JP6246606B2 - 基板処理装置 - Google Patents
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Description
<1.1 基板処理装置1の概略構成>
図1は、処理ユニット6の概略構成を示す模式図である。
図3は、マスター装置30と、基板処理装置1の制御系統においてマスター装置30よりも相対的に下位の制御階層として設置される複数のスレーブ装置40a〜40y(下位制御要素)とがシリアルバスSBで接続された様子を示すブロック図である。図4は、スレーブ装置40a(バルブ制御部23)の電気的構成を示すブロック図である。
図8は、第2実施形態に係るバルブ制御部23Cの電気的構成を示すブロック図である。第2実施形態の基板処理装置は、第1実施形態の基板処理装置1のバルブ制御部23に代えてバルブ制御部23Cを有する。第2実施形態の基板処理装置の他の各部は第1実施形態と同様であるので、以下の説明において第1実施形態と同じ部分については同一符号を付し重複説明を省略する。
以上、本発明の第1実施形態および第2実施形態について説明したが、本発明はその趣旨を逸脱しない限りにおいて上述したもの以外に種々の変更を行うことが可能である。
6 処理ユニット
20〜25,23A〜23C バルブ制御部
26〜28 流量計
30 マスター装置
40a〜40y スレーブ装置
300,401 マスターIC
400a,400z,400A,400B スレーブIC
403,403A〜403C CPU
405 モータドライバ
406 モータ
407 ニードルバルブ
500,500C データ読込選択部
600,600C 制御基板
701 信号線
702 通信制御部
703 A/D変換部
Sa〜Sz 信号
STBa〜STBz ストローブ信号
SB シリアルバス
Claims (7)
- 基板処理装置であって、
(a) 前記基板処理装置の装置制御を行う第1マスターと、
(b) 前記第1マスターよりも相対的に下位の制御階層として設置され、バスを通じて前記第1マスターとシリアル通信可能な複数の下位制御要素と、
を有し、
前記複数の下位制御要素には、
(b-1) 基板処理の動作状態に関する少なくとも1つの物理量を指標値として計測し、その計測結果を、前記第1マスターによって読み込み可能な計測データ信号として前記バスに発信する計測スレーブと、
(b-2) 前記動作状態の調節を行う調節部についての制御系として設けられ、
前記動作状態の調節に関して前記第1マスターから指令信号を受ける調節指令スレーブと、
前記下位制御要素のそれぞれから前記バスに発信される各信号の読み込みを前記第1マスターと並列的に行う第2マスターを備えてなり、前記各信号のうち前記計測データ信号を選択するデータ読込選択部と、
前記計測データ信号に基づいて演算を行い、前記調節部に対する制御信号を生成する演算部と、
前記演算部から与えられる前記制御信号に基づいて前記調節部を制御する調節制御部と、
を備えるマスタースレーブ複合系と、
が含まれるとともに、
前記データ読込選択部は、
前記第2マスターと、
前記第1マスターと前記バスを通じて通信可能であり、前記第1マスターとの通信に応じてストローブ信号を発信する選択用スレーブと、
前記第2マスターから前記各信号を受信し、前記選択用スレーブから前記ストローブ信号を受信し、前記各信号のシリアル伝送タイミングを前記ストローブ信号を基に確定して前記各信号の中から前記計測データ信号を選択する選択部と、
を有することを特徴とする基板処理装置。 - 請求項1に記載の基板処理装置であって、
前記動作状態は、前記基板処理における特定の流体の状態であって、
前記指標値は前記流体の流量値であり、前記計測スレーブは流量計であることを特徴とする基板処理装置。 - 請求項1に記載の基板処理装置であって、
前記動作状態は、前記基板処理における特定の流体の状態であって、
前記指標値は前記流体の圧力値であり、前記計測スレーブは圧力計であることを特徴とする基板処理装置。 - 請求項1に記載の基板処理装置であって、
前記動作状態は、前記基板処理における特定の流体の状態であって、
前記指標値は複数個所での前記流体の圧力値の差であり、前記計測スレーブは差圧計であることを特徴とする基板処理装置。 - 請求項2に記載の基板処理装置であって、
前記調節部は、前記流量値を調節するバルブであることを特徴とする基板処理装置。 - 請求項3または請求項4に記載の基板処理装置であって、
前記調節部は、前記圧力値を調節するダンパーであることを特徴とする基板処理装置。 - 請求項1ないし請求項6のいずれかに記載の基板処理装置であって、
前記マスタースレーブ複合系の各要素が、単一の制御基板上に実装されていることを特徴とする基板処理装置。
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