JP6651342B2 - Ｘ線診断装置およびｘ線ｃｔ装置 - Google Patents

Description

本発明の実施形態は、Ｘ線診断装置およびＸ線ＣＴ装置に関する。

Ｘ線診断装置では、Ｘ線管から照射されたＸ線をＸ線検出器で検出して、投影データを出力する。投影データは、例えば、Ｘ線検出器の素子の動作不良に起因して、欠陥画素を有する場合がある。この欠陥画素に対して、適切な処理を行わないと、Ｘ線画像にアーチファクトが現れてしまう。Ｘ線画像に現れるアーチファクトは、読影の妨げになるため、その発生を抑制するか、あるいは、Ｘ線画像を補正する必要がある。

従来のＸ線診断装置では、投影データの画素値において、周囲の画素値と比較して、画素値が極端に異なる画素を欠陥画素と識別し、その画素を周囲の画素値を用いて求められる画素値で置き換えていた。

特許第５５２６０６２号

本発明が解決しようとする課題は、欠陥画素を識別することが容易なＸ線診断装置およびＸ線ＣＴ装置を提供すること。

上記課題を解決するために、本実施形態に係るＸ線診断装置は、Ｘ線管とＸ線検出器と画像生成部と画像処理部とを備える。Ｘ線管は、被検体に対して複数の位置からＸ線を照射する。Ｘ線検出器は、照射されたＸ線を検出する。画像生成部は、Ｘ線検出器により検出されたＸ線に基づいて、複数の位置に対応する複数の投影データを生成する。画像処理部は、投影データに対して画像処理を行い、複数の投影データのそれぞれに対して、ノイズ均一化処理を施したノイズ均一化データを求め、ノイズ均一化データに基づく画像データに閾値処理を施して欠陥画素を抽出する。前記画像処理部は、所定数以上の複数の前記ノイズ均一化データに基づく画像データに亘って、同じ座標の画素値が前記閾値処理において閾値から外れた場合に、前記座標に位置する画素を欠陥画素として抽出する。

また、本実施形態の変形例に係るＸ線ＣＴ装置は、Ｘ線管とＸ線検出器と画像生成部と画像処理部とを備える。Ｘ線管は、被検体に対して複数の位置からＸ線を照射する。Ｘ線検出器は、照射されたＸ線を検出する。データ収集部は、Ｘ線検出器により検出されたＸ線に基づいて、複数の位置に対応する複数の投影データを生成する。画像処理部は、投影データに対して画像処理を行い、複数の投影データのそれぞれに対して、ノイズ均一化処理を施したノイズ均一化データを求め、ノイズ均一化データに基づく画像データに閾値処理を施して欠陥画素を抽出する。前記画像処理部は、所定数以上の複数の前記ノイズ均一化データに基づく画像データに亘って、同じ座標の画素値が前記閾値処理において閾値から外れた場合に、前記座標に位置する画素を欠陥画素として抽出する。

実施形態に係る、Ｘ線診断装置の構成を示す図。 実施形態に係る、Ｘ線管がＸ線を照射する位置を変えて被検体を撮影する様子を示す図。 実施形態に係る、ノイズ均一化機能における入力画素値と出力画素値との関係を示す図。 実施形態に係る、Ｘ線管がＸ線を照射する位置を変えて被検体を撮影した時の投影データを示す図。 実施形態に係る、異なる複数の位置から被検体を撮影した時の複数の差分画像を示す図。 実施形態に係る、補正機能が欠陥画素を補正する前の投影データと、補正機能が欠陥画素を補正した後の投影データとシミュレーションした結果を示す図。 実施形態に係る、複数の異なる位置で被検体にＸ線を照射して得られる複数の投影データを用いて、投影データに含まれる欠陥画素を抽出、補正する流れを示すフローチャート。 実施形態の変形例２に係る、Ｘ線ＣＴ装置の構成を示す図。

以下、図面を参照しながら実施形態に係るＸ線診断装置１及びＸ線ＣＴ装置２について説明する。なお、以下の説明において、略同一の機能及び構成を有する構成要素については、同一符号を付し、重複する説明は必要な場合において行う。また、実施形態の説明においては、Ｘ線診断装置を基本として説明し、実施形態の変形例において、Ｘ線ＣＴ装置について言及する。

図１は、Ｘ線診断装置１の構成を示す図である。Ｘ線診断装置１は、例えば、***を撮影するマンモグラフィ装置や、撮影中の被検体のＸ線画像を即時的に表示するＸ線ＴＶ装置、血管領域を観察するＸ線アンギオグラフィ装置である。

以下、Ｘ線診断装置１を、マンモグラフィ装置の構成を例にとって、具体的に説明する。

Ｘ線診断装置１は、Ｘ線を被検体に照射し、被検体を透過したＸ線をＸ線検出器で検出する。Ｘ線診断装置１は、Ｘ線を発生するＸ線管７と、Ｘ線管７がＸ線を発生させるのに必要な高電圧を供給する高電圧発生器８と、Ｘ線を検出するＸ線検出器１０とを備える。Ｘ線管７は、Ｘ線管支持機構４によって支持される。載置台９は、載置台支持機構３によって支持される。

また、Ｘ線診断装置１は、操作者からの入力を受け付ける入力インターフェイス回路２５と、撮影条件や撮影したＸ線画像などを記憶する記憶回路２６と、Ｘ線画像などを表示するディスプレイ２７と、Ｘ線診断装置１の外部の装置と情報をやりとりするためのネットワークインターフェイス回路２８と、を備える。

さらに、Ｘ線診断装置１は、高電圧発生器８による高電圧発生を制御するＸ線制御回路６と、載置台支持機構３やＸ線管支持機構４の動きを制御する駆動制御回路３１と、画像生成や画像処理を行う処理回路４０と、を備える。Ｘ線制御回路６と駆動制御回路３１は、入力インターフェイス回路２５やネットワークインターフェイス回路２８などから与えられる撮影条件に基づいてそれぞれの制御対象を制御する。なお、Ｘ線制御回路６や駆動制御回路３１、処理回路４０、画像生成回路４１、画像処理回路４２は、プロセッサである。

「プロセッサ」とは、例えば、CPU（Central Processing Unit）やGPU（Graphics Processing Unit）、特定用途向け集積回路（Application Specific Integrated Circuit：ASIC）、プログラマブル論理デバイス（例えば、単純プログラマブル論理デバイス（Simple Programmable Logic Device：SPLD）、複合プログラマブル論理デバイス（Complex Programmable Logic Device：CPLD）、フィールドプログラマブルゲートアレイ（Field Programmable Gate Array：FPGA））等の回路を意味する。プロセッサは、プロセッサの回路内に組み込まれた記憶領域または記憶回路２６からプログラムを読みだして実行することで機能を実現する。以下、本実施形態や変形例の記載で、プロセッサという文言を用いる場合は、同様な定義に基づくものとする。また、プロセッサとして例示する回路は、プロセッサごとに単一の回路として構成される場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて１つのプロセッサとして構成し、その機能を実現するようにしてもよいものとする。

Ｘ線検出器１０は、例えば、検出素子を二次元状に多数配置したＦＰＤ（Flat Panel Detector）である。Ｘ線検出器１０の各検出素子は、Ｘ線管７から発生したＸ線を検出し、検出されたＸ線を電気信号に変換する。各検出素子において発生した電気信号は、図示しないアナログディジタル変換器により、ディジタルデータに変換される。このディジタルデータは、後述する処理回路４０の画像生成回路４１に送られる。

載置台支持機構３は、被検体を載置する載置台９を支持するための支持部材によって構成される。載置台支持機構３は、水平に、あるいは、水平面に対して傾きを有するように、載置台９を支持する。

Ｘ線管支持機構４は、Ｘ線を照射するＸ線管７を支持するための支持部材によって構成される。Ｘ線管支持機構４は、例えば、Ｘ線管支持機構４が、図示しない回転軸周りに回動可能なように構成される。

上述した、載置台支持機構３とＸ線管支持機構４とは、駆動制御回路３１により、動きを制御される。駆動制御回路３１は、Ｘ線管支持機構駆動機能３１１と載置台支持機構駆動機能３１２とを機能として有する。

駆動制御回路３１のＸ線管支持機構駆動機能３１１は、Ｘ線管支持機構４の動きを制御する。例えば、Ｘ線管支持機構駆動機能３１１は、Ｘ線管支持機構４を揺動させる。このとき、Ｘ線管支持機構４が支持するＸ線管７は、回転軸周りの円軌道に沿って移動する。Ｘ線管支持機構駆動機能３１１による制御により、Ｘ線検出器１０に対するＸ線管７の位置が変更される。Ｘ線検出器１０に対するＸ線管７の位置が変更されることにより、載置台９に載置された被検体に対するＸ線管７の位置が変化する。Ｘ線検出器１０に対するＸ線の位置が変更されることにより、Ｘ線検出器１０においてＸ線が入射する方向が変化する。これにより、載置台９に載置された被検体に対して、複数の異なる位置からＸ線を照射することが可能となる。

駆動制御回路３１の載置台支持機構駆動機能３１２は、載置台支持機構３の動きを制御する。載置台支持機構３は、例えば、上下に動いて載置台９の高さを変更したり、載置台９を傾けたりする。

Ｘ線管支持機構駆動機能３１１や載置台支持機構駆動機能３１２が、Ｘ線管支持機構４や載置台支持機構３を駆動させるのに必要な情報は、例えば、Ｘ線管７の移動速度や載置台９の位置である。これらの情報は、記憶回路２６にあらかじめ記憶しておき、入力インターフェイス回路２５を介した操作者による入力操作によって読み出される。あるいは、入力インターフェイス回路２５が、操作者による入力を直接受け付け、受け付けた入力情報がＸ線管支持機構駆動機能３１１や載置台支持機構駆動機能３１２に反映されるように構成してもよい。

Ｘ線制御回路６は、高電圧発生器８を制御して、所定のタイミングでＸ線管７からＸ線を照射させる。Ｘ線制御回路６は、上述した駆動制御回路３１によるＸ線管支持機構４や載置台支持機構３の駆動制御に連動して、Ｘ線管７によるＸ線の照射を所定のタイミングで実行可能なように制御する。例えば、Ｘ線制御回路６は、単位時間あたりのＸ線の照射回数を制御する。Ｘ線管７によって照射されたＸ線をＸ線検出器１０で検出して得られる投影データの個数は、Ｘ線管支持機構駆動機能３１１の定めるＸ線管７の移動速度と、Ｘ線制御回路６の定める単位時間あたりのＸ線の照射回数とによって定められる。なお、取得可能な投影データの個数を定めるのに用いるパラメータは、上述のようなＸ線管７の移動速度と単位時間あたりのＸ線の照射回数との組み合わせ以外にも、任意のパラメータを用いてよい。

上述のように、載置台支持機構３とＸ線管支持機構４とのうちいずれか１つあるいは両方が駆動し、Ｘ線制御回路６が、所定のタイミングでＸ線管７からＸ線を照射するように高電圧発生器８を制御する。これにより、載置台９に載置された被検体に対して異なる複数の位置から、Ｘ線管７がＸ線を照射することが可能である。異なる複数の位置から被検体を撮影することにより、ある１つのＸ線照射方向では観察することができない部位を観察できるようになる。また、異なる複数の位置から被検体を撮影した複数のＸ線画像に画像処理を施して、被検体の任意の断面に係るＸ線画像を作成することも可能である。マンモグラフィ装置におけるこのような撮影方法をトモシンセシスと呼ぶ。

処理回路４０は、画像生成回路４１と画像処理回路４２とを有する。

画像生成回路４１は、Ｘ線検出器１０が出力するディジタルデータに基づいて、投影データを生成する。投影データは、例えば、各画素が１つの画素値を有するＸ線画像の画像データである。投影データの各画素値は、被検体の撮影領域のＸ線透過率を反映したものとなる。なお、画像生成回路４１は、特許請求の範囲における画像生成部の一例である。

図２と図４は、Ｘ線管７が被検体に向けてＸ線を照射する位置と投影データの関係について説明するための図である。

図２は、Ｘ線管７が、Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３の３か所で位置を変えて、被検体を撮影する様子を示す。説明のため、右方向をｘ軸、紙面手前方向をｙ軸にとった。被検体内部に記した星印は、被検体内部における関心のある部位である。この関心のある部位に対して、Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３の３か所でＸ線管７からＸ線が照射されると、関心のある部位に対応する投影像は、それぞれ、Ｘ線検出器１０における、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３の各位置に現れる。

図４は、Ｘ線管７が、図２に示したＴ１、Ｔ２、Ｔ３の３か所で位置を変えて被検体を撮影した場合に得られる、投影データの例を示す。この投影データは、５行５列の合計２５画素を有する画像データである。図２に対応して、行方向をｘ軸、列方向をｙ軸と定める。格子状に示した投影データの図に付した数字は、ｘ軸とｙ軸の各座標の値を示す。Ｘ線管７がＴ１の位置にあって、Ｘ線を照射して得られる関心のある部位の投影像Ｐ１は、図４（ａ）のように、座標（４，３）に位置する。Ｘ線管７がＴ２の位置にあって、Ｘ線を照射して得られる関心のある部位の投影像Ｐ２は、図４（ｂ）のように、座標（３，３）に位置する。Ｘ線管７がＴ３の位置にあって、Ｘ線を照射して得られる関心のある部位の投影像Ｐ３は、図４（ｃ）のように、座標（２，３）に位置する。このように、被検体内部における部位の投影像は、Ｘ線管７がＸ線を照射する位置を変化させると、投影像に対応する座標が変化する。なお、図４で示した投影データはあくまでも例であり、画素数は任意の構成を採用して構わない。

画像生成回路４１が生成する投影データは、被検体にＸ線を照射して本来得られるデータとは異なる不良データを含む場合がある。ここで、不良データが画素値として現れた画素を欠陥画素と呼ぶこととする。欠陥画素は、例えば、Ｘ線検出器１０の検出素子の動作不良に起因して発生する。例えば、***に発生する微小な石灰化組織などは、誤って欠陥画素と認識されるおそれがある。誤って欠陥画素と認識されると、例えば、石灰化組織に起因して得られた投影データにおける画素の画素値は、周囲の画素値に基づいて書き換えられてしまい、石灰化組織の情報が損なわれてしまう。すると、臨床的に有益な情報である病変組織と欠陥画素とを識別することができなくなる。

被検体の内部に存在する部位に対応する投影像は、Ｘ線管７がＸ線を照射する位置が変わると、基本的に投影データ上の位置（座標）が変化する。例えば、Ｘ線の吸収率が高い石灰化組織が被検体内部に存在する場合、石灰化組織に対応する投影像の画素の座標は、Ｘ線管７がＸ線を照射する位置の変化に伴って変化することになる。一方で、欠陥画素は、Ｘ線管７がＸ線を照射する位置によらず、投影データ上の同じ座標に現れる。

画像処理回路４２は、画像生成回路４１が生成する投影データが欠陥画素を有する場合に、被検体の内部に存在する病変組織などと区別して、欠陥画素に対して補正を行う機能を有する。なお、画像処理回路４２は、特許請求の範囲における画像処理部の一例である。

画像処理回路４２は、機能として、ノイズ均一化機能４２１と、フィルタ機能４２２と、欠陥画素抽出機能４２３と、補正機能４２４と、を有する。

ノイズ均一化機能４２１は、画像生成回路４１が生成する投影データに含まれる画素ごとのノイズを均一化する。Ｘ線検出器１０においては、検出する線量によってノイズの大きさは変わる。元の投影データに含まれるノイズは、画素値ごとに大きさが異なるため、後述する閾値処理において効果が上がるように、ノイズ均一化機能４２１が、画素値によらずノイズの影響を一定にするノイズ均一化処理を実行する。

ノイズ均一化機能４２１は、画素値に依存して変化するノイズがいかなる画素値においても略同一のノイズとなる変換を行う。図３は、入力画素値と出力画素値との関係を示す図である。画素値Ｉ１は、ノイズの影響により、変動幅ａ１を有するとする。画素値Ｉ２は、ノイズの影響により、変動幅ａ２を有するとする。この変動幅の違いがノイズの大きさの違いである。図３では、ａ１よりもａ２が大きい。すなわち、画素値Ｉ１に対して、画素値Ｉ２のノイズの大きさが大きい。

図３において、ノイズ均一化機能４２１は、画素値Ｉ１を画素値Ｏ１に、画素値Ｉ２を画素値Ｏ２に変換する。画素値Ｏ１において、ノイズの影響による変動幅はｂ１である。また、画素値Ｏ２において、ノイズの影響による変動幅はｂ２である。ｂ１はｂ２と等しくなる。すなわち、ノイズに起因して、入力画素値ごとに異なっている画素値の変動幅は、出力画素値においては等しくなっている。なお、出力画素値ごとの画素値の変動幅は完全に一致している必要はなく、多少の誤差を許容してもよい。

ノイズ均一化機能４２１が各画素に対して行う変換処理は、例えば、入力画素値と出力画素値とを結びつけるルックアップテーブルを記憶回路２６に記憶させておき、適宜参照して実現することができる。あるいは、ノイズ均一化機能４２１は、画素値の入出力関係を逐次計算するように構成してもよい。なお、ノイズ均一化機能４２１は、Ｘ線検出器１０の収集モードごとに、ノイズ均一化処理における変換処理を変えて実行することも可能である。ここで、収集モードとは、例えば、１画素として収集する画素数や、感度設定などの組み合わせ等によって決定されるモードである。例えば、ノイズ均一化機能４２１は、透視又は撮影、視野サイズ、画像解像度設定などの情報に基づいて収集モードを判定してノイズ均一化処理を実行する。

ノイズ均一化機能４２１が投影データを用いて生成する、すべての画素値においてノイズの影響が略等しくなる画像データをノイズ均一化データと呼ぶこととする。投影データとノイズ均一化データのそれぞれが有する画素の座標は対応している。

フィルタ機能４２２は、ノイズ均一化データに含まれる、欠陥画素の候補となりうる画素をフィルタ処理によって除去する。フィルタ機能４２２は、フィルタ処理を行うために、例えば、メディアンフィルタを使用する。メディアンフィルタは、注目画素の画素値を、その注目画素、およびその注目画素の近傍に存在する画素群の画素値の中央値で置き換える処理を行うものである。例えば、フィルタサイズが３画素×３画素のメディアンフィルタであれば、注目画素と、注目画素に隣接する８画素との合計9画素の画素値の中央値で注目画素の画素値を置き換える。フィルタ機能４２２は、メディアンフィルタに限らず、他のフィルタ手法を実行可能なように構成してもよい。例えば、モルフォロジー演算を用いたフィルタ処理も可能である。モルフォロジー演算は、注目画素の画素値を、その注目画素の近傍に存在する画素群の画素値の最大値で置き換える膨張処理と、その注目画素の近傍に存在する画素群の画素値の最小値で置き換える収縮処理とで構成される。モルフォロジー演算を用いたフィルタ処理は、膨張処理と収縮処理との組み合わせで実現できる。さらに例えば、フィルタ機能４２２は、ローパスフィルタを用いたフィルタ処理を行ってもよい。ローパスフィルタは、画像の高周波成分を除去する働きを持つ。ノイズは画像の高周波成分に含まれるため、ローパスフィルタによってフィルタ処理される。フィルタ機能４２２によって、欠陥画素の候補となりうる画素に対してフィルタ処理が行われた画像データを、フィルタ処理済みデータと呼ぶこととする。なお、ノイズ均一化データとフィルタ処理済みデータのそれぞれが有する画素の座標は対応している。

欠陥画素抽出機能４２３は、投影データの中から欠陥画素を抽出する。まず、欠陥画素抽出機能４２３は、ノイズ均一化データとフィルタ処理済みデータとの差分画像を作成する。この差分画像は、フィルタ機能４２２によって除去された、欠陥画素の候補となりうる画素を含む画像データである。次に、欠陥画素抽出機能４２３は、閾値と差分画像の各画素の画素値とを比較して、差分画像において、閾値によって定められた範囲から外れた画素値を有する画素を、欠陥画素の候補とする。この閾値は、例えば、管電圧や管電流、管電流と撮影時間の積でＸ線量を表すｍＡｓ値などの撮影条件に基づいて定めることが可能である。また、撮影条件が変化する度に閾値が変更されるように構成してもよい。この閾値は、例えば、１つだけ設定することによって、閾値を上回る、あるいは閾値を下回る画素値を有する画素を欠陥画素の候補とすることができる。また、例えば、上限の閾値と下限の閾値とを設定し、上限の閾値を上回る画素値および下限の閾値を下回る画素値を有する画素を欠陥画素の候補とすることができる。この閾値は、例えば、記憶回路２６にあらかじめ記憶させておいてもよいし、入力インターフェイス回路２５が操作者による入力を受け付けることによって設定してもよい。また、この閾値は、例えば、元の投影データにおいて極端に高い、または、極端に低い画素値を示す画素を抽出するための閾値設定をする必要はない。画素値の閾値は、通常のＸ線画像の撮影で生じうる画素値のゆらぎ以上に、ノイズ均一化データとフィルタ処理済みデータとの間で画素値の変化が見られる画素を、差分画像から抽出できる程度に設定する。

さて、Ｘ線診断装置１が、異なる複数の位置から被検体を撮影することが可能であることは先述の通りであるが、ここでＮ個の投影データが取得されたとする。このＮ個の投影データは、互いに異なる複数の位置から被検体を撮影して得られる画像データである。

欠陥画素抽出機能４２３は、Ｎ個の投影データそれぞれに対して、ノイズ均一化データとフィルタ処理済みデータとの差分画像を作成し、欠陥画素の候補となる画素を選び出す。そして、欠陥画素の候補となる画素が、Ｎ個の差分画像のうち所定のＭ個以上の差分画像において、同じ座標に現れる場合に、その座標の画素は欠陥画素として抽出される。欠陥画素抽出機能４２３が欠陥画素を抽出する手順を具体的に説明するため、図５に、異なる複数の位置から被検体を撮影した時に得られる複数の差分画像を示した。図５では、すべての差分画像の個数Ｎを３、欠陥画素として抽出するか判断するための所定の差分画像の個数Ｍを３、として説明する。図５の（ａ）、（ｂ）、（ｃ）の各差分画像は、例えば図２に示した、Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３の３か所でＸ線管７からＸ線を照射して得られる投影データに基づく画像データである。図５において、斜線を付した画素と黒く塗りつぶした画素は、欠陥画素抽出機能４２３によって、欠陥画素の候補として選び出された画素である。図５の（ａ）では、座標（２，２）、（２，３）、（３，３）の画素が欠陥画素の候補である。図５の（ｂ）では、座標（２，２）、（２，３）の画素が欠陥画素の候補である。図５の（ｃ）では、座標（２，２）、（３，４）、（４，２）の画素が欠陥画素の候補である。図５（ａ）、（ｂ）、（ｃ）の３個の差分画像において、座標別に欠陥画素の候補として挙げられた回数を数えると、座標（２，２）で２回、座標（２，３）で３回、座標（３，３）で１回、座標（３，４）で１回、座標（４，２）で１回となっている。さて、欠陥画素として抽出するか判断するための所定の差分画像の個数Ｍの値は３と定めているので、欠陥画素の候補である画素のうち、欠陥画素と抽出されるのは、座標（２，３）の画素である。欠陥画素抽出機能４２３は、抽出した欠陥画素の座標情報を記憶回路２６やネットワークインターフェイス回路２８を介した外部装置に記憶させる。

なお、図５において説明のために定めたＮとＭの値はあくまで例であり、任意の値を設定して構わない。また、ＮとＭの値は、記憶回路２６やネットワークインターフェイス回路２８を介した外部装置にあらかじめ記憶させていてもよいし、入力インターフェイス回路２５を介して操作者が直接入力して設定してもよい。また、Ｍの値は、固定値を設定することに限らず、投影データの個数Ｎに応じて変化する値を設定してもよい。例えば、Ｍの値は、Ｎに対する割合（パーセント）で設定する。

補正機能４２４は、欠陥画素抽出機能４２３が抽出した欠陥画素の座標情報に基づき、画像生成回路４１が生成した元の投影データに対して欠陥画素の補正を行う。補正機能４２４は、投影データにおける欠陥画素の画素値を、欠陥画素の上下左右で隣接する４つの画素の画素値の平均値で置き換える。これにより、欠陥画素の補正が完了する。欠陥画素の補正が行われた投影データを、補正データと呼ぶこととする。投影データと補正データのそれぞれが有する画素の座標は対応している。なお、補正機能４２４が投影データの欠陥画素を補正する方法は、欠陥画素の上下左右で隣接する４つの画素の画素値の平均値で置き換えることに限らない。例えば、バイキュービック法を用いて、欠陥画素を補正してもよい。

図６は、補正機能４２４が欠陥画素を補正する前の投影データ（図６（ａ））と、補正機能４２４が欠陥画素を補正した後の投影データ（図６（ｂ））とをシミュレーションして得た結果を示す。図６に示す投影データは、Ｘ線管７が横方向に移動しながら撮影した複数の画像データを重ね合わせたデータである。図６（ａ）の補正する前の投影データには、下部に、横一直線の数本の筋が現れている。これは、ＦＰＤのある列の検出素子が、一度に欠陥画素を出力する場合に現れるアーチファクトである。また、投影データの中心付近には、点列を有するもう一つのアーチファクトが存在する。このアーチファクトは、ＦＰＤのある１か所の検出素子が欠陥画素を出力する場合に現れる。図６（ｂ）に示すように、補正機能４２４によって補正されて得られる補正データにはアーチファクトが存在せず、読影の妨げるものがない。

上記では、欠陥画素抽出機能４２３は、抽出した欠陥画素の座標情報を記憶回路２６やネットワークインターフェイス回路２８を介した外部装置に記憶させることを説明した。記憶された欠陥画素の座標情報は、例えば、新たにＸ線撮影時を行う場合においても読み出すことが可能である。例えば、Ｘ線撮影時において、既に欠陥画素の座標情報を抽出済みのＸ線検出器１０を使用する場合、欠陥画素抽出機能４２３による欠陥画素の抽出のステップを踏まずに、補正機能４２４によって直ちに欠陥画素の補正を行うことが可能である。

欠陥画素抽出機能４２３による欠陥画素の座標情報の取得から、所定期間が経過した場合には、例えば、後述するディスプレイ２７に欠陥画素の座標情報を再度取得することを促すメッセージを表示するようにしてもよい。これにより、欠陥画素の座標や数が経時変化した場合に対処することができる。また、操作者が欠陥画素の座標情報の更新が必要であることを認識することができる。

欠陥画素抽出機能４２３による欠陥画素の座標情報の取得から、所定期間が経過した場合には、さらに例えば、被検体に対して複数の異なる位置からＸ線撮影を行う際に、自動的に、欠陥画素の座標情報の更新を行うようにしてもよい。これにより、操作者が意識せずとも、欠陥画素の座標や数が経時変化した場合に対処することができる。

ディスプレイ２７は、例えば、液晶ディスプレイやＬＥＤ（Light Emitting Diode）ディスプレイによって構成される。ディスプレイ２７は、例えば、投影データや補正データなどの画像データを表示する。また、ディスプレイ２７は、タッチパネルとして構成することも可能であり、入力インターフェイス回路２５の構成を兼ね備えることができる。なお、ディスプレイ２７は、特許請求の範囲における表示部の一例である。

ディスプレイ２７は、欠陥画素の情報を表示してもよい。欠陥画素の情報とは、例えば、欠陥画素抽出機能４２３によって抽出した欠陥画素の座標情報である。欠陥画素の座標情報は、元の投影データ、あるいは補正データに重畳させて表示させてもよい。欠陥画素の座標情報は、例えば、数値で示してもよいし、画像データ上に図形を記して示してもよい。また、ディスプレイ２７は、投影データに欠陥画素が含まれていた場合に、メッセージを表示するように構成してもよい。例えば、「注意」、「警告」、「使用不可」の３つのメッセージを、欠陥画素の個数と対応付けて記憶回路２６に記憶させる。例えば、欠陥画素の個数の閾値ＴＨ１、ＴＨ２を設ける。ただし、０＜ＴＨ１＜ＴＨ２とする。欠陥画素の個数がＴＨ１を上回るまでは、投影データ上に欠陥画素が存在することを操作者に認識させるために、「注意」のメッセージを表示する。そして、欠陥画素の個数がＴＨ１を上回り、ＴＨ２以下である場合に、欠陥画素によって投影データの信頼性が低くなっていることを操作者に警告するため、「警告」のメッセージを表示する。さらに、欠陥画素の個数がＴＨ２を上回った場合、ＦＰＤの交換あるいは、その他の回路などに異常がないかの点検の必要があることを喚起する、「使用不可」のメッセージを表示する。以上で例示したメッセージ、および欠陥画素の個数の閾値の設定方法はあくまでも例であって、メッセージや閾値の段階を少なく、または多くすることは任意である。

入力インターフェイス回路２５は、例えば、マウス、キーボード、タッチパネル、タッチパッド、トラックボール、ジョイスティック、押しボタン、ダイヤルなどで構成される。入力インターフェイス回路２５は、操作者による入力操作を受け付ける。入力操作に基づいて受け付ける入力情報は、例えば、Ｘ線撮影の開始及び終了の指示や撮影条件である。撮影条件は、例えば、Ｘ線管支持機構４が回転駆動する際に、所定の角度範囲の中でＸ線管７からＸ線を照射させる回数である。また、撮影条件は、例えば、Ｘ線管支持機構４が回転駆動する際の所定の角度範囲や、回転駆動において何度移動するごとにＸ線管７からＸ線を照射させる頻度の情報でもよい。さらに、撮影条件は、例えば、高電圧発生器８からＸ線管７に供給される管電圧や管電流などのＸ線条件、撮影位置でもよい。入力情報は、例えば、記憶回路２６に記憶されてもよいし、各構成における処理に必要な情報として、直接、Ｘ線診断装置１の各構成に渡されてもよい。

記憶回路２６は、磁気ディスク（例えば、ハードディスク）やフラッシュメモリ（例えば、ソリッドステートドライブ、ＵＳＢメモリ、メモリカード）、そして光学ディスク（例えば、ＣＤ、ＤＶＤ）に情報の読み書きを行う回路などで構成される。また、記憶回路２６は、内部回路で接続される形態によらず、図示しないＵＳＢポートや、ネットワークインターフェイス回路２８を経由して接続される、外付けの形態をとってもよい。

ネットワークインターフェイス回路２８は、ネットワークを介して、図示しない病院情報システム（Hospital Information System：HIS）や放射線科情報システム（Radiology Information System：RIS）などから、例えば撮影条件などを取得するために用いられる。また、Ｘ線診断装置１で撮影したＸ線画像を画像保存通信システム（Picture Archiving and Communication System：PACS）に保存したり、あるいは、PACSから画像データを取得するのに用いたりすることが可能である。

図７は、複数の異なる位置で被検体にＸ線を照射して得られる複数の投影データを用いて、投影データに含まれる欠陥画素を抽出、補正する流れを示すフローチャートである。

［ステップＳ１］Ｘ線診断装置１が、入力インターフェイス回路２５を介して、載置台９に載置された被検体の撮影開始の指示を受け付ける。

［ステップＳ２］駆動制御回路３１のＸ線管支持機構駆動機能３１１と載置台支持機構駆動機能３１２とが、撮影条件に基づいて、Ｘ線管支持機構４と載置台支持機構３とを駆動させ、Ｘ線管７が被検体に対して所定の位置からＸ線を照射可能な状態とする。撮影条件は、入力インターフェイス回路２５やネットワークインターフェイス回路２８を介して受け付けられて、あらかじめ記憶回路２６に記憶された情報を読み出して設定する。

［ステップＳ３］Ｘ線制御回路６が、撮影条件に基づいて高電圧発生器８を制御し、Ｘ線管７に管電圧と管電流とを供給する。Ｘ線管７は、被検体に向けてＸ線を照射する。

［ステップＳ４］Ｘ線検出器１０がＸ線を検出し、検出した電気信号をディジタルデータに変換して出力する。出力されたディジタルデータに基づいて、画像生成回路４１が投影データを生成する。

［ステップＳ５］撮影条件として与えられた、Ｘ線管７がＸ線を照射する位置すべてにおいて、Ｘ線の照射が完了していればステップＳ６に進む。一方、Ｘ線管７がＸ線を照射していない位置がまだ残っている場合は、ステップＳ２に戻る。

［ステップＳ６］画像処理回路４２のノイズ均一化機能４２１が、投影データに含まれるノイズを均一化し、ノイズ均一化データを生成する。

［ステップＳ７］画像処理回路４２のフィルタ機能４２２が、ノイズ均一化データに含まれる、欠陥画素の候補となりうる画素をフィルタ処理によって除去し、フィルタ処理済みデータを生成する。

［ステップＳ８］画像処理回路４２の欠陥画素抽出機能４２３が、ノイズ均一化データとフィルタ処理済みデータとの差分画像を作成する。

［ステップＳ９］欠陥画素抽出機能４２３は、差分画像に対して閾値処理を施し、欠陥画素の候補となる画素を選び出す。

［ステップＳ１０］欠陥画素抽出機能４２３は、欠陥画素の候補となる画素の中から、欠陥画素を抽出する。複数の異なる位置で撮影された複数の差分画像のうち、欠陥画素の候補となる画素が、所定の個数以上の差分画像において同じ座標に現れた場合、欠陥画素抽出機能４２３によって、その座標の画素は欠陥画素として抽出される。

［ステップＳ１１］欠陥画素が欠陥画素抽出機能４２３によって抽出された場合は、ステップＳ１２に進み、抽出されなかった場合は、フローが終了する。

［ステップＳ１２］欠陥画素抽出機能４２３は、抽出した欠陥画素の座標情報を記憶回路２６に記憶する。抽出した欠陥画素の座標情報や注意を促すメッセージをディスプレイ２７に表示する場合は、このステップにおいて表示する。

［ステップＳ１３］画像処理回路４２の補正機能４２４は、欠陥画素の座標情報を記憶回路２６から読み出して、投影データにおける欠陥画素を補正する。これにより欠陥画素の補正のフローが終了する。

上述した通り、本実施形態に係るＸ線診断装置１によれば、被検体に対して複数の異なる位置からＸ線を照射して得られる複数の投影データから、欠陥画素に起因するノイズを含む様々なノイズ成分を有する差分画像を取得する。そして、所定数以上の差分画像にわたって、同じ座標の画素値が所定の閾値から外れた場合に、前記座標に位置する画素を欠陥画素として抽出する。抽出された欠陥画素の座標情報に基づいて、投影データの欠陥画素は補正される。

複数の投影データを用いることにより、Ｘ線管７がＸ線を照射する位置によらず投影データ上の同じ座標に現れる欠陥画素の特性が利用できるので、被検体内部に発生した微小な石灰化組織のように、周囲の画素に比べて比較的高い画素値を有する画素を誤って欠陥画素と識別してしまうおそれがない。

また、欠陥画素が、極端に高い画素値または極端に低い画素値を示さない場合は、従来手法のように、投影データの各画素値に対して閾値処理を施すことは、欠陥画素の抽出に有効でない。一方で、本実施形態に係るＸ線診断装置１は、欠陥画素の候補となりうる画素を有する差分画像を、投影データに基づいて生成した、ノイズ均一化データとフィルタ処理済みデータとを用いて作成している。また、差分画像に閾値処理を施す際の画素値の閾値は、通常のＸ線画像の撮影で生じうる画素値のゆらぎ以上に、ノイズ均一化データとフィルタ処理済みデータとの間で画素値の変化が見られる画素を、差分画像から抽出できる程度に設定している。したがって、欠陥画素が投影データ上で、極端に高い画素値または極端に低い画素値を示していなくとも、欠陥画素の識別が容易である。

さらに、本実施形態に係るＸ線診断装置１によれば、ディスプレイ２７が、欠陥画素抽出機能４２３が抽出した欠陥画素の座標情報を表示する。これにより、例えば、操作者がＸ線画像を読影する際に、信頼性が低くなっている欠陥画素がどこに分布しているかを容易に把握することが可能である。また、欠陥画素の個数に応じて、ディスプレイ２７は、注意や警告を促すメッセージを表示することが可能である。これにより、操作者は、例えば、ＦＰＤの交換や装置の修理の必要性を容易に把握することができる。

なお、以上では、Ｘ線診断装置１として、マンモグラフィ装置を例にとって説明したが、Ｘ線アンギオグラフィ装置やＸ線ＴＶ装置であってもよい。Ｘ線アンギオグラフィ装置やＸ線ＴＶ装置では、マンモグラフィ装置における載置台９を寝台に置き換えることにより、本実施形態と同様な構成を得ることができる。また、マンモグラフィ装置におけるＸ線管７は、Ｘ線管支持機構４に支持されて回転軸周りに揺動させる構成を示したが、Ｘ線ＴＶにおいては、Ｘ線管７が寝台あるいは被検体に対して平行移動することによって、複数の異なる位置における投影データを取得する構成となる。

次に、本実施形態の変形例について説明する。なお、以下の説明において、本実施形態と略同一の機能を有する構成要素については、同一符号を付し、必要な場合にのみ重複説明する。

（変形例１）
上述の実施形態の通り、欠陥画素抽出機能４２３は、Ｎ個の差分画像のうち、所定のＭ個以上の差分画像において、欠陥画素の候補となる画素が同じ座標に現れることを欠陥画素であるかの判断基準としていた。一方、変形例１に係る欠陥画素抽出機能４２３は、Ｎ個の差分画像の画素値を各画素で加算して得られる加算画像を用いて、欠陥画素であるかを判定する。

まず、欠陥画素抽出機能４２３は、ノイズ均一化データとフィルタ処理済みデータとを用いて求めたＮ個の差分画像の画素値を画素ごとに加算し、加算画像を作成する。次に、欠陥画素抽出機能４２３は、加算画像の各画素の画素値に対して閾値処理を施す。閾値の設定方法は、上述の実施形態と同様に、例えば、管電圧や管電流、管電流と撮影時間の積でＸ線量を表すｍＡｓ値などの撮影条件に基づいて定めることが可能である。また、撮影条件が変化する度に閾値が変更されるように構成してもよい。そして、欠陥画素抽出機能４２３は、閾値処理によって欠陥画素に相当すると判断された画素を欠陥画素であると判断する。欠陥画素は、座標の位置が変化しないので、加算画像において、欠陥画素ではない画素と比較して、加算された画素値の値が大きくなる。したがって、加算画像の画素値に対する閾値処理によって、欠陥画素の抽出が可能となる。欠陥画素抽出機能４２３は、抽出した欠陥画素の座標情報を、記憶回路２６やネットワークインターフェイス回路２８を介した外部装置に記憶させる。

変形例１に係るＸ線診断装置１によれば、欠陥画素抽出機能４２３が、複数の差分画像を画素ごとに画素値を加算して得られる加算画像を作成する。そして、加算画像に対して閾値処理を施し、欠陥画素を抽出する。これにより、個々の差分画像で欠陥画素の候補を抽出することなく、加算画像上で欠陥画素を一度に抽出することができる。

（変形例２）
上述の実施形態の通り、Ｘ線診断装置１は、被検体の内部に存在する部位の投影像に対応する投影データ上の座標が、Ｘ線管７がＸ線を照射する位置が変わるとともに変化する、という特性を利用していた。しかしながら、例えば、Ｘ線管７がＸ線管支持機構４によって支持されて回転駆動する際、撮影を行う部位が回転駆動の回転中心に位置していると、被検体の内部に存在する部位に対応する投影像の投影データ上の座標が変化しない場合がある。被検体を載置台９に載置する場合に、回転中心を避けるように被検体の位置を設定することが好適であるが、回転中心付近に位置する被検体の部位の投影像の画素が、誤って欠陥画素として抽出されるのを低減することもできる。

変形例２に係るＸ線診断装置１の画像処理回路４２の欠陥画素抽出機能４２３は、欠陥画素の候補となる画素を差分画像から選び出す際の閾値設定を、座標によって変化させる。例えば、被検体が、Ｘ線管７の回転中心に位置する場合を考える。この時、被検体の内部に存在する部位の投影像は、Ｘ線検出器１０の略中心に投影される。したがって、Ｘ線検出器１０の中心近くの検出素子に対応する投影データの画素が、誤って欠陥画素と認識される可能性が高い。

欠陥画素抽出機能４２３は、差分画像に関して、Ｘ線検出器１０の中心付近における検出素子に対応する座標の画素に対しては、周辺の画素よりも、欠陥画素の候補として選出する基準を厳しく設定する。基準を厳しく設定するとは、例えば、画素値の閾値の上限をより高くすること、または、画素値の閾値の下限をより低く設定することである。座標ごとに画素値の閾値を異ならせる場合、例えば、Ｘ線検出器１０の中心に対応する座標から遠ざかるにつれて、欠陥画素の候補として選出する基準が緩められるように画素値の閾値を設定することが可能である。また、例えば、Ｘ線検出器１０の中心近傍の座標に対応する画素に対してのみ、欠陥画素の候補として選出する基準を厳しくし、その他周辺の座標の画素に対しては、一様な画素値の閾値を設定してもよい。

変形例２に係るＸ線診断装置１によれば、欠陥画素抽出機能４２３が差分画像から欠陥画素の候補となる画素を抽出する際に、Ｘ線管７の回転中心付近に位置する被検体の部位の投影像に対応する座標の画素値の閾値を周辺よりも厳しく設定する。これにより、差分画像上で、被検体の部位の投影像に対応する画素が、誤って欠陥画素として抽出されるのを低減することができる。

続いて、本実施形態の別の変形例について説明する。

（変形例３）
上述の実施形態、および変形例１と２では、Ｘ線診断装置１について説明した。しかしながら、欠陥画素を抽出し、補正する機能は、Ｘ線診断装置１に限らず、被検体の周囲でＸ線を照射して得られる投影データを再構成してＸ線ＣＴ画像を生成するＸ線ＣＴ装置２においても実現することができる。

図８は、変形例３にかかるＸ線ＣＴ装置２の構成を示す図である。上述した実施形態におけるＸ線診断装置１と異なる構成について以下で説明する。

Ｘ線管支持機構４は、Ｘ線管７とＸ線検出器１０とを支持する支持部材である。また、Ｘ線管支持機構４は、載置台９の周囲で回転駆動可能なように構成され、駆動制御回路３１のＸ線管支持機構駆動機能３１１による制御によって、回転速度が設定される。回転速度は、例えば、撮影条件として、入力インターフェイス回路２５やネットワークインターフェイス回路２８を介して受け付けられて、あらかじめ記憶回路２６に記憶された情報を読み出して設定する。

載置台支持機構３は、載置台９を、例えば垂直方向に移動させたり、円環状のＸ線管支持機構４の空洞部への挿入、および、空洞部からの取り出しを行なうために水平方向に移動させたりすることが可能である。

データ収集回路４４は、Ｘ線検出器１０から出力されるディジタルデータに基づいて、ある角度方向で照射するＸ線のレイを束ねたビューごとに、投影データを生成する。なお、データ収集回路４４は、特許請求の範囲におけるデータ収集部の一例である。投影データは、例えば、Ｘ線検出器１０の各検出素子に対応付けられたＣＴ値を画素に割り当てたデータである。既に説明したＸ線診断装置１においては、図７のステップＳ４で、画像生成回路４１が投影データを生成したが、Ｘ線ＣＴ装置２では、データ収集回路４４が、投影データを生成する。Ｘ線ＣＴ装置２における投影データは、Ｘ線検出器１０の各検出素子で受信されたＸ線の強度データを、各検出素子の位置に対応付け、二次元状に配列したデータである。Ｘ線ＣＴ装置２における後述の画像処理回路４２は、データ収集回路４４が生成する投影データに対してノイズ均一化処理を施し、生成されるノイズ均一化データに基づく画像データに閾値処理を施すことによって、投影データから欠陥画素を抽出することが可能となる。

画像処理回路４２は、複数のビューの投影データを取得し、上述した実施形態におけるＸ線診断装置１と同様に、投影データ上に含まれる欠陥画素を抽出し、補正する。

処理回路４０の再構成回路４３は、データ収集回路４４から出力される複数のビューの投影データを用いて画像再構成を行い、再構成画像を生成する。ここで、複数の投影データは、Ｘ線管７がＸ線管支持機構４の円周に沿った回転軌道のうち、１８０度とＸ線管７のファン角とを足し合わせた角度以上の角度範囲でＸ線を照射して得られるデータである。再構成回路４３は、画像処理回路４２によって欠陥画素が補正された投影データを用いて、再構成画像を生成することが可能である。

ディスプレイ２７は、例えば、再構成回路４３で生成された再構成画像を表示する。

変形例２に係るＸ線ＣＴ装置２によれば、Ｘ線診断装置１と同様にして、投影データに含まれる欠陥画素の抽出、および補正が可能である。これにより、再構成回路４３は、欠陥画素の影響が低減された投影データに基づいて、再構成画像を生成することができる。欠陥画素の影響が低減された投影データに基づいて生成される再構成画像は、アーチファクトの発生が低減された画像となる。

なお、変形例３に係るＸ線ＣＴ装置２において、変形例１や２で説明した構成を適用することも可能である。

以上、本発明の実施形態を説明したが、この実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。この新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。

１ Ｘ線診断装置
２ Ｘ線ＣＴ装置
６ Ｘ線制御回路
７ Ｘ線管
８ 高電圧発生器
９ 載置台
１０ Ｘ線検出器
３１ 駆動制御回路
３１１ Ｘ線管支持機構駆動機能
３１２ 載置台支持機構駆動機能
４０ 処理回路
４１ 画像生成回路
４２ 画像処理回路
４３ 再構成回路
４４ データ収集回路

Claims (9)

1. 被検体に対して複数の位置からＸ線を照射するＸ線管と、
   前記照射されたＸ線を検出するＸ線検出器と、
   前記Ｘ線検出器により検出されたＸ線に基づいて、前記複数の位置に対応する複数の投影データを生成する画像生成部と、
   前記投影データに対して画像処理を行い、前記複数の投影データのそれぞれに対して、ノイズ均一化処理を施したノイズ均一化データを求め、前記ノイズ均一化データに基づく画像データに閾値処理を施して欠陥画素を抽出する画像処理部と、を備え、
   前記画像処理部は、所定数以上の複数の前記ノイズ均一化データに基づく画像データに亘って、同じ座標の画素値が前記閾値処理において閾値から外れた場合に、前記座標に位置する画素を欠陥画素として抽出する、
   Ｘ線診断装置。
2. 被検体に対して複数の位置からＸ線を照射するＸ線管と、
   前記照射されたＸ線を検出するＸ線検出器と、
   前記Ｘ線検出器により検出されたＸ線に基づいて、前記複数の位置に対応する複数の投影データを生成する画像生成部と、
   前記投影データに対して画像処理を行い、前記複数の投影データのそれぞれに対して、ノイズ均一化処理を施したノイズ均一化データを求め、前記ノイズ均一化データに基づく画像データに閾値処理を施して欠陥画素を抽出する画像処理部と、を備え、
   前記画像処理部は、複数の前記ノイズ均一化データに基づく画像データの画素値を画素ごとに加算した加算画像を作成し、前記加算画像の画素値が前記閾値処理において閾値から外れた場合に、前記閾値処理において閾値から外れた画素値を有する前記加算画像の座標に対応する前記投影データ上の画素を欠陥画素として抽出する、
   Ｘ線診断装置。
3. 被検体に対して複数の位置からＸ線を照射するＸ線管と、
   前記照射されたＸ線を検出するＸ線検出器と、
   前記Ｘ線検出器により検出されたＸ線に基づいて、前記複数の位置に対応する複数の投影データを生成する画像生成部と、
   前記投影データに対して画像処理を行い、前記複数の投影データのそれぞれに対して、ノイズ均一化処理を施したノイズ均一化データを求め、前記ノイズ均一化データに基づく画像データに閾値処理を施して欠陥画素を抽出する画像処理部と、を備え、
   前記画像処理部は、前記ノイズ均一化データに基づく画像データを、前記ノイズ均一化データと、前記ノイズ均一化データに対してフィルタ処理を施したフィルタ処理済みデータと、の差分画像を求めることによって生成する、
   Ｘ線診断装置。
4. 前記画像処理部は、前記欠陥画素に対して、前記欠陥画素の周囲に位置する画素の画素値を用いて補正を行う、
   請求項１ないし３のうちいずれか１項に記載のＸ線診断装置。
5. 画像データを表示する表示部を備え、
   前記表示部は、前記欠陥画素の座標情報を表示する、
   請求項１ないし３のうちいずれか１項に記載のＸ線診断装置。
6. 画像データを表示する表示部を備え、
   前記表示部は、前記欠陥画素の個数に応じてメッセージを表示する、
   請求項１ないし３のうちいずれか１項に記載のＸ線診断装置。
7. 被検体に対して複数の位置からＸ線を照射するＸ線管と、
   前記照射されたＸ線を検出するＸ線検出器と、
   前記Ｘ線検出器により検出されたＸ線に基づいて、前記複数の位置に対応する複数の投影データを生成する画像生成部と、
   前記投影データに対して画像処理を行い、前記複数の投影データのそれぞれに対して、ノイズ均一化処理を施したノイズ均一化データを求め、前記ノイズ均一化データに基づく画像データに閾値処理を施して欠陥画素を抽出する画像処理部と、を備え、
   前記画像処理部は、前記ノイズ均一化データに基づく画像データに閾値処理を施す場合に用いる所定の閾値を、座標ごとに変えて設定する、
   Ｘ線診断装置。
8. 画像データを表示する表示部を備え、
   前記表示部は、前記欠陥画素が補正された投影データを表示する、
   請求項４に記載のＸ線診断装置。
9. 被検体に対して複数の位置からＸ線を照射するＸ線管と、
   前記照射されたＸ線を検出するＸ線検出器と、
   前記Ｘ線検出器により検出されたＸ線に基づいて、前記複数の位置に対応する複数の投影データを生成するデータ収集部と、
   前記投影データに対して画像処理を行い、前記複数の投影データのそれぞれに対して、ノイズ均一化処理を施したノイズ均一化データを求め、前記ノイズ均一化データに基づく画像データに閾値処理を施して欠陥画素を抽出する画像処理部と、を備え、
   前記画像処理部は、所定数以上の複数の前記ノイズ均一化データに基づく画像データに亘って、同じ座標の画素値が前記閾値処理において閾値から外れた場合に、前記座標に位置する画素を欠陥画素として抽出する、
   Ｘ線ＣＴ装置。

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