JP6526628B2 - スキルミオンメモリ及びスキルミオンメモリを搭載した装置 - Google Patents
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Description
[先行技術文献]
[特許文献]
[特許文献1]特願2012−232324
[特許文献2]米国特許第6834005号
[非特許文献]
非特許文献1 永長 直人、十倉 好紀、"Topological properties and dynamics of magnetic skyrmions"、Nature Nanotechnology、英国、Nature Publishing Group、2013年12月4日、Vol.8、p899−911.
図3は、第1実施形態に係るスキルミオンメモリ100を示す、(A)はスキルミオンSが生成していない状態を示す模式図、(B)はスキルミオンSが生成した状態を示す模式図である。
図4は、第2実施形態に係るスキルミオンメモリ200を示す模式図である。図5は、図4のスキルミオンメモリ200を側面から見た状態を示す断面図である。
図6は、第3実施形態に係るスキルミオンメモリ200'を示す模式図である。
G=∫s|tr|2d2r
図7は、第4実施形態に係るスキルミオンメモリ300を示す模式図である。
2 磁気センサ
10、20、20'、30 磁気素子
16、26、26'、36 磁場発生部
11、31 第1非磁性金属電極
12、22、32 磁性体
13、33 第2非磁性金属電極
23、23' 非磁性金属電極
24、24' コンタクトアーム
14、28、38 外部電源
15、25、25' 電流検出部
34 第3非磁性金属電極
100、110、200、200'、300 スキルミオンメモリ
140 プロセッサ
350 電圧検出部
400 装置
S スキルミオン
Claims (10)
- スキルミオンを生成可能な薄層状の磁性体と、
前記磁性体の一面側に対向して設けられ前記磁性体に磁場を印加可能な磁場発生部と、
前記磁性体の延展方向に接続された薄層状の第1非磁性金属電極と、
前記磁性体の延展方向であって前記第1非磁性金属電極と対向する位置において前記磁性体に接続された薄層状の第2非磁性金属電極と、
前記第1非磁性金属電極及び前記第2非磁性金属電極の間の抵抗を検出する抵抗検出部と
を備えることを特徴とするスキルミオンメモリ。 - スキルミオンを生成可能な薄層状の磁性体と、
前記磁性体の一面側に対向して設けられ前記磁性体に磁場を印加可能な磁場発生部と、
前記磁性体の延展方向に接続された薄層状の第1非磁性金属電極と、
前記磁性体の表面の中心部に接触し前記第1非磁性金属電極と離間する位置において前記磁性体に接続された薄層状の第2非磁性金属電極と、
前記第1非磁性金属電極及び前記第2非磁性金属電極の間の抵抗を検出する抵抗検出部と
を備えることを特徴とするスキルミオンメモリ。 - スキルミオンを生成可能な薄層状の磁性体と、
前記磁性体の一面側に対向して設けられ前記磁性体に磁場を印加可能な磁場発生部と、
前記磁性体の延展方向に接続された薄層状の第1非磁性金属電極と、
前記磁性体の表面において、前記スキルミオンが生成された場合に前記スキルミオンが存在する部分と接触し前記第1非磁性金属電極と離間する位置において前記磁性体に接続された薄層状の第2非磁性金属電極と、
前記第1非磁性金属電極及び前記第2非磁性金属電極の間の抵抗を検出する抵抗検出部と
を備えることを特徴とするスキルミオンメモリ。 - スキルミオンを生成可能な薄層状の磁性体と、
前記磁性体の一面側に対向して設けられ前記磁性体に磁場を印加可能な磁場発生部と、
前記磁性体の延展方向に接続された薄層状の第1非磁性金属電極と、
前記磁性体の表面に形成された絶縁膜と、
前記第1非磁性金属電極と離間し、且つ、前記磁性体の表面の中心部である位置において前記絶縁膜上に形成された磁性体金属層と、
前記磁性体金属層に接続された薄層状の第2非磁性金属電極と、
前記第1非磁性金属電極及び前記第2非磁性金属電極の間の抵抗を検出する抵抗検出部と
を備えることを特徴とするスキルミオンメモリ。 - スキルミオンを生成可能な薄層状の磁性体と、
前記磁性体の一面側に対向して設けられ前記磁性体に磁場を印加可能な磁場発生部と、
前記磁性体の延展方向に接続された薄層状の第1非磁性金属電極と、
前記磁性体の表面に形成された絶縁膜と、
前記第1非磁性金属電極と離間し、且つ、前記スキルミオンが生成された場合に前記スキルミオンが存在する位置において前記絶縁膜上に形成された磁性体金属層と、
前記磁性体金属層に接続された薄層状の第2非磁性金属電極と、
前記第1非磁性金属電極及び前記第2非磁性金属電極の間の抵抗を検出する抵抗検出部と
を備えることを特徴とするスキルミオンメモリ。 - 前記第1非磁性金属電極及び前記第2非磁性金属電極を導通する電流回路を更に備え、
前記抵抗検出部は、前記電流回路に接続され前記電流回路に流れる電流を検出することを特徴とする請求項1から5の何れか1項記載のスキルミオンメモリ。 - スキルミオンを生成可能な薄層状の磁性体と、
前記磁性体の一面側に対向して設けられ前記磁性体に磁場を印加可能な磁場発生部と、
前記磁性体の延展方向に接続された薄層状の第1非磁性金属電極と、
前記磁性体の延展方向であって前記第1非磁性金属電極と対向する位置において前記磁性体に接続された薄層状の第2非磁性金属電極と、
前記第1非磁性金属電極及び前記第2非磁性金属電極を導通する第1電流回路と、
前記磁性体の延展方向であって前記第1非磁性金属電極と前記第2非磁性金属電極の対向方向に略垂直な方向において前記磁性体に接続された薄層状の第3非磁性金属電極と、
前記第2非磁性金属電極と前記第3非磁性金属電極間に発生する電圧を測定する手段と、
を備えることを特徴とするスキルミオンメモリ。 - 前記磁性体はカイラル磁性体、ダイポール磁性体、フラストレート磁性体、および、磁性材料と非磁性材料との積層構造のいずれかよりなることを特徴とする請求項1から7の何れか1項記載のスキルミオンメモリ。
- 請求項1から8の何れか1項記載のスキルミオンメモリとCMOS−LSIデバイスが同一チップ内に形成されていることを特徴とするスキルミオンメモリ搭載CMOS−LSIデバイス。
- 請求項1から8の何れか1項記載のスキルミオンメモリを搭載したことを特徴とする装置。
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