JP6785674B2 - 光計測装置 - Google Patents
光計測装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6785674B2 JP6785674B2 JP2017011686A JP2017011686A JP6785674B2 JP 6785674 B2 JP6785674 B2 JP 6785674B2 JP 2017011686 A JP2017011686 A JP 2017011686A JP 2017011686 A JP2017011686 A JP 2017011686A JP 6785674 B2 JP6785674 B2 JP 6785674B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- unit
- light
- optical circuit
- projection
- fixed
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/011—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour in optical waveguides, not otherwise provided for in this subclass
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/2441—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures using interferometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
- G01B11/2513—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object with several lines being projected in more than one direction, e.g. grids, patterns
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B5/00—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
- G01B5/0011—Arrangements for eliminating or compensation of measuring errors due to temperature or weight
- G01B5/0014—Arrangements for eliminating or compensation of measuring errors due to temperature or weight due to temperature
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/02—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F2203/00—Function characteristic
- G02F2203/50—Phase-only modulation
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Optical Couplings Of Light Guides (AREA)
- Optical Integrated Circuits (AREA)
- Optical Modulation, Optical Deflection, Nonlinear Optics, Optical Demodulation, Optical Logic Elements (AREA)
Description
ある態様の光計測装置は、パターン光を投射する光投射部と、パターン光が投射された対象物を撮像する撮像部と、を備える。光投射部および撮像部は、光投射部の投射軸方向と撮像部の撮像軸方向との双方に交差する取付面を介して互いに固定される。
図1は、第1実施例に係る光計測装置100の構成を模式的に示す図である。光計測装置100は、光投射部20と、撮像部30と、光源38と、制御部40とを備える。光計測装置100は、先端部12、挿入部14および接続部16を有する内視鏡スコープ10に組み込まれており、先端部12を対象物に向けることで管腔内の目的部位の三次元形状を測定するために用いる。光計測装置100は、いわゆる「縞走査法」といわれる三次元計測方法により対象物を計測するために用いられる。
図6および図7は、第2実施例に係る光計測装置200の構成を模式的に示す図である。図6は上面図であり、上述の図2に対応する。図7は側面図であり、上述の図3に対応する。本実施例では、カバーガラス132の主面132cに光投射部120および撮像部130が取り付けられており、カバーガラス132の主面132cが取付位置の基準となる取付面になる点で上述の第1実施例と相違する。以下、本実施例について、上述の第1実施例との相違点を中心に説明する。
図8は、第3実施例に係る光計測装置300の構成を模式的に示す図である。本実施例は、光投射部220および撮像部130がカバーガラス132の主面132cに取り付けられる点で上述の第2実施例と共通するが、光投射部220に含まれる光回路部222および投射レンズ224の固定方法が上述の実施例と相違する。以下、本実施例について、上述の実施例との相違点を中心に説明する。
図9は、変形例1に係る光計測装置400の構成を模式的に示す上面図である。本変形例は、光投射部320に投射レンズが設けられず、光回路部322の複数の導波路から出射されるパターン光をレンズを介さずに対象物に投射するよう構成される。光回路部322は、複数の導波路の出射口が設けられる側面322cが筐体318に固定されるカバーガラス332の主面332cに固定される。光回路部322は、投射軸Aと直交する取付面に固定される。撮像部330は、上述の実施例と同様にカバーガラス332の主面332cに取り付けられ、撮像軸Bと直交する取付面に固定される。本変形例においても、上述の実施例と同様の効果を奏することができる。
