JP6737442B2 - 表面被覆切削工具 - Google Patents

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Description

本発明は、表面被覆切削工具に関する。
特開2002−096205号公報(特許文献1)および特開2011−224715号公報(特許文献2)には、基材と、該基材の表面に形成されている被膜とを備える、表面被覆切削工具が開示されている。
特開2002−096205号公報 特開2011−224715号公報
表面被覆切削工具を取り巻く環境は日々変化している。特に近年は、新素材の登場による被削材の多様化、ならびに加工速度(切削速度および送り速度等)の高速化が顕著である。これにより表面被覆切削工具への要求は益々厳しくなっている。
たとえば、Ni(ニッケル)基耐熱合金が開発され、産業に利用されはじめている。Ni基耐熱合金は、耐熱性に優れた新素材である。しかしその反面で、Ni基耐熱合金はいわゆる難削材であり、その切削加工では工具寿命が短命となりやすい。
Ni基耐熱合金等の難削材の切削加工では、工具刃先の温度上昇が顕著である。さらに加工速度の高速化が相俟って、工具刃先はいっそう高温になる。そのため高温環境においても、耐摩耗性および耐酸化性を示す被膜の開発が求められている。
特許文献1によれば、TiAlN(窒化チタンアルミニウム)被膜に、シリコン(Si)を添加することにより、耐酸化性が向上し、高温下における被膜の劣化が抑制されるとされている。しかしSiを含むTiAlN被膜では、溶着欠損により、工具寿命が短命となる可能性がある。
溶着欠損とは、切削中、被削材が工具刃先に溶着し、それにより被膜が剥離することで生じる欠損である。溶着欠損は、たとえばNi基耐熱合金のように、工具素材との親和性が高い素材を切削した際に生じやすい。
TiAlN被膜にSiを添加することにより、被膜の硬度が向上する。しかしこれに伴い、被膜に圧縮応力が残留しやすくなり、被膜内部での密着性が低下する傾向にある。これにより、溶着欠損が生じやすくなると考えられる。特許文献1では、TiAlSiN層と、TiAlN層とを積層した構成も開示されている。しかし、Siを含むTiAlN被膜を多層化した場合、層間剥離によって、溶着欠損がいっそう生じ易くなると考えられる。
特許文献2では、TiAlNの粒状晶組織からなる薄層Aと、TiAlNの柱状晶からなる薄層Bとが交互に積層されて構成される被膜が提案されている。特許文献2によれば、かかる薄層Aと薄層Bとは同一組成であるため、薄層Aと薄層Bとの間での剥離(層間剥離)を抑制できるとされている。しかしながら、この構成では、隣接する単位層(薄層Aおよび薄層B)が同一組成であるために、亀裂が結晶粒界に沿って進展し、単位層の間を伝播しやすい。これにより、長い亀裂が進展し、欠損に至る可能性もある。
以上の点に鑑み、本開示では、工具寿命が向上した表面被覆切削工具の提供を目的とする。
本発明の一態様に係る表面被覆切削工具は、基材と、該基材の表面に形成されている被膜と、を備える。被膜は、交互層を含む。交互層は、第1組成を有する第1層と、第2組成を有する第2層とを含む。交互層は、第1層と第2層とが交互にそれぞれ一層以上積層されて構成されている。第1層および第2層は、それぞれ厚さが2nm以上100nm以下である。
第1組成は、TiaAlbSicN(0.25≦a≦0.45、0.55≦b≦0.75、0≦c≦0.1、a+b+c=1)で表される。第2組成は、TidAleSifN(0.35≦d≦0.55、0.45≦e≦0.65、0≦f≦0.1、d+e+f=1)で表される。第1組成および第2組成は、0.05≦d−a≦0.2かつ0.05≦b−e≦0.2を満たす。
上記によれば、工具寿命が向上した表面被覆切削工具が提供される。
本発明の実施形態に係る表面被覆切削工具の構成の一例を示す概略部分断面図である。 本発明の実施形態に係る表面被覆切削工具の製造方法の概略を示すフローチャートである。 成膜装置の構成の一例を示す概略断面図である。 成膜装置の構成の一例を示す概略平面図である。
[本発明の実施形態の説明]
最初に本発明の実施態様を列記して説明する。
〔1〕本発明の一態様に係る表面被覆切削工具は、基材と、該基材の表面に形成されている被膜と、を備える。被膜は、交互層を含む。交互層は、第1組成を有する第1層と、第2組成を有する第2層とを含む。交互層は、第1層と第2層とが交互にそれぞれ一層以上積層されて構成されている。第1層および第2層は、それぞれ厚さが2nm以上100nm以下である。
第1組成は、TiaAlbSicN(0.25≦a≦0.45、0.55≦b≦0.75、0≦c≦0.1、a+b+c=1)で表される。第2組成は、TidAleSifN(0.35≦d≦0.55、0.45≦e≦0.65、0≦f≦0.1、d+e+f=1)で表される。第1組成および第2組成は、0.05≦d−a≦0.2かつ0.05≦b−e≦0.2を満たす。
上記〔1〕の表面被覆切削工具(以下「工具」と略記する場合がある。)において、交互層に含まれる第1層および第2層は、いずれもTiAlN層であり、その組成も互いに近似している。そのため巨視的には、交互層は一様な組成を有する。しかし微視的には、第1層の組成と、第2層の組成とは互いに異なっている。
すなわち、第1層および第2層は、第1層と第2層との間で結晶格子が連続できる程度に、組成が近似したTiAlN層であり、同時に、第1層と第2層との間を亀裂が伝播しない程度に、組成が乖離したTiAlN層でもある。したがって、交互層では、第1層と第2層との間での層間剥離、および亀裂伝播の両方が抑制され得る。
ただし、第1層および第2層の厚さは、2nm以上100nm以下とする。第1層および第2層の厚さが2nm未満になると、第1層と第2層とが混ざり合って、亀裂伝搬の抑制効果が低減する可能性がある。また第1層および第2層の厚さが100nmを超えると、層間剥離の抑制効果が低減する可能性がある。
さらに第1層および第2層は、Ti(チタン)の組成比よりもAl(アルミニウム)の組成比が高いTiAlN層である。今回、かかる第1層および第2層が交互に積層されて構成される交互層では、Siを実質的に含まない場合であっても、十分な耐酸化性が示されることが見出された。また被膜が当該交互層を含むことにより、被膜に付与された圧縮応力が小さい場合であっても、硬度の高い被膜となることが見出された。これにより、耐摩耗性を維持しながら、被膜の密着性の低下を抑制することも可能である。
〔2〕第1組成は、好ましくは0<c≦0.05を満たす。
〔3〕第2組成は、好ましくは0<f≦0.05を満たす。
上記のように、Tiの組成比よりもAlの組成比が高いTiAlN層においては、Siを実質的に含有しない場合でも、十分な耐酸化性が示される。しかし第1層および第2層が、極微量のSiを含有することにより、被膜の硬度および密着性を維持しながら、耐酸化性のいっそうの向上が期待できる。
〔4〕基材は、好ましくはWC粒子を含む。被膜は、好ましくは密着層をさらに含む。密着層は、基材と交互層との間に介在しており、かつ基材および交互層の両方に接している。密着層は、厚さが0.5nm以上50nm以下である。密着層は、金属炭化物、金属窒化物および金属炭窒化物からなる群より選択される1種以上の化合物を含む。化合物は、(i)W(タングステン)と、(ii)AlおよびSiのうち少なくとも一方の元素と、(iii)Cr(クロム)、Ti、Zr(ジルコニウム)およびNb(ニオブ)からなる群より選択される1種以上の元素と、を含有する。
WC粒子を含む基材を採用することにより、工具寿命の向上が期待できる。WC(炭化タングステン)は、硬度が高く、耐摩耗性に優れるためである。さらに、被膜が密着層を含むことにより、基材と被膜との剥離強度が向上する。これにより溶着欠損が抑制され、工具寿命が更に向上すると考えられる。
密着層に含まれる化合物(金属炭化物、金属窒化物および金属炭窒化物)は、W(第1元素)と、AlおよびSiのうち少なくとも一方の元素(第2元素)と、を含有する。第1元素は、基材に含まれるWC粒子と共通の元素であり、第2元素は、交互層(TiAlN)と共通の元素である。したがって、かかる密着層は、基材および交互層の両方と親和性が高く、基材および交互層の両方と強固に密着する。
さらに当該化合物は、Cr、Ti、ZrおよびNbからなる群より選択される1種以上の元素(第3元素)を含有する。現時点でメカニズムの詳細は明らかではないが、第1元素および第2元素に加えて、第3元素を含む、金属炭化物、金属窒化物および金属炭窒化物は、剥離強度が非常に高いことが見出されている。そのため密着層は、0.5nm以上50nm以下の非常に薄い層でありながら、十分な剥離強度を示すことができる。
〔5〕密着層は、好ましくは炭素(C)および窒素(N)を含む。密着層の厚さ方向において、Cの含有量は、好ましくは、基材と該密着層との界面である第1界面から、該密着層と交互層との界面である第2界面に向かって減少し、該第2界面において最小となる。Nの含有量は、好ましくは、第1界面から第2界面に向かって増加し、該第2界面において最大となる。
上記のように交互層は、窒化物である。また基材がWC粒子を含む場合、基材は炭化物である。したがって、密着層がCおよびNの両方を含むことにより、密着層は、基材および交互層の両方に対して、親和性を有することができる。
さらに上記のように、密着層の厚さ方向において、CおよびNの含有量を変化させることにより、基材と密着層との界面(第1界面)では、密着層はより炭化物に近い組成となり、かつ密着層と交互層との界面(第2界面)では、密着層はより窒化物に近い組成となる。これにより密着層と基材との親和性、ならびに密着層と交互層との親和性がいっそう高くなる。すなわち、剥離強度の向上が期待できる。
〔6〕基材のうち密着層と接する部分において、WC粒子は、好ましくは当該部分の80%以上を占有する。
基材がWC粒子を含む場合、通常、基材は、たとえばCo(コバルト)等のバインダ成分(結合相)も含んでいる。上記の組成を有する密着層を形成する場合には、基材のうち密着層と接する部分において、WC粒子の占有率を高くするほど、基材と被膜との密着性を向上させることができる。密着層は、基材の構成成分のうち、WC粒子との親和性が高いためである。
[本発明の実施形態の詳細]
以下、本発明の実施形態(以下「本実施形態」と記す)について詳細に説明する。ただし、本発明は以下の実施形態に限定されるべきではない。
<表面被覆切削工具>
本実施形態の表面被覆切削工具は、切削工具である限り、その形状および用途等は、特に限定されない。本実施形態の表面被覆切削工具は、たとえば、ドリル、エンドミル、フライス加工用刃先交換型チップ、旋削加工用刃先交換型チップ、メタルソー、歯切工具、リーマ、タップまたはクランクシャフトのピンミーリング加工用チップ等であり得る。
図1は、本実施形態の表面被覆切削工具の構成の一例を示す概略部分断面図である。表面被覆切削工具100は、基材10と、基材10の表面に形成されている被膜20と、を備える。
《基材》
基材10は、特に限定されない。基材10は、たとえば、超硬合金、サーメット、セラミックス、立方晶窒化硼素焼結体、およびダイヤモンド焼結体等により構成され得る。基材10は、好ましくは超硬合金製である。超硬合金は、耐摩耗性に優れるためである。
超硬合金とは、WC粒子を主成分とする焼結体である。超硬合金は、硬質相および結合相を含む。硬質相は、WC粒子を含有する。結合相は、WC粒子同士を互いに結合している。結合相は、たとえばCo等を含有する。結合相は、たとえば、TiC(炭化チタン)、TaC(炭化タンタル)、NbC(炭化ニオブ)等をさらに含有していてもよい。
ここで、本明細書において、たとえば「TiC」等のように、構成元素の比を限定しない組成式によって化合物を表した場合には、その組成式は従来公知のあらゆる組成(元素比)を含むものとする。またこのとき、当該組成は、非化学量論組成も含むものとする。たとえば、「TiC」と表した場合には、化学量論組成「Ti11」のみならず、たとえば「Ti10.8」のような非化学量論組成も示している。
超硬合金は、その製造過程で不可避的に混入する不純物を含有していてもよい。超硬合金は、その組織中に遊離炭素または「η層」と称される異常層を含む場合もある。さらに超硬合金は、表面改質処理が施されたものでもよい。たとえば、超硬合金は、その表面に脱β層等を含んでいてもよい。
超硬合金は、好ましくは、WC粒子を87質量%以上96質量%以下含有し、Coを4質量%以上13質量%以下含有する。WC粒子は、好ましくは、平均粒径が0.2μm以上2μm以下である。
Coは、WC粒子に比べて軟質である。後述のように、基材10の表面にイオンボンバードメント処理を施すと、軟質なCoは除去され得る。超硬合金が上記の組成を有し、かつWC粒子が上記の平均粒径を有することにより、Coが除去された後の表面には、適度な凹凸が形成されることになる。かかる表面に被膜20を形成することにより、アンカー効果が発現し、被膜20と基材10との密着性が向上すると考えられる。
ここで、WC粒子の粒径は、WC粒子の2次元投影像に外接する円の直径を示す。粒径は、走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope;SEM)または透過型電子顕微鏡(Transmission Electron Microscope;TEM)を用いて測定する。すなわち、超硬合金を切断し、その切断面をSEMまたはTEMで観察する。観察像において、WC粒子に外接する円の直径を、WC粒子の粒径とみなす。観察像において、無作為に抽出した10個以上(好ましくは50個以上、より好ましくは100個以上)のWC粒子の粒径を測定し、その算術平均値をWC粒子の平均粒径とする。観察にあたり、切断面は、クロスセクションポリッシャ(Cross section Polisher;CP)または集束イオンビーム(Focused Ion Beam;FIB)等により、断面加工しておくことが望ましい。
《被膜》
被膜20は、基材10の表面に形成されている。被膜20は、基材10の表面の一部に形成されていてもよいし、全面に形成されていてもよい。ただし、被膜20は、基材10の表面のうち、少なくとも切れ刃に相当する部分に形成されているものとする。
被膜20は、交互層21を含む。被膜20は、交互層21を含む限り、その他の層を含んでいてもよい。被膜20は、たとえば、基材10と接する部分に、後述の密着層22を含んでいてもよい。被膜20は、たとえば、その最表面に、切れ刃の使用の有無を判別するための着色層等を含んでいてもよい。着色層は、たとえば、TiN(窒化チタン)等を含む。被膜20の積層構成は、被膜20全体に亘って一様である必要はなく、部分的に積層構成が異なっていてもよい。
被膜20は、好ましくは厚さが0.5μm以上15μm以下である。被膜20の厚さが0.5μm以上であることにより、十分な摩耗寿命が期待できる。被膜20の厚さが15μm以下であることにより、耐チッピング性の向上が期待できる。被膜20は、より好ましくは厚さが0.5μm以上10μm以下であり、よりいっそう好ましくは厚さが0.5μm以上5μm以下である。
被膜20の厚さ、および被膜20に含まれる各層(たとえば、後述の第1層1および第2層2)の厚さは、SEMまたはTEMを用いて測定する。すなわち、工具を切断し、被膜の厚さ方向の断面において、被膜20および各層の厚さを測定する。被膜20の厚さは、被膜20内で少なくとも5点で厚さを測定し、その算術平均値を採用するものとする。
本実施形態において、被膜20を構成する結晶粒は、立方晶であることが望ましい。立方晶であることにより、硬度が高まり、工具寿命が長くなる傾向にある。被膜20が部分的に非晶質を含むと、被膜20の硬度が低下する可能性もある。
《交互層》
交互層21は、第1組成を有する第1層1と、第2組成を有する第2層2と、を含む。交互層21は、第1層1と第2層2とが交互にそれぞれ一層以上積層されて構成されている。
交互層21が第1層1および第2層2をそれぞれ一層以上含む限り、積層数は、特に限定されない。積層数とは、交互層21に含まれる第1層1および第2層2の合計数を示す。積層数は、たとえば5以上7500以下程度であり、好ましくは10以上5000以下程度であり、より好ましくは20以上500以下程度である。交互層21において、最も基材10に近い層は、第1層1であってもよいし、第2層2であってもよい。また交互層21において、最も基材10から離れている層は、第1層1であってもよいし、第2層2であってもよい。
第1層1および第2層2は、それぞれ厚さが2nm以上100nm以下である。このような薄層が交互に繰り返されることにより、亀裂の伝搬、進展を抑制できると考えられる。第1層1および第2層2の厚さが2nm未満になると、第1層1および第2層2が混ざり合って、亀裂伝搬の抑制効果が低減する可能性がある。また第1層1および第2層2の厚さが100nmを超えると、層間剥離の抑制効果が低減する可能性がある。
第1層1および第2層2の厚さを測定する際、TEMの観察倍率は、たとえば1000000倍程度である。観察倍率は、第1層1および第2層2の厚さに応じて適宜調整するものとする。第1層1または第2層2の厚さは、第1層1または第2層2内で、少なくとも5点の厚さを測定し、その算術平均値を採用する。
第1層1および第2層2は、好ましくは厚さが2nm以上80nm以下であり、より好ましくは厚さが2nm以上50nm以下であり、よりいっそう好ましくは厚さが2nm以上30nm以下であり、最も好ましくは厚さが2nm以上20nm以下である。このように第1層1および第2層2の厚さを調整することにより、亀裂伝搬の抑制効果、および層間剥離の抑制効果の向上が期待できる。
(第1組成および第2組成)
第1層1は、第1組成を有する。第1組成は、TiaAlbSicN(0.25≦a≦0.45、0.55≦b≦0.75、0≦c≦0.1、a+b+c=1)で表される。
第2層2は、第2組成を有する。第2組成は、TidAleSifN(0.35≦d≦0.55、0.45≦e≦0.65、0≦f≦0.1、d+e+f=1)で表される。
さらに第1組成および第2組成は、0.05≦d−a≦0.2かつ0.05≦b−e≦0.2を満たす。0.05≦d−aかつ0.05≦b−eであることにより、第1層1と第2層2との間での亀裂伝搬を抑制できる程度に、第1組成と第2組成とを乖離させることができる。また同時に、d−a≦0.2かつb−e≦0.2であることにより、第1層1と第2層2との間での層間剥離を抑制できる程度に、第1組成と第2組成とを近似させることができる。第1組成および第2組成は、好ましくは0.05≦d−a≦0.1かつ0.05≦b−e≦0.1を満たす。これにより亀裂伝搬および層間剥離の抑制効果がいっそう向上すると考えられる。
第1組成において、「a」は、0.30≦a≦0.40でもよいし、0.35≦a≦0.40でもよい。「b」は、0.60≦b≦0.70でもよいし、0.60≦b≦0.65でもよい。
第2組成において、「d」は、0.40≦d≦0.50でもよいし、0.40≦d≦0.45でもよい。「e」は、0.50≦e≦0.65でもよいし、0.50≦e≦0.55でもよい。
第1層1および第2層2は、Siを実質的に含有しない層でもよい。すなわち、第1組成において「c」はゼロでもよいし、第2組成において「f」はゼロでもよい。ただし、好ましくは0<c≦0.05(より好ましくは0.01≦c≦0.05)であり、好ましくは0<f≦0.05(より好ましくは0.01≦f≦0.05)である。
第1組成および第2組成(すなわち、a、b、c、d、eおよびf)は、エネルギー分散型X線分析(Energy Dispersive X−ray spectrometry;EDX)により決定する。組成分析にはTEM−EDXを用いる。具体的には、交互層21の厚さ方向の断面をTEMで観察しながら、第1層1内または第2層2内において、無作為に抽出した5点で、EDX分析を行う。測定スポット径は1nmとする。5点の測定で得られた各元素の組成比を算術平均することにより、a、b、c、d、eおよびfをそれぞれ求める。
交互層21の積層数が3未満である場合には、第1層1および第2層2をそれぞれ1層、組成分析し、第1組成および第2組成を決定する。積層数が3〜10程度である場合には、第1層1および第2層2をそれぞれ2層、組成分析し、2層の平均組成を第1組成および第2組成として採用する。積層数が10〜50程度である場合、第1層1および第2層2をそれぞれ5層、組成分析し、5層の平均組成を第1組成および第2組成として採用する。積層数が50を超える場合、第1層1および第2層2をそれぞれ10層、組成分析し、10層の平均組成を第1組成および第2組成として採用する。
《密着層》
被膜20は、好ましくは密着層22をさらに含む。密着層22は、基材10と交互層21との間に介在している。密着層22は、基材10および交互層21の両方に接している。基材10と交互層21との間に、密着層22が存在していることにより、溶着欠損の抑制効果の向上が期待できる。
(密着層の組成)
密着層22は、金属炭化物、金属窒化物および金属炭窒化物からなる群より選択される1種以上の化合物を含む。かかる化合物は、第1元素、第2元素および第3元素を含有する。第1元素は、Wである。第1元素は、基材10に含まれるWC粒子と共通の元素である。第2元素は、AlおよびSiのうち少なくとも一方である。第2元素は、交互層21(TiAlN)と共通の元素である。第3元素は、Cr、Ti、ZrおよびNbからなる群より選択される1種以上の元素である。
上記の第1元素、第2元素および第3元素を含有する金属炭化物、金属窒化物および金属炭窒化物の具体例としては、たとえば、WTiC、WTiN、WTiCN;WCrC、WCrN、WCrCN;WCrTiC、WCrTiN、WCrTiCN;WTiAlC、WTiAlN、WTiAlCN;WTiSiC、WTiSiN、WTiSiCN;WCrTiAlC、WCrTiAlN、WCrTiAlCN;WCrTiSiC、WCrTiSiN、WCrTiSiCN;WTiAlSiC、WTiAlSiN、WTiAlSiCN;WCrTiAlSiC、WCrTiAlSiN、WCrTiAlSiCN;等、および;これらの化合物においてCrの全部または一部をZrおよびNbの少なくとも一方で置換した化合物;が挙げられる。
密着層22は、これらのうち1種の化合物を単独で含んでいてもよいし、2種以上の化合物を含んでいてもよい。密着層22が2種以上の化合物を含む場合、それらの化合物は、固溶体となっていてもよい。あるいは、密着層22内において、2種以上の化合物が層状に分かれて存在していてもよい。
密着層22は、好ましくは厚さが0.5nm以上50nm以下である。上記の組成を有する密着層22は、厚さが0.5nm以上であれば、十分な剥離強度を示すことができる。密着層22の厚さは、0.5nm以上である限り、薄くなるほど剥離強度の向上が期待できる。薄くなるほど、残留応力が小さくなるためと考えられる。したがって、密着層22は、より好ましくは厚さが0.5nm以上40nm以下であり、よりいっそう好ましくは厚さが0.5nm以上20nm以下であり、最も好ましくは厚さが0.5nm以上5nm以下である。密着層22の厚さの測定方法は、前述の第1層1および第2層2の厚さの測定方法に準じる。
(CおよびNの組成変化)
密着層22は、CおよびNを含むことが好ましい。すなわち、密着層22は、好ましくは、金属炭化物および金属窒化物を含むか、金属炭化物および金属炭窒化物を含むか、金属窒化物および金属炭窒化物を含むか、あるいは金属炭窒化物を含む。
密着層22がCおよびNを含む場合、密着層22の厚さ方向において、CおよびNの含有量を変化させてもよい。これにより、基材10と被膜20との密着性が向上すると考えられる。密着層22と基材10との親和性、および密着層22と交互層21との親和性が高くなるためである。含有量は、密着層22の厚さ方向において、ステップ状に変化させてもよいし、スロープ状に変化させてもよい。
この態様において、Cの含有量は、好ましくは、基材10と密着層22との界面である第1界面から、密着層22と交互層21との界面である第2界面に向かって減少し、第2界面において最小となる。これにより、Cを含む基材10と、密着層22との親和性が向上すると考えられる。
またNの含有量は、好ましくは、第1界面から第2界面に向かって増加し、第2界面において最大となる。これにより、Nを含む交互層21と、密着層22との親和性が向上すると考えられる。
このような組成変化は、たとえば、蒸着法により密着層22を形成する過程で、C原料ガスの流量に対するN原料ガスの流量の比を、変化させることにより実現できる。
CおよびNの組成変化の有無は、TEM−EDXにより確認する。すなわち、密着層22の厚さ方向の断面において、EDX分析により、CおよびNのマッピング像を得、該マッピング像において、組成変化の有無を確認する。
(WC粒子の占有率)
基材10のうち密着層22と接する部分における、WC粒子の占有率を高めることにより、基材10と被膜20との密着性を向上させることもできる。密着層22は、基材10の構成成分のうち、WC粒子との親和性が高いためである。
WC粒子の占有率は、たとえば、基材10の表面に露出している結合相(Co等)を低減することにより、相対的に高められる。たとえば、基材10の表面に対して、後述のイオンボンバードメント処理を施すことにより、結合相が低減され得る。
基材10のうち密着層22と接する部分における、WC粒子の占有率は、次のようにして測定する。先ず、被膜20の厚さ方向に沿って、工具を切断し、基材10と密着層22との界面(第1界面)の断面を得る。FIB等を用いて適宜断面加工を行う。TEMを用いて断面を観察する。観察像において、第1界面に沿って、長さ3μmの基準線を設定する。基準線内で、WC粒子と密着層22とが接している部分の合計長さを測定する。合計長さを、基準線の長さで除した値の百分率が、WC粒子の占有率である。
WC粒子の占有率は、好ましくは80%以上である。WC粒子の占有率は、高いほど良い。すなわち占有率の上限は、100%であってもよい。WC粒子の占有率は、より好ましくは85%以上であり、よりいっそう好ましくは90%以上であり、最も好ましくは95%以上である。
<表面被覆切削工具の製造方法>
以上に説明した本実施形態の表面被覆切削工具は、以下の製造方法によって製造することができる。
図2は、本実施形態の表面被覆切削工具の製造方法の概略を示すフローチャートである。当該製造方法は、基材準備ステップ(S10)および被膜形成ステップ(S20)を備える。被膜形成ステップ(S20)は、少なくとも交互層形成ステップ(S23)を含む。被膜形成ステップ(S20)は、基材洗浄ステップ(S21)および密着層形成ステップ(S22)をさらに含むこともできる。
《基材準備ステップ(S10)》
基材準備ステップ(S10)では、基材10が準備される。たとえば、基材10として、所定の形状の超硬合金が準備される。超硬合金は、一般的な粉末冶金法により準備できる。以下に具体的な手順の一例を示す。
ボールミルを用いて、WC粉末およびCo粉末等を湿式混合することにより、混合粉末を得る。溶媒は、たとえば、エタノールである。混合粉末を乾燥する。乾燥後の混合粉末を所定の形状に成形することにより、成形体を得る。成形体を焼結することにより、焼結体(超硬合金)を得る。焼結体に対して、所定の刃先加工(たとえば、ホーニング処理等)を施す。以上より、超硬合金製の基材10が準備される。
《被膜形成ステップ(S20)》
被膜形成ステップ(S20)では、基材10の表面に被膜20を形成する。
本実施形態では、好ましくは、物理蒸着(Physical Vapor Deposition;PVD)法により、被膜20を形成する。化学蒸着(Chemical Vapor Deposition;CVD)法により、被膜20を形成してもよい。ただし、PVD法により形成される被膜20の方が、高温下での劣化が少ない傾向がある。PVD法では、CVD法に比べて、結晶性の高い化合物が生成されやすいためと考えられる。
PVD法の具体例としては、アークイオンプレーティング(Arc Ion Plating;AIP)法、バランスドマグネトロンスパッタリング(Balanced Magnetron Sputtering;BMS)法、およびアンバランスドマグネトロンスパッタリング(Unbalanced Magnetron Sputtering;UBMS)法等が挙げられる。
AIP法では、ターゲット材を陰極(カソード)としてアーク放電を生起する。これにより、ターゲット材を蒸発、イオン化させる。そして負のバイアス電圧が印加された基材10の表面にイオンを堆積させる。
BMS法では、ターゲット材をマグネトロン電極上に配置し、マグネトロン電極の磁場を利用して、ガスプラズマを発生させる。これによりターゲット材を蒸発、イオン化させる。そして基材10の表面にイオンを堆積させる。UBMS法とは、BMS法において、意図的に磁場バランスを崩すことにより、基材10へのイオンの衝突頻度を高める方法である。
AIP法は、ターゲット材のイオン化率において優れている。またここでは、AIP法を採用することにより、同一の成膜装置内で、基材洗浄ステップ(S21)〜交互層形成ステップ(S23)を実行できるため、経済的である。
(基材洗浄ステップ(S21))
基材洗浄ステップ(S21)では、基材10の表面を洗浄する。
たとえば、基材10の表面に対して、Ar(アルゴン)イオンによる第1イオンボンバードメント処理を施すことにより、基材10の表面を洗浄することができる。これにより、基材10の表面に露出した結合相を低減することができる。すなわち、後に形成される密着層22と基材10との界面(第1界面)において、WC粒子の占有率を高めることができる。
なお、後述の第2イオンボンバードメント処理にも洗浄作用が期待できるため、条件によっては、第1イオンボンバードメント処理を実施しない態様も考えられる。
第1イオンボンバードメント処理の後、さらに基材10の表面に対して、Cr、Ti、ZrおよびNbからなる群より選択される1種以上の金属をターゲット材として、第2イオンボンバードメント処理を施してもよい。これにより、基材10の表面に露出した結合相をいっそう低減することができる。さらに基材10の表面に、密着層22の第3元素(Cr、Ti、ZrおよびNb)を予め付着させておくことができる。密着層22の厚さは、たとえば、ここでの第3元素の付着量によって調整できる。
第2イオンボンバードメント処理におけるターゲット材は、好ましくCrである。Crは昇華性の金属である。そのため、Crはイオンボンバードメント処理において溶融粒子(ドロップレット)になり難い。よってCrを採用することにより、イオンボンバードメント処理に伴う、基材10の表面荒れを抑制できる。
(密着層形成ステップ(S22))
密着層形成ステップ(S22)では、基材10と接する密着層22を形成する。たとえば、第2イオンボンバードメント処理により、第3元素を付着させた後の基材10の表面に、AIP法により、第2元素(Al、Si)、TiおよびNをさらに堆積させる。
これにより、第3元素および第2元素が融合した堆積物が生成される。さらに当該堆積物に、WC粒子から第1元素(W)とCとが拡散する。その結果、第1元素、第2元素および第3元素を含有する金属炭化物、金属窒化物、あるいは金属炭窒化物が生成され、密着層22が形成されることになる。
(交互層形成ステップ(S23))
交互層形成ステップ(S23)では、基材10の表面、または密着層22の表面に、交互層21を形成する。密着層22の表面に交互層21を形成することにより、密着層22は、基材10および交互層21との間に介在し、かつ基材10および交互層21の両方に接することになる。
交互層21は、第1層1と第2層2とが交互にそれぞれ一層以上積層されて構成される。交互層21は、たとえば次のような方法で形成できる。
(A)AIP法において、Ti、AlおよびSiを含有し、各金属の粒径がそれぞれ異なる焼結合金をターゲット材として用いる。
(B)AIP法において、組成が互いに異なる複数のターゲット材(焼結合金)を用いる。
(C)AIP法において、成膜中、基材10に印加されるバイアス電圧をパルス状に変化させる。
(D)AIP法において、ガス流量を変化させる。
(E)AIP法において、基材10を回転させ、その回転周期を制御する。
上記(A)〜(E)の各方法は、それぞれ単独でも交互層21を形成することができる。(A)〜(E)の各方法を組み合わせて、交互層21を形成することもできる。
以上より、基材10と、基材10の表面に形成されている被膜20とを備える表面被覆切削工具100を製造することができる。
以下、実施例を用いて本実施形態を説明する。ただし、本発明は以下の例に限定されるべきではない。
<表面被覆切削工具の製造>
以下のようにして、各種表面被覆切削工具を製造し、工具寿命を評価した。
《試料No.1》
1.基材準備ステップ(S10)
以下の基材10を準備した。基材10は、WC粒子(90質量%)、およびCo(10質量%)を含むものである。WC粒子の平均粒径は2μmである。WC粒子の平均粒径は、前述の方法により測定している。
(基材仕様)
チップ型番:SFKN12T3AZTN(住友電工ハードメタル社製)
材質:超硬合金(ISO P30グレード)。
2.被膜形成ステップ(S20)
図3は、成膜装置の概略断面図である。図4は、成膜装置の概略平面図である。図3は、図4のIII−III線における断面図である。図3および図4に示される成膜装置200は、AIP装置である。本例では、成膜装置200を用いて被膜を形成している。先ず、成膜装置200の構成を説明する。
図3に示されるように、成膜装置200は、チャンバ201を備える。チャンバ201には、チャンバ201内に原料ガスを導入するためのガス導入口202、および、チャンバ201内から原料ガスを外部に排出するためのガス排気口203が設けられている。ガス排気口203は、図示しない真空ポンプに接続されている。チャンバ201内の圧力は、ガスの導入量および排出量により調整される。
チャンバ201内には、回転テーブル204が配置されている。回転テーブル204には、基材10を保持するための基材ホルダ205が取り付けられている。基材ホルダ205は、バイアス電源206の負極に接続されている。バイアス電源206の正極は、アースされている。
図4に示されるように、チャンバ201の側壁には、複数のターゲット材211,212,213,214が取り付けられている。図3に示されるように各ターゲット材211,212は、それぞれ直流電源221,222の負極に接続されている。直流電源221,222は、可変電源であり、その正極はアースされている。なお図3では、図示されていないが、ターゲット材213,214についても同様である。以下、具体的な操作を説明する。
2−1.基材洗浄ステップ(S21)
基材ホルダ205に基材10を保持させた。真空ポンプを用いて、チャンバ201内の圧力を、1.0×10-4Paに調整した。回転テーブル204を回転させながら、成膜装置200に付帯するヒータ(図示せず)により、基材10の温度を500℃に調整した。
ガス導入口202からArガスを導入し、チャンバ201内の圧力を3.0Paに調整した。同圧力を維持しながら、バイアス電源206の電圧を徐々に変化させ、最終的に−1000Vに調整した。そして、Arイオンによる第1イオンボンバードメント処理により、基材10の表面を洗浄した。
2−2.交互層形成ステップ(S23)
ターゲット材211,212,213,214として、下記表1に示す組成の交互層21を形成できる焼結合金をそれぞれ準備した。各ターゲット材211,212,213,214を、所定の位置にセットした。ガス導入口202から窒素ガスを導入し、回転テーブル204を回転させながら、交互層21を形成した。交互層21の形成条件は以下の通りである。
(交互層の形成条件)
基材の温度 :500℃
反応ガス圧 :0.5〜10Pa
バイアス電圧:−30V〜−800V
アーク電流 :100A
ここで、反応ガス圧およびバイアス電圧は、上記の範囲内で一定値とするか、あるいは、上記の範囲内で連続的に値を変化させた。
以上より、試料No.1に係る表面被覆切削工具を製造した。被膜構成を下記表1に示す。下記表1に示される各層の組成、厚さ等は、前述の方法により測定している。
《試料No.2および3》
下記表1に示されるように、第1層1の厚さ、第2層2の厚さ、および積層数を変更することを除いては、試料No.1と同様にして、試料No.2および3に係る表面被覆切削工具を製造した。
《試料No.4〜7》
下記表1に示される組成の交互層が形成されるように、ターゲット材(焼結合金)の組成を変更することを除いては、試料No.3と同様にして、試料No.4〜7に係る表面被覆切削工具を製造した。
《試料No.8》
試料No.8では、基材洗浄ステップ(S21)において、Arイオンによる第1イオンボンバードメント処理の後、さらにCrイオンによる第2イオンボンバードメント処理を行った。これらの処理を経た表面に、交互層21を形成した。すなわち、試料No.8では、密着層形成ステップ(S22)が行われたことになる。これを除いては、試料No.1と同様にして、試料No.8に係る表面被覆切削工具を製造した。試料No.8における密着層22の組成、厚さを下記表2に示す。また下記表2に、基材10と密着層22とが接する部分におけるWC粒子の占有率を示す。これらの値は、前述の方法により測定している。
《試料No.9〜13》
下記表1に示される組成の交互層21および密着層22が形成されるように、ターゲット材(焼結合金)の組成を変更すること、および第2イオンボンバードメント処理の条件を変更することを除いては、試料No.8と同様にして、試料No.9〜13に係る表面被覆切削工具を製造した。
《試料No.14〜17》
試料No.14〜17では、密着層22を形成せず、さらに下記表1に示す単一組成のTiAlN系被膜を形成した。これらを除いては、試料No.1〜7と同様にして、試料No.14〜17に係る表面被覆切削工具を製造した。下記表1中、試料No.14〜17の被膜組成は、便宜上、第1層の欄に記している。
Figure 0006737442
Figure 0006737442
<評価>
切削試験により、各試料の工具寿命を評価した。具体的には、以下の切削条件で、湿式の断続切削を行い、工具が欠損するまでの切削距離を測定した。結果を上記表2に示す。上記表2中、切削距離が長いほど、工具寿命が長いことを示している。
(切削条件)
被削材:Ni基耐熱合金
切削速度:40m/min
送り速度:0.1mm/刃
切り込み量ap:1.0mm
切り込み量ae:50mm
上記表2に示されるように、試料No.3〜13は、その他の試料に比べて、工具寿命が向上している。
上記表1に示されるように、試料No.14〜17は、被膜が単一組成である。そのため、粒界に沿って亀裂が伝播し、工具寿命が延びなかったと考えられる。
試料No.3〜13は、被膜20が交互層21を含む。試料No.3〜13において、交互層21に含まれる第1層1および第2層2は、層間剥離を抑制できる程度に、組成が近似し、なおかつ亀裂の伝播を抑制できる程度に、組成が乖離した層であると考えられる。
No.1および2は、被膜20が交互層21を含むにもかかわらず、No.3〜13よりも工具寿命が短い。No.1は、第1層1および第2層2が薄すぎるため、第1層1と第2層2とが混ざり合って、亀裂伝播の抑制効果が低減したと考えられる。No.2は、第1層1および第2層2が厚すぎるため、第1層1と第2層2との間で層間剥離が発生しやすくなったと考えられる。
上記表2に示されるように、試料No.8〜13は、試料No.3〜7に比べて、工具寿命が延びている。被膜20が密着層22を含むことにより、基材10と被膜20との密着性が向上したためと考えられる。
今回開示された実施形態はすべての点で例示であって、制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した実施形態ではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
1 第1層
2 第2層
10 基材
20 被膜
21 交互層
22 密着層
100 表面被覆切削工具
200 成膜装置
201 チャンバ
202 ガス導入口
203 ガス排気口
204 回転テーブル
205 基材ホルダ
206 バイアス電源
211,212,213,214 ターゲット材
221,222 直流電源

Claims (4)

  1. 基材と、
    前記基材の表面に形成されている被膜と、を備え、
    前記被膜は、交互層を含み、
    前記交互層は、第1組成からなる第1層と、第2組成からなる第2層と、からなり
    前記交互層は、前記第1層と前記第2層とが交互にそれぞれ一層以上積層されて構成されており、
    前記交互層に含まれる前記第1層および前記第2層の合計数が20以上500以下であり、
    前記第1層および前記第2層は、それぞれ厚さが2nm以上100nm以下であり、
    前記第1組成は、TiaAlbSicN(0.25≦a≦0.45、0.55≦b≦0.75、0.01≦c≦0.05、a+b+c=1)で表され、
    前記第2組成は、TidAleSifN(0.35≦d≦0.55、0.45≦e≦0.65、0.01≦f≦0.05、d+e+f=1)で表され、
    前記第1組成および前記第2組成は、0.05≦d−a≦0.2かつ0.05≦b−e≦0.2を満たす、表面被覆切削工具。
  2. 前記基材は、WC粒子を含み、
    前記被膜は、密着層をさらに含み、
    前記密着層は、前記基材と前記交互層との間に介在しており、かつ前記基材および前記交互層の両方に接しており、
    前記密着層は、厚さが0.5nm以上50nm以下であり、
    前記密着層は、金属炭化物、金属窒化物および金属炭窒化物からなる群より選択される1種以上の化合物を含み、
    前記化合物は、
    Wと、
    AlおよびSiのうち少なくとも一方の元素と、
    Cr、Ti、ZrおよびNbからなる群より選択される1種以上の元素と、
    を含有する、請求項1に記載の表面被覆切削工具。
  3. 前記密着層は、炭素および窒素を含み、
    前記密着層の厚さ方向において、
    前記炭素の含有量は、前記基材と前記密着層との界面である第1界面から、前記密着層と前記交互層との界面である第2界面に向かって減少し、前記第2界面において最小となり、
    前記窒素の含有量は、前記第1界面から前記第2界面に向かって増加し、前記第2界面において最大となる、請求項に記載の表面被覆切削工具。
  4. 前記基材のうち前記密着層と接する部分において、
    前記WC粒子は、前記部分の80%以上を占有する、請求項または請求項に記載の表面被覆切削工具。
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