実質的に回折格子G1が1つ省略された構造を有する。このような回折格子を省く構造によって空間的ホールバーニングを抑制する公知の効果がある。
半導体レーザ素子100の製造方法の一例を簡単に説明する。まず半導体基板上に、MOCVD(Metal Organic Chemical Vapor Deposition)などの結晶成長法により、下部クラッド層および回折格子層113、123となる回折格子層を形成する。つづいて、その上に、電子線露光装置によってパターニングを行い、エッチングすることで回折格子層に回折格子G1、G2、G3のパターンを形成する。この際、所望の回折格子となるようにパターンを形成することが重要である。つづいて、この上に、MOCVDなどによって、エッチングした部分をn型InPで埋め込んで回折格子層113、123とするとともにn型スペーサ層104、活性層としての導波路コア層115およびp型上部クラッド層106の一部を積層する。つづいて、受動SG部120となる領域の活性層をエッチングによって除去して、その領域にMOCVDで導波路コア層125、およびi−InPからなる上部クラッド層の一部を埋め込む。つづいて、公知の方法によって埋め込みヘテロ構造を作製し、さらに、MOCVDなどで全体にp型上部クラッド層106の残りの部分とコンタクト層117とを積層する。
つぎに、本実施形態1における回折格子G1、G2、G3の回折格子構造の設計について説明するが、その前に、比較例として、従来のSGおよびBSGの特性について検討し、本発明が解決しようとする課題がどのような物理現象に起因するものかを検討する。なお、反射スペクトルの計算には、任意の形状の回折格子を制限無く解析できる手法として分離法を用いた。分離法は高屈折率部とそれよりも屈折率が低い低屈折率部との繰り返し構造による回折格子を、1次元的な多層膜の多重反射として解析する方法である。従来、本発明のような半導体光素子に用いられる回折格子の解析にはモード結合理論が主に用いられているが、回折格子の各要素ひとつずつを設計するような詳細な設計には不向きであり、そのような複雑な設計には分離法が好適である。
活性層の利得は波長帯域中心から外れるほど利得が小さくなり、一定利得を得るための電流値の増大や線幅増大係数(αパラメータ)の増大が起こる。このため、反射率が中央波長から外れるほど小さければ、中央波長から外れた波長チャネルでは反射率も活性層も好ましくない特性を示すことになる。そこで、反射コムスペクトルの各ピークの反射率は波長依存性を示さないことが好ましい。
sinc関数は1と−1の間の連続的な値を示す関数であるので、回折格子構造を形成する屈折率分布は高屈折率部と低屈折率部との2種類のみでは完全に実現することはできない。半導体光素子は積層構造の組み合わせで作製するプロセスが一般的であって、例えば回折格子層のある場所と無い場所との屈折率差で回折格子を形成する構造などが用いられる。このような連続的に様々な屈折率を実現するためには、回折格子層の厚さを場所によって微妙に異なるように加工すれば実現できるが、これは必ずしも容易ではない。このため、sinc関数状の回折格子を得るにあたって、半導体プロセスに親和性が高い形態を考案することは重要である。
まず、所望の反射スペクトルをフーリエ変換することによって回折格子の強度関数を決定する(例えば、矩形の反射スペクトルを得るためにsinc関数形状の強度関数を用いる)。このとき、該所望の反射スペクトルを実対称な形状とすると、強度関数は実関数である。この強度関数は正負の値を含むものである。強度関数が負となる部分では位相の反転を行う(基本構造における高屈折率部と低屈折部の位置を入れ替える)。強度関数の絶対値が1よりも小さい部分では、その大きさに応じて、1を間引きなし、0を完全に間引く(その部分では、高屈折率部と低屈折率部とが交互に配置される回折格子構造が無い)こととする。
まず、図8に示すように、屈折率nがnHの高屈折率部Hと屈折率nがnHの低屈折率部Lとが光の進行方法において交互に複数組配置されてなる基本構造を有する回折格子構造Gを考える。以下では回折格子構造Gの屈折率構造を用いて説明する。なお、たとえば、高屈折率部Hは1.23QのGaInAsPからなり、低屈折率部LはInPからなるが、特に限定されない。
そして、図10A、Bに示すように、回折格子構造Gの屈折率構造に対して、高屈折率部を低屈折率部にすることにより、「×」で示した高屈折部の間引きを行うことができる。たとえば、強度関数が1/2の場合には、図10Aに示すように2つに1つの割合で高屈折率部の間引きを行う。強度関数が1/3の場合には、図10Bに示すように3つに2つの割合で高屈折率部の間引きを行う。
本発明の一側面にかかる設計方法による回折格子構造は、CSG−DRレーザのみに応用可能なわけではない。当該回折格子構造では、任意の反射スペクトルを容易に実現可能であるという特性を利用すれば、様々な半導体光素子の性能を向上させるために応用可能である。
なお、図16には、矢印にて回折格子層206における位相シフトがある位置を示している。
101、201 n側電極
102、202 n型半導体層
104 n型スペーサ層
106、204 p型上部クラッド層
107、205 p側電極
110 利得SG部
111、121、211、213 端面
113、123、206 回折格子層
113a、123a、123b セグメント
115、125 導波路コア層
117 コンタクト層
118 p側電極
120 受動SG部
127 パッシベーション膜
128a、128b ヒータ
203 活性層
212 低反射率膜
214 高反射率膜
A、B、C 領域
G1、G2、G3 回折格子
L10 レーザ光
WG1、WG2、WG3 導波路領域
Claims (14)
- 波長軸上で略周期的に反射ピークが配置された反射コムスペクトルを有し、前記周期が互いに異なる第1、第2の反射要素で構成される光共振器を備えるバーニア型かつ波長可変型の半導体レーザ素子であって、
前記第1、第2の反射要素の少なくとも一つは、各反射ピークにおける反射位相が揃っており、かつ設定されたレーザ発振波長帯域外の反射ピークの強度が、前記レーザ発振波長帯域内の反射ピークの強度よりも小さい反射コムスペクトルを有するサンプルドグレーティング構造を備え、
前記サンプルドグレーティング構造は、受動導波路コア層を有する受動部分に設けられており、かつ、分布ブラッグ反射領域である回折格子構造と、光導波方向において前記回折格子構造と接続し、連続的に存在する導波路領域と、からなるセグメントが、前記光導波方向に複数配列されており、位相調整領域を備えない
ことを特徴とする半導体レーザ素子。 - 波長軸上で略周期的に反射ピークが配置された反射コムスペクトルを有し、前記周期が互いに異なる第1、第2の反射要素で構成される光共振器を備えるバーニア型かつ波長可変型の半導体レーザ素子であって、
前記第1、第2の反射要素の少なくとも一つは、受動導波路コア層を有する受動部分に設けられた、回折格子構造を複数含むサンプルドグレーティング構造の回折格子であって、前記各回折格子構造は、光の進行方向において、各反射ピークにおける反射位相が揃う構造を有しており、かつ設定されたレーザ発振波長帯域外の反射ピークの強度が、前記レーザ発振波長帯域内の反射ピークの強度よりも小さい反射コムスペクトルを有するサンプルドグレーティング構造を備え、
前記回折格子は、前記回折格子構造と、光導波方向において前記回折格子構造のそれぞれと接続し、連続的に存在する導波路領域と、からなるセグメントが、前記光導波方向に複数配列されており、位相調整領域を備えない
ことを特徴とする半導体レーザ素子。 - 波長軸上で略周期的に反射ピークが配置された反射コムスペクトルを有し、前記周期が互いに異なる第1、第2の反射要素で構成される光共振器を備えるバーニア型かつ波長可変型の半導体レーザ素子であって、
前記第1、第2の反射要素の少なくとも一つは、受動導波路コア層を有する受動部分に設けられた、回折格子構造を複数含むサンプルドグレーティング構造の回折格子であって、前記回折格子は、回折格子構造と、光導波方向において前記回折格子構造のそれぞれと接続し、連続的に存在する導波路領域と、からなるセグメントが、前記光導波方向に複数配列されており、位相調整領域を備えず、
前記回折格子構造は、
高屈折率部と、前記高屈折率部よりも屈折率が低い低屈折率部とが所定の方向において交互に複数組配置されてなり、
前記セグメントにおいて、前記回折格子構造の部分においてのみ、前記高屈折率部と前記低屈折率部とが交互に周期的に複数組配置されてなる構造を基本構造とすると、前記基本構造から前記高屈折率部の少なくとも一つを間引きする、前記低屈折率部の少なくとも一つを間引きする、前記高屈折率部と前記低屈折率部との境界の少なくとも一つを間引きする、またはこれらの組み合わせを行うことで形成されている構造を有しており、かつ、
前記基本構造から、前記高屈折率部と前記低屈折率部との交互配置が1/2周期だけ位相シフトした複数の部分を含む構造を有しており、
局所的な前記間引きによって回折格子の反射強度が局所的に制御されている
ことを特徴とする半導体レーザ素子。 - 前記第1、第2の反射要素の少なくとも一つは発光領域を有することを特徴とする請求項1〜3のいずれか一つに記載の半導体レーザ素子。
- 第1反射膜と、
前記第1反射膜よりも反射率が高い第2反射膜と、
前記第1反射膜と前記第2反射膜との間に配置された活性層と、
前記活性層の近傍に前記活性層に沿って設けられた、回折格子構造を含む回折格子と、
を備え、
前記回折格子構造は、
高屈折率部と、前記高屈折率部よりも屈折率が低い低屈折率部とが所定の方向において交互に複数組配置されてなり、
前記回折格子構造の部分において、前記高屈折率部と前記低屈折率部とが交互に周期的に複数組配置されてなる構造を基本構造とすると、前記基本構造から前記高屈折率部の少なくとも一つを間引きする、前記低屈折率部の少なくとも一つを間引きする、前記高屈折率部と前記低屈折率部との境界の少なくとも一つを間引きする、またはこれらの組み合わせを行うことで形成されている構造を有しており、かつ、
