JP6622646B2 - 透明体の欠陥検出方法及び装置 - Google Patents
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Description
6…ガラス板(被検ガラス)
6a…欠陥
8…レンズ(被検レンズ)
20、120…投光部
32、132…レーザ光源
44…ポリゴンミラー
45…扇状走査ビーム
50、150…コリメートレンズ
51…平行走査ビーム
60、160…受光部
62…集光レンズ
64…受光素子
100…ピンゲージ
102…ピンゲージ駆動機構
104…光学素子
110…光学格子
133…扇状光線
151…平行光線
164…イメージセンサ
Claims (10)
- 相対して配設された投光部と受光部の間に検査対象の透明体を配置すると共に、
該透明体と前記受光部の間に遮光物体を配置し、
該遮光物体を寸法測定方向に移動しつつ該遮光物体の寸法を測定し、
該遮光物体の寸法測定値の変化によって前記透明体の欠陥によって生じた光路の変化を検出することにより該透明体の欠陥を検出することを特徴とする透明体の欠陥検出方法。 - 前記投光部がレーザビームを前記遮光物体の寸法測定方向に走査し、前記受光部が、該走査されたレーザビームを集光して検出することにより前記遮光物体の寸法を測定するレーザ走査型寸法測定器を用いることを特徴とする請求項1に記載の透明体の欠陥検出方法。
- 前記投光部が前記遮光物体の寸法測定方向に長い線状光線を投光し、前記受光部が、前記遮光物体の寸法測定方向に長いイメージセンサにより前記線状光線を受光して前記遮光物体の寸法を測定するイメージセンサ型寸法測定器を用いることを特徴とする請求項1に記載の透明体の欠陥検出方法。
- 前記遮光物体をピンゲージとすることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の透明体の欠陥検出方法。
- 前記透明体がレンズであり、該レンズと相補的な断面形状を有する光学素子を組み合わせて用いることを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の透明体の欠陥検出方法。
- 投光部と、
該投光部に相対して配設された受光部と、
前記投光部と受光部の間に配設される遮光物体と、
該遮光物体を寸法測定方向に移動する手段と、を備え、
前記遮光物体の寸法測定値の変化によって前記透明体の欠陥によって生じた光路の変化を検出することにより該透明体の欠陥を検出するようにしたことを特徴とする透明体の欠陥検出装置。 - 前記投光部がレーザビームを前記遮光物体の寸法測定方向に走査する走査手段を備え、前記受光部が、該走査されたレーザビームを集光する集光手段を備えたレーザ走査型であることを特徴とする請求項6に記載の透明体の欠陥検出装置。
- 前記投光部が前記遮光物体の寸法測定方向に長い線状光線を投光する投光手段を備え、前記受光部が、前記遮光物体の寸法測定方向に長いイメージセンサを備えたイメージセンサ型であることを特徴とする請求項6に記載の透明体の欠陥検出装置。
- 前記遮光物体がピンゲージであることを特徴とする請求項6乃至8のいずれかに記載の透明体の欠陥検出装置。
- 前記透明体がレンズであり、該レンズと相補的な断面形状を有し、該レンズと組み合わせて用いられる光学素子を備えたことを特徴とする請求項6乃至9のいずれかに記載の透明体の欠陥検出装置。
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