JP6781727B2 - 敏捷な画像化システム - Google Patents
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- H01S5/18361—Structure of the reflectors, e.g. hybrid mirrors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/18—Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities
- H01S5/183—Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only vertical cavities, e.g. vertical cavity surface-emitting lasers [VCSEL]
- H01S5/18361—Structure of the reflectors, e.g. hybrid mirrors
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-
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Description
ここで、Mは、アクチュエータの集中質量であり、Bは集中粘性ダンピングであり、ksは、集中スプリング定数であり、F(t)は、時間関数tとしての力である。プレートの直径の増加はダンピング係数Bを増加させるが、圧迫フィルムダンピング効果も加わり始める。動的な実際の安定した極および圧迫フィルムダンピングに関係する実際の安定した0は、動的応答で明らかになる。結果的に、87μmおよび103μmの設計に対する周波数応答曲線に見られるように、30μmのプレート直径を持つVCSELで観察される強い共鳴ピークは、大幅に広がる。同時に、より短いフレキシャアームに関係する剛性のアクチュエータのために、より大きな87μmおよび103μmの設計は、約400kHz〜500kHzのより高い共鳴周波数を有する。これらは、より大きなアクチュエータのプレートデバイスのより高い共鳴周波数およびより広い共鳴ピーク(低Qファクタ)により、広範囲のスキャン反復レートにわたる使用およびマルチ動作モード能力に対する掃引軌道の形に好ましくなる。本発明の1つの好ましい実施形態は、低Qファクタを持つ広い共鳴ピークおよび高い自然共鳴周波数によるアクチュエータの設計を使用する。広範囲の掃引反復レートおよびVCL源で得られる掃引範囲により、シングルデバイスを使用する数桁の次元スケールにわたる測定のためのマルチスケール画像化能力を可能にする。非常に長い画像化範囲が要求される適用に対して、数kHzの低反復レートでの安定した掃引を達成するために、アクチュエータの質量をより大きくさせ、剛性を小さくさせる。本発明の1つの好ましい実施形態は、20kHz未満の掃引反復レートでの安定した掃引性能を達成するために、大質量のアクチュエータおよび低剛性を使用する。
は、シヌソイド関数の合計と組み合わされたDC値を示す。シヌソイド関数の周波数は、掃引反復レートωの基本であり、調波は以下の通りである。
のベクトルと、調節可能な入力パラメータ
のベクトルとを考慮すると、最小化される性能メトリックGは、以下の数式により与えられる。
オプティマイザは縞周波数を最小化するために波長掃引範囲を0に下げて駆動するため、縞周波数自体を最小化することは、最適化の目的を規定するのに十分でない。そのため、最適化の間に、所望の掃引範囲を最低限広げるようにオプティマイザに要求することが必要である。所望の開始(短い)および終了(長い)波長は、それぞれ、
および
として規定でき、制約として最適化に含めることができる。例えば、
かつ、
の場合に、数値的な最適化に制約を加える外部ペナルティ法を使用でき、ここで、
および
は、実験測定あるいは開始および終了の波長の推定からそれぞれ決定される。性能メトリックをペナルティ関数および調節可能なペナルティパラメータcと組み合わせると、目的関数は以下のようになる。
および
を設定することが望ましい。外部ペナルティ関数法の従来の公式を説明してきた。外部ペナルティ法の他の公式、内部ペナルティ法および設計の目的を達成するための他の方法を含む、最適化の他の方法もまた本発明中に含まれる。
実験的な波長軌道
および、所望の波長軌道
を考慮すると、
トラッキングエラーベクトル
は、以下のように形成され得る。
トラッキングエラーベクトルのサイズの測定である最適化性能メトリックが規定される。1つの可能性あるメトリックは、自乗差の合計(SSD)であり、これは、L2ノルムの自乗形である。エラーベクトルに対してSSD測定を適用するための最適化メトリックは、以下の通りである。
を考慮すると、追加の制約が最適化目的関数に含まれ得る。以下のような、最大および最小の制約関数を定義でき、以下のような目的関数に含まれ得る。
として表現され、コンピュータメモリ中のアレイとして実現される。波形は、実験装置に適用され、応答が記録される。1つの好ましい実施形態では、縞の包絡線は、MZI縞に適用されるヒルベルト変換から決定される。図28に示すように、別の好ましい実施形態では、縞の包絡線は波長センサから決定され、ここで、時間の関数としての縞の電力は、適切にスケーリングされた2つの検出器の測定を合計することにより決定される。包絡線を決定する他の方法が現在の発明に含まれる。所望の縞包絡線ベクトル
および実験的な縞包絡線
を考慮すると、エラーベクトルは
として計算できる。駆動波形D/AおよびセンサA/Dのサンプリングレートが同じである場合に、サンプルポイントのベクトルに対する更新は、エラーにおいて利得αを使用して、反復iにおいて以下のように計算できる。
Claims (147)
- 光画像化システムであって、
(a) 波長チューニング可能な垂直共振器レーザ(VCL)(510)と、波長掃引を発生させるための発光波長範囲にわたってチューニング可能な単一の縦モード出力を発生させる共振器内チューニングエレメント(520)とを含むチューニング可能な光源(500)であって、前記チューニングエレメントは、前記VCLの光共振器長を規定するレーザミラーの少なくとも1つを動かすように構成された静電的にアクチュエートされたMEMS構造であり、前記静電的にアクチュエートされたMEMS構造は、4〜8本のフレキシャアームを有するプレートを含み、前記プレートの直径により、当該MEMS構造の周波数応答を広げるための圧迫フィルムダンピングを生成できると同時に、前記フレキシャアームを有する前記静電的にアクチュエートされるMEMS構造の剛性を生じさせるように、前記プレートの直径は、30μmより大きく103μm以下であり、前記VCLは、少なくとも100kHzから400kHzの波長掃引反復レートの変動にわたる実質的に同等の単一縦モード出力と可変発光波長範囲で動作することができるものと、
(b) 掃引軌道、掃引スピード、波長掃引反復レート、掃引線型性および発光波長範囲を決定するチューニングエレメントに影響を与える1以上の可変波長チューニング波形を発生できるチューニングドライバ(540)と、
(c) 出力発光放射電力を調整するために前記チューニング可能な光源(500)内の利得物質(530)に電流を供給する電流ドライバ(550)と、
(d) 前記チューニング可能な光源に対する妨害を補正するためにチューニング応答の属性を測定しフィードバックを提供するか、又は波長のチューニング波形を発生させるモニタリング検出器(560)と、
を含むコアOCTモジュールと、
前記チューニング可能な光源により照射される参照アームおよびサンプルアームによる光干渉計(570)と、
前記光干渉計からの光干渉縞信号を電気アナログ信号に変換する1以上の光検出器(580)と、
前記1以上の光検出器からの前記電気アナログ信号出力をデジタルデータに変換するデータ捕捉デバイス(590)とを備える
光画像化システム。 - 前記VCLは垂直共振器面発光レーザ(VCSEL)である
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記チューニング可能な光源はポンプレーザ(1310)をさらに含み、前記VCLは光励起されたVCL(1370)である
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記VCLは電気励起されたVCL(1340)である
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記チューニング可能な光源は、ポンプレーザと出力発光電力を増加させるための1以上の光増幅器(1420)とをさらに含み、前記VCLは光励起されたVCLである
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記チューニング可能な光源は、出力発光電力を増加させるための1以上の光増幅器(1440)をさらに含み、前記VCLは電気励起されたVCLである
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記発光波長範囲の中心波長は380nm〜750nmの間である
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記発光波長範囲の中心波長は750nm〜970nmの間である
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記発光波長範囲の中心波長は970nm〜1100nmの間である
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記発光波長範囲の中心波長は1200nm〜1600nmの間である
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記発光波長範囲の中心波長は1800nm〜2100nmの間である
請求項1に記載の光画像化システム。 - 一又は複数の前記チューニング波形は固定の反復レートで前記VCLを掃引する
請求項1に記載の光画像化システム。 - 一又は複数の前記チューニング波形は固定の波長チューニング範囲にわたって前記VCLを掃引する
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記チューニングエレメントは、掃引反復レートに関して一又は複数の異なる動作モードを達成するために、可変の駆動波形により駆動される
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記チューニングエレメントは、掃引範囲に関して一又は複数の異なる動作モードを達成するために、可変の駆動波形により駆動される
請求項1に記載の光画像化システム。 - 一又は複数の前記チューニング波形は、前記チューニングエレメントの前記チューニング応答を変化させる
請求項1に記載の光画像化システム。 - 一又は複数の前記チューニング波形は、基底関数の組み合わせから計算され、一又は複数の前記チューニング波形は、前記チューニングエレメントの前記チューニング応答を変化させる
請求項1に記載の光画像化システム。 - 一又は複数の前記チューニング波形は、掃引反復レート、掃引スピード、掃引加速度、掃引範囲、掃引直線性および掃引デューティーサイクルのうちの少なくとも1つを改善することにより、画像化に対して好ましいチューニング応答を達成するために、前記チューニングエレメントの前記チューニング応答を変化させる
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記チューニング波形は、所定の最大A/Dサンプリングクロックレートに対するより長いOCT画像化範囲を可能にするために掃引直線性を改善する
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記チューニング可能な光源は、より高い出力発光電力を発生させるための少なくとも1つの光増幅器を含む
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記少なくとも1つの光増幅器は、ブースタ光増幅器(BOA)、半導体光増幅器(SOA)、垂直共振器半導体光増幅器(VCSOA)またはドープされたファイバのうちの少なくとも1つである
請求項20に記載の光画像化システム。 - 前記チューニング可能な光源は、改善されたシステム感度性能のための高い光収集効率の干渉計設計を可能にするために、より高い出力電力のための少なくとも1つの光増幅器を含む
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記少なくとも1つの増幅器は、飽和された動作形態中で使用される
請求項20に記載の光画像化システム。 - 前記少なくとも1つの光増幅器の自然放射増幅光(ASE)の中心波長は、チューニングの波長にわたる改善された利得応答のために、前記チューニング波長の中心からオフセットされる
請求項21に記載の光画像化システム。 - 前記少なくとも1つの光増幅器は、少なくとも2つの制限された量子状態での量子井戸利得領域を組み込む
請求項20に記載の光画像化システム。 - 前記少なくとも1つの光増幅器は、前記VCLにより同期的にチューニングされる垂直共振器増幅器である
請求項20に記載の光画像化システム。 - チューニング可能なフィルタをさらに備え、前記チューニング可能なフィルタは、光路に沿って、前記VCLと前記少なくとも1つの光増幅器との間に配置され、ASEを抑制し、サイドモード抑制比を改善するために前記VCLにより同期的にチューニングされる
請求項20に記載の光画像化システム。 - チューニング可能なフィルタをさらに備え、前記チューニング可能なフィルタは、光路に沿って、前記VCLの後に配置され、ASEを抑制し、サイドモード抑制比を改善するために前記VCLにより同期的にチューニングされる
請求項20に記載の光画像化システム。 - チューニング可能なフィルタをさらに備え、前記チューニング可能なフィルタは、光路に沿って、前記少なくとも1つの光増幅器のうちのいずれかの後に配置され、ASEを抑制し、サイドモード抑制比を改善するために前記VCLにより同期的にチューニングされる
請求項20に記載の光画像化システム。 - 前記電流ドライバの電流は、出力発光をスペクトル的に成形するために時間の関数として調節される
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記電流ドライバの電流は、サンプルの光特性を補償するように出力発光をスペクトル的に成形するために、時間の関数として調節される
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記電流ドライバの電流は、サンプルに対する光曝露を最適化するように出力発光をスペクトル的に成形するために、時間の関数として調節される
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記電流ドライバの電流は、前記チューニング可能な光源の前方向または後方向の掃引のいずれかをなくすために、時間の関数として調節される
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記デジタルデータは飽和についてチェックされ、飽和が判明した場合に、前記利得物質に対する電流は調節される
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記デジタルデータはデータセット中に収集され、前記データセット内の前記デジタルデータは飽和についてチェックされ、飽和が判明した前記データセット中の位置にある前記利得物質に対する調節された電流により物体またはサンプルは再画像化され、新規のデジタルデータは前記調節された電流レベルで捕捉される
請求項1に記載の光画像化システム。 - 時間遅延推定法は前記デジタルデータを位相安定化させるために使用される
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記デジタルデータを位相安定化させるために前記デジタルデータに対する調節が実行され、前記調節は、時間遅延推定(TDE)技法を使用して計算される
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記モニタリング検出器は、波長の関数として光を複数のチャネルに分割する波長依存コンポーネントおよび測定された光の異なるチャネルの相対的なパワーを含む
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記モニタリング検出器は、波長の関数として光を複数のチャネルに分割するための波長依存コンポーネントおよび波長対掃引の時間を推定するために測定された光の異なるチャネルの相対的なパワーを含む
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記モニタリング検出器は、波長依存カプラ、ビームスプリッタ、または、波長の関数として光を複数のチャネルに分割するためのフィルタおよび波長対掃引の時間を推定するために光の異なるチャネルの相対的なパワーを測定する2つの検出器ダイオードを含む
請求項1に記載の光画像化システム。 - 光フィルタをさらに備え、前記光フィルタは、固定の波長フィルタリング応答を有し、スペクトルを成形するために光路に沿って前記システム内に挿入される
請求項1に記載の光画像化システム。 - 光フィルタをさらに備え、前記光フィルタは、固定の波長フィルタリング応答を有し、ASEを抑制するために光路に沿って前記システム内に挿入される
請求項1に記載の光画像化システム。 - 光フィルタをさらに備え、前記光フィルタは、固定の波長フィルタリング応答を有し、発光のスペクトルを成形するために光路に沿って前記VCLまたは増幅器出力の後に置かれる
請求項20に記載の光画像化システム。 - 光フィルタをさらに備え、前記光フィルタは、固定の波長フィルタリング応答を有し、ASEを減少させるために光路に沿って前記VCLまたは増幅器出力の後に置かれる
請求項20に記載の光画像化システム。 - 短い波長から長い波長への掃引と長い波長から短い波長への掃引の双方が画像化のために使用される
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記干渉計は光ファイバコンポーネントを含む
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記干渉計はバルク光学を含む
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記干渉計はマイケルソン構成である
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記干渉計は効率を改善するために1以上のサーキュレータを含む
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記干渉計は、効率を改善するために60:40より大きい分割比による1以上のファイバカプラを含む
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記参照アームは、参照光路長を発生させるためのミラーを含む
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記参照アームは、参照光路長を発生させるためのファイバループを含む
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記参照アームの光路遅延は調節可能である
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記サンプルアームは、サンプルアーム光ビームをステアリングするための少なくとも1つのスキャニングミラーを含む
請求項1に記載の光画像化システム。 - 掃引の1方向または掃引の部分がなくされる