前記基本構造から、前記高屈折率部と前記低屈折率部との交互配置が1/2周期だけ位相シフトした複数の部分を含む構造を有しており、
局所的な前記間引きによって回折格子の反射強度が局所的に制御されており、
複数の縦モードでレーザ発振することを特徴とする半導体レーザ素子。 - 前記回折格子構造は、所望の反射率スペクトルをフーリエ変換することによって得られる形状を近似的に得る構造を有することを特徴とする請求項3または5に記載の半導体レーザ素子。
- 前記回折格子構造は、矩形窓関数をフーリエ変換することによって得られるsinc関数形状を近似的に得る構造を有することを特徴とする請求項3または5に記載の半導体レーザ素子。
- 前記回折格子構造は、前記所定の方向において、前記回折格子が形成する各反射ピークにおける反射位相が揃う構造を有することを特徴とする請求項7に記載の半導体レーザ素子。
- 前記回折格子は、前記回折格子構造を複数含むサンプルドグレーティング構造の回折格子であることを特徴とする請求項5に記載の半導体レーザ素子。
- 受動導波路コア層を有する受動部分に設けられた回折格子に複数含まれる回折格子構造であって、
前記回折格子は、前記回折格子構造と、光導波方向において前記回折格子構造のそれぞれと接続し、連続的に存在する導波路領域と、からなるセグメントが、光導波方向に複数配列されており、位相調整領域を備えず、
高屈折率部と、前記高屈折率部よりも屈折率が低い低屈折率部とが前記光導波方向において交互に複数組配置されてなり、
前記セグメントにおいて、前記回折格子構造の部分においてのみ、前記高屈折率部と前記低屈折率部とが交互に周期的に複数組配置されてなる構造を基本構造とすると、前記基本構造から前記高屈折率部の少なくとも一つを間引きする、前記低屈折率部の少なくとも一つを間引きする、前記高屈折率部と前記低屈折率部との境界の少なくとも一つを間引きする、またはこれらの組み合わせを行うことで形成されている構造を有しており、かつ、
前記基本構造から、前記高屈折率部と前記低屈折率部との交互配置が1/2周期だけ位相シフトした複数の部分を含む構造を有している
ことを特徴とする回折格子構造。 - 所望の反射率スペクトルをフーリエ変換することによって得られる形状を近似的に得る構造を有することを特徴とする請求項10に記載の回折格子構造。
- 矩形窓関数をフーリエ変換することによって得られるsinc関数形状を近似的に得る構造を有することを特徴とする請求項10に記載の回折格子構造。
- 前記光導波方向において、前記回折格子が形成する各反射ピークにおける反射位相が揃う構造を有することを特徴とする請求項12に記載の回折格子構造。
- サンプルドグレーティング構造の回折格子であって、請求項10〜13のいずれか一つに記載の回折格子構造を複数含むことを特徴とする回折格子。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016025315 | 2016-02-12 | ||
JP2016025315 | 2016-02-12 | ||
PCT/JP2017/005166 WO2017138668A1 (ja) | 2016-02-12 | 2017-02-13 | 半導体レーザ素子、回折格子構造、および回折格子 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2017138668A1 JPWO2017138668A1 (ja) | 2018-12-06 |
JP6895903B2 true JP6895903B2 (ja) | 2021-06-30 |
Family
ID=59563557
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017567025A Active JP6895903B2 (ja) | 2016-02-12 | 2017-02-13 | 半導体レーザ素子、回折格子構造、および回折格子 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10923880B2 (ja) |
JP (1) | JP6895903B2 (ja) |
CN (2) | CN113394655A (ja) |
WO (1) | WO2017138668A1 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3401711B1 (en) | 2016-01-08 | 2023-04-05 | Dai Nippon Printing Co., Ltd. | Diffractive optical element and light irradiation apparatus |
US11841270B1 (en) * | 2022-05-25 | 2023-12-12 | Visera Technologies Company Ltd. | Spectrometer |
WO2024142875A1 (ja) * | 2022-12-26 | 2024-07-04 | 日亜化学工業株式会社 | 半導体レーザ素子 |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2836050B2 (ja) * | 1989-12-04 | 1998-12-14 | キヤノン株式会社 | 光波長フィルター及びそれを用いた装置 |
JP3053966B2 (ja) * | 1992-06-01 | 2000-06-19 | キヤノン株式会社 | 方向性結合器フィルタ |
CA2228683C (en) | 1998-02-20 | 2002-05-14 | Ivan Avrutsky | Superimposed grating wdm tunable lasers |
US6937638B2 (en) | 2000-06-09 | 2005-08-30 | Agility Communications, Inc. | Manufacturable sampled grating mirrors |
KR100388485B1 (ko) * | 2001-05-31 | 2003-06-25 | 한국전자통신연구원 | 다파장 단일모드 레이저 어레이 및 그 제조 방법 |
JP2003152274A (ja) | 2001-11-13 | 2003-05-23 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 半導体レーザ装置、半導体レーザモジュールおよびこれを用いたラマン増幅器 |
JP4615184B2 (ja) * | 2002-10-07 | 2011-01-19 | 古河電気工業株式会社 | 分布帰還型半導体レーザ素子 |
US7180930B2 (en) | 2002-06-20 | 2007-02-20 | The Furukawa Electric Co., Ltd. | DFB semiconductor laser device having ununiform arrangement of a diffraction grating |
KR100547897B1 (ko) * | 2003-06-30 | 2006-01-31 | 삼성전자주식회사 | 파장 가변형 레이저 장치 |
ATE397227T1 (de) * | 2003-12-24 | 2008-06-15 | Pirelli & C Spa | Abstimmbarer resonanter gitterfilter |
JP4283869B2 (ja) * | 2007-04-05 | 2009-06-24 | ユーディナデバイス株式会社 | 光半導体装置および光半導体装置の制御方法 |
US7894693B2 (en) * | 2007-04-05 | 2011-02-22 | Eudyna Devices Inc. | Optical semiconductor device and method of controlling the same |
JP5058087B2 (ja) * | 2008-07-10 | 2012-10-24 | 三菱電機株式会社 | 波長可変半導体レーザ |
JP5407526B2 (ja) * | 2009-04-27 | 2014-02-05 | 住友電気工業株式会社 | 波長可変レーザ、波長可変レーザ装置、及び波長可変レーザ制御方法 |
JP5625459B2 (ja) | 2009-05-21 | 2014-11-19 | 住友電気工業株式会社 | 半導体レーザ素子及びその作製方法 |
EP2431775A1 (en) * | 2010-09-16 | 2012-03-21 | Alcatel Lucent | Interleaved sampled gratings for multi-peaks reflectivity spectrum |
JP5692330B2 (ja) | 2013-10-18 | 2015-04-01 | 住友電気工業株式会社 | 波長可変レーザ、波長可変レーザ装置、及び波長可変レーザ制御方法 |
JP6382506B2 (ja) | 2013-11-29 | 2018-08-29 | 住友電工デバイス・イノベーション株式会社 | 波長可変レーザの制御方法 |
-
2017
- 2017-02-13 CN CN202110663288.0A patent/CN113394655A/zh active Pending
- 2017-02-13 CN CN201780010513.2A patent/CN108604774A/zh active Pending
- 2017-02-13 JP JP2017567025A patent/JP6895903B2/ja active Active
- 2017-02-13 WO PCT/JP2017/005166 patent/WO2017138668A1/ja active Application Filing
-
2018
- 2018-08-08 US US16/058,356 patent/US10923880B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN113394655A (zh) | 2021-09-14 |
CN108604774A (zh) | 2018-09-28 |
US20180351328A1 (en) | 2018-12-06 |
WO2017138668A1 (ja) | 2017-08-17 |
JPWO2017138668A1 (ja) | 2018-12-06 |
US10923880B2 (en) | 2021-02-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7450623B2 (en) | Wavelength locked laser including integrated wavelength selecting total internal reflection (TIR) structure | |
JP5764875B2 (ja) | 半導体光装置 | |
US9312663B2 (en) | Laser device, light modulation device, and optical semiconductor device | |
JP5177285B2 (ja) | 光素子及びその製造方法 | |
US4935930A (en) | Laser light source for generating beam collimated in at least one direction | |
JP2011204895A (ja) | 半導体レーザ装置 | |
JP4954992B2 (ja) | 半導体光反射素子及び該半導体光反射素子を用いる半導体レーザ及び該半導体レーザを用いる光トランスポンダ | |
JP2009244868A (ja) | 回折格子デバイス、半導体レーザ及び波長可変フィルタ | |
JP5795126B2 (ja) | 半導体レーザ素子、集積型半導体レーザ素子、および、半導体レーザ素子の製造方法 | |
JP2011222983A (ja) | 半導体レーザ装置 | |
JP6895903B2 (ja) | 半導体レーザ素子、回折格子構造、および回折格子 | |
JP2008103466A (ja) | 半導体レーザ | |
JP2011086714A (ja) | 波長可変レーザ | |
JPH09270568A (ja) | 多重波長発振レーザ | |
JP2017187690A (ja) | 光素子、光モジュール及び光伝送システム | |
JP2009088015A (ja) | 回折格子デバイス、半導体レーザおよび波長可変フィルタ | |
JP4074534B2 (ja) | 半導体レーザ | |
JP5058087B2 (ja) | 波長可変半導体レーザ | |
JP7439902B2 (ja) | 光デバイス | |
WO2024105764A1 (ja) | 光デバイス | |
JP2009252905A (ja) | 半導体発光素子及び半導体光源 | |
JP4005519B2 (ja) | 半導体光装置及びその製造方法 | |
JP2019522379A (ja) | 分布帰還型レーザーダイオード | |
JP4985368B2 (ja) | 半導体レーザ装置 | |
JP2017139341A (ja) | 光素子、集積型光素子および光素子モジュール |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20191122 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20201104 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20201224 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20210518 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20210608 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 6895903 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |