JP6246379B2 - 画像処理装置、画像処理方法、画像読取装置、及びプログラム - Google Patents

Description

本発明は、被読取物を複数のラインセンサでスキャンすることによって得られた画像データを結合して被読取物に対応する合成画像データを生成する画像処理装置、画像処理方法、及び画像読取装置、並びに、前記画像データを結合させる処理をコンピュータに実行させるプログラムに関する。

被読取物を主走査方向にライン状に並ぶ複数の撮像素子を有するラインセンサ（一次元撮像素子）によってスキャンして、被読取物に対応する画像データを生成する画像読取装置が、複写機、スキャナ、及びファクシミリ等に広く使用されている。例えば、特許文献１（特開２０１１−５００３９号公報）及び特許文献２（特開２００６−１４０５９９号公報）に示されているように、主走査方向（ラインセンサが配列された方向）にライン状に間隔を開けて配列された複数台のラインセンサから成る第１列のラインセンサ群及び第２列のラインセンサ群を、隣接するラインセンサの端部が互いに重複（オーバーラップ）するように、千鳥状に配列した画像読取装置がある。

このような画像読取装置では、読取られた画像データは、原稿を主走査方向の複数の領域に分割して得られた副走査方向に長い矩形形状の領域の画像データになる。言い換えれば、このような画像読取装置によって読取られた画像データは、ラインセンサ毎に副走査方向に長い矩形形状の領域の画像データを、主走査方向に複数個並べたような画像データになる。そのため、複数のラインセンサにより読取られた複数の画像データに対する処理として、第１の画像データと複数の第２の画像データそれぞれとのオーバーラップ部分を比較し、複数の画像データの中から差分の最も小さい第２の画像データを選択することで、副走査方向の画像ずれを補正する技術（例えば、特許文献１）、及び、調整用原稿の直線画像パターンを読取り、重複範囲における画素数の差分から隣接したセンサ同士の副走査方向に沿った位置ずれを計測し、この計測の結果から隣接したセンサ間の画像の合成に要する遅延時間を決定する技術（例えば、特許文献２）を用いて、画像データの副走査方向（スキャンする方向）の位置ずれを求め、画像データの副走査方向の位置を合わせることで、画像データを繋ぎ合せて、被読取物に対応する合成画像データを生成している。

特開２０１１−５００３９号公報（段落００４０〜００４１、図９） 特開２００６−１４０５９９号公報（段落００７３〜００７５、００８１〜００８４、図３）

上述したように、特許文献１及び特許文献２の画像読取装置においては、ラインセンサが重複して読取る画像データを比較し、画像データが一致する副走査方向の位置を検出することによって、隣接するラインセンサによって生成された２つの画像データの副走査方向の位置ずれを求めていた。

しかしながら、上記画像読取装置においては、ラインセンサ毎に性能のばらつき及び照明分布などの読取り条件の違いがあるため、ラインセンサ間には読取った画像データのレベル差が生じる場合がある。このため、１つのラインセンサの主走査方向の範囲を一単位とみなすと、一単位ごとに主走査方向に取得した画像データのレベル差（すなわち、明暗の差、又は、画素データの値の差である）が現れる。

したがって、ラインセンサにより読取られた画像データのそのままの画素値により、隣接するラインセンサ間のオーバーラップ部分の画像データの比較を行うと、その差分には、隣接するラインセンサ間のレベル差が含まれる。このため、上記画像読取装置においては、隣接するラインセンサが同じ画像を読取ったとしても、読取画像のレベル差による差分が比較結果として検出され、この差分が、副走査方向の位置ずれの誤検出を生じさせ、隣接するラインセンサによって生成された画像データの副走査方向の位置ずれを適切に検出できないという問題があった。

本発明は、上記従来技術の課題を解決するためになされたものであり、その目的は、各列のラインセンサにより読取られる画像データ間の副走査方向の位置ずれを検出する際に、ラインセンサ毎の性能及び読取り条件の違いにより生じるレベル差の影響を抑えて、副走査方向の位置ずれの誤検出がなく、精度よく画像の位置ずれを求め、被読取物に対応する高品質な合成画像データを生成することができる画像処理装置、画像処理方法、及び画像読取装置、並びに、前記画像データを結合する処理をコンピュータに実行させるプログラムを提供することである。

本発明の一態様に係る画像処理装置は、主走査方向に並ぶ複数のラインセンサを、副走査方向の異なる位置に少なくとも２列有し、互いに異なる列の隣接するラインセンサの端部同士が主走査方向における同じ範囲内で重なるオーバーラップ領域を有するように配置されている撮像部によって生成された画像データを処理する画像処理装置であって、前記複数のラインセンサからの出力に基づく画像データを格納する画像メモリと、前記画像メモリに格納された画像データのうちの前記オーバーラップ領域における画像データに対して、注目画素と該注目画素の周辺画素とを含む画素範囲における画像データから予め決められた周波数よりも低い周波数成分である低域周波数成分を除去し、前記低域周波数成分が除去された画像データの前記オーバーラップ領域における副走査方向の予め決められた位置における低域除去基準データと、前記低域除去基準データの前記オーバーラップ領域に重複する領域における前記低域周波数成分が除去された画像データに基づく低域除去比較データとを求める低域除去部と、前記低域除去部で求められた前記低域除去基準データと前記低域除去比較データとを比較する処理を、前記低域除去比較データの位置を副走査方向に移動させた複数の位置における複数の低域除去比較データについて行い、前記低域除去基準データと前記複数の低域除去比較データとの間の複数の類似度を算出する類似度算出部と、前記低域除去基準データの副走査方向の位置と、前記複数の低域除去比較データのうちの最も高い類似度を持つ低域除去比較データの副走査方向の位置との差分に基づいて、シフト量データを算出するシフト量推定部と、前記シフト量推定部によって算出された前記シフト量データに基づいて前記画像メモリから読み出される画像データの副走査方向の位置を決定し、前記決定された位置の画像データを前記画像メモリから読み出し、前記互いに異なる列の隣接するラインセンサによって読み出された画像データを結合することによって合成画像データを生成する結合処理部とを備え、前記低域除去部は、前記画像メモリから読み出された画像データのうちの前記画素範囲における画像データから、前記注目画素と同じ主走査方向の位置にある副走査方向の複数の位置の画像データに基づく、副走査方向の低域周波数成分を除去して、前記副走査方向の低域周波数成分が除去された前記低域除去基準データと前記低域除去比較データを生成することを特徴としている。

本発明の他の態様に係る画像処理方法は、主走査方向に並ぶ複数のラインセンサを、副走査方向の異なる位置に少なくとも２列有し、互いに異なる列の隣接するラインセンサの端部同士が主走査方向における同じ範囲内で重なるオーバーラップ領域を有するように配置されている撮像部によって生成された画像データを処理する画像処理方法であって、前記複数のラインセンサからの出力に基づく画像データを画像メモリに格納する格納ステップと、前記画像メモリに格納された画像データのうちの前記オーバーラップ領域における画像データに対して、注目画素と該注目画素の周辺画素とを含む画素範囲における画像データから予め決められた周波数よりも低い周波数成分である低域周波数成分を除去し、前記低域周波数成分が除去された画像データの前記オーバーラップ領域における副走査方向の予め決められた位置における低域除去基準データと、前記低域除去基準データの前記オーバーラップ領域に重複する領域における前記低域周波数成分が除去された画像データに基づく低域除去比較データとを求める低域除去ステップと、前記低域除去ステップで求められた前記低域除去基準データと前記低域除去比較データとを比較する処理を、前記低域除去比較データの位置を副走査方向に移動させた複数の位置における複数の低域除去比較データについて行い、前記低域除去基準データと前記複数の低域除去比較データとの間の複数の類似度を算出する類似度算出ステップと、前記低域除去基準データの副走査方向の位置と、前記複数の低域除去比較データのうちの最も高い類似度を持つ低域除去比較データの副走査方向の位置との差分に基づいて、シフト量データを算出するシフト量推定ステップと、前記シフト量推定ステップで算出された前記シフト量データに基づいて前記画像メモリから読み出される画像データの副走査方向の位置を決定し、前記決定された位置の画像データを前記画像メモリから読み出し、前記互いに異なる列の隣接するラインセンサによって読み出された画像データを結合することによって合成画像データを生成する結合処理ステップとを備え、前記低域除去ステップでは、前記画像メモリから読み出された画像データのうちの前記画素範囲における画像データから、前記注目画素と同じ主走査方向の位置にある副走査方向の複数の位置の画像データに基づく、副走査方向の低域周波数成分を除去して、前記副走査方向の低域周波数成分が除去された前記低域除去基準データと前記低域除去比較データを生成することを特徴とする。

本発明の他の態様に係る画像読取装置は、主走査方向に並ぶ複数のラインセンサを、副走査方向の異なる位置に少なくとも２列有し、互いに異なる列の隣接するラインセンサの端部同士が主走査方向における同じ範囲内で重なるオーバーラップ領域を有するように配置されている撮像部と、前記複数のラインセンサからの出力に基づく画像データを格納する画像メモリと、前記画像メモリに格納された画像データのうちの前記オーバーラップ領域における画像データに対して、注目画素と該注目画素の周辺画素とを含む画素範囲における画像データから予め決められた周波数よりも低い周波数成分である低域周波数成分を除去し、前記低域周波数成分が除去された画像データの前記オーバーラップ領域における副走査方向の予め決められた位置における低域除去基準データと、前記低域除去基準データの前記オーバーラップ領域に重複する領域における前記低域周波数成分が除去された画像データに基づく低域除去比較データとを求める低域除去部と、前記低域除去部で求められた前記低域除去基準データと前記低域除去比較データとを比較する処理を、前記低域除去比較データの位置を副走査方向に移動させた複数の位置における複数の低域除去比較データについて行い、前記低域除去基準データと前記複数の低域除去比較データとの間の複数の類似度を算出する類似度算出部と、前記低域除去基準データの副走査方向の位置と、前記複数の低域除去比較データのうちの最も高い類似度を持つ低域除去比較データの副走査方向の位置との差分に基づいて、シフト量データを算出するシフト量推定部と、前記シフト量推定部によって算出された前記シフト量データに基づいて前記画像メモリから読み出される画像データの副走査方向の位置を決定し、前記決定された位置の画像データを前記画像メモリから読み出し、前記互いに異なる列の隣接するラインセンサによって読み出された画像データを結合することによって合成画像データを生成する結合処理部とを備え、前記低域除去部は、前記画像メモリから読み出された画像データのうちの前記画素範囲における画像データから、前記注目画素と同じ主走査方向の位置にある副走査方向の複数の位置の画像データに基づく、副走査方向の低域周波数成分を除去して、前記副走査方向の低域周波数成分が除去された前記低域除去基準データと前記低域除去比較データを生成することを特徴としている。

本発明の他の態様に係るプログラムは、主走査方向に並ぶ複数のラインセンサを、副走査方向の異なる位置に少なくとも２列有し、互いに異なる列の隣接するラインセンサの端部同士が主走査方向における同じ範囲内で重なるオーバーラップ領域を有するように配置されている撮像部によって生成された画像データの処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、前記複数のラインセンサからの出力に基づく画像データを画像メモリに格納する格納処理と、前記画像メモリに格納された画像データのうちの前記オーバーラップ領域における画像データに対して、注目画素と該注目画素の周辺画素とを含む画素範囲における画像データから予め決められた周波数よりも低い周波数成分である低域周波数成分を除去し、前記低域周波数成分が除去された画像データの前記オーバーラップ領域における副走査方向の予め決められた位置における低域除去基準データと、前記低域除去基準データの前記オーバーラップ領域に重複する領域における前記低域周波数成分が除去された画像データに基づく低域除去比較データとを求める低域除去処理であって、前記画像メモリから読み出された画像データのうちの前記画素範囲における画像データから、前記注目画素と同じ主走査方向の位置にある副走査方向の複数の位置の画像データに基づく、副走査方向の低域周波数成分を除去して、前記副走査方向の低域周波数成分が除去された前記低域除去基準データと前記低域除去比較データを生成する低周波除去処理と、前記低域除去処理で求められた前記低域除去基準データと前記低域除去比較データとを比較する処理を、前記低域除去比較データの位置を副走査方向に移動させた複数の位置における複数の低域除去比較データについて行い、前記低域除去基準データと前記複数の低域除去比較データとの間の複数の類似度を算出する類似度算出処理と、前記低域除去基準データの副走査方向の位置と、前記複数の低域除去比較データのうちの最も高い類似度を持つ低域除去比較データの副走査方向の位置との差分に基づいて、シフト量データを算出するシフト量推定処理と、前記シフト量推定処理で算出された前記シフト量データに基づいて前記画像メモリから読み出される画像データの副走査方向の位置を決定し、前記決定された位置の画像データを前記画像メモリから読み出し、前記互いに異なる列の隣接するラインセンサによって読み出された画像データを結合することによって合成画像データを生成する結合処理とをコンピュータに実行させることを特徴としている。

本発明においては、オーバーラップ領域における画像データに対して、注目画素とその周辺画素とを含む画素範囲における画像データから低域周波数成分を除去し、オーバーラップ領域における副走査方向の予め決められた位置における低域除去基準データと、低域除去基準データのオーバーラップ領域に重複する領域における低域除去比較データとを求め、低域除去基準データと低域除去比較データから求められたシフト量データを用いて、互いに異なる列の隣接するラインセンサによって読み出された画像データを結合している。このため、本発明によれば、ラインセンサ毎の性能及び読取り条件の違いにより生じるラインセンサ間のレベル差の影響を抑えて、副走査方向の位置ずれの誤検出なく、精度よく画像の位置ずれを求めることができ、被読取物に対応する高品質な合成画像データを生成することができる。

本発明の実施の形態１に係る画像読取装置の構成を概略的に示す機能ブロック図である。 （ａ）及び（ｂ）は、撮像部を説明するための図であり、（ａ）は、撮像部を構成する第１列のラインセンサ群と第２列のラインセンサ群とを概略的に示す平面図であり、（ｂ）は、第１列のラインセンサ群と第２列のラインセンサ群により読取られた被読取物としての原稿を示す図である。 図２（ａ）に示される１個のラインセンサを拡大して示す概略平面図である。 （ａ）〜（ｃ）は、原稿がガラス面に密着しているときの状態を示し、（ａ）は撮像部の概略的な側面図、（ｂ）は撮像部の概略的な平面図及び原稿の平面図、（ｃ）は読取られた画像データを概念的に示す図である。 （ａ）〜（ｃ）は、原稿がガラス面から離れているときの状態を示し、（ａ）は撮像部の概略的な側面図、（ｂ）は撮像部の概略的な平面図及び原稿の平面図、（ｃ）は読取られた画像データを概念的に示す図である。 実施の形態１に係る画像処理装置における低域除去部の一構成例を示すブロック図である。 実施の形態１の低域除去部において、低域周波数成分を抽出する画素範囲の一例を示す図である。 実施の形態１の低域除去部及び類似度算出部において、原稿がガラス面に密着しているときの動作を説明するための図である。 実施の形態１の低域除去部及び類似度算出部において、原稿がガラス面から離れているときの動作を説明するための図である。 実施の形態１の低域除去部において、出力するオーバーラップ領域の画像データの位置関係を示す図である。 実施の形態１の低域除去部の他の構成例である低域除去部の構成例を示すブロック図である。 （ａ）及び（ｂ）は、実施の形態１の類似算出部に関する図であり、（ａ）は類似度算出の動作を説明するための図、（ｂ）は算出された類似度データ（相関データ）と副走査方向の位置ずれの関係を説明するための図である。 実施の形態１の結合処理部における結合動作の一例を示す説明図である。 （ａ）及び（ｂ）は、実施の形態１の結合処理部における結合動作の他の例を示す説明図である。 結合処理部から出力される画像データを概念的に示す図である。 （ａ）及び（ｂ）は、撮像部を搬送中に、原稿の位置が変わる例を示す図である。 実施の形態２に係る画像処理装置における低域除去部の一構成例を示すブロック図である。 実施の形態２の低域除去部の他の構成例を示すブロック図である。 本発明の実施の形態３に係る画像読取装置及び画像処理装置の構成を概略的に示す機能ブロック図である。 実施の形態３の演算装置による処理手順の一例を概略的に示すフローチャートである。 （ａ）及び（ｂ）は、本発明の実施の形態４に係る画像読取装置の撮像部の構成を概略的に示す側面図である。 実施の形態４の撮像部により読取られた画像データの一例を示す図である。 実施の形態４において、一定量の副走査方向の位置ずれを補正後の画像データを説明するための図である。

実施の形態１．
図１は、本発明の実施の形態１に係る画像読取装置１の構成を概略的に示す機能ブロック図である。図１に示されるように、実施の形態１に係る画像読取装置１は、撮像部２と、Ａ／Ｄ変換部３と、画像処理部４とを備えている。画像処理部４は、実施の形態１に係る画像処理装置（実施の形態１に係る画像処理方法を実施することができる装置）であり、画像メモリ４１と、低域除去部４２と、類似度算出部４３と、シフト量推定部４４と、結合処理部４５とを備えている。

撮像部２は、主走査方向に間隔を開けて（例えば、ライン状に）並ぶ複数（例えば、ｎ個）の第１列のラインセンサを含む第１列のラインセンサ群（後述する図２（ａ）に符号２１Ｏ又は２１Ｅとして示される）と、主走査方向に間隔を開けて（例えば、ライン状に）並ぶ複数（例えば、ｎ個）の第２列のラインセンサを含む第２列のラインセンサ群（図２（ａ）に符号２１Ｅ又は２１Ｏとして示される）とを備えている。ここで、ｎは、正の整数である。複数の第１列のラインセンサの主走査方向の位置は、複数の第２列のラインセンサが備えられていない領域、すなわち、主走査方向に隣接する第２列のラインセンサの間の領域、に対向する位置であり、複数の第２列のラインセンサの主走査方向の位置は、複数の第１列のラインセンサが備えられていない領域、すなわち、主走査方向に隣接する第１列のラインセンサの間の領域、に対向する位置となる。その結果、複数の第１列のラインセンサと複数の第２列のラインセンサとは、センサ基板上に千鳥状に配列される。また、複数の第１列のラインセンサと複数の第２列のラインセンサのうちの互いに隣接する第１列のラインセンサと第２列のラインセンサとは、隣接する端部同士（図２（ａ）において、最も近い位置にある端部ｓｒと端部ｓｌ）が、主走査方向における同じ範囲内で重なる重複領域（「オーバーラップ領域」とも呼ぶ。）を有するよう配置される。

撮像部２は、被読取物としての原稿の画像を光学的に読取り、原稿の画像に対応する電気信号（画像データ）ＳＩを生成する。撮像部２で生成される電気信号（画像データ）ＳＩは、第１列のラインセンサ群を構成する複数の第１列のラインセンサから出力される第１の画像データと、第２列のラインセンサ群を構成する複数の第２のラインセンサから出力される第２の画像データとを含む。なお、第１列のラインセンサ群及び第２列のラインセンサ群と原稿との間には、例えば、第１列のラインセンサ群及び第２列のラインセンサ群のそれぞれに正立像を結像させるレンズなどのような光学系を備えてもよい。

以下の説明においては、撮像部２が２列のラインセンサ群を備えた例を説明するが、ラインセンサ群の列数が３列以上の装置にも、本発明は適用可能である。また、本発明は、オーバーラップ領域を有する２個以上のラインセンサを有する撮像部によって被読取物の画像を読取る場合に適用可能である。したがって、本発明は、第１列のラインセンサ群が１個のラインセンサから構成され、第２列のラインセンサ群が１個のラインセンサから構成される場合にも適用可能である。

図２（ａ）及び（ｂ）は、撮像部２を説明するための図であり、図２（ａ）は、撮像部２を概略的に示す平面図であり、図２（ｂ）は、被読取物としての原稿６０を示す平面図である。図２（ａ）は、例えば、複写機の原稿台ガラス（以下「ガラス面」という）２６を上から見た状態を示している。図３は、撮像部２の構成要素の１つであるラインセンサ２１Ｏ_１を使ってラインセンサの構成を説明するための図である。

図２（ａ）に示されるように、撮像部２は、センサ基板２０を有する。センサ基板２０には、複数のラインセンサが２列になるように配置されている。センサ基板２０において、一方の端部（例えば、左側）から数えて奇数番目に位置するラインセンサ２１Ｏ_１，…，２１Ｏ_ｋ，…，２１Ｏ_ｎは、主走査方向（Ｘ方向）の直線状に間隔を開けて配置されている。左側の端部から数えて偶数番目に位置するラインセンサ２１Ｅ_１，…，２１Ｅ_ｋ，…，２１Ｅ_ｎは、奇数番目に位置するラインセンサ２１Ｏ_１，…，２１Ｏ_ｋ，…，２１Ｏ_ｎと主走査方向（Ｘ方向）について異なる位置に、主走査方向の直線状に配置される。偶数番目に位置するラインセンサ２１Ｅ_１，…，２１Ｅ_ｋ，…，２１Ｅ_ｎと奇数番目に位置するラインセンサ２１Ｏ_１，…，２１Ｏ_ｋ，…，２１Ｏ_ｎとは、千鳥状に配列されている。図２（ａ）において、ｎは２以上の整数であり、ｋは１以上ｎ以下の整数である。奇数番目に位置するラインセンサ２１Ｏ_１，…，２１Ｏ_ｋ，…，２１Ｏ_ｎは、複数の第１のラインセンサを含む第１列のラインセンサ群（又は、複数の第２のラインセンサを含む第２列のラインセンサ群）を構成し、偶数番目に位置するラインセンサ２１Ｅ_１，…，２１Ｅ_ｋ，…，２１Ｅ_ｎは、複数の第２のラインセンサを含む第２列のラインセンサ群（又は、複数の第１のラインセンサを含む第１列のラインセンサ群）を構成する。

図２（ａ）に示されるように、第１列のラインセンサ群に属する複数の第１のラインセンサ（例えば、２１Ｅ_１，…，２１Ｅ_ｋ，…，２１Ｅ_ｎ）は、第２列のラインセンサ群におけるラインセンサの主走査方向の間隔に対向するように配置され、第２列のラインセンサ群に属する複数のラインセンサ（例えば、２１Ｏ_１，…，２１Ｏ_ｋ，…，２１Ｏ_ｎ）は、第１列のラインセンサ群におけるラインセンサの主走査方向の間隔に対向するように配置されている。また、隣接する第１のラインセンサと第２のラインセンサの隣接する端部同士（端部ｓｒとｓｌ）は、主走査方向の位置が同じ位置である（主走査方向において重複する領域である）オーバーラップ領域を有している。

図２（ａ）に示されるように、撮像部２は、搬送部（後述の図４（ａ）における２４）によって副走査方向（Ｙ方向）に移動し、被読取物としての原稿（図４（ａ）における６０）を読取る。また、搬送部２４は、撮像部２を固定し、副走査方向の反対方向（−Ｙ方向）に原稿６０を搬送させ、被読取物としての原稿を読取る装置であってもよい。ここで、本出願の各実施の形態においては、搬送部２４によって撮像部２が矢印Ｄｙ方向（図２（ａ））に移動する場合を説明する。なお、副走査方向（Ｙ方向）は、撮像部２の移動方向を示し（図２（ａ）の矢印Ｄｙ方向）、主走査方向は、奇数番目に位置するラインセンサ２１Ｏ_１，…，２１Ｏ_ｋ，…，２１Ｏ_ｎの配列方向、又は、偶数番目に位置するラインセンサ２１Ｅ_１，…，２１Ｅ_ｋ，…，２１Ｅ_ｎの配列方向を示す。

図３に示されるように、ラインセンサ２１Ｏ_１は、受光した光のうちの赤色成分の光を電気信号に変換する複数の赤色用光電変換素子（Ｒ光電変換素子）２６Ｒと、受光した光のうちの緑色成分の光を電気信号に変換する複数の緑色用光電変換素子（Ｇ光電変換素子）２６Ｇと、受光した光のうちの青色成分の光を電気信号に変換する複数の青色用光電変換素子（Ｂ光電変換素子）２６Ｂとを備えている。図３に示されるように、複数のＲ光電変換素子２６Ｒは、主走査方向（Ｘ方向）に直線状に配列され、複数のＧ光電変換素子２６Ｇは、主走査方向（Ｘ方向）に直線状に配列され、複数のＢ光電変換素子２６Ｂは、主走査方向（Ｘ方向）に直線状に配列されている。実施の形態１においては、図３の構成のラインセンサについて説明するが、本発明は、色を識別しない白黒用の光電変換素子が１列に並んだものとしてもよい。また、複数のＲ光電変換素子２６Ｒ、複数のＧ光電変換素子２６Ｇ、及び複数のＢ光電変換素子２６Ｂの配列は、図３の例に限定されない。ラインセンサ２１Ｏ_１は、受光した情報を電気信号ＳＩ（Ｏ_１）として出力する。また、ラインセンサ２１Ｅ_１，２１Ｏ_２，…，２１Ｏ_ｎ，２１Ｅ_ｎも同様に、受光した情報を電気信号ＳＩ（Ｅ_１），ＳＩ（Ｏ_２），…，ＳＩ（Ｏ_ｎ），ＳＩ（Ｅ_ｎ）として出力する。全てのラインセンサから出力される電気信号を、電気信号ＳＩと表記する。撮像部２から出力された電気信号ＳＩは、Ａ／Ｄ変換部３に入力される。

奇数番目に位置するラインセンサ２１Ｏ_１，…，２１Ｏ_ｋ，…，２１Ｏ_ｎと偶数番目に位置するラインセンサ２１Ｅ_１，…，２１Ｅ_ｋ，…，２１Ｅ_ｎとは、一部重複して原稿６０を読取るオーバーラップ領域Ａ_１，１，Ａ_１，２，…，Ａ_ｋ，ｋ，Ａ_{ｋ，Ｋ＋１}，Ａ_{ｋ＋１，Ｋ＋１}，…，Ａ_ｎ，ｎを有している。なお、オーバーラップ領域の詳細は、後述する。

Ａ／Ｄ変換部３は、撮像部２から出力される電気信号ＳＩをデジタルデータ（画像データ）ＤＩに変換する。画像データＤＩは、画像処理部４に入力され、画像処理部４の画像メモリ４１に格納される。

図４（ａ）〜（ｃ）は、画像処理部４内の画像メモリ４１に格納される画像データＤＩを説明するための図である。図４（ａ）は、奇数番目に位置するラインセンサ２１Ｏ_１，…，２１Ｏ_ｋ，…，２１Ｏ_ｎと偶数番目に位置するラインセンサ２１Ｅ_１，…，２１Ｅ_ｋ，…，２１Ｅ_ｎの光軸２７Ｏと光軸２７Ｅが交差する位置に原稿６０がある場合（すなわち、光軸２７Ｏと２７Ｅを副走査方向（Ｙ方向）に見たときに、光軸２７Ｏと光軸２７Ｅとがガラス面２６上で交差する場合）の原稿６０とラインセンサの位置関係を示す図である。図４（ｂ）は、原稿６０の一例を示す図である。図４（ｃ）は、原稿６０とラインセンサが図４（ａ）の位置関係にある場合に読取られた図４（ｂ）の原稿６０に対応する画像データＤＩを概念的に示す図である。

図４（ａ）は、画像読取装置１の概略的な側面図であり、画像読取装置１を備えた装置（例えば、複写機）を横から見た状態を示している。図２（ａ）に示される奇数番目に位置するラインセンサ２１Ｏ_１，…，２１Ｏ_ｋ，…，２１Ｏ_ｎは、ラインセンサ２１Ｏとも表記し、偶数番目に位置するラインセンサ２１Ｅ_１，…，２１Ｅ_ｋ，…，２１Ｅ_ｎは、ラインセンサ２１Ｅとも表記する。発光ダイオード（ＬＥＤ）などの照明光源２５で光照射された原稿６０の反射光は、光軸２７Ｏに沿ってラインセンサ２１Ｏに向けて進み、光軸２７Ｅに沿ってラインセンサ２１Ｅに向けて進む。副走査方向（Ｙ方向）に搬送される撮像部２は、ガラス面２６に置かれた原稿６０の反射光を逐次光電変換し、変換した電気信号ＳＩを出力し、Ａ／Ｄ変換部３は、その電気信号ＳＩを画像データＤＩに変換して出力する。

図４（ｂ）に示されるような原稿６０を、撮像部２により逐次光電変換し、Ａ／Ｄ変換部３によりデジタルデータに変換すると、図４（ｃ）に示されるような画像データＤＩが画像メモリ４１に格納される。画像データＤＩは、奇数番目に位置するラインセンサ２１Ｏ_１，…，２１Ｏ_ｋ，…，２１Ｏ_ｎが生成する画像データＤＩ（Ｏ_１），…，ＤＩ（Ｏ_ｋ），…，ＤＩ（Ｏ_ｎ）と、偶数番目に位置するラインセンサ２１Ｅ_１，…，２１Ｅ_ｋ，…，２１Ｅ_ｎが生成する画像データＤＩ（Ｅ_１），…，ＤＩ（Ｅ_ｋ），…，ＤＩ（Ｅ_ｎ）とから成る。図４（ｃ）では、奇数番目に位置するラインセンサ２１Ｏ_ｋ及び２１Ｏ_ｋ＋１が生成する画像データＤＩ（Ｏ_ｋ）及びＤＩ（Ｏ_ｋ＋１）と、偶数番目に位置するラインセンサ２１Ｅ_ｋ及び２１Ｅ_ｋ＋１が生成する画像データＤＩ（Ｅ_ｋ）及びＤＩ（Ｅ_ｋ＋１）とを示している。

