JP6606097B2 - 三次元基板のコンフォーマルコーティング - Google Patents

三次元基板のコンフォーマルコーティング Download PDF

Info

Publication number
JP6606097B2
JP6606097B2 JP2016561002A JP2016561002A JP6606097B2 JP 6606097 B2 JP6606097 B2 JP 6606097B2 JP 2016561002 A JP2016561002 A JP 2016561002A JP 2016561002 A JP2016561002 A JP 2016561002A JP 6606097 B2 JP6606097 B2 JP 6606097B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
solution
precursor
coating
pillar
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2016561002A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2017523023A (ja
Inventor
スヴェン・ヒーリス
アン・ハルディ
マルリース・ファン・バール
フィリップ・エム・フェレーケン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hasselt Universiteit
Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC
Original Assignee
Hasselt Universiteit
Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hasselt Universiteit, Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC filed Critical Hasselt Universiteit
Publication of JP2017523023A publication Critical patent/JP2017523023A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6606097B2 publication Critical patent/JP6606097B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01MPROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M4/00Electrodes
    • H01M4/02Electrodes composed of, or comprising, active material
    • H01M4/04Processes of manufacture in general
    • H01M4/0402Methods of deposition of the material
    • H01M4/0419Methods of deposition of the material involving spraying
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05DPROCESSES FOR APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05D1/00Processes for applying liquids or other fluent materials
    • B05D1/02Processes for applying liquids or other fluent materials performed by spraying
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05DPROCESSES FOR APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05D3/00Pretreatment of surfaces to which liquids or other fluent materials are to be applied; After-treatment of applied coatings, e.g. intermediate treating of an applied coating preparatory to subsequent applications of liquids or other fluent materials
    • B05D3/04Pretreatment of surfaces to which liquids or other fluent materials are to be applied; After-treatment of applied coatings, e.g. intermediate treating of an applied coating preparatory to subsequent applications of liquids or other fluent materials by exposure to gases
    • B05D3/0433Pretreatment of surfaces to which liquids or other fluent materials are to be applied; After-treatment of applied coatings, e.g. intermediate treating of an applied coating preparatory to subsequent applications of liquids or other fluent materials by exposure to gases the gas being a reactive gas
    • B05D3/044Pretreatment
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/02Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition
    • C23C18/04Pretreatment of the material to be coated
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/02Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition
    • C23C18/12Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition characterised by the deposition of inorganic material other than metallic material
    • C23C18/1204Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition characterised by the deposition of inorganic material other than metallic material inorganic material, e.g. non-oxide and non-metallic such as sulfides, nitrides based compounds
    • C23C18/1208Oxides, e.g. ceramics
    • C23C18/1216Metal oxides
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/02Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition
    • C23C18/12Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition characterised by the deposition of inorganic material other than metallic material
    • C23C18/1229Composition of the substrate
    • C23C18/1245Inorganic substrates other than metallic
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/02Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition
    • C23C18/12Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition characterised by the deposition of inorganic material other than metallic material
    • C23C18/125Process of deposition of the inorganic material
    • C23C18/1254Sol or sol-gel processing
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/02Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition
    • C23C18/12Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition characterised by the deposition of inorganic material other than metallic material
    • C23C18/125Process of deposition of the inorganic material
    • C23C18/1291Process of deposition of the inorganic material by heating of the substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G9/00Electrolytic capacitors, rectifiers, detectors, switching devices, light-sensitive or temperature-sensitive devices; Processes of their manufacture
    • H01G9/004Details
    • H01G9/04Electrodes or formation of dielectric layers thereon
    • H01G9/042Electrodes or formation of dielectric layers thereon characterised by the material
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0216Coatings
    • H01L31/02161Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/02167Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01MPROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M10/00Secondary cells; Manufacture thereof
    • H01M10/05Accumulators with non-aqueous electrolyte
    • H01M10/052Li-accumulators
    • H01M10/0525Rocking-chair batteries, i.e. batteries with lithium insertion or intercalation in both electrodes; Lithium-ion batteries
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01MPROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M10/00Secondary cells; Manufacture thereof
    • H01M10/05Accumulators with non-aqueous electrolyte
    • H01M10/058Construction or manufacture
    • H01M10/0585Construction or manufacture of accumulators having only flat construction elements, i.e. flat positive electrodes, flat negative electrodes and flat separators
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01MPROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M4/00Electrodes
    • H01M4/02Electrodes composed of, or comprising, active material
    • H01M4/04Processes of manufacture in general
    • H01M4/0471Processes of manufacture in general involving thermal treatment, e.g. firing, sintering, backing particulate active material, thermal decomposition, pyrolysis
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01MPROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M4/00Electrodes
    • H01M4/02Electrodes composed of, or comprising, active material
    • H01M4/13Electrodes for accumulators with non-aqueous electrolyte, e.g. for lithium-accumulators; Processes of manufacture thereof
    • H01M4/131Electrodes based on mixed oxides or hydroxides, or on mixtures of oxides or hydroxides, e.g. LiCoOx
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01MPROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M4/00Electrodes
    • H01M4/02Electrodes composed of, or comprising, active material
    • H01M4/13Electrodes for accumulators with non-aqueous electrolyte, e.g. for lithium-accumulators; Processes of manufacture thereof
    • H01M4/139Processes of manufacture
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01MPROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M4/00Electrodes
    • H01M4/02Electrodes composed of, or comprising, active material
    • H01M4/13Electrodes for accumulators with non-aqueous electrolyte, e.g. for lithium-accumulators; Processes of manufacture thereof
    • H01M4/139Processes of manufacture
    • H01M4/1391Processes of manufacture of electrodes based on mixed oxides or hydroxides, or on mixtures of oxides or hydroxides, e.g. LiCoOx
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01MPROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M4/00Electrodes
    • H01M4/02Electrodes composed of, or comprising, active material
    • H01M4/36Selection of substances as active materials, active masses, active liquids
    • H01M4/48Selection of substances as active materials, active masses, active liquids of inorganic oxides or hydroxides
    • H01M4/52Selection of substances as active materials, active masses, active liquids of inorganic oxides or hydroxides of nickel, cobalt or iron
    • H01M4/525Selection of substances as active materials, active masses, active liquids of inorganic oxides or hydroxides of nickel, cobalt or iron of mixed oxides or hydroxides containing iron, cobalt or nickel for inserting or intercalating light metals, e.g. LiNiO2, LiCoO2 or LiCoOxFy
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01MPROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M10/00Secondary cells; Manufacture thereof
    • H01M10/05Accumulators with non-aqueous electrolyte
    • H01M10/052Li-accumulators
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01MPROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M10/00Secondary cells; Manufacture thereof
    • H01M10/05Accumulators with non-aqueous electrolyte
    • H01M10/058Construction or manufacture
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E60/00Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
    • Y02E60/10Energy storage using batteries
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Thermal Sciences (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Sustainable Development (AREA)
  • Sustainable Energy (AREA)
  • Battery Electrode And Active Subsutance (AREA)
  • Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
  • Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
  • Ceramic Capacitors (AREA)
  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
  • Secondary Cells (AREA)

