JP6815933B2 - 応力測定方法 - Google Patents
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Description
また、本応力測定方法では、検出工程において、凹部へのX線の照射面積の合計が被検査体の結晶粒の面積の18000倍以上となるように凹部にX線を入射させるので、検出工程の検出結果に含まれる回折情報がより多くなり、測定精度が一層高まる。
定することができる。
また、本応力測定方法では、検出工程において、複数の入射角が、特定の入射角に対して所定角度増加させた入射角を上限値とし特定の入射角に対して所定角度減少させた入射角を下限値とする範囲から選択され、所定角度が、3°以上7°以下の範囲内の角度である、こととしているので、特定の入射角で入射したX線の照射部位の近傍(応力がほぼ均一と評価可能な領域)において多くの回折情報を得ることが可能となる。よって、測定精度が高まる。
本発明の第1実施形態の応力測定方法について、図1を参照しながら説明する。この応力測定方法は、2次元検出器(図示略)を用いて鋼材等の金属からなる被検査体1(クランクシャフト等)の凹部3の応力を測定するものである。図1に示されるように、凹部3は、被検査体1の表面2から窪むとともに溝状に延びる形状を有する。本応力測定方法は、検出工程と、算出工程と、を含む。
次に、本発明の第2実施形態の応力測定方法について、図2を参照しながら説明する。なお、第2実施形態では、第1実施形態と異なる部分についてのみ説明を行い、第1実施形態と同じ構造、作用及び効果の説明は省略する。
まず、第1実施形態の実施例について、図3〜図5を参照しながら説明する。図3は、試験片に入射させる入射X線の移動方向の例を示している。図4は、入射X線の入射角Ψが5°、10°及び35°の場合におけるX線の照射面積と信頼度との関係を示すグラフである。この図4は、試験片としてCrMo系低合金鋼からなるものが用いられた場合の結果である。図5は、入射X線の入射角Ψが7°、10°及び30°の場合におけるX線の照射面積と信頼度との関係を示すグラフである。この図5は、試験片としてNiCrMo系低合金鋼からなるものが用いられた場合の結果である。なお、信頼度は、cosα線図(特許文献1の図6に示される図に相当する図)の直線性に関する誤差(測定された回折環に基づく算出値と理論値とのフィッティングの誤差)を応力換算した値を意味する。よって、この値が小さい程、高精度に測定が行われたと評価できる。
次に、第2実施形態の実施例について、図6を参照しながら説明する。図6は、入射X線の入射角Ψが10°、15°、20°及び35°の場合における入射X線の揺動角(入射角Ψに対して増加及び減少させる角度)と信頼度との関係を示すグラフである。この図6は、試験片としてCrMo系低合金鋼からなるものが用いられた場合の結果である。例えば、入射角Ψが10°で揺動角が3°の場合の信頼度の値は、入射角Ψを7°から13°の範囲で連続的に変化させることにより得られた回折環Rに基づく算出値である。
2 表面
3 凹部
4 照射部
R 回折環
Claims (7)
- 金属からなり、表面と当該表面から窪むとともに溝状に延びる形状を有する凹部とを有する被検査体の前記凹部の応力を測定する方法であって、
前記凹部にX線を入射させるとともに、前記X線が前記凹部で回折することにより形成される回折X線の回折環を2次元検出器で検出する検出工程と、
前記検出工程の検出結果に基づいて前記凹部の応力を算出する算出工程と、を含み、
前記検出工程では、前記被検査体の凹部内の複数の部位に対してそれぞれX線を入射させるとともに、各X線が前記部位で回折することにより形成される複数の回折環を重ね合わせることにより得られる単一の回折環を前記2次元検出器で検出し、かつ、前記凹部への前記X線の照射面積の合計が前記被検査体の結晶粒の面積の18000倍以上となるように前記凹部に前記X線を入射させる、応力測定方法。 - 請求項1に記載の応力測定方法において、
前記検出工程では、前記複数の部位として、前記凹部内において連続的につながる部位が選択され、その部位に対して連続的にX線を入射させる、応力測定方法。 - 請求項2に記載の応力測定方法において、
前記検出工程では、前記連続的につながる部位として、前記凹部の延びる方向に沿って連続的につながる部位が選択される、応力測定方法。 - 請求項2又は3に記載の応力測定方法において、
前記検出工程では、前記連続的につながる部位に対して連続的にX線を入射させる、応力測定方法。 - 請求項1ないし4のいずれかに記載の応力測定方法において、
前記検出工程では、各X線を前記凹部に対して20°以下の低入射角で入射させる、応力測定方法。 - 金属からなり、表面と当該表面から窪むとともに溝状に延びる形状を有する凹部とを有する被検査体の前記凹部の応力を測定する方法であって、
前記凹部にX線を入射させるとともに、前記X線が前記凹部で回折することにより形成される回折X線の回折環を2次元検出器で検出する検出工程と、
前記検出工程の検出結果に基づいて前記凹部の応力を算出する算出工程と、を含み、
前記検出工程では、前記被検査体の凹部内の単一の部位に対して互いに異なる複数の入射角でX線を入射させるとともに、各X線が前記部位で回折することにより形成される複数の回折環を重ね合わせることにより得られる単一の回折環を前記2次元検出器で検出し、かつ、前記複数の入射角は、特定の入射角に対して所定角度増加させた入射角を上限値とし前記特定の入射角に対して前記所定角度減少させた入射角を下限値とする範囲から選択され、
前記所定角度は、3°以上7°以下の範囲内の角度である、応力測定方法。 - 請求項6に記載の応力測定方法において、
前記検出工程では、前記特定の入射角は、20°以下の低入射角から選択される、応力測定方法。
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