JP6545263B2 - 投影装置、及び、画像をピクセルごとに投影する方法 - Google Patents
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Description
従来のビーマは、大抵の場合、相対的に大きく重く、また敏感であるため、モバイルでの使用にはあまり適していない。さらに、この種の機器は、比較的高いエネルギ消費量を有し、形成される色は、例えば太陽光が投影面に当たると、時として暈けて見えることがある。
本発明は、請求項1の特徴を有する投影装置、及び、請求項7の特徴を有する方法を開示する。
本発明が基礎としている認識は、投影すべき画像の各ピクセルを、それぞれ異なる放射強度で、即ち、画像の複数又は全てのピクセルに対して、観察者に不可視の赤外線光によってそれぞれ予め定められた値に補完可能な強度で、投影するということである。従って、不均一な戻り放射強度、即ち、放出された光ビームと放出された赤外線放射の反射によって生じ、特に光路内のオブジェクトによる何らかのブロック又は増幅反射によって不均一となる戻り放射強度の空間分解検出及び空間分解評価を基礎とした方法は、特に信頼性が高く、精密に動作可能である。
I‐const=P‐Rueck‐Soll(x‐ij)=S*R%*(IR(x‐ij)+IG(x‐ij)+IB(x‐ij)+IIR(x‐ij))=R%*P‐Aus‐Ist(x‐ij)
である。
I‐const=P’‐Rueck‐Soll(x‐ij)=R%*(SR*IR(x‐ij)+SG*IG(x‐ij)+SB*IB(x‐ij)+SIR*IIR(x‐ij))
のように、形成される。ここで、SR,SG,SBは、赤色波長領域及び緑色波長領域及び青色波長領域の光に対する放射強度検出装置の感度を表しており、SIRは赤外線放射の波長領域における放射強度検出装置の感度を表しており、IIR(x‐ij)は、本発明によれば、P’‐Rueck‐Soll(x‐ij)が予め定められた全てのピクセルx‐ijに対して一定となるように選定可能である。感度SR,SG,SB,SIRは、定数であってよいし、また例えば、方向依存性、出力依存性などを有する値であってもよい。
I‐const=P’’‐Rueck‐Soll(x‐ij)=R%R*SR*IR(x‐ij)+R%G*SG*IG(x‐ij)+R%B(x‐ij)*SB*IB(x‐ij)+R%IR(x‐ij)*SIR*IIR(x‐ij)
の式によって表現することができる。ここで、R%R,R%G,R%B,R%IRは、それぞれ、赤色又は青色又は緑色又は赤外線の波長領域の光に対する、投影面全体にわたって一定の反射係数である。
I‐const=P’’’‐Rueck‐Soll(x‐ij)=R%R(x‐ij)*SR*IR(x‐ij)+R%G(x‐ij)*SG*IG(x‐ij)+R%B(x‐ij)*SB*IB(x‐ij)+R%IR(x‐ij)*SIR*IIR(x‐ij)
の式において表現することができる。ここで、P’’’(ij)‐Rueck‐Sollは、ピクセルx‐ijの目標戻り放射強度測定信号である。
図1には、本発明の第1の実施形態による、画像50をピクセルごとに投影する投影装置10の概略的なブロック図が示されている。
Claims (11)
- 画像(50)をピクセルごとに投影する投影装置であって、
可視光(32;32−1,32−2,32−3)をピクセルごとに放出する光ダイオードデバイス(12)と、
赤外線放射(34)をピクセルごとに放出する赤外線ダイオードデバイス(14)と、
反射された可視光(42;42−1,42−2,42−3)及び反射された赤外線放射(44)の戻り放射強度をピクセルごとに検出し、検出された前記戻り放射強度に基づいて実際戻り放射強度測定信号をピクセルごとに形成する放射強度検出装置(16)と、
可視光(32;32−1,32−2,32−3)の放出のために、前記光ダイオードデバイス(12)を投影すべき画像(50)に従ってピクセルごとに駆動するように構成された制御装置(18;18’)と、
を備え、
前記制御装置(18,18’)はさらに、赤外線放射(34)の放出のために、予め定められたピクセル(54)につき前記実際戻り放射強度測定信号に対してピクセルごとに予測される目標戻り放射強度測定信号が予め定められた値を有するよう、前記赤外線ダイオードデバイス(14)を、投影すべき画像(50)と戻り放射モデルとに基づいてピクセルごとに制御するように構成されている、
投影装置。 - 前記予め定められたピクセル(54)につきピクセルごとに形成された前記実際戻り放射強度測定信号に基づいて制御ジェスチャを検出し、検出された前記制御ジェスチャに基づく制御信号を前記制御装置(18’)に伝送するように構成されたジェスチャ検出装置(20)が設けられており、
前記制御装置(18’)は、伝送された前記制御信号に基づいて駆動可能又は適応化可能である、
請求項1に記載の投影装置。 - 前記予め定められたピクセル(54)のうち少なくとも1つのピクセルの少なくとも1つの実際戻り放射強度測定信号と当該ピクセルの対応する目標戻り放射強度測定信号との少なくとも1つの差に基づいて前記戻り放射モデルを自動的に形成可能又は自動的に適応化可能な較正装置(22)が設けられている、
請求項1又は2に記載の投影装置。 - ユーザが前記戻り放射モデルの少なくとも1つのパラメータの適応化を行うことができるようにするためのプログラミング装置(24)が設けられている、
請求項1から3までのいずれか1項に記載の投影装置。 - 前記戻り放射モデルは、前記放射強度検出装置(16)の、前記可視光(32,42;32−1,32−2,32−3,42−1,42−2,42−3)の少なくとも1つの波長に対する、及び/又は、前記赤外線放射(34,44)に対する、波長依存性の感度SR,SG,SB,SIRを考慮に入れている、
請求項1から4までのいずれか1項に記載の投影装置。 - 前記戻り放射モデルは、投影面の及び/又はオブジェクト又は身体部分の、それぞれ前記可視光(32,42)の少なくとも1つの波長に対する、及び、前記赤外線放射に対する、波長依存性の予め定められた及び/又は決定可能な反射係数RR,RG,RB,RIRを考慮に入れている、
請求項1から5までのいずれか1項に記載の投影装置。 - 画像(50)をピクセルごとに投影する方法であって、
可視光(32;32−1,32−2,32−3)のピクセルごとの放出のために、投影装置(10;10’)の光ダイオードデバイス(12)を投影すべき画像(50)に従って制御するステップ(S01)と、
予め定められたピクセル(54)につき、反射された可視光(42;42−1,42−2,42−3)及び反射された赤外線放射(44)の戻り放射強度をピクセルごとに検出するステップ(S02)と、
検出された前記戻り放射強度に基づいて、実際戻り放射強度測定信号をピクセルごとに形成するステップ(S03)と、
赤外線放射(34)のピクセルごとの放出のために、予め定められたピクセル(54)につき前記実際戻り放射強度測定信号に対してピクセルごとに予測される目標戻り放射強度測定信号が予め定められた値を有するように、投影すべき画像(50)と戻り放射モデルとに基づいて、前記投影装置(10,10’)の赤外線ダイオードデバイス(14)を制御するステップ(S04)と、
を含む、方法。 - 前記方法は、
前記予め定められたピクセル(54)につきピクセルごとに形成された前記実際戻り放射強度測定信号に基づいて、制御ジェスチャを検出するステップ(S05)と、
検出された前記制御ジェスチャに基づく制御信号を形成するステップ(S06)と、
を含む、
請求項7記載の方法。 - 前記方法は、
前記予め定められたピクセル(54)のうち少なくとも1つのピクセルについて形成された少なくとも1つの実際戻り放射強度測定信号と予め定められた値との少なくとも1つの差に基づいて、前記戻り放射モデルを自動的に形成又は適応化するステップ(S08)
を含む、
請求項7又は8に記載の方法。 - 前記戻り放射モデルを自動的に形成又は適応化するステップ(S08)は、前記反射された可視光(42;42−1,42−2,42−3)及び前記反射された赤外線放射(44)の前記戻り放射強度をピクセルごとに検出し、検出された前記戻り放射強度に基づいて前記実際戻り放射強度測定信号をピクセルごとに形成する放射強度検出装置(16)の、前記可視光(32,42;32−1,32−2,32−3,42−1,42−2,42−3)の少なくとも1つの波長に対する、及び/又は、前記赤外線放射(34,44)に対する、少なくとも1つの波長依存性の感度SR,SG,SB,SIRの値を自動的に決定又は適応化することを含む、
請求項9に記載の方法。 - 前記戻り放射モデルを自動的に形成又は適応化するステップ(S08)は、投影面の及び/又はオブジェクト又は身体部分の、それぞれ前記可視光(32,42;32−1,32−2,32−3,42−1,42−2,42−3)の少なくとも1つの波長に対する、及び、前記赤外線放射に対する、波長依存性の反射係数R%R,R%G,R%B,R%IRを自動的に決定又は適応化することを含む、
請求項9に記載の方法。
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