Description

本発明は、三次元基板のコンフォーマルコーティング、特に高アスペクト比の要素を有する凹凸が表面に形成された三次元基板のコンフォーマルコーティングに関する。より具体的に言うと、本発明は、薄膜Liイオンバッテリまたは3D薄膜Liイオンバッテリの作製、および、コンフォーマルコーティングを用いた、キャパシタ、触媒、太陽電池およびセンサに用いられる誘電体膜の製造に関する。また、本発明は、当該コーティングのための水溶液に関する。
表面積の大きい三次元基板にコンフォーマルな被覆を設ける典型的な方法は、化学気相成長(CVD)や原子層堆積(ALD)などの真空を用いた技術である。これらの堆積方法は、多くの利点を有しているが、幾つかの欠点がある。例えば、運転費、設備費が高額であること、セットアップが複雑であること、基板の表面積が増えると堆積時間が大幅に増加することに起因してスループットが低いこと、である。商業用途では、これらの欠点を克服することに対するニーズが大きい。これらの欠点は、操作が単純で且つ低コストであることを特徴とする湿式化学法により克服できる可能性がある。
Niesenら(J. Electroceram. 6, p.169, 2001)は、化学溶液成長(CSD)を用いて平坦な基板の上にTiOの超薄膜を堆積させる、湿式化学法によるアプローチを開示している。しかし、この方法は、表面に凹凸を有する基板のコンフォーマルコーティングにはあまり適していない。
Shaijumonら(Adv. Mater. 2010, 22, 4978-4981)は、リチウムイオンマイクロバッテリとして用いるための、ナノ構造を有する3D陽極の設計および作製について開示している。同作製では、Al基板の上に直接に成長したAl製3Dナノドット集電体の上にPechiniライクなゾル−ゲルLiCoO前駆体が均一にスプレー塗布され、当該前駆体が熱分解している。ナノ構造を有するLiCoOを準備するために、リチウム塩、コバルト塩、エチレングリコールおよびクエン酸の水溶液を準備して透明なゾルが作られる。そして、このゾルがAlナノロッドの上にスプレー塗布され、続いて60℃で1時間乾燥が行われた。エチレングリコールは、エステルの架橋構造を形成する機能を有する。基板は洗浄され、650℃の空気中で8時間加熱された。スプレー塗布・アニールのプロセスは2回から5回繰り返され、これにより所望の厚さのLiCoOコーティングが得られた。ただし、ナノロッドは完全には覆われなかった。さらに、Shaijumonらの方法では、3回のスプレー塗布・アニールステップが実施され、全部で27時間から30時間の加工時間を要し、さらに厚さは30nmにしかならない。
上記課題の少なくとも一部を解決するコンフォーマルコーティングプロセスのための技術に対するニーズがある。
本発明は、凹凸(relief、レリーフ、起伏)を有する基板のコンフォーマルな(conformal、共形の、等角の)被覆を迅速に得るための優れた方法と溶液を提供することを課題とする。実施形態では、この課題は、アスペクト比が10以上、さらに15以上の凹凸においても同様に当てはまる。
凹凸を有する基板をコンフォーマルにコーティングできること、つまり、厚さが均一であって下側の基板の形状に正確に追随するコーティングを設けうることは、本発明の実施形態の利点である。言い換えると、前記凹凸構造体、および前記凹凸構造体の間に形成される凹部(くぼみ)、さらに前記凹凸構造体の端部において、前記コーティングの厚さは実質的に同じである。実施形態では、コーティングの厚さの均一性は、相対標準偏差(15%未満、好ましくは5%未満、好ましくは2%未満、より好ましくは1%未満、最も好ましくは0.5%未満)により特徴づけられてもよい。コーティングの厚さが均一であることにより、均一な電流密度が実現される。コーティングの厚さは、後方散乱電子検出器を有する走査型電子顕微鏡(SEM(BSE))により測定される。
凹凸を有する基板を迅速にコーティングできることは、本発明の実施形態の利点である。例えば、Shaijumonらによれば27時間から30時間で30nmの層が得られるのと比べて、約150nmのコンフォーマル層を1.25時間で得ることができる。
単純な方法を用いて、凹凸を有する基板の上にコンフォーマルコーティングを設けうることは、本発明の実施形態の利点である。
比較的安価な方法を用いて、凹凸を有する基板の上にコンフォーマルコーティングを設けうることは、本発明の実施形態の利点である。
水ベースであるため環境に優しいことは、本発明の実施形態の利点である。
多種の基板の上にコンフォーマルコーティングを設けうることは、本発明の実施形態の利点である。基板は、導電性であっても、半導電性であっても、非導電性であってもよい。本発明の方法と水溶液は、基板の化学的性質にあまり影響を受けない。それゆえ、本発明の実施形態は、多用途で利用できる。
一種類の金属酸化物および複数種類の金属酸化物の両方を堆積させうることは、本発明の実施形態の利点である。上述の理由に加え、この利点により、本発明の実施形態を多用途で利用できる。
結晶性に優れた(well crystallised)金属酸化物層で凹凸を有する基板をコーティングできることは、本発明の実施形態の利点である。例えば、実施形態では、相純粋なアナターゼTiO膜、スピネルLiTi12膜、Li3xLa(2/3)−xTiO膜(0.06≦x≦0.14、好ましくはx=0.117)、LiWO膜(0≦x≦1、好ましくはLiWO、相純粋な六方晶LuFeO膜、または、相純粋な斜方晶LuFeO膜を得ることができる。
本発明の実施形態に係る方法と水溶液は、Liイオン薄膜バッテリまたは3D薄膜Liイオンバッテリなどの薄膜バッテリ用の電極と電解質膜の製造、および、キャパシタ、触媒、太陽電池およびセンサに用いられる誘電体膜の製造に特に適していることがわかった。固体バッテリは、活性電極用の粉末および電解質用の液体をベースとする従来のLiイオンバッテリに対して、さまざまな利点を有する。例えば、固体バッテリによれば、以下の利点のうち1つまたは複数が得られる可能性がある。
・短絡、熱暴走および熱爆発の危険性が低下する。
・ケーシングが小さくなること、分離膜が不要になることにより、軽量化、小型化される。
・乾燥しており、それゆえ電極材料が劣化しにくくなることから、各充電/放電に伴う性能の安定性が増す。
・動作温度の幅が広がる。
上述の課題は、本発明に係る方法と溶液によって解決される。
第1の態様で、本発明は、
表面に凹凸を有する基板の上にコンフォーマルコーティングを形成する方法であって、
(a)前記基板の温度を140℃以上275℃以下に調整するステップと、
(b)前記基板の上に、ゾル−ゲル(または溶液−ゲル)前駆体を含む水溶液をコーティングするステップと、
を含む方法に関する。
基板の温度を前記範囲内に調整すると、コーティングのコンフォーマリティ(形状の追随性)が向上する点で有利であることがわかった。
前記基板は多孔質基板であってもよい。ただし、前記基板は、繊維状多孔質基板でないことが好ましい。言い換えると、前記基板は、フィラメントまたは繊維(例えばメタリックウール(metallic wool))により構成される基板でないことが好ましい。好ましくは、前記基板は、非多孔質基板である。
実施形態では、前記温度は、140℃以上であってもよく、好ましくは160℃以上、より好ましくは170℃以上、さらに好ましくは180℃以上である。これらの実施形態では、前記温度は、275℃以下であってもよく、好ましくは250℃以下、より好ましくは220℃以下、さらに好ましくは210℃以下、さらに好ましくは200℃以下である。
例えば、前記温度は、好ましくは160℃以上250℃以下に調整され、より好ましくは170℃以上210℃以下に調整される。
実施形態では、前記温度は、好ましくは160℃以上200℃以下に調整され、より好ましくは170℃以上190℃以下に調整される。
180℃以上200℃以下の温度で、特に良好な結果が得られた。
実施形態では、前記水溶液は、第3の態様のいずれかの実施形態で説明したものであってもよい。
実施形態では、方法は、ステップ(b)の後に、前記水溶液がコーティングされた基板をアニールするステップ(c)をさらに含んでもよい。前記アニールするステップにより、前記前駆体に対応する金属酸化物層の結晶性が良好なものとなる。実施形態では、前記アニールするステップは、前駆体を完全に分解し且つ金属酸化物を形成するのに十分な温度と時間で基板を加熱することにより、実施してもよい。例えば、前記アニールするステップは、前記基板を450℃以上1100℃以下、または450℃以上750℃以下に加熱することにより実施してもよい。例えば、前記アニールするステップは、500℃、600℃、800℃または1000℃で実施してもよい。アニールする時間は、ゲルが完全に分解されるように調整してもよい。
実施形態では、前記凹凸は、1つまたは複数の要素(element、エレメント)から構成されてもよく、前記要素の少なくとも1つのアスペクト比は、10以上であってもよい。
通常、アスペクト比は、物体の縦方向(垂直方向)の寸法(例えば、ピラーの場合は高さ、トレンチの場合は深さ)と、横方向(水平方向)の寸法の最短部分(すなわち幅)との間の比を指す。
実施形態では、前記凹凸を構成する少なくとも1つの要素は、ピラー形状またはトレンチ形状を有していてもよい。例えば、前記ピラー形状の径は、0.5μm以上10μm以下であってもよい。各ピラー形状の高さは、例えば10μm以上200μm以下である。平均ピラー間距離は、例えば2μm以上20μm以下であり、好ましくは3μm以上20μm以下である。前記トレンチ形状の幅は、0.5μm以上10μm以下であってもよい。前記トレンチ形状の深さは、例えば10μm以上200μm以下である。平均トレンチ間距離は、例えば2μm以上20μm以下であり、好ましくは3μm以上20μm以下である。
実施形態では、前記基板は半導体基板であってもよい。例えば、前記半導体基板はSi基板である。特に好ましい実施形態では、本発明の実施形態で規定している複数のピラーおよび/またはトレンチ(好ましくは複数のピラー)が形成されたSi基板が用いられる。
実施形態では、前記基板は、誘電体基板であってもよく、誘電体酸化物表面を有する半導体基板(例えば、SiO表面を有するSi基板)であってもよい。特に好ましい実施形態では、本発明の実施形態で規定している複数のピラーおよび/またはトレンチ(好ましくは複数のピラー)が形成されたSiO表面を有するSi基板が用いられる。
実施形態では、前記基板は、金属表面または導電性セラミック表面を有していてもよく、前記コーティングするステップ(b)は、前記表面の上で実施してよい。例えば、前記基板は、前記金属または前記導電性セラミックでコーティングされたSi基板であってもよい。導電性セラミック材料の例はTiNである。前記金属材料または前記導電性セラミック材料の厚さは、例えば10nm以上30nm以下である。これは、薄膜バッテリ用途で好適である。前記基板の上に設けられる金属材料層または導電性セラミック材料層は、薄膜バッテリ内の集電体として利用可能であるので好都合である。さらに、これらの層により、前記金属酸化物を構成する金属(例えばLi)の拡散が阻止される。
実施形態では、前記溶液をコーティングするステップは、前記溶液のエアロゾルを用いて実施してもよい。
実施形態では、前記溶液をコーティングするステップは、スプレー塗布により実施してもよい。スプレー塗布では、スピンコーティング、浸漬、ディップコーティング、ドロップキャスティング(drop casting)、またはエアーブラッシングと比べてはるかにコンフォーマリティが高くなる。
実施形態では、前記スプレー塗布は、超音波ノズルを用いて実施してもよい。
実施形態では、前記ステップ(b)において、前記基板の上に前記溶液のコンフォーマルコーティングを形成してもよい。実施形態では、前記方法は、表面に凹凸を有する基板の上にコンフォーマルコーティングを形成するものであってもよい。前記基板は、前記水溶液の前駆体により完全に覆うことが好ましい。前記水溶液と前記基板とが接触する時点での前記基板の温度を考慮すれば、コンフォーマルコーティングが容易に設けられる。理論に縛られることはないが、これは、前記温度では基板の上で前駆体溶液の表面張力が低下すること、かつ/または、前記温度では乾燥および/または分解が早期に誘導されること、の結果であると考えられる。前記温度範囲は、基板の上で溶液の表面張力を低下させ、溶液が基板の上で均一に広がるのに十分な時間を与える一方、重力の作用により凹凸要素の下部でコーティングが厚くなるほどの時間は与えない点で、理想的なようである。また、この温度範囲では、溶液が基板の表面に接する前に溶液の部分的な乾燥が誘導され、これにより溶液がゲルに変化し、溶液が表面に接触したすぐ後にゲルが部分的に分解するようである。上述の検討に鑑みれば、前記温度範囲と、ゾル−ゲル前駆体を含む水溶液の利用は、表面に凹凸を有する基板の上でコンフォーマルコーティングを得る上で重要である、というのが本発明者らの理解しているところである。
実施形態では、方法は、ステップ(b)の前に、前記基板を洗浄する(清浄にする)ステップをさらに含んでもよい。
実施形態では、前記基板を洗浄するステップは、ドライプロセスを用いて実施してもよい。好ましくは、前記ドライプロセスは、前記表面を、紫外線の照射下で、60℃のオゾンガスに接触させることを含む。これは、表面に設けられた凹凸を構成する要素(例えばピラー(柱)および/またはトレンチ)の間に生じる化学残留物を少なくし、または避けることができるので、好都合である。また、これにより、前駆体溶液による表面の濡れ性が改善する。
第2の態様では、本発明は、バッテリ(例えば、Liイオン薄膜バッテリまたは3D薄膜Liイオンバッテリなどの薄膜バッテリ)、キャパシタ(例えば薄膜キャパシタ)、触媒、太陽電池またはセンサを製造する方法に関する。この方法は、本発明のコンフォーマルコーティング方法についての前記実施形態のいずれかに従って、表面に凹凸を有する基板の上にコンフォーマルコーティングを形成するステップを含む。
第2の態様のある実施形態では、方法は、バッテリの製造に関するものであり、表面に凹凸を有する基板の上に、カソード層、電解質層およびアノード層から成る群から選択される少なくとも1つのコンフォーマル層を形成するステップを含んでもよい。前記少なくとも1つのコンフォーマル層を形成するステップは、第1の態様のいずれかの実施形態に従って実施してもよい。
例えば、本発明は、バッテリを製造する方法に関するものであり、該方法は、表面に凹凸を有する基板の上に以下の層を形成するステップを含む。
a.カソード層
b.電解質層
c.アノード層
これらの層のうち少なくとも1つ(好ましくは、カソード層とアノード層のうち少なくとも1つ)は、ゾル−ゲル前駆体を含む水溶液を前記基板の上にコーティングすることにより、基板の上に形成される。前記基板は、140℃以上275℃以下(好ましくは140℃以上220℃以下)の温度に調整される。
第2の態様のある実施形態では、本発明は、キャパシタ(例えば薄膜キャパシタ)の製造に関するものであり、該方法は、表面に凹凸を有する基板の上に誘電体層を形成するステップを含む。前記誘電体層を形成するステップは、第1の態様のいずれかの実施形態に従って実施してもよい。
実施形態では、前記基板とその表面形状は、第1の態様のいずれかの実施形態に係るものであってもよい。
実施形態では、前記水溶液は、第3の態様のいずれかの実施形態に係るものであってもよい。
実施形態では、前記アノード層は、TiOのゾル−ゲル前駆体、LiTi12のゾル−ゲル前駆体またはLiWO(0≦x≦1、好ましくはLiWO)のゾル−ゲル前駆体を含む水溶液を基板の上にコーティングすることにより、前記基板の上に形成してもよい。
実施形態では、前記電解質層は、Li3xLa(2/3)−xTiOのゾル−ゲル前駆体(0.06≦x≦0.14、好ましくは0.09≦x≦0.14、例えばx=0.117)のゾル−ゲル前駆体を含む水溶液を基板の上にコーティングすることにより、前記基板の上に形成してもよい。
用いる前駆体を構成する元素のモル比は、誘導結合プラズマ発光分光分析法(Inductively Coupled Plasma Atomic Emission Spectroscopy: ICP-AES)により調べることができる。
実施形態では、薄膜キャパシタ中の誘電体層は、LuFeOのゾル−ゲル前駆体を含む水溶液を基板の上にコーティングすることにより、前記基板の上に形成してもよい。
第3の態様では、本発明は、第1の態様または第2の態様に係る方法での利用に適した水溶液であって、
少なくとも1つの金属酸化物ゾル−ゲル前駆体であって、少なくとも、
・Li、Na、K、Mg、Ca、Sr、Ba、Sc、Y、La、Ti、Zr、Hf、V、Nb、Ta、Cr、Mo、W、Mn、Fe、Ru、Co、Ni、Cu、Zn、Al、Ga、In、Sn、Pb、Bi、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、YbおよびLuから成り、好ましくは、Li、Mg、La、Ti、Zr、Ta、Cr、Mo、W、Mn、Fe、Ni、Zn、Al、Ga、In、Bi、NdおよびLuから成り、より好ましくはLi、La、Ti、W、FeおよびLuから成る群から選択された金属と、
・クエン酸塩、グリコール酸塩、リンゴ酸塩、乳酸塩、酒石酸塩、酢酸塩およびシュウ酸塩から成り、好ましくは、クエン酸塩、グリコール酸塩および乳酸塩から成る群から選択された、少なくとも1つのアニオンと、
を含む金属カルボン酸錯体であるゾル−ゲル前駆体と、
水混和性を有し且つ水の表面張力を低下させるのに適した溶媒であって、前記溶媒と水との体積比は、水と前記溶媒との混合物の表面張力が、25℃で40mN/m未満、好ましくは35mN/m未満、より好ましくは30mN/m未満となるように調整された溶媒
とを含む水溶液に関する。
本発明につながる研究の中で、本発明者らは、所定量の溶媒が存在することにより、コーティングの均一性が向上することを見出した。理論に縛られることはないが、水溶液の表面張力が低下し、これにより基板の上でコーティングが固まる前に且つ重力の作用でコーティングの均一性が低下する時間が経過する前に、全方向にコーティングが速やかに広がることにより、上述のとおりコンフォーマリティが向上すると考えられる。
実施形態では、前記溶媒はアルコールであってもよい。通常、アルコールは、水の表面張力を低下させるのに適している。
実施形態では、前記アルコールはエタノールであってもよい。本発明の実施形態において、所定の表面形状を有する基板の上にコンフォーマルコーティングを形成する性能が向上するように前記前駆体溶液の組成を適合させる上で、エタノールが有効であることがわかっている。
実施形態では、前記溶媒と水との体積比は、0.7:1.0から1.5:1.0であってもよく、好ましくは0.7:1.0から1.1:1.0であり、より好ましくは0.8:1.0から1.0:1.0である。特に好ましい実施形態では、前記溶媒はアルコール(例えばエタノール)であり、前記溶媒と水との体積比は、0.7:1.0から1.5:1.0であってもよく、好ましくは0.7:1.0から1.1:1.0であり、より好ましくは0.8:1.0から1.0:1.0である。
実施形態では、前記金属酸化物ゾル−ゲル前駆体は、少なくとも、Ti、Li、Fe、W、LaおよびLuから成る群から選択される金属を前記金属として含んでもよい。
金属酸化物ゾル−ゲル前駆体は、金属酸化物のゾル−ゲル前駆体を意味する。より簡潔に言うと、前記金属酸化物のゾル−ゲル前駆体は、前記金属酸化物の堆積に用いられるものである。
実施形態では、前記得られる金属酸化物の組成には、一種類の金属または二種類以上の金属が含まれてもよい。実施形態では、前記得られる金属酸化物は、金属としてTiを含んでもよい。例えば、前記得られる金属酸化物は、TiO、LiTi12またはLi3xLa(2/3)−xTiO(0.06≦x≦0.14、好ましくはx=0.117)である。実施形態では、前記得られる金属酸化物がTiOである場合、その結晶層はアナターゼとルチルの混合物であってもよい。アナターゼとルチルの混合は、560℃以上640℃以下の高いアニール温度を利用することにより促進される。他の実施形態では、前記結晶層は純粋なアナターゼであってもよい。前記純粋なアナターゼは、460℃以上540℃以下の低いアニール温度を利用することにより形成されやすい。
実施形態では、前記得られる金属酸化物は、金属としてタングステンを含んでもよい。例えば、前記得られる金属酸化物は、LiWO(0≦x≦1、好ましくはLiWO)である。他の実施形態では、前記得られる金属酸化物は、金属としてFeおよび/またはLuを含む。例えば、前記金属酸化物はLuFeOである。
実施形態では、前記金属酸化物ゾル−ゲル前駆体は、クエン酸金属前駆体、言い換えると金属クエン酸錯体(例えばシトラトペルオキソ(citrato-peroxo)金属前駆体)であってもよい。
例えば、シトラトペルオキソ金属前駆体は、金属のアルコキシドと水とを反応させて加水分解生成物を形成し、当該加水分解生成物を過酸化水素およびクエン酸と反応させることにより得られる。金属酸化物の組成において2種以上の金属が存在することが望ましい場合、さまざまな単金属のイオン前駆体を適切な割合で混合してもよい。
実施形態では、以下のようにしてシトラトペルオキソ金属前駆体を得てもよい。まず、開始材料を含む金属(例えば金属のアルコキシド)を加水分解する(第1ステップ)。次に、クエン酸と過酸化水素との混合物に加水分解生成物を接触させ、透明な溶液を得る(第2ステップ)。次に、溶液のpHを中性化する。次に、通常、溶液を希釈し、その後にコーティング(例えばスプレー塗布)する(第3ステップ)。
第1ステップでは、前記開始材料を含む金属の量は、第3ステップの後に得られるシトラトペルオキソ金属前駆体中の金属の濃度が0.05mol/l以上2mol/l以下、好ましくは0.1mol/l以上1mol/l以下であるように調節してもよい。第3ステップの後、コーティング(例えばスプレー塗布)の前に溶液を希釈したとき、この最終の希釈により、金属の濃度は0.1mol/l以上1mol/l以下であってもよい。好ましくは、コーティングの前に前記溶液をエタノールで希釈する。
第2ステップでは、前記クエン酸の金属に対するモル比は、例えば、1:1から3:1、好ましくは2:1から3:1である。また、前記過酸化水素水の金属に対するモル比は、例えば、1:1から3:1である。好ましくは、クエン酸と過酸化水素のモル比は、1:0.4から1:0.6である。実施形態では、過酸化水素とクエン酸の金属に対するモル比は、それぞれ、1.5:1から2.5:1、より好ましくは1.8:1から2.2:1、さらに好ましくは1.9:1から2.1:1である。前記加水分解生成物を前記混合物に接触させた後(第2ステップの終わり)、得られる第2の混合物を、30℃以上90℃以下の温度で、透明な溶液を得るのに十分な時間、撹拌してもよい。次に、前記透明な溶液に、中性pHとなるまで塩基(通常はアンモニア)をゆっくり追加してもよい。
他の実施形態では、前記金属酸化物ゾル−ゲル前駆体は、クエン酸金属前駆体、言い換えると金属クエン酸錯体であってもよい。前記金属は、Sc、Y、La、Mn、Zn、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、YbおよびLuから成る群、好ましくはLi、W、Fe、LaおよびLuから成る群から選択されてもよい。
クエン酸タングステン前駆体は、例えば、タングステン酸とクエン酸との錯体形成反応により得られる。Sc、Y、La、Mn、Zn、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、YbおよびLuから成る群から選択される金属のクエン酸金属錯体は、前記金属の酸化物とクエン酸との錯体形成反応により得られる。具体的に、クエン酸La錯体、クエン酸Lu錯体は、La(III)酸化物、Lu(III)酸化物とクエン酸との錯体形成反応により得られる。すべての例で、金属酸化物の組成において2種以上の金属が存在することが望ましい場合、さまざまな単金属のイオン前駆体を適切な割合で混合してもよい。
実施形態では、以下のようにしてクエン酸タングステン前駆体を得てもよい。まず、タングステン酸、クエン酸および水を、モル比(W6+:クエン酸)が1:1から1:6、好ましくは1:4となるように混合する(第1ステップ)。次に、得られた混合物を室温以上120℃以下の温度(好ましくは120℃)で、2分以上24時間以下(好ましくは24時間)還流させ、その後、冷却する(第2ステップ)。次に、塩基(通常はアンモニア)を溶液に追加することにより、溶液のpHを11(好ましくは12)まで上昇させる(第3ステップ)。次に、第3ステップで得られた溶液を、室温以上120℃以下の温度(好ましくは110℃)で、2分以上24時間以下(好ましくは24時間)還流させる(第4ステップ)。次に、第4ステップで得られた溶液を、pH7以上8以下(好ましくはpH8)の溶液を得て、[W6+]が0.5M以下(好ましくは0.15M)となるように水で希釈する(第5ステップ)。次に、第5ステップで得られた溶液を、コーティング(例えばスプレー塗布)前に希釈する(第6ステップ)。この最終の希釈により、金属の総濃度を0.01M以上0.05M以下に調整できる。好ましくは、前記コーティング前の希釈に用いる溶媒は、エタノールである。
実施形態では、クエン酸La前駆体、クエン酸Lu前駆体は、以下のようにして得てもよい。まず、La酸化物、Lu酸化物、クエン酸および水を、Lu3+:クエン酸、La3+:クエン酸のモル比がそれぞれ1:1から1:6(好ましくは、クエン酸Lu前駆体の場合は1:1、クエン酸La前駆体の場合は1:3)となるように混合する。次に、得られた混合物を室温以上120℃以下の温度(好ましくは120℃)で、2分以上24時間以下(好ましくは24時間)還流させ、その後、冷却する(第2ステップ)。次に、塩基(通常はアンモニア)を溶液に追加することにより、溶液のpHを、クエン酸Lu前駆体の場合は11、クエン酸La前駆体の場合は12)まで上昇させる(第3ステップ)。次に、第3ステップで得られた溶液を、室温以上120℃以下の温度(好ましくは、クエン酸Lu前駆体の場合は110℃、またはクエン酸La前駆体の場合は120℃)で、2分以上24時間以下(好ましくは24時間)還流させる(第4ステップ)。次に、第4ステップで得られた溶液を、pH7以上8以下(好ましくは、クエン酸Lu前駆体の場合はpH7.5、クエン酸La前駆体の場合は8)の溶液を得て、[Lu3+]または[La3+]が0.5M以下(好ましくは、クエン酸Lu前駆体の場合は0.1M、クエン酸La前駆体の場合は0.075M)となるように水で希釈する(第5ステップ)。次に、第5ステップで得られた溶液を、コーティング(例えばスプレー塗布)前に希釈する(第6ステップ)。この最終の希釈により、金属の総濃度を0.01M以上0.05M以下に調整できる。好ましくは、前記コーティング前の希釈に用いる溶媒は、エタノールである。
本発明の特定の好ましい態様について、添付の独立請求項と従属請求項に記載している。従属請求項に記載された特徴は、独立請求項に記載された特徴、および、他の従属請求項に記載された特徴と、必要に応じて、特許請求の範囲に明示的に記載されたものに限定されない形で組み合わせることができる。
この分野のデバイスには、一定の改良、変化および発展が存在するが、本発明のコンセプトは、十分に新規な改良(例えば、先行技術の実施から展開して、より効率的で安定した信頼性の高いデバイスを得ること)を示すと考えられる。
本発明の上述の(およびその他の)特性、特徴および利点は、本発明の原理を例示する添付の図面を参照してなされる以下の詳細な説明から明らかになるであろう。前記説明は、例示的な目的でなされているに過ぎず、本発明の範囲を限定することはない。以下で引用する参照図は、添付の図面を指す。
本発明の方法を適用する前の、20nmのTiNコーティングを有するSiマイクロピラーのSEM写真を示す。 本発明の実施形態に係るTiのコンフォーマルコーティングを行った後、熱処理を行う前の、図1のマイクロピラーのSEM写真を示す。 本発明の実施形態に係るコンフォーマルコーティングの前(下側)とコンフォーマルコーティングの後(上側)のピラーの上部(T)のラマンスペクトルを左側に示す。基準として、アナターゼ(▼)とルチル(▲)についてのラマン信号を示している。 本発明の実施形態に係るコンフォーマルコーティングの前(下側)とコンフォーマルコーティングの後(上側)のピラーの上部(T)のXRDパターンを示す。基準として、アナターゼ(▼)とルチル(▲)についてのXRD信号を示している。 本発明の実施形態に係るTi、Liのコンフォーマルコーティングの前(下側)とコンフォーマルコーティングの後(上側)、熱処理を行う前の、図1のマイクロピラーのSEM写真を示す。 本発明の実施形態に係るLi3xLa(2/3)−xTiO(x=0.117)のコンフォーマルコーティングの後であって、さらにその後に熱処理を行った状態の、図1のマイクロピラーのSEM写真を示す。 本発明の実施形態に係るLiWOのコンフォーマルコーティングの後であって、さらにその後に熱処理を行った状態の、図1のマイクロピラーのSEM写真を示す。 本発明の実施形態に係るLuFeOのコンフォーマルコーティングの後、熱処理を行う前の、図1のマイクロピラーのSEM写真を示す。
特定の実施形態に関して、特定の図面を参照しつつ本発明について説明するが、本発明はこれに限定されず、特許請求の範囲によってのみ限定される。図面は概略的なものにすぎず、非制限的である。図面で、幾つかの要素の大きさは、説明のために誇張され、実際のスケールでは図示されていないことがある。寸法および相対寸法は、本発明が実際に実施化される態様とは対応していない。
さらに、明細書の説明と特許請求の範囲で用いられる、第1、第2、第3などは、類似の要素を区別するために用いられているのであって、必ずしも時間的、空間的、序列、または他のいずれかの方法での順序を表すために用いられているのではない。こうして用いられた用語は、適切な状況下で交換可能であり、本明細書で説明している本発明の実施形態は、本明細書で説明または図示されているものとは別の順序で動作可能であると理解すべきである。
さらに、明細書の説明と特許請求の範囲で用いられる、上、下、上方、下方などは、説明のために用いられているのであって、必ずしも相対的な位置を記述するために用いられているのではない。こうして用いられた用語は、適切な状況下で交換可能であって、本明細書で説明した本発明の実施形態は、本明細書で説明または図示されているものとは別の向きで動作可能であると理解すべきである。
特許請求の範囲で用いられる、「備える、有する、含む」は、それ以降に列挙された手段に限定されるように解釈すべきでない。「備える、有する、含む」は、他の要素、ステップを除外しない。それゆえ、「備える、有する、含む」は、記載されている特徴、整数、ステップまたは構成要素の存在を明記するものであると解釈すべきであって、1つ以上の他の特徴、整数、ステップもしくは構成要素、またはこれらの組み合わせの存在または追加を除外するものではない。したがって、「手段Aと手段Bとを備えたデバイス」という表現の範囲は、構成要素A,Bのみからなるデバイスに限定すべきでない。この表現は、本発明に関して、構成要素A,Bが、デバイスの関連するコンポーネントであることを意味するにすぎない。
この明細書を通じて「一実施形態、実施形態」は、当該実施形態に関連して説明される特定の特徴、構造または特性が、本発明の少なくとも1つの実施形態に含まれるということを意味する。したがって、本明細書を通じてさまざまな場所で現れるフレーズ「一実施形態で、実施形態で」は、必ずしもすべてが同じ実施形態を参照するわけではないが、参照してもよい。さらに、本開示から当業者に明らかなように、1つ以上の実施形態に記載された特定の特徴、構造または特性は、任意の適切な方法で組み合わされてよい。
同様に、本発明の例示的な実施形態の説明で、本発明のさまざまな特徴は、開示を簡素化し、さまざまな発明の態様の理解を容易にする目的で、1つの実施形態、図面、またはその説明にまとめられていることがあると認識すべきである。ただし、本開示の方法は、特許請求の範囲に記載の発明が、各請求項に明示的に記載された特徴よりも多くの特徴を必要とするという意図を反映していると解釈すべきではない。むしろ、以下の特許請求の範囲が反映しているように、発明の態様は、開示された1つの実施形態のすべての特徴よりも少なくなる。したがって、詳細な説明に続く特許請求の範囲は、この詳細な説明中に明確に包含され、各請求項は、この発明の別々の実施形態としてそれ自身で成立する。
さらに、当業者に理解されるように、本明細書で説明する幾つかの実施形態は、他の実施形態の特徴の幾つかは含むが別の幾つかは含まず、異なる実施形態の特徴の組み合わせは、本発明の範囲に含まれ、さまざまな実施形態を構成する。例えば、以下の特許請求の範囲において、特許請求の範囲で請求された実施形態のいずれも、任意の組み合わせで用いることができる。
さらに、方法として、または方法に含まれる要素の組み合わせとして本明細書で説明している実施形態の幾つかは、コンピュータシステムのプロセッサまたは機能を実行する他の手段により実施できる。したがって、当該方法または方法に含まれる要素を実行するために必要な命令を有するプロセッサが、当該方法または方法に含まれる要素を実行する手段を構成する。さらに、本明細書で説明している、装置の実施形態を構成する要素は、本発明を実施する目的で当該要素が果たす機能を実行する手段の一例である。
本明細書でなされている説明では、多くの具体的な詳細が記述されている。しかし、本発明の実施形態は、これらの具体的な詳細を含まなくても実施できると理解すべきである。他の例では、周知の方法、構造および技術は、説明の理解を不明瞭にしないために、詳細には示されていない。
本発明の複数の実施形態を詳細に説明することにより、本発明を説明する。当業者の知識に従って、本発明の真の精神または技術的教示から逸脱しない範囲で、本発明の他の実施形態が構成されてよいことは明らかである。本発明は、添付の特許請求の範囲の用語によってのみ限定される。
(実施例1:シトラトペルオキソチタニウム前駆体の合成)
開始物質として、液体のTi(IV)イソプロポキシド(Ti(OiPr)、Acros organics社、98%以上)を用いた。0.73mol/lの溶液が得られるように、適量のTi(IV)イソプロポキシドを10倍の体積の水に追加した。すぐに加水分解と濃縮が生じ、白色沈殿が生成した。沈殿は濾過して水で洗い流した。加水分解の生成物は、不溶性物質となるのを避けるため、迅速に処理した。次のステップでは、クエン酸(CA、C、Sigma−Aldrich社、99%)と過酸化水素(H、安定化されている、Acros社、35%p.a水溶液)を、Ti4+:CA:Hのモル比が1:2:1.2となるように、生成したばかりの濡れた沈殿に加えた。次に、混合物を80℃で攪拌した。短い時間の後に、赤紫色の透明な溶液(pHは約1)が生成した。溶液を室温まで冷却し、第3ステップで、アンモニア(NH、Merck社、32%水溶液、EP(extra pure))を溶液に滴下し、pHを上昇させた(pH電極(WTW社のSentix 81 electrodeを備えたinoLab 740)を用いて測定した)。このとき、激しくガスが発生し、溶液の温度が上昇した。溶液を再び室温まで冷却し、pHを正確に7とした。第3ステップ中、溶液の色は赤紫色(burgendy)(pH=1)から黄橙色(pH=7)に変化した。最終のステップで、前駆体をHOで希釈し、これに併せてエタノールを追加し、Ti4+濃度を0.05Mとし、エタノールと水との体積比を0.9:1とした。
(実施例2:SiマイクロピラーのTiOコンフォーマルコーティング)
シリコンのマイクロピラーが、表面積の大きい3D基板として用いられている。Siマイクロピラーは、薄膜バッテリにおいて基板として用いられることに鑑みて、TiNの薄い層(約20nm)でコーティングした。この層は、最終のバッテリスタックにおける集電体として用いられるだけでなく、Li用のブロック層としても機能する。図1は、(実施例1の水溶液を用いてコンフォーマルコーティングを行う前の)20nmのTiNコーティングを有するSiマイクロピラーのSEM写真を示しており、図1(A)は45°傾斜した方向から撮影したピラーの写真を、図1(B)はピラーの写真を、図1(C)はピラーの下部を撮影した写真を、図1(D)はピラーの上部を撮影した写真を示す。図1のSEM写真からわかるように、ピラーの直径は、約1.85μm以上約2.85μm以下である(測定対象としたピラーに沿った高さに応じて変わる)。ピラーの高さは約50μmであり、互いに5μm(ピラー間距離)を隔てて配置されている。シリコンピラーのアスペクト比は17以上27以下であると見積もられる。この値は、計算に用いた直径に応じて変わる。ピラーの長さで直径を平均化すると、アスペクト比は約22である。シリコンマイクロピラーを含む基板をUV/Oプロセスで洗浄した。超音波コーティングシステム(ExactaCoat(商標))内で180℃に調整された基板の上に、実施例1の溶液をスプレー塗布することにより、ピラーの上に前駆体を堆積させた。ノズルには、AccuMist社製の超音波スプレーノズル(precision ultrasonic spray nozzle)を用いた。Ti前駆体を用いて、シリコンピラーのコンフォーマル被覆を行うことができた。得られるゲルを、堆積後のピラーのSEM写真で示している(図2)。図2は、20nmのTiNでコーティングされたSiマイクロピラーのSEM写真を示しており、TiNはTi配位錯体から成るゲルで覆われている。図2(A)は45°傾斜した方向から撮影したピラーの写真を、図2(B)はピラーの下部を撮影した写真を、図1(D)はピラーの上部を撮影した写真を示す。より薄いTiO層も準備したところ、より優れたコンフォーマリティを示したが、SEM写真で区別するのはさらに困難であった。
ホットプレートの上で、まず180℃で2分間、次に300℃で2分間、最後に600℃で60分間、ピラーの熱処理を行い、ゲルを分解させ、TiO酸化物を形成した。また、これにより、堆積層の結晶化が開始した。結晶化プロセスに関連する形態の変化(図3の右側に示すSEM写真)およびこれに伴うラマンスペクトル(図3の左図の上側のスペクトルを参照)を図3で見ることができる。TiO層がアナターゼ(下向きの三角形)とルチル(上向きの三角形)の混合物として結晶化したことは明らかである。図4のXRDパターン(上側のパターン)において、相混合物が存在していることがさらに示されている。プレーナ基板(平坦な基板)についての研究をさらに行った結果、最終のアニール温度を500℃まで低下させることにより、相純粋なアナターゼ膜を得ることができることがわかった(データは示していない)。
(実施例3:シトラトペルオキソチタニウム−リチウム前駆体の合成)
まず、単金属Ti(IV)のイオン溶液とLi(I)のイオン溶液を別々に準備した。
Ti(IV)前駆体について、開始物質として、液相のTi(IV)イソプロポキシド(Ti(OiPr)、Acros organics社、98%以上)を用いた。0.73mol/lの溶液が得られるように、適量のTi(IV)イソプロポキシドを10倍の体積の水に追加した。すぐに加水分解と濃縮が生じ、白色沈殿が生成した。沈殿は濾過して水で洗い流した。加水分解の生成物は、不溶性物質となるのを避けるため、迅速に処理した。次のステップでは、クエン酸(CA、C、Sigma−Aldrich社、99%)と過酸化水素(H、安定化されている、Acros社、35%p.a水溶液)を、Ti4+:CA:Hのモル比が1:2:1.2となるように、生成したばかりの濡れた沈殿に加えた。次に、混合物を80℃で攪拌した。短い時間の後に、赤紫色の透明な溶液(pHは約1)が生成した。溶液を室温まで冷却し、第3ステップで、アンモニア(NH、Merck社、32%水溶液、EP(extra pure))を溶液に滴下し、pHを上昇させた(pH電極(WTW社のSentix 81 electrodeを備えたinoLab 740)を用いて測定した)。このとき、激しくガスが発生し、溶液の温度が上昇した。溶液を再び室温まで冷却し、pHを正確に7とした。第3ステップ中、溶液の色は赤紫色(pH=1)から黄橙色(pH=7)に変化した。
Li(I)前駆体について、水酸化リチウム(LiOH、Sigma−Aldrich社、98%以上)とクエン酸(CA、C、Sigma−Aldrich社、99%)を、最終のLi(I)イオン濃度が0.7Mとなり、Li:CAが1:1となるように、水に追加した。次に、混合物を80℃で攪拌した。短い時間の後に、無色透明の溶液(pHは約3.5)が生成した。溶液を室温まで冷却し、第3ステップで、アンモニア(NH、Merck社、32%水溶液、EP(extra pure))を溶液に滴下し、pHを上昇させた(pH電極(WTW社のSentix 81 electrodeを備えたinoLab 740)を用いて測定した)。このとき、溶液の温度が上昇した。溶液の温度を再び室温まで冷却し、pHを正確に7とした。
次に、Ti(IV)溶液とLi(I)溶液を所望の量(モル比は5:4)混合することにより、複数金属イオンのTi/Li前駆体を準備した。総金属イオン濃度が0.05Mとなり、エタノール:水の体積比が0.9:1となるように、水とエタノールを溶液に追加した。
(実施例4:SiマイクロピラーのLiTi12コンフォーマルコーティング)
実施例1の水溶液の代わりに実施例3の水溶液を用いる点、ホットプレートの上でピラーの(ゲルの分解のための)更なる熱処理を行う点を除いて、実施例2を繰り返した。熱処理は、まず260℃で2分間、次に470℃で2分間行った。TiNでコーティングされたSiマイクロピラーの上で、最適な前駆体をスプレー塗布すると、ピラーが完全に前駆体で覆われる。これは、図5に示すSEM写真において見ることができる。ゲルの形成が明らかに視認される。図5は、20nmのTiNでコーティングされ、Li、Ti配位錯体から成るゲルで被覆されたSiマイクロピラーのSEM写真を示している。ゲルは、実施例3の溶液をTiNの上でスプレー塗布することにより得られる。図5(A)は、45度傾斜した方向から撮影したピラーの写真である。図5(B)は、ピラーの上部を撮影した写真である。図5(C)は、ピラーの下部を撮影した写真である。
ピラーをさらに熱処理するとゲルが分解し、これによりLi、Tiの酸化物が形成される。また、これにより、堆積層の結晶化が開始した。同じ実験を平坦なSi表面とPt表面で繰り返し、LiTi膜の結晶化を容易に調べることができた。これにより、相純粋なLiTi12(スピネル相)を得られることがわかった。
(実施例5:シトラトリチウムランタンチタン前駆体の合成)
まず、単金属のLi(I)のイオン溶液、La(III)のイオン溶液およびTi(IV)のイオン溶液を別々に準備した。
Li(I)前駆体については、クエン酸リチウム水和物(COH(COOLi)・HO、Sigma−Aldrich社、99%以上)を水に追加した。Liイオン濃度が1MでpH8(pH電極(WTW社のSentix 81 electrodeを備えたinoLab 740)を用いて測定した)である無色透明な溶液が生成した。
La(III)前駆体については、酸化ランタン(La、Alfa Aesar社、99.9%)とクエン酸水和物(CA、C・HO、Sigma−Aldrich社、99%以上)を、最終のLa3+:CA比が1:3となるように、最低限の水に加えた。混合物は、120℃で24時間還流し、その後に室温まで冷却した。次のステップでは、溶液にアンモニア(NH、Merck社、32%水溶液、EP(extra pure))を滴下し、pHを12まで上昇させた(pH電極(WTW社のSentix 81 electrodeを備えたinoLab 740)を用いて測定した)。次に、全体を110℃で24時間還流するとともに水を加え、黄色がかった透明の溶液(0.075M、pH8)を得た。
Ti(IV)前駆体については、開始物質として液相のTi(IV)イソプロポキシド (Ti(OiPr)、Sigma−Aldrich社、97%以上)を用いた。0.9mol/lの溶液が得られるように、適量のTi(IV)イソプロポキシドを10倍の体積の水に追加した。すぐに加水分解と濃縮が生じ、白色沈殿が生成した。沈殿は濾過して水で洗い流した。加水分解の生成物は、不溶性物質となるのを避けるため、迅速に処理した。次のステップでは、クエン酸(CA、C、Sigma−Aldrich社、99%)と過酸化水素(H、安定化されている、Acros社、35%p.a水溶液)を、Ti4+:CA:Hのモル比が1:3:1.2となるように、生成したばかりの濡れた沈殿に加えた。次に、混合物を80℃で攪拌した。短い時間の後に、赤紫色の透明な溶液(pHは約1)が生成した。溶液を室温まで冷却し、第3ステップで、アンモニア(NH、Merck社、32%水溶液、EP(extra pure))を溶液に滴下し、pHを上昇させた(pH電極(WTW社のSentix 81 electrodeを備えたinoLab 740)を用いて測定した)。このとき、激しくガスが発生し、溶液の温度が上昇した。溶液を再び室温まで冷却し、pHを正確に7とした。第3ステップ中、溶液の色は赤紫色(pH=1)から黄橙色(pH=7)に変化した。
次に、Li(I)溶液、La(III)溶液およびTi(IV)溶液を所望の量(モル比は0.35:0.55:1)混合することにより、複数金属イオンのLi/La/Ti前駆体を準備した。総金属イオン濃度が0.01Mとなり、エタノール:水の体積比が0.9:1となるように、水とエタノールを溶液に追加した。
(実施例6:SiマイクロピラーのLi3xLa(2/3)−xTiO(x=0.117)コンフォーマルコーティング)
実施例1の水溶液の代わりに実施例5の水溶液を利用する点、基板の温度を180℃でなく200℃に調整する点、ホットプレートの上でピラーをさらに熱処理する点を除いて、実施例2を繰り返した。熱処理は、まず180℃で2分間、次に300℃で2分間、次に600℃で2分間、最後に700℃で60分間(加熱炉内で)行った。TiNでコーティングされたSiマイクロピラーの上での最適な前駆体をスプレー塗布し、その後にアニールして前駆体を分解し、Li/La/Ti酸化物を形成することにより、ピラーが完全に被覆される。これは、図6に示すSEM写真で見ることができる。図6では、完全なコーティングが見られる。図6は、20nmのTiNでコーティングされ、Li3xLa(2/3)−xTiO(x=0.117)で被覆されたSiマイクロピラーのSEM写真を示している。Li3xLa(2/3)−xTiO(x=0.117)は、実施例5の溶液をTiNの上でスプレー塗布することにより得られる。図6(A)はピラーの全体写真であり、図6(B)はピラーの下部、図6(C)はピラーの中央部を示し、図6(D)はピラーの上部を示す。さらに、結晶性コーティングを達成できることがわかった。
(実施例7:クエン酸リチウムタングステン前駆体の合成)
まず、単金属のLi(I)のイオン溶液、La(III)のイオン溶液およびTi(IV)のイオン溶液を別々に準備した。
Li(I)前駆体については、クエン酸リチウム水和物(COH(COOLi)・HO、Sigma−Aldrich社、99%以上)を水に追加した。Liイオン濃度が1MでpH8(pH電極(WTW社のSentix 81 electrodeを備えたinoLab 740)を用いて測定した)である無色透明な溶液が生成した。
タングステン(VI)前駆体については、タングステン酸(HWO、Sigma−Aldrich社、99%以上)とクエン酸水和物(CA、C・HO、Sigma−Aldrich社、99%以上)を、最終のW6+:CA比が1:4となるように、最低限の水に加えた。混合物は、120℃で24時間還流し、その後に室温まで冷却した。次のステップでは、溶液にアンモニア(NH、Merck社、32%水溶液、EP(extra pure))を滴下し、pHを12まで上昇させた(pH電極(WTW社のSentix 81 electrodeを備えたinoLab 740)を用いて測定した)。次に、全体を110℃で24時間還流するとともに水を加え、わずかに灰色の透明の溶液(0.15M、pH8)を得た。
次に、Li(I)溶液とW(VI)溶液とを所望の量(モル比は1:1)混合することにより、複数金属イオンのLi/W前駆体を準備した。総金属イオン濃度が0.01Mとなり、エタノール:水の体積比が0.9:1となるように、水とエタノールを溶液に追加した。
(実施例8:SiマイクロピラーのLiWOコンフォーマルコーティング)
実施例1の水溶液の代わりに実施例7の水溶液を利用する点、基板の温度を180℃でなく200℃に調整する点、ホットプレートの上でピラーをさらに熱処理する点を除いて、実施例2を繰り返した。熱処理は、まず180℃で2分間、次に300℃で2分間、次に600℃で2分間、最後に700℃で60分間(加熱炉内で)行った。TiNでコーティングされたSiマイクロピラーの上での最適な前駆体をスプレー塗布し、その後にホットプレートの上でアニールして前駆体を分解し、Li/W酸化物を形成することにより、ピラーが完全に被覆される。これは、図7に示すSEM写真で見ることができる。図7では、完全なコーティングが見られる。図7は、20nmのTiNでコーティングされ、前記酸化物で被覆されたSiマイクロピラーのSEM写真を示している。前記酸化物は、実施例7の溶液をTiNの上でスプレー塗布することにより得られる。図7(A)はピラーの全体写真であり、図7(B)はピラーの下部、図7(C)はピラーの中央部を示し、図7(D)はピラーの上部を示す。
(実施例9:クエン酸ルテチウム−鉄前駆体の合成)
まず、単金属のLu(III)のイオン溶液およびFe(III)のイオン溶液を別々に準備した。
Lu(III)前駆体については、ルテニウム(III)酸化物(Lu、Alfa Aesar、99.9%)とクエン酸(CA、C、Sigma−Aldrich社、99%)を最終のLu3+:CA比が1:1となるように、最低限の水に加えた。混合物は、120℃で24時間還流し、その後に室温まで冷却した。次のステップでは、溶液にアンモニア(NH、Merck社、32%水溶液、EP(extra pure))を滴下し、pHを11まで上昇させた(pH電極(WTW社のSentix 81 electrodeを備えたinoLab 740)を用いて測定した)。次に、全体を110℃で24時間還流するとともに水を加え、無色透明の溶液(0.1M、pH7.5)を得た。
Fe(III)の前駆体については、最終のFe(III)濃度が0.1Mとなるように、クエン酸鉄(III)水和物(FeC・HO、Acros社、98%、18%以上20%以下のFe)を水に追加した。次に、混合物を80℃で一晩攪拌した。透明な茶色の溶液(pHは約1.5)が生成した。溶液を室温まで冷却した。次のステップでは、アンモニア(NH、Merck社、32%水溶液、EP(extra pure))を溶液に滴下し、pHを上昇させた(pH電極(WTW社のSentix 81 electrodeを備えたinoLab 740)を用いて測定した)。
次に、Lu(III)溶液とFe(III)溶液を所望の量(モル比は1:1)混合することにより、複数金属イオンのLu/Fe前駆体を準備した。総金属イオン濃度が0.01Mとなり、エタノール:水の体積比が0.9:1となるように、水とエタノールを溶液に追加した。
(実施例10:SiマイクロピラーのLuFeOコンフォーマルコーティング)
実施例1の水溶液の代わりに実施例9の水溶液を利用する点、基板の温度を180℃でなく200℃に調整する点、ホットプレートの上でピラーをさらに熱処理する点を除いて、実施例2を繰り返した。熱処理は、まず320℃で2分間、次に510℃で2分間、次に800℃で60分間(加熱炉内で)、または1000℃で60分間(加熱炉内で)行った。800℃では純粋な六方相(hexagonal phase)が得られ、1000℃では純粋な斜方晶相が得られた。TiNでコーティングされたSiマイクロピラーの上での最適な前駆体をスプレー塗布し、その後にホットプレートの上でアニールして前駆体を分解し、Lu/Fe酸化物を形成することにより、ピラーが完全に被覆される。これは、図8に示すSEM写真で見ることができる。図8では、完全なコーティングが見られる。図8は、20nmのTiNでコーティングされ、前記酸化物で被覆されたSiマイクロピラーのSEM写真を示している。前記酸化物は、実施例9の溶液をTiNの上でスプレー塗布することにより得られる。図8(A)はピラーの全体写真であり、図8(B)はピラーの下部、図8(C)はピラーの中央部を示し、図8(D)はピラーの上部を示す。更なる熱処理により、堆積層が結晶化した。同じ実験を平坦なSi表面で繰り返し、LuFeO膜の結晶化を容易に調べることができた。これにより、アニール温度に応じて、相純粋な六方晶LuFeOおよび相純粋な斜方晶LuFeOの両方を得られることがわかった。
本発明について、好ましい実施形態、具体的な構造、配置および材料を本明細書で説明してきたが、本発明の範囲と精神から逸脱しない範囲で、さまざまな変更と修正が形式的に且つ詳細になされてよいと理解すべきである。例えば、上述のやり方は、単に利用可能な手順を表したものである。ブロック図に示したものに対して機能の追加または削除が行われてよく、動作は機能ブロックの間で置き換えることができる。本発明の範囲内であれば、説明している方法についてステップの追加または削除がなされてよい。

Claims (9)

  1. 表面に凹凸を有する基板の上にコンフォーマルコーティングを形成する方法であって、
    (a)前記基板の温度を140℃以上275℃以下に調整するステップと、
    (b)前記基板の上に、ゾル−ゲル前駆体を含む水溶液をコーティングするステップと、
    を含む方法。
  2. 前記水溶液は、水混和性を有し且つ水の表面張力を低下させるのに適した溶媒をさらに含み、
    前記溶媒と水との体積比は、水と前記溶媒との混合物の表面張力が、25℃で40mN/m未満となるように調整する、
    請求項1に記載の方法。
  3. ステップ(b)の後に、前記水溶液がコーティングされた基板をアニールするステップ(c)をさらに含む、
    請求項1または2に記載の方法。
  4. 前記凹凸は、1つまたは複数の要素から構成され、
    前記要素の少なくとも1つのアスペクト比は、10以上である、
    請求項1から3のいずれか1項に記載の方法。
  5. 前記凹凸を構成する少なくとも1つの要素は、ピラー形状またはトレンチ形状を有する、
    請求項1から4のいずれか1項に記載の方法。
  6. 前記水溶液をコーティングするステップは、スプレー塗布により実施する、
    請求項1から5のいずれか1項に記載の方法。
  7. 前記スプレー塗布は、超音波ノズルを用いて実施する、
    請求項6に記載の方法。
  8. ステップ(b)の前に、紫外線照射を照射しつつオゾンガスを用いて前記基板を洗浄するステップをさらに含む、
    請求項1から7のいずれか1項に記載の方法。
  9. バッテリ、キャパシタ、触媒、太陽電池またはセンサを製造する方法であって、
    請求項1から8のいずれか1項に記載の方法に従って、表面に凹凸を有する基板の上にコンフォーマル層を形成するステップを含む、
    方法。
JP2016561002A 2014-05-21 2015-05-20 三次元基板のコンフォーマルコーティング Active JP6606097B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP14169181.6 2014-05-21
EP14169181.6A EP2947178A1 (en) 2014-05-21 2014-05-21 Conformal coating on three-dimensional substrates
PCT/EP2015/061133 WO2015177221A1 (en) 2014-05-21 2015-05-20 Conformal coating on three-dimensional substrates

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017523023A JP2017523023A (ja) 2017-08-17
JP6606097B2 true JP6606097B2 (ja) 2019-11-13

Family

ID=50732936

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016561002A Active JP6606097B2 (ja) 2014-05-21 2015-05-20 三次元基板のコンフォーマルコーティング

Country Status (4)

Country Link
US (1) US10644302B2 (ja)
EP (2) EP2947178A1 (ja)
JP (1) JP6606097B2 (ja)
WO (1) WO2015177221A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3496185A1 (en) * 2017-12-08 2019-06-12 Nederlandse Organisatie voor toegepast- natuurwetenschappelijk onderzoek TNO Low-temperature preparation of cathode active material

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5238877A (en) 1992-04-30 1993-08-24 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Conformal method of fabricating an optical waveguide on a semiconductor substrate
FR2693558B1 (fr) * 1992-07-09 1994-08-19 Commissariat Energie Atomique Procédé de fabrication de couches minces présentant des propriétés optiques.
JPH0769645A (ja) * 1993-08-27 1995-03-14 Murata Mfg Co Ltd 鉛含有複合酸化物の製造方法
US6770257B1 (en) * 1999-02-04 2004-08-03 Kawasaki Jukogyo Kabushiki Kaisha Processes for producing anatase titanium oxide and titanium oxide coating material
US6632542B1 (en) * 2000-05-11 2003-10-14 Sandia Corporation Solar selective absorption coatings
JP4336442B2 (ja) * 2000-05-23 2009-09-30 キヤノン株式会社 太陽電池モジュール
US20020127455A1 (en) * 2001-03-08 2002-09-12 The Regents Of The University Of California Ceria-based solid oxide fuel cells
JP4543617B2 (ja) * 2002-04-22 2010-09-15 セイコーエプソン株式会社 アクティブマトリクス基板の製造方法、電気光学装置の製造方法、電子機器の製造方法、アクティブマトリクス基板の製造装置、電気光学装置の製造装置、及び電気機器の製造装置
US7867479B2 (en) * 2003-11-14 2011-01-11 Bug Buster, Ltd. Compounds to affect insect behavior and/or bird behavior
FR2893611B1 (fr) * 2005-11-23 2007-12-21 Commissariat Energie Atomique Procede de realisaion d'un revetement a base d'une ceramique oxyde conforme a la geometrie d'un substrat presentant des motifs en relief
US20090297626A1 (en) * 2006-11-03 2009-12-03 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Methods for preparing metal oxides
US20100135937A1 (en) * 2007-03-26 2010-06-03 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Metal oxide nanocrystals: preparation and uses
WO2009006910A2 (en) 2007-07-09 2009-01-15 Tallinn University Of Technology Photovoltaic cell based on zinc oxide nanorods and method for making the same
GB0915376D0 (en) * 2009-09-03 2009-10-07 Isis Innovation Transparent conducting oxides
EP2562293A4 (en) * 2010-04-22 2015-07-01 Nippon Kayaku Kk TO MEASURE SILVER, RESIN COMPOSITION AGAINST SILENCE PROCESS, PROCEDURE AGAINST SILVER AND LIGHT EMITTING DIODE
US8748216B2 (en) * 2010-10-25 2014-06-10 Imra America, Inc. Non-vacuum method for fabrication of a photovoltaic absorber layer
KR101672153B1 (ko) * 2011-08-10 2016-11-02 닛뽕소다 가부시키가이샤 적층체 및 그것의 제조 방법
US20130108802A1 (en) * 2011-11-01 2013-05-02 Isaiah O. Oladeji Composite electrodes for lithium ion battery and method of making
US20130168347A1 (en) 2011-12-30 2013-07-04 Abraham Gevorgian Safety container
US20130260047A1 (en) * 2012-03-27 2013-10-03 Rajan Bamola Coating and methods thereof

Also Published As

Publication number Publication date
EP2947178A1 (en) 2015-11-25
US10644302B2 (en) 2020-05-05
EP3146089B1 (en) 2019-04-03
US20170092931A1 (en) 2017-03-30
EP3146089A1 (en) 2017-03-29
JP2017523023A (ja) 2017-08-17
WO2015177221A1 (en) 2015-11-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Zhang et al. Tantalum-based semiconductors for solar water splitting
US11807944B2 (en) Lithium lanthanum zirconate thin films
KR102024917B1 (ko) 리튬-함유 박막 층 구조들을 제조하기 위한 기상 증착 방법
US8174017B2 (en) Integrating three-dimensional high capacitance density structures
Zarkov et al. On the synthesis of yttria-stabilized zirconia: a comparative study
JP5888916B2 (ja) 金属−絶縁体−金属キャパシタおよびその製造方法
KR20140118728A (ko) LiCoO₂막 형성용 전구체 용액 및 이 용액을 사용한 LiCoO₂막의 형성 방법
CN105355433A (zh) 一种结合ald制备高介电复合膜的方法
JP2016522958A (ja) 改質多結晶リチウム金属リン酸塩を含むセラミック電解質材料
JP2009181871A (ja) 全固体リチウム二次電池
JP6606097B2 (ja) 三次元基板のコンフォーマルコーティング
JP4603254B2 (ja) 金属酸化物ゾル液の製造方法、結晶質金属複酸化物ゾルおよび金属酸化物膜
Van den Ham et al. Amorphous and perovskite Li 3x La (2/3)− x TiO 3 (thin) films via chemical solution deposition: solid electrolytes for all-solid-state Li-ion batteries
Waghmare et al. Zirconium oxide films: deposition techniques and their applications in dye-sensitized solar cells
TW200809884A (en) Method for producing a coating of a porous, electrically conductive substrate material with a dielectric and production of high capacitance density capacitors by using this method
Tzeng et al. Template‐free synthesis of hollow porous strontium titanate particles
JP5303707B2 (ja) ペロブスカイト酸化物薄膜の製造方法及びペロブスカイト酸化物薄膜
US20210238758A1 (en) Photocatalyst electrode and method for producing photocatalyst electrode
van den Ham et al. 3D indium tin oxide electrodes by ultrasonic spray deposition for current collection applications
Bhowmick et al. Transcription methodology for rationally designed morphological complex metal oxides: a versatile strategy for improved electrocatalysis
CN107431123A (zh) Ptzt压电膜及其压电膜形成用液体组合物的制造方法
KR20130056016A (ko) 소듐 바나데이트 나노와이어의 제조방법
Courbaron et al. Improved electrochemical performance for high-voltage spinel LiNi0. 5Mn1. 5O4 modified by supercritical fluid chemical deposition
Garcia Hernandez et al. The influence of polyvinylpyrrolidone on thick and optical properties of BaTiO 3: Er 3+ thin films prepared by sol–gel method
KR20190089788A (ko) 리튬 양극활물질 표면의 개질방법

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20180223

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20190118

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190226

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190425

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20191008

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20191017

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6606097

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250