なお、ラインセンサ毎には、性能のばらつき及び照明分布などの読取り条件の違いがあるため、ラインセンサ２１Ｏ_１，…，２１Ｏ_ｋ，…，２１Ｏ_ｎが生成する画像データＤＩ（Ｏ_１），…，ＤＩ（Ｏ_ｋ），…，ＤＩ（Ｏ_ｎ）とラインセンサ２１Ｅ_１，…，２１Ｅ_ｋ，…，２１Ｅ_ｎが生成する画像データＤＩ（Ｅ_１），…，ＤＩ（Ｅ_ｋ），…，ＤＩ（Ｅ_ｎ）とのそれぞれで、ラインセンサ毎に読取った画像データのレベル差（明暗の差、画素データの値の差）が生じる場合がある。このため、同一の画像を読取った場合であっても、画像データＤＩ（Ｏ_ｋ）とＤＩ（Ｅ_ｋ）とでは、画像データにおける画素値（レベル）に差が生じる。

ここで、オーバーラップ領域Ａ_１，１，Ａ_１，２，…，Ａ_ｋ，ｋ，Ａ_{ｋ，Ｋ＋１}，Ａ_{ｋ＋１，Ｋ＋１}，…，Ａ_ｎ，ｎについて説明する。図２（ａ）に示されるように、撮像部２が副走査方向（Ｙ方向）に搬送されて原稿６０を読取ると、奇数番目に位置するラインセンサ２１Ｏ_１，…，２１Ｏ_ｋ，…，２１Ｏ_ｎと偶数番目に位置するラインセンサ２１Ｅ_１，…，２１Ｅ_ｋ，…，２１Ｅ_ｎで一部重複した領域（オーバーラップ領域）が読取られる。例えば、ラインセンサ２１Ｏ_１の右端ｓｒとラインセンサ２１Ｅ_１の左端ｓｌは、原稿６０の同じ領域、すなわち、領域Ａ_１，１を読取る。同様に、ラインセンサ２１Ｅ_１の右端ｓｒとラインセンサ２１Ｏ_２の左端ｓｌは、原稿６０の同じ領域、すなわち、領域Ａ_１，２を読取る。

図４（ｂ）に示される例で説明すると、ラインセンサ２１Ｏ_ｋの右端ｓｒとラインセンサ２１Ｅ_ｋの左端ｓｌは、ともに原稿６０の領域Ａ_ｋ，ｋを読取り、ラインセンサ２１Ｅ_ｋの右端ｓｒとラインセンサ２１Ｏ_ｋ＋１の左端ｓｌは、ともに原稿６０の領域Ａ_{ｋ，ｋ＋１}を読取り、ラインセンサ２１Ｏ_ｋ＋１の右端ｓｒとラインセンサ２１Ｅ_ｋ＋１の左端ｓｌは、ともに原稿６０の領域Ａ_{ｋ＋１，ｋ＋１}を読取る。

したがって、ラインセンサ２１Ｏ_ｋに対応する画像データＤＩ（Ｏ_ｋ）は、原稿６０のオーバーラップ領域Ａ_ｋ，ｋに対応するデジタルデータｄ_ｒを含み、ラインセンサ２１Ｅ_ｋに対応する画像データＤＩ（Ｅ_ｋ）は、原稿６０の領域Ａ_ｋ，ｋに対応するデジタルデータｄ_ｌを含んでいる。原稿６０が、図４（ａ）で示されるように、ガラス面２６に密着している場合、ラインセンサ２１Ｏとラインセンサ２１Ｅの、原稿６０の副走査方向（Ｙ方向）についての読取り位置は、ほぼ同じ位置であるため、図４（ｃ）に示されるように、隣接するデジタルデータｄ_ｒとｄ_ｌは、原稿６０の副走査方向（Ｙ方向）についての位置ずれの無いデータになる。言い換えれば、ラインセンサ２１Ｏとラインセンサ２１Ｅによって読取られる副走査方向（Ｙ方向）の位置、すなわち、ライン（以下「読取ライン」ともいう）は、隣接するデジタルデータｄ_ｒとｄ_ｌではほぼ同じ位置になり、ラインセンサ２１Ｏとラインセンサ２１Ｅによって読取られた画像データ間の副走査方向の位置ずれ量（ライン数）は、ゼロに近い値となる。

また、上述したように、ラインセンサ毎には性能のばらつき及び照明分布などの読取り条件の違いがあると、ラインセンサ２１Ｏ_ｋに対応する画像データＤＩ（Ｏ_ｋ）に含まれるオーバーラップ領域Ａ_ｋ，ｋに対応するデジタルデータｄ_ｒと、ラインセンサ２１Ｅ_ｋに対応する画像データＤＩ（Ｅ_ｋ）に含まれる領域Ａ_ｋ，ｋに対応するデジタルデータｄ_ｌとでは、同じ原稿６０の領域Ａ_ｋ，ｋを読取っていても、画像データの値にレベル差が生じることになる。

次に、原稿６０がガラス面２６から離れることにより原稿６０とラインセンサの位置関係が、図４（ａ）に示される場合と異なる場合について説明する。図５（ａ）〜（ｃ）は、画像メモリ４１に格納される画像データＤＩを説明するための図である。図５（ａ）は、原稿６０がガラス面２６から浮いて（離れて）おり、奇数番目に位置するラインセンサ２１Ｏ_１，…，２１Ｏ_ｋ，…，２１Ｏ_ｎの光軸と偶数番目に位置するラインセンサ２１Ｅ_１，…，２１Ｅ_ｋ，…，２１Ｅ_ｎの光軸とが交差する位置とは違う位置に、原稿６０がある場合における、原稿６０とラインセンサの位置関係を示す図である。図５（ｂ）は、原稿６０の一例を示す図であり、図５（ｃ）は、原稿６０とラインセンサが図５（ａ）の位置関係にある場合の図５（ｂ）の原稿６０に対応する画像データＤＩを概念的に示す図である。

原稿６０がガラス面２６から浮いている場合であっても、平面図で見た場合のラインセンサと原稿６０の位置関係は、変わらない。すなわち、原稿６０がガラス面２６から浮いている場合と、ガラス面２６上に密着している場合とでは、各ラインセンサは主走査方向（Ｘ方向）については、同じ位置のデータを取得する。したがって、図５（ｂ）では、図４（ｂ）の場合と同様に、ラインセンサ２１Ｏ_ｋの右端ｓｒとラインセンサ２１Ｅ_ｋの左端ｓｌは、ともに原稿６０の領域Ａ_ｋ，ｋを読取り、ラインセンサ２１Ｅ_ｋの右端ｓｒとラインセンサ２１Ｏ_ｋ＋１の左端ｓｌは、ともに原稿６０の領域Ａ_{ｋ，ｋ＋１}を読取り、ラインセンサ２１Ｏ_ｋ＋１の右端ｓｒとラインセンサ２１Ｅ_ｋ＋１の左端ｓｌは、ともに原稿６０の領域Ａ_{ｋ＋１，ｋ＋１}を読取る。

一方、図５（ａ）に示されるように、撮像部２の側面図で見た場合、原稿６０がガラス面２６から浮いているため、奇数番目に位置するラインセンサ２１Ｏ_１，…，２１Ｏ_ｋ，…，２１Ｏ_ｎの光軸２７Ｏが原稿６０と交わる位置と偶数番目に位置するラインセンサ２１Ｅ_１，…，２１Ｅ_ｋ，…，２１Ｅ_ｎの光軸２７Ｅが原稿６０と交わる位置が異なる。そのため、原稿６０がガラス面２６から浮いている場合、副走査方向（Ｙ方向）には、ラインセンサごとで読取り位置が異なる。これは、副走査方向（Ｙ方向）に撮像部２が搬送されるとき、それぞれのラインセンサは、逐次光電変換しているため、偶数番目に位置するラインセンサ２１Ｅ_１，…，２１Ｅ_ｋ，…，２１Ｅ_ｎは、奇数番目に位置するラインセンサ２１Ｏ_１，…，２１Ｏ_ｋ，…，２１Ｏ_ｎに比べて、同じ位置の画像を時間的に遅れて取得することになるからである。したがって、図５（ｃ）に示されるように、奇数番目に位置するラインセンサ２１Ｏ_ｋ，２１Ｏ_ｋ＋１に対応する画像データＤＩ（Ｏ_ｋ），ＤＩ（Ｏ_ｋ＋１）と偶数番目に位置するラインセンサ２１Ｅ_ｋ，２１Ｅ_ｋ＋１に対応する画像データＤＩ（Ｅ_ｋ），ＤＩ（Ｅ_ｋ＋１）とは、副走査方向の位置（ライン）がずれて（画像データＤＩ（Ｏ_ｋ），ＤＩ（Ｏ_ｋ＋１）に比べ画像データＤＩ（Ｅ_ｋ），ＤＩ（Ｅ_ｋ＋１）が図示の下方向にずれて）、画像メモリ４１に格納される。言い換えれば、ラインセンサ２１Ｏとラインセンサ２１Ｅによって読取られる副走査方向（Ｙ方向）の位置は、隣接するデジタルデータｄ_ｒとｄ_ｌでは、画像メモリ４１内の副走査方向の位置（ライン）が異なることになり、ラインセンサによって読取られた画像データとの間の副走査方向の位置ずれ量（ライン数）が生じる。また、図４（ａ）〜（ｃ）の場合と同様に、ラインセンサ毎には性能のばらつき及び照明分布などの読取り条件の違いがあるため、ラインセンサ２１Ｏが読取る画像データＤＩ（Ｏ_ｋ）と、ラインセンサ２１Ｅが読取る画像データＤＩ（Ｅ_ｋ）では、ラインセンサ毎に読取った画像データのレベル差が生じる場合がある。

画像読取装置１の画像処理部４は、画像メモリ４１と、低域除去部４２とを備えている。画像メモリ４１は、第１列のラインセンサ群と第２列のラインセンサ群の複数のラインセンサによる出力から生成された、第１の画像データと第２の画像データを格納する。低域除去部４２は、画像メモリ４１に格納されている画像データＤＩのうちのオーバーラップ領域における画像データに対しての処理を行う。すなわち、低域除去部４２は、オーバーラップ領域における注目画素近傍（すなわち、注目画素と該注目画素の周辺画素とを含む画素範囲）における画像データから低域周波数成分を除去し、この低域周波数成分が除去された画像データのうち、副走査方向の予め決められた位置（所定の副走査位置又は所定のラインとも記す）の基準データと、この基準データと重複して読取られた同じオーバーラップ領域の予め決められたライン数の比較データとを出力する。なお、低域除去部４２から出力される基準データ及び比較データは、低域除去基準データ及び低域除去比較データとも言う。また、「注目画素近傍」とは、注目画素と、この注目画素の周囲の予め決められた範囲内の周辺画像と、を含む範囲（画素範囲）を意味する。また、「所定の副走査方向の位置」とは、副走査方向における予め決められた位置を意味する。また、「低域周波数成分」とは、予め設定された（予め決められた）周波数よりも低い周波数の成分を意味する。

また、画像処理部４は、低域除去部４２における低域周波数成分の除去処理によって生成された低域除去基準データと低域除去比較データとを比較する処理を、複数の位置の低域除去比較データについて行い、低域除去基準データと副走査方向の複数の位置における低域除去比較データ（すなわち、複数ラインの低域除去比較データ）との間の類似度を算出する類似度算出部４３と、低域除去基準データの副走査方向の位置と複数ラインの低域除去比較データとの間の複数の類似度のうちの最も高い類似度を持つ低域除去比較データの副走査方向の位置との差分に基づいてシフト量データを算出（推定）するシフト量推定部４４とを備えている。

さらに、画像処理部４は、シフト量データに基づいて副走査方向の位置を変えて、画像メモリ４１から画像データを読み出し、第１の画像データと第２の画像データとを結合する結合処理部４５とを備えている。

画像処理部４内の低域除去部４２と類似度算出部４３、及びシフト量推定部４４では、画像メモリ４１に格納されている画像データＤＩのうちのオーバーラップ領域における画像データに対しての処理を行う。すなわち、画像処理部４の低域除去部４２から類似度算出部４３、シフト量推定部４４での処理により、オーバーラップ領域における注目画素とその周辺画素を含む画素範囲における画像データの低域周波数成分を除去し、この低域周波数成分が除去されたオーバーラップ領域における低域除去基準データと複数の低域除去比較データとを比較して複数の類似度を算出し、複数の類似度のうちの最も類似度の高い低域除去比較データの副走査方向の位置からシフト量データを算出する。そして、画像処理部４内の結合処理部４５において、算出されたシフト量データに基づいて画像メモリ４１から画像データを読み出し、読み出された画像データの結合処理を行って合成画像データを生成する。以下に、この画像処理部４の構成及び動作をさらに具体的に説明する。

画像処理部４内の低域除去部４２には、画像メモリ４１内のオーバーラップ領域における画像データ、すなわち、画像データＤＩのうち、副走査方向（Ｙ方向）の所定位置ｙ_ｎとその前後のラインにおけるオーバーラップ領域（図４及び図５中のｄ_ｒ又はｄ_ｌ）の画像データｒＭを読み出し入力する。オーバーラップ領域の画像データｒＭは、画像メモリ４１内のオーバーラップ領域における画像データＤＩのうち、画像データｒＭＯ（低域除去基準データに相当）と、画像データｒＭＯと重複して読取られた同じオーバーラップ領域に位置する画像データｒＭＥ（低域除去比較データに相当）を含んでいる。

低域除去部４２は、オーバーラップ領域における画像データｒＭに対する処理、すなわち、オーバーラップ領域における注目画素とその周辺画素を含む画素範囲について、画像データの低域周波数成分を画像データから除去して、低域周波数成分を除去された低域除去画像データｈＭ（低域除去基準データｈＭＯ及び低域除去比較データｈＭＥ）を生成する。そして、低域除去部４２は、低域除去画像データｈＭのうち、副走査方向（Ｙ方向）の所定位置Ｙ_ｍとその周辺（Ｙ方向１ライン間隔毎及びＸ方向）の低域除去画像データを低域除去基準データＭＯとして、低域除去基準データＭＯと重複して読取られた同じオーバーラップ領域における低域除去基準データＭＯの副走査方向（Ｙ方向）の位置である基準ラインＹ_ｍを中心として−ｙから＋ｙまでの範囲（（Ｙ_ｍ−ｙ）から（Ｙ_ｍ＋ｙ）までの範囲）、すなわち、基準ラインＹ_ｍの前後ラインにおける予め決められた検索範囲“−ｙ〜＋ｙ”の位置とその周辺（Ｙ方向１ライン間隔毎及びＸ方向）における低域除去画像データを低域除去比較データＭＥとし、予め決められたライン数の低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥとして出力する。

ここで、上述したように、ラインセンサ毎の性能及び照明分布などの読取り条件の違いにより、ラインセンサにより読取られた画像データＤＩには、ラインセンサ間で画像データの値のレベル差（明暗の差、画素データの値の差）が生じる。このラインセンサ間のレベル差を生じさせる各ラインセンサで取得した画像データの値の変化、すなわち、デジタルデータＤＩの値の変化は、画素ごとで発生するランダムノイズ及び、読取り画像にある副走査方向若しくは主走査方向の１ライン単位又は１画素単位で変化するようなパターン及びエッジ等の輪郭での変化とは異なり、副走査方向あるいは主走査方向に、比較的緩やかに変化する低域周波数成分として現れる。この低域周波数成分は、例えば、副走査方向に数ライン（３ライン以上のライン数）より多くのライン周期に亘り変化するような、画像データの値の変化として扱うことができる。

したがって、低域除去部４２において、この緩やかに変化する低域周波数成分をオーバーラップ領域における画像データｒＭから除くことで、画像処理部４は、ラインセンサ毎の性能及び読取り条件の違いにより生じる取得したオーバーラップ領域における画像データＤＩの値の変化を除き、重複して読取られた同じオーバーラップ領域の低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥを、ラインセンサ毎の性能及び読取り条件の違いにより生じるレベル差の影響が抑えられた画像データとして得ることができる。

低域除去部４２は、例えば、図６に示されるように構成される。低域除去部４２は、画像メモリ４１から読み出されたオーバーラップ領域における画像データｒＭに対しての処理を行う。すなわち、低域除去部４２は、オーバーラップ領域における画像データｒＭの低域周波数成分を、画像データｒＭから除去して低域除去画像データｈＭを生成し、低域除去画像データｈＭのうち、オーバーラップ領域の位置に応じて低域除去基準データｈＭＯと低域除去比較データｈＭＥとをそれぞれオーバーラップＭＯ画像メモリ４２４とオーバーラップＭＥ画像メモリ４２５のいずれかに一時格納し、一時格納されたデータから予め決められたライン数の低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥを読み出して出力する。

図６に示されるように、低域除去部４２は、オーバーラップ低域除去部４２１と、オーバーラップＭＯ画像メモリ４２４と、オーバーラップＭＥ画像メモリ４２５とを備えている。また、オーバーラップ低域除去部４２１は、低域周波数成分を抽出する低域成分抽出部４２２と、減算部４２３とを備えている。

低域除去部４２におけるオーバーラップ低域除去部４２１は、画像メモリ４１から、オーバーラップ領域における画像データｒＭ（基準画像データｒＭＯと比較画像データｒＭＥ）を読み出す。オーバーラップ低域除去部４２１は、オーバーラップ領域における画像データｒＭに対しての処理を行う。すなわち、オーバーラップ低域除去部４２１は、画像の低域周波数成分を画像データｒＭから除去して低域除去画像データｈＭを生成する。このとき、低域除去画像データｈＭは、低域周波数成分が除かれた、画像データの副走査方向若しくは主走査方向の１ライン、１画素単位で変化するようなパターン及びエッジ等の輪郭での変化情報を持つ値により構成される画像データとなり、例えば、符号付きの画像データ、又は、所定のオフセット値により正の値へ変換した画像データとなる。

図７は、低域除去部４２において、低域周波数成分を抽出する画素範囲の一例を示す。図７は、低域除去部４２での低域成分抽出画素範囲の位置関係を示す。ここで、オーバーラップ低域除去部４２１で画像の低域周波数成分として抽出する範囲（低域成分抽出範囲）は、例えば、図７に示されるように、画像メモリ４１内の副走査方向の所定位置ｙ_ｎにおけるオーバーラップ領域の注目画素Ｐ０を中心とし、副走査方向９ライン、主走査方向１画素の合計９画素で構成される画素範囲（低域成分抽出範囲）ｂ２である。オーバーラップ低域除去部４２１は、副走査方向９ラインの範囲（低域成分抽出ライン範囲）における低域周波数成分を得て、低域周波数成分を除去された低域除去画像データｈＭを生成する。この低域除去画像データｈＭは、副走査方向の低域周波数成分が除去された低域除去画像データｈＭとなる。

なお、低域成分抽出範囲は、図７に示される副走査方向９ライン（ラインｙ_ｎ＋４からラインｙ_ｎ−４までの９ライン）、主走査方向１画素の計９画素で構成される範囲に限定されるものではなく、ラインセンサ間のレベル差につながる各ラインセンサで取得した画像データの値の変化、例えば、副走査方向に数ラインより多くのライン周期に亘り変化するような、比較的緩やかに変化する低域周波数成分が抽出できる範囲であれば、他の範囲であってもよい。低域成分抽出範囲は、例えば、画像メモリ４１内の副走査方向の所定位置ｙ_ｎにおけるオーバーラップ領域の注目画素Ｐ０を中心とし、副走査方向ｕライン、主走査方向ｖ画素の合計（ｕ×ｖ）画素で構成される画素範囲としてもよい。ここで、ｕは、２以上の整数であり、ｖは１以上の整数である。

また、主走査方向に２画素以上の範囲をとり、副走査方向と主走査方向の二次元方向で低域周波数成分を求めることもできる。しかし、ラインセンサ間の副走査方向の位置ずれは、一般的には、主走査方向に同じ値が並ぶ横線又は傾きを持つ斜め線など（副走査方向のエッジ部、高域周波数部分）の一致による判定が主要素となり、主走査方向のエッジである縦線だけでは副走査方向の画像の一致は判定できない。したがって、副走査方向のみの低域周波数成分の抽出であっても、低域周波数成分の抽出の精度は低下し難い。また、副走査方向のみで低域周波数成分を求める場合には、二次元方向で低域周波数成分を求める場合に比べて、ハードウェアの構成の簡素化及び演算処理の容易化が実現でき、演算規模を小さくすることができる。

図６において、オーバーラップ低域除去部４２１へ入力されたオーバーラップ領域における画像データｒＭは、低域成分抽出部４２２と、減算部４２３へ入力される。

オーバーラップ低域除去部４２１における低域成分抽出部４２２は、オーバーラップ領域の画像データｒＭ内の注目画素Ｐ０を中心とする副走査方向９ラインの低域成分抽出範囲ｂ２（図７に長方形の破線で囲う範囲）において、注目画素Ｐ０（又はそれに対応する位置）の近傍の画像データにおける副走査方向の低域周波数成分である低域成分ａｄｃを抽出し、これを出力する。

低域成分抽出部４２２における画像データの低域周波数成分（低域成分ａｄｃ）抽出は、例えば、低域成分抽出範囲ｂ２に対応する位置にある画素の画素値の平均を算出することにより行う。低域成分抽出範囲ｂ２内における平均を算出するので、副走査方向の９ラインの間に平均して存在する画素レベル、すなわち、９ライン中の低域周波数成分を抽出することができる。ここで、図７に示される低域成分抽出範囲ｂ２では９画素（９ライン）の画素値の平均値を求めるため、画素値の合計を９分の１することとなるが、ハードウェアの構成の容易さ及び演算処理の容易さを考慮して、９に代えて、８（２の３乗）又は、４（２の２乗）で割る演算となるように低域成分抽出部４２２を構成してもよい。低域成分抽出部４２２が行う処理は、低域周波数成分としての平均値を反映した指標が得られる処理であれば、他の処理であってもよい。また、低域成分抽出部４２２は、低域成分抽出範囲ｂ２に対応する位置にある画素の画素値の平均値に、予め決められた係数を乗算して、ゲイン調整等の変換を行うよう構成することもできる。

なお、低域成分抽出部４２２では画素値の平均から低域成分ａｄｃを求める場合を説明したが、低域成分抽出部４２２は、注目画素Ｐ０に対する各画素の位置（図７ではライン間隔）に応じて、重み付け平均化してもよく、例えば、注目画素Ｐ０に近い画素における重みが大きく、注目画素Ｐ０からの距離が大きくなるほど重みが次第に小さくなるように重み付け加算することで重み付け平均化を行うこととしてもよい。

また、低域成分抽出部４２２は、低域通過フィルタ（ローパスフィルタ、又は、ＬＰＦとも記す）等により構成することができ、ライン間の画素でＬＰＦ処理した値を低域成分ａｄｃとして求めることもできる。この場合、低域成分抽出部４２２では、通過させる低域周波数成分が、ライン周波数の数ライン分の１（例えば、図７においては１／９）となるように、緩やかに変化する低域周波数成分を抽出させるようなフィルタ係数を設定すればよい。

図６のオーバーラップ低域除去部４２１における減算部４２３へは、オーバーラップ領域における画像データｒＭの中心ライン（図７における副走査方向読み出しラインｙ_ｎ）の注目画素Ｐ０と、低域成分抽出部４２２からの低域周波数成分である低域成分ａｄｃとが入力される。

オーバーラップ低域除去部４２１の減算部４２３は、画像データｒＭに対する処理、すなわち、画像データｒＭの注目画素Ｐ０の画像データから、低域成分抽出部４２２からの低域成分ａｄｃを減算することで、画像データｒＭから注目画素Ｐ０の近傍にある画像の低域周波数成分を除去し、低域除去画像データｈＭを生成する処理を行う。このとき、低域除去画像データｈＭは、低域周波数成分である低域成分ａｄｃを画像データｒＭから減算することによって生成されるので、符号付きのパターン及びエッジ等などの輪郭での変化情報を持つ値の画像データとなる。この低域除去画像データｈＭは、符号付きの値のままで扱うことも可能であるが、所定のオフセット値により正の値に変換（絶対値に変換）したデータであってもよい。ただし、減算結果を絶対値化した値は、エッジ及び輪郭情報の有無を示す値となり、変化の方向を示していないので、この場合の低域除去画像データｈＭでは、符号値（変化する方向を示す）を併せて保持する必要がある。

オーバーラップ低域除去部４２１へ入力されたオーバーラップ領域の画像データｒＭは、オーバーラップ領域における画像データＤＩのうちの、画像データｒＭＯ（基準データに相当）と、画像データｒＭＯと重複して読取られた同じオーバーラップ領域に位置する画像データｒＭＥ（比較データに相当）とを含んでいるので、減算部４２３で低域周波数成分を除去された低域除去画像データｈＭもまた、基準データとなる画像データｒＭＯと比較データとなる画像データｒＭＥから低域周波数成分を除去した低域除去基準データｈＭＯ及び低域除去比較データｈＭＥを含む。

以上のように、図６に示されるオーバーラップ低域除去部４２１は、オーバーラップ領域における画像データｒＭに対する処理、すなわち、画像の低域周波数成分を除去した低域除去画像データｈＭを生成して出力する処理を行う。オーバーラップ低域除去部４２１からの低域除去画像データｈＭは、オーバーラップＭＯ画像メモリ４２４及びオーバーラップＭＥ画像メモリ４２５へと入力されて、一時格納される。

オーバーラップ低域除去部４２１からの低域除去画像データｈＭは、低域除去基準データとなる画像データｒＭＯと低域除去比較データとなる画像データｒＭＥとから低域周波数成分を除去した低域除去基準データｈＭＯ及び低域除去比較データｈＭＥを持つので、低域除去画像データｈＭのうち、オーバーラップ領域の位置（処理のタイミング）に応じて、低域除去基準データｈＭＯはオーバーラップＭＯ画像メモリ４２４に、低域除去比較データｈＭＥはオーバーラップＭＥ画像メモリ４２５にそれぞれ格納される。

そして、オーバーラップＭＯ画像メモリ４２４及びオーバーラップＭＥ画像メモリ４２５からは、次の類似度算出部４３での処理タイミングに合わせ、予め決められたライン数の低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥが読み出され、出力される。オーバーラップＭＯ画像メモリ４２４からは、低域除去基準データｈＭＯのうちの所定の副走査方向（Ｙ方向）の位置Ｙ_ｍとその周辺（Ｙ方向１ライン間隔毎及びＸ方向）の低域除去画像データが、低域除去基準データＭＯとして読み出される。オーバーラップＭＥ画像メモリ４２５からは、低域除去比較データｈＭＥのうち、低域除去基準データＭＯと重複して読取られた同じオーバーラップ領域において、低域除去基準データＭＯの副走査方向（Ｙ方向）の位置Ｙ_ｍの前後ラインにおける予め決められた検索範囲“−ｙ〜＋ｙ”（「＋」で示す正方向が副走査方向）の位置とその周辺（Ｙ方向１ライン間隔毎及びＸ方向）における低域除去画像データが、低域除去比較データＭＥとして読み出される。

オーバーラップＭＯ画像メモリ４２４から読み出された低域除去基準データＭＯとオーバーラップＭＥ画像メモリ４２５から読み出された低域除去比較データＭＥとは、低域周波数成分を除去した予め決められたライン数の低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥとして、低域除去部４２から類似度算出部４３へと送られる。

上記予め決められた検索範囲“−ｙ〜＋ｙ”は、低域除去基準データＭＯ（低域除去基準データｈＭＯ）の中心ライン位置との差、すなわち、副走査方向の位置ずれ量（シフト量とも呼ぶ。）ｄＹが取り得る値の範囲である。検索範囲“−ｙ〜＋ｙ”は、画像読取装置１の撮像部２により原稿６０を読取る際、原稿６０とガラス面との距離及び光軸のずれ等により起こり得る副走査方向の位置のずれ量を考慮して決められる。検索範囲“−ｙ〜＋ｙ”は、結合処理において画像データをシフトさせる副走査方向の位置（ライン）、すなわち、副走査方向の位置ずれの検出を行う検索範囲である。位置ずれ量ｄＹは、−ｙから＋ｙまでの範囲内の値をとる。

以上から、図６における低域除去部４２は、オーバーラップ領域における画像データｒＭから低域周波数成分を除去した低域除去画像データｈＭ（低域除去基準データｈＭＯ及び低域除去比較データｈＭＥ）を生成し、低域除去画像データｈＭのうち、オーバーラップ領域におけるラインＹ_ｍ（後述する図８〜１０に示される）とその周辺の画像データを、検索範囲“−ｙ〜＋ｙ”に対する低域除去基準データＭＯとして出力する。また、低域除去部４２は、対応するオーバーラップ領域については、ラインＹ_ｍを中心とした検索範囲“−ｙ〜＋ｙ”（すなわち、ライン（Ｙ_ｍ−ｙ）からライン（Ｙ_ｍ＋ｙ）までの範囲）内のラインとその周辺の画像データを低域除去比較データｈＭＥとして求め、検索範囲“−ｙ〜＋ｙ”内にある各ラインの低域除去比較データＭＥとして出力する。低域除去部４２から出力する際の副走査方向の位置ずれ量ｄＹの検出を行うための検索範囲は、ライン（Ｙ_ｍ−ｙ）からライン（Ｙ_ｍ＋ｙ）までの範囲内のラインとなり、低域除去基準データＭＯと検索範囲“−ｙ〜＋ｙ”内にあるライン数に等しい数の低域除去比較データＭＥは、類似度算出部４３へ送られる。

低域除去部４２は、オーバーラップ領域における画像データｒＭから、オーバーラップ低域除去部４２１において低域周波数成分を除去して低域除去画像データｈＭ（低域除去基準データｈＭＯ及び低域除去比較データｈＭＥ）を生成し、低域除去画像データｈＭを、低域除去画像データのうちの低域除去基準データＭＯと、位置ずれ量ｄＹが−ｙから＋ｙまでの範囲内の値をとる低域除去比較データＭＥとして、出力することができる。このように、低域除去部４２は、重複して読取られた同じオーバーラップ領域の低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥを、ラインセンサ毎の性能及び読取り条件の違いにより生じるレベル差の影響が抑えられた画像データとして、出力することができる。また、オーバーラップ低域除去部４２１における低域成分抽出範囲を副走査方向に並ぶラインとしたので、出力される低域除去画像データは、副走査方向の低域周波数成分が除去された低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥとなり、低域周波数成分の抽出の精度を落とさず、ハードウェアの構成の簡素化、演算処理の容易化を実現でき、演算規模を小さくすることができる。

図８は、原稿がガラス面に密着しているときの低域除去部４２及び類似度算出部４３の動作を説明するための図であり、図９は、原稿がガラス面から離れているときの低域除去部４２及び類似度算出部４３の動作を説明するための図である。図８及び図９は、低域除去部４２が、画像メモリからオーバーラップ領域における画像データｒＭを読み出し、読み出された画像データｒＭから低域周波数成分を除去して得られた低域除去画像データのうちの低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥとを出力する際の、低域除去基準データＭＯの画像データＤＩ（Ｏ）と低域除去比較データＭＥの画像データＤＩ（Ｅ）のオーバーラップ領域上での位置と動作を説明するための図である。

図８は、図４（ｃ）に対応する図（原稿６０がガラス面に密着している場合）であり、低域除去画像データのうちの低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥの画像データＤＩ上における位置関係を示している。低域除去基準データＭＯは、副走査方向（Ｙ方向）の位置Ｙ_ｍ（ラインＹ_ｍ）における画像データから低域周波数成分を除去して得られた低域除去画像データであり、低域除去比較データＭＥは、位置ずれ量ｄＹが−ｙから＋ｙまでの範囲内の値をとる画像データから低域周波数成分を除去して得られた低域除去画像データである。

図９は、図５（ｃ）に対応する図（原稿６０がガラス面から離れている場合）であり、副走査方向（Ｙ方向）の位置Ｙ_ｍ（ラインＹ_ｍ）における画像データから低域周波数成分を除去して得られた低域除去画像データである低域除去基準データＭＯと、位置ずれ量ｄＹが−ｙから＋ｙまでの範囲内の値をとる画像データから低域周波数成分を除去して得られた低域除去比較データＭＥとの位置関係を示している。

上述したように、低域除去部４２には、画像メモリ４１から読み出されたオーバーラップ領域における画像データｒＭが、オーバーラップ低域除去部４２１に入力される。図８及び図９に示されるように、副走査方向（Ｙ方向）の位置Ｙ_ｍにおける低域除去画像データである低域除去基準データＭＯは、ラインセンサ２１Ｏ_ｋに対応する画像データＤＩ（Ｏ_ｋ）のオーバーラップ領域ｄ_ｒにおいて、ラインＹ_ｍを中心とした周辺の画像データに対応する低域除去画像データであり、図８及び９におけるＭＯ（Ｏ_ｋ，ｄ_ｒ，Ｙ_ｍ）となる。位置ずれ量ｄＹが−ｙから＋ｙまでの範囲内の値をとる画像データから低域周波数成分を除去して得られた低域除去比較データＭＥは、ラインセンサ２１Ｅ_ｋに対応する画像データＤＩ（Ｅ_ｋ）のオーバーラップ領域ｄ_ｌにおいて、ラインＹ_ｍを中心とし検索範囲“−ｙ〜＋ｙ”内のラインとその周辺の画像データに対応する低域除去画像データであり、図８及び図９における画像データＭＥ（Ｅ_ｋ，ｄ_ｌ，Ｙ_ｍ）となる。低域除去比較データＭＥは、検索範囲“−ｙ〜＋ｙ”内のラインの画像データに対応する低域除去画像データであり、低域除去基準データＭＯより低域除去比較データＭＥが副走査方向（Ｙ方向）に広くなる。

図８及び図９において、低域除去部４２は、
画像データＤＩ（Ｏ_ｋ）のオーバーラップ領域ｄ_ｒの低域除去基準データＭＯ（Ｏ_ｋ，ｄ_ｒ，Ｙ_ｍ）と画像データＤＩ（Ｅ_ｋ）のオーバーラップ領域ｄ_ｌの低域除去比較データＭＥ（Ｅ_ｋ，ｄ_ｌ，Ｙ_ｍ）、
画像データＤＩ（Ｏ_ｋ＋１）のオーバーラップ領域ｄ_ｌの低域除去基準データＭＯ（Ｏ_ｋ＋１，ｄ_ｌ，Ｙ_ｍ）と画像データＤＩ（Ｅ_ｋ）のオーバーラップ領域ｄ_ｒの低域除去比較データＭＥ（Ｅ_ｋ，ｄ_ｒ，Ｙ_ｍ）、
画像データＤＩ（Ｏ_ｋ＋１）のオーバーラップ領域ｄ_ｒの低域除去基準データＭＯ（Ｏ_ｋ＋１，ｄ_ｒ，Ｙ_ｍ）と画像データＤＩ（Ｅ_ｋ＋１）のオーバーラップ領域ｄ_ｌの低域除去比較データＭＥ（Ｅ_ｋ＋１，ｄ_ｌ，Ｙ_ｍ）、…のような順番で、
順次、低域除去基準データと低域除去比較データとを出力する。

図１０は、低域除去部４２から出力される予め決められたライン数の低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥの副走査方向の位置関係をさらに詳しく説明するための図である。図１０は、低域除去部４２から出力されるときの低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥの副走査方向（ラインの配列方向）の位置関係を示している。低域除去部４２は、ラインＹ_ｍを基準ラインとして、オーバーラップ領域における画像データｒＭから低域周波数成分を除去し、低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥを生成する。低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥは、検出基準ラインＹ_ｍを中心として複数の画素のデータで構成される。

図１０において、低域除去部４２では、低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥが、オーバーラップＭＯ画像メモリ４２４及びオーバーラップＭＥ画像メモリ４２５により、検出基準ラインＹ_ｍを中心とした低域除去基準データＭＯ（Ｏ_ｋ，ｄ_ｒ）と低域除去比較データＭＥ（Ｅ_ｋ，ｄ_ｌ）としてそれぞれ格納される。低域除去部４２は、オーバーラップＭＯ画像メモリ４２４及びオーバーラップＭＥ画像メモリ４２５から画像データを読み出し、低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥを出力する。低域除去基準データＭＯ（Ｏ_ｋ，ｄ_ｒ）は、基準ラインＹ_ｍを中心とした副走査方向の幅ｂｈラインの低域除去基準データｈＭＯにおける画像データＭＯ（Ｏ_ｋ，ｄ_ｒ，Ｙ_ｍ）であり、低域除去比較データＭＥ（Ｅ_ｋ，ｄ_ｌ）は、デジタルデータＤＩ（Ｅ_ｋ）のオーバーラップ領域ｄ_ｌにおいて、基準ラインＹ_ｍを中心とした検索範囲“−ｙ〜＋ｙ”内の各ラインで、それぞれがＭＯ（Ｏ_ｋ，ｄ_ｒ，Ｙ_ｍ）と同じ幅ｂｈラインとなるような画像データＭＥ（Ｅ_ｋ，ｄ_ｌ，ｄＹ）となる。具体的には、図１０において、検出基準ラインＹ_ｍと中心位置が同じデータとして、画像データＭＥ（Ｅ_ｋ，ｄ_ｌ，０）とし、１ライン分ずらした位置のデータＭＥ（Ｅ_ｋ，ｄ_ｌ，１）、ｙライン分ずらしたデータＭＥ（Ｅ_ｋ，ｄ_ｌ，ｙ）とし、逆方向にｙライン分ずらしたデータＭＥ（Ｅ_ｋ，ｄ_ｌ，−ｙ）として配置して、低域除去部４２から出力する。ここで、ｙは、ライン数を示す正の整数である。

なお、図１０に関する上記説明では、低域除去部４２において出力される予め決められたライン数の低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥは、基準ラインＹ_ｍを中心とした副走査方向の幅ｂｈラインの低域除去画像データとしたが、幅ｂｈは１つの中心ラインのみにしてもよい。副走査方向の幅ｂｈをとることで、周辺の画像データの情報をもつ低域除去基準データ及び低域除去比較データとすることができ、後述する類似度算出部４３における処理でより精度よく類似度を算出することができる。

また、画像処理部４は、図６に示される低域除去部４２の代わりに、図１１に示される低域除去部４２ｂを備えてもよい。図１１に示される低域除去部４２ｂにおいては、画像メモリ４１内のオーバーラップ領域における画像データｒＭを基準データとなる画像データｒＭＯと比較データとなる画像データｒＭＥとして別々に読み出して、それぞれの画像データに対し図６のオーバーラップ低域除去部４２１と同様の処理を行い、低域除去基準データｈＭＯ及び低域除去比較データｈＭＥを求める。

図１１において、図６に示される構成要素と同一又は対応する構成要素には、図６における符号と同じ符号を付す。図１１に示される低域除去部４２ｂは、２つのオーバーラップ低域除去部４２１１及び４２１２を備えている点において、１つのオーバーラップ低域除去部４２１を備えている図６の低域除去部４２と相違する。図１１に示されるオーバーラップ低域除去部４２１１及び４２１２には、オーバーラップ領域における画像データｒＭのうちの基準画像データｒＭＯ及び比較画像データｒＭＥがそれぞれ入力される。オーバーラップ低域除去部４２１１は、オーバーラップ領域における画像データｒＭのうちの基準画像データｒＭＯに対し、画像の低域周波数成分を画像データから除去して低域除去基準データｈＭＯを出力する。オーバーラップ低域除去部４２１２は、オーバーラップ領域における画像データｒＭのうちの比較画像データｒＭＥに対し、画像の低域周波数成分を画像データから除去して低域除去比較データｈＭＥを出力する。

図１１の低域除去部４２ｂにおけるオーバーラップＭＯ画像メモリ４２４とオーバーラップＭＥ画像メモリ４２５において、低域除去基準データｈＭＯはオーバーラップＭＯ画像メモリ４２４に、低域除去比較データｈＭＥはオーバーラップＭＥ画像メモリ４２５にそれぞれ格納され、低域除去部４２ｂからの出力として、低域周波数成分を除去した予め決められたライン数の低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥを読み出し、出力する。以上に説明した点を除き、図１１に示される低域除去部４２ｂは、図６に示される低域除去部４２と同じである。

画像処理部４内の類似度算出部４３には、低域除去部４２からの低域周波数成分を除去された低域除去画像データである低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥが送られる。低域除去比較データＭＥは、位置ずれ量ｄＹの検索範囲“−ｙ〜＋ｙ”内のラインによる低域除去比較データである。類似度算出部４３では、低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥとを比較する処理を位置ずれ量ｄＹが−ｙから＋ｙまでの範囲内をとる複数の位置について行い、類似度である相関データＤ４３を算出し、生成する。

図１２（ａ）及び（ｂ）は、類似度算出部４３の動作を説明するための図であり、類似度算出部４３に検出基準ラインＹ_ｍを中心とした低域除去基準データＭＯ（Ｏ_ｋ，ｄ_ｒ）と低域除去比較データＭＥ（Ｅ_ｋ，ｄ_ｌ）が入力される場合を示している。図１２（ａ）において、類似度算出部４３は、入力された低域除去基準データＭＯ（Ｏ_ｋ，ｄ_ｒ）に対し、まず、位置ずれ量ｄＹが−ｙから＋ｙまでの範囲内をとる低域除去比較データＭＥ（Ｅ_ｋ，ｄ_ｌ）から低域除去基準データＭＯ（Ｏ_ｋ，ｄ_ｒ）と同じ大きさ（同じ副走査方向の幅ｂｈライン）の複数の画像データＭＥ（Ｅ_ｋ，ｄ_ｌ，ｄＹ）を抽出する。ｄＹは、低域除去基準データＭＯ（Ｏ_ｋ，ｄ_ｒ）との副走査方向の位置ずれ量であり、探索範囲“−ｙ〜＋ｙ”の範囲内の値をとる。低域除去基準データＭＯ（Ｏ_ｋ，ｄ_ｒ）の中心位置である検出基準ラインＹ_ｍと同じ位置にあるデータを画像データＭＥ（Ｅ_ｋ，ｄ_ｌ，０）とし、１ライン分ずらしたデータをＭＥ（Ｅ_ｋ，ｄ_ｌ，１）、さらに順に１ラインずつずらし、ｙライン分ずらしたデータを画像データＭＥ（Ｅ_ｋ，ｄ_ｌ，ｙ）とし、逆方向にｙライン分ずらしたデータを、画像データＭＥ（Ｅ_ｋ，ｄ_ｌ，−ｙ）とする。

