JP6706054B2 - 画像形成装置、画像処理装置及びプログラム - Google Patents

Description

本発明は、画像形成装置における現像剤消費量の低減及び不要輻射の防止技術に関する。

画像形成装置においては、形成される画像の品質を保ち、かつ、現像剤であるトナーの消費量を削減することが要求される。特許文献１は、掃き寄せによる画像の品質劣化を抑えるため、パルス幅変調により露光時間を短くする構成を開示している。また、特許文献２は、エッジ効果による画像の品質劣化を抑えるため、露光量を調整する構成を開示している。

特開２００３−３４５０７６号公報 特開２０００−３４３７４８号公報

近年、画像形成装置に対しては、現像剤の消費量を削減することについての要求がますます高くなってきている。また、画像形成装置に対しては、不要な輻射ノイズ（輻射する電磁波）を抑えることも求められている。

本発明は、不要な輻射ノイズを抑え、かつ、現像剤の消費量を削減できる画像形成装置、画像処理装置及びプログラムを提供するものである。

本発明の一側面によると、画像形成装置は、感光体と、前記感光体を露光して静電潜像を形成する露光手段と、前記感光体の静電潜像を現像剤で現像して画像を形成する現像手段と、画像データに基づき、当該画像データで形成される画像の画素の内から補正対象画素を特定する特定手段と、前記補正対象画素に対する前記露光手段による露光量を、前記画像データが示す露光量から補正する補正手段と、前記補正手段による補正後の各画素の露光量に基づき、各画素について、露光する副画素と露光しない副画素を決定する決定手段と、各露光量それぞれに対応して設けられた連続する所定数の画素の露光パターンであって、前記連続する所定数の画素それぞれの露光量は同じであり、かつ、対応する露光量に等しい、前記露光パターンを記憶する記憶手段と、を備えており、前記決定手段は、同じ第１露光量の画素が前記所定数以上連続する場合、当該所定数以上連続する画素については前記記憶手段が記憶する、前記第１露光量に対応して設けられた露光パターンを使用することで、当該所定数の画素それぞれの露光する副画素と露光しない副画素を決定し、前記記憶手段が記憶する露光パターンにおいて、露光しない副画素の間隔は一定ではないことを特徴とする。

本発明によると、不要な輻射ノイズを抑え、現像剤の消費量を低減できる。

一実施形態による画像形成装置の構成図。 一実施形態による現像方式の説明図。 エッジ効果及び掃き寄せが生じた画像を示す図。 一実施形態による露光量の制御構成を示す図。 一実施形態による露光量を制御するためのＣＰＵの機能ブロック図。 一実施形態による補正処理のフローチャート。 一実施形態による補正幅パラメータ及び露光量調整パラメータを示す図。 一実施形態による画像の画素値及び該画像の補正対象画素を示す図。 一実施形態による１画素の露光パターンを示す図。 一実施形態による５画素の露光パターンを示す図。 一実施形態による不要輻射ノイズを示す図。 一実施形態による補正幅パラメータ及び露光量調整パラメータを示す図。 一実施形態による２画素の露光パターンを示す図。 一実施形態による１０画素及び６画素の露光パターンを示す図。

以下、本発明の例示的な実施形態について図面を参照して説明する。なお、以下の実施形態は例示であり、本発明を実施形態の内容に限定するものではない。また、以下の各図においては、実施形態の説明に必要ではない構成要素については図から省略する。

＜第一実施形態＞
図１は、本実施形態による画像形成装置１０１の構成図である。像担持体である感光体１は、画像形成時、図中の矢印の方向に回転駆動される。帯電部２は、感光体１の表面を一様な電位に帯電させる。露光部７は、帯電した感光体１の表面を、画像データに基づく光で露光して感光体１に静電潜像を形成する。なお、露光部７は、画像演算部９が出力する駆動信号７１により駆動される。画像演算部９の露光制御部１９は、電圧Ｖａによって露光部７による露光強度が目標値となるように調整する。

現像部３は、現像剤であるトナーを貯蔵する容器１３と、現像ローラ１４とを備えている。トナーは、非磁性一成分トナーであっても、二成分トナーであっても、磁性トナーであっても良い。規制ブレード１５は、現像ローラ１４に供給されるトナーの層厚を所定値に規制するために設けられる。規制ブレード１５は、トナーに電荷を付与するように構成することもできる。現像ローラ１４により、トナーは現像領域１６へと搬送される。なお、現像領域１６とは、現像ローラ１４と感光体１とが近接または接触する領域であり、かつ、静電潜像へのトナーの付着が実行される領域である。現像部３により、感光体１に形成された静電潜像にトナーが付着され、トナー像として可視化される。転写部４は、感光体１に形成されたトナー像を記録材Ｐに転写する。定着部６は、記録材Ｐに熱及び圧力を加え、記録材Ｐに転写されたトナー像を記録材Ｐに定着させる。

画像演算部９のＣＰＵ１０は、画像形成装置１０１の全体を統括的に制御する制御部である。なお、以下で説明する制御の総てをＣＰＵ１０で実行する構成のみならず、その一部をＡＳＩＣ１８が実行する構成とすることができる。また、以下で説明する制御の総てをＡＳＩＣ１８が実行する構成であっても良い。メモリ１１は、記憶部であり、画像データ１１１を記憶すると共にＬＵＴ１１２及び露光パターンデータ１１３を保持している。ＬＵＴ１１２は、ルックアップテーブルであり、後述する補正幅パラメータ及び露光量調整パラメータを含んでいる。検出部１２は画像形成装置１０１の状態を示す状態情報を検出してＣＰＵ１０に通知する。状態情報は、例えば、環境情報又は使用状態情報や、それらの両方を含んでいる。環境情報とは、例えば、環境温度や環境湿度等、画像形成装置の環境を示す情報である。また、使用状態情報とは、画像形成枚数、画像形成装置１０１の累積稼働時間、感光体１の表面抵抗値等、画像形成装置１０１の使用による劣化度合いを示す情報である。画像演算部９は、ホストコンピュータ８から送信される画像データを受信し、ＬＵＴ１１２が保持する補正幅パラメータ及び露光量調整パラメータに基づきエッジ効果や掃き寄せの影響を抑え、トナー消費量が削減されるように画像データの補正を行う。

続いて、現像部３での現像方式について図２（Ａ）及び図２（Ｂ）を用いて説明する。図２（Ａ）は、ジャンピング現像方式での構成を示している。ジャンピング現像方式においては、現像ローラ１４と感光体１を接触させず、所定距離のギャップ１７を設ける。そして、現像ローラ１４が出力する現像バイアスとして、直流バイアスでオフセットさせた交流バイアスを使用する。図２（Ｂ）は、接触現像方式での構成を示している。接触現像方式においては、現像ローラ１４と感光体１を接触させる。そして、現像ローラ１４が出力する現像バイアスとして、直流バイアスを使用する。なお、接触現像方式は、例えば、感光体１と現像ローラ１４の回転方向を図２（Ｂ）に示す様に互いに逆向き、つまり、現像領域１６においては、それぞれの表面が同じ方向に移動する様に構成する。

続いて、静電潜像に付着するトナーの量が、エッジ部分において増加するエッジ効果及び掃き寄せについてそれぞれ説明する。エッジ効果とは、感光体１に形成された静電潜像、つまり、露光領域と、それ以外の非露光領域との境界に電界が集中することで、静電潜像のエッジにトナーが過剰に付着する現象である。図３（Ａ）は、エッジ効果が生じたトナー像４００を示している。図３（Ａ）の矢印Ａは、トナー像の搬送方向、つまり、感光体１の回転方向である。なお、トナー像４００の元となった画像データは、総ての画素の値が同じ、つまり、トナー像４００は一様な濃度の画像とする。エッジ効果が生じた場合、トナー像４００のエッジ領域４０２ａにトナーが集中して付着する。その結果、エッジ領域４０２ａの濃度は、非エッジ領域４０１ａの濃度より高くなる。なお、エッジ効果は、感光体１と現像ローラ１４との間にギャップがあるジャンピング現像方式で主に発生する。

一方、掃き寄せとは、トナー像の感光体１の回転方向後端にトナーが集中する現象である。図３（Ｂ）は、掃き寄せが生じたトナー像４１０を示している。図３（Ｂ）の矢印Ａは、トナー像の搬送方向、つまり、感光体１の回転方向である。なお、トナー像４１０の元となった画像データは、総ての画素の値が同じ、つまり、トナー像４１０は一様な濃度の画像とする。掃き寄せが生じた場合、トナー像４１０の後端領域４０２ｂにトナーが集中して付着する。その結果、後端領域４０２ｂの濃度は、それ以外の領域４０１ｂの濃度より高くなる。

図４は、露光部７の制御構成である。露光制御部１９は、８ビットのＤＡコンバータ（ＤＡＣ）２０２１と、レギュレータ（ＲＥＧ）２０２２を含むＩＣ２００３を備えている。ＩＣ２００３は、ＣＰＵ１０により設定された強度調整信号７３を基に、レギュレータ２０２２から出力される電圧ＶｒｅｆＨを調整する。電圧ＶｒｅｆＨはＤＡコンバータ２０２１の基準電圧となる。ＩＣ２００３がＤＡコンバータ２０２１の入力データ２０２０を設定することで、ＤＡコンバータ２０２１は電圧Ｖａを露光部７に出力する。露光部７のＶＩ変換回路２３０６は電圧Ｖａを電流値Ｉｄに変換してドライバＩＣ２００９に出力する。ドライバＩＣ２００９は、電流値Ｉｄにより露光部７の露光強度を制御する。つまり、露光制御部１９は電圧Ｖａにより、露光部７の露光強度を制御することができる。また、ドライバＩＣ２００９は、画像演算部９が出力する駆動信号７１に応じて、ドライバＩＣ２００９のスイッチ（ＳＷ）を切り替える。ＳＷは、電流ＩＬを、露光部７のレーザダイオード（ＬＤ）に流すか、ダミー抵抗Ｒ１に流すかを切換えることで、ＬＤの発光のＯＮ／ＯＦＦ制御を行う。

図５は、エッジ効果を抑制するために露光量を調整するＣＰＵ１０の機能ブロックを示している。なお、本実施形態では、ＣＰＵ１０が露光量の調整を行うものとするが、既に説明した様に、ＡＳＩＣ１８と共に行う構成でも、ＡＳＩＣ１８のみで行う構成であっても良い。状態検知部６１０は、検出部１２が検出した状態情報を受け取り、パラメータ設定部６０２に出力する。パラメータ設定部６０２は、状態情報に基づき、ＬＵＴ１１２の補正幅パラメータの内、受け取った状態情報に対応する補正幅パラメータを画像解析部６０１に通知・設定する。また、パラメータ設定部６０２は、ＬＵＴ１１２の露光量調整パラメータの内、受け取った状態情報に対応する露光量調整パラメータを露光量調整部６０３に通知・設定する。また、ホストコンピュータ８から送信された画像データ６０４は、メモリ１１に格納される。画像解析部６０１は、補正幅パラメータに基づき画像データ６０４により形成される画像の画素から、エッジ効果が生じ得る画素を特定し、特定した画素を露光量調整部６０３に通知する。なお、ここでの画像とは、トナーが付着する連続した画素の領域を意味し、画像解析部６０１は、トナーが付着する領域のエッジから、その領域内においてエッジ効果が生じ得る画素を特定する。露光量調整部６０３は、画像解析部６０１が特定した画素の画素値を、露光量調整パラメータに基づき補正して、補正後の画像データを生成する。さらに、露光量調整部６０３は、各画素の補正後の露光量、つまり、補正後の画素値に基づき、露光パターンを決定して駆動信号７１としてのＰＷＭ信号を生成し、当該ＰＷＭ信号により露光部７を駆動する。なお、露光パターンの決定については後述する。補正幅パラメータは、エッジ効果が生じ得る画素の範囲を、エッジの画素からの画素数で示すものである。たとえば、補正幅パラメータが"３"であれば、トナーが付着する領域のエッジ側の３つの画素にエッジ効果が生じると判定される。また、露光量調整パラメータは、補正対象画素の露光量の補正量を示すものである。例えば、本実施形態では、露光量の削減割合を示すものとするが、任意の他の値を使用することができる。

図６は、受信した画像データに基づく画像形成処理のフローチャートである。Ｓ１０で、状態検知部６１０は、検出部１２が検出した状態情報を受け取り、Ｓ１１で、状態情報とＬＵＴ１１２に基づき露光量の調整が必要であるか否かを判定する。図７は、ＬＵＴ１１２の一例を示している。図７の条件１〜４は、画像形成装置１０１の使用状態を４段階で評価したものである。本例においては、条件１から４の順に、画像形成装置１０１の劣化度合いが進んでいるものとする。例えば、状態情報として累積画像形成枚数を使用する場合、例えば、累積画像形成枚数が０枚〜１０００枚までであれば条件１を使用し、１００１枚〜２０００枚までであれば条件２を使用する。さらに、累積画像形成枚数が、２００１枚から３０００枚までであれば条件３を使用し、累積画像形成枚数が３００１枚以上であれば条件４を使用する。ここで、図７の条件４の"−"は、露光量の補正を行わないことを示している。よって、Ｓ１０で状態情報として取得した累積画像形成枚数が３００１枚以上であると、状態検知部６１０は、Ｓ１１において露光量の調整が必要ではないと判定する。この場合、ＣＰＵ１０は、Ｓ１７において画像データに基づき画像を形成する。一方、Ｓ１０で状態情報として取得した累積画像形成枚数が３０００枚以下であると、状態検知部６１０は、Ｓ１１において露光量の調整が必要と判定する。

露光量の調整が必要であると、パラメータ設定部６０２は、Ｓ１２において、状態情報に基づきＬＵＴ１１２に示される補正幅パラメータと露光量調整パラメータから使用するものを判定し、それぞれを画像解析部６０１と露光量調整部６０３に通知・設定する。例えば、Ｓ１０で取得した状態情報が、条件３に合致する場合、パラメータ設定部６０２は、補正幅パラメータが"３"であること、つまり、画像のエッジから３番目までの画素が補正対象画素であることを通知する。さらに、条件３において、露光量調整パラメータは、補正対象画素の露光量を１２．５％減少させることを示している。したがって、パラメータ設定部６０２は、補正対象画素の露光量を１２．５％削減することを露光量調整部６０３に通知・設定する。

Ｓ１３において、画像解析部６０１は、補正幅パラメータ及び画像データに基づき補正対象画素を特定する。そして、Ｓ１４において、露光量調整部６０３は、露光量調整パラメータに基づき補正対象画素の露光量を調整・補正する。その後、露光量調整部６０３は、Ｓ１５で、補正対象画素について、露光量が同じとなる画素が閾値である所定数以上連続しているか否かを判定する。所定数以上連続していない場合、ＣＰＵ１０は、Ｓ１７で画像を形成する。一方、所定数以上連続している場合、露光量調整部６０３は、Ｓ１６で、メモリ１１１に記憶された露光パターンデータ１１３から補正対象画素の露光パターンを選択して、Ｓ１７で画像を形成する。この様に、露光量調整部６０３は、同一露光量が連続する場合、露光パターンデータ１１３に基づき露光パターンを決定する。Ｓ１７で画像を形成後、ＣＰＵ１０は、Ｓ１８で印刷が終了したかを判定し、終了していなければＳ１０から処理を繰り返す。

図８（Ａ）は、画像データの画素値を示している。なお、画素値"２５５"は黒色であり、画素値"０"は、白色、つまり、トナーを付着させない画素を示している。図８（Ｂ）は、補正幅パラメータが"３"である場合に、画像解析部６０１が補正対象画素として特定する画素を示している。図８（Ｂ）において、値"０"は、補正対象ではない画素を示し、"０"以外の値の画素は、補正対象画素を示している。また、補正対象画素の値はエッジからの距離（最短値）を示している。画像解析部６０１は、補正対象画素を特定すると共に、その画素に関するエッジからの距離情報を露光量調整部６０３に通知する。

続いて、露光量調整部６０３における露光量調整パラメータに基づく露光量の補正について説明する。本実施形態では、露光強度を所定値Ｖａで一定とし、１画素をＮ個の副画素に分割した上で、当該所定値で露光する副画素と、露光しない副画素の数を変更することで１画素の露光量を調整する。図９（Ａ）は、Ｎ＝８の場合において、画素値が"２５５"の画素の露光量を１２．５％だけ削減する場合を示している。なお、補正前の画素値"２５５"の露光量が１００％であり、これは、総ての副画素を所定値で露光することに対応する。つまり、図９（Ａ）は、８７．５％の露光量で１画素を露光する場合の例を示している。図９（Ｂ）は、画素値が"２５５"の画素の露光量を２５％だけ削減する場合、つまり、７５％の露光量で１画素を露光する場合を示している。

ここで、ＰＷＭ信号の１つのパルスは、１つの副画素に対応するが、同じ露光量の画素が連続する場合において、これら同じ露光量の画素の露光パターンを同じとすると画像形成装置１０１から不要な輻射ノイズが発生し易くなる。ここで、１画素の露光パターンとは、１画素の露光する副画素と露光しない副画素のパターン、つまり、１画素に対応するＰＷＭ信号のオン・オフのパターンである。このため、本実施形態においては、各露光量について、同じ露光量の画素が所定数以上連続する場合に使用する、各画素の露光パターンを露光パターンデータ１１３として、予め、メモリ１１に記憶させておく。

図１０（Ａ）は、８７．５％の露光量の画素が５つ連続する場合における各画素の露光パターンを示している。同様に、図１０（Ｂ）は、７５％の露光量の画素が５つ連続する場合における各画素の露光パターンを示している。図１０（Ａ）及び（Ｂ）において、露光しない副画素間にある露光する画素の連続数は、それぞれ異なる。したがって、５つの画素それぞれの露光パターンを同じとする場合と比較して不要輻射を抑えることができる。１画素の走査時間を８０ｎｓｅｃとした場合において、図９（Ａ）に示す露光パターンを繰り返したときと、図１０（Ａ）に示す露光パターンを使用したときの輻射ノイズのフーリエ変換結果を図１１に示す。図１０（Ａ）の様に露光したときのスペクトラム強度は、図９（Ａ）の露光パターンを繰り返したときのスペクトラム強度の半分程度に抑えられる。

なお、図１０（Ａ）及び（Ｂ）においては濃度むらを防止するため、隣接する画素の露光しない副画素が繋がらないように構成している。この様に、露光量調整部６０３は、補正後の露光量が５画素以上連続しているか否かを判定し、連続していない場合には、例えば、図９に示す露光パターンを使用し、連続している場合には図１０に示す露光パターンを使用する。これにより不要輻射ノイズを抑えることができる。

なお、エッジ効果とは異なり、掃き寄せは、画像の感光体１の回転方向の後端側にのみ生じるので、掃き寄せを補正する場合には、補正対象画素は、回転方向の後端のエッジからの距離により特定することになるが、それ以外の処理はエッジ効果と同様である。

なお、図６のフローチャートにおいては、補正対象画素の補正後の露光量のみについて、同じ露光量が所定数以上連続するかを判定し、所定数以上連続すると露光パターンデータ１１３に基づき所定数を単位として露光パターンを決定していた。しかしながら、補正対象画素であるか否かに拘らず、露光調整パラメータによる露光量の補正後の総ての画素について同じ露光量が連続するか否かを判定する構成とすることもできる。つまり、露光量の補正後の総ての画素について同じ露光量が連続すると、露光パターンデータ１１３に基づき所定数を単位とする露光パターンを決定する構成であっても良い。また、上記では一例として画像が５つ連続する場合について説明したが、これに限られるものではなく、連続する画素の数は適宜設定することができる。

以上、画像解析部６０１は、画像データ及び補正幅パラメータに基づき、当該画像データで形成される画像の画素の内の補正対象画素を特定する。そして、露光量調整部６０３は、露光量調整パラメータを使用して補正対象画素に対する露光部７による露光量を画像データが示す露光量から補正する。さらに、露光量調整部６０３は、補正後の各画素の露光量に基づき、各画素について、露光する副画素と露光しない副画素を決定する。このとき、露光量調整部６０３は、同じ露光量の画素が所定数だけ連続するか否かを判定する。同じ露光量の画素が所定数或いは所定数以上連続する場合、その内の所定数の連続する画素についてはメモリ１１に記憶されている露光パターンデータ１１３により、当該所定数の画素それぞれの露光する副画素と露光しない副画素を決定する。例えば、図１０（Ａ）に示す様に所定数を５画素とする。そして、８７．５％の露光量の画素が１３個連続しているものとする。この場合、最初の連続する５画素については図１０（Ａ）のパターンを適用する。そして、最初の連続する５画素に続く連続する５画素についても図１０（Ａ）のパターンを適用する。そして、残りの３画素については、図１０（Ａ）の最初の３画素のパターンを適用するか、図９（Ａ）のパターンを３回繰り返す。図１０に示す様に、メモリ１１は、各露光量について、同じ露光量の画素が所定数以上連続した場合に使用する、当該所定数を単位とした露光パターンを露光パターンデータ１１３として記憶している。この露光パターンデータにおいては、露光しない副画素の間隔は一定ではない。より詳しくは、露光しない副画素の間隔のそれぞれを総て異なるものとしている。これにより、図９（Ａ）のパターンを１３回繰り返すことと比較して不要な輻射ノイズを抑えることができる。なお、露光量調整部６０３は、同じ露光量の画素の連続数が所定数未満であると、図９に示す様な１画素単位の露光パターンを使用する。また、同じ露光量の画素の連続数が所定数未満である場合においても、図１０に示す所定数の画素の露光パターンから当該連続数の画素に対応する部分を取り出して適用することもできる。例えば、８７．５％の露光量の画素が３個連続しているものとする。この場合、図９（Ａ）のパターンを３回繰り返すのではなく、図１０（Ａ）の最初の３画素の露光パターンを使用する構成とできる。さらには、同じ露光量の画素が連続する場合は、連続する数によらず、図１０に示す所定数の画素の露光パターンを適用しても良い。

＜第二実施形態＞
第一実施形態においては、同じ露光量の画素の連続数が所定数未満である場合、１画素を単位として露光パターンを決定していた。本実施形態では、同じ露光量の画素の連続数が所定数未満である場合、複数の画素単位で露光パターンを決定する。なお、以下では、２画素単位で露光パターンを決定する場合を例にして説明する。図１２は、本実施形態におけるＬＵＴ１１２の一例を示している。図１２と第一実施形態におけるＬＵＴ１１２（図７）との主な違いは、露光量調整パラメータの調整割合が細かく刻まれていることである。つまり、図７では１２．５％刻みであったが、図１２においては、６．２５％刻みとしている。

露光量を６．２５％刻みで補正するために、１画素を１６個の副画素に分割して露光量を制御すると、露光パターンデータ１１３の数が増加し、これにより記憶すべき容量が増加する。さらに、ＣＰＵ１０の速度を向上させる必要がある。したがって、本実施形態においても１画素の副画素数を８とする。そして、本実施形態では、２画素単位で露光パターンを決定する。なお、
図１３（Ａ）及び（Ｂ）は、それぞれ、画素値"２５５"の画素、つまり、露光量が１００％の画素の露光量を６．２５％及び１８．７５％だけ削減する場合の露光パターンを示している。図１３（Ａ）においては、第１画素で露光量を１２.５％だけ削減するが、第２画素については露光量を削減せず、よって、２つの画素での平均的な露光量の削減量を６．２５％としている。同様に、図１３（Ｂ）においては、第１画素で露光量を２５％削減し、第２画素で露光量を１２．５％削減し、よって、２つの画素での平均的な露光量の削減量を１８．７５％としている。複数の画素を単位として露光量を調整することで、濃度均一性は少し劣るものの、１つの画素の副画素の数を多くすることなく、露光量を細かく設定できる。なお、補正対象画素が１画素の場合は、補正を行わなくてもよい。

図１４（Ａ）は、露光量が９３．７５％の画素が所定数以上、図１４（Ａ）では１０画素以上連続する場合の露光パターンを示している。また、図１４（Ｂ）は、露光量が８１．２５％の画素が所定以上、図１４（Ｂ）では６画素以上連続する場合の露光パターンを示している。第一実施形態と同様に、露光しない副画素の間隔が、一定とならない様に露光パターンを設定しているため、図１３（Ａ）や図１３（Ｂ）に示すパターンを繰り返す場合より、不要輻射ノイズを抑えることができる。

以上、本実施形態においても、同じ露光量の画素が所定数以上連続する場合、図１４に示す、露光パターンデータ１１３により、所定数の連続する画素に対する露光パターンを決定する。一方、同じ露光量の画素の連続数が所定数未満の場合、図１３に示す様に、複数の画素、本実施形態では２画素を単位として露光パターンを決定する。なお、この複数の画素数は、所定数未満の値である。これにより、輻射ノイズを抑制しながら現像剤のエッジ効果又は掃き寄せを低減させる。したがって、トナーの過剰な消費を抑制できる。また、副画素数を増加させることなく細かいステップ露光量を設定することができる。

［その他の実施形態］
なお、上記各実施形態について、画像形成装置１０１を用いて説明した。しかしながら、本発明は、画像形成装置に対してＰＷＭ信号を出力する画像処理装置としても実現できる。画像処理装置は、図１に示す画像演算部９を有し、画像データを補正して露光パターンを決定してＰＷＭ信号を生成する。そして、画像処理装置は、露光部７ではなく、画像形成装置に対してＰＷＭ信号を供給・出力する。

本発明は、上述の実施形態の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。

１：感光体、７：露光部、３：現像部、６０１：画像解析部、６０３：露光量調整部、１１、メモリ

Claims (13)

1. 感光体と、
   前記感光体を露光して静電潜像を形成する露光手段と、
   前記感光体の静電潜像を現像剤で現像して画像を形成する現像手段と、
   画像データに基づき、当該画像データで形成される画像の画素の内から補正対象画素を特定する特定手段と、
   前記補正対象画素に対する前記露光手段による露光量を、前記画像データが示す露光量から補正する補正手段と、
   前記補正手段による補正後の各画素の露光量に基づき、各画素について、露光する副画素と露光しない副画素を決定する決定手段と、
   各露光量それぞれに対応して設けられた連続する所定数の画素の露光パターンであって、前記連続する所定数の画素それぞれの露光量は同じであり、かつ、対応する露光量に等しい、前記露光パターンを記憶する記憶手段と、
   を備えており、
   前記決定手段は、同じ第１露光量の画素が前記所定数以上連続する場合、当該所定数以上連続する画素については前記記憶手段が記憶する、前記第１露光量に対応して設けられた露光パターンを使用することで、当該所定数の画素それぞれの露光する副画素と露光しない副画素を決定し、
   前記記憶手段が記憶する露光パターンにおいて、露光しない副画素の間隔は一定ではないことを特徴とする画像形成装置。
2. 前記記憶手段が記憶する露光パターンにおいて、露光しない副画素の間隔のそれぞれは総て異なる間隔であることを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
3. 前記決定手段は、同じ露光量の画素の連続数が前記所定数より少ない場合、１画素単位で露光する副画素と露光しない副画素を決定することを特徴とする請求項１又は２に記載の画像形成装置。
4. 前記決定手段は、同じ露光量の画素の連続数が前記所定数より少ない場合、前記記憶手段が記憶する前記所定数の画素の露光パターンの部分であって、当該連続数と同じ数の画素に対応する部分により、各画素の露光する副画素と露光しない副画素を決定することを特徴とする請求項１又は２に記載の画像形成装置。
5. 前記決定手段は、同じ露光量の画素の連続数が前記所定数より少ない場合、前記所定数より少ない複数の画素単位で露光する副画素と露光しない副画素を決定することを特徴とする請求項１又は２に記載の画像形成装置。
6. 前記特定手段は、前記画像データで形成される画像のエッジからの距離で補正対象画素を示す第１情報に基づき前記補正対象画素を特定することを特徴とする請求項１から５のいずれか１項に記載の画像形成装置。
7. 複数の第１情報を保持する保持手段と、
   前記画像形成装置の状態を示す状態情報を検出する検出手段と、
   をさらに備えており、
   前記特定手段は、前記検出手段が検出する状態情報に基づき前記複数の第１情報から前記補正対象画素の特定に使用する第１情報を決定することを特徴とする請求項６に記載の画像形成装置。
8. 前記状態情報は、環境情報を含むことを特徴とする請求項７に記載の画像形成装置。
9. 前記状態情報は、画像形成装置の使用による劣化の度合いを示す使用状態情報を含むことを特徴とする請求項７又は８に記載の画像形成装置。
10. 前記補正手段は、補正対象画素の補正量を示す第２情報に基づき、当該補正対象画素の露光量を補正することを特徴とする請求項１から９のいずれか１項に記載の画像形成装置。
11. 前記補正手段は、前記補正対象画素の露光量を、前記画像データが示す露光量より減少させることを特徴とする請求項１から１０のいずれか１項に記載の画像形成装置。
12. 感光体と、前記感光体を露光して静電潜像を形成する露光手段と、前記感光体の静電潜像を現像剤で現像して画像を形成する現像手段と、を有する画像形成装置に、前記画像を形成するための画像データを供給する画像処理装置であって、
    画像データに基づき、当該画像データで形成される画像の画素の内から補正対象画素を特定する特定手段と、
    前記補正対象画素に対する前記露光手段による露光量を、前記画像データが示す露光量から補正する補正手段と、
    前記補正手段による補正後の各画素の露光量に基づき、各画素について、露光する副画素と露光しない副画素を決定する決定手段と、
    前記決定手段が決定した各画素についての露光する画素と露光しない副画素を示す情報を前記画像形成装置に出力する出力手段と、
    各露光量それぞれに対応して設けられた連続する所定数の画素の露光パターンであって、前記連続する所定数の画素それぞれの露光量は同じであり、かつ、対応する露光量に等しい、前記露光パターンを記憶する記憶手段と、
    を備えており、
    前記決定手段は、同じ第１露光量の画素が前記所定数以上連続する場合、当該所定数以上連続する画素については前記記憶手段が記憶する、前記第１露光量に対応して設けられた露光パターンを使用することで、当該所定数の画素それぞれの露光する副画素と露光しない副画素を決定し、
    前記記憶手段が記憶する露光パターンにおいて、露光しない副画素の間隔は一定ではないことを特徴とする画像処理装置。
13. コンピュータを請求項１２に記載の画像処理装置として機能させることを特徴とするプログラム。

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