JP6257514B2 - 干渉信号を抑制するための方法および装置 - Google Patents

Description

本発明は、テスト信号の干渉信号を抑制するための方法に関する。より特定的には、スペクトラムアナライザーにおける狭帯域の干渉信号に関し、対応する測定装置に関する。

スペクトラムアナライザーにおいて、従来的には、テスト信号は中間周波数に変換され、そしてデジタル化されている。これに関連して、スペクトラムアナライザーのアナログ成分は、非線形的な振る舞いを示し得る。特に、中間周波数におけるテスト信号をデジタル化するために使用されるアナログ-デジタルコンバーターは、しばしば非線形的な振る舞いを備えている。その結果として干渉信号が発生する。特に、狭帯域の励起の場合の狭帯域干渉信号においてである。このように、ドイツ特許出願第１０ ２００４ ０２０ ２７８ Ａ１号明細書は、こうした干渉信号の抑制を伴なわない従来のスペクトラムアナライザーを開示している。

ドイツ特許出願第１０ ２００４ ０２０ ２７８ Ａ１号明細書

本発明は、信号における干渉信号を抑制するための方法および対応する測定装置を提供するという目的に基づいている。

本発明の目的は、方法に対しては独立請求項１に記載の技術的特徴により、そして、測定装置に対しては請求項１０に記載の技術的特徴により達成される。有利なさらなる進展は、これらの請求項を参照する従属請求項の技術的事項を形成する。

干渉信号を抑制するための本発明に従った測定装置は、ミキサー（ｍｉｘｅｒ）、アナログ-デジタルコンバーター、および、置換デバイスを含んでいる。ミキサーは、第１信号を第１中間周波数と混合し、かつ、第２信号を第２中間周波数と混合するように実施される。アナログ-デジタルコンバーターは、第１中間周波数と混合された第１信号をデジタル化して第１テスト信号を形成し、かつ、第２中間周波数と混合された第２信号をデジタル化して第２テスト信号を形成するように実施される。置換デバイスは、第１テスト信号と第２テスト信号を、干渉信号に対応する干渉信号ピーク値を除去して結合し、結合テスト信号を形成するように実施される。このようにして、テスト信号からの干渉信号成分を完全に除去することが達成され、一方で、テスト信号は変造されない。ピーク値領域は有利に検知され、干渉信号ピーク値領域が存在するかどうかが判断される。

正規化（ｓｃａｌｉｎｇ）デバイスが、望ましくは存在する。正規化デバイスは、少なくとも第１テスト信号及び／又は第２テスト信号を、それらが共通の中間周波数を備えているように周波数において変位させるように実施される。

本発明は、図面に基づいて以降の実施例に関して説明される。図面には、本発明の有利な典型的な実施例が示されている。図面は以下のとおりである。
図１は、典型的なテスト信号を示している。 図２は、第２の典型的なテスト信号を示している。 図３は、第１の典型的なテスト信号と第２の典型的なテスト信号を結合して示している。 図４は、第１結合テスト信号を示している。 図５は、第２結合テスト信号を示している。 図６は、予測されるテスト誤差の典型的な見解を示している。 図７は、本発明に従った第１の典型的な実施例に係るフローチャートを示している。 図８は、第３の典型的なテスト信号を示している。 図９は、本発明に従った第２の典型的な実施例に係るフローチャートを示している。 図１０は、本発明に従った測定装置の典型的な実施例に係るブロックダイアグラムを示している。

本発明に従った方法の機能は、最初に図１から図９に基づいて開示される。これに続いて、本発明に従った測定装置の構成および機能が図１０に基づいて説明される。類似の図面における同一エレメントの表示及び説明は、いくつかのケースにおいて再度は行われない。

図１は、周波数領域における第１の典型的なテスト信号１０を示しており、周波数は正規化されたＸ軸に示されている。テスト信号１０は、信号を第１中間周波数信号と混合し、続いてデジタル化することにより生成されたものである。従って、テスト信号１０は、複数のピーク値領域１１から１５を備えている。これらのピーク値領域１１から１５は、例えば、測定装置の非線形成分によって引き起こされた干渉信号ピーク値領域、または、テスト下の接続されたデバイスのペイロード信号（ｐａｙｌｏａｄ−ｓｉｇｎａｌ）ピーク値領域、のいずれかであってよい。この一つのテスト信号１０に基づいて、区別することはできない。

図２は、第２の典型的なテスト信号２０を示している。テスト信号２０も、また、周波数領域において示されている。ここにおいて、また、周波数は正規化されている。このテスト信号２０は、また、入力信号を第２中間周波数信号と混合し、続いてサンプリングすることから生じているものである。複数のピーク値領域２１から２５が、また、この第２テスト信号２０においても配置されている。これらのピーク値領域２１から２５は、テスト下の接続されたデバイスの干渉信号、または、ペイロード信号のいずれかのせいであると考えられる。ここにおいても、また、一つのテスト信号２０に基づく区別は不可能である。

第２中間周波数信号は、図１に示された第１中間周波数信号とは異なる周波数を備える。結果として、例えば、測定装置の非線形成分から引き起こされた中間信号成分は、図１におけるケースとは異なる周波数上に配置されることになる。すなわち、図１からのピーク値領域１２、１４、１５は、図２からのピーク値領域２１、２３、２４に対応するものであるが、ペイロード信号ピーク値領域である。対応を示さないピーク値領域１１、１３および２２、２５は、干渉信号ピーク値領域である。

これは、図３から明らかなイベントである。図３は、第１テスト信号と第２テスト信号を示している。両方の信号１０と２０のピーク値３０から３６も、また、示されている。ピーク値領域３１は、図１からのピーク値領域１２と、図２からのピーク値領域２１に対応している。従って、これらはペイロード信号ピーク値領域である。同様のことがピーク値領域３４と３５について適用され、ピーク値領域１４、２３および１５、２４に対応している。しかしながら、ピーク値領域３０、３２、３３、および、３６は、テスト信号１０、２０の両方には存在しない。すなわち、これらは、干渉信号ピーク値領域である。これらの干渉信号は抑制されなければならない。

図３に基づいて判断された干渉信号が抑制された場合、図４において太線で示されるように、結合されたテスト信号４０が得られる。信号は、今となっては、ピーク値領域４１から４３しか含んでおらず、これらはテスト下デバイスのペイロード信号のせいと考えられるものである。

図１から図４の信号は、非常にノイズが低いものである。なぜなら、これらは平均化された信号だからである。すなわち、図１からのテスト信号１０、および、図２からのテスト信号も、それぞれが、例えば、同一の中間周波数を使用した１００回の測定値の平均値に対応している。

図５は、平均化していない対応する信号を示している。第１テスト信号５０は、入力信号を第１中間周波数と混合し、続いてデジタル化することから生じている。第２テスト信号５１は、入力信号を第２中間周波数と混合し、続いてデジタル化することから生じている。信号５０と５１の両方は、ここにおいて、正規化された周波数と供に示されている。全体として、ピーク値領域５３から５８が得られる。ここでは、また、ピーク値領域５３から５８の必ずしも全てが、両方の信号５０、５１において生じているものではないことが明らかである。ピーク値領域５４と５７だけが、両方の信号５０、５１において生じている。すなわち、ピーク値領域５４と５７は、ペイロード信号ピーク値領域である。他のピーク領域５３、５５、５６、および、５８は、干渉信号ピーク値領域である。

図５は、結合されたテスト信号５２を示している。信号は、ペイロード信号ピーク値領域５４と５７だけを含んでいる。さらに、結合されたテスト信号５２は、信号５０と５１からの最小値に対応している。しかしながら、この手順は、システマチックな誤差を生じてしまう。すなわち、この最小値の形成は、ノイズレベルを非常に低いものとしてシステマチックに評価してしまう。このことは、平均化をしないこと、従って、ノイズ抑制をしないことにより、特に明らかである。

それぞれに応じて、図６は、測定回数Ｎによるシステマチックな誤差６０の大きさを示しており、それぞれのケースにおいてＮ回の平均化がされたものである。ここにおいて、平均化しない場合には、３ｄＢ以上の誤差が生じることが明らかである。それぞれの測定において１００回の平均化を行った図１および図２に示される信号の場合には、生じる誤差は０．５ｄＢ以下である。

この平均化誤差を回避するために、２つのテスト信号のうち一つの値を代替として使用することができる。これら２つのテスト信号の大きさの平均も、また、使用することが可能である。しかしながら、このことにより、個々のテスト信号との比較による分散の減少を導いてしまう。２つのテスト信号のパワー（ｐｏｗｅｒ）の平均の使用も考えられる。

図７は、本発明に従った方法に係る第１の典型的な実施例に係るフローチャートを示している。第１ステップ８０において、第１の測定が実施される。すなわち、テスト下デバイスに第１周波数特性が与えられる。生じた信号は中間周波数と混合され、結果として生じた信号は第１テスト信号を形成するためにサンプル化される。

第２ステップ８１において、テスト下デバイスに再び同一周波数特性が与えられる。生じた信号は第２中間周波数と混合され、結果として生じた信号は第２テスト信号を形成するためにサンプル化される。第３の、任意的だが有るのが望ましいステップ８２において、第１テスト信号及び／又は第２テスト信号の周波数が正規化される。これに関しては、結果として生じるテスト信号が同一の中間周波数を備えていることが重要である。

第４ステップ８３において、２つのテスト信号のピーク値領域が検知される。このことは、図８と図９に関してより詳しく説明される。これに続いて、第５ステップ８４において、ピーク値領域の中の干渉信号ピーク値領域が置換される。すなわち、第４ステップ８３において判断されたピーク値領域が干渉信号ピーク値領域であるかどうかが判断される。このケースでは、ピーク値領域が、２つのテスト信号のうちの一つだけに存在しているかが判断される。対照的に、もしピーク値領域が両方のテスト信号に存在していれば、それらは干渉信号ピーク値領域ではなく、ペイロード信号ピーク値領域であって、テスト下デバイスのペイロード信号によるものである。干渉信号ピーク値領域においては、テスト信号から結合されたテスト信号が形成されるが、この領域におけるピーク値領域を備えていない。

後続の第６ステップ８５において、判断されたピーク値領域の外側で、結合されたテスト信号の値が２つのテスト信号の値から形成される。例えば、２つのテスト信号の大きさの平均値がこの目的のために使用され得る。代替として、２つのテスト信号の平均パワーも使用することができる。代替的には、２つのテスト信号のうちの一つがいつでも使用され得る。この最後のオプションだけが、ノイズの統計値を維持している。

従って、ピーク値領域の外側において、結果として生じる結合されたテスト信号は、テスト信号のうちの一つに対応しているか、または、２つのテスト信号の結合から生じているか、いずれかの信号を含み、かつ、干渉信号ピーク値領域の領域の中において、２つのテスト信号のうち一つに対応する信号を含んでいる。干渉信号、例えば、測定装置のコンポーネントに係る非線形的な振る舞いから生じるものは、もはや結合されたテスト信号の一部ではない。テスト下デバイスのペイロード信号に起因する値は、結合されたテスト信号の中で以前のように存在し続ける。

図８は、第３テスト信号７０を示している。これは、第１テスト信号、または、第２テスト信号であってもよい。信号は、ピーク値領域７１から７３を備えている。ピーク値領域７１から７３を検出するために、テスト信号７０は閾値曲線７５と比較される。

この閾値曲線７５は中央値曲線７４であり、テスト信号のノイズ値の最大１％が閾値曲線７５を越えることになるように上方に移動されている。代替的には、例えば、２％または５％といった異なるパーセンテージも、また、使用され得る。

非常に単純な方法では、閾値曲線７５を越えるテスト信号７０の全ての信号成分は、ピーク値領域領域７１から７３としてみなされ得る。しかしながら、このことは、システマチックな誤差を導いてしまう。このように、閾値曲線７５のレベルにおける値は、ピーク値領域の前後において直接的に存在する。このことは、顕著に信号の統計値に影響を及ぼす。この誤差を回避するために、ピーク値領域７１から７３を検知するために使用される図９で説明される方法が使用される。

すなわち、第１ステップ９０において、左から右へ、ピーク値領域の左側エッジが捜索される。こうしたエッジは、テスト値７０が閾値曲線７５を越える場合に特定される。この判断されたポイントから開始して、右から左へ、テスト信号７０の中央値曲線７４を下回る第１降下が捜索される。

これに関して、中央値曲線７４は、メディアンフィルター（ｍｅｄｉａｎ ｆｉｌｔｅｒ）を伴なうスペクトラムのフィルタリングに対応している。すなわち、ピーク値が除外されるのである。このポイントは、ピーク値領域の開始とみなされる。このポイントから開始して、左から右へ捜索が実行される。テスト信号７０による中央値曲線７４を下回る第１降下からである。ポイントは、ピーク値領域の終了として特定される。

図１０は、本発明に従った測定装置の典型的な実施例を示している。励起デバイス１００がコントロールデバイス１０９に接続されている。励起デバイス１００は、さらに、テスト下デバイス（ｄｅｖｉｃｅ ｕｎｄｅｒ ｔｅｓｔ：ＤＵＴ）１０１の入力に接続されている。テスト下デバイス１０１の信号出力は、ミキサー１０２に接続されている。ミキサー１０２は、さらに、ローカル発振器（ｌｏｃａｌ ｏｓｃｉｌｌａｔｏｒ：ＬＯ）１０３に接続され、再びコントロールデバイス１０９に接続されている。ミキサー１０２の信号出力は、アナログ-デジタルコンバーター（Ａ／Ｄ）１０４に接続されている。アナログ-デジタルコンバーター１０４は、メモリーユニット１１０に接続され、次に、望ましい正規化デバイス１０５に接続されている。メモリーユニット１１０と正規化デバイス１０５は、また、コントロールデバイス１０９に接続されている。正規化デバイス１０５は、さらに、ピーク値検出器１０６と置換デバイス１０７に接続されている。ピーク値検出器１０６は、また、置換デバイス１０７に接続されている。ピーク値検出器１０６と置換デバイス１０７の両方は、また、コントロールデバイス１０９に接続されている。

コントロールデバイス１０９は、励起信号１２０を生成するように励起デバイス１００をコントロールし、励起信号はテスト下デバイス１０１に対して供給される。この励起信号１２０は、周波数スイープ（ｓｗｅｅｐ）信号である。異なる励起信号も、また、考えられる。テスト下デバイス１０１は、励起信号１２０を処理して、第１信号１１１を出力する。この信号はミキサー１０２に送信される。ミキサー１０２は、第１信号を第１中間周波数１１７と混合する。第１中間周波数は、ローカル発振器１０３によって生成される。この第１中間周波数１１７の生成は、また、コントロールデバイス１０９によってコントロールされる。結果として生じた信号１１３は、アナログ-デジタルコンバーター１０４によってサンプル化され、デジタル化される。そして、こうした方法で、第１テスト信号１１５を形成するように処理され、デジタル化された形式で存在する。結果として生じたこのテスト信号１１５は、メモリーユニット１１０に供給され、後に保管される。

第２の実行において、コントロールデバイス１０９のコントロールの下で、励起デバイス１００は、同一の励起信号１２０を使ってテスト下デバイス１０１を励起する。テスト下デバイス１０１は、励起信号１２０を処理して、大部分が第１信号１１１と同一な第２信号１１２を生成する。第１信号と第２信号は、干渉成分だけが異なるものである。すなわち、ノイズ成分が異なっている。この第２信号１１２は、ミキサー１０２によって第２中間周波数１１８と混合される。第２中間周波数は、コントロールデバイス１０９のコントロールの下でローカル発振器１０３によって生成される。結果として生じた信号１１４は、アナログ-デジタルコンバーター１０４に供給され、第２テスト信号１１６を生成するようにデジタル化される。この第２テスト信号１１６は、メモリーユニット１１０に供給され、後に保管される。

第１中間周波数１１７と第２中間周波数１１８は、このようにお互いに異なっている。第１テスト信号１１５と第２テスト信号１１６は、従って、周波数オフセットを備えている。ペイロード信号成分、つまり、２つのテスト信号１１５、１１６においてテスト下デバイス１０１によって生成された成分は、この周波数オフセットによって置き換えられて存在するものである。干渉信号、例えば、アナログ-デジタルコンバーター１０４の非線形的な振る舞いによって生成されたものは、こうした周波数オフセットを備えていない。それらは、任意的に異なる周波数オフセットを備え得るものである。

両方の実行が完了するとすぐに、コントロールデバイス１０９は、第１テスト信号１１５と第２テスト信号１１６を正規化デバイス１０５に対して別ルートで送付するような方法でメモリーユニット１１０をコントロールする。第１テスト信号１１５と第２テスト信号１１６は正規化デバイス１０５により共通の中間周波数に対して正規化される。すなわち、周波数領域において、第１テスト信号１１５と第２テスト信号１１６の周波数オフセットは、２つの信号のうち少なくとも一つを置き換えることによってキャンセルされる。

ペイロード信号成分は、今や重ね合って配置されている。対照的に、干渉信号成分は、２つの信号のうちの一つだけに配置されている。結果として生じた２つのテスト信号は、コントロールデバイス１０９のコントロールの下で、ピーク値検出器１０６に対して供給される。ピーク値検出器１０６の正確な機能は、図８と図９において示されている。

コントロールデバイス１０９のコントロールの下で、正規化されたテスト信号は、さらに、正規化デバイス１０５によって置換デバイス１０７に対して送信される。さらには、ピーク値検出器１０６は、検出されたピーク値領域を置換デバイス１０７に対して利用可能にする。コントロールデバイス１０９のコントロールの下で、置換デバイス１０７は、今や、共通の出力信号１０８を生成している。一つの信号においてはピーク値領域が検出されたが他方の信号ではそうでない２つの正規化されたテスト信号の領域においては、ピーク値領域のない信号が共通出力信号に適用される。一つの信号において検出されたピーク値領域は、単なる干渉信号ピーク値領域である。

対照的に、両方の信号においてピーク値領域が検出された場合、これはペイロード信号ピーク値領域である。この場合、および、両方の信号においてピーク値領域が検出されない全ての領域においても、両方の信号は平均化され、結果として生じた信号が共通出力信号に適用される。この平均化の代替として、パワー関連の平均化も、また、実行することができる。さらなる代替として、第１テスト信号、または、第２テスト信号も、また、いつでも使用され得る。

本発明は、説明された典型的な実施例に限定されるものではない。既に述べたように、異なる干渉信号を補償され得る。干渉信号による制約は、測定装置のコンポーネント、特にアナログ-デジタルコンバーターの、非線形的な振る舞いに基づくものであるが、提供されない。上記に説明され、または、図面で示された全ての特徴は、要求に応じて、本発明の範囲内においてお互いに組合わされ得るものである。

Claims (16)

1. 干渉信号を抑制する方法であって、
   第１信号を第１中間周波数と混合し、第１テスト信号を形成するために結果として生じた信号をデジタル化するステップと、
   第２信号を第２中間周波数と混合し、第２テスト信号を形成するために結果として生じた信号をデジタル化するステップであり、前記第２信号のノイズ成分は前記第１信号のノイズ成分とは異なる、ステップと、
   前記第１テスト信号と前記第２テスト信号を、結合テスト信号を形成するために干渉信号に対応する干渉信号ピーク値領域を除去して結合するステップと、
   前記第１テスト信号と前記第２テスト信号が共通の中間周波数を備えるように、少なくとも前記第１テスト信号、及び／又は、前記第２テスト信号の周波数を変位させる、ステップと、を含み、
   前記結合されたテスト信号は、使用されるコンポーネントの非線形的な振る舞いから生じる干渉信号を含まず、
   前記第１テスト信号と前記第２テスト信号は、一つの周波数特性を示す同一の励起信号をテスト下デバイスに供給することによって、それぞれ生成され、
   前記第１テスト信号と前記第２テスト信号のピーク値領域が判断され、かつ、
   前記ピーク値領域を判断するために、前記第１テスト信号と前記第２テスト信号が、それぞれ閾値曲線と比較され、
   前記コンポーネントは、ミキサー、アナログ-デジタルコンバーター、置換デバイス、正規化デバイス、および、ピーク値検出器、を含む、
   方法。
2. 前記干渉信号ピーク値領域の除去は、
   干渉信号ピーク値領域を検出するステップと、
   前記干渉信号ピーク値領域の外側で、結合されたテスト信号を形成するために前記第１テスト信号と前記第２テスト信号を結合するステップと、
   前記干渉信号ピーク値領域において、干渉信号ピーク値領域を備えていない前記テスト信号から前記結合されたテスト信号を形成するステップと、を含む、
   請求項１に記載の方法。
3. 前記結合されたテスト信号を形成するために前記第１テスト信号と前記第２テスト信号を結合するステップに対して、前記テスト信号の最小値、平均レベル、または、平均パワーが使用される、
   請求項２に記載の方法。
4. ピーク値領域が前記第１テスト信号か第２テスト信号のいずれかに存在する場合に、干渉信号ピーク値領域が検出される、
   請求項２または３に記載の方法。
5. 前記閾値曲線は、それぞれのテスト信号のノイズ値の最大で５％が前記閾値曲線を越えるように選択されている、
   請求項１乃至４のいずれか一項に記載の方法。
6. 前記閾値曲線は、前記第１テスト信号と前記第２テスト信号の中央値曲線から決定される、
   請求項１乃至５のいずれか一項に記載の方法。
7. 前記テスト信号の前記ピーク値領域を判断するために、
   前記閾値曲線を周波数の低い方から高い方へ最初に越えるところを捜索するステップと、
   前記閾値曲線を前記最初に越えるところから周波数の高い方から低い方へ、前記中央値曲線を最初に下回るところを捜索するステップと、及び／又は、
   前記閾値曲線を前記最初に越えるところから、前記中央値曲線を周波数の低い方から高い方へ最初に下回るところを捜索するステップと、を実行する、
   請求項６に記載の方法。
8. 干渉信号を抑制するための測定装置であって、前記測定装置を構成するコンポーネントとして、ミキサー、アナログ-デジタルコンバーター、置換デバイス、正規化デバイス、および、ピーク値検出器、を含み、
   前記ミキサーは、第１信号を第１中間周波数と混合し、かつ、第２信号を第２中間周波数と混合し、そして、前記第２信号のノイズ成分は前記第１信号のノイズ成分とは異なり、
   前記アナログ-デジタルコンバーターは、第１中間周波数と混合された第１信号をデジタル化して第１テスト信号を形成し、かつ、第２中間周波数と混合された第２信号をデジタル化して第２テスト信号を形成し、
   前記置換デバイスは、第１テスト信号と第２テスト信号を、干渉信号に対応する干渉信号ピーク値を除去して結合し、結合テスト信号を形成し、
   前記正規化デバイスは、前記第１テスト信号と前記第２テスト信号が共通の中間周波数を備えるように、少なくとも前記第１テスト信号、及び／又は、前記第２テスト信号の周波数を変位させ、
   前記結合されたテスト信号は、使用されるコンポーネントの非線形的な振る舞いから生じる干渉信号を含まず、
   前記第１テスト信号と前記第２テスト信号は、一つの周波数特性を示す同一の励起信号をテスト下デバイスに供給することによって、それぞれ生成され、
   前記ピーク値検出器は、前記第１テスト信号と前記第２テスト信号のピーク値領域を判断し、かつ、
   前記ピーク値領域を判断するために、前記ピーク値検出器は、前記第１テスト信号と前記第２テスト信号を、それぞれ閾値曲線と比較する、
   測定装置。
9. 前記測定装置は、正規化デバイスを含み、
   前記正規化デバイスは、前記第１テスト信号と前記第２テスト信号が共通の中間周波数を備えるように、少なくとも前記第１テスト信号、及び／又は、前記第２テスト信号の周波数を移動させる、
   請求項８に記載の測定装置。
10. 前記ピーク値検出器は、前記テスト信号のピーク値領域を検出し、及び／又は、
    前記置換デバイスは、干渉信号ピーク値領域の外側で、結合されたテスト信号を形成するように前記第１テスト信号と前記第２テスト信号を結合するために、前記干渉信号ピーク値領域を検出し、及び／又は、
    前記干渉信号ピーク値領域において、干渉信号ピーク値領域を備えていない前記テスト信号から前記結合されたテスト信号を形成する、
    請求項８または９に記載の測定装置。
11. 前記置換デバイスは、前記テスト信号の最小値、平均レベル、または、平均パワーを使用することによって前記結合されたテスト信号を形成するために、前記第１テスト信号と前記第２テスト信号を結合する、
    請求項８乃至１０のいずれか一項に記載の測定装置。
12. 前記置換デバイスは、ピーク値領域が前記第１テスト信号か第２テスト信号のいずれかに存在する場合に、干渉信号ピーク値領域を検出する、
    請求項８乃至１１のいずれか一項に記載の測定装置。
13. 前記ピーク値検出器は、それぞれのテスト信号のノイズ値の最大で５％が前記閾値曲線を越えるように前記閾値曲線を選択する、
    請求項８乃至１２のいずれか一項に記載の測定装置。
14. 前記ピーク値検出器は、前記第１テスト信号と前記第２テスト信号の中央値曲線から 前記閾値曲線を決定する、
    請求項８乃至１３のいずれか一項に記載の測定装置。
15. 前記ピーク値領域を判断するために、
    前記ピーク値検出器は、
    前記閾値曲線を周波数の低い方から高い方へ最初に越えるところを捜索し、
    前記閾値曲線を前記最初に越えるところから周波数の高い方から低い方へ、前記中央値曲線を最初に下回るところを捜索し、及び／又は、
    前記閾値曲線を前記最初に越えるところから、前記中央値曲線を周波数の低い方から高い方へ最初に下回るところを捜索する、
    請求項１４に記載の測定装置。
16. 前記測定装置は、さらに、励起信号をテスト下デバイスに供給するための励起デバイスを含み、
    前記励起信号は、一つの周波数特性を示し、
    前記第１テスト信号と前記第２テスト信号の前記判断においては、前記励起信号が同一である、
    請求項８乃至１５のいずれか一項に記載の測定装置。

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