JP6622032B2 - 発光装置 - Google Patents

発光装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6622032B2
JP6622032B2 JP2015168302A JP2015168302A JP6622032B2 JP 6622032 B2 JP6622032 B2 JP 6622032B2 JP 2015168302 A JP2015168302 A JP 2015168302A JP 2015168302 A JP2015168302 A JP 2015168302A JP 6622032 B2 JP6622032 B2 JP 6622032B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light emitting
emitting device
resin
electrode
protective layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2015168302A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2017045902A (ja
Inventor
彰一 新関
彰一 新関
貴穂 山田
貴穂 山田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikkiso Co Ltd
Original Assignee
Nikkiso Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikkiso Co Ltd filed Critical Nikkiso Co Ltd
Priority to JP2015168302A priority Critical patent/JP6622032B2/ja
Publication of JP2017045902A publication Critical patent/JP2017045902A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6622032B2 publication Critical patent/JP6622032B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16135Disposition the bump connector connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
    • H01L2224/16145Disposition the bump connector connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being stacked
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48257Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a die pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • H01L2224/85909Post-treatment of the connector or wire bonding area
    • H01L2224/8592Applying permanent coating, e.g. protective coating
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

Landscapes

  • Led Device Packages (AREA)

Description

本発明は、発光装置に関し、特に、半導体発光素子を有する発光装置に関する。
近年、青色光を出力する発光ダイオードやレーザダイオード等の半導体発光素子が実用化されており、さらに波長の短い深紫外光を出力する発光素子の開発が進められている。深紫外光は高い殺菌能力を有することから、深紫外光の出力が可能な半導体発光素子は、医療や食品加工の現場における水銀フリーの殺菌用光源として注目されている。また、出力波長を問わず、より発光強度の高い半導体発光素子の開発が進められている。
半導体発光素子の内部にて生じる光は、空気との界面を通じて外部に取り出されるが、その光の一部は、発光素子と空気の屈折率差によって生じる全反射のために外部に取り出すことができない。このような全反射に起因する光取り出し効率の低下を改善するために、発光素子よりも屈折率の低い物質によって発光素子の界面が被覆される。このような物質として、例えば、耐光性の高いシリコーン樹脂(例えば、特許文献1参照)やフッ素樹脂などが利用される(例えば、特許文献2参照)。
特開平11−204840号公報 特開2011−35236号公報
紫外光や深紫外光といった波長のより短い光を出力する発光素子の場合、出力光のエネルギーが大きいために、発光素子が発する光によって被覆する樹脂が光分解を起こして劣化するという懸念がある。シリコーン樹脂と比べて結合エネルギーの高いフッ素樹脂は、紫外光への耐光性が高いとされるが、半導体発光素子や発光素子を封止するためのパッケージとの密着性が低いために樹脂が剥離してしまうおそれがある。
本発明はこうした課題に鑑みてなされたものであり、その例示的な目的のひとつは、半導体発光素子を有する発光装置の信頼性を高める技術を提供することにある。
上記課題を解決するために、本発明のある態様の発光装置は、光出射面を有する半導体発光素子と、少なくとも光出射面の一部を被覆する樹脂組成物と、を備える。樹脂組成物は、飽和結合のみを有する非晶質全フッ素化樹脂と、密着性基を有するフッ素樹脂とを含む。
この態様によると、結合エネルギーの高い非晶質全フッ素化樹脂と、密着性を有するフッ素樹脂とを組み合わせて用いることにより、耐光性の優れた非晶質全フッ素化樹脂を密着性基を有するフッ素樹脂によって好適に接着させることができる。これにより、非晶質全フッ素化樹脂のみを用いる場合と比べて樹脂の剥離を防ぐことができる。また、飽和結合と比べて結合エネルギーの低い密着性基を有するフッ素樹脂のみを用いる場合と比べて、樹脂の耐光性を高めることができる。これにより、樹脂の劣化および剥離を防いで、発光装置の信頼性を高めることができる。
樹脂組成物は、密着性基の含有率が4×10−6重量%以上、1×10−3重量%以下であってもよい。
樹脂組成物は、密着性基の含有率が2×10−5重量%以上、5×10−4重量%以下であってもよい。
樹脂組成物は、密着性基を有するフッ素樹脂の含有モル分率が0.1モル%以上、20モル%以下であってもよい。
樹脂組成物は、密着性基を有するフッ素樹脂の含有モル分率が0.5モル%以上、10モル%以下であってもよい。
密着性基を有するフッ素樹脂は、ヒドロキシル基、カルボキシル基、アミノ基、シラノール基、エポキシ基およびアクリル基の少なくとも一つを含んでもよい。
半導体発光素子は、波長360nm以下の深紫外光を出力してもよい。
本発明によれば、半導体発光素子を有する発光装置の信頼性を高めることができる。
第1の実施の形態に係る発光装置の一例を概略的に示す断面図である。 ダイシェア試験の様子を模式的に示す図である。 第2の実施の形態に係る発光装置の一例を概略的に示す断面図である。 第3の実施の形態に係る発光装置の一例を概略的に示す断面図である。 第4の実施の形態に係る発光装置の一例を概略的に示す断面図である。 第5の実施の形態に係る発光装置の一例を概略的に示す断面図である。 第6の実施の形態に係る発光装置の一例を概略的に示す断面図である。 第7の実施の形態に係る発光装置の一例を概略的に示す断面図である。 第8の実施の形態に係る発光装置の一例を概略的に示す断面図である。 変形例に係る発光装置の一例を概略的に示す断面図である。 第9の実施の形態に係る発光装置の一例を概略的に示す断面図である。 第10の実施の形態に係る発光装置の一例を概略的に示す断面図である。
以下、図面を参照しながら、本発明を実施するための形態について詳細に説明する。なお、説明において同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を適宜省略する。また、説明の理解を助けるため、各図面における各構成要素の寸法比は、必ずしも実際の発光素子の寸法比と一致しない。
(第1の実施の形態)
図1は、第1の実施の形態に係る発光装置100を概略的に示す断面図である。発光装置100は、半導体発光素子10と、パッケージ20とを備える。パッケージ20は、半導体発光素子10が実装されるパッケージ基材30と、半導体発光素子10を被覆する保護層40とを含む。半導体発光素子10は、パッケージ基材30の上に実装されている。
半導体発光素子10は、中心波長λが約355nm以下となる「深紫外光」を発するように構成されるLED(Light Emitting Diode)チップである。このような波長の深紫外光を出力するため、バンドギャップが約3.4eV以上となる窒化アルミニウムガリウム(AlGaN)系半導体材料で構成される。本実施の形態では、特に、中心波長λが約240nm〜350nmの深紫外光を発する場合について示す。
半導体発光素子10は、半導体積層構造12と、光出射面14と、第1素子電極16と、第2素子電極18とを有する。
半導体積層構造12は、光出射面14となる基板上に積層されるテンプレート層、n型クラッド層、活性層、p型クラッド層などを含む。半導体発光素子10が深紫外光を出力するように構成される場合、光出射面14となる基板としてサファイア(Al)基板が用いられ、半導体積層構造12のテンプレート層として窒化アルミニウム(AlN)層が用いられる。また、半導体積層構造12のクラッド層や活性層はAlGaN系半導体材料で構成される。
第1素子電極16および第2素子電極18は、半導体積層構造12の活性層にキャリアを供給するための電極であり、それぞれがアノード電極またはカソード電極として機能する。第1素子電極16および第2素子電極18は、光出射面14と反対側の位置に設けられる。第1素子電極16は、パッケージ基材30の第1内側電極36に取り付けられ、第2素子電極18は、パッケージ基材30の第2内側電極38に取り付けられる。
パッケージ基材30は、金属または樹脂ベースのプリント基板や、セラミック多層基板などであり、放熱性の高い材料で構成される。パッケージ基材30には、半導体発光素子10が取り付けるための第1内側電極36および第2内側電極38と、発光装置100を外部基板などに実装するための第1外側電極32および第2外側電極34とが設けられる。
保護層40は、半導体発光素子10およびパッケージ基材30の上を被覆するように設けられ、半導体発光素子10を封止して保護する。保護層40は、例えば、半導体発光素子10の光出射面14および側面の全てを被覆するように設けられる。なお、保護層40は、光出射面14のみを被覆するように設けられてもよいし、光出射面14の一部のみを被覆するように設けられてもよい。光出射面14の少なくとも一部に保護層40を設けることで、光出射面14における光取り出し効率を高めることができる。
保護層40は、二種類のフッ素樹脂を含む樹脂組成物で構成される。保護層40を構成する樹脂組成物には、飽和結合のみを有する非晶質全フッ素化樹脂(以下、第1樹脂ともいう)と、密着性基を有するフッ素樹脂(以下、第2樹脂ともいう)とが含まれる。
第1樹脂である「飽和結合のみを有する非晶質全フッ素化樹脂」として、旭硝子株式会社製のサイトップS(CytopS;登録商標)、デュポン製のテフロン(登録商標)AFなどが挙げられる。第1樹脂は、飽和結合のみを有するとともに全フッ素化されているため、結合エネルギーが高く、深紫外光のようなエネルギーの高い光に対しても優れた耐光性を有する。また、第1樹脂は、非晶質性を有するために深紫外光を含む幅広い波長域において高い透過率を有する。その一方で、全フッ素化されているために半導体発光素子10やパッケージ基材30などの無機材料との接着性が低く、保護層40として用いる場合に剥離しやすいという難点がある。特に、発光素子の点灯および消灯を繰り返すと素子温度の変化によって熱応力が生じ、その応力によって樹脂が剥離しやくなると考えられる。
第2樹脂である「密着性基を有するフッ素樹脂」は、密着性基としてヒドロキシル基、カルボキシル基、アミノ基、シラノール基などの極性基や、エポキシ基またはアクリル基などの反応性基を含むフッ素樹脂である。このような第2樹脂として、シランカップリング剤(例えば、信越シリコーン株式会社製のKBM−7103)、トリメトキシ(1H,1H,2H,2H−ヘプタデカフルオロデシル)シラン、パーフルオロオクタン酸、非晶質フッ素樹脂(旭硝子株式会社製のサイトップA(CytopA;登録商標)、サイトップE(CytopE;登録商標)、ソルベイ製のアルゴフロン(登録商標)AD)などが挙げられる。第2樹脂は、密着性基を有するために半導体発光素子10やパッケージ基材30などの無機材料との接着性が高い。その一方で、密着性基の結合エネルギーが低いため、深紫外光のようなエネルギーの高い光に対する耐久性が低く、光分解しやすいという難点がある。
本発明者らは、このような特性を有する第1樹脂と第2樹脂を適切な比率で混合させた樹脂組成物を用いることにより、耐光性と密着性の双方の要求を満たすことができることを見いだした。樹脂組成物を実質的に第1樹脂と第2樹脂のみで構成するとともに、第2樹脂の含有モル分率が0.1モル%以上、20モル%以下となるように調製することで、耐光性および密着性の双方の優れた保護層40を提供できることを見いだした。例えば、第2樹脂としてカルボキシル基(−COOH)を有するサイトップAなどの樹脂を用いる場合、カルボキシル基の含有率が4×10−6重量%以上、1×10−3重量%以下となるようにすれば、耐光性および密着性の双方の優れた保護層40を提供できることがわかった。
第2樹脂の含有モル分率を0.1モル%以上とすることにより、第2樹脂に含まれる密着性基が光出射面14の全体をカバーするようになり、半導体発光素子10と保護層40の密着性を向上させることができると考えられる。また、第2樹脂の含有モル分率を20モル%以下とすることにより、密着性基の光分解によって発生するガスが溜まって保護層40が剥離したり、光分解によって生じる酸により電極が腐食したりする影響を防ぐことができる。
なお、第2樹脂の含有モル分率は、0.5モル%以上、10モル%以下とすることが好ましい。例えば、第2樹脂としてカルボキシル基(−COOH)を有する樹脂を用いる場合、カルボキシル基の含有率が2×10−5重量%以上、5×10−4重量%以下となるようにすることが好ましい。このような含有モル分率もしくは密着性基の含有率とすることで、密着性基による光出射面14の被覆率を高くすることができ、膜厚の比較的大きい保護層40を形成した場合に生じる比較的大きな熱応力の影響によって半導体発光素子10から保護層40が剥離することを防ぐことができる。また、密着性基の含有量を小さくすることにより、密着性基による水分の吸収を抑えることができ、保護層40のマイグレーション耐性を高めることができる。さらには、第2樹脂として機械的特性や耐熱性の劣る材料を用いる場合であっても、第2樹脂の含有量を抑えることで保護層40の封止機能を維持させることができる。
