JP6261730B2 - スリット走査位相コントラストイメージングにおける補正 - Google Patents
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Description
I) その位置においてフィルタセグメントが複数のX線ビームセクションを形成するX線ビーム部分に配置される、第1の較正位置;と
II) その位置において、フィルタセグメントが、検出器セグメントによって検出される複数のX線ビームセクションを形成するX線ビーム部分の外に配置される、第2の走査位置;との間で移動可能である。
i) 線源回折格子とプレコリメータとの間;又は
ii) プレコリメータと位相回折格子との間;又は
iii) 位相回折格子とアナライザ回折格子との間;
に配置される。
i)物体なし且つフィルタなしの走査;
ii)フィルタのみを伴う走査;及び
iii)物体のみを伴う走査;
を提供するように構成される。
a) 線源回折格子とアナライザ回折格子との間の場所でX線画像取得装置のX線ビームセクションを形成するX線ビーム部分に較正フィルタの第1の複数のフィルタセグメントを配置するステップ;フィルタセグメントは、マイクロメートル領域の構造パラメータを有する構造要素を持つ材料から作られるフィルタ材を有する;
b) X線放射を提供するステップ;
c) 較正目的のために基準信号としてX線画像信号を検出するステップ;
d) 基準信号に基づいて較正係数を決定するステップであって、較正係数はゲイン誘起信号構造を表す、ステップ;及び
e) 較正されたX線イメージング手順のために較正係数を提供するステップ。
− 配置ステップ302では、較正フィルタが、線源回折格子と位相回折格子との間の場所におけるX線画像取得配置のX線ビームの中に配置される。較正フィルタは、上述の例の1つによる較正フィルタ回折格子である。
− 第1の提供ステップ304では、X線放射が提供される。
− 検出ステップ306では、基準信号としてのX線画像信号が較正目的で検出される。
− 決定ステップ308では、較正係数が、基準信号に基づいて決定され、較正係数は、ゲイン誘起信号構造を示す。
− 第2の提供ステップ310では、較正係数が次に較正されたX線イメージング手順のために提供される。
Claims (15)
- 位相コントラストイメージング装置のスリット走査システムの干渉計ユニットのアナライザ回折格子とX線源回折格子との間に移動可能に配置される較正フィルタ回折格子であって:
− フィルタ材を有する第1の複数のフィルタセグメント;及び
− 第2の複数の開放セグメント;を有し、
前記フィルタセグメント及び前記開放セグメントは、前記スリット走査システムのスリットパターンとの位置合わせのためのフィルタパターンとして交互に配置され;
前記フィルタ材は、コヒーレントX線をインコヒーレントX線に変換するためのマイクロメートル領域の構造パラメータを有する構造要素を持つ材料から作られる、
較正フィルタ回折格子。 - 前記構造要素は、10μmの最大範囲で提供される、
請求項1に記載の較正フィルタ回折格子。 - 前記フィルタ材は、
− 気体の泡及び/又は液体の泡を含む流体の泡;及び
− 繊維ベースの材料;
のグループの少なくとも1つとして提供され、
前記フィルタ材は、小さい原子番号要素から作られる、
請求項1又は2に記載の較正フィルタ回折格子。 - 前記較正フィルタ回折格子は、位相コントラストイメージングのための線源回折格子を持つX線源によって提供されるコヒーレントX線放射のための小角散乱を提供するデコヒーレンスフィルタである、
請求項1乃至3のいずれか1項に記載の較正フィルタ回折格子。 - − X線源;
− 線源回折格子;
− プレコリメータ;
− 位相回折格子及びアナライザ回折格子を有する干渉計ユニット;
− 互いにずらされた複数の検出器セグメントを持つX線検出器;及び
− 較正装置;を有し、
前記線源回折格子は、少なくとも部分的にコヒーレントX線放射を提供し;
前記プレコリメータは、放射無しセクションによって互いからずらされた複数のX線ビームセクションとともにX線ビーム幅を提供するために、複数のバー及びスリットを有し;
前記較正装置は、請求項1乃至4のいずれか1項に記載の較正フィルタ回折格子であり;
前記較正フィルタ回折格子は、前記線源回折格子と前記アナライザ回折格子との間に配置され;
前記較正フィルタ回折格子は:
I) その位置において前記フィルタセグメントが前記複数のX線ビームセクションを形成するX線ビーム部分に配置される、第1の較正位置;と
II) その位置において前記フィルタセグメントが、前記検出器セグメントによって検出される前記複数のX線ビームセクションを形成するX線ビーム部分の外に配置される、第2の走査位置;との間で移動可能である;
スリット走査X線位相コントラストイメージング装置。 - 前記較正フィルタ回折格子は、
i) 前記線源回折格子と前記プレコリメータとの間;又は
ii) 前記プレコリメータと前記位相回折格子との間;又は
iii) 前記位相回折格子と前記アナライザ回折格子との間;
に配置される、
請求項5に記載のスリット走査X線位相コントラストイメージング装置。 - 前記第2の走査位置において、前記較正フィルタ回折格子は、前記線源回折格子と前記アナライザ回折格子との間にとどまり、
前記フィルタセグメントは、前記X線ビームセクションの前記放射無しセクション又は前記プレコリメータのバーによってブロックされる前記X線ビーム部分に配置される、
請求項5又は6に記載のスリット走査X線位相コントラストイメージング装置。 - 前記位相回折格子は、第1の周期を備え、
前記構造要素の構造は、略前記第1の周期の範囲で提供される、
請求項5乃至7のいずれか1項に記載のスリット走査X線位相コントラストイメージング装置。 - 前記第1の較正位置と前記第2の走査位置との間で前記較正フィルタ回折格子を動かすための変位装置が提供される、
請求項5乃至8のいずれか1項に記載のスリット走査X線位相コントラストイメージング装置。 - 前記変位装置は、
− モータ駆動並進ステージ;
− 電磁駆動ステージ;及び
− 圧電並進ステージ;
のグループの少なくとも1つとして提供される、
請求項9に記載のスリット走査X線位相コントラストイメージング装置。 - − X線画像取得装置;
− 処理装置;及び
− 物体支持装置;を有し、
