JP6556199B2 - 撮像装置及び撮像方法 - Google Patents
撮像装置及び撮像方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6556199B2 JP6556199B2 JP2017155878A JP2017155878A JP6556199B2 JP 6556199 B2 JP6556199 B2 JP 6556199B2 JP 2017155878 A JP2017155878 A JP 2017155878A JP 2017155878 A JP2017155878 A JP 2017155878A JP 6556199 B2 JP6556199 B2 JP 6556199B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- dichroic mirror
- interference
- signal
- phase
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Eye Examination Apparatus (AREA)
Description
光源からの光を参照光と測定光とに分割する分割手段と、
前記分割手段と被検査物とを結ぶ測定光路中に設けられ、前記測定光を反射することで前記測定光を前記被検査物に導き、且つ前記光源の光の波長とは異なる第1の波長の光に対する前記被検査物からの戻り光を透過する第1のダイクロイックミラーであって、複数の層により構成される第1のダイクロイックミラーと、
前記分割手段と参照物体とを結ぶ参照光路中に配置され、前記参照光を反射することで前記参照光を前記参照物体へ導く参照ダイクロイックミラーであって、複数の層により構成される参照ダイクロイックミラーと、
前記測定光が照射された前記被検査物からの戻り光と前記参照光が照射された前記参照物体からの参照戻り光との干渉光を受光する受光手段と、
前記被検査物を観察するための観察光路に設けられ、前記透過された戻り光に基づき前記被検査物の画像を取得するための撮像手段と、を有し、
前記参照光を導く参照光路中に配置されている前記参照ダイクロイックミラーは、前記第1のダイクロイックミラーの前記光源の波長に対する位相特性に対応する位相特性を有することを特徴とする。
図1は、撮像装置(光断層画像撮像装置:OCT装置)の概略構成を示す図であり、光学ヘッド900は被検査物(例えば、被検眼の前眼部、眼底)の画像(2次元の画像、3次元の断層画像)を取得する。
図1の光断層画像撮像装置(OCT装置)を用いた被検査物の断層画像の撮像方法について説明する。光断層画像撮像装置(OCT装置)は測定光走査部(Xスキャナ122−1、Yスキャナ122−2)を制御することで、被検査物(例えば、被検眼100の眼底)における所望の部位の断層画像を取得することができる。
第1実施形態では、光路分岐部の位相特性を補正する構成として、参照光を導く参照光路に、光路分岐部を構成するダイクロイックミラーの位相特性と対応する位相特性を有する光学素子が配置されている構成を説明した。本実施形態では戻り光と参照光との干渉光を受光するための測定光学部の全体(測定光路L1上の光路分岐部、レンズ、ミラー、光ファイバー等)について位相特性の影響を数値的な演算処理(補正処理)により取り除く構成を説明する。本実施形態で説明する測定光学部全体の光の波長に応じて異なる位相特性には、分散を考慮して補正できる位相特性と、分散を考慮しても補正できない不規則な位相特性とが含まれる。本実施形態で説明する演算処理(補正処理)は、これら2つの位相特性を補正するものである。なお、第1実施形態と第2実施形態とを組み合わせて実施することとしてもよい。例えば、第1実施形態において第1のダイクロイックミラー102とミラー154−1とを対応する位相特性としたが、それぞれに対する光の入射角度にズレがある場合にも以下に示す処理により入射角度にズレによる影響を低減し、確実に精度の良い被検査物の断層画像を取得することができる。
次に、撮像装置を用いた断層画像の撮像方法について説明する。第1実施形態と同様に、撮像装置はXスキャナ122−1、Yスキャナ122−2を制御することで、被検査物(例えば、被検眼100の眼底)における所望の部位の断層画像を取得することができる。例えば、図2に示すように、被検眼100に測定光201を照射し、眼底202をx方向に走査し、眼底202におけるx方向の撮像範囲から所定の撮像本数の情報をラインセンサ184で取得する。
まず、始めに撮像装置(OCT装置)の測定光学部全体の位相特性を取得するキャリブレーションの流れを説明する。ステップS401では、被検眼100の代わりに眼と同じ分散量を持つガラスと、被検眼100の眼底位置に相当する位置(za)に反射物であるミラーと、を被検査物として配置する。このミラーから反射された戻り光は、光路分岐部(第1のダイクロイックミラー102、第2のダイクロイックミラー103)に導かれてファイバー端126に戻される。干渉信号取得部602は、戻り光と参照光路から戻された参照光とを光カプラー125によって合波して干渉光を生成する。生成された干渉光は、光ファイバー125−4を介して分光器180のラインセンサ184で受光される。ラインセンサ184は、測定光に対する被検査物からの戻り光と参照光との干渉光を受光する受光部として機能する。干渉信号取得部602はラインセンサ184で受光された干渉光のスペクトルを取得する。
ステップS420で、干渉信号補正部620は(2)式の干渉信号から干渉光の位相特性を示す情報が含まれる被検査物の情報(信号)と、干渉光の位相特性を示す情報が含まれない被検査物の情報(信号)とを分離する。
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU等)がプログラムを読み出して実行する処理である。
615:撮像部、620:干渉信号補正部、622:断層画像取得部
Claims (16)
- 光源からの光を参照光と測定光とに分割する分割手段と、
前記分割手段と被検査物とを結ぶ測定光路中に設けられ、前記測定光を反射することで前記測定光を前記被検査物に導き、且つ前記光源の光の波長とは異なる第1の波長の光に対する前記被検査物からの戻り光を透過する第1のダイクロイックミラーであって、複数の層により構成される第1のダイクロイックミラーと、
前記分割手段と参照物体とを結ぶ参照光路中に配置され、前記参照光を反射することで前記参照光を前記参照物体へ導く参照ダイクロイックミラーであって、複数の層により構成される参照ダイクロイックミラーと、
前記測定光が照射された前記被検査物からの戻り光と前記参照光が照射された前記参照物体からの参照戻り光との干渉光を受光する受光手段と、
前記被検査物を観察するための観察光路に設けられ、前記透過された戻り光に基づき前記被検査物の画像を取得するための撮像手段と、を有し、
前記参照光を導く参照光路中に配置されている前記参照ダイクロイックミラーは、前記第1のダイクロイックミラーの前記光源の波長に対する位相特性に対応する位相特性を有することを特徴とする撮像装置。 - 前記第1のダイクロイックミラーが前記測定光に与える分散は前記参照ダイクロイックミラーが前記参照光に与える分散に対応していることを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
- 前記第1のダイクロイックミラーが前記測定光に与える分散は前記参照ダイクロイックミラーが前記参照光に与える分散と同じであることを特徴とする請求項1または2に記載の撮像装置。
- 前記第1のダイクロイックミラーおよび前記参照ダイクロイックミラーのそれぞれは複数の層により構成されることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の撮像装置。
- 前記被検査物は被検眼であり、
前記撮像手段は、前記透過された戻り光に基づき前記被検眼の前眼の画像を取得する第1の撮像手段であり、
前記撮像装置は、前記光源の光の波長および前記第1の波長とは異なる第2の波長の光に対する前記被検査物からの戻り光であって、前記第1のダイクロイックミラーにより反射された戻り光を反射する第2のダイクロイックミラーと、
前記第2のダイクロイックミラーにより反射された戻り光に基づき前記被検眼の眼底の画像を取得する第2の撮像手段と、を更に有し、
前記測定光は前記第2のダイクロイックミラーを透過することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の撮像装置。 - 前記撮像手段で取得される画像と、前記受光手段の出力に基づいて取得される断層画像とを並べて表示する表示手段を更に備えることを特徴とする請求項5に記載の撮像装置。
- 前記光源からの光の中心波長は855nmであって、
前記第1のダイクロイックミラーおよび前記参照ダイクロイックミラーはそれぞれ波長が855nmの光を反射し、波長が970nmの光を透過する特性を有することを特徴する請求項1乃至6のいずれか1項に記載の撮像装置。 - 前記被検査物は被検眼であることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の撮像装置。
- 前記戻り光は前記第1のダイクロイックミラーにより前記受光手段に向かって反射され、前記参照戻り光は前記参照ダイクロイックミラーにより前記受光手段に向かって反射されることを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の撮像装置。
- 前記第1のダイクロイックミラーに対する前記測定光の入射角度と前記参照ダイクロイックミラーに対する前記参照光の入射角度とが同じになるように前記第1のダイクロイックミラーおよび前記参照ダイクロイックミラーが配置されていることを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1項に記載の撮像装置。
- 前記測定光に対する被検査物からの戻り光と前記参照光との干渉光の位相特性を示す情報を用いて、前記干渉光から前記干渉光の位相特性を示す情報が含まれる信号と、前記干渉光の位相特性を示す情報が含まれない信号とを分離する干渉信号補正手段と、
前記干渉光の位相特性を示す情報が含まれない信号を用いて、前記被検査物の断層画像を取得する断層画像取得手段と、
を更に備えることを特徴とする請求項1乃至10のいずれか1項に記載の撮像装置。 - 前記干渉信号補正手段は、前記受光手段によって受光された前記干渉光の位相特性を示す情報を用いて、前記干渉光から前記干渉光の位相特性を示す情報が含まれる信号と、前記干渉光の位相特性を示す情報が含まれない信号とを分離することを特徴とする請求項11に記載の撮像装置。
- 前記受光手段で受光された前記干渉光の干渉信号を取得する干渉信号取得手段と、
前記干渉信号から前記干渉光の位相特性を示す情報を取得する位相特性取得手段と、
を更に備えることを特徴とする請求項12に記載の撮像装置。 - 前記干渉信号取得手段は、前記干渉光の強度を示す信号から、前記測定光の強度を示す信号および前記参照光の強度を示す信号の差分をとることにより前記干渉信号を取得することを特徴とする請求項13に記載の撮像装置。
- 前記干渉信号に対してフーリエ変換を行なうフーリエ変換手段と、
前記フーリエ変換された信号に対してハイパスフィルター処理を行い、正成分の信号を取得するフィルター処理手段と、
前記ハイパスフィルター処理された信号から偏角成分を取得することにより前記干渉信号の位相を測定する位相測定手段と、
前記ハイパスフィルター処理された信号のピークを検出することにより前記干渉信号の周波数を検出する周波数検出手段と、
前記周波数から前記干渉信号の位相を算出する位相算出手段と、を更に備え、
前記位相特性取得手段は、前記測定された前記干渉信号の位相と、前記算出された前記干渉信号の位相との差分から前記位相特性を示す情報を取得することを特徴とする請求項13または14に記載の撮像装置。 - 光源からの光を参照光と測定光とに分割する分割手段と、前記分割手段と被検査物とを結ぶ測定光路中に設けられ、前記測定光を反射することで前記測定光を前記被検査物に導き、且つ前記光源の光の波長とは異なる第1の波長の光に対する前記被検査物からの戻り光を透過する第1のダイクロイックミラーであって、複数の層により構成される第1のダイクロイックミラーと、前記分割手段と参照物体とを結ぶ参照光路中に配置され、前記参照光を反射することで前記参照光を前記参照物体へ導く参照ダイクロイックミラーであって、複数の層により構成される参照ダイクロイックミラーと、を有し、前記参照光を導く参照光路中に配置されている前記参照ダイクロイックミラーは、前記第1のダイクロイックミラーの前記光源の波長に対する位相特性に対応する位相特性を有している、撮像装置の撮像方法であって、
前記測定光が照射された前記被検査物からの戻り光と前記参照光が照射された前記参照物体からの参照戻り光との干渉光を受光処理する受光工程と、
前記被検査物を観察するための観察光路に設けられた撮像手段により、前記第1のダイクロイックミラーを透過した戻り光に基づき前記被検査物の画像を取得するための撮像工程と、
を有することを特徴とする撮像方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017155878A JP6556199B2 (ja) | 2017-08-10 | 2017-08-10 | 撮像装置及び撮像方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017155878A JP6556199B2 (ja) | 2017-08-10 | 2017-08-10 | 撮像装置及び撮像方法 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012190642A Division JP6195334B2 (ja) | 2012-08-30 | 2012-08-30 | 撮像装置、撮像方法およびプログラム |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017213423A JP2017213423A (ja) | 2017-12-07 |
JP2017213423A5 JP2017213423A5 (ja) | 2018-02-15 |
JP6556199B2 true JP6556199B2 (ja) | 2019-08-07 |
Family
ID=60576170
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017155878A Active JP6556199B2 (ja) | 2017-08-10 | 2017-08-10 | 撮像装置及び撮像方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6556199B2 (ja) |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4750786B2 (ja) * | 2004-05-29 | 2011-08-17 | ザ ジェネラル ホスピタル コーポレイション | 光コヒーレンストモグラフィ(oct)イメージングにおける屈折層を用いた色分散補償プロセス、システム及びソフトウェア構成 |
JP2007181632A (ja) * | 2006-01-10 | 2007-07-19 | Topcon Corp | 眼底観察装置 |
JP5545630B2 (ja) * | 2010-01-21 | 2014-07-09 | 株式会社ニデック | 眼科撮影装置 |
JP5762712B2 (ja) * | 2010-09-30 | 2015-08-12 | 株式会社ニデック | 眼科観察システム |
JP5675268B2 (ja) * | 2010-10-21 | 2015-02-25 | キヤノン株式会社 | 光干渉断層撮像装置、光干渉断層撮像方法、補償方法およびプログラム |
JP6195334B2 (ja) * | 2012-08-30 | 2017-09-13 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、撮像方法およびプログラム |
-
2017
- 2017-08-10 JP JP2017155878A patent/JP6556199B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2017213423A (ja) | 2017-12-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6195334B2 (ja) | 撮像装置、撮像方法およびプログラム | |
JP5483873B2 (ja) | 光断層撮像装置、および光断層撮像方法 | |
EP2620095B1 (en) | Optical coherence tomographic apparatus | |
JP6143422B2 (ja) | 画像処理装置及びその方法 | |
JP5032203B2 (ja) | 眼底観察装置及びそれを制御するプログラム | |
US9615736B2 (en) | Optical interference tomographic apparatus, and method for controlling optical interference tomographic apparatus | |
JP6552200B2 (ja) | 光断層撮像装置、その制御方法、及びプログラム | |
JP5486543B2 (ja) | 眼科撮像装置、眼科撮像装置の制御方法、およびプログラム | |
JP2019150409A (ja) | Oct装置 | |
JP6503665B2 (ja) | 光コヒーレンストモグラフィー装置及びプログラム | |
JP2019177032A (ja) | 眼科画像処理装置、および眼科画像処理プログラム | |
JP5990932B2 (ja) | 眼光断層画像撮像装置 | |
JP5987355B2 (ja) | 眼光断層画像撮像装置 | |
JP6064317B2 (ja) | 眼底解析装置及びプログラム | |
JP6556199B2 (ja) | 撮像装置及び撮像方法 | |
JP6047202B2 (ja) | 光干渉断層撮像装置、光干渉断層撮像方法、およびプログラム | |
JP2014213155A (ja) | 光断層撮像装置 | |
JP6888643B2 (ja) | Oct解析処理装置、及びoctデータ処理プログラム | |
WO2023182011A1 (ja) | 画像処理方法、画像処理装置、眼科装置、及びプログラム | |
JP5395888B2 (ja) | 画像生成装置、画像生成システム及び画像生成方法 | |
JP5746741B2 (ja) | 画像生成装置、画像生成システム及び画像生成方法 | |
JP2019010578A (ja) | 光干渉断層撮影装置及び光干渉断層撮影装置の制御方法 | |
JP2021029477A (ja) | 模型眼及び光干渉断層撮影装置の調整方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20170908 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20171226 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20180613 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20180625 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180815 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A132 Effective date: 20181221 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190128 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20190610 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190709 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 6556199 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |