JP6626517B2 - 暗視野および位相コントラストctのための堅牢な再構成 - Google Patents
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- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 34
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 34
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 23
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 16
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 14
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 7
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 claims description 5
- 230000003993 interaction Effects 0.000 claims description 5
- 238000003672 processing method Methods 0.000 claims description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 17
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 7
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 7
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 5
- LFEUVBZXUFMACD-UHFFFAOYSA-H lead(2+);trioxido(oxo)-$l^{5}-arsane Chemical compound [Pb+2].[Pb+2].[Pb+2].[O-][As]([O-])([O-])=O.[O-][As]([O-])([O-])=O LFEUVBZXUFMACD-UHFFFAOYSA-H 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 4
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 4
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 4
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 3
- 238000007476 Maximum Likelihood Methods 0.000 description 2
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 2
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 2
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 2
- 238000003325 tomography Methods 0.000 description 2
- 230000003936 working memory Effects 0.000 description 2
- 238000002940 Newton-Raphson method Methods 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 239000012472 biological sample Substances 0.000 description 1
- 238000002939 conjugate gradient method Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 238000013016 damping Methods 0.000 description 1
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000009472 formulation Methods 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 238000005305 interferometry Methods 0.000 description 1
- 230000000116 mitigating effect Effects 0.000 description 1
- 238000009659 non-destructive testing Methods 0.000 description 1
- 238000009206 nuclear medicine Methods 0.000 description 1
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000013179 statistical model Methods 0.000 description 1
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 description 1
- 230000005469 synchrotron radiation Effects 0.000 description 1
- 230000002195 synergetic effect Effects 0.000 description 1
Images
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T11/00—2D [Two Dimensional] image generation
- G06T11/003—Reconstruction from projections, e.g. tomography
- G06T11/006—Inverse problem, transformation from projection-space into object-space, e.g. transform methods, back-projection, algebraic methods
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- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/42—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4208—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/52—Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/5205—Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis involving processing of raw data to produce diagnostic data
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2211/00—Image generation
- G06T2211/40—Computed tomography