前記X線画像取得装置は、請求項5乃至10のいずれか1項に記載のスリット走査X線位相コントラストイメージング装置として提供され;
前記物体支持装置は、検査されることになる物体を支持するように構成され;
前記X線画像取得装置は、較正目的のために、基準信号としてX線画像信号を検出するように構成され、前記物体は、X線放射の外側に配置され;
前記処理装置は、前記基準信号に基づいて較正係数を決定するように構成され、前記較正係数は、ゲイン誘起信号構造を表し;前記処理装置は、較正されたX線イメージング手順のための前記較正係数を提供するように構成される、
X線イメージングシステム。 - 前記較正装置の前記フィルタセグメントは、較正目的のために前記X線ビームセクションを形成する前記X線ビーム部分の中に且つ前記物体及び位相基準取得ステップのために前記X線ビームセクションを形成する前記X線ビーム部分の外側に配置されるように構成される、
請求項11に記載のX線イメージングシステム。 - スリット走査X線位相コントラストイメージングにおける較正のための方法であって:
a) 線源回折格子とアナライザ回折格子との間の場所でX線画像取得装置のX線ビームセクションを形成するX線ビーム部分に較正フィルタ回折格子の第1の複数のフィルタセグメントを配置するステップであって、前記フィルタセグメントは、コヒーレントX線をインコヒーレントX線に変換するためのマイクロメートル領域の構造パラメータを有する構造要素を持つ材料から作られるフィルタ材を有する、ステップ;
b) X線放射を提供するステップ;
c) 較正目的のために基準信号としてX線画像信号を検出するステップ;
d) 前記基準信号に基づいて較正係数を決定するステップであって、前記較正係数はゲイン誘起信号構造を表す、ステップ;及び
e) 較正されたX線イメージング手順のために前記較正係数を提供するステップ;を含む、
方法。 - 請求項13に記載の方法のそれぞれの前記ステップをコンピュータに実行させる、コンピュータプログラム。
- 請求項14のコンピュータプログラムを格納したコンピュータ可読媒体。
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Families Citing this family (15)
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US10458926B2 (en) * | 2014-05-27 | 2019-10-29 | Koninklijke Philips N.V. | Calibration hardware phantom for differential phase contrast imaging |
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CN107543835B (zh) * | 2016-06-27 | 2021-05-14 | 上海一影信息科技有限公司 | 多能成像方法、装置及其*** |
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US11073487B2 (en) * | 2017-05-11 | 2021-07-27 | Kla-Tencor Corporation | Methods and systems for characterization of an x-ray beam with high spatial resolution |
JP6844461B2 (ja) * | 2017-07-20 | 2021-03-17 | 株式会社島津製作所 | X線位相イメージング装置および情報取得手法 |
EP3459461A1 (en) * | 2017-09-25 | 2019-03-27 | Koninklijke Philips N.V. | X-ray imaging reference scan |
EP3498170A1 (en) * | 2017-12-12 | 2019-06-19 | Koninklijke Philips N.V. | Device and method for aligning an x-ray grating to an x-ray radiation source, and x-ray image acquisition system |
US10816486B2 (en) * | 2018-03-28 | 2020-10-27 | Kla-Tencor Corporation | Multilayer targets for calibration and alignment of X-ray based measurement systems |
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EP3821810A1 (en) * | 2019-11-13 | 2021-05-19 | Koninklijke Philips N.V. | Active gratings position tracking in gratings-based phase-contrast and dark-field imaging |
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---|---|---|---|---|
US8855265B2 (en) | 2009-06-16 | 2014-10-07 | Koninklijke Philips N.V. | Correction method for differential phase contrast imaging |
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WO2011070488A1 (en) * | 2009-12-10 | 2011-06-16 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Phase contrast imaging |
JP2012090944A (ja) * | 2010-03-30 | 2012-05-17 | Fujifilm Corp | 放射線撮影システム及び放射線撮影方法 |
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