JP6752088B2 - X-ray fluoroscopy equipment - Google Patents
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Description
本発明はX線透視撮影装置、X線照射野設定方法、及びX線条件制御方法に係り、詳細には、X線透視撮影における被曝量低減に関する。 The present invention relates to an X-ray fluoroscopy apparatus, an X-ray irradiation field setting method, and an X-ray condition control method, and more particularly relates to a reduction in radiation dose in X-ray fluoroscopy.
X線透視撮影装置を使用した血管IVR(Interventional
Radiology)や非血管IVRでは、透視時間が長くなるため、被検体及び術者の被曝量低減を図る必要がある。その1つの方法は、X線絞りを用いてX線照射野を制限し検査・診断に不要な領域に対するX線照射を削減するものである。しかしX線絞りを調整する作業は術者の清潔を保つためにアシスタントによる補助が必要であり、またアシスタントが手動でX線絞りを調整する場合は、術者の所望の位置に正確に絞り位置を変更できない等、コミュニケーションエラーが発生することがあった。また別の方法は、照射X線量の低減である。線量低減は、画質にも影響するため、大幅な低減は難しい。X線照射間隔(照射レート)を低下させると被曝線量を低下させることが可能であるが、動きのある部位を追視することが困難になる。そのため、検査中に照射レートを変更したい場合は、術者がアシスタントにその都度変更を要請する必要があり、検査効率を妨げる恐れがあった。
Blood vessel IVR (Interventional) using X-ray fluoroscopy equipment
In Radiology) and non-vascular IVR, it is necessary to reduce the exposure dose of the subject and the operator because the fluoroscopy time becomes long. One method is to use an X-ray diaphragm to limit the X-ray irradiation field and reduce X-ray irradiation in areas unnecessary for examination / diagnosis. However, the work of adjusting the X-ray aperture requires the assistance of an assistant to keep the operator clean, and when the assistant manually adjusts the X-ray aperture, the aperture position is exactly as desired by the operator. Communication errors may occur, such as not being able to change. Another method is to reduce the irradiation X dose. Since dose reduction also affects image quality, it is difficult to significantly reduce it. Although it is possible to reduce the exposure dose by reducing the X-ray irradiation interval (irradiation rate), it becomes difficult to follow a moving part. Therefore, if it is desired to change the irradiation rate during the examination, the surgeon must request the assistant to change the irradiation rate each time, which may hinder the examination efficiency.
特許文献1には、ユーザがGUI(Graphical User Interface)を用いてX線画像上の任意の位置を指定してX線絞り位置を変更する技術が開示されている。これにより、簡便な操作で術者の所望の位置へX線絞りを挿入できるようになり、検査の効率化を図っている。 Patent Document 1 discloses a technique in which a user changes an X-ray diaphragm position by designating an arbitrary position on an X-ray image using a GUI (Graphical User Interface). As a result, the X-ray diaphragm can be inserted into the operator's desired position with a simple operation, and the efficiency of the examination is improved.
しかしながら、検査中は被検体の位置や***、着目したい人工デバイスやその位置が変化しているため、特許文献1の技術を用いると、これらの変化が生じるたびにGUIを用いてX線絞り位置を指定し直さなければならず、作業効率低下につながる。また、近年では、内視鏡、ガイドワイヤ、ステント等のように複数の人工デバイスが用いられることも頻繁にあり、手技が高度化、複雑化している。 However, during the examination, the position and body position of the subject, the artificial device to be focused on, and the position thereof are changed. Therefore, when the technique of Patent Document 1 is used, the X-ray aperture position is changed by using the GUI every time these changes occur. Must be respecified, which leads to a decrease in work efficiency. Further, in recent years, a plurality of artificial devices such as endoscopes, guide wires, and stents are often used, and the procedure is becoming more sophisticated and complicated.
本発明は、前述した問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とすることは、透視撮影を行いながら人工デバイスが被検体内に挿入される手技において被検体の被曝量を低減することが可能なX線透視撮影装置、X線照射野設定方法、及びX線条件制御方法を提供することである。 The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to reduce the exposure dose of a subject in a procedure in which an artificial device is inserted into the subject while performing fluoroscopic imaging. It is an object of the present invention to provide an X-ray fluoroscopic imaging apparatus, an X-ray irradiation field setting method, and an X-ray condition control method.
前述した目的を達成するための第1の発明は、被検体にX線を照射するX線源と、前記X線源と対向配置され前記被検体を透過した透過X線を検出するX線検出器と、前記X線検出器により検出された透過X線に基づいてX線投影像を生成する画像処理部と、前記X線投影像の各フレームから人工デバイスを検出する検出部と、検出された人工デバイスの位置、個数、または種類に応じて前記被検体に照射されるX線量を制御する制御部と、を備えることを特徴とするX線透視撮影装置である。 The first invention for achieving the above-mentioned object is an X-ray detection that detects an X-ray source that irradiates a subject with X-rays and a transmitted X-ray that is arranged to face the X-ray source and has passed through the subject. A device, an image processing unit that generates an X-ray projection image based on the transmitted X-rays detected by the X-ray detector, and a detection unit that detects an artificial device from each frame of the X-ray projection image. The X-ray fluoroscopy apparatus is characterized by including a control unit that controls the X-ray dose applied to the subject according to the position, number, or type of the artificial device.
第2の発明は、X線投影像を撮影するステップと、前記X線投影像の各フレームから人工デバイスを検出するステップと、検出された人工デバイスの位置、個数、または種類に応じてX線照射野を決定し、X線絞りを制御するステップと、を含むことを特徴とするX線照射野設定方法である。 The second invention includes a step of taking an X-ray projection image, a step of detecting an artificial device from each frame of the X-ray projection image, and X-rays according to the position, number, or type of the detected artificial devices. The X-ray irradiation field setting method is characterized by including a step of determining an irradiation field and controlling an X-ray aperture.
第3の発明は、X線投影像を撮影するステップと、前記X線投影像の各フレームから人工デバイスを検出するステップと、検出された人工デバイスに応じてX線条件を変更するステップと、を含むことを特徴とするX線条件制御方法である。 The third invention includes a step of photographing an X-ray projection image, a step of detecting an artificial device from each frame of the X-ray projection image, and a step of changing X-ray conditions according to the detected artificial device. It is an X-ray condition control method characterized by including.
本発明により、透視撮影を行いながら人工デバイスが被検体内に挿入される手技において被検体の被曝量を低減することが可能なX線透視撮影装置、X線照射野設定方法、及びX線条件制御方法を提供できる。 According to the present invention, an X-ray fluoroscopy apparatus capable of reducing the exposure dose of a subject in a procedure in which an artificial device is inserted into the subject while performing fluoroscopy, an X-ray irradiation field setting method, and X-ray conditions. A control method can be provided.
以下、添付図面を参照しながら、本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。 Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
[第1の実施の形態]
まず、図1を参照しながら、本発明に係るX線透視撮影装置1の構成について説明する。
[First Embodiment]
First, the configuration of the X-ray fluoroscopic imaging device 1 according to the present invention will be described with reference to FIG.
図1に示すようにX線透視撮影装置1は、高電圧発生部101及びX線管球102からなるX線源、X線絞り装置103、被検体3を寝載するテーブル105、X線検出器106、システム制御部120、X線制御部121、画像処理部122、記憶部123、表示部130、及び操作部131を備える。
As shown in FIG. 1, the X-ray fluoroscopy apparatus 1 includes an X-ray source including a high
X線源はX線管球102及び高電圧発生部101を備える。X線管球102は高電圧発生部101から電力供給を受けてX線を発生させる。X線源には特定のエネルギーのX線を選択的に透過させるX線フィルタ等が設けられるようにしてもよい。X線源の動作はX線制御部121により制御される。
The X-ray source includes an
X線制御部121はシステム制御部120から送信されるX線制御信号に従って、X線管電流やX線管電圧等を制御する。なお、X線管球102と高電圧発生部101とは別体に構成される場合が多いが、一体的に構成されていてもよい。また、X線管球102とX線絞り装置103とが一体的に設けられていてもよい。
The
X線絞り装置103は、X線管球102から発生したX線の照射野を絞り込むため複数の遮蔽板を有する。X線絞り装置103はシステム制御部120からの制御信号に従って複数の遮蔽板を開閉(X線絞り位置を変更)することで被検体3に照射するX線照射野を変更できる。
The
X線検出器106は、X線を検出する複数の検出素子が2次元アレイ上に配置されて構成されており、X線管球102から照射され被検体3を透過したX線(透過X線)の入射量に応じたX線信号を検出し、画像処理部122へ送出する。
The
画像処理部122は、X線検出器106から出力されたX線信号を画像処理し、X線画像を生成する。画像処理は、ガンマ変換、階調変換処理、画像の拡大・縮小処理等である。画像処理部122により生成されたX線画像は記憶部123及び表示部130に順次出力される。本発明のX線透視撮影装置1は、透視記録機能を有する。透視記録機能とは、被検体3にX線を連続的に照射して動画像からなるX線透視像を生成する機能である。画像処理部122は、透視記録機能においては複数フレームのX線画像からなるX線透視像を生成し、記憶部123及び表示部130に出力する。
The
また、画像処理部122は、デバイス検出部21、X線絞り位置算出部22、X線絞り制御部23、及び被曝量低減率算出部24を備える。デバイス検出部21、X線絞り位置算出部22、X線絞り制御部23、及び被曝量低減率算出部24についての詳細は後述する。
Further, the
記憶部123は、画像処理部122により生成されたX線画像(X線透視像等)を記憶する。また、透視や撮影に関するプログラムや各種透視条件、撮影条件の他、X線照射量の制御(X線照射野追従、X線条件制御等)に関する処理や各種撮影手順の実行に必要なプログラム及びデータ等を記憶する。
The
また記憶部123は、X線照射野追従機能において、X線透視像から人工デバイスを検出するために必要なデータとして、デバイス特徴量データを予め記憶するデバイス特徴量DB31を備える。デバイス特徴量DB31には、予め機械学習等により導き出された人工デバイスの画像特徴量の情報が蓄積記憶される。術者が被検体に対して行う検査の種類に応じて、使用すると想定される人工デバイスは異なる。デバイス特徴量DB31には、検査名と当該検査に使用されると想定される人工デバイスのデータとを対応づける情報も記憶されることが望ましい。検査時(X線透視像撮影時)において、検査名に対応づけられて記憶されている人工デバイスのデバイス特徴量データを読み出し、デバイス検出部21に設定すれば、検出すべき人工デバイスの種類が絞り込まれるためデバイス検出の処理量を大幅に削減できる。
Further, the
また記憶部123は、画像処理部122(デバイス検出部21)によってX線透視像の各フレームから検出された人工デバイスの種類、個数、画像上の位置(座標)等の情報を保持する記憶領域としてデバイス情報記憶部32を有する。デバイス情報記憶部32に保持された人工デバイスの種類、個数、画像上の位置(座標)等の情報に基づいて、後述するX線絞り位置算出部22によって最適なX線絞り位置が求められる。
Further, the
表示部130は、CRTや液晶パネル等の表示装置により構成され、画像処理部122により生成された被検体3のX線画像(X線透視像)の他、撮影条件や設定情報、撮影条件の設定を行うための操作画面等を表示する。
The
操作部131は、キーボード、マウス、ジョイスティック等の入力装置を備え、操作者からの指令をシステム制御部120に入力する。なお、操作部131は表示部130と一体的に形成されたタッチパネル式の操作部としてもよい。
The
システム制御部120は、CPU(Central Processing Unit)、ROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)等により構成される。システム制御部120は、操作部131から入力された入力信号に基づいてX線照射の動作制御を行ったり、被検体3を透過したX線の検出及びデータ収集動作の制御を行ったり、X線管球102、X線検出器106、及びテーブル105の移動動作の制御を行う。
The
X線源(高電圧発生部101、X線管球102、X線絞り装置103)及びX線検出器106は、テーブル105を介して対向する状態で配置される。例えば図示しないアームの一端部にX線管球102、他端部にX線検出器106がそれぞれ固定される。また図示しない移動機構によってアームを傾斜させたり移動させたりすることによりX線管球102の位置を移動し、被検体3に対して所定の傾斜角度まで傾けることが可能となっている。X線管球102の傾斜に連動してX線検出器106も水平移動または回転移動される。
The X-ray source (high
本発明のX線透視撮影装置1は、X線透視撮影中において、被検体3に照射されるX線量を低減するための機能を備える。第1の実施の形態では、X線透視像から検出される人工デバイスに応じてX線照射野を追従するX線照射野追従機能を有する。そのための機能構成として、画像処理部122は、デバイス検出部21、X線絞り位置算出部22、X線絞り制御部23、及び被曝量低減率算出部24を備える。
The X-ray fluoroscopy apparatus 1 of the present invention has a function for reducing the X-ray dose irradiated to the subject 3 during the X-ray fluoroscopy. The first embodiment has an X-ray irradiation field tracking function that follows an X-ray irradiation field according to an artificial device detected from an X-ray fluoroscopic image. As a functional configuration for that purpose, the
デバイス検出部21は、画像処理部122によって生成されたX線投影像の各フレームから人工デバイスを抽出し、その位置、種類、個数の情報を検出する。人工デバイスの検出は、公知の手法を用いればよい。例えば、人工デバイスの画像特徴量データを機械学習等によって収集したデバイス特徴量DB31を記憶部123に記憶しておき、この画像特徴量データとの照合を行うことでX線透視像から人工デバイスを抽出し、その種類を識別可能である。検出された人工デバイスの位置、種類、個数等の情報は、記憶部123のデバイス情報記憶部32に記憶される。
The
X線絞り位置算出部22は、デバイス検出部21により検出された人工デバイスの位置、種類、または数に応じてX線絞りの位置、すなわちX線照射野を算出する。X線絞り位置算出部22は、生成されたX線透視像の各フレーム、または複数フレーム毎に適切なX線絞り位置(X線照射野)を算出し、システム制御部120に通知する。なお、X線絞り位置算出部22は、X線透視像から検出された人工デバイスの個数に応じて異なる算出方法でX線絞り位置を算出することが望ましい。
The X-ray diaphragm
X線絞り制御部23は、X線絞り位置算出部22により算出されたX線絞り位置にX線照射野が制限されるように制御信号を生成し、システム制御部120に通知する。システム制御部120は、通知された制御信号をX線絞り装置103に送信する。X線絞り装置103は制御信号に従って遮蔽板の位置を移動する。これによりX線絞り位置が調整されX線照射野が変更される。X線透視像の各フレーム、または複数フレーム毎に適切なX線絞り位置に調整されるため、被検体3内における人工デバイスに追従するようにX線照射野が制御されることとなる。
The X-ray
なお、システム制御部120は、X線絞り位置をX線透視像内の人工デバイスの位置等に応じて追従させる機能(以下、「X線照射野追従機能」と呼ぶ)はオン/オフを選択可能とすることが望ましい。また、X線照射野追従機能「オフ(追従しない)」が選択された場合は、仮にX線照射野追従機能を「オン」にした場合にどの程度被曝量が低減されるかを示す比較値(被曝量低減率)を算出し、表示部130に表示する被曝量低減率算出部24を更に備えることが望ましい。X線照射野追従機能のオン/オフ、及び被曝量低減率算出については後述する。
The
次に、図2のフローチャートを参照して、本発明に係るX線透視撮影装置1が実行するX線照射野追従処理の手順を説明する。
システム制御部120は、検査の開始時に設定される検査情報を取得する(ステップS101)。検査情報には、検査名等が含まれる。上述したように、記憶部123のデバイス特徴量DB31に記憶されている各デバイスの画像特徴量データは検査名と対応付けて記憶されている。システム制御部120は、ステップS101で取得した検査情報(検査名)に基づいて検査で使用すると想定される人工デバイスについてのデバイス特徴量データをデバイス特徴量DB31から取得し、デバイス検出部21に設定する(ステップS102)。
Next, the procedure of the X-ray irradiation field tracking process executed by the X-ray fluoroscopy apparatus 1 according to the present invention will be described with reference to the flowchart of FIG.
The
検査が開始されると、システム制御部120は透視撮影を開始する。X線透視像が順次画像処理部122のデバイス検出部21に入力される(ステップS103)。デバイス検出部21は、入力されたX線透視像の各フレームから人工デバイスを検出する処理を行う(ステップS104)。
When the inspection is started, the
ステップS104のデバイス検出処理では、画像処理部122(デバイス検出部21)はステップS102で設定されたデバイス特徴量を用いて、入力されたX線透視像の各フレームから画像内に存在する人工デバイスを抽出し、その種類と個数、各人工デバイスの画像上の位置座標を算出する。そして算出した人工デバイスの種類とその個数、画像上の位置座標をフレーム毎にデバイス情報記憶部32に記憶する。
In the device detection process of step S104, the image processing unit 122 (device detection unit 21) uses the device feature amount set in step S102 to perform an artificial device existing in the image from each frame of the input X-ray fluoroscopic image. Is extracted, and its type and number, and the position coordinates on the image of each artificial device are calculated. Then, the calculated types and numbers of artificial devices and the position coordinates on the image are stored in the device
例えば内視鏡検査では、人工デバイスである内視鏡スコープ51が体内に挿入される。この場合、内視鏡スコープ51の画像特徴量が、デバイス特徴量データとしてステップS102の処理によりデバイス検出部21に設定される。図3(a)に示すように、内視鏡スコープ51がnフレーム目のX線透視像41内に存在する場合、デバイス検出部21は、X線透視像41内に存在する内視鏡スコープ51の個数を検出するとともに、各内視鏡スコープ51の先端部(以下、内視鏡先端部という)52の位置座標An(x,y)を算出する。
For example, in endoscopy, an artificial device, an
人工デバイス51の位置は被検体の呼吸等の体動や術者のデバイス操作によって各フレームで移動する。そのため内視鏡先端部52の位置座標として、複数フレーム(Nフレーム)分の平均座標Aave(x,y)を使用してもよい。内視鏡先端部52(人工デバイス)の平均座標Aave(x,y)は以下の式(1)から算出できる。
The position of the
図3(b)に示すように、デバイス検出部21は、内視鏡先端部52が移動すると想定される移動範囲ΔA(x,y)を以下の式(2)より算出する。
As shown in FIG. 3 (b), the
式(2)の平方根部分はNフレーム分の座標の変化量の標準偏差値である。Gainは、当該標準偏差に乗ずる実数値であり、Gainの値を変更することで想定される移動範囲ΔA(x,y)の値を変更することができる。 The square root portion of the equation (2) is the standard deviation value of the amount of change in the coordinates for N frames. Gain is a real value that is multiplied by the standard deviation, and the value of the expected movement range ΔA (x, y) can be changed by changing the value of Gain.
pフレーム目のX線透視像における内視鏡先端部52の位置座標Ap(x,y)が、Aave(x,y)±ΔA(x,y)の範囲の内側にある場合は、位置座標を更新せず内視鏡先端部52の位置座標をA(x,y)=Aave(x,y)とする。pフレーム目のX線透視像における内視鏡先端部52の位置座標Ap(x,y)が、Aave(x,y)±ΔA(x,y)の範囲の外側にある場合は、A(x,y)=Ap(x,y)とする。このような方法で各フレームの人工デバイスの位置座標を算出することにより、呼吸等の体動や手ブレ等によるわずかな人工デバイスの位置の変化の影響を無視できる。これにより後段のX線絞り位置算出処理で、安定したX線絞り位置を算出できる。
If the position coordinate Ap (x, y) of the
ステップS104のデバイス検出処理で検出された人工デバイスの個数、種類、位置情報は、記憶部123のデバイス情報記憶部32に保持される。
The number, type, and position information of the artificial devices detected in the device detection process in step S104 are held in the device
次にX線絞り位置算出部22は、ステップS104で検出されデバイス情報記憶部32に保持された人工デバイスの位置及び個数に基づいて、適切なX線絞り位置を算出する(ステップS105)。ステップS105の処理において、X線絞り位置算出部22はX線透視像内に検出された人工デバイスの個数に応じてX線絞り位置の算出方法を変更する。例えば、X線透視像内に検出された人工デバイスの個数が1個の場合は「パターンA」の算出方法を用い、2個の場合は「パターンB」の算出方法を用い、3個以上の場合は「パターンC」の算出方法を用いるものとする。なお、算出パターンは3種類に限定されず、4パターン以上用意してもよい。また、人工デバイスの種類やその組み合わせに応じた算出パターンを設けてもよい。
Next, the X-ray diaphragm
X線透視像41内に検出された人工デバイスの個数が1個の場合は、X線絞り位置算出部22は、「パターンA」の処理(ステップS105a)を実行する。
When the number of artificial devices detected in the X-ray
