JP6726661B2 - サーモグラフィー検査手段および被試験体の表面近傍構造の非破壊検査方法 - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 40
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 23
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 74
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 61
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 51
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 24
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 claims description 24
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 20
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 17
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 15
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 claims description 8
- 238000011161 development Methods 0.000 description 32
- 238000001931 thermography Methods 0.000 description 15
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 9
- 239000000463 material Substances 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 4
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 4
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 3
- 235000013305 food Nutrition 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 238000009750 centrifugal casting Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 235000019219 chocolate Nutrition 0.000 description 2
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 2
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 2
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 2
- 230000004807 localization Effects 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 2
- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 description 2
- 230000037237 body shape Effects 0.000 description 1
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000032798 delamination Effects 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
- G01N25/72—Investigating presence of flaws
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- G01—MEASURING; TESTING
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- G01B21/08—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness for measuring thickness
- G01B21/085—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness for measuring thickness using thermal means
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- G—PHYSICS
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N9/00—Investigating density or specific gravity of materials; Analysing materials by determining density or specific gravity
- G01N9/36—Analysing materials by measuring the density or specific gravity, e.g. determining quantity of moisture
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
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Description
被試験体の加熱される表面領域に熱エネルギーを加える加熱装置と、
熱エネルギーの印加に続いて、被試験体の測定される表面領域上の空間温度分布の時間プロファイルを検出するための熱センサ手段であって、測定される領域は、加熱される表面領域と、加熱される表面領域に隣接する測定される外側表面領域とを含み、そして、測定される表面領域における表面近傍構造の少なくとも1つのパラメータを検出するように、空間温度分布の時間プロファイルを評価するための評価手段を備える。
加熱手段により、被試験体の加熱される表面領域に熱エネルギーを加えるステップと、
熱エネルギーの印加に続いて、被試験体の測定される表面領域上の空間温度分布の時間プロファイルを、熱センサ手段によって検出するステップであって、測定される表面領域が、加熱される表面領域と、加熱される表面領域に隣接する外側表面領域を含むステップと、
測定される表面領域における表面近傍構造の少なくとも1つのパラメータを検出するように、評価手段を用いて空間温度分布の時間プロファイルを評価するステップと、を含む。
被試験体(P0)の加熱される表現領域(B0)へ熱エネルギーを加える加熱装置(2)と、
被試験体(P0)における測定される表面領域(V0)の空間温度分布に、熱エネルギー印加後の時間プロファイルを検出する熱センサ手段(3)であって、測定される表面領域(V0)は、加熱される表面領域(B0)と加熱される表面領域(B0)に隣接する測定される外側表面領域(A0)を含み、
測定される表面領域(V0)における表面近傍構造の少なくとも1つのパラメータ(DW)を検出するように、空間温度分布の時間プロファイルを評価する評価手段(4)と、を備える。
加熱手段(2)により、被試験体(PO)の加熱される表面領域(BO)に熱エネルギーを加えるステップと、
熱エネルギーの印加に続いて、被試験体(PO)の測定される表面領域(VO)上の空間温度分布(OTV)の時間プロファイル(ZV)を、熱センサ手段(3)によって検出するステップであって、測定される表面領域(VO)は、加熱される表面領域(BO)と、加熱される表面領域に隣接する外側表面領域(AO)を含むステップと、
測定される表面領域(VO)における表面近傍構造の少なくとも1つのパラメータ(DW)を検出するように、評価手段(4)を用いて空間温度分布(OTV)の時間プロファイル(ZV)を評価するステップと、を含む。
2 加熱装置
3 熱センサ手段
4 評価手段
5 ビームスプリッター
6 傾斜検出手段
7 鋳型
8 較正体
9 底部
10 スリット
11 側壁
12 閉鎖部
13 マーキング
PO 被試験体
OF 表面
BO 加熱される表面領域
VO 測定される表面領域
AO 測定される外側表面領域
DW 被試験体の壁の厚さ
EB 検出領域
OA 光学軸
WA 壁
EW 電磁波
ZV 空間温度分布の時間プロファイル
OTV 空間温度分布
d 較正体の厚さ
Claims (15)
- 被試験体(PO)の壁(WA)の非破壊検査のためのサーモグラフィー検査手段であって、
前記被試験体(PO)の加熱される領域(BO)に熱エネルギーを加える加熱装置(2)と、
前記熱エネルギーの印加に続いて、前記被試験体(PO)の測定される表面領域(VO)上の空間温度分布(OTV)の時間プロファイル(ZV)を検出するための熱センサ手段(3)であって、前記測定される表面領域(VO)は、前記加熱される表面領域(BO)と、前記加熱される表面領域(BO)に隣接する測定される外側表面領域(AO)とを含む、熱センサ手段(3)と、
前記測定される表面領域(VO)における前記被試験体(PO)の前記壁(WA)の厚さ(DW)および/または密度を検出するように、前記空間温度分布(OTV)の前記時間プロファイル(ZV)を評価するための評価手段(4)と、を備えたサーモグラフィー検査手段。 - 前記加熱される表面領域(BO)は、ポイント形状に、開曲線の形に線状で、閉曲線の形に線状で、円形または楕円形であるように構成されている、請求項1に記載のサーモグラフィー検査手段。
- 前記加熱される表面領域(BO)は、前記測定される表面領域(VO)の一部である、加熱される少なくとも2つの離間した表面部分領域を含む、請求項1又は2に記載のサーモグラフィー検査手段。
- 前記加熱装置(2)は、電磁波(EW)によって前記加熱される表面領域(BO)に熱エネルギーを加えるように構成されている、請求項1から3のいずれか一項に記載のサーモグラフィー検査手段。
- 前記加熱装置(2)は、機械的励起によって前記加熱される表面領域(OB)に熱エネルギーを加えるように構成されている、請求項1から4のいずれか一項に記載のサーモグラフィー検査手段。
- 前記加熱装置(2)は、熱伝導によって前記加熱される表面領域(OB)に熱エネルギーを加えるように構成されている、請求項1から3のいずれか一項に記載のサーモグラフィー検査手段。
- 前記加熱装置は、前記加熱される表面領域(BO)に電流を発生させることによって、前記加熱される表面領域(BO)に熱エネルギーを加えるように構成されている、請求項1から3のいずれか一項に記載のサーモグラフィー検査手段。
- 前記熱センサ手段(3)は、1次元センサ、例えばデジタルラインセンサを備える、請求項1から7のいずれか一項に記載のサーモグラフィー検査手段。
- 前記熱センサ手段(3)は、2次元センサ(3)、例えばデジタル画像センサ(3)を備える、請求項1から8のいずれか一項に記載のサーモグラフィー検査手段。
- 前記加熱装置(2)は、加熱される複数の表面領域(BO1、BO2)に、同時または時間を重複して熱エネルギーを加えるように構成されており、前記熱センサ手段(3)は、前記被試験体(PO)の測定される複数の表面領域(VO1、VO2)において、同時または時間を重複して、熱エネルギーの印加に続く前記空間温度分布(OTV)の時間プロファイル(ZV)を検出するように構成され、測定対象の表面領域(VO1、VO2)はそれぞれに、前記加熱される表面領域(BO1,BO2)の1つと、前記加熱される表面領域に隣接する1つの外側表面領域(AO1,AO2)を含み、前記評価手段(4)は、同時または時間を重複して前記空間温度分布(OTV)の時間プロファイル(ZV)を評価して、測定対象の複数の表面領域(VO1、VO2)において、前記壁(WA)の厚さ(DW)および/または密度を同時または時間を重複して検出するように構成されている、請求項1から9のいずれか一項に記載のサーモグラフィー検査手段。
- 前記評価手段(4)は、前記空間温度分布(OTV)の時間プロファイル(ZV)評価において、前記測定される表面領域(VO)の傾斜(NE)の空間プロファイルを、空間温度分布の時間プロファイルの評価における前記熱センサ手段(3)の光軸(OA)に関連して、考慮するように構成されている、請求項1から10のいずれか一項に記載のサーモグラフィー検査手段。
- 前記サーモグラフィー検査手段(1)は、前記傾斜(NE)の空間プロファイルを検出するための傾斜検出手段(6)を備える、請求項11に記載のサーモグラフィー検査手段。
- 前記加熱装置(2)は、前記被試験体(PO)の加熱される表面領域(BO)への熱エネルギーの印加が、前記傾斜(NE)の空間プロファイルの機能として影響を受けるように構成されている、請求項12に記載のサーモグラフィー検査手段。
- 前記サーモグラフィー検査手段(1)は、較正体(8)、特にくさび形較正体(8)を製造するための鋳型(7)を含む、請求項1から13のいずれか一項に記載のサーモグラフィー検査手段。
- 被試験体(PO)の壁(WA)の非破壊検査方法であって、
加熱手段(2)を用いて前記被試験体(PO)の加熱される表面領域(3)に熱エネルギーを加えるステップと、 熱エネルギーの印加に続いて、前記被試験体(PO)の測定される表面領域(VO)上の空間温度分布(OTV)の時間プロファイル(ZV)を、熱センサ手段(3)によって検出するステップであって、前記測定される表面領域(VO)が前記加熱される表面領域(BO)及び前記加熱される表面領域(BO)に隣接する測定対象の外側表面領域(AO)を含んでいるステップと、 前記測定される表面領域(VO)における前記被試験体(PO)の壁(WA)の厚さ(DW)および/または密度を検出するように、評価手段(4)を用いて前記空間温度分布(OTV)の前記時間プロファイル(ZV)を評価するステップと、を備えた被試験体(PO)の壁(WA)の非破壊検査方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102014218136.4A DE102014218136B4 (de) | 2014-09-10 | 2014-09-10 | Thermographische Untersuchungseinrichtung sowie Verfahren zur zerstörungsfreien Untersuchung einer oberflächennahen Struktur an einem Prüfobjekt |
DE102014218136.4 | 2014-09-10 | ||
PCT/EP2015/070622 WO2016038096A1 (de) | 2014-09-10 | 2015-09-09 | Thermographische untersuchungseinrichtung sowie verfahren zur zerstörungsfreien untersuchung einer oberflächennahen struktur an einem prüfobjekt |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017527813A JP2017527813A (ja) | 2017-09-21 |
JP6726661B2 true JP6726661B2 (ja) | 2020-07-22 |
Family
ID=54199179
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017513741A Active JP6726661B2 (ja) | 2014-09-10 | 2015-09-09 | サーモグラフィー検査手段および被試験体の表面近傍構造の非破壊検査方法 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11226301B2 (ja) |
EP (1) | EP3191824B1 (ja) |
JP (1) | JP6726661B2 (ja) |
KR (1) | KR102019035B1 (ja) |
CN (1) | CN107110801B (ja) |
DE (1) | DE102014218136B4 (ja) |
WO (1) | WO2016038096A1 (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102017219064A1 (de) * | 2017-10-25 | 2019-04-25 | Texmag Gmbh Vertriebsgesellschaft | Messsystem für wellpappenmaschine |
CN113412424A (zh) * | 2019-02-06 | 2021-09-17 | 松下知识产权经营株式会社 | 厚度测量方法、厚度测量装置、缺陷检测方法以及缺陷检测装置 |
WO2020178118A1 (en) * | 2019-03-06 | 2020-09-10 | Electric Pocket Limited | Thermal quality mappings |
CN110006353B (zh) * | 2019-04-22 | 2021-05-28 | 西安交通大学 | 一种热栅格扫描热波无损薄膜厚度检测方法 |
DE102019214472B3 (de) * | 2019-09-23 | 2020-12-17 | Fachhochschule Südwestfalen | Verfahren zur Bestimmung der ortsaufgelösten thermischen Strukturfunktion und/oder Zeitkonstantenspektren eines Objekts |
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CZ309174B6 (cs) * | 2020-10-27 | 2022-04-13 | Západočeská Univerzita V Plzni | Způsob kontroly svarů, zejména bodových |
CN112630096B (zh) * | 2020-12-14 | 2023-03-10 | 南京玻璃纤维研究设计院有限公司 | 一种体积密度均匀性的检测装置和方法 |
JPWO2022168191A1 (ja) * | 2021-02-03 | 2022-08-11 | ||
CN113295732B (zh) * | 2021-04-22 | 2022-09-30 | 杭州申昊科技股份有限公司 | 可供检测管道缺陷的管道机器人及其控制方法与控制*** |
DE102022113940A1 (de) | 2022-06-02 | 2023-12-07 | Schott Ag | Verfahren zum Feststellen eines thermischen Qualitätsmaßes eines Probenkörpers |
KR20240103179A (ko) | 2022-12-27 | 2024-07-04 | 이민현 | 여행 동선 어플리케이션 |
Family Cites Families (53)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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-
2014
- 2014-09-10 DE DE102014218136.4A patent/DE102014218136B4/de active Active
-
2015
- 2015-09-09 EP EP15770827.2A patent/EP3191824B1/de active Active
- 2015-09-09 KR KR1020177009593A patent/KR102019035B1/ko active IP Right Grant
- 2015-09-09 JP JP2017513741A patent/JP6726661B2/ja active Active
- 2015-09-09 CN CN201580061137.0A patent/CN107110801B/zh active Active
- 2015-09-09 WO PCT/EP2015/070622 patent/WO2016038096A1/de active Application Filing
-
2017
- 2017-03-10 US US15/455,593 patent/US11226301B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN107110801B (zh) | 2021-02-09 |
DE102014218136B4 (de) | 2019-07-18 |
US11226301B2 (en) | 2022-01-18 |
JP2017527813A (ja) | 2017-09-21 |
CN107110801A (zh) | 2017-08-29 |
KR20170049590A (ko) | 2017-05-10 |
KR102019035B1 (ko) | 2019-09-09 |
US20170184526A1 (en) | 2017-06-29 |
EP3191824A1 (de) | 2017-07-19 |
DE102014218136A1 (de) | 2016-03-10 |
WO2016038096A1 (de) | 2016-03-17 |
EP3191824B1 (de) | 2022-01-05 |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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