JP6781666B2 - 復調装置 - Google Patents

Description

本発明は、変調された信号を復調する装置に関する。

ＤＰＳＫ変復調方式における光受信器での復調においては、まず、受信したＤＰＳＫ変調された光信号を二つの光信号に分岐し、遅延干渉計により、その一方を１ビット分遅延させ、他方の光信号と光の干渉をさせる。ここで、ＤＰＳＫは、Ｄｉｆｆｅｒｅｎｔｉａｌ Ｐｈａｓｅ Ｓｈｉｆｔ Ｋｅｙｉｎｇの略である。同復調においては、干渉後の光信号は電気信号に変換され、（特許文献１及び２参照）、さらに、後段でデータ処理される。

復調の際の遅延の遅延時間の微調整を行うためには、２分岐した片側の光経路に設けられた１ビット分の光路長差を発生する部分の温度を調節するためのヒータを設置することが有効である。

なお、本発明に関連して、非特許文献１は、バランスドレシーバ（バランス型フォトダイオードモジュール）について開示する。

特開２００６−２１７６０５号公報 特開２００８−２７１４７９号公報

バランス型フォトダイオードモジュール技術、古田知史、吉野薫、福山裕之、伊藤敏洋、吉田英二、［平成２９年５月２６日検索］、インターネット（ｈｔｔｐ：／／ｗｗｗ．ｎｔｔ．ｃｏ．ｊｐ／ｊｏｕｒｎａｌ／０７１１／ｆｉｌｅｓ／ｊｎ２００７１１０５８．ｐｄｆ）

前記遅延時間の微調整において問題になるのは、遅延干渉計に入力されるＤＰＳＫ変調された入力光信号の強度変動である。

入力光信号の強度が変動すると、ヒータを制御するために用いられる情報に、誤差が生じる。そのためヒータの制御に誤動作が生じ得る。その理由は、入力光信号の強度変動により、制御の最適点にある場合においても最適点からのずれが生じていると認識されるためである。そのため、最悪の場合は、ヒータの制御が不能になり得る。

本発明は、遅延時間の微調整に関しての入力光信号の強度変動耐性がより優れる復調装置等の提供を目的とする。

本発明の復調装置は、入力された変調後の光信号である変調光信号から分離された第一の光信号を、前記変調光信号から分離された第二の光信号に対して遅延させる遅延部と、前記遅延部の少なくとも一部の温度調整を行う温度調整部と、前記温度調整を行うための情報である調整情報を前記変調光信号の強度を表す情報である光強度情報により補正する補正部と、前記遅延部により遅延された前記第一の光信号と前記第二の光信号とによる前記変調光信号の復調と、前記復調の後の電気信号である復調信号の出力とを行う復調部と、を備える。

本発明の復調装置等は、遅延時間の微調整に関しての入力光信号の強度変動耐性がより優れる。

第一実施形態の復調装置の構成例を表す概念図である。 補正部の構成例を表す概念図である。 印加電圧と反転出力電圧情報との関係を表す図である。 印加電圧と出力電圧差との関係を表す図である。 印加電圧と補正出力電圧差との関係を表す図である。 印加電圧と補正出力電圧情報との関係を表す図である。 第二実施形態の復調装置の構成例を表す概念図である。 第三実施形態の復調装置の構成例を表す概念図である。 実施形態の復調装置の最小限の構成を表すブロック図である。

＜第一実施形態＞
第一実施形態は、入力される変調された光信号である入力光信号の強度により、遅延部の温度調整のためのヒータへの供給電力の制御に用いる復調後の出力信号の電圧の補正を行う、復調装置に関する実施形態である。
［構成と動作］
図１は、第一実施形態の復調装置の例である復調装置１０１ａの構成を表す概念図である。

復調装置１０１ａは、光分岐部１２１と、遅延干渉計１１２と、差動部１１３と、処理部１１４と、測定部１１６と、駆動部１１８と、制御部１２０と、検出部１２２と、補正部１２３とを備える。

遅延干渉計１１２は、光分岐部１０７と、遅延部１０９と、ヒータ１１７と、干渉部１１０を備える。

図１以降の図に表す経路ａ乃至ｄ、ｃ’、ｄ’及びｓの各々は光の経路であり、典型的には光ファイバである。

経路ｓには、端子ＡからＤＰＳＫ（Ｄｉｆｆｅｒｅｎｔｉａｌ Ｐｈａｓｅ Ｓｈｉｆｔ Ｋｅｙｉｎｇ）変調された光信号であるＤＰＳＫ光信号が入力される。当該ＤＰＳＫ光信号は光分岐部１２１に入力される。

光分岐部１２１は、入力されたＤＰＳＫ光信号の一部を、経路ｂを通じて検出部１２２に出力する。光分岐部１２１は、入力されたＤＰＳＫ光信号の他を、経路ａを通じて遅延干渉計１１２の光分岐部１０７に入力する。光分岐部１２１は、例えば、光カプラである。

光分岐部１０７は、経路ａを通じて入力されたＤＰＳＫ光信号を二つに分岐し、分岐した光信号の一方を経路ｃに、他方を経路ｄに、それぞれ入力する。光分岐部１０７は、典型的には光スプリッタである。

経路ｄには遅延部１０９が設置されている。遅延部１０９は、経路ｄを通過するＤＰＳＫ光信号に、経路ｃを通過するＤＰＳＫ光信号と比較して、１ビット分の遅延を生じさせるために設置された部分である。

遅延部１０９の近傍には、遅延部１０９の少なくとも一部の温度を調整するためのヒータ１１７が設置されている。経路ｄを通過するＤＰＳＫ光信号について遅延部１０９において発生する遅延時間は、ヒータ１１７により調整される遅延部１０９の少なくとも一部の温度により定まる。

光分岐部１０７により経路ｄに導かれ、遅延が生じたＤＰＳＫ光信号は、干渉部１１０に入力される。

光分岐部１０７により経路ｃに導かれたＤＰＳＫ光信号は、干渉部１１０に入力される。

経路ｄから干渉部１１０に入力された遅延が生じたＤＰＳＫ信号は、干渉部１１０において、経路ｃから干渉部１１０に入力された遅延が生じていないＤＰＳＫ信号と干渉し、第一干渉後光信号となる。前記第一干渉後光信号は、経路ｄ’を経由して、差動部１１３の端子Ｂに入力される。差動部１１３は入力された前記第一干渉後光信号を第一電気信号に変換する。

経路ｃから干渉部１１０に入力された遅延が生じていないＤＰＳＫ信号は、干渉部１１０において、経路ｄから干渉部１１０に入力された遅延が生じているＤＰＳＫ信号と干渉し、第二干渉後光信号となる。前記第二干渉後光信号は、経路ｃ’を経由して、差動部１１３の端子Ｃに入力される。差動部１１３は入力された第二干渉後光信号を第二電気信号に変換する。

差動部１１３は、さらに、前記第一電気信号と前記第二電気信号との差動信号を導出し、端子Ｄに出力する。当該差動信号が復調信号である。差動部１１３は、導出した復調信号を処理部１１４に入力する。

差動部１１３は、例えば、特許文献１に開示があるバランスドレシーバである。

処理部１１４は、入力された復調信号についてのデータ処理等を行う。

検出部１２２は、経路ｂを通じて入力されたＤＰＳＫ光信号の強度を測定する。検出部１２２は、当該強度を表す情報である光強度情報を補正部１２３に送付する。

測定部１１６は、差動部１１３から処理部１１４へ出力される前記復調信号の電圧を測定する。そして、測定部１１６は、測定した電圧を表す情報である出力電圧情報を補正部１２３に送付する。

補正部１２３は、測定部１１６から送付された出力電圧情報を、検出部１２２から送付された光強度情報により補正する。当該補正は、端子Ａに入力される入力光信号の強度変動にともなう前記出力電圧情報の変動を補正するために行われる。補正部１２３は、補正後の出力電圧情報である補正出力電圧情報を、制御部１２０に送付する。

制御部１２０は、前記補正出力電圧情報により、駆動部１１８がヒータ１１７に供給する電力（電流又は電圧）を制御する。制御部１２０は、例えば、前記補正出力電圧情報を基準としてヒータに印加する電力を定める自動追従制御回路である。

駆動部１１８は、制御部１２０から送付される制御情報により、ヒータ１１７に電力を供給する。

図２は、図１に表す補正部１２３の例である補正部１２３ａの構成を表す概念図である。

補正部１２３ａは、減算回路１２４及び１２６と増幅回路１２５とを備える。

減算回路１２４には、図１に表す測定部１１６から、前述の出力電圧情報が入力される。ここで、減算回路１２４に入力される出力電圧情報は、測定部１１６が測定対象とする差動部１１３から出力される前記復調信号の電圧に比例する電圧であるものとする。

減算回路１２４は、前記出力電圧情報の基準値であるベース電圧を、例えば、図示しない記録部に保持している。そして、減算回路１２４は、ベース電圧と前記出力電圧情報との差である出力電圧差を求める。減算回路１２４は、求めた出力電圧差を増幅回路に入力する。

増幅回路１２５には、減算回路１２４から前述の出力電圧差が入力されると共に、図１に表す検出部１２２から、前述の光強度情報が入力される。

増幅回路１２５は、検出部１２２から入力された光強度情報により設定した増幅率により、前記出力電圧差を増幅する。

増幅回路１２５は、例えば、検出部１２２からの出力を基準値により除した値により、当該基準値である場合に設定した増幅率を除した値を増幅率として設定する。ここで、前記基準値は、図１に表す端子Ａに入力される入力光信号の強度が理想的であることを想定した、検出部１２２から入力される電圧である。

なお、前記光強度情報と、その光強度情報と増幅率との上記以外の、関係を、予め定めておいても構わない。当該関係は、例えば、図１に表す端子Ａに入力される入力光信号の強度を意図的に変動させることにより導出する。当該関係は、例えば、図示しない記録部に記録されている。

増幅回路１２５は、増幅後の出力電圧差である増幅出力電圧差を、減算回路１２６に入力する。

減算回路１２６は、増幅回路１２５から入力された前記増幅出力電圧差を前記ベース電圧から減算した電圧である補正出力電圧情報を導出する。減算回路１２６は、導出した補正出力電圧情報を制御部１２０に入力する。

次に、補正部１２３が行う前記動作の具体例を説明する。

図３は、印加電圧と反転出力電圧情報との関係を表す図である。ここで、印加電圧は、図１に表す駆動部１１８がヒータ１１７に印加する、ヒータ駆動電圧である。また、反転出力情報は、出力情報を、図３にＣで表す前述のベース電圧を中心に、上下を反転させた情報である。反転出力情報は、出力電圧値からベース電圧を減じた値を、ベース電圧から減じた値である。前記出力電圧情報は、測定部１１６が測定対象とする差動部１１３からの出力電圧に比例する電圧である。

前記反転出力電圧は、例えば、図１に表す測定部１１６と補正部１２３との間に設けられた、図示しない反転部により、前記出力電圧情報から生成される。その場合には、補正部１２３には、前記反転部から前記反転出力電圧が入力される。

図３は、検出部１２２から入力される光強度情報が、０、−３、−５及び−７ｄＢｍの各々の場合の反転出力電圧情報を表す。ここで、光強度情報が０ｄＢｍの場合は、図１に表す端子Ａに入力される入力光信号の強度が理想的である場合に相当するものとする。

ＤＰＳＫ光の強度が基準値の場合すなわち前記光強度が０ｄＢｍの場合は、図３に表すＡ点が、印加電圧と反転出力電圧情報との組合せについての最適調整点である。図１に表す制御部１２０は、反転出力電圧情報が最適調整点の値である２．１Ｖになるように、印加電圧を調整する。

ここで、光強度情報が−３ｄＢｍの場合は、最適調整点は図３に表すＢ点である。Ｂ点の反転出力電圧情報は２．２５Ｖである。しかしながら、図１に表す制御部１２０は、反転出力電圧情報が基準値であることを前提に反転出力電圧情報の調整を行う。そのため、制御部１２０は、Ｂ点が、Ｘ点又はＹ点であるものと誤認識する。制御部１２０は、Ｘ点であると認識した場合には、最適調整点であるにも拘らず印加電圧を増加させ続ける。また、制御部１２０は、Ｙ点であると認識した場合には、最適調整点であるにも拘らず印加電圧を減少させ続ける。

図４は、図２に表す減算回路１２４から増幅回路１２５への出力である前記出力電圧差を表す図である。当該出力は、図３においてＣで表す前述のベース電圧から、図３に表すベース電圧以外の各反転出力電圧情報を減じた電圧である。前記出力電圧差は、前記出力電圧情報から前記ベース電圧を減じた値に相当する。

図５は、図２に表す増幅回路１２５から減算回路１２６に出力される前述の補正出力電圧差を表す図である。当該補正出力差においては、図４に表す出力差を増幅するときに用いた増幅率の各々は、光強度情報が基準値の０ｄＢｍの場合の増幅率である基準増幅率を、各光強度情報を基準値の０ｄＢｍで除した値で除した増幅率の各々である。増幅回路１２５による増幅により、補正出力電圧差と印加電圧との関係は、検出部１２２からの出力によらず、近い値である。

図６は、図２に表す減算回路１２６から図１に表す制御部１２０への出力である前述の補正出力電圧情報を表す図である。

補正出力電圧情報と印加電圧との関係は、検出部１２２からの出力によらず、近い値になる。

すなわち、図６に表す補正出力情報においては、ＤＰＳＫ光の強度が基準値から減少したとしても最適調整点（図３参照）の変動は少ない。そのため、図１に表す制御部１２０が、図６に表す補正出力電圧情報により印加電圧の調整を行う場合、図３に表す反転出力電圧情報により印加電圧の調整を行う場合と比較して、印加電圧の調整誤差が少ない。
［効果］
第一実施形態の復調装置は、入力光信号の光強度により、遅延部１０９の温度制御を行うヒータへの印加電圧を制御するための復調信号の出力電圧を補正する。補正後の出力電圧は補正前の出力電圧と比較して、入力光信号の光強度による変動の影響が軽減され得る。そのため、前記復調装置は、補正前の出力電圧を用いてヒータへの印加電圧を制御した場合と比較して、入力光信号の光強度変化による前記印加電圧の調整誤差を抑え得る。
＜第二実施形態＞
第二実施形態は、入力される変調された光信号の強度により、遅延部の温度調整のためのヒータへの供給電力の制御に用いる、遅延干渉計から出力される光信号の強度の補正を行う、復調装置に関する実施形態である。
［構成と動作］
図７は、第二実施形態の復調装置の例である復調装置１０１ｂの構成を表す概念図である。

復調装置１０１ｂは、光分岐部１２１及び１３１と、遅延干渉計１１２と、差動部１１３と、処理部１１４と、駆動部１１８と、制御部１２０と、検出部１２２及び１３２と、補正部１２３とを備える。

遅延干渉計１１２は、光分岐部１０７と、遅延部１０９と、ヒータ１１７と、干渉部１１０とを備える。

図７に表す経路ａ乃至ｆ、ｃ’、ｄ’及びｓの各々は光の経路であり、典型的には光ファイバである。

経路ｓには、端子ＡからＤＰＳＫ光信号が入力される。当該ＤＰＳＫ光信号は光分岐部１２１に入力される。

光分岐部１２１の説明は、図１に表す光分岐部１２１の説明と同じである。

遅延干渉計１１２の説明は図１に表す遅延干渉計１１２の説明と同じである。ただし、経路ｃ’を通じての第二干渉後光信号の出力は光分岐部１３１に対して行われる。

光分岐部１３１は、入力されたＤＰＳＫ光信号の一部を、経路ｆを通じて検出部１３２に出力する。光分岐部１３１は、入力されたＤＰＳＫ光信号のうちの他を、経路ｅを通じて差動部１１３に出力する。光分岐部１３１は、例えば、光カプラである。

差動部１１３の説明は、差動部１１３に対し、光分岐部１３１から経路ｅを通じてＤＰＳＫ信号が入力される点を除いて、図１に表す差動部１１３の説明と同じである。

検出部１３２は、光分岐部１３１から経路ｆを通じて入力された光の強度を表す第二光強度情報を導出する。検出部１３２は、導出した第二光強度情報を補正部１２３に送付する。

検出部１２２の説明は、図１に表す検出部１２２の説明と同じである。

補正部１２３は、検出部１３２から送付された第二光強度情報を、検出部１２２から送付された光強度情報により補正した、補正第二光強度情報を導出し、制御部１２０に送付する。

制御部１２０は、前記補正第二光強度情報により、駆動部１１８がヒータ１１７に送る電力（電流又は電圧）を制御する。制御部１２０は、例えば、前記補正第二光強度情報を基準としてヒータに印加する電力を定める自動追従制御回路である。

駆動部１１８の説明は、図１に表す駆動部１１８の説明と同じである。

なお、図７に表す補正部１２３の構成例は図２に表す補正部１２３ａの構成である。そして、第二実施形態の補正部１２３ａは、第一実施形態の補正部１２３ａが光強度情報により出力電圧情報を補正するのと同様の動作により、前記第二光強度情報を補正する。

図７に表す復調装置１０１ｂは、経路ｃ’に導かれる第二干渉後光信号からその一部を取り出した光信号の強度情報である第二光強度情報を前記光強度情報により補正し、補正後の第二強度情報によりヒータ１１７の温度を調整する。しかしながら、前記第二光強度情報は、経路ｄ’に導かれる第一干渉後光信号からその一部を取り出した光信号の強度情報であっても構わない。さらに、前記第二光強度情報は、経路ｃ’に導かれる第二干渉後光信号からその一部を取り出した光信号の強度情報と、経路ｄ’に導かれる第一干渉後光信号からその一部を取り出した光信号の強度情報とが組み合わされた情報であっても構わない。
［効果］
第二実施形態の復調装置は、入力光信号の光強度により、遅延部１０９の温度制御を行うヒータへの印加電圧を制御するための、遅延干渉計から出力される光信号の強度を表す第二光強度情報の補正を行う。補正後の第二光強度情報は補正前の第二光強度情報と比較して、入力光信号の光強度による変動の影響が軽減され得る。そのため、前記復調装置は、補正前の第二光強度情報を用いてヒータへの印加電圧を制御した場合と比較して、入力光信号の光強度変化による前記印加電圧の調整誤差を抑え得る。
＜第三実施形態＞
第三実施形態は、入力される変調された光信号の強度により、遅延部の温度調整のためのヒータへの供給電力の制御に用いるビットエラーレート情報の補正を行う、復調装置に関する実施形態である。
［構成と動作］
図８は、第三実施形態の復調装置の例である復調装置１０１ｃの構成を表す概念図である。

復調装置１０１ｃは、光分岐部１２１と、遅延干渉計１１２と、差動部１１３と、処理部１１４と、駆動部１１８と、制御部１２０と、検出部１２２と、補正部１２３とを備える。

遅延干渉計１１２は、光分岐部１０７と、遅延部１０９と、ヒータ１１７と、干渉部１１０とを備える。

図８に表す経路ａ乃至ｄ、ｃ’、ｄ’及びｓの各々は光の経路であり、典型的には光ファイバである。

経路ｓには、端子ＡからＤＰＳＫ光信号が入力される。当該ＤＰＳＫ光信号は光分岐部１２１に入力される。

光分岐部１２１、遅延干渉計１１２、差動部１１３及び検出部１２２の説明は、図１に表す差動部１１３の説明と同じである。

処理部１１４は、差動部１１３から入力される復調信号に含まれるデータについてのビットエラーレートを測定する。処理部１１４は、測定したビットエラーレートから、エラーレート情報を導出する。当該エラーレート情報は、例えば、ビットエラーレートの自然対数に−１を乗じた値である。エラーレート情報と図１に表すヒータ１１７への印加電圧との関係は、最適調整点近傍においては、前述の出力電圧情報と印加電圧との関係に類似した形状である。処理部１１４は、導出したエラーレート情報を補正部１２３に送付する。

補正部１２３は、処理部１１４から送付されたエラーレート情報を検出部１２２から送付された光強度情報により補正した、補正エラーレート情報を導出し、制御部１２０に送付する。

制御部１２０は、前記補正エラーレート情報により、駆動部１１８がヒータ１１７に送る電力（電流又は電圧）を制御する。制御部１２０は、例えば、前記補正エラーレート情報を基準としてヒータに印加する電力を定める自動追従制御回路である。

駆動部１１８の説明は、図１に表す駆動部１１８の説明と同じである。

なお、図８に表す補正部１２３の構成例は図２に表す補正部１２３ａの構成である。そして、第三実施形態の補正部１２３ａは、第一実施形態の補正部１２３ａが光強度情報により出力電圧情報を補正するのと同様の動作により、前記エラーレート情報を補正する。

すなわち、補正部１２３ａは、例えば、図３のＣで表すベース電圧に相当するベースエラーレート情報を、前記光強度情報の各々に対応する前記エラーレート情報から、減算し、エラーレート情報差を求める。当該エラーレート情報差は、図４に表す出力電圧差と同様な形状である。

補正部１２３ａは、検出部１２２から入力された光強度情報により設定した増幅率により、前記エラーレート情報差を増幅する。

補正部１２３ａは、例えば、検出部１２２からの出力を基準値により除した値により、当該基準値である場合に設定した増幅率を除した値を増幅率として設定する。ここで、前記基準値は、図１に表す端子Ａに入力される入力光信号の強度が理想的であることを想定した、検出部１２２から入力される電圧である。

なお、前記光強度情報と、その光強度情報と増幅率との上記以外の、関係を、予め定めておいても構わない。

補正部１２３ａは、増幅後のエラーレート情報差である増幅エラーレート情報差を、前記ベースエラーレート情報から減算した電圧である補正エラーレート情報を導出する。補正部１２３ａは、導出した補正エラーレート情報を、図１に表す制御部１２０に入力する。
［効果］
第三実施形態の復調装置は、入力光信号の光強度により、遅延部１０９の温度制御を行うヒータへの印加電圧を制御するための、復調信号に係るエラーレート情報の補正を行う。補正後のビットエラーレートは補正前のビットエラーレートと比較して、入力光信号の光強度による変動の影響が軽減され得る。そのため、前記復調装置は、補正前の前記ビットエラーレートを用いてヒータへの印加電圧を制御した場合と比較して、入力光信号の光強度変化による前記印加電圧の調整誤差を抑え得る。

以上の実施形態において説明した復調装置は、ＤＰＳＫ光を復調するものであるが、実施形態の復調装置はＤＰＳＫ光を復調するものに限定されない。実施形態の復調装置は、変調光信号を二本の光経路に分岐させ、その一方に対し遅延部において遅延させ、遅延した光信号と他方の光経路の光信号とにより復調を行う構成を含むものであれば構わない。

前記変調光信号は、例えば、ＤＰＳＫ変調以外に、ＱＰＳＫ変調やＤＱＰＳＫ変調のような遅延干渉計に相当する構成を利用した復調方式を使用する多値位相偏移変調によるものでも構わない。ここで、ＱＰＳＫはＱｕａｄｒａｔｕｒｅ Ｐｈａｓｅ Ｓｈｉｆｔ Ｋｅｙｉｎｇの略である。また、ＤＱＰＳＫは、Ｄｉｆｆｅｒｅｎｔｉａｌ Ｑｕａｄｒａｔｕｒｅ Ｐｈａｓｅ Ｓｈｉｆｔ Ｋｅｙｉｎｇの略である。

図９は、実施形態の復調装置の最小限の構成である復調装置１０１ｘの構成を表すブロック図である。

復調装置１０１ｘは、遅延部１０９ｘと、温度調整部１１７ｘと、補正部１２３ｘと、復調部１１３ｘとを備える。

遅延部１０９ｘは、復調装置１０１ｘに入力された、変調後の光信号である、変調光信号から分離された第一の光信号を、前記変調光信号から分離された第二の光信号に対して遅延させる。

温度調整部１１７ｘは、遅延部１０９ｘの温度調整を行う。

補正部１２３ｘは、前記温度調整を行うための情報である調整情報を前記変調光信号の強度を表す情報である光強度情報により補正する。

復調部１１３ｘは、前記遅延部により遅延された前記第一の光信号と前記第二の光信号とによる前記変調光信号の復調と、前記復調の後の電気信号である復調信号の出力とを行う。

復調装置１０１ｘは、前記変調光信号の光強度により、遅延部１０９ｘの温度調整を行うための前記調整情報を補正する。前記補正後の前記調整情報は補正前の前記調整情勢情報と比較して、前記変調光信号の光強度による変動による影響が軽減され得る。そのため、前記復調装置は、補正前の前記調整情報により前記温度調整を行う場合と比較して、前記変調光信号の光強度変化による前記温度調整の調整誤差を抑え得る。

そのため、復調装置１０１ｘは、前記構成により、［発明の効果］の項に記載した効果を奏する。

以上、本発明の各実施形態を説明したが、本発明は、前記した実施形態に限定されるものではなく、本発明の基本的技術的思想を逸脱しない範囲で更なる変形、置換、調整を加えることができる。例えば、各図面に示した要素の構成は、本発明の理解を助けるための一例であり、これらの図面に示した構成に限定されるものではない。

また、前記の実施形態の一部又は全部は、以下の付記のようにも記述され得るが、以下には限られない。

（付記Ａ１）
入力された変調後の光信号である変調光信号から分離された第一の光信号を、前記変調光信号から分離された第二の光信号に対して遅延させる遅延部と、
前記遅延部の少なくとも一部の温度調整を行う温度調整部と、
前記温度調整を行うための情報である調整情報を前記変調光信号の強度を表す情報である光強度情報により補正する補正部と、
前記遅延部により遅延された前記第一の光信号と前記第二の光信号とによる前記変調光信号の復調と、前記復調の後の電気信号である復調信号の出力とを行う復調部と、
を備える復調装置。

（付記Ａ２）
前記調整情報が、前記復調信号の強度を表す情報である、付記Ａ１に記載された復調装置。

（付記Ａ３）
前記調整情報が、前記第一の光信号又は前記第二の光信号の少なくとも一方の強度を表す情報である、付記Ａ１に記載された復調装置。

（付記Ａ４）
前記調整情報が、前記復調信号についてのビットエラーレートを表す情報である、付記Ａ１に記載された復調装置。

（付記Ａ５）
前記ビットエラーレートを表す情報を導出する処理部をさらに備える、付記Ａ４に記載された復調装置。

（付記Ａ６）
前記差動部が、前記第一の光信号から得た第一の電気信号と、前記第二の光信号から得た第二の電気信号とから、前記復調を行う、付記Ａ１乃至付記Ａ５のうちのいずれか一に記載された復調装置。

（付記Ａ７）
前記差動部が、前記第一の電気信号の電圧と、前記第二の光信号の電圧との調整を行い、前記調整の後の前記第一の電気信号と前記調整の後の第二の電気信号との差を前記復調信号とする、付記Ａ６に記載された復調装置。

（付記Ａ８）
前記調整情報が数値により表される情報であり、前記補正部が、前記調整情報の前記温度調整部に供給される電圧を変化させた場合の最大値であるベース値から前記調整情報を減じた値を前記光強度情報により補正することにより、前記調整情報を補正する、付記Ａ１乃至付記Ａ７のうちのいずれか一に記載された復調装置。

（付記Ａ９）
前記光強度情報が、前記光強度情報から取得された前記変調光信号の一部の強度である、付記Ａ１乃至付記Ａ８のうちのいずれか一に記載された復調装置。

（付記Ａ１０）
前記温度調整部がヒータである、付記Ａ１乃至付記Ａ９のうちのいずれか一に記載された復調装置。

（付記Ａ１１）
前記変調光信号が、Ｄｉｆｆｅｒｅｎｔｉａｌ Ｐｈａｓｅ Ｓｈｉｆｔ Ｋｅｙｉｎｇ変調により変調された信号である、付記Ａ１乃至付記Ａ１０のうちのいずれか一に記載された復調装置。

（付記Ａ１２）
前記変調光信号が、Ｑｕａｄｒａｔｕｒｅ Ｐｈａｓｅ Ｓｈｉｆｔ Ｋｅｙｉｎｇ変調、又は、Ｄｉｆｆｅｒｅｎｔｉａｌ Ｑｕａｄｒａｔｕｒｅ Ｐｈａｓｅ Ｓｈｉｆｔ Ｋｅｙｉｎｇ変調により変調された信号である、付記Ａ１乃至付記Ａ１１のうちのいずれか一に記載された復調装置。

（付記Ｂ１）
入力された変調後の光信号である変調光信号から分離された第一の光信号の、前記変調光信号から分離された第二の光信号に対する遅延を行い、
前記遅延を行う部分である遅延部の温度調整を行うための情報である調整情報の、前記変調光信号の強度を表す情報である光強度情報による補正を行い、
前記補正後の前記調整情報により前記温度調整を行い、
前記遅延が行われた前記第一の光信号と前記第二の光信号とによる前記変調光信号の復調と、前記復調の後の電気信号である復調信号の出力とを行う、
復調方法。

１０１ａ、１０１ｂ、１０１ｃ 復調装置
１２２、１３２ 検出部
１０７、１２１、１３１ 光分岐部
１０９、１０９ｘ 遅延部
１１０ 干渉部
１１２ 遅延干渉計
１１３ 差動部
１１３ｘ 復調部
１１４ 処理部
１１６ 測定部
１１７ ヒータ
１１７ｘ 温度調整部
１１８ 駆動部
１２０ 制御部
１２３、１２３ａ、１２３ｘ 補正部
１２４、１２６ 減算回路
１２５ 増幅回路
Ａ 端子
ａ、ｂ、ｃ、ｃ’、ｄ、ｄ’、ｅ、ｆ 経路

Claims (10)

1. 入力された変調後の光信号である変調光信号から分離された第一の光信号を、前記変調光信号から分離された第二の光信号に対して遅延させる遅延部と、
   前記遅延部の少なくとも一部の温度調整を行う温度調整部と、
   前記温度調整を行うための情報である調整情報を、前記第一の光信号と前記第二の光信号との分離が行われる前の前記変調光信号により、前記変調光信号の強度を表す情報である光強度情報により補正する補正部と、
   前記遅延部により遅延された前記第一の光信号と前記第二の光信号とによる前記変調光信号の復調と、前記復調の後の電気信号である復調信号の出力とを行う復調部と、
   を備える復調装置。
2. 前記調整情報が、前記復調信号の強度を表す情報である、請求項１に記載された復調装置。
3. 前記調整情報が、前記第一の光信号又は前記第二の光信号の少なくとも一方の強度を表す情報である、請求項１に記載された復調装置。
4. 前記調整情報が、前記復調信号についてのビットエラーレートを表す情報である、請求項１に記載された復調装置。
5. 前記ビットエラーレートを表す情報を導出する処理部をさらに備える、請求項４に記載された復調装置。
6. 前記第一の光信号から得た第一の電気信号と、前記第二の光信号から得た第二の電気信号と、の差動信号により前記復調を行う、差動部をさらに備える、請求項１乃至請求項５のうちのいずれか一に記載された復調装置。
7. 前記差動部が、前記第一の電気信号の電圧と、前記第二の光信号の電圧との調整を行い、前記調整の後の前記第一の電気信号と前記調整の後の第二の電気信号との差を前記復調信号とする、請求項６に記載された復調装置。
8. 前記補正を行うための情報である補正情報が数値により表される情報であり、前記補正部が、前記補正情報の前記温度調整部に供給される電圧を変化させた場合の最大値であるベース値から前記補正情報を減じた値を前記光強度情報により補正することにより、前記補正情報を導出する、請求項１乃至請求項７のうちのいずれか一に記載された復調装置。
9. 前記光強度情報が、前記光強度情報から取得された前記変調光信号の一部の強度である、請求項１乃至請求項８のうちのいずれか一に記載された復調装置。
10. 前記変調光信号が、Ｄｉｆｆｅｒｅｎｔｉａｌ Ｐｈａｓｅ Ｓｈｉｆｔ Ｋｅｙｉｎｇ変調により変調された信号である、請求項１乃至請求項９のうちのいずれか一に記載された復調装置。

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