JP6295410B2

JP6295410B2 - チップ抵抗器の抵抗値測定方法およびチップ抵抗器の実装方法

Info

Publication number: JP6295410B2
Application number: JP2013251818A
Authority: JP
Inventors: 優坂口
Original assignee: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Current assignee: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Priority date: 2013-12-05
Filing date: 2013-12-05
Publication date: 2018-03-20
Anticipated expiration: 2033-12-05
Also published as: JP2015108568A

Description

本発明は、各種電子機器の電流検出に使用される低い抵抗値のチップ抵抗器の抵抗値測定方法およびチップ抵抗器の実装方法に関するものである。

従来のこの種のチップ抵抗器の抵抗値測定方法は、図５に示すように、抵抗体１の両端部に対向する第１の電極２ａ、第２の電極２ｂが形成されたチップ抵抗器において、第１の電極２ａ、第２の電極２ｂの上面にそれぞれ、電流通電用プローブ３、電圧測定用プローブ４を接触させ、電流通電用プローブ３から電流を流しながら、電圧測定用プローブ４で電圧値を測定して抵抗体１の抵抗値を測定するようにしていた。

また、一方の電流通電用プローブ３が第１の電極２ａに接触する位置は、他方の電流通電用プローブ３が第２の電極２ｂに接触する位置と互いに対向する。そして、電流通電用プローブ３が第１の電極２ａ、第２の電極２ｂと接触する場所の片側において、一方の電圧測定用プローブ４が第１の電極２ａに接触する位置が、他方の電圧測定用プローブ４が第２の電極２ｂに接触する位置と互いに対向している。

なお、この出願の発明に関する先行技術文献情報としては、例えば、特許文献１が知られている。

特開２００７−７３７５５号公報

上記した従来のチップ抵抗器の抵抗値測定方法においては、実装基板のランドパターンでの電圧測定用引出線と、チップ抵抗器での電圧測定位置が異なると、電圧測定用引出線と電圧測定位置の間のランドやめっきの抵抗値の分だけ、チップ抵抗器単体で測定された抵抗値と実装後に測定された抵抗値に差が生じるため、その抵抗値の差が電圧差となって検出され、これにより、実装した状態において本来必要な電圧が得られないため、電流検出精度が悪化する可能性があるという課題を有していた。

また、実装基板のランドパターンでの電圧測定用引出線と、チップ抵抗器での電圧測定位置を合わせるようにしても、電流通電用プローブ３、電圧測定用プローブ４が接触する場所に方向性があるため、１８０度回転した状態で実装されると、実装基板のランドパターンでの電圧測定用引出線と、チップ抵抗器での電圧測定位置の距離が離れ、これにより、やはりチップ抵抗器単体で測定された抵抗値と実装後に測定された抵抗値に差が生じてしまい、電流検出精度が悪化する。

本発明は上記従来の課題を解決するもので、電流検出精度をより向上させることができるチップ抵抗器の抵抗値測定方法を提供することを目的とするものである。

上記目的を達成するために、本発明は、抵抗体の両端部に対向する第１の電極、第２の電極が形成されたチップ抵抗器において、前記第１の電極、第２の電極にそれぞれ、一対の電流通電用プローブ、一対の電圧測定用プローブを接触させ、前記一対の電流通電用プローブから電流を流しながら、前記一対の電圧測定用プローブで電圧値を測定して前記抵抗体の抵抗値を測定するチップ抵抗器の抵抗値測定方法であって、前記一対の電圧測定用プローブを、前記第１の電極、第２の電極の前記第１の電極と第２の電極が対向する方向と垂直な方向における略中央部に接触させるようにし、前記一対の電流通電用プローブは、前記一対の電圧測定用プローブ同士を結ぶ線の中央部に対して点対称な位置で前記第１の電極と前記第２の電極に接触させるようにしたもので、この方法によれば、実装基板のランドパターンでの電圧測定用引出線と、チップ抵抗器での電圧測定位置を合わせるようにすれば、電圧測定用プローブが接触される場所に方向性がないため、１８０度回転した状態で実装されても、実装基板のランドパターンでの電圧測定用引出線と、チップ抵抗器での電圧測定位置の距離が離れることはなく、これにより、チップ抵抗器単体で測定された抵抗値と実装後に測定された抵抗値に差は生じないため、実装した状態において本来必要な電圧が得られ、これにより、電流検出精度を向上させることができるという作用効果が得られるものである。

以上のように本発明のチップ抵抗器の抵抗値測定方法は、電圧測定用プローブを、第１の電極と第２の電極が対向する方向と垂直な方向における略中央部に接触させるようにしているため、電圧測定用プローブが接触される場所に方向性がなくなり、これにより、実装基板のランドパターンでの電圧測定用引出線と、チップ抵抗器での電圧測定位置を一致させるようにすれば、１８０度回転した状態で実装されても、実装基板のランドパターンでの電圧測定用引出線と、チップ抵抗器での電圧測定位置の距離が離れることはなくなるため、チップ抵抗器単体で測定された抵抗値と実装後に測定された抵抗値に差は生じず、この結果、実装した状態において本来必要な電圧が得られ、電流検出精度を向上させるこ
とができるという優れた効果を奏するものである。

本発明の一実施の形態におけるチップ抵抗器の抵抗値測定方法を説明する上面図同チップ抵抗器の側面図同チップ抵抗器の他の抵抗値測定方法を説明する上面図同チップ抵抗器を実装する実装基板のランドパターンを示す図従来のチップ抵抗器の抵抗値測定方法を説明する上面図

以下、本発明の一実施の形態におけるチップ抵抗器の抵抗値測定方法について、図面を参照しながら説明する。

図１は本発明の一実施の形態におけるチップ抵抗器の抵抗値方法を説明する上面図、図２は同チップ抵抗器の側面図である。

本発明の一実施の形態におけるチップ抵抗器は、図１、図２に示すように、板状のＣｕＮｉ、ＣｕＭｎ等の金属で構成された抵抗体１１と、互いに離間し、抵抗体１１の下面の両端部に形成されたＣｕからなる第１の電極１２ａ、第２の電極１２ｂと、抵抗体１１の下面の第１の電極１２ａと第２の電極１２ｂとの間、抵抗体１１の上面、および第１の電極１２ａ、第２の電極１２ｂの上面の一部を覆うように形成された保護膜１３とを備えている。なお、図１では保護膜１３を省略している。

上記構成において、抵抗体１１の下面の両端部に第１の電極１２ａ、第２の電極１２ｂを、溶接、クラッド等の方法で接合する。その後、抵抗体１１の抵抗値を測定しながら抵抗値調整し、さらに保護膜１３を形成して、チップ抵抗器を得るようにしている。

なお、抵抗体１１を金属板で構成したものではなく、絶縁基板上に銀パラジウム等からなる低抵抗合金のペーストを印刷して形成したものであってもよい。

そして、上記チップ抵抗器の抵抗値測定方法は、第１の電極１２ａ、第２の電極１２ｂの上面にそれぞれ、電流通電用プローブ１４、電圧測定用プローブ１５を接触させ、一対の電流通電用プローブ１４から電流を流しながら、一対の電圧測定用プローブ１５で電圧値を測定するようする。このような方法で抵抗値を測定することによって、チップ抵抗器単体での抵抗値修正や出荷前の抵抗値検査を行う。

また、電圧測定用プローブ１５の接触位置１５ａは、第１の電極１２ａと第２の電極１２ｂが対向する方向と垂直な方向（Ｘ方向）における第１の電極１２ａ、第２の電極１２ｂのそれぞれの略中央部にする。

さらに、電流通電用プローブ１４は、電圧測定用プローブ１５同士を結ぶ線の中央部に対して点対称な位置１４ａで第１の電極１２ａと第２の電極１２ｂに接触させる。これにより、電流通電用プローブ１４、電圧測定用プローブ１５ともに方向性がなくなり、また、電流が偏ることなく第１の電極１２ａ、第２の電極１２ｂ間に流れるようになる。

なお、図１では、電流通電用プローブ１４、電圧測定用プローブ１５は模式的に表しており、実際の大きさ、位置とは異なる。さらに、接触位置１４ａ、１５ａはその位置のみを表しており、実際の大きさとは異なる。

そして、上記のように抵抗値測定されたチップ抵抗器は、図４に示すように、ランドパターン１６に一対の電圧測定用引出線１７が引き出された実装基板に実装され、チップ抵抗器単体で測定された抵抗値と電圧測定用引出線１７によって測定された電圧値から電流を検出するようにする。

このとき、第１の電極１２ａ、第２の電極１２ｂにおける電圧測定用プローブ１５の接触位置１５ａと、電圧測定用引出線１７の引き出し位置１７ａとを、第１の電極１２ａと第２の電極１２ｂが対向する方向と垂直方向（Ｙ方向）において一致させる、すなわち、電圧測定用プローブ１５の一対の接触位置１５ａと電圧測定用引出線１７の一対の引き出し位置１７ａが、一方の電極から見て一直線上になるようにする。また、接触位置１５ａと引き出し位置１７ａを上面から見て合致させてもよい。

第１の電極１２ａ、第２の電極１２ｂの電圧測定用プローブ１５の接触位置１５ａを、電圧測定用引出線１７の引き出し位置１７ａに一致させる方法としては、電圧測定用プローブ１５を接触させることによって第１の電極１２ａ、第２の電極１２ｂに形成されたプローブ痕を目印とする。このプローブ痕は、電圧測定用プローブ１５が接触した場所１５ａそのものであるため、第１の電極１２ａ、第２の電極１２ｂの電圧測定用プローブ１５の接触位置１５ａと、電圧測定用引出線１７の引き出し位置１７ａとを確実に一致させることができる。

なお、プローブ痕は電圧測定用プローブ１５が接触することで第１の電極１２ａ、第２の電極１２ｂに形成された凹みや窪みである。また、電圧測定用プローブ１５の先端に色を付けたり、電圧測定用プローブ１５の接触する場所やその周囲に予め着色する等の目印を付けたりしておいてもよい。

上記したように本発明の一実施の形態におけるチップ抵抗器の抵抗値測定方法は、一対の電圧測定用プローブ１５を、第１の電極１２ａと第２の電極１２ｂが対向する方向と垂直な方向における第１の電極１２ａ、第２の電極１２ｂの略中央部にそれぞれ接触させて行うようにしているため、電圧測定用プローブ１５が接触する場所は方向性がなくなる。すなわち、１８０度回転しても同じ場所で電圧測定用プローブ１５が接触する。

これにより、実装基板のランドパターン１６での電圧測定用引出線１７と、チップ抵抗器単体での電圧測定位置１５ａを、第１の電極１２ａと第２の電極１２ｂが対向する方向と垂直方向において一直線上になるようすれば、１８０度回転した状態で実装されても、電圧測定用引出線１７とチップ抵抗器での電圧測定位置１５ａの距離が離れることはなくなるため、チップ抵抗器単体で測定された抵抗値と実装後に測定された抵抗値に差は生じず、この結果、実装した状態において本来必要な電圧が得られ、電流検出精度を向上させることができるという効果が得られるものである。

本発明に係るチップ抵抗器の抵抗値測定方法は、電流検出精度を向上させることができるという効果を有するものであり、特に各種電子機器に使用される低い抵抗値のチップ抵抗器等において有用となるものである。

１１抵抗体
１２ａ第１の電極
１２ｂ第２の電極
１４電流通電用プローブ
１５電圧測定用プローブ
１６ランドパターン
１７電圧測定用引出線

Claims

抵抗体の両端部に対向する第１の電極、第２の電極が形成されたチップ抵抗器において、前記第１の電極、第２の電極にそれぞれ、一対の電流通電用プローブ、一対の電圧測定用プローブを接触させ、前記一対の電流通電用プローブから電流を流しながら、前記一対の電圧測定用プローブで電圧値を測定して前記抵抗体の抵抗値を測定するチップ抵抗器の抵抗値測定方法であって、前記一対の電圧測定用プローブを、前記第１の電極、第２の電極の前記第１の電極と第２の電極が対向する方向と垂直な方向における略中央部に接触させるようにし、前記一対の電流通電用プローブは、前記一対の電圧測定用プローブ同士を結ぶ線の中央部に対して点対称な位置で前記第１の電極と前記第２の電極に接触させるようにしたチップ抵抗器の抵抗値測定方法。
請求項１の測定方法により抵抗値を測定されたチップ抵抗器を、実装基板のランドパターンの電圧測定用引出線と、前記電圧測定用プローブの接触位置を前記第１の電極と第２の電極が対向する方向と垂直な方向において一致させるようにしたチップ抵抗器の実装方法。