- G06T2211/424—Iterative
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2211/00—Image generation
- G06T2211/40—Computed tomography
- G06T2211/461—Phase contrast imaging or dark field imaging
Landscapes
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- Theoretical Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Algebra (AREA)
- Pure & Applied Mathematics (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Mathematical Optimization (AREA)
- Mathematical Analysis (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Surgery (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Public Health (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Heart & Thoracic Surgery (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Pathology (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
B.Brendelらによる論文"Intensity-Based Iterative Reconstruction for Differential Phase-Contrast Imaging with Reconstruction Parameter Estimation"、13TH INTERNATIONAL MEETING ON FULLY THREE-DIMENSIONAL IMAGE RECONSTRUCTION IN RADIOLOGY AND NUCLEAR MEDICINE、pp.713-716、XP055234160、米国ロードアイランド州ニューポート、2015年5月31日、では、リング・アーチファクトを補償するために、画像再構成パラメータ推定に加えて強度補正因子が推定される方法が提案されている。
・X線検出器によって収集された信号から導出された干渉計投影データを受領するための入力ポートであって、前記信号は、X線放射によって、該X線放射の、干渉計および撮像されるべきオブジェクトとの相互作用後に引き起こされたものであり、前記干渉計は参照位相をもつ、入力ポートと;
・前記オブジェクトの一つまたは複数の物理的属性の空間分布の一つまたは複数の画像を再構成するよう構成された再構成器であって、前記再構成器は、複数の当てはめ変数を適応させることによって前記干渉計投影データを信号モデルに当てはめする〔フィッティングする〕よう構成されており、前記当てはめ変数はi)前記一つまたは複数の画像のための一つまたは複数の撮像変数およびii)前記一つまたは複数の撮像変数に加えて、前記参照位相のゆらぎのための専用の位相変数を含む、再構成器と;
・前記一つまたは複数の画像を出力するための出力ポートとを有する、
システムが提供される。
Claims (13)
- 信号処理システムであって:
・X線検出器によって収集された信号から導出された干渉計投影データを受領するための入力ポートであって、前記信号は、X線放射によって、該X線放射の、干渉計および撮像されるべきオブジェクトとの相互作用後に引き起こされたものであり、前記干渉計は参照位相をもつ、入力ポートと;
・前記オブジェクトの一つまたは複数の物理的属性の空間分布の一つまたは複数の画像を再構成するよう構成された再構成器であって、前記再構成器は、複数の当てはめ変数を適応させることによって前記干渉計投影データを信号モデルに当てはめするよう構成されており、前記当てはめ変数はi)前記一つまたは複数の画像のための一つまたは複数の撮像変数およびii)前記一つまたは複数の撮像変数に加えて、前記参照位相のゆらぎのための専用の位相変数を含む、再構成器と;
・前記一つまたは複数の画像を出力するための出力ポートとを有する、
信号処理システム。 - 前記投影データは、種々の投影方向から収集されたものである、請求項1記載の信号処理システム。
- 前記参照位相ゆらぎは、前記位相変数によって、前記種々の投影方向とは独立な一定のオフセットとして、モデル化される、請求項2記載の信号処理システム。
- 前記参照位相ゆらぎは、前記位相変数によって、前記種々の投影方向に依存する一定でないオフセットとしてモデル化される、請求項2記載の信号処理システム。
- 前記参照位相ゆらぎは、前記位相変数によって、前記X線検出器の検出器要素の位置に依存するようモデル化される、請求項1ないし4のうちいずれか一項記載の信号処理システム。
- 前記検出器要素は単一の検出器ピクセルまたは検出器ピクセルの群である、請求項5記載の信号処理システム。
- 前記位相変数は、前記ゆらぎの時間を追った変化をモデル化する時間依存性を含む、請求項1ないし6のうちいずれか一項記載の信号処理システム。
- ・請求項1ないし7のうちいずれか一項記載の信号処理システムと;
・投影データを提供するための、干渉計およびX線検出器を有するX線イメージャとを有する、
撮像構成。 - 信号処理方法であって:
・検出器によって収集された信号から導出された干渉計投影データを受領する段階であって、前記信号は、放射によって、該放射の、干渉計および撮像されるべきオブジェクトとの相互作用後に引き起こされたものであり、前記干渉計は参照位相をもつ、段階と;
・前記オブジェクトの一つまたは複数の物理的属性の空間分布の一つまたは複数の画像を再構成する段階であって、前記再構成器は、複数の当てはめ変数を適応させることによって前記干渉計投影データを信号モデルに当てはめするよう構成されており、前記当てはめ変数はi)前記一つまたは複数の画像のための一つまたは複数の撮像変数およびii)前記一つまたは複数の撮像変数に加えて、前記参照位相のゆらぎのための専用の位相変数を含む、段階と;
・前記一つまたは複数の画像を出力する段階とを含む、
方法。 - 前記物理的属性は、i)減衰、ii)屈折もしくは電子密度分布またはiii)小角度散乱のうちのいずれか一つまたは複数を含む、請求項1ないし8のうちいずれか一項記載のシステムまたは請求項9記載の方法。
- 干渉計をもつX線イメージャと、請求項1ないし7のうちいずれか一項記載のシステムとを含む撮像構成。
- 処理ユニットによって実行されたときに請求項9または10記載の方法段階を実行するよう適応されている請求項1ないし7のうちいずれか一項記載のシステムを制御するためのコンピュータ・プログラム要素。
- 請求項12のプログラム要素を記憶しているコンピュータ可読媒体。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP15173981 | 2015-06-26 | ||
EP15173981.0 | 2015-06-26 | ||
PCT/EP2016/064799 WO2016207423A1 (en) | 2015-06-26 | 2016-06-27 | Robust reconstruction for dark-field and phase contrast ct |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018524077A JP2018524077A (ja) | 2018-08-30 |
JP6626517B2 true JP6626517B2 (ja) | 2019-12-25 |
Family
ID=53502479
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017566404A Active JP6626517B2 (ja) | 2015-06-26 | 2016-06-27 | 暗視野および位相コントラストctのための堅牢な再構成 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10902648B2 (ja) |
EP (1) | EP3314576B1 (ja) |
JP (1) | JP6626517B2 (ja) |
CN (1) | CN107810524B (ja) |
WO (1) | WO2016207423A1 (ja) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018046600A2 (en) | 2016-09-08 | 2018-03-15 | Koninklijke Philips N.V. | Improved phase-contrast and dark-field ct reconstruction algorithm |
WO2019073760A1 (ja) * | 2017-10-11 | 2019-04-18 | 株式会社島津製作所 | X線位相差撮影システムおよび位相コントラスト画像補正方法 |
EP3498171A1 (en) | 2017-12-15 | 2019-06-19 | Koninklijke Philips N.V. | Single shot x-ray phase-contrast and dark field imaging |
WO2019142451A1 (ja) * | 2018-01-19 | 2019-07-25 | 株式会社島津製作所 | X線イメージング装置 |
CN112424591B (zh) | 2018-06-04 | 2024-05-24 | 斯格瑞公司 | 波长色散x射线光谱仪 |
GB2591630B (en) | 2018-07-26 | 2023-05-24 | Sigray Inc | High brightness x-ray reflection source |
JP6992902B2 (ja) * | 2018-08-24 | 2022-01-13 | 株式会社島津製作所 | X線位相イメージング装置 |
CN112823280A (zh) | 2018-09-07 | 2021-05-18 | 斯格瑞公司 | 用于深度可选x射线分析的***和方法 |
EP3701868A1 (en) * | 2019-02-28 | 2020-09-02 | Koninklijke Philips N.V. | System, method and computer program for acquiring phase imaging data of an object |
JP7182749B2 (ja) | 2019-09-03 | 2022-12-02 | シグレイ、インコーポレイテッド | コンピュータ断層撮影蛍光x線撮像のためのシステムおよび方法 |
US11175243B1 (en) | 2020-02-06 | 2021-11-16 | Sigray, Inc. | X-ray dark-field in-line inspection for semiconductor samples |
CN115667896B (zh) | 2020-05-18 | 2024-06-21 | 斯格瑞公司 | 使用晶体分析器和多个检测元件的x射线吸收光谱的***和方法 |
EP3940647A1 (en) | 2020-07-14 | 2022-01-19 | Koninklijke Philips N.V. | Deep learning for sliding window phase retrieval |
WO2022061347A1 (en) | 2020-09-17 | 2022-03-24 | Sigray, Inc. | System and method using x-rays for depth-resolving metrology and analysis |
WO2022126071A1 (en) | 2020-12-07 | 2022-06-16 | Sigray, Inc. | High throughput 3d x-ray imaging system using a transmission x-ray source |
WO2023177981A1 (en) | 2022-03-15 | 2023-09-21 | Sigray, Inc. | System and method for compact laminography utilizing microfocus transmission x-ray source and variable magnification x-ray detector |
US11885755B2 (en) | 2022-05-02 | 2024-01-30 | Sigray, Inc. | X-ray sequential array wavelength dispersive spectrometer |
Family Cites Families (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4637040A (en) | 1983-07-28 | 1987-01-13 | Elscint, Ltd. | Plural source computerized tomography device with improved resolution |
US7043082B2 (en) * | 2000-01-06 | 2006-05-09 | Canon Kabushiki Kaisha | Demodulation and phase estimation of two-dimensional patterns |
WO2005006962A2 (en) * | 2003-07-18 | 2005-01-27 | Nirx Medical Technologies, L.L.C. | Image enhancement by spatial linear deconvolution |
EP1731099A1 (en) * | 2005-06-06 | 2006-12-13 | Paul Scherrer Institut | Interferometer for quantitative phase contrast imaging and tomography with an incoherent polychromatic x-ray source |
DE102006063048B3 (de) * | 2006-02-01 | 2018-03-29 | Siemens Healthcare Gmbh | Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur zur Erzeugung von Phasenkontrastaufnahmen |
US7889355B2 (en) * | 2007-01-31 | 2011-02-15 | Zygo Corporation | Interferometry for lateral metrology |
WO2009009081A2 (en) * | 2007-07-10 | 2009-01-15 | Massachusetts Institute Of Technology | Tomographic phase microscopy |
US8218152B1 (en) * | 2007-12-04 | 2012-07-10 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Group refractive index reconstruction with broadband interferometric confocal microscopy |
CN101952900B (zh) * | 2008-02-14 | 2013-10-23 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 用于相位对比成像的x射线探测器 |
JP5539307B2 (ja) * | 2008-03-19 | 2014-07-02 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | 位相コントラストイメージングのための回転x線装置 |
JP5606455B2 (ja) * | 2009-02-05 | 2014-10-15 | パウル・シェラー・インスティトゥート | 逆投影のためのイメージング装置及びその作動方法 |
US7949095B2 (en) * | 2009-03-02 | 2011-05-24 | University Of Rochester | Methods and apparatus for differential phase-contrast fan beam CT, cone-beam CT and hybrid cone-beam CT |
WO2011070493A1 (en) * | 2009-12-10 | 2011-06-16 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Apparatus for phase-contrast imaging comprising a displaceable x-ray detector element and method |
WO2011114845A1 (ja) * | 2010-03-18 | 2011-09-22 | コニカミノルタエムジー株式会社 | X線撮影システム |
EP2637557B1 (en) * | 2010-11-11 | 2015-10-14 | The Trustees of Columbia University in the City of New York | Dynamic optical tomographic imaging devices methods and systems |
JP2012143548A (ja) * | 2010-12-21 | 2012-08-02 | Fujifilm Corp | 放射線画像取得方法および放射線画像撮影装置 |
WO2012102887A2 (en) * | 2011-01-24 | 2012-08-02 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Computational adaptive optics for interferometric synthetic aperture microscopy and other interferometric imaging |
JP2013050441A (ja) * | 2011-08-03 | 2013-03-14 | Canon Inc | 波面測定装置、波面測定方法、及びプログラム並びにx線撮像装置 |
US9775575B2 (en) * | 2012-06-27 | 2017-10-03 | Koninklijke Philips N.V. | Dark-field imaging |
AU2012258412A1 (en) * | 2012-11-30 | 2014-06-19 | Canon Kabushiki Kaisha | Combining differential images by inverse Riesz transformation |
AU2012268876A1 (en) * | 2012-12-24 | 2014-07-10 | Canon Kabushiki Kaisha | Non-linear solution for 2D phase shifting |
US9364191B2 (en) * | 2013-02-11 | 2016-06-14 | University Of Rochester | Method and apparatus of spectral differential phase-contrast cone-beam CT and hybrid cone-beam CT |
US9439613B2 (en) | 2013-02-12 | 2016-09-13 | The Johns Hopkins University | System and method for phase-contrast X-ray imaging |
WO2015038793A1 (en) * | 2013-09-12 | 2015-03-19 | The United States Of America, As Represented By The Secretary, Department Of Health & Human Services | Demodulation of intensity modulation in x-ray imaging |
CN104049474B (zh) * | 2014-07-01 | 2015-12-30 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种叠栅条纹相位解析的纳米检焦方法 |
CN107567640B (zh) * | 2015-05-07 | 2022-04-05 | 皇家飞利浦有限公司 | 用于扫描暗场和相位对比成像的射束硬化校正 |
-
2016
- 2016-06-27 JP JP2017566404A patent/JP6626517B2/ja active Active
- 2016-06-27 CN CN201680037546.1A patent/CN107810524B/zh active Active
- 2016-06-27 WO PCT/EP2016/064799 patent/WO2016207423A1/en active Application Filing
- 2016-06-27 EP EP16733441.6A patent/EP3314576B1/en active Active
- 2016-06-27 US US15/736,975 patent/US10902648B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2018524077A (ja) | 2018-08-30 |
CN107810524B (zh) | 2022-05-17 |
WO2016207423A1 (en) | 2016-12-29 |
EP3314576A1 (en) | 2018-05-02 |
CN107810524A (zh) | 2018-03-16 |
US10902648B2 (en) | 2021-01-26 |
EP3314576B1 (en) | 2019-11-27 |
US20180182131A1 (en) | 2018-06-28 |
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