図10は、変形例2に係る光計測装置500の構成を模式的に示す上面図である。本変形例は、光投射部320をカバーガラス332に対して斜めに取り付けることにより、投射軸Aと撮像軸Bとが交差するようにしている。光投射部320は、仲介部材470を介してカバーガラス332の主面332cに固定される。仲介部材470は、光回路部322の側面322cに固定される第1面470aと、カバーガラス332の主面332cに固定される第2面470bとを有する。仲介部材470の第1面470aは第2面470bに対して傾斜しており、その傾斜角は投射軸Aと撮像軸Bの交差角に対応する。本変形例においても、上述の実施例と同様の効果を奏することができる。
図11は、変形例3に係る光計測装置600の構成を模式的に示す上面図である。本変形例は、上述の第1実施例と同様、光回路部522が取付位置の基準となるよう構成される。つまり、光投射部520および撮像部530は、カバーガラス332に対して固定されず、カバーガラス332との間に取付部材や仲介部材が設けられていない。光回路部522は、複数の導波路の出射口が設けられる第1側面522cと、撮像部530が取り付けられる第2側面522dと、光ファイバ34や配線ケーブル36が接続される第3側面522eとを有する。第1側面522cおよび第2側面522dは、第3側面522eと反対側に設けられ、互いにz方向にずれた位置に設けられる。第1側面522cおよび第2側面522dは、互いに平行となるように設けられ、投射軸方向および撮像軸方向の双方と交差または直交する。本変形例においても、光回路部522の投射軸方向および撮像軸方向の双方と交差する側面を基準に撮像部530が固定されるため、上述の実施例と同様の効果を奏することができる。
図12は、変形例4に係る光計測装置700の構成を模式的に示す上面図である。本変形例は、撮像部530が光回路部522に対して斜めとなるように取り付けることにより、投射軸Aと撮像軸Bとが交差するようにしている。撮像部530は、仲介部材670を介して光回路部522の第2側面522dに固定される。仲介部材670は、光回路部522の第2側面522dに固定される第1面と、撮像部530に固定される第2面とを有し、第1面に対して第2面が傾斜するよう構成されている。本変形例においても、光回路部522の投射軸方向および撮像軸方向の双方と交差する側面を基準に撮像部530が固定されるため、上述の実施例と同様の効果を奏することができる。
Claims (10)
- パターン光を投射する光投射部と、
前記パターン光が投射された対象物を撮像する撮像部と、を備え、
前記光投射部は、基板および前記基板上に設けられる位相変調可能な複数の導波路を有する光回路部を含み、前記光回路部は、前記複数の導波路の出射口が設けられる側面を有し、前記側面に前記撮像部が固定されることを特徴とする光計測装置。 - 前記光投射部および前記撮像部を内部に収容する筐体をさらに備え、
前記光投射部は、前記筐体に固定されており、前記撮像部は、前記光投射部を介して前記筐体に固定されることを特徴とする請求項1に記載の光計測装置。 - 前記光投射部は、前記複数の導波路から出射される複数の光束を干渉させて前記パターン光を前記対象物に投射する投射レンズと、前記投射レンズを保持するレンズ保持部と、をさらに含み、前記光回路部に前記レンズ保持部が固定されることを特徴とする請求項1または2に記載の光計測装置。
- 前記光回路部の前記側面に前記レンズ保持部が固定されることを特徴とする請求項3に記載の光計測装置。
- パターン光を投射する光投射部と、
前記パターン光が投射された対象物を撮像する撮像部と、
前記光投射部と前記撮像部の双方が取り付けられる取付面を有し、光透過性を有する固定部材と、を備え、
前記光投射部は、前記固定部材ごしに前記パターン光を前記対象物に投射し、
前記撮像部は、前記固定部材ごしに前記対象物を撮像することを特徴とする光計測装置。 - 前記光投射部および前記撮像部を内部に収容する筐体をさらに備え、
前記固定部材は、前記筐体に固定され、前記光投射部および前記撮像部は、前記固定部材を介して前記筐体に固定されることを特徴とする請求項5に記載の光計測装置。 - 前記光投射部は、基板および前記基板上に設けられる位相変調可能な複数の導波路を有する光回路部を含み、前記光回路部が前記固定部材の前記取付面に固定されることを特徴とする請求項5または6に記載の光計測装置。
- 前記光投射部は、基板および前記基板上に設けられる位相変調可能な複数の導波路を有する光回路部と、前記複数の導波路から出射される複数の光束を干渉させて前記パターン光を前記対象物に投射する投射レンズと、前記投射レンズを保持するレンズ保持部と、を含み、
前記光回路部は、前記レンズ保持部を介して前記固定部材の前記取付面に固定されることを特徴とする請求項5または6に記載の光計測装置。 - 前記光回路部は、前記光投射部の投射軸方向と交差する側面を有し、前記側面に前記レンズ保持部が固定されることを特徴とする請求項8に記載の光計測装置。
- 前記光回路部の前記側面に前記複数の導波路の出射口が設けられることを特徴とする請求項9に記載の光計測装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017011686A JP6785674B2 (ja) | 2017-01-25 | 2017-01-25 | 光計測装置 |
CN201880006783.0A CN110199174B (zh) | 2017-01-25 | 2018-01-25 | 光计测装置 |
DE112018000511.9T DE112018000511T5 (de) | 2017-01-25 | 2018-01-25 | Optische messvorrichtung |
PCT/JP2018/002212 WO2018139512A1 (ja) | 2017-01-25 | 2018-01-25 | 光計測装置 |
US16/517,736 US20190339069A1 (en) | 2017-01-25 | 2019-07-22 | Optical measurement apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017011686A JP6785674B2 (ja) | 2017-01-25 | 2017-01-25 | 光計測装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018119865A JP2018119865A (ja) | 2018-08-02 |
JP2018119865A5 JP2018119865A5 (ja) | 2020-02-06 |
JP6785674B2 true JP6785674B2 (ja) | 2020-11-18 |
Family
ID=62977918
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017011686A Active JP6785674B2 (ja) | 2017-01-25 | 2017-01-25 | 光計測装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20190339069A1 (ja) |
JP (1) | JP6785674B2 (ja) |
CN (1) | CN110199174B (ja) |
DE (1) | DE112018000511T5 (ja) |
WO (1) | WO2018139512A1 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111121651A (zh) * | 2018-10-31 | 2020-05-08 | 财团法人工业技术研究院 | 光学测量稳定性控制*** |
JP7319084B2 (ja) * | 2019-04-26 | 2023-08-01 | 株式会社キーエンス | 光学式変位計 |
JP7456736B2 (ja) * | 2019-06-28 | 2024-03-27 | 株式会社サキコーポレーション | 形状測定装置、形状測定装置の形状測定方法および形状測定装置の形状測定プログラム |
DE102020203857A1 (de) * | 2020-03-25 | 2021-09-30 | Micro-Epsilon Optronic Gmbh | Optische Positionierhilfe für einen Abstandssensor, Abstandsmesssystem und entsprechendes Verfahren |
WO2024121941A1 (ja) * | 2022-12-06 | 2024-06-13 | オリンパスメディカルシステムズ株式会社 | 干渉縞投影光学系、形状測定装置、及び形状測定方法 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4498776A (en) * | 1982-08-23 | 1985-02-12 | General Motors Corporation | Electro-optical method and apparatus for measuring the fit of adjacent surfaces |
JPH041505A (ja) * | 1990-04-18 | 1992-01-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ワークの3次元位置計測方法とワークの捕捉方法 |
JP3009521B2 (ja) * | 1990-10-23 | 2000-02-14 | オリンパス光学工業株式会社 | 計測内視鏡 |
JPH0933393A (ja) * | 1995-07-19 | 1997-02-07 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光導波路型回折格子の測定装置 |
JPH1027376A (ja) * | 1996-07-12 | 1998-01-27 | Nikon Corp | 光情報検出装置 |
CN2323388Y (zh) * | 1997-12-27 | 1999-06-09 | 中国科学院长春物理研究所 | 集成光学声光矩阵乘法器组件 |
JP3677444B2 (ja) * | 2000-10-16 | 2005-08-03 | 住友大阪セメント株式会社 | 三次元形状測定装置 |
JP3964687B2 (ja) * | 2002-01-24 | 2007-08-22 | 富士機械製造株式会社 | 物体形状認識方法及び装置 |
JP2009008900A (ja) * | 2007-06-28 | 2009-01-15 | Nec Corp | シリコン構造体 |
JP2009020356A (ja) * | 2007-07-12 | 2009-01-29 | Nec Corp | シリコン構造体 |
JP2009031150A (ja) * | 2007-07-27 | 2009-02-12 | Omron Corp | 三次元形状計測装置、三次元形状計測方法、三次元形状計測プログラム、および記録媒体 |
WO2010132802A2 (en) * | 2009-05-14 | 2010-11-18 | Andover Photonics, Inc. | Shape measurement using microchip based fringe projection |
JP5313983B2 (ja) * | 2010-09-07 | 2013-10-09 | 日本電信電話株式会社 | 光モジュール |
JP2014102073A (ja) * | 2011-03-10 | 2014-06-05 | Sanyo Electric Co Ltd | 物体検出装置および情報取得装置 |
JP5390562B2 (ja) * | 2011-06-22 | 2014-01-15 | 日本電信電話株式会社 | 平面型光波回路 |
JP5582267B1 (ja) * | 2014-01-17 | 2014-09-03 | 株式会社東光高岳 | 連続走査型計測装置 |
WO2016006049A1 (ja) * | 2014-07-09 | 2016-01-14 | 一般社団法人日本建設機械施工協会 | コンクリート構造物のひび割れ調査方法およびひび割れ調査システム |
-
2017
- 2017-01-25 JP JP2017011686A patent/JP6785674B2/ja active Active
-
2018
- 2018-01-25 DE DE112018000511.9T patent/DE112018000511T5/de not_active Withdrawn
- 2018-01-25 CN CN201880006783.0A patent/CN110199174B/zh active Active
- 2018-01-25 WO PCT/JP2018/002212 patent/WO2018139512A1/ja active Application Filing
-
2019
- 2019-07-22 US US16/517,736 patent/US20190339069A1/en not_active Abandoned
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20190339069A1 (en) | 2019-11-07 |
DE112018000511T5 (de) | 2019-10-02 |
CN110199174B (zh) | 2021-09-03 |
JP2018119865A (ja) | 2018-08-02 |
CN110199174A (zh) | 2019-09-03 |
WO2018139512A1 (ja) | 2018-08-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6785674B2 (ja) | 光計測装置 | |
JP6480963B2 (ja) | 光学用マウントシステム | |
JP6142501B2 (ja) | 光学式センサ | |
US10499023B2 (en) | Projection device and a method of manufacturing a projection device | |
JP6831709B2 (ja) | 縞投影装置および縞投影装置の制御方法 | |
KR20160097299A (ko) | 이미징 모듈 및 이미징 디바이스 | |
JP5868335B2 (ja) | 調芯方法 | |
JP5759499B2 (ja) | 光アセンブリ | |
JPWO2019049914A1 (ja) | レーザ装置 | |
JP5273182B2 (ja) | 光走査装置の製造方法および光走査装置 | |
WO2012176623A1 (ja) | 物体検出装置および情報取得装置 | |
JP7424477B2 (ja) | 3次元計測システム | |
JP6574101B2 (ja) | 内視鏡システム | |
JP2017028331A (ja) | 光アセンブリ | |
JP2022166647A (ja) | 光学測定装置、実装基板の組立装置、および、実装基板の組立方法 | |
TWI312083B (en) | Efficient coupling of light into light guides | |
JPWO2020065841A1 (ja) | 光走査装置、撮像装置、光走査装置の調整装置及び光走査装置の調整方法 | |
US9547126B2 (en) | Optical waveguide sheet, optical unit, and method for manufacturing the same | |
WO2016030970A1 (ja) | 光アセンブリ | |
JP6465449B2 (ja) | 光信号送信モジュール | |
KR102355523B1 (ko) | 슬릿광원 및 이를 포함하는 비전검사장치 | |
JP6448497B2 (ja) | 波面センサ、波面測定方法および光モジュール位置決め方法 | |
KR200208636Y1 (ko) | 3차원영상측정시스템 | |
US20120081771A1 (en) | Optical scanning apparatus and laser pointer | |
JP2014199861A (ja) | パターン描画装置およびパターン描画方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170203 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20191218 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20191218 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20201006 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20201027 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6785674 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |