JP6482784B2 - 欠陥のある電気ケーブルの特定 - Google Patents

Description

本発明は全体的に、電気ケーブル、及び具体的には、欠陥のある電気ケーブルを特定する方法に関する。

電気ケーブルを試験するための様々な方法及びシステムが当該技術分野において既知である。例えば欧州特許ＥＰ０４０３５４７号（その開示は本明細書において参照として組み込まれる）は、供給線及び帰線の対を形成するように直接一緒にループ状にするようにケーブルの一端に接続するリモートユニットと、ケーブルの他端に接続するローカルユニットとを有する、多線ケーブルの、自動試験装置について記載する。

米国特許番号第５，１５５，４４０号（本明細書において参照として組み込まれる）は、ケーブルハーネスの故障及び性能低下を試験するための手持ち式装置について記載し、これは、３セットの電圧基準、ＣＭＯＳコンパレータ回路、プログラミング可能なＤＩＰスイッチ、誤差検出のためのＬＥＤステータスディスプレイ、全体的なシステム状態を示すＬＥＤ、及び電源を含む。

本明細書において開示される本発明の実施形態は、多数のワイヤーを含む電気ケーブルを、ワイヤーに接続された抵抗器バンクを含む回路に連結することを含む方法をもたらす。ケーブルを含む回路のゲインが測定される。測定されたゲインに基づき、ケーブル内の、欠陥のあるワイヤーの１本又は２本以上が特定される。欠陥のあるワイヤーの指標が出力される。

いくつかの実施形態において電気ケーブルの連結は、ワイヤーの第１端部を、対応する第１抵抗器に、かつワイヤーの第２端部を対応する第２抵抗器に連結することを含む。他の実施形態において、第１抵抗器は、抵抗Ｒの奇数倍の抵抗を有し、第２抵抗器は、Ｒの偶数倍の抵抗を有する。更に他の実施形態において、１本又は２本以上の欠陥のあるワイヤーを特定することは、測定されたゲインが、欠陥のないケーブルにおける予測されるゲインよりも小さいことが検出される際に、ワイヤーの１本又は２本以上における開回路を特定することを含む。

いくつかの他の実施形態において、１本又は２本以上の欠陥のあるワイヤーを特定することは、測定されたゲインが、欠陥のないケーブルにおける予測されるゲインよりも大きいことが検出される際に、ワイヤーの２つ以上の間の短絡回路を特定することを含む。他の実施形態において、１本又は２本以上の欠陥のあるワイヤーを特定することは、ケーブル内のそれぞれの予測される欠陥における、予め規定されたゲインのリストを保存することと、測定されたゲインと適合する予測される欠陥をリストから見つけることによって、１本又は２本以上の欠陥のあるワイヤーを決定することとを含む。他の実施形態において、フィードバック抵抗、及び同等の入力抵抗を有する、反転演算増幅器のゲインを測定することを含み、同等の入力抵抗は、ケーブル内の多数のワイヤーを含む。

本発明の実施形態により更に、回路及び多数のワイヤーを含む電気ケーブルと連結するためのインターフェースを含む装置がもたらされる。回路は、ワイヤーと接続される抵抗器バンクを含み、ケーブルを含む回路のゲインを測定し、かつ測定されたゲインに基づいて、欠陥のあるケーブルのワイヤーの１本又は２本以上を特定し、欠陥のあるワイヤーの指標を出力するように構成される。

本発明は、以下の実施形態の詳細な説明を、それら図面と総合すれば、より十分に理解されるであろう。

本発明の実施形態による、ケーブル試験セットを概略的に例示する、ブロック図である。 本発明の実施形態による、ケーブル試験回路を概略的に例示する図である。 本発明の実施形態による、電気ケーブル内の欠陥のあるワイヤーを特定するための方法を概略的に例示するフローチャートである。

概論
本明細書において記載される本発明の実施形態は、欠陥のある電気ケーブルを特定するための、改善された方法及びシステムをもたらす。開示される実施形態において、複数のワイヤーを備えるケーブルが、ケーブルを含む試験回路のゲインを測定するケーブル試験セットに連結される。試験回路は、抵抗器バンク（すなわち、試験中のケーブルの対応するワイヤーに連結された多数の抵抗器）を含む。ケーブル中の１本又は２本以上のワイヤーに欠陥があると、試験回路の測定されたゲインは、欠陥のないケーブルの予測されるゲインとは異なる。

更に、好適に設計される試験回路においては、測定されたゲインは、実際の欠陥の指標として明確である。測定されたゲインは例えば、いずれのワイヤーが破損したか、又はいずれのワイヤーの対が短絡したかを示すことがある。したがって、試験セットは、多数のワイヤーケーブルにおいて、開いた回路、及び短絡した回路の欠陥を、単一のゲイン測定値のみを使用して検出することができる。

システムの説明
図１は、本発明の実施形態による、ケーブル試験セット（ＣＴＳ）１０を概略的に例示する、ブロック図である。Ｎ本のワイヤー（Ｎは整数）を含む試験中のケーブル２０は、ケーブル−試験回路インターフェース２３を通じてＣＴＳ １０に連結されている。いくつかの実施形態において、ケーブル２０はＮ本のワイヤーを含み、これはケーブル２０の第１端部において第１コネクタ１３を通じて、ケーブル２０の第２端部において第２コネクタ１６を通じて、ＣＴＳ １０に連結されている。第１コネクタ及び第２コネクタは多数のワイヤーをインターフェース２３に連結する。

インターフェース２３は、ケーブル２０のＮ本のワイヤーを、第１コネクタ１３から、ＣＴＳ １０内の相互接続部の第１セット２５に、第２コネクタ１６から、ＣＴＳ １０の相互接続部の第２セット３０へと経路付けするように構成されている。相互接続の第１セット及び第２セットは、任意の好適な導体を使用して任意の好適な基材上に形成されてもよく、又はＣＴＳ １０内の内部ワイヤーであってもよい。相互接続部の第１セット及び第２セットは、ケーブル試験回路３５に連結される。ＣＴＳ １０の出力はその後、アナログ−デジタル変換（Ａ／Ｄ）４０及びプロセッサ４５に連結される。

プロセッサ４５は、ケーブル試験回路３５により生成されるゲイン測定値から、ケーブル２０のＮ本のワイヤーのいずれに欠陥があるかを特定するように構成される。ゲイン測定値の値はその後、Ａ／Ｄ ４０内でデジタル化され、プロセッサ４５へと中継される。いくつかの実施形態において、プロセッサ４５は、ケーブル２０内における欠陥のあるワイヤーの１本又は２本以上を特定するために、予め規定された欠陥のあるワイヤー構成を測定されたゲインと相関させる、ルックアップ表（ＬＵＴ）５０に保存されたデータを使用する。ＣＴＳ １０はその後、ケーブル２０内のＮ本のワイヤーの内のいずれのワイヤーに欠陥があるかを特定する指標をユーザーへと出力する。出力は例えば、出力ディスプレイ５５に供給されてもよい。

図１に示されるシステム構成は、概念を明確にする目的のためだけに示される、代表的な構成である。あるいは、他の任意の好適なシステム構成が、本明細書において記載される機能を実行するために使用され得る。ケーブル試験セット３０のいくつかの要素は、ハードウェアに、例えば１つ又は２つ以上の特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）又は書き換え可能ゲートアレイ（ＦＰＧＡ）に実装されてもよい。それに加えてあるいはそれに代えて、ケーブル試験セット１０のいくつかの要素は、ソフトウェアを使用して、又はハードウェアとソフトウェアとの組み合わせを使用して実装され得る。いくつかの実施形態において、プロセッサ４５は汎用コンピュータを備え、その汎用コンピュータは、本明細書で説明する機能を実行するようにソフトウェアでプログラムされるものである。そのソフトウェアは、例えば、ネットワークを介して電子形式でコンピュータにダウンロードされてもよく、あるいは、それに代わって若しくはそれに加えて、磁気的、光学的、又は電子的メモリーなどの非一時的な有形のメディア上に提供及び／又は記憶されてもよい。

ケーブル内の欠陥のあるワイヤーの特定
図２は、本発明の実施形態による、ケーブル試験回路３５を概略的に例示する図である。ケーブル試験回路３５は、増幅器１１０、並びに、Ｎ個の抵抗器１００の第１バンク、及びＮ個の抵抗器１０５の第２バンクを含む、抵抗器バンクを含む。図２の実施形態において、ケーブル２０のＮ本のワイヤーは、第１バンク１００のＮ個の抵抗器を、第２バンク１０５の対応するＮ個の抵抗器に接続する。

いくつかの実施形態において、第１抵抗器バンク１００は、ある基本抵抗器Ｒの奇数倍の対応する値を有する抵抗器を含む（例えば、Ｒ、３Ｒ、５Ｒ．．．［２Ｎ−３］Ｒ，及び［２Ｎ−１］Ｒ）。同様に、図２に示されるように、第２抵抗器バンク１０５は、抵抗器Ｒの偶数倍の対応する値を有する抵抗器を含む（例えば、２Ｒ，４Ｒ，６Ｒ，．．．，［２Ｎ−２］Ｒ，及び２ＮＲ）。ケーブル２０のＮ個のワイヤーは、本明細書においてそれぞれ、ワイヤー（１）、ワイヤー（２）、ワイヤー（３）．．．ワイヤー（Ｎ−１）、及びワイヤー（Ｎ）（それぞれワイヤー番号１、２、３、．．．Ｎ−１、Ｎ）として示される。一実施形態において、他の任意の好適な抵抗値が、第１及び第２抵抗器バンクにおいて使用され得る。

コネクタ１３は、ケーブル２０の第１端部においてＮ本の複数のワイヤーを、インターフェース２３から出るＮ本の相互接続部の第１セット２５に経路付し、これはＮ本のワイヤーを、第１抵抗器バンク１００に示されるＮ個の抵抗器に連結する。同様に、コネクタ１６は、ケーブル２０の第２端部においてＮ本のワイヤーを、インターフェース２３から出るＮ本の相互接続部の第２セット３０に経路付けし、これはＮ本のワイヤーを、第２抵抗器バンク１０５に示されるＮ個の抵抗器に連結する。この方法において、コネクタ１３及びコネクタ１５を有するケーブル２０は、図２に示される回路３５に連結され、回路３５のゲイン測定値に含まれる。

図２に示される代表的な構成において、ケーブル試験回路３５は、反転演算増幅器を含む。増幅器１１０は、電圧＋Ｖ_B及び−Ｖ_Bによりバイアスされている。反転演算増幅回路のゲインＧの大きさは、次式によって与えられる：

ここでフィードバック抵抗器１１５は、抵抗値Ｒ_Ｆを有する。欠陥のないケーブルにおける、Ｎ本のワイヤーを含む、反転増幅器の抵抗バンクの、同等の入力抵抗値Ｒ_ＥＱは、次式によって表される：

入力電圧Ｖ_ＩＮは、ケーブル２０を含む回路３５に適用される。増幅器１１０からの出力電圧Ｖ_ＯＵＴが測定され、典型的には、測定されたゲインＧ（すなわち、Ｇ＝Ｖ_ＯＵＴ／Ｖ_ＩＮ）を計算するために使用され、これは、ケーブルに欠陥が無い場合、図２に示される第１抵抗器バンク１００及び第２抵抗器バンク１０５に示される抵抗値によって画定される、等式（１）及び（２）のゲインと等しい。

本明細書において示される実施形態において、プロセッサ４５は、ケーブル試験回路３５の測定ゲインＧを使用して、欠陥のあるワイヤー構成を特定する。ケーブル２０が１本又は２本以上の欠陥のあるワイヤーを有する場合、回路３５の測定されたゲイン値は、欠陥の無いケーブルの予測されるゲイン値とは異なる。欠陥のあるワイヤー構成は、Ｎ本のワイヤー内において、開回路、ケーブル中の異なるＮ本の様々なワイヤーの間の短絡回路、又は等式（１）及び（２）によって示される欠陥のないケーブルにおける予測されるゲイン値とは異なる測定されたゲイン値を生じる他のなんらかの欠陥のある、１本又は２本以上のワイヤーを含み得る。

第１バンク１００（例えば、Ｒ、３Ｒ．．．）内の抵抗器、ケーブル２０内のワイヤー（例えば、ワイヤー（１）、ワイヤー（２）．．．）、及び第２バンク１０５内の抵抗器（例えば、２Ｒ、４Ｒ．．．）の、各組み合わせは、等式（２）の、Ｒ_ＥＱに対して異なる寄与にしかたをする。したがって、等式（１）内のゲインは、ワイヤー（１）の欠陥において、ケーブル内のＮ本のワイヤー内のワイヤー（Ｎ）と比較して、異なる影響を受ける。

抵抗器バンク内の抵抗値は典型的には、ケーブル２０内の各予測される欠陥（例えば、開いたワイヤー、又は短絡）が、試験回路における異なるゲインとなるように選択される。この抵抗器の選択により、測定されたゲインは、実際の欠陥の明瞭な特定を生じる。

いくつかの実施形態において、様々な欠陥のあるワイヤー構成に関して計算されるゲインを保存するルックアップ表が計算されて、ＬＵＴ ５０に保存される。測定されたゲインは、ケーブル内の１本又は２本以上の欠陥のあるワイヤーのワイヤー番号を具体的に特定するために、異なる欠陥のあるワイヤー構成と比較され得る。

図１及び２に示す実施形態は純粋に概念を明瞭にするためのものであり、本発明の実施形態を制限することが目的ではない。別の実施形態において、他の任意の好適な試験セット、及び試験回路構成が使用され得る。増幅器１１０は、任意の好適な増幅器構成を含み得る。１本又は２本以上の欠陥のあるワイヤーを特定するために、増幅器の任意の好適な測定可能なパラメーターが使用され得る。試験ケーブルセット１０の試験回路の測定されたゲインは、ケーブル試験回路３５のゲイン測定値に限定されない。

ゲイン測定値から欠陥のあるワイヤー構成を特定する、本明細書において記載される方法を更に例示するため、異なる欠陥のあるワイヤー構成におけるゲイン及び出力電圧（ボルト）の代表的な計算が、表Ｉ〜ＩＸに示される。表Ｉ〜ＩＩＩは、４本のワイヤーを備える（Ｎ＝４）ケーブルにおける開いた、及び短絡したワイヤー構成のゲイン値を示し、表ＩＶ〜ＶＩは、２０本のワイヤーを備える（Ｎ＝２０）ケーブルにおける開いた、及び短絡したワイヤー構成のゲイン値を示し、表ＶＩＩ〜ＩＸは、８０本のワイヤーを備える（Ｎ＝８０）ケーブルにおける開いた、及び短絡したワイヤー構成のゲイン値を示す。表Ｉ〜ＩＸに示されるワイヤー欠陥構成において、欠陥のない（通常）ケーブルの計算されるゲインは、入力電圧Ｖ_ＩＮ＝５０ｍＶ及びＲ_Ｆ＝１００^＊Ｒ_ＥＱに関して、１００である。

表Ｉ〜ＩＸは、特定のワイヤー欠陥構成を示し、１つのワイヤーが開回路である（表Ｉ、ＩＶ、及びＶＩＩに「開回路ワイヤー」として示される）か、ケーブル内のＮ本の複数ワイヤーの中の別のワイヤーに短絡している（表ＩＩ、ＩＩＩ、Ｖ、ＶＩ、ＶＩＩＩ、及びＩＸに「短絡回路ペア」として記される）。表ＩＩにおいて例えば、１００．６０１０９２９のゲインは、ワイヤー（１）がワイヤー（２）に短絡したときに計算され、この短絡回路の対は、ワイヤー（１）／ワイヤー（２）として示される。

パラメーター的に、表Ｉ、ＩＶ、及びＶＩＩに示されるように、開回路において、ゲイン及び出力電圧の値は減少する。同様に、表ＩＩ、ＩＩＩ、Ｖ、ＶＩ、ＶＩＩＩ、及びＩＸに示されるように、短絡回路ワイヤーに関して、ゲイン及び出力電圧の値は増加する。ケーブル試験回路の測定されたゲインを、表Ｉ〜ＩＸに示される、計算されるゲインと比較すると、計算されるゲインよりも小さな測定ゲインにより、開回路ワイヤーが特定され得る。同様に、短絡回路ワイヤーは、計算されるゲインよりも大きな測定されたゲインによって特定され得る。

ケーブル内の、開回路の欠陥のあるワイヤーの場合、図２に見られるように、Ｎ個の抵抗器の値が、第１抵抗器バンク１００内（例えば、Ｒ、３Ｒ、５Ｒ．．．［２Ｎ−３］Ｒ、及び［２Ｎ−１］Ｒ）、及び第２抵抗器バンク１０５（例えば、２Ｒ、４Ｒ、６Ｒ．．．［２Ｎ−２］Ｒ、及び２ＮＲ）で漸進的に増加する。結果として、低いワイヤー番号（例えば、表１のワイヤー（１））を有する開回路ワイヤーは、抵抗器バンク内のこれらの分岐における抵抗値は、より高い番号を有する開回路ワイヤー（例えば、表１のワイヤー（４））を有する分岐より低いために、Ｒ_ＥＱ及びゲインＧに遥かに大きな影響を有する。これらの同じパラメーター的傾向は、表Ｉ、ＩＶ、及びＶＩＩに見られる。

短絡ワイヤーの欠陥の場合、表ＩＩ、ＩＩＩ、Ｖ、ＶＩ、ＶＩＩＩ及びＩＸに示されるように、Ｒ_ＥＱが減少するにつれてゲインが増加する。ゲインに対する影響は、ワイヤーの１つが低いワイヤー番号を有するときに（例えば、表ＩＩ内の短絡回路対ワイヤー（１）／ワイヤー（２）、ワイヤー（１）／ワイヤー（３）、ワイヤー（１）／（４））、抵抗器バンク内のより低い抵抗値により、より大きいが、より大きな番号の短絡回路ワイヤー対（例えば、表２のワイヤー（３）／ワイヤー（４））においてゲインへの影響がより小さい。

表Ｉ〜ＩＸに示されるデータが、１つ開回路ワイヤー、又は１つの短絡回路対に関してのみ計算され、これは本明細書においては概念的明確性のためのみ示され、本発明の実施形態を制限するものではない。任意の数の欠陥のあるワイヤーに関する、計算されたゲインは、任意の欠陥のあるワイヤー構成に関して計算され、ＬＵＴ ５０にアップロードされてもよい。欠陥のあるワイヤー構成を特定し、その後ケーブル内の１本又は２本以上の欠陥のあるワイヤーのワイヤー番号を特定するために、測定されたゲインは、プロセッサ４５により、ＬＵＴ ５０のデータと比較されてもよい。

開回路ワイヤー、又は短絡回路対の関数としての、ゲイン及び出力電圧の変化の相対的ステップサイズは、ケーブル内のワイヤーの数Ｎが増加すると、大幅に減少する。回路３５からのゲイン又は出力電圧は、Ａ／Ｄ ４０により検出され、プロセッサ４５で使用するために、デジタルワードに変換される。ケーブル内のワイヤーＮの数が増加すると、ゲイン及び出力電圧のより小さなステップサイズを解像するために、Ａ／Ｄ ４０のより細かい解像度が必要とされる。

Ａ／Ｄ解像度対ワイヤーの数Ｎ及びワイヤーの欠陥の種類（開回路又は短絡）の要約が、表Ｘに示される。表ＩＩ、Ｖ、及びＶＩＩＩに示されるように、短絡回路ワイヤー対欠陥においてゲインは弱く変化するため、ケーブル内の開回路ワイヤー欠陥に対して、短絡回路ワイヤー欠陥を特定するために、より細かいＡ／Ｄ解像度が必要とされる。例えば、ケーブル２０（Ｎ＝８０）における１つの開回路ワイヤーを検出するために、ＣＴＳ １０において１００μｖのＡ／Ｄ解像度が必要とされるが、例えば、ケーブル２０（Ｎ＝８０）における１つの短絡回路ワイヤーにおいては、０．１ｐＶの解像度が必要とされる。

図３は、本発明の実施形態による、電気ケーブル内の欠陥のあるワイヤーを特定するための方法を概略的に例示するフローチャートである。接続工程２００において、ケーブル内の多数のワイヤーを、試験回路内の抵抗器バンク内の対応する抵抗器に連結するために、電気ケーブルは試験回路に接続される。測定工程２１０において、プロセッサ４５は、ケーブルを含む試験回路のゲインを測定する。特定工程２２０において、プロセッサは、欠陥のあるワイヤー構成（ＬＵＴ ５０内）を測定されたゲインと相関させるデータを使用して、ケーブル内の１本又は２本以上の欠陥のあるワイヤーを特定する。１本又は２本以上の欠陥のあるワイヤーのワイヤー番号、及び欠陥の種類（例えば、開回路又は短絡回路ワイヤー）が特定される。出力工程２３０において、プロセッサ４５は、欠陥のあるワイヤー構成を試験回路のユーザーに出力する。

上述した実施形態は一例として記載されたものであり、本発明は、本明細書において上に具体的に図示及び説明した内容に限定されないことが明らかとなろう。むしろ本発明の範囲には、上記に述べた様々な特徴の組み合わせ及び下位の組み合わせ、並びに上記の説明を読むことによって当業者には想到されるであろう、先行技術において開示されていない変形例及び改変例も含まれるものである。参照により本特許出願に組み込まれる文書は、組み込まれた文書内の用語が、本明細書で明示的又は暗黙的に行われる定義と相反するように定義される場合を除き、本出願の一体部分と見なされるべきであり、本明細書における定義のみが検討されるべきである。

〔実施の態様〕
（１） 方法であって、
多数のワイヤーを含む電気ケーブルを、前記ワイヤーに接続される抵抗器バンク（resistor bank）を含む回路に連結することと、
前記ケーブルを含む前記回路のゲインを測定することと、
前記測定されたゲインに基づいて、前記ケーブル中の、欠陥のある前記ワイヤーの１本又は２本以上を特定することと、
前記欠陥のあるワイヤーの指標を出力することとを含む、方法。
（２） 前記電気ケーブルを連結することは、前記ワイヤーの第１端部を対応する第１抵抗器に、前記ワイヤーの第２端部を対応する第２抵抗器に連結することを含む、実施態様１に記載の方法。
（３） 前記第１抵抗器は、抵抗Ｒの奇数倍である抵抗を有し、前記第２抵抗器はＲの偶数倍である抵抗を有する、実施態様２に記載の方法。
（４） 前記１本又は２本以上の欠陥のあるワイヤーを特定することが、前記測定されたゲインが欠陥のないケーブルにおいて予測されるゲインより小さいことを検出する際に、前記ワイヤーの１本又は２本以上における開回路を特定することを含む、実施態様１に記載の方法。
（５） 前記１本又は２本以上の欠陥のあるワイヤーを特定することが、前記測定されたゲインが、欠陥のないケーブルにおいて予測されるゲインより大きいことを検出する際に、前記ワイヤーの２本又は３本以上の間の短絡回路を特定することを含む、実施態様１に記載の方法。

（６） 前記１本又は２本以上の欠陥のあるワイヤーを特定することが、前記ケーブル内のそれぞれの予測される欠陥における、予め規定されたゲインのリストを保存することと、前記測定されたゲインと適合する予測される欠陥を前記リストから見つけることによって、前記１本又は２本以上の欠陥のあるワイヤーを決定することとを含む、実施態様１に記載の方法。
（７） 前記ゲインを測定することが、フィードバック抵抗、及び同等の入力抵抗を有する、反転演算増幅器のゲインを測定することを含み、前記同等の入力抵抗は、前記ケーブル内の前記多数のワイヤーを含む、実施態様１に記載の方法。
（８） 装置であって、
多数のワイヤーを含む電気ケーブルに連結するためのインターフェースと、
前記ワイヤーに接続される抵抗器バンクを含む回路であって、前記ケーブルを含む前記回路のゲインを測定し、前記測定されたゲインに基づいて、前記ケーブル内の、欠陥のある前記ワイヤーの１本又は２本以上を特定し、前記欠陥のあるワイヤーの指標を出力するように構成されている、回路とを含む、装置。
（９） 前記回路は、前記ワイヤーの対応する第１端部に連結された第１抵抗器と、前記ワイヤーの対応する第２端部に連結された第２抵抗器とを含む、実施態様８に記載の装置。
（１０） 前記第１抵抗器は、抵抗Ｒの奇数倍である抵抗を有し、前記第２抵抗器はＲの偶数倍である抵抗を有する、実施態様９に記載の装置。

（１１） 前記回路は、前記測定されたゲインが欠陥のないケーブルの予測されるゲインよりも小さいことを検出する際に、前記ワイヤーの１本又は２本以上における開回路を特定するように構成されている、実施態様８に記載の装置。
（１２） 前記回路は、前記測定されたゲインが欠陥のないケーブルの予測されるゲインよりも大きいことを検出する際に、前記ワイヤーの２本または３本以上の間の短絡回路を特定するように構成されている、実施態様８に記載の装置。
（１３） 前記回路は、前記ケーブル内のそれぞれの予測される欠陥における予め規定されたゲインのリストを保存し、前記測定されたゲインと適合する予測される欠陥を前記リストから見つけることによって、前記１本又は２本以上の欠陥のあるワイヤーを特定するように構成されている、実施態様８に記載の装置。
（１４） 前記回路は、フィードバック抵抗及び同等の入力抵抗を有する反転演算増幅器を含み、前記同等の入力抵抗は前記ケーブル内の前記多数のワイヤーを含み、前記回路は、反転演算増幅器の前記ゲインを測定することによって前記ゲインを測定するように構成されている、実施態様８に記載の装置。

Claims (10)

1. 装置であって、
   多数のワイヤーを含む電気ケーブルに連結するためのインターフェースと、
   前記ワイヤーに接続される抵抗器バンクを含む回路であって、前記電気ケーブルを含む前記回路のゲインを測定し、前記測定されたゲインに基づいて、前記電気ケーブル内の、欠陥のある前記ワイヤーの１本又は２本以上を特定し、欠陥のある前記ワイヤーの指標を出力するように構成されている、回路とを含み、
   前記回路は、前記ワイヤーの対応する第１端部に連結された第１抵抗器と、前記ワイヤーの対応する第２端部に連結された第２抵抗器とを含み、前記第１抵抗器は、抵抗Ｒの奇数倍である抵抗を有し、前記第２抵抗器はＲの偶数倍である抵抗を有する、装置。
2. 前記回路は、前記測定されたゲインが欠陥のないケーブルの予測されるゲインよりも小さいことを検出する際に、前記ワイヤーの１本又は２本以上における開回路を特定するように構成されている、請求項１に記載の装置。
3. 前記回路は、前記測定されたゲインが欠陥のないケーブルの予測されるゲインよりも大きいことを検出する際に、前記ワイヤーの２本または３本以上の間の短絡回路を特定するように構成されている、請求項１に記載の装置。
4. 前記回路は、前記電気ケーブル内のそれぞれの予測される欠陥における予め規定されたゲインのリストを保存し、前記測定されたゲインと適合する予測される欠陥を前記リストから見つけることによって、前記１本又は２本以上の欠陥のあるワイヤーを特定するように構成されている、請求項１に記載の装置。
5. 前記回路は、フィードバック抵抗及び同等の入力抵抗を有する反転演算増幅器を含み、前記同等の入力抵抗は前記電気ケーブル内の前記多数のワイヤーを含み、前記回路は、前記反転演算増幅器の前記ゲインを測定することによって前記ゲインを測定するように構成されている、請求項１に記載の装置。
6. 方法であって、
   多数のワイヤーを含む電気ケーブルを、前記ワイヤーに接続される抵抗器バンクを含む回路に連結することと、
   前記電気ケーブルを含む前記回路のゲインを測定することと、
   前記測定されたゲインに基づいて、前記電気ケーブル中の、欠陥のある前記ワイヤーの１本又は２本以上を特定することと、
   欠陥のある前記ワイヤーの指標を出力することとを含み、
   前記電気ケーブルを連結することは、前記ワイヤーの第１端部を対応する第１抵抗器に、前記ワイヤーの第２端部を対応する第２抵抗器に連結することを含み、前記第１抵抗器は、抵抗Ｒの奇数倍である抵抗を有し、前記第２抵抗器はＲの偶数倍である抵抗を有する、方法。
7. 前記１本又は２本以上の欠陥のあるワイヤーを特定することが、前記測定されたゲインが欠陥のないケーブルにおいて予測されるゲインより小さいことを検出する際に、前記ワイヤーの１本又は２本以上における開回路を特定することを含む、請求項６に記載の方法。
8. 前記１本又は２本以上の欠陥のあるワイヤーを特定することが、前記測定されたゲインが、欠陥のないケーブルにおいて予測されるゲインより大きいことを検出する際に、前記ワイヤーの２本又は３本以上の間の短絡回路を特定することを含む、請求項６に記載の方法。
9. 前記１本又は２本以上の欠陥のあるワイヤーを特定することが、前記電気ケーブル内のそれぞれの予測される欠陥における、予め規定されたゲインのリストを保存することと、前記測定されたゲインと適合する予測される欠陥を前記リストから見つけることによって、前記１本又は２本以上の欠陥のあるワイヤーを決定することとを含む、請求項６に記載の方法。
10. 前記ゲインを測定することが、フィードバック抵抗、及び同等の入力抵抗を有する、反転演算増幅器のゲインを測定することを含み、前記同等の入力抵抗は、前記電気ケーブル内の前記多数のワイヤーを含む、請求項６に記載の方法。

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