図4はX線透視像41内に人工デバイス51が1個存在する状態を示している。X線透視像内の人工デバイス51の陰影の形状とデバイス特徴量データと照合され、デバイスの種類(図4の例では内視鏡)が検出される。またデバイスが内視鏡の場合はその先端部52の位置の座標が求められる。検出されたデバイスが画像内に1個の場合は、検査開始前に予め指定されているX線照射野RFをX線絞り位置とする。X線照射野RFの左上座標をLT(x,y)、左下座標をLB(x,y)、右上座標をRT(x、y)、右下座標をRB(x、y)とする。これらの4点LT,LB,RT,RBの座標がX線絞り位置情報としてシステム制御部120に通知される(ステップS106)。
FIG. 4 shows a state in which one
また、図5(a)に示すように、人工デバイスがX線透視像42内に合計2個ある場合は、X線絞り位置算出部22は、パターンBの処理(ステップS105b)を実行する。図5(b)に示すように、デバイスA(例えば内視鏡)の先端部52の位置座標A(x,y)と、デバイスB(例えばガイドワイヤ)の特徴点54の位置座標B(x,y)とを結んだ線分の中点Mの座標をX線照射野の中央座標M(x,y)とする。X線絞り位置算出部22は、図5(c)に示すようにデバイスAの位置座標A(x,y)とデバイスBの位置座標B(x,y)とから、デバイスAとデバイスBとの垂直方向の距離V、水平方向の距離Hを求め、垂直、水平方向それぞれの線分に対し、以下の式(3)のように、所定のゲインを乗じた距離をそれぞれ垂直方向、水平方向の推奨X線絞り量Lpre、Kpreとする。
Further, as shown in FIG. 5A, when there are a total of two artificial devices in the
X線絞り位置算出部22は、式(3)のように算出した垂直方向、水平方向の推奨X線絞り量Lpre、Kpreを、それぞれ予め設定したX線絞り量の最大値(Lmax,Kmax)、最小値(Lmin,Kmin)と比較し、例えば、図6に示すX線絞り位置算出テーブル6に従って垂直方向絞り量L、及び水平方向絞り量Kを決定する。テーブル6には、推奨X線絞り量Lpre、Kpreと、X線絞り量の最大値(Lmax,Kmax)、最小値(Lmin,Kmin)との大きさの関係を示す条件と条件毎のX線絞り量L、Kの値が定義されている。
The X-ray aperture
次に、X線絞り位置算出部22は、中央座標M(x,y)を中心として垂直方向の線分の長さが上述のL、水平方向の線分の長さが上述のKとなる矩形(X線照射野)の端点4点の座標(図5(c)のLT(x,y)、LB(x,y)、RT(x,y)、RB(x,y))を算出する。X線絞り位置算出部22は、算出した矩形の端点4点の座標をシステム制御部120に通知する(ステップS106)。
Next, in the X-ray throttle
また、図7(a)に示すように、人工デバイスがX線透視像43内に合計3個ある場合は、パターンCの処理(ステップS105c)を実行する。
Further, as shown in FIG. 7A, when there are a total of three artificial devices in the
ステップS105cにおいてX線絞り位置算出部22は、図7(b)に示すように、デバイスA(例えば内視鏡)の先端部52の位置座標A(x,y)と、デバイスB(例えばガイドワイヤ)の特徴部53の位置座標B(x,y)と、デバイスC(例えばステント)の特徴部54の位置座標C(x,y)とを結んだ線分の中央座標をX線照射野の中央座標M(x,y)とする。X線絞り位置算出部22は、図7(c)に示すようにデバイスAの位置座標A(x,y)とデバイスBの位置座標B(x,y)とデバイスCの位置座標C(x,y)のうち、それぞれ垂直・水平方向の最小値、最大値を算出し、それぞれの方向に対する最小値、最大値を結ぶ線分を垂直方向の距離V,水平方向の距離Hとする。次に、上述のデバイス2個の場合と同様に、上述の式(3)のようにゲインを乗じた距離をそれぞれ垂直、水平方向の推奨絞り挿入量Lpre、Kpreとする。
In step S105c, the X-ray aperture
X線絞り位置算出部22は、上述の式(3)で算出した垂直方向、水平方向の推奨X線絞り量Lpre、Kpreを、それぞれ予め設定したX線絞り量の最大値(Lmax,Kmax)、最小値(Lmin,Kmin)と比較し、例えば、図6に示すX線絞り位置算出テーブル6に従って垂直方向絞り量L、及び水平方向絞り量Kを決定する。
The X-ray aperture
次に、X線絞り位置算出部22は、中央座標M(x,y)を中心として垂直方向の線分の長さが上述のL、水平方向の線分の長さが上述のKとなる矩形(X線照射野)の端点4点の座標(図7(c)のLT(x,y)、LB(x,y)、RT(x,y)、RB(x,y))を算出する。X線絞り位置算出部22は、算出した矩形の端点4点の座標をX線絞り制御部23に通知する(ステップS106)。
Next, in the X-ray throttle
上述したように、X線絞り位置が算出され、X線絞り制御部23に通知されると、X線絞り制御部23は通知されたX線絞り位置(4点LT(x,y)、LB(x,y)、RT(x,y)、RB(x,y))で囲まれる矩形をX線照射野として設定する。X線絞り制御部23は、システム制御部120にX線絞りの位置を通知する。システム制御部120は通知されたX線絞り位置に応じた制御信号を生成し、X線絞り装置103に送信する。X線絞り装置103はシステム制御部120からの制御信号に従ってX線絞りの位置を調整する(ステップS107)。X線透視像から検出された人工デバイスが1個の場合は図4(d)、2個の場合は図6(d)、3個以上の場合は図7(d)のように、検出された人工デバイスの個数及び位置に基づいてX線絞り位置が変更される。X線透視撮影装置1は、透視撮影が終了するまで(ステップS108;No)、ステップS102〜ステップS107の処理を繰り返し実施する。これにより、X線照射野(X線絞り位置)は常に人工デバイスの位置に追従するように変更される。透視撮影が終了すると(ステップS108;Yes)、X線照射野追従処理も終了する。
As described above, when the X-ray diaphragm position is calculated and notified to the X-ray
なお、第1の実施の形態の処理において、X線照射野追従機能を実施するか否かを操作者が選択可能としてもよい。その場合は、X線透視撮影装置1は、図8に示すフローチャートに従って処理を実行する。 In the process of the first embodiment, the operator may be able to select whether or not to implement the X-ray irradiation field tracking function. In that case, the X-ray fluoroscopy apparatus 1 executes the process according to the flowchart shown in FIG.
図8において、ステップS201〜ステップS206の処理は図2のステップS101〜ステップS106と同様である。すなわち、デバイス検出部21によりX線透視像の各フレームから人工デバイスを検出し、人工デバイスの位置、種類、個数等を検出する。X線絞り位置算出部22は、デバイス検出部21により検出された人工デバイスの位置、種類、または個数に応じてX線絞りの位置(X線照射野)を算出する。X線絞り位置算出部22は、生成されたX線透視像の各フレーム、または複数フレーム毎に適切なX線絞り位置を算出し、システム制御部120に通知する(ステップS201〜ステップS206)。
In FIG. 8, the processing of steps S201 to S206 is the same as that of steps S101 to S106 of FIG. That is, the
ここで、システム制御部120は、X線照射野追従機能がオンに設定されているか、オフに設定されているかを判定する(ステップS207)。X線照射野追従機能のオン/オフの選択は、X線透視像の撮像開始前、或いは撮像中の任意のタイミングで選択可能とすることが望ましい。
Here, the
X線照射野追従機能「オン(追従する)」が選択されている場合は(ステップS207;ON)、図2のステップS107と同様に、システム制御部120は、通知されたX線絞り位置となるようにX線絞り装置103を制御する(ステップS208)。
When the X-ray irradiation field tracking function "ON (following)" is selected (step S207; ON), the
X線照射野追従機能を「オフ(追従しない)」にするよう選択されている場合は(ステップS207;OFF)、システム制御部120は仮にX線照射野追従機能を「オン」にした場合との比較値である被曝量低減率を算出する(ステップS209)。
When the X-ray irradiation field tracking function is selected to be "off (not following)" (step S207; OFF), the
被曝量低減率は、例えば、以下の式(4)に示すように、ステップS207で算出したX線絞り位置で決定されるX線照射野の面積S1と、現フレームのX線照射野の面積S2との比率等である。 The exposure dose reduction rate is, for example, as shown in the following formula (4), the area S1 of the X-ray irradiation field determined by the X-ray aperture position calculated in step S207, and the area of the X-ray irradiation field of the current frame. The ratio with S2 and the like.
被曝量低減率[%]=S1÷S2×100 ・・・(4) Exposure reduction rate [%] = S1 ÷ S2 × 100 ・ ・ ・ (4)
システム制御部120は、ステップS209で算出した被曝量低減率を表示部130に表示する(ステップS210)。ステップS210における表示は、例えば図9に示すように、ステップS209で算出した被曝量低減率の値47をX線透視像45とともに表示する。またステップS207で算出した推奨X線絞り位置(端点4点)を結んだ線分によって囲まれる枠46を作成し、枠46をX線透視像45上に表示してもよい。
The
透視撮影が終了するまで(ステップS211;No)、ステップS203〜ステップS210の処理を繰り返し実施する。透視撮影が終了すると(ステップS211;Yes)、X線絞り制御処理を終了する。 The processes of steps S203 to S210 are repeated until the fluoroscopic imaging is completed (step S211; No). When the fluoroscopic imaging is completed (step S211; Yes), the X-ray diaphragm control process is completed.
以上説明したように、第1の実施の形態において、X線透視撮影装置1は、X線透視像の各フレームから人工デバイスを検出し、検出した人工デバイスに追従するようにX線照射野を設定する。そのため、術者の手を煩わすことなく適切な位置に常にX線照射野が制限される。これにより被検体の被曝量を低減することが可能となる。 As described above, in the first embodiment, the X-ray fluoroscopy apparatus 1 detects an artificial device from each frame of the fluoroscopic image, and sets the X-ray irradiation field so as to follow the detected artificial device. Set. Therefore, the X-ray irradiation field is always limited to an appropriate position without bothering the operator. This makes it possible to reduce the exposure dose of the subject.
[第2の実施の形態]
次に図10〜図13を参照して、本発明の第2の実施の形態について説明する。
図10は、本発明の第2の実施の形態のX線透視撮影装置1Aの構成を示す図である。図10に示すように、X線透視撮影装置1Aは、高電圧発生部101及びX線管球102からなるX線源、X線絞り装置103、被検体3を寝載するテーブル105、X線検出器106、システム制御部120、X線制御部121、画像処理部122A、記憶部123A、表示部130、及び操作部131を備える。なお、高電圧発生部101及びX線管球102、X線絞り装置103、テーブル105、X線検出器106、システム制御部120、X線制御部121、表示部130、及び操作部131の構成については、第1の実施の形態と同様である。以下の説明において、第1の実施の形態と同様の各部は同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
[Second Embodiment]
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 10 to 13.
FIG. 10 is a diagram showing a configuration of an X-ray
第2の実施の形態のX線透視撮影装置1Aの画像処理部122Aは、X線検出器106から出力されたX線信号に基づき、複数フレームの透視像からなるX線透視像を生成し、記憶部123A及び表示部130に出力する。また、画像処理部122Aは、デバイス検出部21、検査段階推定部26、及びX線条件算出部27を備える。
The
デバイス検出部21は、第1の実施の形態のデバイス検出部21と同様に、画像処理部122Aにより生成されたX線投影像の各フレームから人工デバイスの位置、種類、個数を検出する。検出された人工デバイスの位置、種類、個数等の情報は、記憶部123Aのデバイス情報記憶部32に記憶される。
Similar to the
検査段階推定部26は、デバイス検出部21により検出された人工デバイスの種類、数、及び位置のうち、少なくともいずれか1つ以上を含む条件から検査の段階を推定する。
The inspection
X線条件算出部27は、デバイス検出部21により検出された人工デバイスの状態(種類、個数、位置、及び、各デバイスの位置関係等のうち少なくともいずれか一つを含む条件から判定される状態)に応じてX線条件を変更する。例えば、X線条件算出部27は、透視撮影中においてデバイス検出部21により検出された人工デバイスの状態から検査段階推定部26により推定された検査の段階に基づいて適切なX線条件を算出し、検査の進行に伴ってX線条件を順次変更する。各検査段階に適したX線条件は検査段階別X線条件情報として予め定義され記憶部123Aに記憶されているものとする。
The X-ray
或いは、X線条件算出部27は、透視撮影中においてデバイス検出部21により検出された人工デバイスの状態(種類、個数、位置、及び各デバイスの位置関係のうち少なくともいずれか一つを含む条件から判定される状態)を、検査の種類に応じた条件判定処理によって判定することにより適切なX線条件を導出するものとしてもよい。条件判定処理のデバイスの状態の条件分岐は、検査の種類毎に予め定義されているものとする。
Alternatively, the X-ray
X線条件算出部27は上述したように検査の進行に伴ってX線条件を算出し、順次変更する。変更するX線条件は、例えばX線照射間隔(照射レート)等である。
As described above, the X-ray
記憶部123Aは第1の実施の形態と同様に、複数の人工デバイスの画像特徴量データを予め記憶するデバイス特徴量DB31、X線透視像の各フレームから検出された人工デバイスの種類、個数、画像上の位置(座標)等のデバイス情報を保持するデバイス情報記憶部32を備える。更に、第2の実施の形態において記憶部123Aは、検査段階に応じて適切なX線条件を定義した情報である検査段階別X線情報を記憶する検査段階別X線条件情報記憶部33を有する。
Similar to the first embodiment, the
変更するX線条件は、例えばX線照射間隔に関する条件である。X線照射間隔に関する条件が検査段階毎に変更される場合は、X線条件算出部27は少なくとも低間隔モード及び高間隔モードの2種類のX線条件のうちいずれかを検査段階に応じて設定する。またX線条件として、X線管電流、管電圧等の条件を用いてもよい。
The X-ray condition to be changed is, for example, a condition relating to the X-ray irradiation interval. When the conditions related to the X-ray irradiation interval are changed for each inspection stage, the X-ray
例えば、ERCP検査(内視鏡的逆行性胆道膵管造影検査)では内視鏡、ステント(ステントグラフト)、ガイドワイヤ、及びバルーン等のうち全てまたは一部の人工デバイスが使用される。内視鏡は、経口挿入されて胆管入口まで画像誘導する。ガイドワイヤは、内視鏡先端部から突出し胆管内の走行を確保する。ステントやバルーンは、胆管狭窄時に狭窄部を拡張する。 For example, in ERCP examination (endoscopic retrograde biliary pancreatography), all or part of artificial devices such as endoscopes, stents (stent grafts), guide wires, and balloons are used. The endoscope is orally inserted to guide the image to the entrance to the bile duct. The guide wire protrudes from the tip of the endoscope and secures running in the bile duct. Stents and balloons dilate the stenosis during bile duct stenosis.
図11にERCP検査の手技手順を示す。(i)〜(viii)までの各検査段階で使用されX線透視像内に写り込む人工デバイスの種類と個数が想定される。 FIG. 11 shows the procedure of the ERCP inspection. The type and number of artificial devices used in each inspection stage from (i) to (viii) and reflected in the fluoroscopic image are assumed.
具体的には、例えば検査段階(i)は患者の消化管内に内視鏡を進めていき、胆管・膵管の出口(乳頭部)を見つける段階である。検査段階(i)では、内視鏡がX線透視像内に写り込むことが想定される。 Specifically, for example, the examination stage (i) is a stage in which the endoscope is advanced into the digestive tract of the patient to find the exit (papillary head) of the bile duct / pancreatic duct. In the examination stage (i), it is assumed that the endoscope is reflected in the fluoroscopic image.
また、検査段階(ii)は、乳頭部から胆管・膵管へガイドワイヤを進めていく段階である。検査段階(ii)では、内視鏡とガイドワイヤがX線透視像内に写り込むことが想定される。
検査段階(iii)は、目的も病変部位のある管(枝)を見つけるため、造影剤を注入する段階である。検査段階(iii)では、内視鏡がX線透視像内に写り込むことが想定される。
In addition, the examination stage (ii) is a stage in which the guide wire is advanced from the papilla to the bile duct / pancreatic duct. In the examination stage (ii), it is assumed that the endoscope and the guide wire are reflected in the fluoroscopic image.
The examination stage (iii) is a stage in which a contrast medium is injected in order to find a tube (branch) having a lesion site. At the examination stage (iii), it is assumed that the endoscope is reflected in the fluoroscopic image.
検査段階(iv)は、目的の管に向けて、ガイドワイヤを進めていく段階である。検査段階(iv)では、内視鏡とガイドワイヤがX線透視像内に写り込むことが想定される。
検査段階(v)は、管が狭窄している場合、バルーンで一時的な管の拡張処理を施した後、ステントを挿入し、管の拡張処理を保つ段階である。検査段階(v)では、内視鏡とガイドワイヤとバルーンまたはステントがX線透視像内に写り込むことが想定される。
The inspection stage (iv) is the stage in which the guide wire is advanced toward the target pipe. At the examination stage (iv), it is assumed that the endoscope and the guide wire are reflected in the fluoroscopic image.
The examination stage (v) is a stage in which, when the tube is narrowed, a balloon is used to temporarily expand the tube, and then a stent is inserted to maintain the tube expansion process. In the examination stage (v), it is assumed that the endoscope, the guide wire, and the balloon or stent are reflected in the fluoroscopic image.
検査段階(vi)は、ガイドワイヤの操作性や造影剤から拡張した管の走行性を確認する段階である。検査段階(vi)では、内視鏡とガイドワイヤがX線透視像内に写り込むことが想定される。
検査段階(vii)は、管内からガイドワイヤを引き抜いた後、内視鏡を消化管から引き抜く段階である。検査段階(vii)では、内視鏡とステントがX線透視像内に写り込むことが想定される。
The inspection stage (vi) is a stage for confirming the operability of the guide wire and the running performance of the tube expanded from the contrast medium. In the examination stage (vi), it is assumed that the endoscope and the guide wire are reflected in the fluoroscopic image.
The examination step (vii) is the step of pulling the guide wire out of the tube and then pulling the endoscope out of the gastrointestinal tract. At the examination stage (vii), it is expected that the endoscope and stent will be reflected in the fluoroscopic image.
検査段階(viii)は、体内の残存物有無の確認を行う段階である。検査段階(viii)では、ステントがX線透視像内に写り込むことが想定される。 The inspection stage (viii) is a stage for confirming the presence or absence of residues in the body. At the examination stage (viii), it is expected that the stent will appear in the fluoroscopic image.
また各検査段階で必要とされる画質は異なる。例えば、術者が内視鏡を胆管入口まで送っている段階では、X線透視像は内視鏡の位置確認を目的として参照されるものであるため、高精度な画質や高速な画像更新は要求されない。一方、内視鏡以外の人工デバイスがX線透視像内に検出される段階では、胆管の治療中であると推察されるため、人工デバイスの細かな動きを確認する必要があるため、高精度な画質や高速な画像更新が要求される。 Moreover, the image quality required at each inspection stage is different. For example, when the surgeon is sending the endoscope to the entrance of the bile duct, the fluoroscopic image is referred to for the purpose of confirming the position of the endoscope, so high-precision image quality and high-speed image update are possible. Not required. On the other hand, at the stage when an artificial device other than the endoscope is detected in the fluoroscopic image, it is presumed that the bile duct is being treated, so it is necessary to confirm the detailed movement of the artificial device, so it is highly accurate. High image quality and high-speed image update are required.
そこで検査段階別X線条件情報を予め定義して記憶部123Aの検査段階別X線条件情報記憶部33に記憶しておき、透視像撮影時は、X線透視像から検出した人工デバイスに応じたX線条件を検査段階別X線条件情報に基づいて求めればよい。例えば、高画質や高速な画像更新が要求されると推察される検査段階では、X線照射間隔を高間隔モードと設定し、その他の検査段階では低間隔モードを設定することが望ましい。
Therefore, the X-ray condition information for each inspection stage is defined in advance and stored in the X-ray condition
次に、図12のフローチャートを参照して、本発明に係るX線透視撮影装置1Aが実行するX線条件設定処理の手順を説明する。
ステップS301〜ステップS304の処理は第1の実施の形態のX線透視撮影装置1が実行するステップS101〜ステップS104の処理(図2参照)と同様である。すなわち、システム制御部120は、検査の開始時に設定される検査情報を取得する(ステップS301)。システム制御部120はステップS301で取得した検査情報(検査名)に基づいて検査で使用すると想定される人工デバイスについてのデバイス特徴量データをデバイス特徴量DB31から取得し、デバイス検出部21に設定する(ステップS302)。
Next, the procedure of the X-ray condition setting process executed by the
The processing of steps S301 to S304 is the same as the processing of steps S101 to S104 (see FIG. 2) executed by the X-ray fluoroscopy apparatus 1 of the first embodiment. That is, the
検査が開始されると、システム制御部120は透視撮影を開始する。X線透視像が順次画像処理部122Aのデバイス検出部21に入力される(ステップS303)。デバイス検出部21は、入力されたX線透視像の各フレームから人工デバイスを検出する処理を行う(ステップS304)。
When the inspection is started, the
ステップS304のデバイス検出処理では、画像処理部122A(デバイス検出部21)はステップS102で設定されたデバイス特徴量を用いて、入力されたX線透視像の各フレームから画像内に存在する人工デバイスを抽出し、その種類とその個数、各人工デバイスの画像上の位置座標を算出する。そして算出した人工デバイスの種類とその個数、画像上の位置座標をフレーム毎にデバイス情報記憶部32に記憶する。
In the device detection process of step S304, the
ステップS304において画像処理部122A(デバイス検出部21)は検出した人工デバイスの種類及び個数に基づいて条件判定を行う。
In step S304, the
図13は、ステップS304の条件判定処理の具体例である。デバイス検出部21によって人工デバイスが1つも検出されない場合(ステップS401;0個→ステップS402;0個→ステップS403;0個→ステップS404;0個)、或いは内視鏡のみが検出された場合(ステップS401;1個以上→ステップS405;0個→ステップS403;0個→ステップS404;0個)は、「条件A」と判定する。このような状態は、例えばERCP検査においては、術者が内視鏡を胆管入口まで挿入している途中でありX線透視像は内視鏡の位置確認に使用されている段階と推察される。 FIG. 13 is a specific example of the condition determination process in step S304. When no artificial device is detected by the device detection unit 21 (step S401; 0 → step S402; 0 → step S403; 0 → step S404; 0), or when only the endoscope is detected (step S401; 0 → step S402; 0 → step S403; 0 → step S404; 0) Step S401; 1 or more → step S405; 0 → step S403; 0 → step S404; 0) is determined as “condition A”. It is presumed that such a state is in the process of inserting the endoscope to the entrance of the bile duct by the operator in the ERCP examination, for example, and the fluoroscopic image is used for confirming the position of the endoscope. ..
また、内視鏡以外の人工デバイス(ガイドワイヤ、バルーン、ステント等)が1つ以上検出されている場合は(ステップS402;1個以上、ステップS403;1個以上、ステップS404;1個以上、ステップS405;1個以上)、治療中と推察される。この場合は、デバイス検出部21は「条件B」と判定する。
When one or more artificial devices (guide wires, balloons, stents, etc.) other than the endoscope are detected (step S402; one or more, step S403; one or more, step S404; one or more, Step S405; one or more), presumed to be under treatment. In this case, the
なお、図13に示す条件判定処理は、一例を示すものであり本発明はこの例に限定されない。例えば、検査の種類毎、或いは術者の好みに応じて適切な条件判定処理を行ってよい。また条件分岐は操作者によって任意に設定できるようにしてもよい。 The condition determination process shown in FIG. 13 shows an example, and the present invention is not limited to this example. For example, an appropriate condition determination process may be performed for each type of examination or according to the preference of the operator. Further, the conditional branch may be arbitrarily set by the operator.
上述の条件判定処理(ステップS305及び図13)において、「条件A」と判定された場合は、X線条件算出部27はX線照射間隔を「低間隔モード」に設定する(ステップS306a)。低間隔モードでは、例えば7.5[fps]程度の照射レートとする。一方、「条件B」と判定された場合は、X線条件算出部27はX線照射間隔を「高間隔モード」に設定する(ステップS306b)。高間隔モードでは、例えば15[fps]程度の照射レートとする。なお、この照射レートは一例であり、適宜変更可能である。
When "Condition A" is determined in the above-mentioned condition determination process (step S305 and FIG. 13), the X-ray
X線条件算出部27は、ステップS306で算出した照射レートをX線制御部121及びシステム制御部120に通知する(ステップS307)。
The X-ray
ここで、システム制御部120は、X線照射間隔変更機能がオンに設定されているか、オフに設定されているかを判定する(ステップS308)。X線照射間隔変更機能のオン/オフの選択は、X線透視像の撮像開始前、或いは撮像中の任意のタイミングで選択可能とすることが望ましい。
Here, the
X線照射間隔変更機能「オン(変更する)」が選択されている場合は(ステップS308;ON)、システム制御部120は、通知されたX線照射間隔値(照射レート)にてX線の照射を行うとともに、X線検出器106による透視撮影動作を行う(ステップS309)。
When the X-ray irradiation interval change function "ON (change)" is selected (step S308; ON), the
一方、X線照射間隔変更機能を「オフ(変更しない)」が選択されている場合は(ステップS308;OFF)、システム制御部120は仮にX線照射間隔変更機能を「オン」にした場合の推奨X線照射間隔値(ステップS306で算出したX線条件)を表示部130に表示する(ステップS310)。
On the other hand, when "OFF (do not change)" is selected for the X-ray irradiation interval changing function (step S308; OFF), the
透視撮影が終了するまで(ステップS311;No)、ステップS303〜ステップS310の処理を繰り返し実施する。透視撮影が終了すると(ステップS311;Yes)、X線条件設定処理を終了する。 The processes of steps S303 to S310 are repeated until the fluoroscopic imaging is completed (step S311; No). When the fluoroscopic imaging is completed (step S311; Yes), the X-ray condition setting process is completed.
なお、上述の図12に示すX線条件制御処理において、ステップS305の条件判定処理及びステップS306のX線条件算出処理では、上述したように、人工デバイスに基づき検査段階を推定し(検査段階推定部26)、推定した検査段階に紐づけられたX線条件を記憶部123Aの検査段階別X線条件情報を参照して求める手順としてもよい。
In the X-ray condition control process shown in FIG. 12 described above, in the condition determination process of step S305 and the X-ray condition calculation process of step S306, the inspection stage is estimated based on the artificial device as described above (inspection stage estimation). Part 26), the procedure may be a procedure for obtaining the X-ray condition associated with the estimated inspection stage by referring to the X-ray condition information for each inspection stage of the
また、ステップS307のX線照射間隔変更機能のオン/オフ判定においてオフに設定されている場合は、システム制御部120は、X線照射間隔変更機能がオンに変更された場合の推奨X線照射間隔値を表示するのみならず、推奨X線照射間隔値に変更した場合の被曝量低減率を算出し表示部130に表示してもよい。
Further, when the on / off determination of the X-ray irradiation interval changing function in step S307 is set to off, the
また、第1実施の形態のX線絞り制御処理(X線照射野追従機能)と第2の実施の形態のX線条件設定処理(X線照射間隔変更機能)とを組み合わせ、検出した人工デバイスの種類や個数や位置に応じてX線照射野を制御しながら、X線照射間隔を制御するようにしてもよい。 Further, an artificial device detected by combining the X-ray aperture control process (X-ray irradiation field tracking function) of the first embodiment and the X-ray condition setting process (X-ray irradiation interval changing function) of the second embodiment. The X-ray irradiation interval may be controlled while controlling the X-ray irradiation field according to the type, number, and position of the X-rays.
これにより、X線透視撮影中に人工デバイスが体内に挿入される手技において被検体に照射されるX線量を制限できるため、被曝量を低減することが可能となる。 As a result, it is possible to limit the X-ray dose applied to the subject in the procedure of inserting the artificial device into the body during fluoroscopy, so that the exposure dose can be reduced.
