JP6482119B2 - 三次元計測法 - Google Patents

三次元計測法 Download PDF

Info

Publication number
JP6482119B2
JP6482119B2 JP2015047035A JP2015047035A JP6482119B2 JP 6482119 B2 JP6482119 B2 JP 6482119B2 JP 2015047035 A JP2015047035 A JP 2015047035A JP 2015047035 A JP2015047035 A JP 2015047035A JP 6482119 B2 JP6482119 B2 JP 6482119B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
phase shift
value
phase
shift amount
lattice
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2015047035A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2016166806A (ja
Inventor
宣一 吉川
宣一 吉川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Saitama University NUC
Original Assignee
Saitama University NUC
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Saitama University NUC filed Critical Saitama University NUC
Priority to JP2015047035A priority Critical patent/JP6482119B2/ja
Publication of JP2016166806A publication Critical patent/JP2016166806A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6482119B2 publication Critical patent/JP6482119B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

本発明は、被測定物の形状を三次元計測する三次元計測法に関するものである。
従来、この種の三次元計測法としては、例えば、特許文献1に開示されたリアルタイム形状変形計測方法がある。この計測方法では、格子投影装置によって計測対象物体に格子パターンを投影する。投影する格子パターンは、1ピッチを明暗比1:2に分けた矩形波状の格子パターンを用い、その格子パターンが投影された物体をCCDカメラで撮影する。格子パターンは、CCDカメラの1フレームの撮影時間である1/30秒間に1/3ピッチで等速にシフトされ、CCDカメラは1/30秒間に受けた光の強度を電荷として蓄え、それを輝度とした1つの格子画像に変換する。順次取得される各格子画像は、対応する第1〜第3フレームメモリに順に格納され、更新されていく。第1〜第3フレームメモリに格納された画像は、予め演算して求めた位相値に対する輝度値を格納する3次元位相算出テーブルによって即座に位相値に変換され、物体の位相分布画像としてリアルタイムに出力される。
特許第3554816号公報
格子パターン投影法で撮影された変形格子像の解析手法として、位相シフト法がある。 位相シフト法は、 投影する格子パターンの位相をシフトさせて3枚以上の変形格子像を撮影し、その変形格子像から位相情報を求めることで、計測対象物体の三次元情報を復元する手法である。この位相シフト法は、その撮影方式からステップ型と積分型とに分類することができる。
ステップ型は、計測対象物体に投影する格子パターンの位相をステップ移動させてシフトさせる手順、その位相シフトを一時停止させる手順、変形格子像を撮影する手順が順に行われ、その後に再び格子パターンの位相をシフトさせる手順以下の手順の流れが繰り返される方法である。一方、積分型は、計測対象物体に投影する格子パターンの位相を停止させずに連続的にシフトさせながら、変形格子像の撮影が行われる手法であり、連続フリンジスキャンと呼ばれることもある。
また、位相シフト法は、投影する格子パターンの位相シフト量の違いから、一定量位相シフト法と一般化位相シフト法とに分類することができる。一定量位相シフト法は、一般に用いられる位相シフト法で、例えばπ/2の一定量の位相を3ステップでシフトする3ステップ法が有名である。一方、一般化位相シフト法は、任意の位相シフト量で格子パターンの位相をシフトする方法である。
