JP6878140B2 - Clinical laboratory equipment - Google Patents

Description

本発明の実施形態は、臨床検査装置に関する。 Embodiments of the present invention relate to clinical laboratory equipment.

臨床検査は、患者等の被検体の状態を客観的に評価するために行われる。この臨床検査には臨床検査装置が主に用いられる。臨床検査装置の一例としては、自動分析装置が挙げられる。 A clinical test is performed to objectively evaluate the condition of a subject such as a patient. A clinical laboratory device is mainly used for this clinical test. An example of a clinical laboratory device is an automatic analyzer.

自動分析装置は、生化学検査項目や免疫検査項目等を対象とし、被検体から採取された試料と各検査項目の分析に用いる試薬との混合液の反応によって生ずる色調や濁りの変化を光学的に測定する。この測定により、自動分析装置は、試料中の様々な検査項目成分の濃度や酵素の活性等で表される分析データを生成する。具体的な分析プロセスとしては、まず、サンプリングアームに取り付けられたサンプル分注プローブが試料容器に収容された試料を吸引して反応容器に吐出する。次に、試薬アームに取り付けられた試薬分注プローブが試薬容器内の試薬を吸引して反応容器に吐出する。更に、測光部が反応容器内に吐出された試料と試薬の混合液を測定する。この測定結果を付帯するコンピュータ等が分析する。 The automatic analyzer optically targets changes in color tone and turbidity caused by the reaction of a mixed solution of a sample collected from a subject and a reagent used for analysis of each test item for biochemical test items and immunological test items. To measure. By this measurement, the automatic analyzer generates analytical data represented by the concentration of various test item components in the sample, the activity of the enzyme, and the like. As a specific analysis process, first, the sample dispensing probe attached to the sampling arm sucks the sample contained in the sample container and discharges it into the reaction vessel. Next, the reagent dispensing probe attached to the reagent arm sucks the reagent in the reagent container and discharges it into the reaction vessel. Further, the photometric unit measures the mixed solution of the sample and the reagent discharged into the reaction vessel. A computer or the like attached to this measurement result analyzes it.

近年、自動分析装置によっては、分析の高速化に伴い、その主要動作部分の一部であるサンプリングアーム及び試薬アームを、最短距離且つ高速で水平方向に移動させている。その際、分析の迅速化と操作者の安全性とを同時に確保するため、それぞれのアームに取り付けられたプローブの下部先端の水平方向の移動経路に沿って両脇に外壁を備えた溝構造が設けられ、その溝構造内でプローブを高速に水平反復移動させる装置がある。当該溝構造によって、プローブの高速移動に伴った試薬等の飛び散り範囲を限定し、更に、プローブの下部先端が操作者の指等へ接触することを防いでいる。 In recent years, with the speeding up of analysis, some automatic analyzers have moved the sampling arm and the reagent arm, which are a part of the main operating parts thereof, in the horizontal direction at the shortest distance and at high speed. At that time, in order to ensure speedy analysis and operator safety at the same time, a groove structure with outer walls on both sides along the horizontal movement path of the lower tip of the probe attached to each arm is provided. There is a device that is provided and moves the probe horizontally and repeatedly at high speed within the groove structure. The groove structure limits the scattering range of reagents and the like accompanying the high-speed movement of the probe, and further prevents the lower tip of the probe from coming into contact with the operator's finger or the like.

自動分析装置の更なる安定的な利用のためには、上記分析の迅速化及び操作者の安全性向上に加えて、分注プローブ等の可動部分を含めた自動分析装置の保守性の向上も合わせて求められている。 For more stable use of the automatic analyzer, in addition to speeding up the above analysis and improving the safety of the operator, improving the maintainability of the automatic analyzer including moving parts such as the dispensing probe is also required. It is also required.

特開２０１０−８５０９８号公報JP-A-2010-85098

本発明の実施形態は、プローブの保守作業が容易に行える臨床検査装置を提供することである。 An embodiment of the present invention is to provide a clinical testing apparatus capable of facilitating maintenance work of a probe.

上記課題を解決するために、実施形態に記載の臨床検査装置は、アームと、第１の所定高さの外壁と、プローブ制御機構とを備える。アームは、臨床検査装置のステージ上で、プローブの洗浄位置、被検試料又は試薬の吸引位置、及び被検試料又は試薬の吐出位置に移動を繰り返す分注駆動をすることにより、反応容器に被検試料又は試薬を分注する。第１の所定高さの外壁は、プローブの水平移動の経路に沿って設けられる。プローブ制御機構は、プローブが水平移動するときに、プローブの下部先端を、第１の所定高さより低い第２の所定高さで移動するようにプローブを制御し、更に、所定条件で下部先端が第１の所定高さより高い第３の所定高さにプローブを上昇させ、第３の所定高さを備えた保守位置へ移動するように制御する。 In order to solve the above problems, the clinical examination device according to the embodiment includes an arm, an outer wall having a first predetermined height, and a probe control mechanism. The arm is placed on the reaction vessel by repeatedly moving to the washing position of the probe, the suction position of the test sample or the reagent, and the discharge position of the test sample or the reagent on the stage of the clinical test apparatus. Dispense the test sample or reagent. The outer wall of the first predetermined height is provided along the path of horizontal movement of the probe. The probe control mechanism controls the probe so that when the probe moves horizontally, the lower tip of the probe moves at a second predetermined height lower than the first predetermined height, and further, the lower tip moves under predetermined conditions. The probe is raised to a third predetermined height higher than the first predetermined height, and is controlled to move to a maintenance position having a third predetermined height.

実施形態に係る自動分析装置の全体構成を示すブロック図。The block diagram which shows the whole structure of the automatic analyzer which concerns on embodiment. 実施形態に係る分析機構が収納されている筐体の外観図。The external view of the housing which houses the analysis mechanism which concerns on embodiment. 実施形態に係る分析機構の構成を示す斜視図。The perspective view which shows the structure of the analysis mechanism which concerns on embodiment. 実施形態に係るプローブと水平方向の溝構造の構成の一例を示す図。The figure which shows an example of the structure of the probe and the groove structure in the horizontal direction which concerns on embodiment. 実施形態に係るサンプリングアームの構成の一例を示す図。The figure which shows an example of the structure of the sampling arm which concerns on embodiment. 実施形態に係るプローブの垂直方向の第２の所定高さの停止位置を示す図。The figure which shows the stop position of the 2nd predetermined height in the vertical direction of the probe which concerns on embodiment. 実施形態に係るプローブの垂直方向の第３の所定高さの停止位置を示す図。The figure which shows the stop position of the 3rd predetermined height in the vertical direction of the probe which concerns on embodiment. 実施形態に係るプローブの動作指示画面。Operation instruction screen of the probe according to the embodiment. 実施形態に係る動作フローチャート。An operation flowchart according to the embodiment. 実施形態に係る筐体のカバーの開閉センサ機構を示す図。The figure which shows the open / close sensor mechanism of the cover of the housing which concerns on embodiment. 実施形態に係る動作フローチャート。An operation flowchart according to the embodiment.

本発明の実施形態に係わる臨床検査装置について、その一例である自動分析装置を用いて説明する。 The clinical testing apparatus according to the embodiment of the present invention will be described using an automatic analyzer as an example thereof.

（全体構成）
以下、自動分析装置１について、図１の自動分析装置１の全体構成を示したブロック図、図２の分析機構が収納されている筐体の外観図及び図３の分析機構の構成を示す斜視図を参照して説明する。 (overall structure)
Hereinafter, regarding the automatic analyzer 1, a block diagram showing the overall configuration of the automatic analyzer 1 of FIG. 1, an external view of a housing in which the analysis mechanism of FIG. 2 is housed, and a perspective view showing the configuration of the analysis mechanism of FIG. This will be described with reference to the figure.

図１に示すように、自動分析装置１は、分析機構２と、駆動機構３と、分析制御回路４と、分注モニタ回路５と、データ処理回路６と、出力回路７と、入力回路８と、システム制御回路９と、を備えている。 As shown in FIG. 1, the automatic analyzer 1 includes an analysis mechanism 2, a drive mechanism 3, an analysis control circuit 4, a dispensing monitor circuit 5, a data processing circuit 6, an output circuit 7, and an input circuit 8. And a system control circuit 9.

（分析機構２）
分析機構２は、様々な項目の標準試料や被検試料を分注して項目毎に測定を行うものであり、駆動機構３により駆動される。また、この分析機構２は、その測定結果を前記データ処理回路６に送信する。なお、当該分析機構２の詳細については、後述する。 (Analytical mechanism 2)
The analysis mechanism 2 dispenses standard samples and test samples of various items and measures each item, and is driven by the drive mechanism 3. Further, the analysis mechanism 2 transmits the measurement result to the data processing circuit 6. The details of the analysis mechanism 2 will be described later.

（駆動機構３）
駆動機構３は、動作機能を備えた分析機構２の各構成要素を駆動するものであり、分析制御回路４により制御されている。 (Drive mechanism 3)
The drive mechanism 3 drives each component of the analysis mechanism 2 having an operation function, and is controlled by the analysis control circuit 4.

（分析制御回路４）
分析制御回路４は、分析機構２からの各種モニタリング信号を受信し、駆動機構３の駆動を介し、分析機構２の制御を行うプロセッサである。モニタリング信号とは、分析機構２内の動作機能を備えた構成要素が送信する信号であり、その動作の動作範囲、動作速さ等の動作状態を示す信号である。 (Analysis control circuit 4)
The analysis control circuit 4 is a processor that receives various monitoring signals from the analysis mechanism 2 and controls the analysis mechanism 2 via the drive of the drive mechanism 3. The monitoring signal is a signal transmitted by a component having an operation function in the analysis mechanism 2, and is a signal indicating an operation state such as an operation range and an operation speed of the operation.

（分注モニタ回路５）
分注モニタ回路５は、分析機構２からのモニタリング信号を受信し、分析機構２で分注動作を行う各構成要素の保守管理を行う。 (Distribution monitor circuit 5)
The dispensing monitor circuit 5 receives the monitoring signal from the analysis mechanism 2 and performs maintenance management of each component that performs the dispensing operation in the analysis mechanism 2.

