JP6596221B2 - き裂検査装置およびき裂検査方法 - Google Patents
き裂検査装置およびき裂検査方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6596221B2 JP6596221B2 JP2015081102A JP2015081102A JP6596221B2 JP 6596221 B2 JP6596221 B2 JP 6596221B2 JP 2015081102 A JP2015081102 A JP 2015081102A JP 2015081102 A JP2015081102 A JP 2015081102A JP 6596221 B2 JP6596221 B2 JP 6596221B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- crack
- shape
- unit
- data
- measurement data
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
図1は、第1実施形態のき裂検査装置の構成を示すブロック図である。図1のき裂検査装置は、検査対象物1のき裂を自動的に検査する装置である。検査対象物1の例は、ガスタービンの静翼である。
き裂検査装置は、スキャン部12に取り付けられた計測部11により検査対象物1の形状を計測する。スキャン部12は、検査対象物1の全表面の形状を計測するために、3軸の移動部21および回転部22を備えている。また、スキャン部12は、形状計測中の検査対象物1と計測部11との位置関係を維持するために、固定部23により検査対象物1の位置を固定する。演算部14内の形状スキャン部31は、計測部11の原点からの移動量と回転量の現在値を取得および記録することが可能である。
次に、形状合成部32は、検査対象物1の形状を計測して得られた複数組の形状計測データを記憶部16から読み出す。複数組の形状計測データの例は、複数のラインK1〜K6における形状計測データである。形状合成部32は、読み出した複数組の形状計測データを1組の形状計測データに合成する(ステップS4)。その後、形状合成部32は、合成した1組の形状計測データのノイズをフィルタリング等により除去する(ステップS5)。
次に、位置調整部33は、形状計測データ3との比較用の基準形状データ4を記憶部16から読み出す(ステップS6)。次に、位置調整部33は、同じ検査対象物1の形状計測データ3と基準形状データ4とを比較するために、形状計測データ3と基準形状データ4との位置調整を行う(ステップS7)。
次に、形状比較部34は、位置調整された形状計測データ3と基準形状データ4とを比較する(ステップS8)。例えば、形状比較部34は、形状計測データ3と基準形状データ4との差分形状データ5を作成する。次に、き裂領域特定部35は、形状計測データ3と基準形状データ4との比較結果に基づいて、検査対象物1においてき裂2が存在する領域を特定する(ステップS9)。以下、検査対象物1においてき裂2が存在する領域を、き裂領域と呼ぶ。
図5は、第1実施形態のき裂検出処理およびき裂測定処理について説明するための図である。ステップS10〜S15については、図5を参照しながら説明する。
図6は、第1実施形態の投影画像および合成画像の作成処理について説明するための図である。ステップS16〜S19については、図6を参照しながら説明する。
2:き裂、2a:下端線、2b、2c:側端線、2d:開始点、2e:終了点、
3:形状測定データ、4:基準形状データ、5:差分形状データ、
6a:内壁画像、6b:外壁画像、6c、6d:翼本体画像、
11:計測部、12:スキャン部、13:制御部、
14:演算部、15:表示部、16:記憶部、
21:移動部、22:回転部、23:固定部、
31:形状スキャン部、32:形状合成部、33:位置調整部、34:形状比較部、
35:き裂領域特定部、36:き裂検出部、37:き裂分類部、38:き裂測定部、
39:形状輪郭検出部、40:測定結果作成部
Claims (8)
- 検査対象物の形状を計測して得られた形状計測データと、前記形状計測データとの比較用の基準形状データとの位置調整を行う位置調整部と、
前記位置調整がされた前記形状計測データと前記基準形状データとを比較して、前記検査対象物においてき裂が存在する領域を特定するき裂領域特定部と、
前記き裂内の特定の点を検出するき裂検出部と、
前記特定の点の検出結果に基づいて、前記き裂の寸法を測定するき裂測定部と、
を備え、
前記位置調整部は、前記形状計測データおよび前記基準形状データの基準位置または前記基準位置の周辺の形状計測データ内の点またはエッジを抽出し、抽出した点の法線ベクトルまたは抽出したエッジの座標値を算出し、前記法線ベクトルまたは前記座標値を利用して前記基準位置を補正し、前記形状計測データおよび前記基準形状データの補正された前記基準位置を少なくとも3点でマッチングすることで、前記位置調整を行う、
き裂検査装置。 - 前記き裂検出部は、前記特定の点として、前記き裂の下端点、側端点、開始点、および終了点の少なくともいずれかを検出する、請求項1に記載のき裂検査装置。
- 前記き裂検出部は、前記き裂の座標の変化率に基づいて、前記特定の点を検出する、請求項2に記載のき裂検査装置。
- さらに、前記形状計測データおよび前記基準形状データの少なくともいずれかを用いて前記検査対象物の形状の輪郭を検出し、前記輪郭を2次元空間に投影した投影画像を作成する投影画像作成部を備える、請求項1から3のいずれか1項に記載のき裂検査装置。
- さらに、前記き裂の形状データと前記投影画像との合成画像を作成する合成画像作成部を備える、請求項4に記載のき裂検査装置。
- さらに、
前記検査対象物の形状を計測する計測部と、
前記検査対象物を前記計測部によりスキャンするスキャン部とを備え、
前記スキャン部は、前記計測部を移動させる移動部と、前記計測部を回転させる回転部と、前記検査対象物の位置を固定する固定部とを備える、請求項1から5のいずれか1項に記載のき裂検査装置。 - さらに、前記計測部により計測された複数組の形状計測データを1組の形状計測データに合成する形状合成部を備え、
前記き裂領域特定部は、合成された前記形状計測データと、前記基準形状データとに基づいて、前記検査対象物において前記き裂が存在する領域を特定する、請求項6に記載のき裂検査装置。 - 位置調整部が、検査対象物の形状を計測して得られた形状計測データと、前記形状計測データとの比較用の基準形状データとの位置調整を行い、
き裂領域特定部が、前記位置調整がされた前記形状計測データと前記基準形状データとを比較して、前記検査対象物においてき裂が存在する領域を特定し、
き裂検出部が、前記き裂内の特定の点を検出し、
き裂測定部が、前記特定の点の検出結果に基づいて、前記き裂の寸法を測定する、
ことを含み、
前記位置調整部は、前記形状計測データおよび前記基準形状データの基準位置または前記基準位置の周辺の形状計測データ内の点またはエッジを抽出し、抽出した点の法線ベクトルまたは抽出したエッジの座標値を算出し、前記法線ベクトルまたは前記座標値を利用して前記基準位置を補正し、前記形状計測データおよび前記基準形状データの補正された前記基準位置を少なくとも3点でマッチングすることで、前記位置調整を行う、
き裂検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015081102A JP6596221B2 (ja) | 2015-04-10 | 2015-04-10 | き裂検査装置およびき裂検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015081102A JP6596221B2 (ja) | 2015-04-10 | 2015-04-10 | き裂検査装置およびき裂検査方法 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019115803A Division JP6784802B2 (ja) | 2019-06-21 | 2019-06-21 | き裂検査装置およびき裂検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016200510A JP2016200510A (ja) | 2016-12-01 |
JP6596221B2 true JP6596221B2 (ja) | 2019-10-23 |
Family
ID=57423782
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015081102A Active JP6596221B2 (ja) | 2015-04-10 | 2015-04-10 | き裂検査装置およびき裂検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6596221B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114111685B (zh) * | 2021-11-19 | 2023-09-01 | 华能国际电力股份有限公司 | 一种透平叶片测量方法 |
CN118183220B (zh) * | 2024-05-17 | 2024-07-09 | 西昌学院 | 一种基于总线结构的带式传输机监控*** |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5218723B2 (ja) * | 2007-06-14 | 2013-06-26 | 株式会社Ihi | 蛍光探傷方法および蛍光探傷装置 |
EP2508871A4 (en) * | 2009-11-30 | 2017-05-10 | Nikon Corporation | Inspection apparatus, measurement method for three-dimensional shape, and production method for structure |
JP2014202534A (ja) * | 2013-04-02 | 2014-10-27 | 株式会社東芝 | 動翼測定装置と動翼測定方法 |
-
2015
- 2015-04-10 JP JP2015081102A patent/JP6596221B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2016200510A (ja) | 2016-12-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP2257797B1 (en) | System, program product, and related methods for registering three-dimensional models to point data representing the pose of a part | |
US10704900B2 (en) | Detection device and detection method | |
US7880899B2 (en) | Three-dimensional measurement system, inspection method, three-dimensional measurement method and program | |
KR101973917B1 (ko) | 3차원 계측 장치 및 그 계측 지원 처리 방법 | |
Rodríguez-Martín et al. | Procedure for quality inspection of welds based on macro-photogrammetric three-dimensional reconstruction | |
US9214024B2 (en) | Three-dimensional distance measurement apparatus and method therefor | |
JP6784802B2 (ja) | き裂検査装置およびき裂検査方法 | |
US20190172191A1 (en) | System and method for determining part damage | |
US20170061614A1 (en) | Image measuring apparatus and non-temporary recording medium on which control program of same apparatus is recorded | |
JP6596221B2 (ja) | き裂検査装置およびき裂検査方法 | |
US20020095267A1 (en) | Method for the non-destructive inspection of wall strength | |
JP6356579B2 (ja) | 渦電流探傷装置および渦電流探傷方法 | |
JP2020172784A (ja) | 山岳トンネルコンクリート厚測定方法および測定装置 | |
JP2008116206A (ja) | パターン寸法測定装置、方法及びプログラム | |
JP2014149156A (ja) | 超音波検査方法及び装置 | |
JP6884077B2 (ja) | 表面検査装置及び表面検査方法 | |
JP7397100B2 (ja) | ワーク画像解析装置、ワーク画像解析方法、及びプログラム | |
KR101110848B1 (ko) | Lvs를 이용한 개선 부재 최외각점 위치 측정 방법 및 장치 | |
JP2018044873A (ja) | 表面検査装置、表面検査方法及びデータベース | |
JP6577243B2 (ja) | 表面欠陥評価装置、表面欠陥検査システムおよび表面欠陥検査方法 | |
JP4682630B2 (ja) | 3次元計測システム、検査方法およびプログラム | |
JP6083806B2 (ja) | 加工孔位置の測定装置 | |
JP7399632B2 (ja) | 撮影処理装置、及び撮影処理方法 | |
JP2017090210A (ja) | 計測装置及び計測方法 | |
WO2017086484A1 (ja) | 表面検査方法、表面検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20171122 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20171124 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180220 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20181212 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20181218 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190214 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190423 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190621 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20190830 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190930 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6596221 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |