JP6400286B2 - X線ct装置、及びx線ct装置の制御方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 40
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 82
- 230000009467 reduction Effects 0.000 claims description 23
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 142
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 54
- 238000002594 fluoroscopy Methods 0.000 description 35
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 22
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 21
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 21
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 21
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 16
- 230000006870 function Effects 0.000 description 13
- 238000009877 rendering Methods 0.000 description 13
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 10
- 230000008569 process Effects 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 6
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 5
- 230000009471 action Effects 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 3
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 3
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 2
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 241001669679 Eleotris Species 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000001574 biopsy Methods 0.000 description 1
- 210000001124 body fluid Anatomy 0.000 description 1
- 239000010839 body fluid Substances 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 230000007480 spreading Effects 0.000 description 1
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 1
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- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
また、実施形態のX線CT装置の制御方法は、被検体の周囲の円軌道に沿って回動可能に設けられたX線発生部を有し、被検体に対してX線発生部からX線を曝射することにより被検体をX線でスキャンし、検出データを取得するX線CT装置の制御方法である。X線CT装置の制御方法は、判定ステップと、算出ステップと、スキャン制御ステップとを有する。判定ステップでは、動作モードとして被曝量低減モードが選択されたか否かを判定する。算出ステップでは、被曝量低減モードが選択された場合に行われる予備スキャンによって取得された検出データから作成された投影データを再構成処理することにより得られたボリュームデータに基づいて特定された被検体の穿刺位置に被検体を挟んで対向する円軌道上の位置がスキャン基準位置として算出される。スキャン制御ステップでは、円軌道のうち、算出ステップにおいて算出されたスキャン基準位置を含む一部の区間でX線を曝射するようにX線発生部が制御される。
図1に、第1実施形態に係るX線CT装置の構成を示す。なお、「画像」と「画像データ」は一対一に対応するので、以下の実施形態においては、これらを同一視する場合がある。また、以下の実施形態において、「X線量」と「(X線の)曝射量」とは、同一視する場合がある。この実施形態に係るX線CT装置は、穿刺中の被検体の周囲の円軌道に沿って回動可能に設けられたX線発生部を有し、穿刺が行われる穿刺位置に対し被検体を挟んで対向するスキャン基準位置を含む円軌道の一部の区間でX線を曝射するように制御する。なお、この実施形態では、円軌道の一部の区間として、円軌道全体の半分に相当する180度(+ファン角)の範囲のハーフスキャンを行う場合について説明する。
図1に示すように、X線CT装置1は、架台装置10と、寝台装置30と、コンソール装置40とを含んで構成されている。
架台装置10は、被検体Eに対してX線を曝射し、被検体Eを透過した当該X線の検出データ(スキャンデータ)を収集する装置である。架台装置10は、X線発生部11と、X線検出部12と、回転体(回動体)13と、高電圧発生部14と、架台駆動部15と、X線絞り部16と、絞り駆動部17と、データ収集部18とを有する。
寝台装置30は、撮影対象の被検体Eを載置・移動させる装置である。寝台装置30は、寝台31と、寝台駆動部32とを備えている。寝台31は、被検体Eを載置するための寝台天板33と、寝台天板33を支持する基台34とを備えている。すなわち、被検体Eの載置空間は、寝台天板33の上部に設けられる。寝台天板33は、寝台駆動部32によって被検体Eの体軸方向及び体軸方向に直交する方向に移動することが可能となっている。これにより、寝台駆動部32は、被検体Eが載置された寝台天板33を、回転体13の開口部13aに対して挿抜させることができる。基台34は、寝台駆動部32によって寝台天板33を上下方向(被検体Eの体軸方向と直交する方向)に移動させることが可能となっている。
コンソール装置40は、X線CT装置1に対する操作入力に用いられる。また、コンソール装置40は、架台装置10によって収集された検出データから被検体Eの内部形態を表すCT画像データ(断層画像データやボリュームデータ)を再構成する機能等を有している。コンソール装置40は、処理部41と、特定部42と、算出部43と、スキャン制御部44と、表示制御部45と、記憶部46と、表示部47と、操作部48と、制御部49と、位置取得部50とを含んで構成されている。
次に、この実施形態に係るX線CT装置1の動作について説明する。
X線CT装置1は、動作モードの指定を受け付ける。制御部49は、操作部48を介して動作モードが指定されたか否かを監視する。操作部48を介して動作モードが指定されたとき、X線CT装置1の動作はS02に移行する。
制御部49は、操作部48を介して指定された動作モードが被曝量低減モードであるか、通常モードであるかを判定する。指定された動作モードが通常モードであると判定されたとき(S02:N)、X線CT装置1の動作はS03に移行する。一方、指定された動作モードが被曝量低減モードであると判定されたとき(S02:Y)、X線CT装置1の動作はS04に移行する。
X線CT装置1は、フルスキャンでCT透視を開始する。CT透視が開始されると、X線CT装置1は、フルスキャンで被検体Eに対してX線スキャンを行い、複数の断層画像データを作成する。すなわち、X線発生部11は、被検体Eに対してX線を曝射する。X線検出部12は、被検体Eを透過したX線を検出する。X線検出部12で検出されたX線に基づく検出データは、データ収集部18で収集され、処理部41(前処理部41a)に送られる。前処理部41aは、取得された検出データに対して、対数変換処理等の前処理を行い、投影データを作成する。作成された投影データは、制御部49の制御に基づき、再構成処理部41bに送られる。再構成処理部41bは、作成された投影データに基づいて、複数の断層画像データを作成する。また、再構成処理部41bは、複数の断層画像データを補間処理することによりボリュームデータを作成することができる。このようなCT透視の終了に伴い、X線CT装置1は、一連の動作を終了する(エンド)。
位置取得部50は、位置センサ35aにより得られた検出結果を取得する。この検出結果は、制御部49を介して、特定部42に送られる。特定部42は、制御部49から送られた検出結果に基づいて穿刺位置を特定する。
算出部43は、S04において特定された穿刺位置に対し被検体Eを挟んで対向する円軌道C上の位置をスキャン基準位置として算出する。すなわち、座標変換部43aは、S04において特定された穿刺位置(座標値)を円軌道Cの座標系に変換する。スキャン基準位置算出部43bは、座標変換部43aにより座標変換された穿刺位置からスキャン基準位置Scを算出する。この実施形態では、スキャン基準位置算出部43bは、図4及び図5で説明したようにスキャン基準位置Scを算出する。S05は、「算出ステップ」の一例である。
設定部44aは、S05において算出されたスキャン基準位置Scがその中間位置となるように一部の区間Csを設定する。この実施形態では、設定部44aは、スキャン基準位置Scから±90度の範囲が一部の区間Csとなるようにハーフスキャンの範囲を設定する。
スキャン制御部44は、S04において設定された一部の区間CsでX線を曝射するようX線発生部11(高電圧発生部14)を制御する。つまり、スキャン制御部44は、CT透視を開始する。
この実施形態の作用及び効果について説明する。
第1実施形態では、穿刺位置を特定するために穿刺針35又は穿刺具36に位置センサ35aが取り付けられた場合について説明したが、第1実施形態はこれに限定されるものではない。この変形例では、位置センサ35aが、穿刺を行う術者の手又は腕に取り付けられるものとする。
この変形例に係るX線CT装置では、算出部43は、穿刺を行う術者の身体の位置を穿刺位置Pとしてスキャン基準位置Scを算出することができる。
第1実施形態又はその変形例では、穿刺針35等に取り付けられた位置センサ35aにより得られた検出結果を用いて穿刺位置を特定する場合について説明したが、位置センサ35aを用いることなく穿刺位置を特定することが可能である。第2実施形態では、予備スキャン等により事前に取得された穿刺中の被検体Eの穿刺位置を含むボリュームデータに基づいて穿刺位置Pが特定される。
図9に示すように、第2実施形態に係るX線CT装置1aは、架台装置10と、寝台装置30と、コンソール装置40aとを含んで構成されている。
次に、この実施形態に係るX線CT装置1aの動作について説明する。
まず、X線CT装置1aは、動作モードの指定を受け付ける。制御部49aは、操作部48を介して動作モードが指定された否かを監視する。操作部48を介して動作モードが指定されたとき、X線CT装置1aの動作はS12に移行する。
制御部49aは、操作部48を介して指定された動作モードが被曝量低減モードであるか、通常モードであるかを判定する。指定された動作モードが通常モードであると判定されたとき(S12:N)、X線CT装置1aの動作はS13に移行する。一方、指定された動作モードが被曝量低減モードであると判定されたとき(S12:Y)、X線CT装置1aの動作はS14に移行する。
X線CT装置1aは、S03と同様に、フルスキャンでCT透視を行い、ボリュームデータを作成する。このようなCT透視の終了に伴い、X線CT装置1aは、一連の動作を終了する(エンド)。
X線CT装置1aは、予備スキャンを行う。予備スキャンでは、円軌道全体(360度)でX線曝射が行われる。具体的には、スキャン制御部44の制御により、X線発生部11は、被検体Eに対して円軌道全体でX線を曝射する。
X線CT装置1aのX線検出部12は、被検体Eを透過したX線を検出し、その検出データを取得する。X線検出部12によって検出された検出データは、データ収集部18で収集され、処理部41(前処理部41a)に送られる。
X線CT装置1aは、S15において得られた検出データに基づいて投影データを作成する。具体的には、前処理部41aは、S15で得られた検出データに対して、対数変換処理、オフセット補正、感度補正、ビームハードニング補正等の前処理を行うことにより、投影データを作成する。作成された投影データは、制御部49aの制御に基づき、再構成処理部41bに送られる。
X線CT装置1aは、S16において作成された投影データに基づいてボリュームデータを作成する。具体的には、再構成処理部41bは、S16において作成された投影データに基づいて、複数の断層画像データを作成する。そして、再構成処理部41bは、複数の断層画像データを補間処理することによりボリュームデータを作成する。
特定部42aは、S17において作成されたボリュームデータに基づいて、上記したように穿刺位置を特定する。
算出部43は、S18において特定された穿刺位置に対し被検体Eを挟んで対向する円軌道C上の位置をスキャン基準位置として算出する。すなわち、座標変換部43aは、S18において特定された穿刺位置(座標値)を円軌道Cの座標系に変換する。スキャン基準位置算出部43bは、座標変換部43aにより座標変換された穿刺位置からスキャン基準位置Scを算出する。この実施形態では、スキャン基準位置算出部43bは、第1実施形態又はその変形例と同様にスキャン基準位置Scを算出する。S19は、「算出ステップ」の一例である。
設定部44aは、S19において算出されたスキャン基準位置Scがその中間位置となるように一部の区間Csを設定する。この実施形態では、設定部44aは、スキャン基準位置Scから±90度の範囲が一部の区間Csとなるようにハーフスキャンの範囲を設定する。
スキャン制御部44は、S20において設定された一部の区間CsでX線を曝射するようにX線発生部11(高電圧発生部14)を制御する。つまり、スキャン制御部44は、S07と同様に、CT透視を行い、ボリュームデータを作成する。S21は、「スキャン制御ステップ」の一例である。このようなCT透視の終了に伴い、X線CT装置1aは、一連の動作を終了する(エンド)。
この実施形態の作用及び効果について説明する。
第1実施形態又はその変形例や第2実施形態では、位置センサ35aにより得られた検出結果を用いて穿刺位置を特定したり、ボリュームデータに基づいて穿刺位置を特定したりする場合について説明したが、これに限定されるものではない。第3実施形態では、指定手段としての操作部48を介して穿刺位置が指定される。
図11に示すように、第3実施形態に係るX線CT装置1bは、架台装置10と、寝台装置30と、コンソール装置40bとを含んで構成されている。
次に、この実施形態に係るX線CT装置1bの動作について説明する。
X線CT装置1bは、動作モードの指定を受け付ける。制御部49bは、操作部48を介して動作モードが指定された否かを監視する。操作部48を介して動作モードが指定されたとき、X線CT装置1bの動作はS32に移行する。
制御部49bは、操作部48を介して指定された動作モードが被曝量低減モードであるか、通常モードであるかを判定する。指定された動作モードが通常モードであると判定されたとき(S32:N)、X線CT装置1bの動作はS33に移行する。一方、指定された動作モードが被曝量低減モードであると判定されたとき(S32:Y)、X線CT装置1bの動作はS34に移行する。
X線CT装置1bは、S03と同様に、フルスキャンでCT透視を開始する。CT透視の終了に伴い、X線CT装置1bは、一連の動作を終了する(エンド)。
X線CT装置1bは、穿刺位置の指定を受け付ける。制御部49bは、操作部48を介して穿刺位置が指定されたか否かを監視する。操作部48を介して穿刺位置が指定されたとき、X線CT装置1bの動作はS35に移行する。
算出部43は、S34において指定された穿刺位置に対し被検体Eを挟んで対向する円軌道C上の位置をスキャン基準位置として算出する。すなわち、座標変換部43aは、S34において指定された穿刺位置(座標値)を円軌道Cの座標系に変換する。スキャン基準位置算出部43bは、座標変換部43aにより座標変換された穿刺位置からスキャン基準位置Scを算出する。この実施形態では、スキャン基準位置算出部43bは、第1実施形態又はその変形例と同様にスキャン基準位置Scを算出する。なお、操作部48を介して指定される穿刺位置は、円軌道Cの座標系における座標値であってもよい。この場合、座標変換部43aによる座標変換を行う必要がなくなる。S35は、「算出ステップ」の一例である。
設定部44aは、S35において算出されたスキャン基準位置Scがその中間位置となるように一部の区間Csを設定する。この実施形態では、設定部44aは、スキャン基準位置Scから±90度の範囲が一部の区間Csとなるようにハーフスキャンの範囲を設定する。
スキャン制御部44は、S36において設定された一部の区間CsでX線を曝射するようX線発生部11(高電圧発生部14)を制御する。つまり、スキャン制御部44は、CT透視を開始する。
この実施形態の作用及び効果について説明する。
上記の実施形態において、特定部による穿刺位置の特定方法として、位置センサやボリュームデータを利用する方法について説明したが、これに限定されるものではない。たとえば、特定部は、撮影手段としてのカメラにより撮影された画像を画像処理することにより穿刺位置を特定するようにしてもよい。たとえば、特定部は、穿刺位置と予め決められた複数の基準位置とを含む範囲をカメラにより撮影することで得られた画像から、カメラ位置を逆算し、その後、穿刺位置の3次元座標位置を推定し、この位置を穿刺位置として特定するようにしてもよい。なお、穿刺位置として、穿刺針、穿刺具、又は術者の手や腕をカメラで撮影して、これらの位置を特定するようにしてもよい。或いは、特定部は、カメラにより撮影された画像から、予め設定された被検体Eの体表面の領域や穿刺針の形状等を用いて穿刺位置を特定するようにしてもよい。また、特定部は、予め決められた位置及び向きに設定されたカメラにより撮影された画像内の基準となる距離を用いて、穿刺位置を特定するようにしてもよい。
10 架台装置
11 X線発生部
12 X線検出部
13 回転体
14 高電圧発生部
15 架台駆動部
16 X線絞り部
17 絞り駆動部
18 データ収集部
30 寝台装置
32 寝台駆動部
33 寝台天板
34 基台
35 穿刺針
35a 位置センサ
36 穿刺具
40、40a、40b コンソール装置
41 処理部
41a 前処理部
41b 再構成処理部
41c レンダリング処理部
42、42a 特定部
43 算出部
43a 座標変換部
43b スキャン基準位置算出部
44 スキャン制御部
44a 設定部
45 表示制御部
46 記憶部
47 表示部
48 操作部
49、49a、49b 制御部
50 位置取得部
C 円軌道
Cs 一部の区間
E 被検体
P 穿刺位置
Sc スキャン基準位置
Claims (5)
- 被検体の周囲の円軌道に沿って回動可能に設けられたX線発生部を有し、前記被検体に対して前記X線発生部からX線を曝射することにより前記被検体をX線でスキャンし、検出データを取得するX線CT装置であって、
前記検出データから作成された投影データを再構成処理することにより得られたボリュームデータに基づいて前記被検体の穿刺位置を特定する特定部と、
前記被検体を挟んで前記特定部により特定された前記被検体の穿刺位置に対向する前記円軌道上の位置をスキャン基準位置として算出する算出部と、
前記円軌道のうち、前記算出部によって算出された前記スキャン基準位置を含む一部の区間で前記X線を曝射するように前記X線発生部を制御するスキャン制御部と
前記スキャン制御部を制御する制御部と、を備え、
前記制御部が動作モードとして被曝量低減モードが選択されたと判定した場合に、
前記特定部は、前記スキャン制御部により行われた予備スキャンによって取得された前記検出データから得られた前記ボリュームデータを基に前記被検体の穿刺位置を特定することを特徴とするX線CT装置。 - 前記算出部は、
前記特定部により特定された前記被検体の前記穿刺位置と前記円軌道の回動中心位置とを通る直線が前記円軌道と交差する位置を前記スキャン基準位置として算出することを特徴とする請求項1に記載のX線CT装置。 - 前記スキャン制御部は、
前記算出部によって算出された前記スキャン基準位置が中間位置となる前記一部の区間で前記X線を曝射するように前記X線発生部を制御することを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のX線CT装置。 - 前記スキャン制御部は、
前記算出部によって算出された前記スキャン基準位置を含む区間でハーフスキャンを行うことを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載のX線CT装置。 - 被検体の周囲の円軌道に沿って回動可能に設けられたX線発生部を有し、前記被検体に対して前記X線発生部からX線を曝射することにより前記被検体をX線でスキャンし、検出データを取得するX線CT装置の制御方法であって、
動作モードとして被曝量低減モードが選択されたか否かを判定する判定ステップと、
前記被曝量低減モードが選択された場合に行われる予備スキャンによって取得された前記検出データから作成された投影データを再構成処理することにより得られたボリュームデータに基づいて特定された前記被検体の穿刺位置に前記被検体を挟んで対向する前記円軌道上の位置をスキャン基準位置として算出する算出ステップと、
前記円軌道のうち、前記算出ステップにおいて算出された前記スキャン基準位置を含む一部の区間で前記X線を曝射するように前記X線発生部を制御するスキャン制御ステップと
を含むことを特徴とするX線CT装置の制御方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013223248A JP6400286B2 (ja) | 2013-10-28 | 2013-10-28 | X線ct装置、及びx線ct装置の制御方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013223248A JP6400286B2 (ja) | 2013-10-28 | 2013-10-28 | X線ct装置、及びx線ct装置の制御方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015084800A JP2015084800A (ja) | 2015-05-07 |
JP6400286B2 true JP6400286B2 (ja) | 2018-10-03 |
Family
ID=53048295
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013223248A Active JP6400286B2 (ja) | 2013-10-28 | 2013-10-28 | X線ct装置、及びx線ct装置の制御方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6400286B2 (ja) |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4178332B2 (ja) * | 1998-04-13 | 2008-11-12 | 株式会社日立メディコ | X線診断装置 |
DE10001357B4 (de) * | 2000-01-14 | 2004-04-15 | Siemens Ag | Verfahren zum Betrieb eines CT-Geräts sowie CT-Gerät |
US6850588B2 (en) * | 2002-07-25 | 2005-02-01 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | Radiation exposure limiting scheme |
JP5470185B2 (ja) * | 2010-07-29 | 2014-04-16 | 株式会社日立メディコ | 医用画像処理装置及び治療支援システム |
-
2013
- 2013-10-28 JP JP2013223248A patent/JP6400286B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2015084800A (ja) | 2015-05-07 |
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Date | Code | Title | Description |
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A711 | Notification of change in applicant |
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A711 | Notification of change in applicant |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Request for written amendment filed |
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A02 | Decision of refusal |
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A521 | Request for written amendment filed |
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A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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