以下に、実施例に基づいて本実施の形態を詳細に説明するが、本実施の形態はこれらの実施例により何ら限定されるものではない。
(樹脂組成物の評価方法)
発光装置の光出力特性を評価するために、作製した発光装置100を20mWの光出力で500時間点灯させた場合の光出力の変化を計測した。光出力の変化が20%未満であったものを良好(○)、光出力の変化が20%以上であったものを不良(×)とした。なお、発光装置100の点灯試験後に電極付近を観察することにより、樹脂組成物の耐光性を評価した。
保護層の密着性を評価するために、発光装置100の点灯および消灯を繰り返した後の半導体発光素子10と保護層40の状態を観察した。発光装置100の24時間点灯と24時間消灯を100回繰り返した後に、半導体発光素子10と保護層40の間の剥離状態を光学顕微鏡で観察し、剥離が一切確認できなかったものを良好(○)、一部でも剥離がみられたものを不良(×)とした。
樹脂組成物の密着性を評価するために、ダイシェア試験およびクロスカット試験を実施した。図2は、ダイシェア試験の様子を模式的に示す図である。ダイシェア試験は、サファイアチップ51を樹脂組成物52を用いてサファイア基板53の上に接着して作製した試験片50に対して実施した。ダイシェア試験では、サファイアチップ51を剥離させるのに必要な剪断強度を試験ツール55を用いて計測し、樹脂組成物52の密着力を評価した。クロスカット試験は、サファイアチップに樹脂組成物を塗布して作製した試験片に対して実施した。
表1および表2は、下記に示す実施例および比較例の条件をまとめたものである。表1は、樹脂組成物としてサイトップSとサイトップAを用いた実施例1〜6、比較例1,2の条件を示し、表2は、樹脂組成物としてサイトップSとアルゴフロンADを用いた実施例7〜10、比較例3,4の条件を示す。
Figure 0006622032
Figure 0006622032
(実施例1)
波長300nmの紫外光を発する半導体発光素子をパッケージ基板に搭載し、そこに第1樹脂としてサイトップSを99.9モル%、第2樹脂としてサイトップAを0.1モル%含有する樹脂組成物を溶媒に希釈したものを塗布し、200℃で1時間乾燥して樹脂封止することで発光装置を作製した。光出力特性の評価は良好(○)であり、密着性の評価も良好(○)であった。評価後の電極を観察したところ、変色は見られず、電極への悪影響なども観察されなかった。
また、同じ樹脂組成物を用いてサファイアチップとサファイア基板を接着させた試験片に対してダイシェア試験を実施したところ、サイトップSのみで接着させた試験片と比較して剪断強度が3倍に向上することが分かった。また、同様の試験片に対してクロスカット試験を実施したところ、剥離面積は2%であり、良好な結果が得られた。
(実施例2)
第1樹脂としてサイトップSを99.5モル%、第2樹脂としてサイトップAを0.5モル%含有する樹脂組成物を用いて実施例1と同様の方法で発光装置を作製した。光出力特性の評価は良好(○)であり、密着性の評価も良好(○)であった。評価後の電極を観察したところ、変色は見られず、電極への悪影響なども観察されなかった。
また、同じ樹脂組成物を用いてサファイアチップとサファイア基板を接着させた試験片に対してダイシェア試験を実施したところ、サイトップSのみで接着させた試験片と比較して剪断強度が6倍に向上することが分かった。また、同様の試験片に対してクロスカット試験を実施したところ、剥離面積は0%であり、良好な結果が得られた。
(実施例3)
第1樹脂としてサイトップSを99モル%、第2樹脂としてサイトップAを1モル%含有する樹脂組成物を用いて実施例1と同様の方法で発光装置を作製した。光出力特性の評価は良好(○)であり、密着性の評価も良好(○)であった。評価後の電極を観察したところ、変色は見られず、電極への悪影響なども観察されなかった。
また、同じ樹脂組成物を用いてサファイアチップとサファイア基板を接着させた試験片に対してダイシェア試験を実施したところ、サイトップSのみで接着させた試験片と比較して剪断強度が6倍に向上することが分かった。また、同様の試験片に対してクロスカット試験を実施したところ、剥離面積は0%であり、良好な結果が得られた。
(実施例4)
第1樹脂としてサイトップSを95モル%、第2樹脂としてサイトップAを5モル%含有する樹脂組成物を用いて実施例1と同様の方法で発光装置を作製した。光出力特性の評価は良好(○)であり、密着性の評価も良好(○)であった。評価後の電極を観察したところ、変色は見られず、電極への悪影響なども観察されなかった。
また、同じ樹脂組成物を用いてサファイアチップとサファイア基板を接着させた試験片に対してダイシェア試験を実施したところ、サイトップSのみで接着させた試験片と比較して剪断強度が7倍に向上することが分かった。また、同様の試験片に対してクロスカット試験を実施したところ、剥離面積は0%であり、良好な結果が得られた。
(実施例5)
第1樹脂としてサイトップSを90モル%、第2樹脂としてサイトップAを10モル%含有する樹脂組成物を用いて実施例1と同様の方法で発光装置を作製した。光出力特性の評価は良好(○)であり、密着性の評価も良好(○)であった。評価後の電極を観察したところ、変色は見られず、電極への悪影響なども観察されなかった。
また、同じ樹脂組成物を用いてサファイアチップとサファイア基板を接着させた試験片に対してダイシェア試験を実施したところ、サイトップSのみで接着させた試験片と比較して剪断強度が7倍に向上することが分かった。また、同様の試験片に対してクロスカット試験を実施したところ、剥離面積は0%であり、良好な結果が得られた。
(実施例6)
第1樹脂としてサイトップSを80モル%、第2樹脂としてサイトップAを20モル%含有する樹脂組成物を用いて実施例1と同様の方法で発光装置を作製した。光出力特性の評価は良好(○)であり、密着性の評価も良好(○)であった。なお、評価後の電極を観察したところ、電極に軽微な変色箇所が見られた。これは、第2樹脂に含まれる密着性基であるカルボキシル基の一部が光分解して腐食性の物質を発生させたためであると考えられる。
また、同じ樹脂組成物を用いてサファイアチップとサファイア基板を接着させた試験片に対してダイシェア試験を実施したところ、サイトップSのみで接着させた試験片と比較して剪断強度が6倍に向上することが分かった。また、同様の試験片に対してクロスカット試験を実施したところ、剥離面積は0%であり、良好な結果が得られた。
(実施例7)
第1樹脂としてサイトップSを99.5モル%、第2樹脂としてアルゴフロンADを0.5モル%含有する樹脂組成物を用いて実施例1と同様の方法で発光装置を作製した。つまり本実施例では、第2樹脂としてサイトップAの代わりアルゴフロンADを用いて実施例2と同様の条件で発光装置を作製した。光出力特性の評価は良好(○)であり、密着性の評価も良好(○)であった。評価後の電極を観察したところ、変色は見られず、電極への悪影響なども観察されなかった。また、同じ樹脂組成物を用いてサファイアチップとサファイア基板を接着させた試験片に対してクロスカット試験を実施したところ、剥離面積は0%であり、良好な結果が得られた。
(実施例8)
第1樹脂としてサイトップSを99モル%、第2樹脂としてアルゴフロンADを1モル%含有する樹脂組成物を用いて実施例1と同様の方法で発光装置を作製した。つまり本実施例では、第2樹脂としてサイトップAの代わりアルゴフロンADを用いて実施例3と同様の条件で発光装置を作製した。光出力特性の評価は良好(○)であり、密着性の評価も良好(○)であった。評価後の電極を観察したところ、変色は見られず、電極への悪影響なども観察されなかった。また、同じ樹脂組成物を用いてサファイアチップとサファイア基板を接着させた試験片に対してクロスカット試験を実施したところ、剥離面積は0%であり、良好な結果が得られた。
