JP6797765B2 - 静電容量タッチスイッチモジュール - Google Patents
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Description
また、上記制御用マイコンと上記ESD保護回路とのインピーダンスが略同一であることを特徴とする。さらに、上記ノイズ電流遮断素子がダイオード保護回路であることを特徴とする。
(1)耐ESD特性を損なうことなく他のイミュニティに対しても効果を発揮することができる。
(2)制御用マイコン側の端子とダイオード保護回路とのインピーダンスがほぼ同程度となり、制御用マイコンに流れる電流(すなわちスイッチのON/OFFを検出・制御する微小電流)がノイズ電流により妨害されないことから、ノイズを受けても動作不良を起こさない要図となる。
(3)部品の破壊やマイコン内部のプログラム破壊などの異常防止も可能となり、市揚や工程での不良率を減らすことができる。
(4)制御用マイコンとESD保護回路とのインピーダンスが略同一であることにより、イミュニティ特性を向上できる。ESD保護回路よりも制御用マイコン端子のインピ一ダンスが高いと、マイコン側に流れる電流が影響を受け、動作不良が生じる場合がある。
静電容量タッチスイッチモジュール1は、静電容量タッチスイッチパネル2と、この静電容量タッチスイッチパネルからの信号を制御する制御用マイコン3と、静電容量タッチスイッチパネル2と制御用マイコン3との間にESD保護回路4が配置されている。このESD保護回路4は、静電容量タッチスイッチパネル2側から制御用マイコン3側に向かって直列抵抗5aなどの抵抗素子5およびダイオード回路6aからなるノイズ電流遮断素子6が順に接続されている。このように、タッチスイッチパネル2→直列抵抗5a→ダイオード回路6a→マイコン3の順で接続することにより、直列抵抗5aおよびダイオード回路6aによる2重のESD保護が図れる。また、イミュニティ試験においても動作不良を起こすことがない。本発明におけるイミュニティ試験とは、静電容量タッチスイッチモジュールのESD等の電気的ストレスに対する耐性を評価するために、該モジュールが受けることが想定されるESD等の電気的ストレスをシミュレートする状態に静電容量タッチスイッチモジュールを曝し、その挙動を観察する試験をいう。さらに本発明の静電容量タッチスイッチモジュールは、許容電流が大きい、または耐パルス特性が大きい直列抵抗5aを使用することでダイオード回路6aおよびマイコン3を十分に保護することができる。
ノイズが静電容量タッチスイッチパネル2に印加されると、タッチスイッチパネル2の電極にノイズ電圧が誘導される。この誘導電圧により誘導電流Inoiseが流れるが、マイコン端子のインピーダンスZcpuとダイオード回路のインピーダンスZDとを同程度に設定することで、マイコンに流れる電流IcpuとInoiseが略同一となり、Inoiseの影響度が小さくなる。このように、タッチスイッチパネル2とダイオード回路6aの間に直列抵抗5aを接続し、この抵抗に許容電力が大きい抵抗を使用することでノイズがより抑制される。その結果、ダイオード回路6aに流れるノイズ電流が抑制され、ダイオード回路6aが破壊されないので、マイコンが保護される。
図6において、ノイズが静電容量タッチスイッチパネル2に印加されると、タッチスイッチパネル2の電極にノイズ電圧が誘導される。この誘導電圧がダイオード回路6aの保護電圧をこえた場合、タッチスイッチパネル2の電極とダイオード回路6aとの間でノイズ電流Inoiseが流れる。この電流はマイコンに流れる電流Icpuに影響する。マイコン3を保護するため、直列抵抗5aの抵抗値をダイオード回路6aよりも大きくせざるを得ない。その結果、Inoiseの影響度が大きくなり、Icpuに影響を及ぼし、正常に静電容量を検出できない。正常に静電容量を検出できないとタッチスイッチパネル2のON/OFF判定に誤りが生じる。また、スイッチ動作が誤動作を起こすことで、他のシステムにも悪影響を及ぼす。
しかし、過大なノイズが印加されると、ダイオード回路6aを破壊する場合がある。ダイオード回路6aが破壊されると直列抵抗5aでは保護しきれなくなり、マイコン3自体の破壊が生じる場合がある。
図8(b)において、ノイズが静電容量タッチスイッチパネル2に印加されると、タッチスイッチパネル2の電極にノイズ電圧が誘導される。この誘導電圧がダイオード回路6aの保護電圧をこえた場合、タッチスイッチパネル2の電極とダイオード回路6aとの間でノイズ電流Inoiseが流れる。この電流が過大となるとダイオード回路6aを破壊し、さらにはマイコン3自体を破壊する可能性がある。
図9(b)において、ノイズが静電容量タッチスイッチパネル2に印加されると、タッチスイッチパネル2の電極にノイズ電圧が誘導される。このノイズ電圧によるノイズ電流Inoiseは、直列抵抗5aでは保護しきれずマイコン3自体の破壊に至る。
2 静電容量タッチスイッチパネル
3 制御用マイコン
4 ESD保護回路
5 抵抗素子
6 ノイズ電流遮断素子
7 入力側
Claims (4)
- 静電容量タッチスイッチパネルと、この静電容量タッチスイッチパネルからの信号を制御する制御用マイコンと、前記静電容量タッチスイッチパネルと前記制御用マイコンとの間に静電気放電保護回路が配置されている静電容量タッチスイッチモジュールであって、
前記静電気放電保護回路は、抵抗素子とノイズ電流遮断素子とが接続され、前記抵抗素子が静電容量タッチスイッチパネル側に、前記ノイズ電流遮断素子が前記制御用マイコン側にそれぞれ接続されており、
前記抵抗素子が直流抵抗であり、前記ノイズ電流遮断素子がダイオード保護回路であり、
前記制御用マイコンと前記ダイオード保護回路とのインピーダンスが略同一であることを特徴とする静電容量タッチスイッチモジュール。 - 前記抵抗素子がフェライトビーズであることを特徴とする請求項1記載の静電容量タッチスイッチモジュール。
- 前記制御用マイコンと前記静電気放電保護回路とのインピーダンスが略同一であることを特徴とする請求項1または請求項2記載の静電容量タッチスイッチモジュール。
- 前記静電容量タッチスイッチパネルに発生するノイズ電流と前記制御用マイコンに流れる電流とが略同一であることを特徴とする請求項1から請求項3までのいずれか1項記載の静電容量タッチスイッチモジュール。
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JP2017158889A JP6797765B2 (ja) | 2017-08-21 | 2017-08-21 | 静電容量タッチスイッチモジュール |
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