請求項1に記載の光画像化システム。 - 試料に対する光曝露を減少させるために掃引の1方向または掃引の部分がなくされる
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前方向の掃引のみが画像化のために使用される
請求項1に記載の光画像化システム。 - 後方向の掃引のみが画像化のために使用される
請求項1に記載の光画像化システム。 - データ捕捉デバイスをクロッキングするための光クロック信号を発生させる、クロッキング干渉計(3310)とクロッキング検出器(3320)とを含む、光クロッキングモジュールをさらに備える
請求項1に記載の光画像化システム。 - 主に等しいまたは反復可能な光k−間隔(波数間隔)でデータ捕捉デバイスをクロッキングするための光クロック信号を発生させる、クロッキング干渉計とクロッキング検出器とを含む、光クロッキングモジュールをさらに備える
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記光クロッキングモジュールは、前記クロッキング干渉計の光路遅延を調節することにより、異なる掃引軌道をサポートする
請求項59に記載の光画像化システム。 - 前記光クロッキングモジュールからの信号は、前記チューニング可能な光源の異なる掃引軌道をサポートするために周波数分割または電気的カウンティングにより周波数において減少される
請求項59に記載の光画像化システム。 - 前記光クロッキングモジュールからの信号は、前記チューニング可能な光源の異なる掃引軌道をサポートするために少なくとも1つの周波数逓倍器により周波数において増加される
請求項59に記載の光画像化システム。 - 前記光クロッキングモジュールは、データ捕捉帯域幅内の可変の測定画像化範囲をサポートするために、調節可能な路遅延を持つマイケルソン干渉計またはマッハ・ツェンダー干渉計を含む
請求項59に記載の光画像化システム。 - 前記光クロッキングモジュールは、データ捕捉帯域幅内の可変の測定画像化範囲をサポートするために、調節可能な路遅延を持つ干渉計を含む
請求項59に記載の光画像化システム。 - クロッキング干渉計および検出器をさらに備え、前記クロッキング干渉計および前記クロッキング検出器は、クロッキング信号を発生させ、前記干渉計における光路遅延は長さにおいて調節可能である
請求項1に記載の光画像化システム。 - トリガ信号を発生させる手段をさらに備え、前記トリガ信号は、前記チューニング可能な光源のチューニングと同期され、適切なA/D捕捉データアラインメントのために使用される
請求項1に記載の光画像化システム。 - 光波長信号を発生させる手段をさらに備え、前記光波長信号は適切なA/D捕捉データアラインメントのために使用される
請求項1に記載の光画像化システム。 - ファイバ・ブラッグ・グレーティング(FBG)をさらに備え、前記光波長信号は、前記ファイバ・ブラッグ・グレーティング(FBG)により発生される
請求項68に記載の光画像化システム。 - 光干渉計信号を発生させる手段をさらに備え、前記光干渉計信号は適切なA/D捕捉データアラインメントのために使用される
請求項1に記載の光画像化システム。 - 光波長トリガ信号を発生させる手段をさらに備え、前記捕捉されたデジタル信号に対する前記光波長トリガ信号のポジションが捕捉され、前記ポジション情報は、前記捕捉されたデジタルデータのアラインメントをデータフレームに適切に調節するために使用される
請求項1に記載の光画像化システム。 - チューニング可能な光トリガ信号を発生させる手段をさらに備え、前記チューニング可能な光トリガ信号は、前記捕捉フレーム窓を前記波長掃引に適切に整列するために、前記デジタルデータの捕捉を開始するために使用される
請求項1に記載の光画像化システム。 - チューニング可能な光トリガ信号を発生させる手段をさらに備え、前記チューニング可能な光トリガ信号は、異なる掃引範囲に適応するため、前記捕捉フレーム窓を前記波長掃引に適切に整列するために、前記データの捕捉を開始するために使用される
請求項1に記載の光画像化システム。 - チューニング可能な光トリガ信号を発生させる手段をさらに備え、前記チューニング可能な光トリガ信号は、異なる掃引反復レートに適応するため、前記捕捉フレーム窓を前記波長掃引に適切に整列するために、前記データの捕捉を開始するために使用される
請求項1に記載の光画像化システム。 - 増加した出力発光電力を達成するために、1以上の利得物質を温度規制するための熱的規制のための手段をさらに備える
請求項1に記載の光画像化システム。 - 好ましい発光スペクトルを達成するために、1以上の利得物質を温度規制するための熱的規制のための手段をさらに備える
請求項1に記載の光画像化システム。 - 減少した発光ノイズを達成するために、1以上の利得物質を温度規制するための熱的規制のための手段をさらに備える
請求項1に記載の光画像化システム。 - 熱的規制のための手段をさらに備え、前記熱的規制のための手段は、増加した出力発光電力を達成するために、1以上の利得物質を温度規制するために使用される
請求項20に記載の光画像化システム。 - 前記電子機器中のノイズは、前記画像の品質に影響を与えるレベルを下回るレベルに管理される
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記VCLの前記レーザ共振器は、望ましくないサイドモードの抑制または除去を促進するためにサイドモードが一次レーザラインから分離されるように、m=1付近で動作する
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記チューニング可能な光源は、前記レーザ出力周波数がチューニング制御信号により静的にチューニングされるときに、20dBより高いサイドモード抑制比を有する
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記チューニング可能な光源は、前記レーザ出力周波数がチューニング制御信号により継続的にチューニングされるときに、30mmより長いコヒーレンス長を有する
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記チューニング可能なレーザは、環境変化、温度変化、内部充電、デバイスの経年、または、他の摂動の存在下で、所望の掃引軌道を維持するために閉ループ制御を有し、前記閉ループ制御は、波長感度トリガ信号を読み出し、前記VCLのチューニングメカニズムのアクチュエータまたは変換器に対して駆動波形を適切に調節する
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記チューニングエレメントに対する駆動信号は、前記アクチュエータの電気的充電の影響を補償または無効化するために電極を反転させ得る
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記レーザにおけるチューニングエレメントは、充電に抵抗する設計である
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記チューニング可能なレーザは、複数のVCLを含み、前記複数のVCLの掃引は、効果的な掃引レートを増加させるためにインターリーブされる
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記チューニング可能な光源は、掃引の直線性を改善するために複数のVCLを含み、前記VCLの掃引はインターリーブされ、前記掃引範囲は、1つの自由スペクトル範囲(FSR)より大きく、前記掃引の中央にある最も線形的な部分のみが画像化のために使用される
請求項1に記載の光画像化システム。 - 1以上の偏光制御エレメントをさらに備え、前記1以上の偏光制御エレメントは、望ましくない偏光アーチファクトを消去し、または、損失を減少させるために前記光回路において使用される
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記チューニング可能な光源は、少なくとも1つの偏光感度アイソレータを含み、閉ループ、手動、またはそれ以外の方法での前記偏光感度アイソレータに対する入力ファイバ偏光の調節可能な制御を使用する
請求項1に記載の光画像化システム。 - 偏光維持ファイバをさらに備え、前記偏光維持ファイバは、選択的な光サブコンポーネント間の偏光制御装置に対する必要性をなくすために、光サブコンポーネントを接続する
請求項1に記載の光画像化システム。 - 望ましくない偏光アーチファクトを検出および消去するために、光回路内で能動的な偏光制御が使用される
請求項1に記載の光画像化システム。 - 位相感度OCTが実行される
請求項1に記載の光画像化システム。 - ドップラーOCTが実行される
請求項1に記載の光画像化システム。 - 偏光感度OCTが実行される
請求項1に記載の光画像化システム。 - 位相感度OCTに対する前記OCT縞の位相安定化を改善するために前記光クロッキングモジュールが使用される
請求項59に記載の光画像化システム。 - 波長信号または干渉計信号を発生させる手段をさらに備え、前記波長信号または前記干渉計信号は、位相感度OCTに対するOCT縞情報の位相を安定化させるために使用される
請求項92に記載の光画像化システム。 - 少なくとも2つのVCLを備え、前記少なくとも2つのVCLは、異なる偏光状態の発光を発生させるために使用される
請求項1に記載の光画像化システム。 - 少なくとも2つのVCLを含み、前記少なくとも2つのVCLは、異なる偏光状態を発生させるために使用され、前記異なる偏光状態からの掃引は、偏光感度OCTを実行するためにインターリーブされる
請求項1に記載の光画像化システム。 - 偏光変調器をさらに備え、異なる偏光状態を発生させるために、少なくとも1つのVCLおよび偏光変調器が使用される
請求項1に記載の光画像化システム。 - ファイバループをさらに備え、前記ファイバループは、掃引の光的なコピーおよび時間遅延のために使用され、前記コピーされた掃引はオリジナルの掃引と合成され、および、インターリーブされ、効果的な掃引反復レートを増加させる
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記チューニングエレメントの自由スペクトル範囲(FSR)は、掃引を多重化する方法として、同じチューニング可能な光源からの掃引のコピーまたは異なるチューニング可能な光源からの掃引の挿入を促進するのにレーザ・デューティー・ファクタが低いように、前記チューニング可能な光源の全チューニング範囲にわたってスキャンすることを要求されているものより実質的に大きい
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記チューニングエレメントは、前記掃引の線形化を改善するために1つの自由スペクトル範囲(FSR)より大きい範囲を掃引する
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記チューニングエレメントは、掃引の線形化を改善するために1つの自由スペクトル範囲(FSR)より大きい範囲を掃引し、ここで、前記FSRの外側の掃引領域は、利得物質に対する電流変調によりなくされるか、前記捕捉システムにより捕捉されないか、あるいは、前記源の出力において変調されるかのいずれかである
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記チューニングエレメントは、同じレーザからの掃引のコピーまたは異なるレーザからの掃引の挿入が可能になるようにデューティーファクタを減少させるために、1つの自由スペクトル範囲(FSR)より大きい範囲を掃引する
請求項1に記載の光画像化システム。 - 異なる中心波長を持つ2以上のVCL源からの掃引は、前記源の効果的な波長掃引範囲を増加させるためにインターリーブされる
請求項1に記載の光画像化システム。 - 異なる中心波長を持つ2以上のVCL源からの掃引は、サンプルから異なるスペクトル情報を得るのに十分な分離を持つ異なる波長においてOCT情報を得るためにインターリーブされる
請求項1に記載の光画像化システム。 - 少なくとも1つの光検出器は、1GHzより大きい帯域幅を有する
請求項1に記載の光画像化システム。 - 少なくとも1つの光検出器は、平衡検出を実行する
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記光干渉計および前記1以上の光検出器は、平衡検出を実行する
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記クロッキング干渉計およびクロッキング検出器は、平衡検出を実行する
請求項59に記載の光画像化システム。 - 前記サンプルアームは、前記光画像化システムの有効な画像化範囲を増加させるために、アキシコンレンズまたは類似のエレメントを含む
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記捕捉されたデータを記憶する手段をさらに備える
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記データはRAIDアレイ上に記憶される
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記捕捉されたデータを表示する手段をさらに備える
請求項1に記載の光画像化システム。 - サンプルの画像を構築するために前記捕捉されたデータを処理する手段をさらに備える
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記デジタルデータは圧縮される
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記デジタルデータは損失のないアルゴリズムにより圧縮される
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記データ捕捉デバイスは画像データを発生させるために前記デジタルデータを処理する処理ユニットを含み、前記画像データはホストコンピュータ、記憶装置またはディスプレイデバイスに送信される
請求項1に記載の光画像化システム。 - 電気ケーブル、光通信リンク、光ファイバ通信リンクまたは無線送信機を通してデータを送信する手段をさらに備える
請求項1に記載の光画像化システム。 - データ送信機をさらに備える
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記画像化システムはハンドヘルドである
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記画像化システムは野外ポータブルである
請求項1に記載の光画像化システム。 - 前記画像化システムはバッテリー電源式である
請求項1に記載の光画像化システム。 - 請求項1に記載の光画像化システムのチューニングドライバ用のチューニング波形を発生させるための方法であって、前記方法は、
チューニング波形表現を生成するために、調節可能な入力パラメータ値の関数として前記チューニング波形を表現する(2310)ステップと、
少なくとも1つの実験測定またはシミュレーションされた波長掃引を発生させるために、前記チューニング波形をチューニングエレメントまたはチューニング可能な光源の力学の数学的モデルに適用する(2320)ステップと、
前記少なくとも1つの実験測定またはシミュレーションされた波長掃引に基づいて、性能メトリックまたは目的関数の値を計算する(2330)ステップと、
前記性能メトリックまたは前記目的関数の値を最適化するために前記入力パラメータの値を調節する(2340)ステップとを含む
方法。 - 前記チューニング波形表現は、調節可能な入力パラメータとしてDCオフセット値を含む
請求項124に記載の方法。 - 前記チューニング波形表現は、異なる周波数によるシヌソイド関数の合計を含み、前記シヌソイド関数は、調節可能な入力パラメータとして調節可能な振幅および位相を有する
請求項124に記載の方法。 - 前記チューニング波形表現は、調節可能な入力パラメータによるチャープ余弦関数を含む
請求項124に記載の方法。 - 前記チューニング波形表現は、調節可能な入力パラメータとして制御ポイントを持つスプライン関数を含む
請求項124に記載の方法。 - 前記チューニング波形表現は、調節可能な入力パラメータとして入力値を持つ数学的関数を含む
請求項125に記載の方法。 - 前記チューニング波形表現は、調節可能な入力パラメータとして、これらに限定されないが、平方根関数、Nが整数、小数または分数の値であるN番目の次数のルート関数、指数関数、対数関数、立方関数、Nが整数、小数または分数の値であるN番目のべき関数、三角関数、ステップ関数、インパルス関数、ガンマ関数、ガウス関数、線形関数、三角形関数、区分関数および信号表現の技術において知られている他の関数のうちの1つ以上の選択を含む、入力値を持つ数学的関数を含む
請求項124に記載の方法。 - 前記少なくとも1つの実験測定は、前記チューニングエレメントが掃引するような前記チューニング可能な光源の発光からの干渉計の縞である
請求項124に記載の方法。 - 前記少なくとも1つの実験測定は、チューニングエレメントが掃引するような、前記チューニング可能な光源の発光からの波長対時間応答またはシミュレーションされた出力応答である
請求項124に記載の方法。 - 前記性能メトリックまたは目的関数は、掃引中の最大のピーク光波数速度を含む
請求項124に記載の方法。 - 前記性能メトリックまたは目的関数は、最大のピーク光縞周波数を含む
請求項131に記載の方法。 - 前記性能メトリックまたは目的関数は、時間における最小の光縞0交差スペーシングを含む
請求項131に記載の方法。 - 前記性能メトリックまたは目的関数は、波数対時間に関する前記掃引の線形化の程度を含む
請求項124に記載の方法。 - 前記性能メトリックまたは目的関数は、前記掃引のデューティーファクタを含む
請求項124に記載の方法。 - 前記性能メトリックまたは目的関数は、掃引範囲を含む
請求項124に記載の方法。 - 前記性能メトリックまたは目的関数は、実験的な掃引軌道またはシミュレーションされた掃引軌道と所望の掃引軌道との間の差の測定を含み、これらに限定されないが、最大トラッキングエラー、前記トラッキングエラーの自乗差の合計、および前記トラッキングエラーにおける任意のノルムを含む、前記所望の軌道に対する接近の任意の測定をメトリックとして使用できる
請求項124に記載の方法。 - 前記ステップは複数回繰り返され、各反復に対して前記入力パラメータに補正が適用される
請求項124に記載の方法。 - 前記ステップは複数回繰り返され、前記入力パラメータは最適化アルゴリズムにより調節される
請求項124に記載の方法。 - 前記最適化アルゴリズムは、ニュートン法、準ニュートン法、勾配降下法、共役勾配法、遺伝的アルゴリズム、焼きなまし法、山登り法、または、数値的な最適化技術において知られている他の最適化アルゴリズムのうちの少なくとも1つを使用する
請求項141に記載の方法。 - 前記最適化アルゴリズムはラインサーチを実行する
請求項141に記載の方法。 - 前記最適化アルゴリズムは終了基準が満たされる(2350)まで反復する
請求項141に記載の方法。 - 前記最適化アルゴリズムは、チューニングエレメントの力学に対する変更を補償するために前記画像化システムを使用中に反復する
請求項141に記載の方法。 - 前記最適化アルゴリズムは、新規の所望のチューニング軌道を発生させるために前記画像化システムを使用中に反復する
請求項141に記載の方法。 - 前記コアOCTモジュールの前記チューニングドライバは、前記波長掃引反復レート、前記掃引軌道、および前記発光波長範囲を設計可能である
請求項1に記載の光画像化システム。
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