(実施例9)
第1樹脂としてサイトップSを95モル%、第2樹脂としてアルゴフロンADを5モル%含有する樹脂組成物を用いて実施例1と同様の方法で発光装置を作製した。つまり本実施例では、第2樹脂としてサイトップAの代わりアルゴフロンADを用いて実施例4と同様の条件で発光装置を作製した。光出力特性の評価は良好(○)であり、密着性の評価も良好(○)であった。評価後の電極を観察したところ、変色は見られず、電極への悪影響なども観察されなかった。また、同じ樹脂組成物を用いてサファイアチップとサファイア基板を接着させた試験片に対してクロスカット試験を実施したところ、剥離面積は0%であり、良好な結果が得られた。
(実施例10)
第1樹脂としてサイトップSを90モル%、第2樹脂としてアルゴフロンADを10モル%含有する樹脂組成物を用いて実施例1と同様の方法で発光装置を作製した。つまり本実施例では、第2樹脂としてサイトップAの代わりアルゴフロンADを用いて実施例5と同様の条件で発光装置を作製した。光出力特性の評価は良好(○)であり、密着性の評価も良好(○)であった。評価後の電極を観察したところ、変色は見られず、電極への悪影響なども観察されなかった。また、同じ樹脂組成物を用いてサファイアチップとサファイア基板を接着させた試験片に対してクロスカット試験を実施したところ、剥離面積は0%であり、良好な結果が得られた。
つづいて、上記実施例に対する比較例について説明する。
(比較例1)
第1樹脂としてサイトップSを99.95モル%、第2樹脂としてサイトップAを0.05モル%含有する樹脂組成物を用いて実施例1と同様の方法で発光装置を作製した。光出力特性の評価は良好(○)であったが、密着性の評価は不良(×)であった。評価後の電極を観察したところ、変色は見られず、電極への悪影響なども観察されなかった。
また、同じ樹脂組成物を用いてサファイアチップとサファイア基板を接着させた試験片に対してダイシェア試験を実施したところ、サイトップSのみで接着させた試験片と比較した剪断強度の向上量は10%以下であった。また、同様の試験片に対してクロスカット試験を実施したところ、剥離面積は70%であり、密着性が低いことが分かった。
(比較例2)
第1樹脂としてサイトップSを50モル%、第2樹脂としてサイトップAを50モル%含有する樹脂組成物を用いて実施例1と同様の方法で発光装置を作製した。光出力特性を評価したところ、通電中に第1素子電極と第2素子電極の間でリークが発生し、光出力が20%以上低下したことから、光出力特定は不良(×)であった。密着性の評価は良好(○)であった。評価後の電極を観察したところ、実施例6と比較してより大きな面積で電極の変色が見られた。これは、第2樹脂に含まれる密着性基であるカルボキシル基の一部が光分解して腐食性の物質を発生させたためであると考えられる。
また、同じ樹脂組成物を用いてサファイアチップとサファイア基板を接着させた試験片に対してダイシェア試験を実施したところ、サイトップSのみで接着させた試験片と比較して剪断強度が7倍に向上することが分かった。また、同様の試験片に対してクロスカット試験を実施したところ、剥離面積は0%であり、良好な結果が得られた。
(比較例3)
第1樹脂としてサイトップSを99.95モル%、第2樹脂としてアルゴフロンADを0.05モル%含有する樹脂組成物を用いて実施例1と同様の方法で発光装置を作製した。つまり本比較例では、第2樹脂としてサイトップAの代わりアルゴフロンADを用いて比較例1と同様の条件で発光装置を作製した。光出力特性の評価は良好(○)であったが、密着性の評価は不良(×)であった。評価後の電極を観察したところ、変色は見られず、電極への悪影響なども観察されなかった。また、同じ樹脂組成物を用いてサファイアチップとサファイア基板を接着させた試験片に対してクロスカット試験を実施したところ、剥離面積は70%であり、密着性が低いことが分かった。
(比較例4)
第1樹脂としてサイトップSを50モル%、第2樹脂としてアルゴフロンADを50モル%含有する樹脂組成物を用いて実施例1と同様の方法で発光装置を作製した。つまり本比較例では、第2樹脂としてサイトップAの代わりアルゴフロンADを用いて比較例2と同様の条件で発光装置を作成した。光出力特性を評価したところ、通電中に第1素子電極と第2素子電極の間でリークが発生し、光出力が20%以上低下したことから、光出力特定は不良(×)であった。密着性の評価は良好(○)であった。評価後の電極を観察したところ、実施例6と比較してより大きな面積で電極の変色が見られた。これは、第2樹脂に含まれる密着性基であるカルボキシル基の一部が光分解して腐食性の物質を発生させたためであると考えられる。また、同じ樹脂組成物を用いてサファイアチップとサファイア基板を接着させた試験片に対してクロスカット試験を実施したところ剥離面積は0%であり、良好な結果が得られた。
(第2の実施の形態)
図3は、第2の実施の形態に係る発光装置200を概略的に示す断面図である。発光装置200は、半導体発光素子10が載置されるパッケージ120に反射板122が設けられる点で上述の実施の形態と相違する。以下、発光装置200について相違点を中心に説明する。
発光装置200は、半導体発光素子10と、パッケージ120とを備える。パッケージ120は、半導体発光素子10が実装されるパッケージ基材30と、半導体発光素子10を取り囲むように配置される反射板122と、保護層140とを含む。
反射板122は、パッケージ基材30の外周に沿って設けられており、半導体発光素子10から反射板122に向かって側方に出射される光を発光装置200の前面に向けて反射させる。反射板122は、例えば、パッケージ基材30と同じ樹脂材料、セラミック材料または金属材料で構成される。反射板122の表面は、紫外光の反射率が高いアルミニウム(Al)やPTFE(ポリテトラフルオロエチレン)などのフッ素系樹脂で形成されていることが望ましい。
保護層140は、半導体発光素子10の光出射面14の少なくとも一部を被覆するようにして、反射板122とパッケージ基材30により区画される凹部160に設けられる。保護層140は、上述の実施の形態と同様の樹脂組成物で構成される。したがって、本実施の形態においても上述の発光装置100と同様の効果を得ることができる。また、本実施の形態では、凹部160に樹脂組成物を流し込むことで保護層140を形成できるため、保護層140を形成するための樹脂量を制御しやすいという利点が挙げられる。
(実施例11)
第2の実施の形態に係る実施例では、上述の実施例2と同様に、第1樹脂としてサイトップSを99.5モル%、第2樹脂としてサイトップAを0.5モル%含有する樹脂組成物を保護層140に用いて発光装置を作製した。光出力特性の評価は良好(○)であり、密着性の評価も良好(○)であった。評価後の電極を観察したところ、変色は見られず、電極への悪影響なども観察されなかった。
(第3の実施の形態)
図4は、第3の実施の形態に係る発光装置300を概略的に示す断面図である。発光装置300は、パッケージ120の凹部160を充填するようにして保護層240が設けられる点で上述の第2の実施の形態と相違する。以下、発光装置300について相違点を中心に説明する。
発光装置300は、半導体発光素子10と、パッケージ120とを備える。パッケージ120は、パッケージ基材30と、反射板122と、保護層240とを含む。保護層240は、半導体発光素子10を被覆するように設けられる第1保護層241と、第1保護層241の上に設けられ、凹部160を充填するように設けられる第2保護層242とを有する。
第1保護層241は、上述の実施の形態に係る保護層40と同様に構成され、主に半導体発光素子10を封止する役割を有する。第2保護層242は、凹部160を満たすように設けられ、反射板122の上に露出する表面242aが曲面を構成するように設けられる。したがって、第2保護層242は、半導体発光素子10を封止する役割を有するとともに、半導体発光素子10からの紫外光を集光させるレンズ機能を有する。本実施の形態によれば、発光装置300から出力される光を照射対象に向けて集光させて、効率的に光を照射させることができる。
第1保護層241は、上述の実施の形態に係る保護層40と同様の樹脂組成物で構成される。第2保護層242は、第1保護層241と同様の樹脂組成物で構成されてもよいし、異なる組成の樹脂組成物で構成されてもよい。また、保護層240は、図示するような二層構造ではなく、一層のみの構造であってもよいし、三層以上の多層構造であってもよい。保護層240が多層構造で形成される場合、各層の屈折率を段階的に小さくしていくことによって、半導体発光素子10からの光取り出し効率を高めることができる。
(実施例12)
第3の実施の形態に係る実施例では、上述の実施例3と同様に、第1樹脂としてサイトップSを99モル%、第2樹脂としてサイトップAを1モル%含有する樹脂組成物を第1保護層241および第2保護層242の形成に用いて発光装置を作製した。光出力特性の評価は良好(○)であり、密着性の評価も良好(○)であった。評価後の電極を観察したところ、変色は見られず、電極への悪影響なども観察されなかった。
(第4の実施の形態)
図5は、第4の実施の形態に係る発光装置400を概略的に示す断面図である。発光装置400は、半導体発光素子10を取り囲む反射板122の開口を覆うようにして、凹部160の上に窓材344が設けられる点で上述の第2の実施の形態と相違する。以下、発光装置400について相違点を中心に説明する。
発光装置400は、半導体発光素子10と、パッケージ320とを備える。パッケージ320は、パッケージ基材30と、反射板122と、保護層140と、窓材344とを含む。半導体発光素子10が実装される凹部160は、パッケージ基材30、反射板122および窓材344によって気密封止される。
窓材344は、半導体発光素子10が発する光に対して透明な材料で形成される板状部材である。窓材344の材料として、例えば、ガラス、石英、水晶、サファイア、非晶質フッ素樹脂などを用いることができる。窓材344を反射板122に接着させる方法として、樹脂接着剤、低融点ガラス、低融点金属を用いる方法の他、圧接を用いる方法、表面活性化常温接合を用いる方法などが挙げられるが、これらに限定されるものではない。
本実施の形態によれば、半導体発光素子10を気密封止することができるため、パッケージ320の内部への水分の侵入を防いで、水分の侵入による半導体発光素子10の劣化や、半導体発光素子10の光出力特性の低下といった影響を低減させることができる。
(実施例13)
第4の実施の形態に係る実施例では、上述の実施例4と同様に、第1樹脂としてサイトップSを95モル%、第2樹脂としてサイトップAを5モル%含有する樹脂組成物を保護層140に用いて発光装置を作製した。光出力特性の評価は良好(○)であり、密着性の評価も良好(○)であった。評価後の電極を観察したところ、変色は見られず、電極への悪影響なども観察されなかった。
(第5の実施の形態)
図6は、第5の実施の形態に係る発光装置500を概略的に示す断面図である。発光装置500は、半導体発光素子10を封止する保護層440が第1保護層441と第2保護層442とで構成される点で上述の第1の実施の形態と相違する。以下、発光装置500について相違点を中心に説明する。
発光装置500は、半導体発光素子10と、パッケージ420とを備える。パッケージ420は、パッケージ基材30と、保護層440とを含む。保護層440は、半導体発光素子10を被覆するように設けられる第1保護層441と、第1保護層441の上に半球状に設けられる第2保護層442とを有する。第2保護層442は、上述の第3の実施の形態に係る第2保護層242と同様に、半導体発光素子10からの紫外光を集光させるレンズ機能を有する。第1保護層441および第2保護層442の材料は、上述の第3の実施の形態に係る第1保護層241および第2保護層242と同様に構成されてもよい。
(実施例14)
第5の実施の形態に係る実施例では、上述の実施例2と同様に、第1樹脂としてサイトップSを99.5モル%、第2樹脂としてサイトップAを0.5モル%含有する樹脂組成物を第1保護層441および第2保護層442に用いて発光装置を作製した。光出力特性の評価は良好(○)であり、密着性の評価も良好(○)であった。評価後の電極を観察したところ、変色は見られず、電極への悪影響なども観察されなかった。
(第6の実施の形態)
図7は、第6の実施の形態に係る発光装置600を概略的に示す断面図である。発光装置600は、上述の第4の実施の形態と同様の構成を有するが、一つのパッケージ520の内部に複数の半導体発光素子10a,10bが設けられる点で相違する。以下、発光装置600について相違点を中心に説明する。
発光装置600は、複数の半導体発光素子10a,10bと、パッケージ520とを備える。パッケージ520は、パッケージ基材530と、反射板522と、保護層540と、窓材544とを含む。複数の半導体発光素子10a,10bは、パッケージ基材530と反射板522とで囲まれる凹部560の内部に実装されている。
複数の半導体発光素子10a,10bは、パッケージ520において、直列接続または並列接続となるように実装される。図示する例では、二つの半導体発光素子が一つのパッケージ520に実装される場合を示しているが、変形例においては、三つ以上の半導体発光素子が一つのパッケージ内に実装されていてもよい。複数の発光素子を実装させることにより、発光装置600の出力を高めることができる。
パッケージ基材530には、第1外側電極532、第2外側電極534、第1内側電極536、第2内側電極537、第3内側電極538が設けられている。第1内側電極536には、第1発光素子10aの第1素子電極16aが取り付けられている。第2内側電極537には、第1発光素子10aの第2素子電極18aと第2発光素子10bの第1素子電極16bとが取り付けられている。第3内側電極538には、第2発光素子10bの第2素子電極18bが取り付けられている。
反射板522は、パッケージ基材530に実装される複数の半導体発光素子10a,10bを取り囲むようにパッケージ基材530の外周に沿って設けられる。保護層540は、複数の半導体素子10a,10bのそれぞれの光出射面14a,14bの少なくとも一部を被覆するように設けられる。窓材544は、凹部560を気密封止するように反射板522に取り付けられている。
(実施例15)
第5の実施の形態に係る実施例では、上述の実施例3と同様に、第1樹脂としてサイトップSを99モル%、第2樹脂としてサイトップAを1モル%含有する樹脂組成物を保護層540の形成に用いて発光装置を作製した。光出力特性の評価は良好(○)であり、密着性の評価も良好(○)であった。評価後の電極を観察したところ、変色は見られず、電極への悪影響なども観察されなかった。
(第7の実施の形態)
図8は、第7の実施の形態に係る発光装置700を概略的に示す図である。発光装置700は、半導体発光素子10を被覆する保護層40の上にフレネルレンズ646が設けられる点で上述の第1の実施の形態と相違する。発光装置700は、半導体発光素子10と、パッケージ620とを備え、パッケージ620は、パッケージ基材30と、保護層40と、フレネルレンズ646とを含む。フレネルレンズ646は、樹脂材料などで形成され、例えば、保護層40と同様の樹脂組成物で形成されることができる。発光装置700によれば、半導体発光素子10から出力させる光をフレネルレンズ646で集光させて照射対象に照射することができる。
(第8の実施の形態)
図9は、第8の実施の形態に係る発光装置800を概略的に示す図である。発光装置800は、半導体発光素子710がフリップチップ実装ではなく、ボンディングワイヤ756を用いて実装される点で上述の実施の形態と相違する。以下、発光装置800について相違点を中心に説明する。
発光装置800は、半導体発光素子710と、パッケージ720とを備える。半導体発光素子710は、半導体積層構造712と、光出射面714と、第1素子電極716と、第2素子電極718とを有する。第1素子電極716は、光出射面714に設けられ、第2素子電極718は、光出射面714とは反対側に設けられる。したがって、第1素子電極716と第2素子電極718は、半導体積層構造712を挟んで対向する位置に設けられている。
パッケージ720は、パッケージ基材730と、保護層740と、窓部材744とを含む。パッケージ基材730は、第1外側電極732と、第2外側電極734と、第1内側電極736と、第2内側電極738とを有する。第2内側電極738の上には、半導体発光素子710が載置され、第2素子電極718と第2内側電極738が電気的に接続される。第1内側電極736には、ボンディングワイヤ756の一端が取り付けられ、ボンディングワイヤ756を介して第1内側電極736と第1素子電極716が電気的に接続される。
保護層740は、半導体発光素子710の光出射面714の少なくとも一部を被覆するように設けられる。保護層740は、例えば、光出射面714、第1素子電極716、第1内側電極736、第2内側電極738の上を被覆するように設けられる。保護層740は、保護層740の内部にボンディングワイヤ756が埋め込まれるようにして設けられてもよいし、ボンディングワイヤ756の一部が保護層740の外に位置するように設けられてもよい。
図10は、変形例に係る発光装置800を概略的に示す図である。本図に示す発光装置800は、半導体発光素子710の第1素子電極716および第2素子電極718の双方にボンディングワイヤが取り付けられる点で、上述の実施の形態と相違する。半導体発光素子710は、光出射面714に設けられる第1素子電極716と第2素子電極718を有する。第1素子電極716は、ボンディングワイヤ756を介して第1内側電極736と電気的に接続され、第2素子電極718は、ボンディングワイヤ758を介して第2内側電極738と電気的に接続される。保護層740は、光出射面714、第1素子電極716、第2素子電極718の上を被覆するように設けられる。
(第9の実施の形態)
図11は、第9の実施の形態に係る発光装置900を概略的に示す図である。発光装置900は、上述の実施の形態および変形例にて示した表面実装型のデバイスではなく、スルーホール型のデバイスであり、特に砲弾型のパッケージ820を有するデバイスである。以下、発光装置900について、上述の実施の形態との相違点を中心に説明する。
発光装置900は、半導体発光素子710と、パッケージ820とを備える。パッケージ820は、第1リードフレーム822と、第2リードフレーム824と、封止樹脂部840とを含む。半導体発光素子710は、第2リードフレーム824の上に載置されており、第1素子電極716と第1リードフレーム822とがボンディングワイヤ756で接続され、第2素子電極718と第2リードフレーム824とがボンディングワイヤ758で接続される。
封止樹脂部840は、第1保護層841と第2保護層842を有する。第1保護層841は、半導体発光素子710の光出射面714の少なくとも一部を被覆する。第2保護層842は、第1保護層841で被覆される半導体発光素子710と、第1リードフレーム822および第2リードフレーム824の先端を被覆して樹脂封止する。第2保護層842は、砲弾型の形状を有する。第1保護層841および第2保護層842は、上述の樹脂組成物で構成される。本実施の形態によれば、砲弾型の封止樹脂部840が耐光性および密着性を兼ね備える樹脂組成物で構成されるため、発光装置900の信頼性を高めることができる。
(第10の実施の形態)
図12は、第10の実施の形態に係る発光装置1000を概略的に示す図である。発光装置1000は、上述の第9の実施の形態と同様のスルーホール型のデバイスであるが、キャンパッケージ920を用いる点で相違する。以下、発光装置1000について、上述の実施の形態との相違点を中心に説明する。
発光装置1000は、半導体発光素子10と、キャンパッケージ920と、サブマウント930とを備える。半導体発光素子10は、サブマウント930に実装されている。サブマウント930には、第1実装電極936と、第2実装電極938とが設けられている。半導体発光素子10の第1素子電極16は、第1実装電極936に取り付けられ、半導体発光素子10の第2素子電極18は、第2実装電極938に取り付けられている。半導体発光素子10の光出射面14は、保護層940により被覆されている。
キャンパッケージ920は、第1端子ピン922と、第2端子ピン924と、ステム926と、キャンケース928とを含む。第1端子ピン922は、ステム926に設けられる取付孔926aにリング状の絶縁部材928aを介して挿通されている。第2端子ピン924は、ステム926に取り付けられている。ステム926の上には、半導体発光素子10が実装されたサブマウント930が載置される。キャンケース928は、半導体発光素子10の上を覆うようにしてステム926に取り付けられる。キャンケース928には、窓材944が設けられており、半導体発光素子10が発する光は窓材944を介して外部に出力される。第1端子ピン922と第1実装電極936は、ボンディングワイヤ956を介して電気的に接続され、ステム926と第2実装電極938は、ボンディングワイヤ958を介して電気的に接続されている。
このようなキャンパッケージ920を用いた発光装置1000においても、半導体発光素子10を上述の樹脂組成物で構成される保護層940で被覆することで、発光装置1000の信頼性を高めることができる。
以上、本発明を実施の形態にもとづいて説明した。本発明は上記実施の形態に限定されず、種々の設計変更が可能であり、様々な変形例が可能であること、またそうした変形例も本発明の範囲にあることは、当業者に理解されるところである。
上述の実施の形態では、発光装置の電極部分が上述の樹脂組成物で構成される保護層によって被覆される構成を示した。変形例においては、電極部分が保護層によって被覆されずに露出されるようにしてもよい。保護層による被覆をしないようにすることで、電極部分が保護層を構成する樹脂組成物により腐食される影響をより低減させることができる。これにより、密着性基を有するフッ素樹脂が含まれる上述の樹脂組成物を用いる場合において、発光装置の信頼性をさらに高めることができる。
上述の実施の形態では、発光装置のパッケージ内に半導体発光素子のみを含める場合を示した。さらなる変形例においては、付加的な機能を持たせるために半導体発光素子以外の電子部品をパッケージ内に組み込むこととしてもよい。例えば、電気的サージから発光素子を保護するためのツェナーダイオードをパッケージ内に組み込むこととしてもよい。また、発光素子が出力する光の波長を変換するための蛍光体を組み込んでもよいし、発光素子が発する光の配向を制御するための光学素子を組み込んでもよい。
10…半導体発光素子、14…光出射面、40…保護層、100…発光装置。

Claims (6)

  1. 光出射面と、アノード電極と、カソード電極とを有し、波長360nm以下の深紫外光を出力する半導体発光素子と、
    少なくとも前記光出射面の一部と、前記アノード電極の一部と、前記カソード電極の一部とを被覆するとともに、前記アノード電極と前記カソード電極の間に配置される樹脂組成物と、を備え、
    前記樹脂組成物は、飽和結合のみを有する非晶質全フッ素化樹脂と、密着性基を有するフッ素樹脂とを含み、前記密着性基の含有率が4×10−6重量%以上、1×10−3重量%以下であることを特徴とする発光装置。
  2. 前記半導体発光素子は、波長300nmの深紫外光を出力することを特徴とする請求項1に記載の発光装置。
  3. 前記樹脂組成物は、前記密着性基の含有率が2×10−5重量%以上、5×10−4重量%以下であることを特徴とする請求項1または2に記載の発光装置。
  4. 前記樹脂組成物は、前記密着性基を有するフッ素樹脂の含有モル分率が0.1モル%以上、20モル%以下であることを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の発光装置。
  5. 前記樹脂組成物は、前記密着性基を有するフッ素樹脂の含有モル分率が0.5モル%以上、10モル%以下であることを特徴とする請求項4に記載の発光装置。
  6. 前記密着性基を有するフッ素樹脂は、ヒドロキシル基、カルボキシル基、アミノ基、シラノール基、エポキシ基およびアクリル基の少なくとも一つを含むことを特徴とする請求項1から5のいずれか一項に記載の発光装置。
JP2015168302A 2015-08-27 2015-08-27 発光装置 Active JP6622032B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015168302A JP6622032B2 (ja) 2015-08-27 2015-08-27 発光装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015168302A JP6622032B2 (ja) 2015-08-27 2015-08-27 発光装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017045902A JP2017045902A (ja) 2017-03-02
JP6622032B2 true JP6622032B2 (ja) 2019-12-18

Family

ID=58211698

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015168302A Active JP6622032B2 (ja) 2015-08-27 2015-08-27 発光装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6622032B2 (ja)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018207048A (ja) * 2017-06-08 2018-12-27 大日本印刷株式会社 Led素子用のフレキシブル基板
US11165002B2 (en) 2017-08-30 2021-11-02 Soko Kagau Co., Ltd. Light-emitting device
JP7338953B2 (ja) * 2018-03-30 2023-09-05 大日本印刷株式会社 自発光型表示体用の封止材シート及びそれを用いた自発光型表示体
CN110350070A (zh) * 2018-04-06 2019-10-18 旭化成株式会社 紫外线发光元件、紫外线发光装置、半导体芯片和透镜的接合方法
CN111200049A (zh) * 2018-05-02 2020-05-26 首尔伟傲世有限公司 发光元件封装件
KR102595821B1 (ko) 2018-05-02 2023-10-30 서울바이오시스 주식회사 발광 소자 패키지
JP6899412B2 (ja) * 2018-07-27 2021-07-07 住友化学株式会社 Ledデバイスの製造方法
KR102555238B1 (ko) 2018-09-13 2023-07-14 주식회사 루멘스 퀀텀닷 엘이디 패키지 및 이를 포함하는 퀀텀닷 엘이디 모듈

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006131845A (ja) * 2004-11-09 2006-05-25 Asahi Glass Co Ltd 新規な光学樹脂組成物
US20060138443A1 (en) * 2004-12-23 2006-06-29 Iii-N Technology, Inc. Encapsulation and packaging of ultraviolet and deep-ultraviolet light emitting diodes
CA2655180A1 (en) * 2006-06-12 2007-12-21 Asahi Glass Company, Limited Curable composition and fluorinated cured product
JP5702898B1 (ja) * 2013-04-30 2015-04-15 創光科学株式会社 紫外線発光装置
US9972758B2 (en) * 2013-09-12 2018-05-15 Soko Kagaku Co., Ltd. Ultraviolet light emitting device

Also Published As

Publication number Publication date
JP2017045902A (ja) 2017-03-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6622032B2 (ja) 発光装置
WO2011125346A1 (ja) 発光装置およびその製造方法
JP6451579B2 (ja) 発光装置
JP2008060344A (ja) 半導体発光装置
JP2009043836A (ja) 半導体発光装置
JP2009049342A (ja) 発光装置
JP6539950B2 (ja) 発光装置および発光装置の製造方法
JP2010239043A (ja) Led光源及びled光源の製造方法
JP2010135488A (ja) 発光装置及びその製造方法
TW201635599A (zh) 發光裝置
EP2704541A2 (en) Wiring board, light-emitting device, and method of manufacturing the wiring board
JP2020123740A (ja) 発光装置
JP6864875B2 (ja) 発光モジュール及びその製造方法
JP2010199513A (ja) 発光装置及びこの発光装置を備えた照明装置
JP2005136101A (ja) 半導体発光装置
JP2008186946A (ja) 光半導体装置及びその製造方法
JP6164215B2 (ja) 光半導体装置
JP2009158656A (ja) 発光装置
JP7112190B2 (ja) 発光装置
JP2009032866A (ja) 発光装置
JP6551210B2 (ja) 発光装置
JP2009049172A (ja) 発光装置
JP2012156383A (ja) 発光デバイス及びその製造方法
JP6964421B2 (ja) 半導体発光装置
JP5325597B2 (ja) 半導体発光装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20180302

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20181210

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190108

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190225

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20190625

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190830

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20190918

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20191119

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20191121

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6622032

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250