以上、各実施形態において、本発明の好適なX線透視撮影装置等について説明したが、本発明は上述の実施形態に限定されるものではない。当業者であれば、本願で開示した技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。 Although the preferred X-ray fluoroscopy apparatus and the like of the present invention have been described above in each embodiment, the present invention is not limited to the above-described embodiment. It is clear that a person skilled in the art can come up with various modifications or modifications within the scope of the technical idea disclosed in the present application, and these also naturally belong to the technical scope of the present invention. Understood.
1、1A・・・・・・・X線透視撮影装置
101・・・・・・・・高電圧発生部
102・・・・・・・・X線管球
103・・・・・・・・X線絞り装置
105・・・・・・・・テーブル
106・・・・・・・・X線検出器
120・・・・・・・・システム制御部
121・・・・・・・・X線制御部
122、122A・・・画像処理部
21・・・・・・・・・デバイス検出部
22・・・・・・・・・X線絞り位置算出部
23・・・・・・・・・X線絞り制御部
24・・・・・・・・・被曝量低減率算出部
26・・・・・・・・・検査段階推定部
27・・・・・・・・・X線条件算出部
123、123A・・・記憶部
31・・・・・・・・・デバイス特徴量DB
32・・・・・・・・・デバイス情報記憶部
33・・・・・・・・・検査段階別X線条件情報記憶部
3・・・・・・・・・・被検体
130・・・・・・・・表示部
131・・・・・・・・操作部
40・・・・・・・・・算出した推奨X線絞り位置を示す枠
41、42、43、45・・・X線透視像
46・・・・・・・・・推奨X線絞り位置を示す枠
47・・・・・・・・・被曝量低減率
51・・・・・・・・・デバイスA(内視鏡プローブ)
52・・・・・・・・・デバイスA(内視鏡先端部)
53・・・・・・・・・デバイスB(ガイドワイヤ)
54・・・・・・・・・デバイスC(ステントグラフト)
6・・・・・・・・・・X線絞り位置算出テーブル
1, 1A ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ X-ray
32 ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ Device
52 ... Device A (end of endoscope)
53 ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ Device B (guide wire)
54 ... Device C (stent graft)
6 ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ X-ray aperture position calculation table
Claims (7)
前記X線源と対向配置され前記被検体を透過した透過X線を検出するX線検出器と、
前記X線検出器により検出された透過X線に基づいてX線投影像を生成する画像処理部と、
前記X線投影像の各フレームから人工デバイスを検出する検出部と、
検出された人工デバイスの位置、個数、または種類に応じて前記被検体に照射されるX線量を制御する制御部とを有し、
前記制御部は、前記検出部により検出された人工デバイスの位置に追従するようにX線照射野を設定し、
前記制御部は、前記検出部により前記人工デバイスが複数検出された場合は、各デバイスの位置の中点を前記X線照射野の中心とし、各デバイスの位置とX線絞り量の最大値及び最小値との比較結果に基づいて前記X線照射野を決定することを特徴とするX線透視撮影装置。 An X-ray source that irradiates the subject with X-rays,
An X-ray detector that is placed facing the X-ray source and detects transmitted X-rays that have passed through the subject.
An image processing unit that generates an X-ray projection image based on the transmitted X-rays detected by the X-ray detector, and
A detector that detects an artificial device from each frame of the X-ray projection image,
It has a control unit that controls the X-ray dose applied to the subject according to the position, number, or type of the detected artificial device.
The control unit sets the X-ray irradiation field so as to follow the position of the artificial device detected by the detection unit.
When a plurality of the artificial devices are detected by the detection unit, the control unit sets the midpoint of the position of each device as the center of the X-ray irradiation field, and sets the position of each device and the maximum value of the X-ray aperture amount. An X-ray fluoroscopy apparatus characterized in that the X-ray irradiation field is determined based on a comparison result with a minimum value.
前記X線源と対向配置され前記被検体を透過した透過X線を検出するX線検出器と、
前記X線検出器により検出された透過X線に基づいてX線投影像を生成する画像処理部と、
前記X線投影像の各フレームから人工デバイスを検出する検出部と、
検出された人工デバイスの位置、個数、または種類に応じて前記被検体に照射されるX線量を制御する制御部と、
前記検出部により検出された人工デバイスの種類、個数、及び位置のうち少なくともいずれか一つを含む条件に基づいて検査段階を推定する推定部と、
検査段階に応じたX線条件が定義された検査段階別X線条件情報を記憶するX線条件情報記憶部と、を備え、
前記制御部は、前記推定部により推定された検査段階に応じたX線条件情報を前記X線条件情報記憶部から取得し、検査の進行に伴ってX線条件を順次変更することを特徴とするX線透視撮影装置。 An X-ray source that irradiates the subject with X-rays,
An X-ray detector that is placed facing the X-ray source and detects transmitted X-rays that have passed through the subject.
An image processing unit that generates an X-ray projection image based on the transmitted X-rays detected by the X-ray detector, and
A detector that detects an artificial device from each frame of the X-ray projection image,
A control unit that controls the X-ray dose applied to the subject according to the position, number, or type of detected artificial devices.
An estimation unit that estimates the inspection stage based on conditions including at least one of the type, number, and position of the artificial device detected by the detection unit.
It is equipped with an X-ray condition information storage unit that stores X-ray condition information for each inspection stage in which X-ray conditions are defined according to the inspection stage.
The control unit is characterized in that it acquires X-ray condition information according to the inspection stage estimated by the estimation unit from the X-ray condition information storage unit, and sequentially changes the X-ray conditions as the inspection progresses. X-ray fluoroscopic imaging apparatus that.
前記X線源と対向配置され前記被検体を透過した透過X線を検出するX線検出器と、
前記X線検出器により検出された透過X線に基づいてX線投影像を生成する画像処理部と、
前記X線投影像の各フレームから人工デバイスを検出する検出部と、
検出された人工デバイスの位置、個数、または種類に応じて前記被検体に照射されるX線量を制御する制御部とを有し、
前記制御部は、透視撮影中において前記検出部により検出された人工デバイスの状態を検査の種類毎に定義された条件判定処理によって判定することにより適切なX線条件を導出し、検査の進行に伴ってX線条件を順次変更することを特徴とするX線透視撮影装置。 An X-ray source that irradiates the subject with X-rays,
An X-ray detector that is placed facing the X-ray source and detects transmitted X-rays that have passed through the subject.
An image processing unit that generates an X-ray projection image based on the transmitted X-rays detected by the X-ray detector, and
A detector that detects an artificial device from each frame of the X-ray projection image,
It has a control unit that controls the X-ray dose applied to the subject according to the position, number, or type of the detected artificial device.
The control unit derives appropriate X-ray conditions by determining the state of the artificial device detected by the detection unit during fluoroscopy by a condition determination process defined for each type of inspection, and proceeds with the inspection. An X-ray fluoroscopic imaging apparatus characterized in that the X-ray conditions are sequentially changed accordingly.
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