特許文献1に開示された上記従来の三次元計測法は、投影する格子パターンの撮影方式が1/30秒間電荷を蓄える積分型で、位相シフト量がπ/3の一定量の、積分型・一定量位相シフト法である。投影する格子パターンの位相を一定量でシフトするこのような位相シフト法で、変形格子像を高速に撮影するためには、高速なデジタルカメラと位相シフタが必要になる。そして、格子投影装置の格子パターン表示,カメラの露光時間,シャッタータイミングなどを高精度に同期して制御する必要がある。これを実現するためには高性能な同期回路,デバイスと、十分な位相キャリブレーション作業が必要になる。
一方、任意の位相シフト量で格子パターンの位相をシフトする一般化位相シフト法は、位相シフト量の推定が必要になる。このため、従来、別の計測装置を使用して格子パターンの位相シフト量を計測したり、大量の変形格子像を用いて計算で位相シフト量を求めるなどの処理が必要になり、簡単に三次元計測が行えなかった。
本発明はこのような課題を解決するためになされたもので、
移動する格子パターンを被測定物に投影し、被測定物の形状に応じて変形する格子パターンを撮影して3枚の変形格子像を取得し、取得した3枚の変形格子像間における輝度値について平均二乗誤差を計算し、輝度値の位相分布のランダム性が成り立つときには輝度値の振動成分の空間平均が統計的に0になることに基づいて振動成分を表す項が0にされて三角関数で表された平均二乗誤差から、各変形格子像間の相対的な位相シフト量の絶対値を逆三角関数を使って求め、求めた各位相シフト量の和で表した評価関数が巡回差分位相条件を満たす各位相シフト量の符号および評価関数の解を解探索アルゴリズムを用いて求め、求めた各位相シフト量の符号および評価関数の解から符号を含めた位相シフト量の値を求め、位相シフト量のこの値から変形格子像の位相値を求めて被測定物の形状を三次元計測する三次元計測法を構成した。
本構成によれば、撮影方式が積分型で、投影する格子パターンの位相シフト量が任意の一般化位相シフト法により、各変形格子像間の相対的な位相シフト量の値を簡単に算出することができる。したがって、算出した位相シフト量の値から変形格子像の位相値を求めることで、被測定物の形状を簡単に三次元計測することが可能になる。一般化位相シフト法は、一定量位相シフト法におけるような正確な位相キャリブレーションを必要とせず、また、撮影装置と格子投影装置との間で高精度な同期制御をとる必要がない。このため、一定量位相シフト法を用いて三次元計測する際に発生する様々な問題を生じることなく、計測システムを容易に構築して簡単な計測手順で三次元計測することが可能になる。
また、本発明は、解探索アルゴリズムが、値が0となる評価関数を求めて、求めた評価関数を構成する各位相シフト量の係数値から各位相シフト量の符号を求め、求めた評価関数から解を見つけることを特徴とする。
本構成によれば、簡単なアルゴリズムで各位相シフト量の符号および評価関数の解を見つけることができる。このため、変形格子像間の相対的な位相シフト量の値をより簡単に算出することができ、被測定物の形状をより簡単に三次元計測することが可能になる。
本発明によれば、撮影方式が積分型で、投影する格子パターンの位相シフト量が任意の一般化位相シフト法により、変形格子像間の相対的な位相シフト量の値を簡単に算出して、被測定物の形状を簡単に三次元計測することが可能になる。
本発明の一実施の形態による三次元計測法を実施するための計測システムを示す概略構成図である。 (a)は、一実施の形態による三次元計測法を実施するための計測システムにおける格子投影法の概略図、(b)は、第1の変形例による格子投影法の概略図、(c)は、第2の変形例による格子投影法の概略図である。 (a),(b),(c)は、それぞれ、一実施の形態による三次元計測法に用いられる位相シフトされた3枚の変形格子像を示す図である。 一実施の形態による三次元計測法における解探索アルゴリズムで用いられる評価関数f(κ)を表すグラフである。 (a)は、一実施の形態による三次元計測法で求められた位相θを用いて三次元復元を行うことで得られる画像、(b)は、最終的に計測される被測定物の三次元形状を示す画像である。
次に、本発明による三次元計測法を実施するための形態について、説明する。
図1は、本発明の一実施の形態による三次元計測法を実施するための計測システムSを示す概略構成図である。
三次元計測が行われる対象の被測定物1には、等速で移動する格子パターン2が格子投影装置3によって投影される。本実施の形態では、格子パターン2には、輝度が正弦波状に変化する正弦波格子パターンが縞パターンとして理論的に用いられる。しかし、実際には、輝度キャリブレーションしてグラデーションのある正弦波近似縞パターンを作ったり、白黒二値の格子パターンをぼかして正弦波近似縞パターンを作ることなどで、明るい帯と暗い帯とが交互に繰り返される縞パターンを正弦波近似格子パターンとして得る。格子投影装置3から出射される格子パターン2は、軸4を中心に回転するミラー5で反射し、被測定物1に投影されることで、等速vで移動させられる。被測定物1に投影される格子パターン2はデジタルカメラ等の撮影装置6によって撮影され、撮影装置6には、被測定物1の形状に応じて変形する格子パターン2が変形格子像として取得される。この際、被測定物1は、撮影装置6からz方向に距離L離れたx−y平面を基準平面として撮影される。
縞画像のアニメーションをプロジェクタを用いてPC(パーソナルコンピュータ)の制御で被測定物1に投影すると、格子パターン2が等速vで移動しなかったり、撮影装置6との同期制御が必要になる。このため、本実施の形態では、図2(a)に示すように、格子投影装置3の内蔵光源3aから出射される光を縞パターンが印刷されたフィルム3bに通し、軸4を中心に回転するミラー5で反射させることで、格子パターン2を等速vで移動させ続ける。
なお、格子パターン2を投影するデバイスは、上記のような写真フィルムを用いたスライド式のプロジェクタに限られることはなく、透過型や反射型の液晶パネルをPCで制御して投影する方式のプロジェクタ等であってもよく、固定パターンを投影することができるものであればよい。また、同図(b)に示すように、格子投影装置3の内部で、円筒状に形成したフィルム3bを光源3aを中心に等速で回転させることによっても、格子パターン2を等速vで移動させ続けることができる。また、同図(c)に示すように、格子投影装置3の内部でフィルム3bを等速vで平行移動させることで、格子パターン2を等速vで移動させることもできる。図2に例示するこれらの構成によれば、格子投影装置3は、PC制御のプロジェクタである必要は無く、単なる縞パターンを投影する機能だけを備えた安価なものでよくなる。
撮影装置6によって撮影される被測定物1の変形格子像は位相シフト解析装置7へ出力され、以下のようにして、変形格子像の位相値、すなわち、被測定物1のz方向における高さが算出されて、被測定物1の三次元形状が計測される。位相シフト解析装置7は、並列処理に優れるGPU(グラフィック・プロセッシング・ユニット)を備えて構成される場合があり、高速動作するマイクロコンピュータによって以下の計算処理がリアルタイムに行われることで、撮影方式が積分型で、投影する格子パターン2の位相シフト量が任意の一般化位相シフト法により、被測定物1の三次元計測が高速にかつ高解像度で行われる。
位相シフト解析装置7は撮影装置6から連続する3枚の変形格子像、例えば、図3(a),(b),(c)に示すお面の3枚の変形格子像a,b,cを入力する。これら各変形格子像a,b,cにおける縞の輝度分布は余弦波形と見なすことができ、縞の輝度値Iφ(x,y)は空間(x,y)上に余弦波状に分布する。このとき、その波の、被測定物1により作られる位相をθ(x,y)とすると、輝度値Iφ(x,y)は次の(1)式のように表される。
Figure 0006482119
ここで、Aは背景輝度を表すバイアス項、Bは輝度の振幅を表すコントラスト項、fは縞の周波数、Tは縞の周期、φは縞の位相シフト量である。θを次の(2)式
Figure 0006482119
で定義し、θ=θ+θとおいて、座標系(x,y)を省略すると、(1)式に表される輝度値Iφ(x,y)は次の(3)式のように簡単化することができる。
Figure 0006482119
変形格子像の位相φが連続的に変化している状態においては、撮影装置6の露光時間tの間にシフトする変形格子像の位相変化量をΔt とすると、位相シフト解析装置7に取得されて記録される変形格子像a,b,cの輝度値Ii(x,y)はその強度を積分することで求めることができ、次の(4)式のように表される。
Figure 0006482119
ここで、φi は変形格子像iの位相シフト量で、また、関数sinc(x)は次の(5)式のように表される。
Figure 0006482119
(4)式は、元の(3)式の振動項にsinc関数の形の定数が掛算されたものである。ここで、Δt=0ならばステップ型、Δt>0ならば積分型の位相シフトになる。つまり、ステップ型と積分型の位相シフトは、次の(6)式に示す、実質的に同じ変形格子像の式で表すことができる。
Figure 0006482119
上記の(4)式から、変形格子像a,b,cの輝度値I,I,Iは、変形格子像a,b,cの位相シフト量をそれぞれφ,φ,φとすると、次の(7)式のように表される。
Figure 0006482119
これらの式からθを求めると、次の(8)式となる。
Figure 0006482119
ただし、ΔIpq=Iq−Ip、Δφpq=φq−φp(p,q=0,1,2)である。この(8)式の導出は次のように行われる。ΔI01,ΔI12,ΔI20は、各輝度値I,I,Iの差分をとり、複素形式で表すと、次の(9)式のようになる。
Figure 0006482119
ただし、Cは次の(10)式に表され、CはCの共役複素数である。
Figure 0006482119
次に、(9)式のΔI01とΔI20の式からなる以下の(11)式に表される連立方程式を考え、
Figure 0006482119
この連立方程式をCについて解くと、Cは次の(12)式に表される。
Figure 0006482119
ただし、Dは次の(13)式に表される。
Figure 0006482119
(12)式において、初期位相φをゼロとしても一般性は失われないので、Cは次の(14)式に表すことができる。
Figure 0006482119
この(14)式に(13)式に表されるDを代入して整理すると、Cは次の(15)式のように表される。
Figure 0006482119
位相θは、(15)式に表されるCの位相から次の(16)式のように求めることができる。
Figure 0006482119
この結果、変形格子像a,b,cのz方向の高さに相当する波の位相θは、(8)式に表されることになる。また、変形格子像a,b,cの波の振幅(コントラスト)、つまり、縞の輝度値Iiの大きさは、(15)式に表されるCの絶対値を次の(17)式で算出することで、求まる。
Figure 0006482119
縞のコントラストが低い画像領域の位相θは信頼性の低い性質がある。このため、振幅が低い位相θの情報を除去することで、信頼性の高い三次元計測を行うことができる。
(8)式に表される位相θの値を求めるには、変形格子像a,b,c間の相対的な位相シフト量Δφpqを知る必要がある。本実施の形態では、次のようにして位相シフト量Δφpqの値を統計手法を用いて推定する。まず、(7)式に示される縞の輝度値I,I,Iから、取得した2枚の変形格子像a,b、b,c、c,a間における輝度値Iiの差ΔIpqを次の(18)式により求める。
Figure 0006482119
次に、ΔIpqの絶対値の二乗の空間平均を平均二乗誤差として次の(19)式のように求める。
Figure 0006482119
(19)式における記号<>は、1フレームの画像全体について平均をとる演算子である。輝度値Iiの位相分布のランダム性が成り立つときには、空間に分布する輝度値Iiの振動成分の空間平均は統計的に0になる。本実施形態のように、縞状の格子パターン2を投影して撮影する縞パターン投影方式では、輝度値Iiの位相分布のランダム性が十分に成り立つことが分かっている。このことに基づき、(19)式における輝度値Iiの振動成分を表す余弦関数の項<cos(2θ+φp+φq)>を0にすると、(19)式は次の(20)式で表される。
Figure 0006482119
各変形格子像a,b、b,c、c,a間における格子パターン2の相対的な位相シフト量Δφpqの絶対値は、(20)式に示す三角関数sinで表された平均二乗誤差から、次の(21)式のように、逆三角関数arccosを使って求めることができる。
Figure 0006482119
ただし、Epqおよびκはそれぞれ次の(22)式に表されるものとする。
Figure 0006482119
ここで、逆三角関数arccosによって表される位相シフト量Δφpqは、0≦Δφpq<πの位相シフト範囲に制限され、その符号はこれだけでは決定できない。このため、位相シフト範囲を−π≦Δφpq<πに拡張するため、位相シフト量Δφpqの総和が2mπ(mは整数)となる次の(23)式に表される巡回差分位相条件を使って、位相シフト量Δφpqの符号推定を行う。
Figure 0006482119
ここで、位相シフト量Δφpqの符号を考慮した、次の(24)式に表される評価関数f(κ)を考える。評価関数f(κ)は、変形格子像a,b、b,c、c,a間について(21)式で求めた各位相シフト量Δφpqの和で表される。
Figure 0006482119
ただし、係数cpq=+1または−1である。逆三角関数arccosによって(21)式のように表される位相シフト量Δφpqは正の値であるので、係数cpqの値は位相シフト量Δφpqの符号に対応している。f(κ)=2mπの制約条件式を成立させる評価関数f(κ)は巡回差分位相条件を満たし、その係数cpqの値は位相シフト量Δφpqの正しい符号である。
巡回差分位相条件を満たす各位相シフト量Δφpqの符号および評価関数f(κ)の解は、一般的な解探索アルゴリズムを用いて求めることができる。本実施の形態に用いる解探索アルゴリズムでは、評価関数f(κ)の値が0となる以下に示すゼロクロス条件で評価関数f(κ)を選択して、その評価関数f(κ)の各位相シフト量Δφpqに係る係数cpqの値、およびその評価関数f(κ)の解κを見つける。
評価関数f(κ)は、3つの位相シフト量Δφpqの和で表され、各係数cpqの取り得る値の組み合わせによって次の8つの式f(κ)〜f(κ)で表される。
Figure 0006482119
(κ)〜f(κ)はf(κ)〜f(κ)の符号反転なので、位相の回転方向が逆になっていることを示している。つまり、実質的にはf(κ)〜f(κ)までの4 通りを考えればよいことになる。これらの各式f(κ)〜f(κ)は、図4に示すグラフに表すことができる。同グラフの横軸はκの値、縦軸は評価関数f(κ)の値である。
同グラフから、f(κ)=0のラインにクロスする評価関数f(κ)はf(κ)であることが分かる。したがって、この例では、各係数cpq(c01,c12,c20)の値は、(25)式のf(κ)の式からそれぞれ+1となる。また、f(κ)=2mπの制約条件を満たすκの解κは、f(κ)がf(κ)=0のラインにクロスするκの値になる。
最適な評価関数f(κ)は、詳細には次のように求めることができる。(21)式に示す逆三角関数arccosより、次の(26)式に示す不等式が成り立つ。
Figure 0006482119
したがって、κの範囲は次の(27)式に示す範囲となる。
Figure 0006482119
ただし、Emaxは次の(28)式の大括弧{}中の最も大きなEpqとする。
Figure 0006482119
このκの範囲で、巡回差分位相条件を満たす評価関数f(κ)を調べる。ここで、αを0<α<κ<2/Emaxの関係を満たす値とする(実際の計算ではαは0に近い値とすればよい)。また、f(κ)の場合は評価関数f(κ)=f(κ)−2π、f(κ),f(κ),f(κ)の場合は評価関数f(κ)=f(κ)、n=2,3,4の式を用いる。評価関数f(κ)がf(κ)=0の軸と交差する場合、0の前後で評価関数f(κ)の符号が変わるので、f(α)・f(2/Emax)<0となる関数が最適な評価関数f(κ)となる。最適な評価関数f(κ)が決定したら、その解κは2分法のような単純なアルゴリズムによって求めることができる。また、各位相シフト量Δφpqの係数cpqの値は(25)式のf(κ)〜f(κ)の式を参照することで求めることができる。
符号を含めた位相シフト量Δφpqの値は、このように求めた各位相シフト量Δφpqの係数cpqの値および評価関数f(κ)の解κから、次の(29)式によって求めることができる。
Figure 0006482119
前述したように、この符号を含めた位相シフト量Δφpqの値を(8)式に代入することで、変形格子像a,b,cのz方向の高さに相当する波の位相θが求められる。この位相θから一般的な方法を用いて三次元復元を行うことで図5(a)に示す画像が得られ、最終的に同図(b)に示す被測定物1の三次元形状が計測される。
このような本実施の形態による三次元計測法によれば、撮影方式が積分型で、投影する格子パターン2の位相シフト量Δφpqが任意の一般化位相シフト法により、各変形格子像a,b,c間の相対的な位相シフト量Δφpqの値を上記のように簡単に算出することができる。したがって、算出した位相シフト量Δφpqの値から(8)式を用いて変形格子像a,b,cの位相θの値を求めることで、被測定物1の形状を簡単に三次元計測することが可能になる。一般化位相シフト法は、一定量位相シフト法におけるような正確な位相キャリブレーションを必要とせず、また、撮影装置6と格子投影装置3との間で高精度な同期制御をとる必要がない。さらに、位相シフトの安定性が良い。このため、一定量位相シフト法を用いて三次元計測する際に発生する様々な問題を生じることなく、PCシステム等で計測システムSを容易に構築して、簡単な計測手順で短時間に三次元計測することが可能になる。
また、本実施の形態による三次元計測法では、値が0となる評価関数f(κ)を求めて、求めた評価関数f(κ)を構成する各位相シフト量Δφpqの係数cpqの値から各位相シフト量Δφpqの符号を求め、また、求めた評価関数f(κ)から解κを見つける解探索アルゴリズムが採用されている。本構成によれば、簡単なアルゴリズムで各位相シフト量Δφpqの符号および評価関数f(κ)の解κを見つけることができる。このため、変形格子像a,b,c間における格子パターン2の相対的な位相シフト量Δφpqの値をより簡単に算出することができ、被測定物1の形状をより簡単に三次元計測することが可能になる。
上記の本発明による三次元計測法は、デジタル3D(三次元)アーカイブのための3Dスキャナや、腹腔鏡下での手術における三次元計測、義肢・装具製作,義歯製作における三次元計測、ロボットビジョンや人間の運動解析における三次元計測、ヒューマンインターフェース、生体認証等のセキュリティ技術、リバースエンジニアリング、3DCG(コンピュータ・グラフィック)や3Dプリンタのための3Dデータ取得技術等に利用することが可能である。
S…計測システム
1…被測定物
2…格子パターン
3…格子投影装置
3a…光源
3b…フィルム
4…軸
5…ミラー
6…撮影装置
7…位相シフト解析装置

Claims (2)

  1. 移動する格子パターンを被測定物に投影し、被測定物の形状に応じて変形する前記格子パターンを撮影して3枚の変形格子像を取得し、取得した3枚の前記変形格子像間における輝度値について平均二乗誤差を計算し、前記輝度値の位相分布のランダム性が成り立つときには前記輝度値の振動成分の空間平均が統計的に0になることに基づいて前記振動成分を表す項が0にされて三角関数で表された前記平均二乗誤差から、各前記変形格子像間の相対的な位相シフト量の絶対値を逆三角関数を使って求め、求めた各前記位相シフト量の和で表した評価関数が巡回差分位相条件を満たす各前記位相シフト量の符号および前記評価関数の解を解探索アルゴリズムを用いて求め、求めた各前記位相シフト量の符号および前記評価関数の解から符号を含めた前記位相シフト量の値を求め、前記位相シフト量のこの値から前記変形格子像の位相値を求めて被測定物の形状を三次元計測する三次元計測法。
  2. 前記解探索アルゴリズムは、値が0となる前記評価関数を求めて、求めた前記評価関数を構成する各前記位相シフト量の係数値から各前記位相シフト量の符号を求め、求めた前記評価関数から前記解を見つけることを特徴とする請求項1に記載の三次元計測法。
JP2015047035A 2015-03-10 2015-03-10 三次元計測法 Expired - Fee Related JP6482119B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015047035A JP6482119B2 (ja) 2015-03-10 2015-03-10 三次元計測法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015047035A JP6482119B2 (ja) 2015-03-10 2015-03-10 三次元計測法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2016166806A JP2016166806A (ja) 2016-09-15
JP6482119B2 true JP6482119B2 (ja) 2019-03-13

Family

ID=56898260

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015047035A Expired - Fee Related JP6482119B2 (ja) 2015-03-10 2015-03-10 三次元計測法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6482119B2 (ja)

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3265476B2 (ja) * 1999-06-25 2002-03-11 和歌山大学長 リアルタイム形状変形計測方法
JP3554816B2 (ja) * 2000-09-14 2004-08-18 和歌山大学長 矩形波格子投影によるリアルタイム形状変形計測方法
JP2006249590A (ja) * 2005-03-09 2006-09-21 Shiraishi Kogyo Kaisha Ltd 複合顔料を用いた印刷用塗工紙、および板紙
CA2528791A1 (en) * 2005-12-01 2007-06-01 Peirong Jia Full-field three-dimensional measurement method

Also Published As

Publication number Publication date
JP2016166806A (ja) 2016-09-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Zhang et al. High-resolution, real-time three-dimensional shape measurement
JP4873485B2 (ja) 多数の基準面を用いた形状計測方法および形状計測装置
US9322643B2 (en) Apparatus and method for 3D surface measurement
JP5016520B2 (ja) 3次元形状計測方法および装置
US20070115484A1 (en) 3d shape measurement system and method including fast three-step phase shifting, error compensation and calibration
JP4830871B2 (ja) 3次元形状計測装置及び3次元形状計測方法
US20190147609A1 (en) System and Method to acquire the three-dimensional shape of an object using a moving patterned substrate
TWI573984B (zh) 圖像匹配系統及方法
JP5032943B2 (ja) 3次元形状計測装置及び3次元形状計測方法
WO2017175341A1 (ja) 計測方法、計測装置、計測プログラム及び計測プログラムを記録した、コンピュータ読み取り可能な記録媒体
JP6590339B2 (ja) 計測方法、計測装置、計測プログラム及び計測プログラムを記録した、コンピュータ読み取り可能な記録媒体
US11300402B2 (en) Deriving topology information of a scene
JP2002257528A (ja) 位相シフト法による三次元形状測定装置
JP2011064482A (ja) 高速三次元計測装置及び高速三次元計測方法
JP4516949B2 (ja) 三次元形状計測装置及び三次元形状計測方法
JP2008145139A (ja) 形状計測装置
JP4797109B2 (ja) 三次元形状計測装置及び三次元形状計測方法
JP3536097B2 (ja) 周波数変調格子による格子投影形状計測方法及び装置
JP2012514192A (ja) 特に歯科医療を目的とした物体表面の三次元測定方法
JP2000146543A (ja) 3次元形状測定装置、方法及び記録媒体
KR101001894B1 (ko) 컬러 투사 모아레 기법을 이용한 3차원 형상 측정 장치 및 방법
JP2010175554A (ja) 三次元形状計測装置及び三次元形状計測方法
Marrugo et al. Fourier transform profilometry in LabVIEW
JPH1096606A (ja) 形状計測方法及び装置
JP2006064590A (ja) ラインセンサ及びライン状プロジェクタによる形状計測方法と装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20180307

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20190122

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190205

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190208

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6482119

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees