JP6344290B2 - 平面形状測定装置 - Google Patents
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Description
また、本発明に係る平面形状測定装置は、圧延ラインで搬送される平板を撮像する二次元カメラと、平板の温度情報を検知する温度情報検知装置と、二次元カメラの受光特性を決定するパラメータと、平板の温度との対応関係を記憶した記憶装置と、温度情報検知装置で検知された温度情報と、対応関係とに基づいて、パラメータの設定を決定し、決定したパラメータの設定を二次元カメラに対して指令するパラメータ設定指令装置と、二次元カメラによる撮像データから平板の平面形状を特定するプロフィール値を演算するプロフィール値演算装置と、を備える平面形状測定装置において、温度情報検知装置は、平板の搬送方向に対して垂直な方向の線状の視野を有する一次元カメラと、一次元カメラにより撮像された平板の撮像データから平板の撮像画の輝度レベルを演算する輝度レベル演算装置と、を含み、一次元カメラの視野と、二次元カメラの視野とが隣り合っており、一次元カメラの撮像データに基づいて、二次元カメラの視野に平板が入ったことを検知する板有無検知装置と、板有無検知装置により二次元カメラの視野に平板が入ったことが検知された場合に、二次元カメラに撮像を指令する撮像指令装置と、をさらに備えることを特徴とするものである。
図1は、本発明の実施の形態1の平面形状測定装置を示す構成図である。図1に示す本実施の形態1の平面形状測定装置1は、平板(鋼板)100を熱間圧延する熱間圧延ラインにおいて、搬送される平板100の平面形状を、平板を停止させることなく搬送状態のまま測定する装置である。以下の説明では、平板100の長手方向を長さ方向と称し、平板100の長手方向及び厚さ方向の双方に対して垂直な方向を幅方向(または板幅方向)と称する。平板100は、長手方向が搬送方向にほぼ平行になるように搬送される。本実施の形態1の平面形状測定装置1は、例えば、粗圧延機の入側または出側において、平板100の平面形状を測定する。圧延される前の平板100(スラブ)の寸法は、例えば、長さ2000mm程度、幅1000mm程度、厚さ300mm程度である。
ステップS101:装置の外部から発信される平板100に関する表面温度情報を平板温度情報受信装置2が受信する。
ステップS102:露光時間設定指令装置6は、露光時間テーブル記憶装置5に記憶された露光時間テーブルを参照して、平板温度情報受信装置2が受信した表面温度情報に対応する、幅方向撮像器7及び平面形状撮像器8の露光時間を取得する。
ステップS103:露光時間設定指令装置6は、幅方向撮像器7に対して、ステップS102で取得した露光時間を設定する。
ステップS105:測定開始タイミング発生装置4は、測定を開始するタイミングを検知するための準備を幅方向撮像器7に対して指示する。
ステップS106:平板100が幅方向撮像器7の視野27へ進入すると、幅方向撮像器7の撮像信号より、板有無検知装置17は、板有りを検知する。
ステップS108:平板100の全体が平面形状撮像器8の視野(測定範囲28)内に入ると、幅方向撮像器7の撮像信号より、板有無検知装置17は、板無しを検知する。
ステップS109:露光時間設定指令装置6は、輝度レベル演算装置18の演算結果に基づき、露光時間テーブルを参照し、平面形状撮像器8に対して、適切な露光時間を設定する。
ステップS111:幅エッジ座標演算装置9aは、平面形状撮像器8の撮像結果から、平板100の幅を測定するためのエッジ座標を演算する。長さエッジ座標演算装置9bは、平面形状撮像器8の撮像結果から、平板100の長さを測定するためのエッジ座標を演算する。
ステップS113:幅エッジ中央座標演算装置11aは、幅エッジ座標演算装置9aで演算された立ち上がりエッジ座標と立下りエッジ座標との中央値を、平板100の長さ方向に沿って演算する。
ステップS114:エッジ座標間長さ演算装置10bは、長さエッジ座標演算装置9bで演算された立ち上がりエッジ座標と立下りエッジ座標との間隔を演算することで、平板100の長さを演算する。
ステップS115:長さエッジ中央座標演算装置11bは、長さエッジ座標演算装置9bで演算された立ち上がりエッジ座標と立下りエッジ座標との中央値を、平板100の幅方向に沿って演算する。
ステップS117:傾斜角演算装置12は、長さエッジ中央座標演算装置11bで演算された複数点の座標に基づき、平板100の傾斜角を演算する。
ステップS119:長さ方向曲り形状演算装置14は、傾斜角演算装置12で演算された傾き角度を用いて、幅エッジ中央座標演算装置11aの検算結果を補正することで、平板100の長さ方向曲がり形状を演算する。
ステップS120:長さプロフィール演算装置15は、傾斜角演算装置12で演算された傾き角度を用いて、エッジ座標間長さ演算装置10bの検算結果を補正することで、平板100の長さプロフィールを演算する。
ステップS121:幅方向曲り形状演算装置16は、傾斜角演算装置12で演算された傾き角度を用いて、長さエッジ中央座標演算装置11bの検算結果を補正することで、平板100の幅方向曲がり形状を演算する。
次に、図8から図11を参照して、本発明の実施の形態2について説明するが、上述した実施の形態1との相違点を中心に説明し、同一部分または相当部分は同一符号を付し説明を省略する。
ステップS131:輝度レベル演算装置18は、ピークホールド処理装置19によってピークホールド処理された幅方向撮像器7の撮像データの輝度レベルを演算する。
ステップS108:平板100の全体が平面形状撮像器8の視野(測定範囲28)内に入ると、幅方向撮像器7の撮像信号より、板有無検知装置17は、板無しを検知する。
ステップS109:露光時間設定指令装置6は、輝度レベル演算装置18の演算結果に基づき、露光時間テーブルを参照し、平面形状撮像器8に対して、適切な露光時間を設定する。
次に、図12から図14を参照して、本発明の実施の形態3について説明するが、上述した実施の形態1との相違点を中心に説明し、同一部分または相当部分は同一符号を付し説明を省略する。
ステップS108:平板100の全体が平面形状撮像器8の視野(測定範囲28)内に入ると、幅方向撮像器7の撮像信号より、板有無検知装置17は、板無しを検知する。
ステップS141:板有無検知装置17が板無しを検知すると、測定開始タイミング発生装置4は、測定開始指令を出す。測定開始指令は、連続撮像指令装置20を経由して、平面形状撮像器8へ伝えられる。平面形状撮像器8は、連続撮像指令装置20からの指令に基づき、複数回連続して撮像する。平面形状撮像器8は、連続撮像指令装置20からの指令に基づき、各回で異なる露光時間で撮像する。これにより、平面形状撮像器8は、露光時間の異なる複数の撮像画100d,100e,100f,・・・,100nを収集する。
Claims (5)
- 圧延ラインで搬送される平板を撮像する二次元カメラと、
前記平板の温度情報を検知する温度情報検知装置と、
前記二次元カメラの受光特性を決定するパラメータと、前記平板の温度との対応関係を記憶した記憶装置と、
前記温度情報検知装置で検知された温度情報と、前記対応関係とに基づいて、前記パラメータの設定を決定し、決定した前記パラメータの設定を前記二次元カメラに対して指令するパラメータ設定指令装置と、
前記二次元カメラによる撮像データから前記平板の平面形状を特定するプロフィール値を演算するプロフィール値演算装置と、
を備える平面形状測定装置において、
前記平板の温度情報を受信する受信装置をさらに備え、
前記パラメータ設定指令装置は、前記受信装置で受信した温度情報と、前記温度情報検知装置で検知された温度情報と、前記対応関係とに基づいて、前記パラメータの設定を決定し、決定した前記パラメータの設定を前記二次元カメラに対して指令することを特徴とする平面形状測定装置。 - 圧延ラインで搬送される平板を撮像する二次元カメラと、
前記平板の温度情報を検知する温度情報検知装置と、
前記二次元カメラの受光特性を決定するパラメータと、前記平板の温度との対応関係を記憶した記憶装置と、
前記温度情報検知装置で検知された温度情報と、前記対応関係とに基づいて、前記パラメータの設定を決定し、決定した前記パラメータの設定を前記二次元カメラに対して指令するパラメータ設定指令装置と、
前記二次元カメラによる撮像データから前記平板の平面形状を特定するプロフィール値を演算するプロフィール値演算装置と、
を備える平面形状測定装置において、
前記温度情報検知装置は、
前記平板の搬送方向に対して垂直な方向の線状の視野を有する一次元カメラと、
前記一次元カメラにより撮像された前記平板の撮像データから前記平板の撮像画の輝度レベルを演算する輝度レベル演算装置と、
を含み、
前記一次元カメラの視野と、前記二次元カメラの視野とが隣り合っており、
前記一次元カメラの撮像データに基づいて、前記二次元カメラの視野に前記平板が入ったことを検知する板有無検知装置と、
前記板有無検知装置により前記二次元カメラの視野に前記平板が入ったことが検知された場合に、前記二次元カメラに撮像を指令する撮像指令装置と、
をさらに備えることを特徴とする平面形状測定装置。 - 前記温度情報検知装置は、前記平板の複数個所の温度情報を検知し、それらの検知された温度情報のうち最も高い温度の情報を保持することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の平面形状測定装置。
- 前記パラメータ設定指令装置は、前記パラメータを複数の異なる値に設定し、当該複数の異なる値の前記パラメータを順次用いて前記平板を複数回連続して撮像することを前記二次元カメラに指令することを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の平面形状測定装置。
- 前記二次元カメラによる撮像データから前記平板の平面形状のゆがみに関するデータを演算するゆがみ演算装置を備えることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の平面形状測定装置。
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