JP6753881B2 - 基板支持具、基板処理装置、及び半導体装置の製造方法 - Google Patents
基板支持具、基板処理装置、及び半導体装置の製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6753881B2 JP6753881B2 JP2018036095A JP2018036095A JP6753881B2 JP 6753881 B2 JP6753881 B2 JP 6753881B2 JP 2018036095 A JP2018036095 A JP 2018036095A JP 2018036095 A JP2018036095 A JP 2018036095A JP 6753881 B2 JP6753881 B2 JP 6753881B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- auxiliary
- main
- strut
- diameter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02107—Forming insulating materials on a substrate
- H01L21/02225—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer
- H01L21/0226—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a deposition process
- H01L21/02263—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a deposition process deposition from the gas or vapour phase
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67098—Apparatus for thermal treatment
- H01L21/67103—Apparatus for thermal treatment mainly by conduction
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Formation Of Insulating Films (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Description
いて処理室に導入され処理される。そのような装置において基板支持具の支柱周辺では処
理結果への影響が存在し、同一基板内での品質のばらつきや歩留まり悪化の要因の一つと
なっている。
可能となる。
以下、実施形態について、図面を用いて説明する。ただし、以下の説明において、同一構成要素には同一符号を付し繰り返しの説明を省略することがある。なお、図面は説明をより明確にするため、実際の態様に比べ、各部の幅、厚さ、形状等について模式的に表される場合があるが、あくまで一例であって、本発明の解釈を限定するものではない。
るオゾナイザ500、バルブ243f、流量制御器(流量制御部)であるMFC241b
及び開閉弁であるバルブ243bが設けられている。ガス供給管232bの上流側は、酸
素(O2)ガスを供給する図示しない酸素ガス供給源に接続されている。
<ステップS105>
ステップS105(図4、図5参照、第1の工程)では、まずTEMAZガスを流す。ガス供給管232aのバルブ243aを開き、ベントライン232dのバルブ243dを閉じることで、気化器271a、ミストフィルタ300およびガスフィルタ272aを介してガス供給管232a内にTEMAZガスを流す。ガス供給管232a内を流れたTEMAZガスは、MFC241aにより流量調整される。流量調整されたTEMAZガスはノズル249aのガス供給孔250aから処理室201に供給されつつガス排気管231から排気される。このとき、同時にバルブ243cを開き、不活性ガス供給管232c内にN2ガス等の不活性ガスを流す。不活性ガス供給管232g内を流れたN2ガスは、MFC241cにより流量調整される。流量調整されたN2ガスはTEMAZガスと一緒に処理室201に供給されつつガス排気管231から排気される。TEMAZガスを処理室201に供給することでウエハ200と反応し、ウエハ200上にジルコニウム含有層が形成される。
ステップS106(図4、図5参照、第2の工程)では、ジルコニウム含有層が形成された後、バルブ243aを閉じ、バルブ243dを開けて処理室201へのTEMAZガスの供給を停止し、TEMAZガスをベントライン232dへ流す。このとき、ガス排気管231のAPCバルブ244は開いたままとして、真空ポンプ246により処理室201を真空排気し、処理室201に残留する未反応もしくはジルコニウム含有層形成に寄与した後のTEMAZガスを処理室201から排除する。尚、この時バルブ243cは開いたままとして、N2ガスの処理室201への供給を維持する。これにより、処理室201に残留する未反応もしくはジルコニウム含有層形成に寄与した後のTEMAZガスを処理室201から排除する効果を高める。不活性ガスとしては、N2ガスの他、Arガス、Heガス、Neガス、Xeガス等の希ガスを用いてもよい。
ステップS107(図4、図5参照、第3の工程)では、処理室201の残留ガスを除去した後、ガス供給管232b内にO2ガスを流す。ガス供給管232b内を流れたO2ガスは、オゾナイザ500によりO3ガスとなる。ガス供給管232bのバルブ243f及びバルブ243bを開き、ベントライン232gのバルブ243gを閉めることで、ガス供給管232b内を流れたO3ガスは、MFC241bにより流量調整され、ノズル249bのガス供給孔250bから処理室201に供給されつつガス排気管231から排気される。この時同時にバルブ243eを開き、不活性ガス供給管232e内にN2ガスを流す。N2ガスはO3ガスと一緒に処理室201に供給されつつガス排気管231から排気される。O3ガスを処理室201に供給することにより、ウエハ200上に形成されたジルコニウム含有層とO3ガスが反応してZrO層が形成される。
ステップS108(図4、図5参照、第4の工程)では、ガス供給管232bのバルブ243bを閉じ、バルブ243gを開けて処理室201へのO3ガスの供給を停止し、O3ガスをベントライン232gへ流す。このとき、ガス排気管231のAPCバルブ244は開いたままとして、真空ポンプ246により処理室201を真空排気し、処理室201に残留する未反応もしくは酸化に寄与した後のO3ガスを処理室201から排除する。尚、この時バルブ243eは開いたままとして、N2ガスの処理室201への供給を維持する。これにより、処理室201に残留する未反応もしくは酸化に寄与した後のO3ガスを処理室201から排除する効果を高める。酸素含有ガスとしては、O3ガス以外に、O2ガス等を用いてもよい。
主支柱1及び補助支柱2の両方が細く、表面積が小さい方が望ましい。但し、補助支柱2については、基板との距離が近いほど強度を確保できるため、基板と支柱の距離の関係は、主支柱1と基板200間の距離Lと補助支柱2と基板200間の距離Sとすると、L>Sという関係が好ましい。具体的には、補助支柱2と基板200の端部との距離Sは、基板200の端部と主支柱1に設けられる隣り合うピン11間に構成される主支柱1の表面との距離Lより短くなるように設けられる。
2…補助支柱
10…基板処理装置
11…載置部
12…接触部
13…取付部
200…ウエハ(基板)
217…ボート(基板支持具)
Claims (14)
- 複数の基板を水平にかつ上下に間隔をおいて支持する基板支持具であって、
前記基板を支持する基板保持部を設けた主支柱と、
前記基板と接触しないよう構成されている補助支柱と、を有し、
前記主支柱と前記補助支柱が各々半円周上に互いに離れて設けられ、前記補助支柱と前記基板の端部との距離は、前記基板の端部と前記基板保持部が設けられていない部分の前記主支柱の表面との距離より短く、前記補助支柱の径は前記主支柱の径より大きく構成される基板支持具。 - 前記補助支柱は、前記基板保持部を設けないよう構成されている請求項1記載の基板支持具。
- 前記基板保持部の長さは、20mm以上30mm以下である請求項1記載の基板支持具。
- 前記主支柱は略半円周上に3本設けられ、該3本のうち前記基板の搬入及び搬出される方向に基準支柱が設けられ、該基準支柱を中心にして前記主支柱を前記基板の載置される方向に対して左右対称となる位置に設けられるよう構成されている請求項1記載の基板支持具。
- 更に、前記基準支柱と該基準支柱以外の前記主支柱間に補助支柱が設けられるよう構成されている請求項4記載の基板支持具。
- 前記補助支柱の本数は、前記主支柱の本数より多く設けられるよう構成される請求項1記載の基板支持具。
- 前記補助支柱の径は、前記主支柱の径より大きい範囲で異なる径を有するように構成される請求項6記載の基板支持具。
- 前記主支柱の径は、3mm以上10mm以下である請求項1記載の基板支持具。
- 前記補助支柱の径は、8mm以上15mm以下である請求項1記載の基板支持具。
- 前記主支柱の断面積に対する前記補助支柱の断面積の割合が、1.3以上5.0以下である請求項1記載の基板支持具。
- 前記主支柱および前記補助支柱の断面形状は、正円、半円、楕円、多角形のいずれかから選択される請求項1に記載の基板支持具。
- 前記主支柱の本数は、前記補助支柱の本数より多く設けられるよう構成される請求項1記載の基板支持具。
- 複数の基板を処理する処理室と、
前記複数の基板を水平にかつ上下に間隔をおいて支持する基板支持具であって、前記基板を支持する基板保持部を設けた主支柱と、前記基板と接触しないよう構成されている補助支柱と、を有し、前記主支柱と前記補助支柱が各々半円周上に互いに離れて設けられ、前記補助支柱と前記基板の端部との距離は、前記基板の端部と前記基板保持部が設けられていない部分の前記主支柱の表面との距離より短く、前記補助支柱の径は前記主支柱の径より大きく構成される基板支持具と、
前記処理室に処理ガスを供給する処理ガス供給系と、
前記処理ガス供給系を制御して、前記処理室に収容された前記基板支持具に支持された基板に対して、前記処理ガスを供給して、前記基板上に膜を形成するよう構成される制御部と、
を有する基板処理装置。 - 基板を支持する基板保持部を設けた複数の主支柱と、前記基板と接触しないよう構成されている補助支柱と、を備え、前記主支柱と前記補助支柱が各々半円周上に互いに離れて設けられ、前記補助支柱と前記基板の端部との距離は、前記基板の端部と前記基板保持部が設けられていない部分の前記主支柱の表面との距離より短く、前記補助支柱の径は前記主支柱の径より大きく構成され、水平にかつ上下に間隔をおいて複数の基板を支持する基板支持具に支持させた状態で、前記基板を処理室に搬入する工程と、
前記処理室に対して処理ガスを供給し、前記基板に膜を形成する工程と、
を有する半導体装置の製造方法。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201810214323.9A CN108695138A (zh) | 2017-03-29 | 2018-03-15 | 衬底支承件、衬底处理装置及半导体器件的制造方法 |
KR1020180030578A KR20180110595A (ko) | 2017-03-29 | 2018-03-16 | 기판 지지구, 기판 처리 장치 및 반도체 장치의 제조 방법 |
US15/940,296 US20180286725A1 (en) | 2017-03-29 | 2018-03-29 | Substrate retrainer and substrate processing apparatus |
KR1020200128693A KR20200119758A (ko) | 2017-03-29 | 2020-10-06 | 기판 지지구, 기판 처리 장치 및 반도체 장치의 제조 방법 |
KR1020220035067A KR20220042088A (ko) | 2017-03-29 | 2022-03-22 | 기판 지지구, 기판 처리 장치 및 반도체 장치의 제조 방법 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017065174 | 2017-03-29 | ||
JP2017065174 | 2017-03-29 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018170502A JP2018170502A (ja) | 2018-11-01 |
JP6753881B2 true JP6753881B2 (ja) | 2020-09-09 |
Family
ID=64020435
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018036095A Active JP6753881B2 (ja) | 2017-03-29 | 2018-03-01 | 基板支持具、基板処理装置、及び半導体装置の製造方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6753881B2 (ja) |
KR (1) | KR20200119758A (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102552458B1 (ko) | 2019-07-31 | 2023-07-06 | 가부시키가이샤 코쿠사이 엘렉트릭 | 기판 처리 장치, 기판 지지구 및 반도체 장치의 제조 방법 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0566967U (ja) * | 1992-02-20 | 1993-09-03 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 縦型基板熱処理装置における基板ボート |
JP3748719B2 (ja) * | 1998-09-22 | 2006-02-22 | 光洋サーモシステム株式会社 | 熱処理用ウエハボートおよび熱処理方法 |
JP2006165134A (ja) * | 2004-12-03 | 2006-06-22 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 基板処理装置 |
US7661544B2 (en) * | 2007-02-01 | 2010-02-16 | Tokyo Electron Limited | Semiconductor wafer boat for batch processing |
JP2009272386A (ja) * | 2008-05-01 | 2009-11-19 | Sumco Corp | ウェーハ支持治具へのウェーハ支持方法 |
JP5545055B2 (ja) * | 2010-06-15 | 2014-07-09 | 東京エレクトロン株式会社 | 支持体構造及び処理装置 |
-
2018
- 2018-03-01 JP JP2018036095A patent/JP6753881B2/ja active Active
-
2020
- 2020-10-06 KR KR1020200128693A patent/KR20200119758A/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2018170502A (ja) | 2018-11-01 |
KR20200119758A (ko) | 2020-10-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10910217B2 (en) | Method for manufacturing semiconductor device, non-transitory computer-readable recording medium, and substrate processing apparatus | |
JP5921168B2 (ja) | 基板処理装置 | |
US9437421B2 (en) | Substrate processing apparatus, method of manufacturing semiconductor device and non-transitory computer-readable recording medium | |
US11031270B2 (en) | Substrate processing apparatus, substrate holder and mounting tool | |
JP2008258595A (ja) | 基板処理装置 | |
KR20220042088A (ko) | 기판 지지구, 기판 처리 장치 및 반도체 장치의 제조 방법 | |
US20230055506A1 (en) | Substrate processing apparatus, method of manufacturing semiconductor device, method of processing substrate, and gas injector | |
WO2012090831A1 (ja) | 半導体デバイスの製造方法および基板処理装置 | |
JP2008091805A (ja) | 半導体装置の製造方法、及び基板処理装置 | |
KR102204507B1 (ko) | 반도체 장치의 제조 방법, 기판 처리 장치 및 프로그램 | |
JP6753881B2 (ja) | 基板支持具、基板処理装置、及び半導体装置の製造方法 | |
JP2012142482A (ja) | 基板処理装置 | |
US20220403511A1 (en) | Substrate processing apparatus, exhaust device and method of manufacturing semiconductor device | |
US20200411330A1 (en) | Method of manufacturing semiconductor device, substrate processing apparatus, and recording medium | |
JP7329133B2 (ja) | 基板処理装置、半導体装置の製造方法及びプログラム | |
KR102654150B1 (ko) | 기판 처리 방법, 프로그램, 기판 처리 장치 및 반도체 장치의 제조 방법 | |
WO2021193406A1 (ja) | 基板処理装置、ガス供給装置、原料供給管の洗浄方法、半導体装置の製造方法およびプログラム | |
US20230268181A1 (en) | Substrate processing method, method of manufacturing semiconductor device, non-transitory computer-readable recording medium and substrate processing apparatus | |
JP2022049558A (ja) | 処理装置及び処理方法 | |
JP2022052908A (ja) | 半導体装置の製造方法、基板処理装置、およびプログラム | |
TW202318538A (zh) | 半導體裝置之製造方法、基板處理方法、基板處理裝置及記錄媒體 | |
KR20240034774A (ko) | 코팅 방법, 처리 장치, 프로그램, 기판 처리 방법 및 반도체 장치의 제조 방법 | |
KR20210093337A (ko) | 반도체 장치의 제조 방법, 기판 처리 장치 및 기록 매체 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20180727 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180821 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190614 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20200313 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200325 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200522 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20200804 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200820 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6753881 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |