JP6454066B2 - 試験及び計測機器及び入力信号処理方法並びにそのためのコンピュータープログラム - Google Patents
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Description
12…ディスプレイ
18…利用者コントロール
20…電気的入力
21…取得システム
22…プロセッサー
23…メモリ
25…A/D変換器
27…トリガ検出器
42…波形
50…第1位のピーク
51…第2位のピーク
52…ピーク帯域幅テストレベル
Claims (7)
- 当初のディスプレイ中心周波数及びスパンの設定を有すると共に、入力信号を処理するように構成された試験及び計測機器であって、該試験及び計測機器が、
前記入力信号をデジタル化し、デジタル化入力信号を生成するよう構成されるアナログ・デジタル・コンバータと、
プロセッサーと
を具え、
該プロセッサーが、
前記デジタル化入力信号に対して周波数ドメイン変換を行って周波数ドメインデータを発生する処理と、
前記周波数ドメインデータ中の第1位のピークの周波数を求める処理と、
前記第1位のピークの前記周波数に基づき前記当初のディスプレイ中心周波数の設定を調整する処理と、
ピーク帯域幅テストレベルにおける前記第1位のピークの帯域幅をピーク帯域幅閾値と比較することによって、帯域幅比較を実行する処理と、
前記帯域幅比較に基づいて前記当初のスパンの設定を調整する処理と、
調整されたディスプレイ中心周波数及びスパンの設定を用いて、前記周波数ドメインデータの波形信号を発生する処理と
行うように構成されている試験及び計測機器。 - 前記プロセッサーが、前記スパンを減少させると、分解能帯域幅(RBW)を比例して減少させて、前記スパンと前記RBWとの間の比率を一定に維持するように構成されている前記請求項1に記載の試験及び計測機器。
- 前記当初のディスプレイ中心周波数の設定を調整する処理において、前記プロセッサーが、前記ディスプレイ中心周波数を前記第1位のピークの前記周波数に設定する処理を行うように構成される請求項1又は2に記載の試験及び計測機器。
- 当初のディスプレイ中心周波数及びスパンの設定を有する試験及び計測機器において入力信号を処理する方法であって、
入力信号をデジタル化し、デジタル化入力信号を生成する処理と、
前記デジタル化入力信号に対して周波数ドメイン変換を行って周波数ドメインデータを発生する処理と、
前記周波数ドメインデータ中の第1位のピークの周波数を求める処理と、
前記第1位のピークの前記周波数に基づき前記当初のディスプレイ中心周波数の設定を調整する処理と、
ピーク帯域幅テストレベルにおける前記第1位のピークの帯域幅をピーク帯域幅閾値と比較することによって、帯域幅比較を実行する処理と、
前記帯域幅比較に基づいて前記当初のスパンの設定を調整する処理と、
調整されたディスプレイ中心周波数及びスパンの設定を用いて、前記周波数ドメインデータの波形信号を発生する処理と
を具える入力信号処理方法。 - 前記スパンを減少させると、分解能帯域幅(RBW)を比例して減少させて、前記スパンと前記RBWとの間の比率を一定に維持する処理を更に具える請求項4に記載の入力信号処理方法。
- 前記当初のディスプレイ中心周波数の設定を調整する処理において、前記ディスプレイ中心周波数を前記第1位のピークの前記周波数に設定する処理を行う請求項4又は5に記載の入力信号処理方法。
- 当初のディスプレイ中心周波数及びスパンの設定を有する試験及び計測機器において、入力信号を処理する方法を行うように構成されたコンピュータープログラムであって、前記試験及び計測機器によって実行されると、請求項4から6のいずれかの方法が実行されるコンピュータープログラム。
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