（データ処理回路６）
データ処理回路６は、演算回路６Ａと記憶回路６Ｂとを備える。演算回路６Ａは、分析機構２で行われた標準試料や被検試料の測定結果から、検量線の作成や分析データを生成するプロセッサであり、生成された検量線や分析データを、出力回路７に送信するものである。記憶回路６Ｂは、演算回路６Ａによって生成された検量線や分析データを記憶するもので、主記憶装置としてのダイナミックＲＡＭ或いはスタティックＲＡＭで構成される。或いは、補助記憶装置としての内蔵ハードディスクを含んでもよい。 (Data processing circuit 6)
The data processing circuit 6 includes an arithmetic circuit 6A and a storage circuit 6B. The arithmetic circuit 6A is a processor that creates a calibration curve and generates analysis data from the measurement results of the standard sample and the test sample performed by the analysis mechanism 2, and outputs the generated calibration curve and analysis data to the output circuit 7. It is to be sent to. The storage circuit 6B stores the calibration lines and analysis data generated by the arithmetic circuit 6A, and is composed of a dynamic RAM or a static RAM as a main storage device. Alternatively, an internal hard disk as an auxiliary storage device may be included.

（出力回路７）
出力回路７は、データ処理回路６が生成した検量線や分析データを印刷出力する印刷回路７Ａと、表示する表示回路７Ｂとを備える。表示回路７Ｂは、ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ）や有機ＥＬ（Ｅｌｅｃｔｒｏ−Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｃｅ）ディスプレイなどの表示デバイスで構成される。表示回路７Ｂが全面或いは一部タッチパネルの場合は、表示回路７Ｂは、入力回路８と共用される構成となる。表示回路７Ｂは、分析機構２が実施する分析に係る入出力結果を適宜表示させる。 (Output circuit 7)
The output circuit 7 includes a print circuit 7A that prints out the calibration curve and analysis data generated by the data processing circuit 6, and a display circuit 7B that displays the calibration curve and analysis data. The display circuit 7B is composed of a display device such as an LCD (Liquid Crystal Display) or an organic EL (Electro-Luminescence) display. When the display circuit 7B is a touch panel on the entire surface or a part of the touch panel, the display circuit 7B is shared with the input circuit 8. The display circuit 7B appropriately displays the input / output results related to the analysis performed by the analysis mechanism 2.

（入力回路８）
入力回路８は、システム制御回路９に接続され、分析機構２の分析条件の入力及び変更、データ処理回路６の演算条件の入力及び変更等、自動分析装置１の制御コマンドの入力等を行う。入力回路８としては、全面或いは一部タッチパネルを採用し、表示回路７Ｂに備えられてもよいし、或いは独立したトラックボール、スイッチボタン、マウス、キーボード等によって実現されてもよい。 (Input circuit 8)
The input circuit 8 is connected to the system control circuit 9 and inputs and changes the analysis conditions of the analysis mechanism 2, inputs and changes the calculation conditions of the data processing circuit 6, and inputs control commands of the automatic analyzer 1. As the input circuit 8, a touch panel may be adopted on the entire surface or a part thereof and may be provided in the display circuit 7B, or may be realized by an independent trackball, switch button, mouse, keyboard or the like.

（システム制御回路９）
システム制御回路９は、分注モニタ回路５、分析制御回路４、データ処理回路６及び出力回路７を制御し、自動分析装置１を全体システムとして制御するプロセッサである。 (System control circuit 9)
The system control circuit 9 is a processor that controls the dispensing monitor circuit 5, the analysis control circuit 4, the data processing circuit 6, and the output circuit 7, and controls the automatic analysis device 1 as an entire system.

つぎに、図２及び図３を参照して、分析機構２の詳細を説明する。図２は、分析機構２が収納された筐体１１の外観を示すもので、符号１２はこの筐体上部に設けられている開閉可能な上部カバーを示している。 Next, the details of the analysis mechanism 2 will be described with reference to FIGS. 2 and 3. FIG. 2 shows the appearance of the housing 11 in which the analysis mechanism 2 is housed, and reference numeral 12 indicates an openable and closable upper cover provided on the upper part of the housing.

図３は、分析機構２の構成を示す概略斜視図と分析機構２に接続する自動分析装置１の構成要素を示すブロック図である。分析機構２は、第１試薬ボトル２１ａ、第２試薬ボトル２１ｂ、第１試薬ラック２２ａ、第２試薬ラック２２ｂ、第１試薬庫２３ａ、第２試薬庫２３ｂ、反応容器２４、反応ディスク２５、被検試料容器２６、ディスクサンプラ２７、第１試薬アーム２８ａ、第２試薬アーム２８ｂ、サンプリングアーム２９、撹拌ユニット３０、測光ユニット３１、洗浄ユニット３２、反応容器保持部３３及びステージ３４を備える。 FIG. 3 is a schematic perspective view showing the configuration of the analysis mechanism 2 and a block diagram showing the components of the automatic analyzer 1 connected to the analysis mechanism 2. The analysis mechanism 2 includes a first reagent bottle 21a, a second reagent bottle 21b, a first reagent rack 22a, a second reagent rack 22b, a first reagent storage 23a, a second reagent storage 23b, a reaction vessel 24, a reaction disk 25, and a cover. The sample container 26, the disk sampler 27, the first reagent arm 28a, the second reagent arm 28b, the sampling arm 29, the stirring unit 30, the photometric unit 31, the washing unit 32, the reaction vessel holding unit 33, and the stage 34 are provided.

第１試薬ボトル２１ａ及び第２試薬ボトル２１ｂは、被検試料の各種成分と反応する試薬を納める容器である。第１試薬ラック２２ａは複数の第１試薬ボトル２１ａを収容した状態で第１試薬庫２３ａに設置される。同様に、第２試薬ラック２２ｂは複数の第２試薬ボトル２１ｂを収容した状態で第２試薬庫２３ｂに設置される。 The first reagent bottle 21a and the second reagent bottle 21b are containers for storing reagents that react with various components of the test sample. The first reagent rack 22a is installed in the first reagent storage 23a in a state of accommodating a plurality of first reagent bottles 21a. Similarly, the second reagent rack 22b is installed in the second reagent storage 23b in a state of accommodating a plurality of second reagent bottles 21b.

反応容器２４は、被検試料と試薬を反応させる際に使用する容器である。反応ディスク２５の円周上には、複数の反応容器２４が配置される。 The reaction vessel 24 is a vessel used when reacting the test sample with the reagent. A plurality of reaction vessels 24 are arranged on the circumference of the reaction disk 25.

被検試料容器２６は、被検試料を納める容器である。ディスクサンプラ２７上には、複数の被検試料容器２６が配置される。 The test sample container 26 is a container for storing the test sample. A plurality of test sample containers 26 are arranged on the disc sampler 27.

被検試料容器２６内の被検試料は、サンプリングアーム２９によって反応容器２４に分注される。また、第１試薬ボトル２１ａ及び第２試薬ボトル２１ｂ内の試薬は、第１試薬アーム２８ａ又は第２試薬アーム２８ｂによって反応容器２４に分注される。 The test sample in the test sample container 26 is dispensed into the reaction container 24 by the sampling arm 29. Further, the reagents in the first reagent bottle 21a and the second reagent bottle 21b are dispensed into the reaction vessel 24 by the first reagent arm 28a or the second reagent arm 28b.

被検試料と試薬が分注された反応容器２４は、反応ディスク２５の回転により、撹拌ユニット３０の位置まで移動される。撹拌ユニット３０は、被検試料と試薬が入った状態の反応容器２４を撹拌し、被検試料と試薬を更に混合させるユニットである。 The reaction vessel 24 into which the test sample and the reagent are dispensed is moved to the position of the stirring unit 30 by the rotation of the reaction disk 25. The stirring unit 30 is a unit that stirs the reaction vessel 24 in which the test sample and the reagent are contained, and further mixes the test sample and the reagent.

撹拌された反応容器２４は、測光ユニット３１の位置まで移動される。測光ユニット３１は、反応容器２４に対して光を照射し、被検試料と試薬の混合液の吸光度変化等を測定することにより、被検試料の成分分析を行うユニットである。測光ユニット３１の測定結果は、データ処理回路６の演算回路６Ａに送信される。 The agitated reaction vessel 24 is moved to the position of the photometric unit 31. The photometric unit 31 is a unit that analyzes the components of a test sample by irradiating the reaction vessel 24 with light and measuring the change in absorbance of the mixed solution of the test sample and the reagent. The measurement result of the photometric unit 31 is transmitted to the arithmetic circuit 6A of the data processing circuit 6.

洗浄ユニット３２は、成分分析が完了した反応容器２４の混合液が廃棄された後、反応容器２４の洗浄を行うユニットである。 The cleaning unit 32 is a unit that cleans the reaction vessel 24 after the mixed solution of the reaction vessel 24 for which the component analysis has been completed is discarded.

反応容器保持部３３は、反応ディスク２５の円周上に配置され、反応容器２４の上端部を保持する。反応容器保持部３３は、反応ディスク２５により回転させられることで、反応容器２４を回転させる。 The reaction vessel holding portion 33 is arranged on the circumference of the reaction disc 25 and holds the upper end portion of the reaction vessel 24. The reaction vessel holding unit 33 is rotated by the reaction disk 25 to rotate the reaction vessel 24.

ステージ３４は、分析機構２の動作（移動・回転等、後述）機構の主要部分をその下に収める。 The stage 34 houses the main part of the operation (movement, rotation, etc., described later) mechanism of the analysis mechanism 2 under it.

なお、分析機構２において、以下に挙げる動作機構を備えた各構成要素は、分析制御回路４の制御のもとに、駆動機構３により駆動されている。例えば、第１試薬ラック２２ａ、第２試薬ラック２２ｂ及びディスクサンプラ２７を夫々回転する機構、反応ディスク２５を回転する機構、第１試薬アーム２８ａ、第２試薬アーム２８ｂ、サンプリングアーム２９、及び撹拌ユニット３０を夫々回転及び上下移動する機構、洗浄ユニット３２を上下移動する機構等である。上記動作機構を備えた構成要素からは、分析制御回路４と分注モニタ回路５とに、各種動作をモニタするモニタリング信号が送信されている。 In the analysis mechanism 2, each component having the following operation mechanisms is driven by the drive mechanism 3 under the control of the analysis control circuit 4. For example, a mechanism for rotating the first reagent rack 22a, the second reagent rack 22b, and the disk sampler 27, a mechanism for rotating the reaction disk 25, a first reagent arm 28a, a second reagent arm 28b, a sampling arm 29, and a stirring unit. A mechanism for rotating and moving the cleaning unit 32 up and down, a mechanism for moving the cleaning unit 32 up and down, and the like. A monitoring signal for monitoring various operations is transmitted from the component having the operation mechanism to the analysis control circuit 4 and the dispensing monitor circuit 5.

図４は、分析機構２のステージ３４とサンプリングアーム２９と反応ディスク２５の一部とを含む、分析機構２の一部を拡大して示す概略図である。サンプリングアーム２９のうちステージ３４上への露出部分は、アームヘッド４０、プローブ４１、アームカバー４２及びスプライン外筒４３を備える。プローブ４１の下部先端の水平移動方向に沿って、ステージ３４上で両側壁４５、４６間に延びる溝構造４７が設けられる。サンプリングアーム２９の分注動作の際は、スプライン外筒４３内のスプライン軸４４（後述）を回転軸とした回転により、プローブ４１の下部先端は、溝構造４７に沿って、両側壁４５、４６の高さを超えない高さを保ってステージ３４上を水平移動する。すなわち、両側壁４５、４６の高さは、プローブ４１が水平移動する際に前記プローブ４１の下部先端を覆い隠す高さである。この両側壁４５、４６により、プローブ４１の高速移動に伴った被検試料等の飛び散り範囲を限定し、更に、プローブ４１の下部先端が操作者の指等へ接触することを防いでいる。 FIG. 4 is an enlarged schematic view showing a part of the analysis mechanism 2 including the stage 34 of the analysis mechanism 2, the sampling arm 29, and a part of the reaction disk 25. The exposed portion of the sampling arm 29 on the stage 34 includes an arm head 40, a probe 41, an arm cover 42, and a spline outer cylinder 43. A groove structure 47 extending between the side walls 45 and 46 is provided on the stage 34 along the horizontal movement direction of the lower tip of the probe 41. During the dispensing operation of the sampling arm 29, the lower tip of the probe 41 is rotated along the groove structure 47 by rotating the spline shaft 44 (described later) in the spline outer cylinder 43 as a rotation axis. It moves horizontally on the stage 34 while maintaining a height that does not exceed the height of. That is, the heights of the side walls 45 and 46 are heights that cover the lower tip of the probe 41 when the probe 41 moves horizontally. The side walls 45 and 46 limit the scattering range of the test sample or the like due to the high-speed movement of the probe 41, and further prevent the lower tip of the probe 41 from coming into contact with the operator's finger or the like.

なお、第１試薬アーム２８ａと第２試薬アーム２８ｂの分注時の水平移動経路にも、溝構造４７と同様に、ステージ３４上で両側壁間に延びる溝構造が各々設けられている。また、第１試薬アーム２８ａ及び第２試薬アーム２８ｂの分注時の水平移動は、サンプリングアーム２９と同様の動作を行う。また、両側壁の高さは、第１試薬アーム２８ａと第２試薬アーム２８ｂの分注時の試薬の飛び散り範囲を限定し、更に、試薬分注用のプローブの下部先端が操作者の指等へ接触することを防いでいる。 Similar to the groove structure 47, the horizontal movement paths of the first reagent arm 28a and the second reagent arm 28b at the time of dispensing are also provided with a groove structure extending between both side walls on the stage 34. Further, the horizontal movement of the first reagent arm 28a and the second reagent arm 28b at the time of dispensing performs the same operation as that of the sampling arm 29. Further, the height of both side walls limits the scattering range of the reagents at the time of dispensing the first reagent arm 28a and the second reagent arm 28b, and further, the lower tip of the probe for dispensing the reagent is the operator's finger or the like. Prevents contact with.

＜第１実施形態＞
以下に第１実施形態について説明する。本実施形態では、入力回路８による「分析モード」から「保守モード」への移行指示を受けて、分析制御回路４は、サンプリングアーム２９を、通常の動作位置から保守位置（後述）へ移動、停止させる。ここで「分析モード」とは、分析機構２が保守を必要とせず、被検試料の分析を繰り返している状態である。また、「保守モード」とは、分析機構２が保守を必要とし、被検試料の分析を中止している状態である。 <First Embodiment>
The first embodiment will be described below. In the present embodiment, in response to the instruction from the input circuit 8 to shift from the “analysis mode” to the “maintenance mode”, the analysis control circuit 4 moves the sampling arm 29 from the normal operating position to the maintenance position (described later). Stop it. Here, the "analysis mode" is a state in which the analysis mechanism 2 does not require maintenance and repeats the analysis of the test sample. Further, the "maintenance mode" is a state in which the analysis mechanism 2 requires maintenance and the analysis of the test sample is stopped.

なお、本実施形態では、第１試薬アーム２８ａ及び第２試薬アーム２８ｂは、サンプリングアーム２９と同様な構成を備えている。また、第１試薬アーム２８ａ及び第２試薬アーム２８ｂの分注時の水平移動経路にも、溝構造４７と同様な溝が設けられている。したがって、本実施形態のアーム動作の説明では、サンプリングアーム２９について説明する。以下の説明を、第１試薬アーム２８ａ及び第２試薬アーム２８ｂに拡張することが可能である。 In the present embodiment, the first reagent arm 28a and the second reagent arm 28b have the same configuration as the sampling arm 29. Further, the horizontal movement path of the first reagent arm 28a and the second reagent arm 28b at the time of dispensing is also provided with a groove similar to the groove structure 47. Therefore, in the description of the arm operation of the present embodiment, the sampling arm 29 will be described. The following description can be extended to the first reagent arm 28a and the second reagent arm 28b.

（構成）
図５は、サンプリングアーム２９の構成の一例を示す図である。サンプリングアーム２９は、アームヘッド４０と、プローブ４１と、アームカバー４２と、スプライン外筒４３と、を備える。サンプリングアーム２９は、ステージ３４に対して水平移動するが、当該水平移動は、スプライン軸４４を回転軸として軸回転用パルスモータ４８と、軸側プーリ（滑車）４９と、軸回転用ベルト５０と、モータ側プーリ５１（カバーの内部）とによって行われる。また、サンプリングアーム２９は、ステージ３４に対して上下動するが、当該上下動は、上側プーリ５２と、下側プーリ５３と、上下動用ベルト５４と、軸上下動用パルスモータ５５とによって行われる。上述した構成のうち、軸回転用パルスモータ４８と、上側プーリ５２と、下側プーリ５３と、上下動用ベルト５４と、軸上下動用パルスモータ５５とが、ステージ３４の下側に、格納される。また、サンプリングアーム２９は、スプライン軸４４の動作（回転、上下摺動）を検知する各種センサ（図示せず）を備える。当該センサは、モニタリング信号を分析制御回路４へ、モニタリング信号の一部を分注モニタ回路５へと送信する。 (Constitution)
FIG. 5 is a diagram showing an example of the configuration of the sampling arm 29. The sampling arm 29 includes an arm head 40, a probe 41, an arm cover 42, and a spline outer cylinder 43. The sampling arm 29 moves horizontally with respect to the stage 34, and the horizontal movement includes a pulse motor 48 for shaft rotation, a shaft side pulley (pulley) 49, and a shaft rotation belt 50 with the spline shaft 44 as a rotation shaft. , With the motor side pulley 51 (inside the cover). Further, the sampling arm 29 moves up and down with respect to the stage 34, and the up and down movement is performed by the upper pulley 52, the lower pulley 53, the up and down movement belt 54, and the shaft up and down movement pulse motor 55. Among the above-described configurations, the shaft rotation pulse motor 48, the upper pulley 52, the lower pulley 53, the vertical movement belt 54, and the shaft vertical movement pulse motor 55 are stored under the stage 34. .. Further, the sampling arm 29 includes various sensors (not shown) for detecting the operation (rotation, vertical sliding) of the spline shaft 44. The sensor transmits a monitoring signal to the analysis control circuit 4 and a part of the monitoring signal to the dispensing monitor circuit 5.

アームヘッド４０は、一端をスプライン外筒４３に覆われたスプライン軸４４に、軸回転可能に保持されている。アームヘッド４０の他端には、プローブ４１が固定されている。また、アームヘッド４０は、アームカバー４２によって一部が覆われている。 One end of the arm head 40 is rotatably held by a spline shaft 44 covered with a spline outer cylinder 43. A probe 41 is fixed to the other end of the arm head 40. Further, the arm head 40 is partially covered with the arm cover 42.

プローブ４１は、その下部先端を被検試料容器２６内の被検試料液面下に挿入し、一定量の被検試料を吸引・保持し、移動後に、反応容器２４へと被検試料を吐出する。その後、水平移動の経路上の洗浄位置にある洗浄ユニット３２によって、その下部先端部が洗浄される。プローブ４１を含むサンプリングアーム２９の移動態様については、詳細に後述する。 The probe 41 inserts the lower tip thereof under the test sample liquid level in the test sample container 26, sucks and holds a certain amount of the test sample, and after moving, discharges the test sample into the reaction container 24. To do. After that, the lower tip portion thereof is cleaned by the cleaning unit 32 at the cleaning position on the horizontal movement path. The movement mode of the sampling arm 29 including the probe 41 will be described in detail later.

本実施形態における、プローブ４１の下部先端を移動させる構成を、図４及び図５を参照して説明する。プローブ４１の下部先端は、２種類の移動を行う。第１に、スプライン軸４４を回転軸とするアームヘッド４０の回転動作に伴う移動である。また、第２に、スプライン軸４４の上下方向の摺動による、アームヘッド４０の上下動作に伴う移動である。 The configuration for moving the lower tip of the probe 41 in the present embodiment will be described with reference to FIGS. 4 and 5. The lower tip of the probe 41 makes two types of movement. The first is the movement accompanying the rotational operation of the arm head 40 with the spline shaft 44 as the rotation axis. Secondly, it is a movement accompanying the vertical movement of the arm head 40 due to the vertical sliding of the spline shaft 44.

アームヘッド４０はスプライン軸４４に固定されており、スプライン軸４４の回転によって、アームヘッド４０は回転する。軸回転用パルスモータ４８による回転は、モータ側プーリ５１（カバーの内部；軸回転用パルスモータ４８の回転軸に固定）から軸回転用ベルト５０を介して軸側プーリ（滑車）４９へと伝わり、スプライン軸４４を回転させる。その結果、アームヘッド４０とプローブ４１とは、一体的にスプライン軸４４周りに回転する。なお、その際、ホーム位置から回転角を測定するセンサが設けられ（図示しない）、回転角が所定の閾値を超えた場合、回転停止機構（メカストッパ）を作動させる構成としてもよい。 The arm head 40 is fixed to the spline shaft 44, and the rotation of the spline shaft 44 causes the arm head 40 to rotate. The rotation by the shaft rotation pulse motor 48 is transmitted from the motor side pulley 51 (inside the cover; fixed to the rotation shaft of the shaft rotation pulse motor 48) to the shaft side pulley (sliding wheel) 49 via the shaft rotation belt 50. , Rotate the spline shaft 44. As a result, the arm head 40 and the probe 41 integrally rotate around the spline shaft 44. At that time, a sensor for measuring the rotation angle from the home position may be provided (not shown), and when the rotation angle exceeds a predetermined threshold value, the rotation stop mechanism (mechanical stopper) may be activated.

アームヘッド４０の一端を固定したスプライン軸４４を上下に摺動することで、アームヘッド４０が上下動する。軸上下動用パルスモータ５５による上下動は、下側プーリ５３（軸上下動用パルスモータ５５の回転軸に固定）から上下動用ベルト５４を介して上側プーリ５２へと伝わり、スプライン軸４４を上下動させる。なお、その際、ホーム位置から上下変位を測定するセンサが設けられ（図示しない）、上下変位が所定の閾値を超えた場合、上下動停止機構（メカストッパ）を作動させる構成としてもよい。 By sliding the spline shaft 44 having one end of the arm head 40 fixed up and down, the arm head 40 moves up and down. The vertical movement by the shaft vertical movement pulse motor 55 is transmitted from the lower pulley 53 (fixed to the rotating shaft of the shaft vertical movement pulse motor 55) to the upper pulley 52 via the vertical movement belt 54, and moves the spline shaft 44 up and down. .. At that time, a sensor for measuring the vertical displacement from the home position may be provided (not shown), and when the vertical displacement exceeds a predetermined threshold value, the vertical movement stop mechanism (mechanical stopper) may be activated.

次に、プローブ４１の下部先端位置について、分析機構２の操作段階（分析モード、保守モード）に応じて説明する。 Next, the position of the lower tip of the probe 41 will be described according to the operation stage (analysis mode, maintenance mode) of the analysis mechanism 2.

（分析モード）
分析モードとは、上述したように、分析機構２が保守を必要とせず、被検試料の分析を繰り返している状態である。すなわち、分析制御回路４の指示に基づき駆動機構３が、プローブ４１を洗浄位置、被検試料又は試薬の吸引位置、及び被検試料又は試薬の吐出位置に移動を繰り返す分注駆動を行うことにより、プローブ４１は、反応容器に被検試料又は試薬を分注する。 (Analysis mode)
As described above, the analysis mode is a state in which the analysis mechanism 2 does not require maintenance and repeats the analysis of the test sample. That is, the drive mechanism 3 repeatedly moves the probe 41 to the cleaning position, the suction position of the test sample or the reagent, and the discharge position of the test sample or the reagent based on the instruction of the analysis control circuit 4, thereby performing the dispensing drive. , The probe 41 dispenses the test sample or reagent into the reaction vessel.

図４を参照し、分析モードにおける、プローブ４１の移動経路を、プローブ４１の下部先端の高さに着目して、説明する。プローブ４１の動作は、まず、水平移動によりプローブ４１をディスクサンプラ２７に格納された被検試料容器２６上に移動させ、その吸引位置で停止、下降させる。そして、プローブ４１の下部先端を被検試料容器２６にある被検試料の液面下に挿入し、被検試料を吸引させる。吸引後は、プローブ４１を上昇させ、水平移動により反応容器２４上に移動させる。プローブ４１を該当する反応容器２４上で停止させ、吐出位置まで下降させて、保持している被検試料を反応容器２４に吐出させる。吐出後はプローブ４１を上昇させ、水平移動の経路上にある洗浄ユニット３２まで移動させ、プローブ４１の下部先端部を洗浄させる。洗浄後は、水平移動により再度被検試料容器２６上に移動させる。以上のサイクルを繰り返す。なお、水平移動の際、プローブ４１の下部先端は、ステージ３４上に設けられ、両側壁４５及び４６に囲まれた溝構造４７内で、水平に移動する。 With reference to FIG. 4, the movement path of the probe 41 in the analysis mode will be described by focusing on the height of the lower tip of the probe 41. In the operation of the probe 41, first, the probe 41 is moved horizontally onto the test sample container 26 stored in the disc sampler 27, and is stopped and lowered at the suction position. Then, the lower tip of the probe 41 is inserted below the liquid surface of the test sample in the test sample container 26 to suck the test sample. After suction, the probe 41 is raised and moved horizontally onto the reaction vessel 24. The probe 41 is stopped on the corresponding reaction vessel 24, lowered to the discharge position, and the held test sample is discharged to the reaction vessel 24. After discharge, the probe 41 is raised and moved to the cleaning unit 32 on the horizontal movement path to clean the lower tip of the probe 41. After washing, the sample container 26 is moved again by horizontal movement. Repeat the above cycle. At the time of horizontal movement, the lower tip of the probe 41 is provided on the stage 34 and moves horizontally in the groove structure 47 surrounded by the side walls 45 and 46.

図６Ａを参照して、分析モードにおける、プローブ４１の下部先端の高さについて説明する。まず、溝構造４７の両側壁４５及び４６の側壁高さは、同一高さであり、プローブが水平移動する際に前記プローブの下部先端を覆い隠す高さである。この側壁高さを第１の所定高さＨ１とする。次に、プローブ４１が被検試料容器２６から反応容器２４に水平移動する際に保つ移動高を、第２の所定高さＨ２とする。第２の所定高さＨ２は、移動中のプローブ４１の下部先端とステージ３４との最短距離である。特に、プローブ４１の下部先端が、溝構造４７内で、且つ第２の所定高さＨ２を保つ位置に停止している場合、その位置を「退避位置」と定める。なお、被検試料を吸引する際及び被検試料を吐出する際に、プローブ４１の下部先端は、ステージ３４の高さ以下に移動する。 The height of the lower tip of the probe 41 in the analysis mode will be described with reference to FIG. 6A. First, the heights of the side walls of the side walls 45 and 46 of the groove structure 47 are the same, and are the heights that cover the lower tip of the probe when the probe moves horizontally. This side wall height is defined as the first predetermined height H1. Next, the moving height maintained when the probe 41 moves horizontally from the test sample container 26 to the reaction container 24 is defined as the second predetermined height H2. The second predetermined height H2 is the shortest distance between the lower tip of the moving probe 41 and the stage 34. In particular, when the lower tip of the probe 41 is stopped in the groove structure 47 at a position where the second predetermined height H2 is maintained, that position is defined as the "evacuation position". The lower tip of the probe 41 moves below the height of the stage 34 when the test sample is sucked and when the test sample is discharged.

（保守モード）
保守モードとは、入力回路８からの入力により、分析機構２（例えば、プローブ４１）が被検試料の分析を中止し、プローブ４１が一旦退避位置に退避した後、保守位置（後述）に移動する状態である。図１、図６Ｂ及び図７等を参照して、保守モードへの切り替え制御と、保守モードにおけるプローブ４１の下部先端の移動とその高さについて説明する。 (Maintenance mode)
In the maintenance mode, the analysis mechanism 2 (for example, the probe 41) stops the analysis of the test sample by the input from the input circuit 8, the probe 41 is temporarily retracted to the retracted position, and then moved to the maintenance position (described later). It is in a state of doing. The switching control to the maintenance mode, the movement of the lower tip of the probe 41 in the maintenance mode, and the height thereof will be described with reference to FIGS. 1, 6B, 7 and the like.

入力回路８からの入力により保守モードが選択されると、システム制御回路９は、表示回路７Ｂに図７に示すようなサンプリングアーム２９の動作指示画面５６を表示させる。また、システム制御回路９は、分析制御回路４を制御し、駆動機構３を介して、プローブ４１の下部先端を退避位置に停止させる。 When the maintenance mode is selected by the input from the input circuit 8, the system control circuit 9 causes the display circuit 7B to display the operation instruction screen 56 of the sampling arm 29 as shown in FIG. Further, the system control circuit 9 controls the analysis control circuit 4 and stops the lower tip of the probe 41 at the retracted position via the drive mechanism 3.

図７を参照して、動作指示画面５６について説明する。動作指示画面５６は、プローブ４１及びアームヘッド４０のマニュアル操作の指示を行う画面である。動作指示画面５６は、表示回路７Ｂ上のプローブ動作に関する８つのボタンから構成される。動作指示画面５６は、プローブ４１の上下動の操作に関し、ホーム／アップボタン５７、ダウンボタン５８及び保守用アップボタン５９を備える。また、動作指示画面５６は、アームヘッド４０の水平移動の操作に関し、ホーム／洗浄プールボタン６０、サンプラボタン６１、反応容器通常位置ボタン６２、反応容器希釈位置ボタン６３及び洗剤ボタン６４を備える。 The operation instruction screen 56 will be described with reference to FIG. 7. The operation instruction screen 56 is a screen for instructing manual operation of the probe 41 and the arm head 40. The operation instruction screen 56 is composed of eight buttons related to probe operation on the display circuit 7B. The operation instruction screen 56 includes a home / up button 57, a down button 58, and a maintenance up button 59 for the vertical movement operation of the probe 41. Further, the operation instruction screen 56 includes a home / washing pool button 60, a sampler button 61, a reaction vessel normal position button 62, a reaction vessel dilution position button 63, and a detergent button 64 for the operation of horizontal movement of the arm head 40.

例えば、動作指示画面５６の一部或いは全部がタッチパネルであって、タッチパネルに入力回路８が備わっている場合は、操作者が各ボタン（符号５７〜符号６４）のいずれかに手で触れる、或いはタッチペンで操作する等の動作を、システム制御回路９が受け付ける。システム制御回路９は、各ボタンに割り当てられた各機能（後述）を実行する。表示回路７Ｂと入力回路８とが独立した回路である場合は、動作指示画面５６上の各ボタン（符号５７〜符号６４）を、入力回路８の例えば、マウス等でクリックすればよい。 For example, when a part or all of the operation instruction screen 56 is a touch panel and the touch panel is provided with the input circuit 8, the operator touches any of the buttons (reference numerals 57 to 64) by hand, or The system control circuit 9 accepts operations such as operating with a touch pen. The system control circuit 9 executes each function (described later) assigned to each button. When the display circuit 7B and the input circuit 8 are independent circuits, each button (reference numerals 57 to 64) on the operation instruction screen 56 may be clicked with, for example, a mouse of the input circuit 8.

システム制御回路９は、動作指示画面５６に設けられたアームヘッド４０の水平移動に関するボタン操作を受け付ける。具体的には、ホーム／洗浄プールボタン６０に触れる（タップする）操作を受けて、システム制御回路９は、アームヘッド４０を水平移動させ、プローブ４１の下部先端を退避位置或いは洗浄プール上に移動させる。退避位置と洗浄プール上の位置との選択は、例えば前者はシングルタップ（クリック）で、後者はダブルタップ（クリック）で切り替わるようにすればよい。サンプラボタン６１、反応容器通常位置ボタン６２、反応容器希釈位置ボタン６３及び洗剤ボタン６４に対するタップ（クリック）によって、アームヘッド４０が水平移動し、プローブ４１の下部先端は、各々被検試料容器２６、反応容器２４、希釈用反応容器（図示せず）及び洗剤ボトル（図示せず）上へと移動する。 The system control circuit 9 receives a button operation related to the horizontal movement of the arm head 40 provided on the operation instruction screen 56. Specifically, in response to the operation of touching (tapping) the home / cleaning pool button 60, the system control circuit 9 horizontally moves the arm head 40 and moves the lower tip of the probe 41 to the evacuation position or onto the cleaning pool. Let me. The evacuation position and the position on the washing pool may be selected, for example, by a single tap (click) for the former and a double tap (click) for the latter. The arm head 40 is horizontally moved by tapping (clicking) on the sampler button 61, the reaction vessel normal position button 62, the reaction vessel dilution position button 63, and the detergent button 64, and the lower tip of the probe 41 is the test sample container 26, respectively. Move onto the reaction vessel 24, the dilution reaction vessel (not shown) and the detergent bottle (not shown).

次に、システム制御回路９は、プローブ４１の垂直位置の上下動操作に関する動作を受け付ける。この時点で、プローブ４１の下部先端の水平位置は、アームヘッド４０の水平動操作の動作によって、決められている。ホーム／アップボタン５７のタップによって、システム制御回路９は、プローブ４１の下部先端の位置を、第２の所定高さＨ２を持つ退避位置に留める、或いは第２の所定高さＨ２（図６Ａ）へと上昇させる。ホーム／洗浄プールボタン６０と同様に、シングルタップ（クリック）及びタブルタップ（ダブルクリック）によって、ホーム／アップ動作を切り替えてもよい。ダウンボタン５８は、第２の所定高さＨ２を保ったまま停止しているプローブ４１を、水平位置に応じて予め定められた適正な高さ（例えば、被検試料容器２６上では、被検試料を吸引でき且つ被検試料容器２６の内側底部に接触しない高さ）へと、降下させる。保守用アップボタン５９は、プローブ４１の下部先端を、第１の所定高さＨ１よりも高い第３の所定高さＨ３（図６Ｂ）へと上昇させるためのボタンである。 Next, the system control circuit 9 receives an operation related to a vertical movement operation of the probe 41 at a vertical position. At this point, the horizontal position of the lower tip of the probe 41 is determined by the horizontal movement operation of the arm head 40. By tapping the home / up button 57, the system control circuit 9 keeps the position of the lower tip of the probe 41 in a retracted position having a second predetermined height H2, or a second predetermined height H2 (FIG. 6A). Raise to. Similar to the home / wash pool button 60, the home / up operation may be switched by a single tap (click) and a table tap (double click). The down button 58 makes the probe 41, which is stopped while maintaining the second predetermined height H2, to be inspected at an appropriate height predetermined according to the horizontal position (for example, on the sample container 26 to be inspected). The sample is lowered to a height where the sample can be sucked and does not come into contact with the inner bottom of the sample container 26 to be tested). The maintenance up button 59 is a button for raising the lower tip of the probe 41 to a third predetermined height H3 (FIG. 6B) higher than the first predetermined height H1.

なお、保守用アップボタン５９を保守専用ボタンとし、その現在位置に関わらずプローブ４１を保守位置に移動させる機能を持たせてもよい。なお、「保守位置」とは、第１の所定高さＨ１よりも高い第３の所定高さＨ３を備え、プローブ４１の保守が容易に行える位置である。すなわち、保守用アップボタン５９がタップ（クリック）されると、システム制御回路９は、分析制御回路４を介して駆動機構３制御し、その現在位置にかかわらず、プローブ４１を保守位置に移動させる。 The maintenance up button 59 may be used as a maintenance-only button and may have a function of moving the probe 41 to the maintenance position regardless of its current position. The "maintenance position" is a position that includes a third predetermined height H3 that is higher than the first predetermined height H1 and that allows maintenance of the probe 41 to be easily performed. That is, when the maintenance up button 59 is tapped (clicked), the system control circuit 9 controls the drive mechanism 3 via the analysis control circuit 4 and moves the probe 41 to the maintenance position regardless of its current position. ..

なお、システム制御回路９は、アームヘッド４０の水平移動の操作とプローブ４１の上下動の操作との２つの動作の組み合わせとして両動作の開始前に受付け、その後、順にアームヘッド４０の水平移動及びプローブ４１の上下動を行わせてもよい。或いは、システム制御回路９は、アームヘッド４０の水平移動の操作を受付け、アームヘッド４０の水平移動の動作完了後、プローブ４１の上下動の操作を受付け、プローブ４１の上下動の動作をさせてもよい。 The system control circuit 9 accepts the combination of the horizontal movement of the arm head 40 and the vertical movement of the probe 41 before the start of both movements, and then the horizontal movement of the arm head 40 and the vertical movement of the probe 41 in order. The probe 41 may be moved up and down. Alternatively, the system control circuit 9 accepts the operation of the horizontal movement of the arm head 40, and after the operation of the horizontal movement of the arm head 40 is completed, receives the operation of the vertical movement of the probe 41 and causes the vertical movement of the probe 41 to operate. May be good.

第１試薬アーム２８ａ及び第２試薬アーム２８ｂに関しても、サンプリングアーム２９の動作指示画面５６と同様な動作指示画面を表示回路７Ｂに表示させ、保守モード移行を含むマニュアル操作を行わせてもよい。また、サンプリングアーム２９の動作指示画面５６と第１試薬アーム２８ａ及び第２試薬アーム２８ｂの操作画面とを一度に表示回路７Ｂに表示させ、サンプリングアーム２９、第１試薬アーム２８ａ及び第２試薬アーム２８ｂの保守動作を含むマニュアル操作を統一的に行わせてもよい。 Regarding the first reagent arm 28a and the second reagent arm 28b, an operation instruction screen similar to the operation instruction screen 56 of the sampling arm 29 may be displayed on the display circuit 7B, and a manual operation including a maintenance mode transition may be performed. Further, the operation instruction screen 56 of the sampling arm 29 and the operation screens of the first reagent arm 28a and the second reagent arm 28b are displayed on the display circuit 7B at once, and the sampling arm 29, the first reagent arm 28a and the second reagent arm are displayed at once. Manual operations including the maintenance operation of 28b may be performed in a unified manner.

本明細書において用いる「プロセッサ」という文言は、例えば、ＣＰＵ（ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＧＰＵ（Ｇｒａｐｈｉｃｓ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、或いは、特定用途向け集積回路（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ：ＡＳＩＣ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、単純プログラマブル論理デバイス（Ｓｉｍｐｌｅ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ：ＳＰＬＤ）、複合プログラマブル論理デバイス（Ｃｏｍｐｌｅｘ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ：ＣＰＬＤ）、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ：ＦＰＧＡ））等の回路を意味する。プロセッサは記憶回路６Ｂに保存されたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、記憶回路６Ｂにプログラムを保存する代わりに、プロセッサの回路内にプログラムを直接組み込むよう構成しても構わない。この場合、プロセッサは回路内に組み込まれたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、本実施形態の各プロセッサは、プロセッサごとに単一の回路として構成される場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて１つのプロセッサとして構成し、その機能を実現するようにしてもよい。さらに、複数の構成要素を１つのプロセッサへ統合してその機能を実現するようにしてもよい。 The term "processor" as used herein refers to, for example, a CPU (central processing unit), a GPU (graphics processing unit), an integrated circuit for a specific application (application specific integrated circuit: ASIC), a programmable logic device (ASIC), for example, a programmable logic device (ASIC), and a programmable logic device (ASIC). Simple programmable logic device (Single Programmable Logical Device: SPLD), composite programmable logic device (Complex Programmable Logical Device: CPLD), and field programmable gate array (Field Programmable Gate Array: FPGA), etc. The processor realizes the function by reading and executing the program stored in the storage circuit 6B. Instead of storing the program in the storage circuit 6B, the program may be directly incorporated in the circuit of the processor. In this case, the processor realizes the function by reading and executing the program embedded in the circuit. It should be noted that each processor of the present embodiment is not limited to the case where each processor is configured as a single circuit, and a plurality of independent circuits may be combined to form one processor to realize its function. Good. Further, a plurality of components may be integrated into one processor to realize the function.

本実施形態のサンプリングアーム２９、第１試薬アーム２８ａ及び第２試薬アーム２８ｂは、特許請求の範囲に記載のアームの一例に相当する。同様に、側壁４５及び側壁４６は第１の所定高さの外壁の一例に相当し、分析制御回路４はプローブ制御機構の一例に相当する。第１の所定高さＨ１は第１の所定高さの一例に、第２の所定高さＨ２は第２の所定高さの一例に、第３の所定高さＨ３は第３の所定高さの一例に、各々相当する。 The sampling arm 29, the first reagent arm 28a, and the second reagent arm 28b of the present embodiment correspond to an example of the arms described in the claims. Similarly, the side wall 45 and the side wall 46 correspond to an example of an outer wall having a first predetermined height, and the analysis control circuit 4 corresponds to an example of a probe control mechanism. The first predetermined height H1 is an example of the first predetermined height, the second predetermined height H2 is an example of the second predetermined height, and the third predetermined height H3 is the third predetermined height. Each corresponds to one example.

［作用］
以下に、図１及び図８等を参照して、本実施形態のプローブ４１の保守位置への移動動作を説明する。なお、以下の動作に関し、分析モードにおけるプローブ４１の動作は説明せず、分析モードから保守モードへの切り替え指示が発生した時点から説明する。 [Action]
The operation of moving the probe 41 to the maintenance position of the present embodiment will be described below with reference to FIGS. 1 and 8 and the like. Regarding the following operations, the operation of the probe 41 in the analysis mode will not be described, but will be described from the time when the instruction to switch from the analysis mode to the maintenance mode is generated.

（Ｓ１）
入力回路８からの保守モードへの切り替え指示が、システム制御回路９に送信される。 (S1)
An instruction to switch to the maintenance mode from the input circuit 8 is transmitted to the system control circuit 9.

（Ｓ２）
保守モードへの切り替え指示に応じて、システム制御回路９は、分析制御回路４を介し駆動機構３を制御し、分析機構２による分析動作を中止させる。 (S2)
In response to the instruction to switch to the maintenance mode, the system control circuit 9 controls the drive mechanism 3 via the analysis control circuit 4 to stop the analysis operation by the analysis mechanism 2.

（Ｓ３）
プローブ４１が置かれている水平位置を確認する。 (S3)
Check the horizontal position where the probe 41 is placed.

（Ｓ４）
プローブ４１の水平位置が保守可能な保守位置にあるかどうかを確認する。保守位置に無い場合（ステップ４；ＮＯ）にはステップ５に、保守位置にある場合（ステップ４；ＹＥＳ）にはステップ６へ、それぞれ進む。 (S4)
Check if the horizontal position of the probe 41 is in a maintainable maintenance position. If it is not in the maintenance position (step 4; NO), the process proceeds to step 5, and if it is in the maintenance position (step 4; YES), the process proceeds to step 6.

（Ｓ５)
ステップ４でプローブ４１の水平位置が保守位置ではない（ステップ４；ＮＯ）と判断された場合には、駆動機構３を制御し、プローブ４１を第２の所定高さＨ２の退避位置のまま水平移動させ、プローブ４１の水平位置を保守位置へと移動させる。 (S5)
If it is determined in step 4 that the horizontal position of the probe 41 is not the maintenance position (step 4; NO), the drive mechanism 3 is controlled to keep the probe 41 horizontal with the retracted position of the second predetermined height H2. Move and move the horizontal position of the probe 41 to the maintenance position.

（Ｓ６）
ステップ５により、プローブ４１が水平移動され保守位置にあるか、ステップ４で保守位置にあることが確認された場合（ステップ４；ＹＥＳ）には、プローブ４１を第２の所定高さＨ２の退避位置から所定高さＨ１を超えてさらに上昇させ、保守位置である第３の所定高さＨ３に移動させる。以上のようにプローブ４１を水平移動及び上下動させることにより、第３の所定高さＨ３の保守位置に位置させることができる。 (S6)
When it is confirmed in step 5 that the probe 41 is horizontally moved and in the maintenance position or in step 4 (step 4; YES), the probe 41 is retracted to the second predetermined height H2. It is further raised from the position beyond the predetermined height H1 and moved to the third predetermined height H3 which is the maintenance position. By moving the probe 41 horizontally and up and down as described above, it can be positioned at the maintenance position of the third predetermined height H3.

本実施形態によれば、プローブの保守作業が容易に行える臨床検査装置を提供できる。プローブの保守、交換作業時に、プローブが、その移動経路にそって設けられた外壁と干渉することがないので、プローブの損傷が起きにくく且つ容易に保守、交換作業ができる。 According to the present embodiment, it is possible to provide a clinical examination apparatus capable of easily performing maintenance work on the probe. Since the probe does not interfere with the outer wall provided along the moving path during the maintenance and replacement work of the probe, the probe is less likely to be damaged and the maintenance and replacement work can be easily performed.

＜第２実施形態＞
まず、第１実施形態及び本実施形態の概要を纏め、両実施形態の差異について説明する。なお、本実施形態の構成要素は、第１実施形態に複数の構成要素を追加するものであるので、他の共通する各構成要素の符号は、第１実施形態と共通とする。 <Second Embodiment>
First, the outlines of the first embodiment and the present embodiment will be summarized, and the differences between the two embodiments will be described. Since the components of the present embodiment add a plurality of components to the first embodiment, the reference numerals of the other common components are the same as those of the first embodiment.

第１実施形態では、入力回路８からの保守モードへの切り替え指示により、プローブ４１を保守位置へと移動させた。本実施形態では、分析機構２の構成要素として、図２に示した上部カバー１２の開閉の為の蝶番６５及び開閉センサ機構６６を追加する（図９）。尚、図２では、上部カバー１２が分析機構２の構成要素の上側全体を覆っているように示したが、少なくともサンプリングアーム２９、第１試薬アーム２８ａ及び第２試薬アーム２８ｂの何れかの上側空間を覆う形態としてもよい。 In the first embodiment, the probe 41 is moved to the maintenance position by the instruction to switch to the maintenance mode from the input circuit 8. In the present embodiment, a hinge 65 for opening and closing the upper cover 12 and an open / close sensor mechanism 66 shown in FIG. 2 are added as components of the analysis mechanism 2 (FIG. 9). In FIG. 2, the upper cover 12 is shown to cover the entire upper side of the component of the analysis mechanism 2, but at least the upper side of any one of the sampling arm 29, the first reagent arm 28a, and the second reagent arm 28b. It may be a form that covers the space.

蝶番６５は、筐体１１と上部カバー１２とに設けられる。開閉センサ機構６６は、蝶番６５に設けられ、上部カバー１２の開閉動作を検知する。開閉センサ機構６６は分析制御回路４に接続されており、検知結果を分析制御回路４に送信する。分析制御回路４は、入力回路８からの切り替え指示と開閉センサ機構６６からの検知結果に基づいて、プローブ４１の保守位置への移動を制御する。 The hinge 65 is provided on the housing 11 and the upper cover 12. The open / close sensor mechanism 66 is provided on the hinge 65 and detects the open / close operation of the upper cover 12. The open / close sensor mechanism 66 is connected to the analysis control circuit 4, and transmits the detection result to the analysis control circuit 4. The analysis control circuit 4 controls the movement of the probe 41 to the maintenance position based on the switching instruction from the input circuit 8 and the detection result from the open / close sensor mechanism 66.

（開放位置）
上部カバー１２が「開放」されているとは、プローブ４１を備えたアームヘッド４０が上昇して保守位置に移動する際に、アームヘッド４０と上部カバー１２とが接触しない状態をいう。この上部カバー１２の位置を「開放位置」という。 (Open position)
When the upper cover 12 is "opened", it means that the arm head 40 and the upper cover 12 do not come into contact with each other when the arm head 40 provided with the probe 41 rises and moves to the maintenance position. The position of the upper cover 12 is referred to as an "open position".

（閉鎖位置）
上部カバー１２が閉鎖されている状態の上部カバー１２の位置を「閉鎖位置」という。 (Closed position)
The position of the upper cover 12 in a state where the upper cover 12 is closed is referred to as a "closed position".

（接触可能位置）
上部カバー１２が「開放位置」或いは「閉鎖位置」の何れでもない位置にあるとき、上部カバー１２の位置を「接触可能位置」という。 (Contactable position)
When the upper cover 12 is in a position that is neither an "open position" nor a "closed position", the position of the upper cover 12 is referred to as a "contactable position".

（構成）
第１実施形態との相違は、本実施形態の自動分析装置１が上部カバー１２、蝶番６５及び開閉センサ機構６６を備える点である。また、本実施形態においては、開閉センサ機構６６が検知した上部カバー１２の開閉状態の情報が、「扉状態信号」として開閉センサ機構６６から分析制御回路４に送信され、プローブ４１を保守位置へと移動させる所定条件の一つとして使われている。すなわち、プローブ４１の動作を制御する分析制御回路４の作用が、第１実施形態と異なる。 (Constitution)
The difference from the first embodiment is that the automatic analyzer 1 of the present embodiment includes an upper cover 12, a hinge 65, and an open / close sensor mechanism 66. Further, in the present embodiment, the information on the open / closed state of the upper cover 12 detected by the open / close sensor mechanism 66 is transmitted from the open / close sensor mechanism 66 to the analysis control circuit 4 as a “door state signal”, and the probe 41 is moved to the maintenance position. It is used as one of the predetermined conditions to move. That is, the operation of the analysis control circuit 4 that controls the operation of the probe 41 is different from that of the first embodiment.

なお、「扉状態信号」とは、上部カバー１２の開放位置に対応した「開放信号」、同様に、接触可能位置に対応した「接触信号」及び閉鎖位置に対応した「閉鎖信号」の何れかとして、開閉センサ機構６６から分析制御回路４に送信される信号である。また、開閉センサ機構６６は、上部カバー１２の開閉状態（開放、接触及び閉鎖）の変化を検知したタイミングで、扉状態信号を分析制御回路４に送信する。或いは、定期的に扉状態信号を分析制御回路４に送信してもよい。 The "door state signal" is either an "open signal" corresponding to the open position of the upper cover 12, a "contact signal" corresponding to the contactable position, or a "close signal" corresponding to the closed position. Is a signal transmitted from the open / close sensor mechanism 66 to the analysis control circuit 4. Further, the open / close sensor mechanism 66 transmits a door state signal to the analysis control circuit 4 at the timing when a change in the open / closed state (opening, contacting, and closing) of the upper cover 12 is detected. Alternatively, the door state signal may be periodically transmitted to the analysis control circuit 4.

図９は、蝶番６５の側面概略図の一例である。蝶番６５は、上部カバー側羽根６７と、回転軸６８と、筐体側羽根６９と、開閉センサ機構６６と、を備える。上部カバー側羽根６７は回動自在に回転軸６８に支持され、筐体側羽根６９は筐体１１に固定されている。上部カバー側羽根６７は、回転軸６８を介して筐体側羽根６９に対し、共通の回転軸６８周りに回転する（例えば、図９で紙面に向かって反時計回り、上部カバー１２が開く方向の回転角を正とし図９の＋の方向）、反対方向の回転角を負とする（図９の−の方向））。また、上部カバー側羽根６７の筐体側羽根６９に対する回転角は、上部カバー１２が筐体１１に開放側（回転角の正方向）で接触しない角度（例えば９０度以下）に制限されていてもよい。 FIG. 9 is an example of a schematic side view of the hinge 65. The hinge 65 includes an upper cover side blade 67, a rotation shaft 68, a housing side blade 69, and an open / close sensor mechanism 66. The upper cover side blade 67 is rotatably supported by the rotating shaft 68, and the housing side blade 69 is fixed to the housing 11. The upper cover side blade 67 rotates around a common rotation shaft 68 with respect to the housing side blade 69 via the rotation shaft 68 (for example, counterclockwise toward the paper surface in FIG. 9 in the direction in which the upper cover 12 opens. The rotation angle is positive (+ direction in FIG. 9), and the rotation angle in the opposite direction is negative (-direction in FIG. 9)). Further, the rotation angle of the upper cover side blade 67 with respect to the housing side blade 69 is limited to an angle (for example, 90 degrees or less) at which the upper cover 12 does not contact the housing 11 on the open side (positive direction of the rotation angle). Good.

開閉センサ機構６６は、上部カバー１２の開閉状態を感知するセンサである。開閉センサ機構６６は、上部カバー１２の開閉状態を判断し、その結果を開放信号、接触信号及び閉鎖信号の何れかの扉状態信号として、分析制御回路４に送信する。開閉センサ機構６６は、例えば、開閉検知用の磁気センサであればよい。その一例として、開閉センサ機構６６は、上部カバー側羽根６７と筐体側羽根６９との双方に感応部７０ａ、７０ｂを備え、上部カバー１２の閉鎖動作により両感応部７０ａ、７０ｂが至近距離に接近、或いは接触することで、上部カバー１２が閉鎖されたとみなし、閉鎖信号を、分析制御回路４に、送信する。 The open / close sensor mechanism 66 is a sensor that detects the open / closed state of the upper cover 12. The open / close sensor mechanism 66 determines the open / closed state of the upper cover 12, and transmits the result to the analysis control circuit 4 as a door state signal of any of an open signal, a contact signal, and a close signal. The open / close sensor mechanism 66 may be, for example, a magnetic sensor for open / close detection. As an example, the open / close sensor mechanism 66 includes sensitive portions 70a and 70b on both the upper cover side blade 67 and the housing side blade 69, and both sensitive portions 70a and 70b approach each other by the closing operation of the upper cover 12. Or by contact, it is considered that the upper cover 12 is closed, and a closing signal is transmitted to the analysis control circuit 4.

この場合、上部カバー１２が閉鎖位置になくとも、アームヘッド４０が上昇して保守位置に移動する際に、上部カバー１２とアームヘッド４０とが接触する（接触可能位置にある）可能性がある。しかし、開閉センサ機構６６として磁気センサを利用する場合、上部カバー１２が「接触可能位置」にあるか「開放位置」にあるかの区別がつかない。上部カバー１２を開放位置に停止、保持できる機構があれば、操作者による上部カバー１２の操作は開放と閉鎖の何れかとみなせる。この場合、分析制御回路４は、扉状態信号を、閉鎖信号でなければ開放信号である、とのアルゴリズムで処理できる。 In this case, even if the upper cover 12 is not in the closed position, the upper cover 12 and the arm head 40 may come into contact with each other (in a contactable position) when the arm head 40 rises and moves to the maintenance position. .. However, when a magnetic sensor is used as the open / close sensor mechanism 66, it is not possible to distinguish whether the upper cover 12 is in the "contactable position" or the "open position". If there is a mechanism that can stop and hold the upper cover 12 in the open position, the operation of the upper cover 12 by the operator can be regarded as either opening or closing. In this case, the analysis control circuit 4 can process the door state signal by the algorithm that it is an open signal if it is not a closed signal.

上部カバー１２を開放位置に停止、保持できる機構として、例えば、蝶番６５に、トルクヒンジを用いてもよい。トルクヒンジは、回転軸６８の回転動作に摩擦を与えることによって、回転動作範囲の任意の位置に上部カバー１２を停止、保持させることができる。或いは、蝶番６５に段階的な停止、保持機構を持たせてもよい（例えば、ラチェットヒンジ）。蝶番６５は上部カバー１２を開放位置近傍で、停止、保持させることができる。また、上部カバー１２の停止、保持状態は手動で解除できてもよい。以上のように、蝶番６５に例えばトルクヒンジ或いはラチェットヒンジを使い、上部カバー１２を開放位置に保持させることで、分析制御回路４は、開閉センサ機構６６からの扉状態信号が閉鎖信号でなければ、上部カバー１２は開放位置にあると、判断できる。 As a mechanism capable of stopping and holding the upper cover 12 in the open position, for example, a torque hinge may be used for the hinge 65. The torque hinge can stop and hold the upper cover 12 at an arbitrary position in the rotation operation range by applying friction to the rotation operation of the rotation shaft 68. Alternatively, the hinge 65 may be provided with a stepwise stop and hold mechanism (eg, ratchet hinge). The hinge 65 can stop and hold the upper cover 12 near the open position. Further, the stopped and held states of the upper cover 12 may be manually released. As described above, by using, for example, a torque hinge or a ratchet hinge for the hinge 65 and holding the upper cover 12 in the open position, the analysis control circuit 4 has the analysis control circuit 4 unless the door state signal from the open / close sensor mechanism 66 is a closure signal. , It can be determined that the upper cover 12 is in the open position.

開閉センサ機構６６は、回転軸６８に設けられた角度センサであってもよい。角度センサは、回転軸６８の回転角を検知し、その結果を扉状態信号として、分析制御回路４に送信する。例えば、予め上部カバー１２の開放位置、接触可能位置及び閉鎖位置に対応した回転角の閾値を各々求め、それらの閾値と検知された回転角との比較により、上部カバー１２の状態を判断し、開放信号、接触信号及び閉鎖信号の何れかを分析制御回路４に送信すればよい。或いは、開閉センサ機構６６は検知した回転角を扉状態信号として分析制御回路４に送信し、分析制御回路４が、受信した扉状態信号（回転角）から上部カバー１２の開閉状態を判断してもよい。 The open / close sensor mechanism 66 may be an angle sensor provided on the rotating shaft 68. The angle sensor detects the rotation angle of the rotation shaft 68 and transmits the result as a door state signal to the analysis control circuit 4. For example, the threshold values of the rotation angles corresponding to the open position, the contactable position, and the closed position of the upper cover 12 are obtained in advance, and the state of the upper cover 12 is determined by comparing these threshold values with the detected rotation angles. Any of the open signal, the contact signal, and the close signal may be transmitted to the analysis control circuit 4. Alternatively, the open / close sensor mechanism 66 transmits the detected rotation angle as a door state signal to the analysis control circuit 4, and the analysis control circuit 4 determines the open / closed state of the upper cover 12 from the received door state signal (rotation angle). May be good.

分析制御回路４は、開閉センサ機構６６から送信された扉状態信号と、入力回路８からの保守モードへの切り替え指示とから、プローブ４１を保守位置へと移動させる制御を行う。 The analysis control circuit 4 controls to move the probe 41 to the maintenance position from the door state signal transmitted from the open / close sensor mechanism 66 and the instruction to switch to the maintenance mode from the input circuit 8.

［作用］
以下に、図１０を参照して、本実施形態における、上部カバー１２が存在する場合の、プローブ４１の保守位置への移動動作を説明する。なお、以下の動作に関しても、第１実施形態同様、分析モードにおけるプローブ４１の動作は説明せず、分析モードから保守モードへの切り替え指示が発生した時点から説明する。 [Action]
Hereinafter, the operation of moving the probe 41 to the maintenance position when the upper cover 12 is present in the present embodiment will be described with reference to FIG. As for the following operations, as in the first embodiment, the operation of the probe 41 in the analysis mode will not be described, but will be described from the time when the instruction to switch from the analysis mode to the maintenance mode is generated.

（Ｓ１１）
入力回路８からの保守モードへの切り替え指示が、システム制御回路９に送信される。 (S11)
An instruction to switch to the maintenance mode from the input circuit 8 is transmitted to the system control circuit 9.

（Ｓ１２）
保守モードへの切り替え指示に応じて、システム制御回路９は、分析制御回路４を介し駆動機構３を制御し、分析機構２による分析動作を中止させる。 (S12)
In response to the instruction to switch to the maintenance mode, the system control circuit 9 controls the drive mechanism 3 via the analysis control circuit 4 to stop the analysis operation by the analysis mechanism 2.

（Ｓ１３）
上部カバー１２が開放位置にあるかどうかを確認する。分析制御回路４は、上部カバー１２の位置を、開閉センサ機構６６から送信された扉状態信号から判断（開放位置、接触可能位置或いは閉鎖位置）し、上部カバー１２が開放位置にあると判断する（ステップ１３；ＹＥＳ）と、ステップＳ１４に、上部カバー１２の状態が開放位置にないと判断する（ステップ１３；ＮＯ）と、ステップ１８にそれぞれ進む。 (S13)
Check if the top cover 12 is in the open position. The analysis control circuit 4 determines the position of the upper cover 12 from the door state signal transmitted from the open / close sensor mechanism 66 (open position, contactable position or closed position), and determines that the upper cover 12 is in the open position. (Step 13; YES), and in step S14, when it is determined that the state of the upper cover 12 is not in the open position (step 13; NO), the process proceeds to step 18, respectively.

（Ｓ１４）
ステップ１３で上部カバー１２が開放位置にあると判断された（ステップ１３；ＹＥＳ）状態で、プローブ４１が置かれている水平位置を確認する。 (S14)
In the state where the upper cover 12 is determined to be in the open position in step 13 (step 13; YES), the horizontal position where the probe 41 is placed is confirmed.

（Ｓ１５）
プローブ４１の水平位置が保守可能な保守位置にあるかどうかを確認する。保守位置に無い場合（ステップ１５；ＮＯ）にはステップ１６に、保守位置にある場合（ステップ１５；ＹＥＳ）にはステップ１７へ、それぞれ進む。 (S15)
Check if the horizontal position of the probe 41 is in a maintainable maintenance position. If it is not in the maintenance position (step 15; NO), the process proceeds to step 16, and if it is in the maintenance position (step 15; YES), the process proceeds to step 17.

（Ｓ１６)
ステップ１５でプローブ４１の水平位置が保守位置でない（ステップ１５；ＮＯ）と判断された場合には、駆動機構３を制御し、プローブ４１を第２の所定高さＨ２の退避位置のまま水平移動させ、プローブ４１の水平位置を保守位置へと移動させる。 (S16)
If it is determined in step 15 that the horizontal position of the probe 41 is not the maintenance position (step 15; NO), the drive mechanism 3 is controlled to move the probe 41 horizontally while keeping the retracted position of the second predetermined height H2. And move the horizontal position of the probe 41 to the maintenance position.

（Ｓ１７）
ステップ１６により、プローブ４１が水平移動され保守位置にあるか、ステップ１５で保守位置にあることが確認された場合（ステップ１５；ＹＥＳ）には、プローブ４１を第２の所定高さＨ２の退避位置から所定高さＨ１を超えてさらに上昇させ、保守位置である第３の所定高さＨ３に移動させる。 (S17)
When it is confirmed in step 16 that the probe 41 is horizontally moved and is in the maintenance position, or in step 15 it is confirmed that the probe 41 is in the maintenance position (step 15; YES), the probe 41 is retracted to the second predetermined height H2. It is further raised from the position beyond the predetermined height H1 and moved to the third predetermined height H3 which is the maintenance position.

（Ｓ１８）
ステップ１３で上部カバー１２の状態が開放位置にないと判断する（ステップ１３；ＮＯ）と、分析制御回路４は、表示回路７Ｂにエラーメッセージ（ステップＳ１８：上部カバー１２の状態が接触可能位置或いは閉鎖位置にある）を出力するとともに、プローブ４１の下部先端が第２の所定高さＨ２（図６Ａ）に留まるように、駆動機構３を制御する。 (S18)
When it is determined in step 13 that the state of the upper cover 12 is not in the open position (step 13; NO), the analysis control circuit 4 sends an error message to the display circuit 7B (step S18: the state of the upper cover 12 is in a contactable position or The drive mechanism 3 is controlled so that the lower tip of the probe 41 stays at the second predetermined height H2 (FIG. 6A) while outputting (in the closed position).

以上のように、上部カバー１２の開閉状態を確認し、上部カバー１２との干渉がない状態でプローブ４１を水平移動及び上下動させることにより、第３の所定高さＨ３の保守位置に位置させることができる。 As described above, the open / closed state of the upper cover 12 is confirmed, and the probe 41 is moved horizontally and up and down without interference with the upper cover 12 to be positioned at the maintenance position of the third predetermined height H3. be able to.

［効果］
本実施形態によれば、プローブの保守作業が容易に行える臨床検査装置を提供できる。また、本実施形態において説明したように、臨床検査装置に上部カバーが設けられた場合であっても、プローブの保守、交換作業時に、プローブが、上部カバーと干渉することがないので、プローブの損傷が起きにくく且つ容易に保守、交換作業ができる。 [effect]
According to the present embodiment, it is possible to provide a clinical examination apparatus capable of easily performing maintenance work on the probe. Further, as described in the present embodiment, even when the clinical examination apparatus is provided with the upper cover, the probe does not interfere with the upper cover during maintenance and replacement work of the probe. It is not easily damaged and can be easily maintained and replaced.

(第２実施形態の変形例)
第２実施形態の変形例は、プローブ４１が保守位置にある状態で上部カバー１２が開放位置から接触可能位置、或いは、閉鎖位置に移動した場合、アームヘッド４０を、即時上部カバー１２と接触しない位置に移動させるとともに、表示回路７Ｂにエラーメッセージを出力する構成を備える。本変形例では、プローブ４１が保守位置にある状態で、分析制御回路４が開閉センサ機構６６から「開放信号」ではない扉状態信号を受信すると、駆動機構３を制御して、プローブ４１を第２の所定高さＨ２を備えた退避位置へと退避させる。同時に、アームヘッド４０は、上部カバー１２と接触しない位置に移動する。本変形例は、プローブの保守、交換作業中に誤って上部カバー１２が接触可能位置に移行しつつある状況であっても、保守、交換作業を自動的に中断し、プローブ等機器の損傷を避けることができる。 (Modified example of the second embodiment)
In the modified example of the second embodiment, when the upper cover 12 moves from the open position to the contactable position or the closed position while the probe 41 is in the maintenance position, the arm head 40 does not immediately contact the upper cover 12. It is provided with a configuration for moving to a position and outputting an error message to the display circuit 7B. In this modification, when the analysis control circuit 4 receives a door state signal other than the “opening signal” from the open / close sensor mechanism 66 while the probe 41 is in the maintenance position, the drive mechanism 3 is controlled to control the probe 41. It is retracted to the retracted position having the predetermined height H2 of 2. At the same time, the arm head 40 moves to a position where it does not come into contact with the upper cover 12. In this modification, even if the upper cover 12 is accidentally moved to the contactable position during probe maintenance and replacement work, the maintenance and replacement work is automatically interrupted to damage equipment such as the probe. Can be avoided.

また、上記実施形態において説明した構成は、自動分析装置以外の臨床検査装置にも適用することができる。 Further, the configuration described in the above embodiment can be applied to a clinical examination device other than the automatic analyzer.

臨床検査装置としては、例えば、自動分析装置や血液ガス分析装置や電気泳動装置や液体クロマトグラフィー装置などの臨床化学分析機器、ラジオイムノアッセイ装置などの核医学機器、ラテックス凝集反応測定装置やネフェロメータなどの免疫血清検査機器、自動血球計数装置、血液凝固測定装置などの血液検査機器、微生物分類同定装置や血液培養検査装置やＤＮＡ・ＲＮＡ測定装置などの細菌検査機器、尿分析装置や便潜血測定装置などの尿検査機器、自動組織細胞染色装置などの病理検査機器、生理機能検査機器、マイクロピペットや洗浄装置分注装置や遠心分離装置などのその他の臨床検査機器等が挙げられる。 Examples of clinical laboratory equipment include clinical chemical analysis equipment such as automatic analyzers, blood gas analyzers, electrophoresis equipments and liquid chromatography equipments, nuclear medical equipments such as radioimmunoassay equipment, latex aggregation reaction measurement equipments and neferometers. Immunoserologic testing equipment, automatic blood cell counting equipment, blood testing equipment such as blood coagulation measuring equipment, bacterial testing equipment such as microorganism classification identification equipment, blood culture testing equipment, DNA / RNA measuring equipment, urinalysis equipment, fecal occult blood measuring equipment, etc. Examples include urinalysis equipment, pathological examination equipment such as automatic tissue cell staining equipment, physiological function examination equipment, and other clinical examination equipment such as micropipettes, washing equipment dispensing equipment, and centrifugation equipment.

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の範囲を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。 Although some embodiments of the present invention have been described, these embodiments are presented as examples and are not intended to limit the scope of the invention. These embodiments can be implemented in various other embodiments, and various omissions, replacements, and changes can be made without departing from the scope of the invention. These embodiments and modifications thereof are included in the scope and gist of the invention, as well as in the scope of the invention described in the claims and the equivalent scope thereof.

１ 自動分析装置（臨床検査装置）
２ 分析機構
３ 駆動機構
４ 分析制御回路
６ データ処理回路
７ 出力回路
８ 入力回路
９ システム制御回路
２９ サンプリングアーム
４０ アームヘッド
４１ プローブ
４５、４６ 外壁
４７ 溝構造
Ｈ１ 第１の所定高さ
Ｈ２ 第２の所定高さ
Ｈ３ 第３の所定高さ 1 Automatic analyzer (clinical examination device)
2 Analytical mechanism 3 Drive mechanism 4 Analytical control circuit 6 Data processing circuit 7 Output circuit 8 Input circuit 9 System control circuit 29 Sampling arm 40 Arm head 41 Probe 45, 46 Outer wall 47 Groove structure H1 First predetermined height H2 Second Predetermined height H3 Third predetermined height

Claims (9)

ステージ上で、プローブの洗浄位置、被検試料又は試薬の吸引位置、及び前記被検試料又は前記試薬の吐出位置に移動を繰り返す分注駆動をすることにより、反応容器に前記被検試料又は前記試薬を分注するアームと、
前記プローブの水平移動の経路に沿って設けられた第１の所定高さの外壁と、
前記プローブが水平移動するときに、前記プローブの下部先端を、前記第１の所定高さより低い第２の所定高さで移動するように前記プローブを制御し、
所定条件で前記下部先端が前記第１の所定高さより高い第３の所定高さに前記プローブを上昇させ、前記第３の所定高さの保守位置へ移動するように制御するプローブ制御機構と、
を備えた臨床検査装置。 By repeatedly moving to the washing position of the probe, the suction position of the test sample or the reagent, and the discharge position of the test sample or the reagent on the stage, the reaction vessel is subjected to the test sample or the above. An arm for dispensing reagents and
An outer wall of a first predetermined height provided along the horizontal movement path of the probe, and
When the probe moves horizontally, the probe is controlled so that the lower tip of the probe moves at a second predetermined height lower than the first predetermined height.
A probe control mechanism for raising the probe to a third predetermined height higher than the first predetermined height under predetermined conditions and controlling the probe to move to a maintenance position at the third predetermined height.
Clinical testing device equipped with. 前記第２の所定高さは、前記プローブの下部先端の前記ステージからの高さである請求項１に記載の臨床検査装置。 The clinical testing apparatus according to claim 1, wherein the second predetermined height is the height of the lower tip of the probe from the stage. 前記第１の所定高さは、前記プローブが水平移動する際に前記プローブの下部先端を覆い隠す高さである請求項１又は請求項２に記載の臨床検査装置。 The clinical examination apparatus according to claim 1 or 2, wherein the first predetermined height is a height that covers the lower tip of the probe when the probe moves horizontally. 前記外壁は、前記プローブが水平移動する少なくとも一部の領域に設けられている請求項１から３の何れか１項に記載の臨床検査装置。 The clinical examination apparatus according to any one of claims 1 to 3, wherein the outer wall is provided in at least a part of a region where the probe moves horizontally. 入力回路を更に備え、
前記所定条件は、前記入力回路から入力された、前記プローブの前記保守位置への移行指示である、
ことを特徴とする請求項１〜４の何れか１項に記載の臨床検査装置。 With more input circuits
The predetermined condition is an instruction to shift the probe to the maintenance position, which is input from the input circuit.
The clinical testing apparatus according to any one of claims 1 to 4. 少なくとも前記アームの上側空間を覆う上部カバーと、
前記上部カバーの開閉状態を検知する開閉センサ機構と、を更に備え、
前記所定条件は、前記開閉センサ機構が開放状態を検知することを含むものであり、
前記開放状態は、前記上部カバーが前記保守位置にある前記アームと接触しない位置にある状態である、
ことを特徴とする請求項５に記載の臨床検査装置。 With an upper cover that covers at least the upper space of the arm,
An open / close sensor mechanism for detecting the open / closed state of the upper cover is further provided.
The predetermined condition includes that the open / close sensor mechanism detects an open state.
The open state is a state in which the upper cover is in a position where it does not come into contact with the arm in the maintenance position.
The clinical laboratory apparatus according to claim 5. 前記開閉センサ機構が前記開放状態を検知できない場合、
前記プローブ制御機構は、前記プローブの下部先端が前記第２の所定高さに留まるように前記プローブを制御する、
ことを特徴とする請求項６に記載の臨床検査装置。 When the open / close sensor mechanism cannot detect the open state,
The probe control mechanism controls the probe so that the lower tip of the probe stays at the second predetermined height.
The clinical testing apparatus according to claim 6. 出力回路を更に備え、
入力回路が前記保守位置への移行指示を受け付け、且つ前記開閉センサ機構が前記開放状態を検知できない場合、
前記プローブ制御機構は、前記プローブの下部先端が前記第２の所定高さに留まるように前記プローブを制御し、前記出力回路にエラーメッセージを出力させる、
ことを特徴とする請求項６または７に記載の臨床検査装置。 With more output circuits
When the input circuit receives the shift instruction to the maintenance position and the open / close sensor mechanism cannot detect the open state.
The probe control mechanism controls the probe so that the lower tip of the probe stays at the second predetermined height, and causes the output circuit to output an error message.
The clinical laboratory apparatus according to claim 6 or 7. 前記プローブが前記保守位置にあり、前記開閉センサ機構が前記開放状態を検知できない場合、
前記プローブ制御機構は、前記出力回路にエラーメッセージを出力し、前記プローブを前記保守位置から前記第２の所定高さを備えた退避位置へと移行させる、
ことを特徴とする請求項８に記載の臨床検査装置。 When the probe is in the maintenance position and the open / close sensor mechanism cannot detect the open state.
The probe control mechanism outputs an error message to the output circuit and shifts the probe from the maintenance position to the retracted position having the second predetermined height.
The clinical laboratory apparatus according to claim 8.

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