次に、類似度算出部４３は、低域除去基準データＭＯ（Ｏ_ｋ，ｄ_ｒ）と低域除去比較データＭＥ（Ｅ_ｋ，ｄ_ｌ）における画像データＭＥ（Ｅ_ｋ，ｄ_ｌ，−ｙ）〜ＭＥ（Ｅ_ｋ，ｄ_ｌ，ｙ）との間の類似度を算出し、相関データＤ４３（Ｏ_ｋ，Ｅ_ｋ）を出力する。低域除去基準データＭＯ（Ｏ_ｋ，ｄ_ｒ）と低域除去比較データＭＥ（Ｅ_ｋ，ｄ_ｌ，−ｙ）〜ＭＥ（Ｅ_ｋ，ｄ_ｌ，ｙ）のそれぞれは、副走査方向の大きさが同じである。例えば、類似度算出部４３は、低域除去基準データＭＯ（Ｏ_ｋ，ｄ_ｒ）と低域除去比較データＭＥ（Ｅ_ｋ，ｄ_ｌ，−ｙ）〜ＭＥ（Ｅ_ｋ，ｄ_ｌ，ｙ）のそれぞれとの画素毎の差分の絶対値の和、又は、画素毎の差分の二乗和を類似度として算出し、相関データＤ４３（Ｏ_ｋ，Ｅ_ｋ，ｄＹ）とし出力する。同様に、類似度算出部４３は、次の低域除去基準データＭＯ（Ｏ_ｋ＋１，ｄ_ｌ）と低域除去比較データＭＥ（Ｅ_ｋ，ｄ_ｒ）、低域除去基準データＭＯ（Ｏ_ｋ＋１，ｄ_ｒ）と低域除去比較データＭＥ（Ｅ_ｋ＋１，ｄ_ｌ）、…の類似度を順次算出し、相関データＤ４３（Ｏ_ｋ＋１，Ｅ_ｋ，ｄＹ），Ｄ４３（Ｏ_ｋ＋１，Ｅ_ｋ＋１，ｄＹ），…と生成する。

なお、図１２（ａ）において、検索範囲“−ｙ〜＋ｙ”内の低域除去比較データＭＥ（Ｅ_ｋ，ｄ_ｌ）から、副走査方向の位置ずれ量ｄＹとして１ラインずつずらして画像データＭＥ（Ｅ_ｋ，ｄ_ｌ，ｄＹ）をとり、類似度（相関データＤ４３）を算出する場合を説明したが、類似度算出部４３は、副走査方向の前後ラインの画像データから補間処理することで、ラインとラインの間の副走査方向の位置（サブ・ラインと記す）を求め、同様に低域除去基準データＭＯとの類似度を算出し、相関データＤ４３を生成することもできる。

図１２（ｂ）は、類似度算出部４３において、検出基準ラインＹ_ｍを中心とした低域除去基準データＭＯ（Ｏ_ｋ，ｄ_ｒ）と低域除去比較データＭＥ（Ｅ_ｋ，ｄ_ｌ）における画像データＭＥ（Ｅ_ｋ，ｄ_ｌ，−ｙ）〜ＭＥ（Ｅ_ｋ，ｄ_ｌ，ｙ）の類似度を算出したときの位置ずれ量ｄＹ（検索範囲“−ｙ〜＋ｙ”）に対する相関データＤ４３（Ｏ_ｋ，Ｅ_ｋ，ｄＹ）の値の例を示している。図１２（ｂ）において、破線が図８に対応する相関データＤ４３（Ｏ_ｋ，Ｅ_ｋ，ｄＹ）であり、実線が図９に対応する相関データＤ４３（Ｏ_ｋ，Ｅ_ｋ，ｄＹ）である。図８では、奇数番目に位置するラインセンサ２１Ｏ_１，…，２１Ｏ_ｋ，…，２１Ｏ_ｎと偶数番目に位置するラインセンサ２１Ｅ_１，…，２１Ｅ_ｋ，…，２１Ｅ_ｎが副走査方向（Ｙ方向）で同じ位置を読取っているため、そのデータもずれていない。したがって、図１２（ｂ）の破線のようにｄＹ＝０の位置で類似度が高く（すなわち、非類似度が低く）なる。また、図９では、原稿６０がガラス面２６から上に離れているため、奇数番目に位置するラインセンサ２１Ｏ_１，…，２１Ｏ_ｋ，…，２１Ｏ_ｎに対して偶数番目に位置するラインセンサ２１Ｅ_１，…，２１Ｅ_ｋ，…，２１Ｅ_ｎの読取り画像が、画像の副走査方向の位置が下方向にずれ、正の値（ｄＹ＝＋ａ）の位置で、類似度が最も高く（すなわち、非類似度が最も低く）なる。

類似度算出部４３は、低域除去部４２からの低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥから、位置ずれ量ｄＹが−ｙから＋ｙまでの範囲内をとる複数の位置について類似度である相関データＤ４３を算出しているので、この相関データＤ４３は、ラインセンサ毎の性能及び読取り条件の違いにより生じるレベル差の影響を除かれている。したがって、実施の形態１に係る画像処理装置によれば、画像データのパターン及びエッジ等の輪郭での変化情報による低域除去画像データから求めた類似度に基づく相関データＤ４３を得ることができる。

シフト量推定部４４へは、類似度算出部４３からの“−ｙ〜＋ｙ”範囲内の複数のラインの位置ずれ量ｄＹにおける相関データＤ４３が入力される。シフト量推定部４４は、複数のラインの相関データＤ４３のうち類似度が最も高いずれデータに対応する位置ずれ量ｄＹをシフト量データｄｙｂとして、結合処理部４５へと出力する。

言い換えれば、図１２（ｂ）において、破線のようにｄＹ＝０の位置で類似度が高く（すなわち、非類似度が低く）なる場合は、ｄＹ＝０をシフト量データｄｙｂとし、また、実線が示すようなｄＹ＝＋ａの位置で類似度が最も高く（すなわち、非類似度が最も低く）なる場合は、ｄＹ＝＋ａをシフト量データｄｙｂとする。

類似度算出部４３からの相関データＤ４３は、低域除去画像データから求めた類似度で算出されており、ラインセンサ毎の性能及び読取り条件の違いにより生じるレベル差の影響を除かれている。このため、シフト量推定部４４で相関データＤ４３のうち類似度が最も高いずれデータに対応する位置ずれ量ｄＹを求めて副走査方向の位置ずれを検出する際に、ラインセンサ毎のレベル差の影響を抑えて、誤検出なく、精度よく副走査方向の値に相当するシフト量データｄｙｂを得ることができる。

画像処理部４内の結合処理部４５へは、シフト量推定部４４からのシフト量データｄｙｂが入力される。結合処理部４５は、シフト量データｄｙｂに基づいて画像データの読み出し位置ＲＰを算出し、その読み出し位置に対応する画像データＭ４５を読み出し、シフト量データｄｙｂに基づいて画像データをずらす処理を行い、画像データのオーバーラップ領域におけるデータを結合する。

図１３並びに図１４（ａ）及び（ｂ）は、結合処理部４５の動作を説明するための図である。結合処理部４５は、図１３に示されるように、奇数番目に位置するラインセンサ２１Ｏ_１，…，２１Ｏ_ｋ，…，２１Ｏ_ｎに対応する画像データＤＩ（Ｏ_ｋ）をシフトさせずに、偶数番目に位置するラインセンサ２１Ｅ_１，…，２１Ｅ_ｋ，…，２１Ｅ_ｎに対応する画像データＤＩ（Ｅ_ｋ）を、シフト量データｄｙｂ分だけ副走査方向にシフトさせて、副走査方向の位置ずれを無くしてから、奇数番目の画像データと偶数番目の画像データとを結合して合成画像データを生成することができる。この処理の代わりに、結合処理部４５は、図１４（ａ）及び（ｂ）に示されるように、奇数番目に位置するラインセンサ２１Ｏ_１，…，２１Ｏ_ｋ，…，２１Ｏ_ｎに対応する画像データＤＩ（Ｏ_ｋ）（ｋ＝１，…ｋ，…，ｎ）と、偶数番目に位置するラインセンサ２１Ｅ_１，…，２１Ｅ_ｋ，…，２１Ｅ_ｎに対応する画像データＤＩ（Ｅ_ｋ）（ｋ＝１，…ｋ，…，ｎ）との両方をシフトし、これら両方のシフトのシフト量の合計値がシフト量データｄｙｂと同じになるようにして、副走査方向の位置ずれを無くしてから、奇数番目の画像データと偶数番目の画像データとを結合して合成画像データを生成することができる。なお、図１４（ａ）は、低域除去部４２で基準ラインとして読み出した副走査方向（Ｙ方向）の位置Ｙ_ｍにおける、隣接するラインセンサに対応する画像データＤＩ（Ｏ_ｋ）とＤＩ（Ｅ_ｋ）との両方を互いに逆方向にシフト量ｄｙｂ／２ずつラインＹ_ｍからシフトさせて、シフト量データｄｙｂのシフトを行う場合を示している。図１４（ｂ）は、低域除去部４２で基準ラインとして読み出した副走査方向（Ｙ方向）における、隣接するラインセンサに対応する画像データＤＩ（Ｏ_ｋ）とＤＩ（Ｅ_ｋ）との両方を互いに逆方向にシフト量ｄｙｂ／２ずつラインＹ_ｍに向けてシフトさせて、シフト量データｄｙｂのシフトを行う場合を示している。

言い換えれば、結合処理部４５は、シフト量データｄｙｂに基づいて、画像データの読み出し位置ＲＰを算出し、その読み出し位置に対応する画像データＭ４５を画像メモリ４１から読み出し、奇数番目に位置するラインセンサ２１Ｏ_１，…，２１Ｏ_ｋ，…，２１Ｏ_ｎのデータと偶数番目に位置するラインセンサ２１Ｅ_１，…，２１Ｅ_ｋ，…，２１Ｅ_ｎのデータが重複するオーバーラップ領域を結合して画像データＤ４５を生成する。シフト量データｄｙｂは、低域除去画像データによる類似度（相関データＤ４３）から求められているので、ラインセンサ毎の性能ばらつき及び読取り条件の違いにより生じるレベル差の影響を抑えて、誤検出なく、精度のよい副走査方向の位置ずれを示すデータとして得ている。よって、結合処理部４５は、このシフト量データｄｙｂに基づいて画像データの読み出し位置ＲＰを算出すれば、精度よく、正確に各ラインに対応した読み出し位置を求めることができる。

画像処理部４において、低域除去部４２は、オーバーラップ領域における画像データｒＭに対し、低域周波数成分を画像データから除去して低域除去画像データｈＭを生成し、ある副走査方向（Ｙ方向）の位置Ｙ_ｍを基準ラインとして、奇数番目に位置するラインセンサ２１Ｏ_１，…，２１Ｏ_ｋ，…，２１Ｏ_ｎに対応するオーバーラップ領域における低域除去画像データと、偶数番目に位置するラインセンサ２１Ｅ_１，…，２１Ｅ_ｋ，…，２１Ｅ_ｎに対応するオーバーラップ領域における低域除去画像データを求めて、これらを予め決められたライン数の低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥとして出力する。類似度算出部４３は、低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥとを比較して類似度データ（相関データ）Ｄ４３を算出し、シフト量推定部４４は、検出基準ラインＹ_ｍについて類似度が最も高い（相関の最も大きい）低域除去比較データの副走査方向の位置に対応する位置ずれ量をシフト量データｄｙｂとして算出し、結合処理部４５は、シフト量データｄｙｂに基づいて画像データを読み出し、結合した画像データＤ４５を出力する。画像処理部４は、このような一連の処理を順次繰り返す。

図１５は、図４（ｃ）における画像、図５（ｃ）における画像、図８における画像、又は、図９における画像を結合して得られた合成画像を示す図である。図１５に示されるように、実施の形態１に係る画像読取装置１においては、隣接する偶数番目に位置するラインセンサと奇数番目に位置するラインセンサで生成された２つの画像データの副走査方向（Ｙ方向）の位置ずれを補正し、図４（ｂ）及び図５（ｂ）に示される原稿６０と同じ画像の合成画像データを生成することができる。例えば、図５（ｃ）及び図９の場合には、奇数番目に位置するラインセンサ２１Ｏ_１，…，２１Ｏ_ｋ，…，２１Ｏ_ｎの画像データと偶数番目に位置するラインセンサ２１Ｅ_１，…，２１Ｅ_ｋ，…，２１Ｅ_ｎの画像データとは、副走査方向（Ｙ方向）にずれていたが、実施の形態１に係る画像読取装置１によれば、図５（ｂ）に示される原稿６０と同じ画像の画像データを出力することができる。

図１５は、また、結合処理部４５から出力される結合処理後の画像データＤ４５を概念的に示す説明図でもある。実施の形態１に係る画像読取装置１によれば、誤検出なく、精度よく得られたシフト量データｄｙｂから読み出し位置を求め、シフト量データｄｙｂによる値分ずらした位置とその位置の周辺のラインの画像データを用いて画像データＤ４５を生成するので、奇数番目に位置するラインセンサ２１Ｏ_１，…，２１Ｏ_ｋ，…，２１Ｏ_ｎと偶数番目に位置するラインセンサ２１Ｅ_１，…，２１Ｅ_ｋ，…，２１Ｅ_ｎの副走査方向のずれが修正され、重複して読取っていたオーバーラップ領域の画像が結合される。

図１６（ａ）及び（ｂ）は、撮像部２を搬送中に、ガラス面２６に対する原稿６０の位置が変わる例を示す図である。副走査方向（Ｙ方向）の位置Ｙ_ｍでは、原稿６０は、ガラス面２６から浮いており、位置Ｙｕでは、原稿６０は、ガラス面２６に密着している。この場合には、ラインセンサ毎の性能ばらつき及び読取り条件の違いにより生じるレベル差（レベルの変動）は、同じラインセンサによる画像データ内であっても、副走査方向の位置により生じる。撮像部２は、副走査方向（Ｙ方向）の各位置において順次画像データを処理しているため、搬送中に原稿６０の位置が変わったり、レベル値の変動があったりしたとしても、画像処理部４では、各位置において、オーバーラップ領域の画像データから低域周波数成分を除去した画像データにより位置ずれ量を算出しているため、精度よく位置ずれ量を求めて正しく画像を結合することができる。また、図８から図１０で説明したように、奇数番目に位置するラインセンサ２１Ｏ_１，…，２１Ｏ_ｋ，…，２１Ｏ_ｎと偶数番目に位置するラインセンサ２１Ｅ_１，…，２１Ｅ_ｋ，…，２１Ｅ_ｎのうちの隣接する全てのラインセンサ間で、個別にずれ量を算出しているので、主走査方向（Ｘ方向）に原稿６０のガラス面２６に対する位置が変わったとしても、正しく画像を結合することができる。

以上に説明したように、実施の形態１に係る画像読取装置１、画像処理部（画像処理装置）４、及び画像処理方法においては、低域除去部４２で、オーバーラップ領域における画像データｒＭに対する処理、すなわち、低域周波数成分を画像データから除去して低域除去画像データｈＭを生成し、ある副走査方向（Ｙ方向）の位置Ｙ_ｍを基準ラインとして、低域除去画像データのうちの予め決められたライン数の低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥを出力する処理を行い、類似度算出部４３で、低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥとを比較して複数の類似度（相関データ）Ｄ４３を算出する処理を行い、シフト量推定部４４で複数の類似度のうちの最も高い類似度を持つ低域除去比較データの副走査方向の位置に対応する位置ずれ量をシフト量データｄｙｂとして算出する処理を行い、結合処理部４５で、このシフト量データｄｙｂに基づいて分割画像（奇数番目の画像及び偶数番目の画像の少なくとも一方の画像）の副走査方向の位置を適切な位置にシフトさせて、隣り合う分割画像同士を結合させた画像データを生成している。

したがって、実施の形態１に係る画像読取装置１、画像処理部（画像処理装置）４、及び画像処理方法においては、オーバーラップ領域における画像データのうちの、ラインセンサ毎の性能及び読取り条件の違いにより生じるレベル差の影響が抑えられた画像データである低域除去基準データＭＯと検索範囲“−ｙ〜＋ｙ”内にあるライン数に等しい数の低域除去比較データＭＥを求めることができる。よって、実施の形態１に係る画像読取装置１、画像処理部（画像処理装置）４、及び画像処理方法によれば、誤検出なく、精度のよい副走査方向の位置ずれを示すシフト量データｄｙｂを算出できるとともに、このシフト量データｄｙｂを用いて、奇数番目の画像データと偶数番目の画像データの副走査方向の位置ずれを補正してから、結合した画像データを生成することができ、被読取物に対応する高品質な合成画像データを生成することができる。

また、実施の形態１に係る画像読取装置１、画像処理部（画像処理装置）４、及び画像処理方法によれば、低域除去部４２における低域成分抽出範囲を副走査方向に並ぶ複数ラインの範囲として、副走査方向の低域周波数成分が除去された低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥとを生成しているので、低域周波数成分の抽出の精度を落とさず、ハードウェアの構成の簡素化、演算処理の容易化を実現でき、演算規模を小さくすることができる。

なお、上記画像処理部４では、図８及び図９で説明したように、低域除去画像データである低域除去基準データＭＯは、ラインセンサ２１Ｏ_ｋに対応するデジタルデータＤＩ（Ｏ_ｋ）のオーバーラップ領域の画像データに対応し、低域除去比較データＭＥは、ラインセンサ２１Ｅ_ｋに対応するデジタルデータＤＩ（Ｅ_ｋ）のオーバーラップ領域の画像データに対応する低域除去画像データであるとしたが、本発明は、これに限定されない。例えば、画像処理部４は、低域除去画像データである低域除去基準データＭＯをラインセンサ２１Ｅ_ｋに対応するデジタルデータＤＩ（Ｅ_ｋ）のオーバーラップ領域の画像データに対応させ、低域除去比較データＭＥをラインセンサ２１Ｏ_ｋに対応するデジタルデータＤＩ（Ｏ_ｋ）のオーバーラップ領域の画像データに対応させ、低域除去画像データを求め、低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥとを比較して相関データＤ４３を算出するよう構成してもよい。

また、画像処理部４は、ラインセンサ２１Ｏ又は２１Ｅによる画像データＤＩ（Ｏ_ｋ）又はＤＩ（Ｅ_ｋ）のオーバーラップ領域ｄ_ｒを低域除去基準データとして用い、隣接するラインセンサのオーバーラップ領域ｄｌを低域除去比較データとして用いてもよく、オーバーラップ領域における画像データに対し、低域周波数成分を画像データから除去して低域除去画像データｈＭを生成し、低域除去画像データのうちの隣接するラインセンサによって重複して読取られるオーバーラップ領域の画像データから予め決められたライン数の低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥとを得ることができれば、上記実施の形態１と同様の効果を奏する。

実施の形態２．
実施の形態１に係る画像読取装置１、画像処理部（画像処理装置）４、及び画像処理方法は、画像処理部４内の低域除去部４２，４２ｂを図６及び図１１に示されるように構成し、オーバーラップ低域除去部４２１において、低域成分抽出部４２２で注目画素Ｐ０の近傍の画像データの低域周波数成分である低域成分ａｄｃを抽出し、減算部４２３において画像データから低域成分ａｄｃを減算することで、低域除去画像データｈＭを生成するよう構成されている。これに対し、実施の形態２に係る画像読取装置、画像処理装置、及び画像処理方法は、実施の形態１における低域除去部４２及び４２ｂに代えて、図１７に示される低域除去部４２ｃを採用している。これ以外の点について、実施の形態２は、実施の形態１と同じである。したがって、実施の形態２の説明においては、図１をも参照する。

図１７は、実施の形態２に係る画像読取装置１内の画像処理部４において、低域除去部４２の代わりに用いられる低域除去部４２ｃの構成を示すブロック図である。図１７において、図１及び図６を参照して説明した構成要素と同一又は対応する構成要素には、図６に示される符号と同じ符号を付している。

図１７において、実施の形態２に係る画像読取装置１の画像処理部４における低域除去部４２ｃは、オーバーラップ低域除去部４２１ｃを備えており、オーバーラップ低域除去部４２１ｃは、低域周波数成分を除去し、高域周波数成分を抽出する高域成分抽出部４２６を備えている。その他のオーバーラップＭＯ画像メモリ４２４と、オーバーラップＭＥ画像メモリ４２５の構成及び動作は、実施の形態１で示されるものと同じであり、その詳細な説明は省略する。

低域除去部４２ｃにおけるオーバーラップ低域除去部４２１ｃでは、画像メモリ４１内のオーバーラップ領域における画像データｒＭ（基準画像データｒＭＯと比較画像データｒＭＥ）が入力され、オーバーラップ領域における画像データｒＭに対し、画像の低域周波数成分を画像データから除去して低域除去画像データｈＭを生成する。この動作は、実施の形態１における低域除去部４２のオーバーラップ低域除去部４２１と同じである。図１７において、オーバーラップ低域除去部４２１ｃへ入力されたオーバーラップ領域における画像データｒＭは、高域成分抽出部４２６へ入力される。高域成分抽出部４２６では、オーバーラップ領域の画像データｒＭ内の注目画素Ｐ０を中心とする例えば、副走査方向９ラインの範囲（図７の低域成分抽出範囲ｂ２）において、注目画素Ｐ０（又はそれに対応する位置）の近傍の画像データにおける副走査方向の高域周波数成分を抽出する。

高域成分抽出部４２６における画像データの高域周波数成分の抽出は、実施の形態１で図７に示す低域成分抽出範囲ｂ２と同じ範囲に位置する画素から行えばよく、具体的には、帯域通過フィルタ（ＢＰＦ）及び高域通過フィルタ（ＨＰＦ）等により行い、ライン間の画素で副走査方向のＢＰＦ処理を行い、副走査方向の高域周波数成分を抽出する。この場合、ＢＰＦ処理により除去される低域周波数成分は、ライン周波数の数ライン分の１（例えば、図７では１／９）として緩やかに変化する低域周波数成分を除き、それ以外の高域周波数成分を通過させるようなフィルタ係数を設定すればよい。

なお、高域成分抽出部４２６で抽出した高域周波数成分に対し、予め決められた係数を乗算し、ゲイン調整等の変換を行うよう構成することもできる。また、高域周波数成分の抽出範囲は、図７に示される副走査方向９ラインの低域成分抽出範囲ｂ２に限定されるものではなく、ラインセンサ間のレベル差につながる各ラインセンサで取得した画像データの値の変化、例えば、副走査方向に数ラインより多くのライン周期に亘り変化するような、比較的緩やかに変化する低域周波数成分を除く高域周波数成分を抽出できればよく、副走査方向と主走査方向の二次元方向で求めることもできる。なお、実施の形態２においては、実施の形態１と同様に、低域周波数成分除去の精度を落とすことはなく、ハードウェアの構成の簡素化、演算処理の容易化を実現でき、演算規模を小さくすることができる。

高域成分抽出部４２６で抽出した高域周波数成分は、画像データｒＭから近傍にある画像の低域周波数成分を除去した低域除去画像データｈＭとして、オーバーラップ低域除去部４２１ｃから出力される。低域除去画像データｈＭは、高域周波数成分を抽出した画像データであるので、符号付きのパターン及びエッジ等の輪郭での変化情報を持つ値の画像データとなる。この低域除去画像データｈＭは、符号付きの値のままでも、又は、予め定められたオフセット値により正の値へ変換したデータとしてもよい。ただし、減算結果を絶対値化した値は、エッジなどの輪郭情報の有無を示す値となるため、この場合の低域除去画像データｈＭでは、符号値（変化する方向を示すことになる）を保持する。

オーバーラップ低域除去部４２１ｃへ入力されたオーバーラップ領域の画像データｒＭは、オーバーラップ領域における画像データＤＩのうち基準画像データｒＭＯと比較画像データｒＭＥを含んでいる。このため、高域成分抽出部４２６により高域周波数成分を抽出したことによる低域除去画像データｈＭもまた、低域除去基準データとなる画像データｒＭＯと低域除去比較データとなる画像データｒＭＥから低域周波数成分を除去した低域除去基準データｈＭＯ及び低域除去比較データｈＭＥとなる。

低域除去部４２ｃにおけるオーバーラップＭＯ画像メモリ４２４とオーバーラップＭＥ画像メモリ４２５において、低域除去基準データｈＭＯはオーバーラップＭＯ画像メモリ４２４に、低域除去比較データｈＭＥはオーバーラップＭＥ画像メモリ４２５にそれぞれ格納され、低域除去部４２ｃからの出力として、低域周波数成分を除去した予め決められたライン数の低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥが読み出され、出力される。上記以外の点において、低域除去部４２ｃは、実施の形態１の図６に示されるものと同じである。

また、画像処理部４は、図１７に示される低域除去部４２ｃの代わりに、図１８の低域除去部４２ｄを用いることもできる。図１８に示される低域除去部４２ｄにおいては、画像メモリ４１内のオーバーラップ領域における画像データｒＭを基準データとなる画像データｒＭＯと比較データとなる画像データｒＭＥとして別々に読み出して、それぞれの画像データに対し図１７のオーバーラップ低域除去部４２１ｃと同様の処理を行い、高域周波数成分を抽出したことによる低域除去基準データｈＭＯ及び低域除去比較データｈＭＥを求める。図１８において、図１７に示される構成要素と同一又は対応する構成要素には、図１７における符号と同じ符号を付す。図１８に示される低域除去部４２ｄは、２つのオーバーラップ低域除去部４２１ｃ１及び４２１ｃ２を備えている点において、１つのオーバーラップ低域除去部４２１ｃを備えている図１７の低域除去部４２ｃと相違する。図１８に示されるオーバーラップ低域除去部４２１ｃ１及び４２１ｃ２には、オーバーラップ領域における画像データｒＭのうちの基準画像データｒＭＯ及び比較画像データｒＭＥがそれぞれ入力される。オーバーラップ低域除去部４２１ｃ１は、オーバーラップ領域における画像データｒＭのうちの基準画像データｒＭＯに対し、画像の低域周波数成分を画像データから除去して低域除去基準データｈＭＯを出力する。オーバーラップ低域除去部４２１ｃ２は、オーバーラップ領域における画像データｒＭのうちの比較画像データｒＭＥに対し、画像の低域周波数成分を画像データから除去して低域除去比較データｈＭＥを出力する。

図１８の低域除去部４２ｄにおけるオーバーラップＭＯ画像メモリ４２４とオーバーラップＭＥ画像メモリ４２５において、低域除去基準データｈＭＯはオーバーラップＭＯ画像メモリ４２４に、低域除去比較データｈＭＥはオーバーラップＭＥ画像メモリ４２５にそれぞれ格納され、低域除去部４２ｄからの出力として、低域周波数成分を除去した予め決められたライン数の低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥを読み出し、出力する。以上に説明した点を除き、図１８に示される低域除去部４２ｄは、図１７に示される低域除去部４２ｃと同じである。

以上のように、実施の形態２に係る画像処理部４内の低域除去部４２ｃ及び４２ｄによれば、オーバーラップ低域除去部４２１ｃにおいて、オーバーラップ領域における画像データｒＭから高域周波数成分を抽出することで、低域除去画像データｈＭ（低域除去基準データｈＭＯ及び低域除去比較データｈＭＥ）を生成し、低域除去画像データのうちの低域除去基準データＭＯと、位置ずれ量ｄＹが−ｙから＋ｙまでの範囲内の値をとる低域除去比較データＭＥとして出力することができ、重複して読取られた同じオーバーラップ領域の低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥを、ラインセンサ毎の性能及び読取り条件の違いにより生じるレベル差の影響が抑えられた画像データとして得ることができる。

また、オーバーラップ低域除去部４２１ｃにおける高域周波数成分抽出範囲を副走査方向に並ぶラインとしたので、副走査方向の低域周波数成分が除去された低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥとなり、低域周波数成分の抽出の精度を落とさず、ハードウェアの構成の簡素化、演算処理の容易化を実現でき、演算規模を小さくすることができる。

したがって、実施の形態２に係る低域除去部４２ｃによる画像読取装置１、画像処理部（画像処理装置）４、及び画像処理方法によれば、オーバーラップ領域における画像データのうちの、ラインセンサ毎の性能及び読取り条件の違いにより生じるレベル差の影響が抑えられた画像データである低域除去基準データＭＯと検索範囲“−ｙ〜＋ｙ”内にあるライン数に等しい数の低域除去比較データＭＥを求めることができる。このため、実施の形態２に係る低域除去部４２ｃによる画像読取装置１、画像処理部（画像処理装置）４、及び画像処理方法によれば、誤検出なく、精度のよい副走査方向の位置ずれを示すシフト量データｄｙｂを算出できるとともに、誤検出なく、精度よく得られたシフト量データｄｙｂを位置ずれ量を示す値として得て、結合した画像データを生成することができるので、被読取物に対応する高品質な合成画像データを生成することができる。

実施の形態３．
実施の形態１及び実施の形態２に係る画像読取装置１の機能の一部は、ハードウェア構成で実現されてもよいし、あるいは、ＣＰＵ（ｃｅｎｔｒａｌ ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ ｕｎｉｔ）を含むマイクロプロセッサにより実行されるコンピュータプログラムで実現されてもよい。画像読取装置１の機能の一部がコンピュータプログラムで実現される場合には、マイクロプロセッサは、コンピュータ読取り可能な記憶媒体から、又は、インターネットなどの通信によって、当該コンピュータプログラムをロードし実行することによって当該機能の一部を実現することができる。

図１９は、実施の形態３に係る画像読取装置１ｂの機能の一部をコンピュータプログラムで実現する場合の構成を示す機能ブロック図である。図１９に示されるように、画像読取装置１ｂは、撮像部２と、Ａ／Ｄ変換部３と、演算装置５とを備える。演算装置５は、ＣＰＵを含むプロセッサ５１、ＲＡＭ（ｒａｎｄｏｍ ａｃｃｅｓｓ ｍｅｍｏｒｙ）５２、不揮発性メモリ５３、大容量記憶媒体５４、及びバス５５を備える。不揮発性メモリ５３としては、例えば、フラッシュメモリを使用することができる。また、大容量記憶媒体５４としては、例えば、ハードディスク（磁気ディスク）、光ディスク、又は、半導体記憶装置を使用することができる。

Ａ／Ｄ変換部３は、図１のＡ／Ｄ変換部３と同じ機能を有する。撮像部２が出力する電気信号ＳＩは、Ａ／Ｄ変換部３によってデジタルデータに変換され、プロセッサ５１を介してＲＡＭ５２に格納される。

プロセッサ５１は、不揮発性メモリ５３又は大容量記憶媒体５４からコンピュータプログラムをロードし、実行することにより、図１に示される画像処理部４の機能を実現することができる。

図２０は、実施の形態３の演算装置５による処理の一例を概略的に示すフローチャートである。図２０に示されるように、プロセッサ５１は、まず、画像データのうちのオーバーラップ領域におけるデータを読み出し、画素範囲における画像の低域周波数成分を画像データから除去し、低域周波数成分が除去された画像データのうちの、予め決められたライン数の低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥを抽出するオーバーラップ領域低域除去処理を実行する（ステップＳ１）。次に、プロセッサ５１は、低域除去画像データである低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥとを比較する類似度算出処理を実行する（ステップＳ２）。その後、プロセッサ５１は、シフト量推定処理を実行してシフト量データを求める（ステップＳ３）。最後に、プロセッサ５１は、結合処理を実行する（ステップＳ４）。なお、演算装置５によるステップＳ１〜Ｓ４の処理は、実施の形態１における画像処理部４が行う処理と同じである。

以上に説明したように、実施の形態３に係る画像読取装置１ｂにおいては、オーバーラップ領域における画像データに対する処理として、低域周波数成分を画像データから除去して予め決められたライン数の低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥとを得て、類似度を算出し、算出された複数の類似度のうちから最も高い類似度が得られた低域除去比較データの副走査方向の位置からシフト量データを算出しており、このシフト量データｄｙｂに基づいて分割画像の副走査方向の位置をシフトさせて、結合した画像データを生成している。よって、実施の形態３に係る画像読取装置１ｂにおいては、オーバーラップ領域における画像データに対する処理として、ラインセンサ毎の性能及び読取り条件の違いにより生じるレベル差の影響が抑えられた画像データである低域除去基準データＭＯと検索範囲“−ｙ〜＋ｙ”内にあるライン数に等しい数の低域除去比較データＭＥを求めることができる。このため、実施の形態４によれば、誤検出なく、精度のよい副走査方向の位置ずれを示すシフト量データｄｙｂを算出できるとともに、誤検出なく、精度よく得られたシフト量データｄｙｂを位置ずれ量を示す値として得て、得られたシフト量データに基づいて画像メモリ４１から画像データを読み出し、読み出された画像データを結合した画像データを生成することができる。このため、実施の形態３によれば、正確に画像データを結合して被読取物に対応する高品質な合成画像データを生成することができる。

実施の形態４．
実施の形態１においては、図４（ａ）に示されるように、撮像部２の長手方向の一方の端部（例えば、左端）から数えて奇数番目に位置するラインセンサ２１Ｏ_１，…，２１Ｏ_ｋ，…，２１Ｏ_ｎの光軸２７Ｏと偶数番目に位置するラインセンサ２１Ｅ_１，…，２１Ｅ_ｋ，…，２１Ｅ_ｎの光軸２７Ｅとが交差する場合を説明した。実施の形態４においては、撮像部２の長手方向の一方の端部（例えば、図２１（ａ）及び（ｂ）が描かれている紙面に垂直な方向における手前側）から数えて奇数番目に位置するラインセンサ２１Ｏ_１，…，２１Ｏ_ｋ，…，２１Ｏ_ｎ（すなわち、ラインセンサ２１Ｏ）の光軸２８Ｏと偶数番目に位置するラインセンサ２１Ｅ_１，…，２１Ｅ_ｋ，…，２１Ｅ_ｎ（すなわち、ラインセンサ２１Ｅ）の光軸２８Ｅとが交差せず、平行である場合について説明する。実施の形態４に係る画像読取装置は、光軸２８Ｏと光軸２８Ｅが互いに平行である点を除き、実施の形態１に係る画像読取装置１と実質的に同じである。したがって、実施の形態４の説明においては、図１をも参照する。

図２１（ａ）及び（ｂ）は、実施の形態４に係る画像読取装置の撮像部２の奇数番目に位置するラインセンサ２１Ｏ_１，…，２１Ｏ_ｋ，…，２１Ｏ_ｎの光軸２８Ｏと偶数番目に位置するラインセンサ２１Ｅ_１，…，２１Ｅ_ｋ，…，２１Ｅ_ｎの光軸２８Ｅとが平行である場合の、被読取物としての原稿６０とラインセンサとの位置関係を示す概略的な側面図である。図２１（ａ）は、原稿６０が原稿台載置面であるガラス面２６に密着している場合を示し、図２１（ｂ）は、原稿６０がガラス面２６から少し浮いて離れている場合を示す。

実施の形態４に係る画像読取装置おいては、図２１（ａ）に示されるように原稿６０がガラス面２６に密着している場合及び図２１（ｂ）に示されるように原稿６０がガラス面２６から離れている場合のいずれの場合であっても、奇数番目に位置するラインセンサ２１Ｏ_１，…，２１Ｏ_ｋ，…，２１Ｏ_ｎによる原稿６０の読取画像はほとんど変化せず、同様に、偶数番目に位置するラインセンサ２１Ｅ_１，…，２１Ｅ_ｋ，…，２１Ｅ_ｎによる原稿６０の読取画像はほとんど変化しない。また、副走査方向（Ｙ方向）に撮像部２が搬送される場合、奇数番目に位置するラインセンサ２１Ｏ_１，…，２１Ｏ_ｋ，…，２１Ｏ_ｎは、偶数番目に位置するラインセンサ２１Ｅ_１，…，２１Ｅ_ｋ，…，２１Ｅ_ｎに比べて、同じ位置の画像を時間的に遅れて取得するが、光軸２８Ｏと光軸２８Ｅとが平行であるので、読取る副走査方向の位置のずれはほぼ一定量ＹＬとして求めることができる。ただし、ほぼ一定量ＹＬには微小な位置ずれが加わる場合がある。微小な位置ずれとしては、ラインセンサの取り付け誤差等による光軸２８Ｏ又は光軸２８Ｅの位置ずれと搬送速度の時間的なゆらぎ（すなわち、速度変動）による位置ずれとを含む微小位置ずれｂｔを含む。

また、実施の形態１と同様に、ラインセンサ毎に、性能のばらつき及び照明分布などの読取り条件の違いがあるため、ラインセンサ２１Ｏが生成する画像データＤＩ（Ｏ_ｋ）と、ラインセンサ２１Ｅが生成する画像データＤＩ（Ｅ_ｋ）との間に、ラインセンサ毎に読取った画像データのレベル差（明暗の差、画素データの値の差）が生じる場合がある。

図２２は、原稿を読取った際の偶数番目に位置するラインセンサ２１Ｏ_ｋ，２１Ｏ_ｋ＋１に対応する画像データＤＩ（Ｏ_ｋ），ＤＩ（Ｏ_ｋ＋１）と奇数番目に位置するラインセンサ２１Ｅ_ｋ，２１Ｅ_ｋ＋１に対応する画像データＤＩ（Ｅ_ｋ），ＤＩ（Ｅ_ｋ＋１）とを示している。それぞれは、副走査方向の位置（ライン）が、一定量ＹＬに微小位置ずれｂｔ分を加算した量（すなわち、ＹＬ＋ｂｔ）ずれている。

このため、画像処理部４では、画像メモリ４１への書込み時に奇数番目に位置するラインセンサ２１Ｏ_１，…，２１Ｏ_ｋ，…，２１Ｏ_ｎによる読取画像、又は、偶数番目に位置するラインセンサ２１Ｅ_１，…，２１Ｅ_ｋ，…，２１Ｅ_ｎによる読取画像のいずれか一方、又は、両方を、副走査方向にほぼ一定量ＹＬ分ずらす処理を行う。これにより、図２３に示されるように、画像メモリ４１に格納される画像データは、副走査方向の位置（ライン）がｂｔだけずれて画像メモリ４１に格納される。

なお、実施の形態４における上記説明では、画像メモリ４１への画像データの書込み時に、奇数番目の読取画像又は偶数番目の読取画像を副走査方向に一定量ＹＬ分ずらす処理を行う（書込まれる画像データに処理を行う）場合を説明した。しかし、低域除去部４２及び結合処理部４５において画像データを読み出す際に、奇数番目の読取画像又は偶数番目の読取画像を副走査方向に一定量ＹＬ分を、読み出し位置にオフセット分として加えて、位置を求める処理を行う（読み出された画像データに処理を行う）ように構成してもよい。

画像処理部４は、副走査方向の微小位置ずれｂｔを求め、画像を結合するために、オーバーラップ領域における画像データに対して次の処理を行う。すなわち、画像処理部４は、オーバーラップ領域における画像データから低域周波数成分を除去して予め決められたライン数の低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥとを得て、得られた低域除去基準データと低域除去比較データとを比較して類似度を算出し、算出された類似度のうちの最も高い類似度が得られた低域除去比較データの副走査方向の位置からシフト量データを算出し、算出されたシフト量データにより画像メモリ４１から画像データを読み出し、読み出された画像データを結合処理する。このような処理を行う構成、及びこのような処理動作は、上記実施の形態１のものと同じである。

以上に説明したように、実施の形態４に係る画像読取装置においては、撮像部２による撮像時に、原稿６０若しくは撮像部２のいずれか一方、又は、両方を副走査方向に移動する際の搬送機による搬送速度に時間的なゆらぎ（すなわち、速度変動）がある場合であっても、実施の形態１の場合と同様に、オーバーラップ領域における画像データに対しての処理を行うことができる。すなわち、実施の形態４に係る画像読取装置においては、ラインセンサ毎の性能及び読取り条件の違いにより生じるレベル差の影響が抑えられた画像データである低域除去基準データＭＯと低域除去比較データＭＥを求めることができ、誤検出なく、精度のよい副走査方向の位置ずれを示すシフト量データｄｙｂを算出することができるとともに、誤検出なく、精度よく得られたシフト量データｄｙｂを位置ずれ量を示す値として得て、算出されたシフト量データにより画像メモリ４１から画像データを読み出し、読み出された画像データを結合した画像データを生成することができる。このため、実施の形態４によれば、正確に画像データを結合して被読取物に対応する高品質な合成画像データを生成することができる。

本発明は、複写機、スキャナ、及びファクシミリ等の画像読取装置に適用することができる。また、本発明が適用されたプログラムは、複写機、スキャナ、及びファクシミリ等の画像読取装置と通信可能なパーソナルコンピュータなどの情報処理装置に適用することができる。

１ 画像読取装置、 ２ 撮像部、 ３ Ａ／Ｄ変換部、 ４ 画像処理部（画像処理装置）、 ５ 演算装置、 ２０ センサ基板、 ２１Ｏ，２１Ｏ_１，…，２１Ｏ_ｋ，…，２１Ｏ_ｎ 奇数番目に位置するラインセンサ、 ２１Ｅ，２１Ｅ_１，…，２１Ｅ_ｋ，…，２１Ｅ_ｎ 偶数番目に位置するラインセンサ、 ｓｒ ラインセンサの右端の領域、 ｓｌ ラインセンサの左端の領域、 Ａ_１，１，…，Ａ_ｋ，ｋ，Ａ_{ｋ，ｋ＋１}，Ａ_{ｋ＋１，ｋ＋１}，…，Ａ_ｎ，ｎ オーバーラップ領域、 ２５ 照明光源、 ２６Ｒ 赤色光用の光電変換素子、 ２６Ｇ 緑赤色光用の光電変換素子、 ２６Ｂ 青色光用の光電変換素子、 ２７Ｏ，２８Ｏ 奇数番目に位置するラインセンサの光軸、 ２７Ｅ，２８Ｅ 偶数番目に位置するラインセンサの光軸、 ４１ 画像メモリ、 ４２，４２ｂ，４２ｃ，４２ｄ 低域除去部、 ４３ 類似度算出部、 ４４ シフト量推定部、 ４５ 結合処理部、 ５１ プロセッサ、 ５２ ＲＡＭ、 ５３ 不揮発性メモリ、 ５４ 大容量記憶装置、 ６０ 原稿、 ４２１，４２１１，４２１２，４２１ｃ，４２１ｃ１，４２１ｃ２ オーバーラップ低域除去部、 ４２２ 低域成分抽出部、 ４２３ 減算部、 ４２６ 高域成分抽出部、 ４２４ オーバーラップＭＯ画像メモリ、 ４２５ オーバーラップＭＥ画像メモリ、 ４２６ 高域成分抽出部、 ＳＩ 電気信号、 ＤＩ，ＤＩ（Ｏ_ｋ），ＤＩ（Ｅ_ｋ） デジタルデータ（画像データ）、 ｒＭ，ｒＭＯ，ｒＭＥ 画像データ、 ｈＭ，ｈＭＯ，ｈＭＥ 低域除去画像データ、 ＭＯ 低域除去基準データ、 ＭＥ 低域除去比較データ、 Ｄ４３ 相関データ、 ｄｙｂ シフト量データ、 ＲＰ 読み出し位置、 Ｍ４５ 画像データ、 Ｄ４５ 画像データ、 Ｄｙ 撮像部の搬送方向。

Claims (8)

1. 主走査方向に並ぶ複数のラインセンサを、副走査方向の異なる位置に少なくとも２列有し、互いに異なる列の隣接するラインセンサの端部同士が主走査方向における同じ範囲内で重なるオーバーラップ領域を有するように配置されている撮像部によって生成された画像データを処理する画像処理装置において、
   前記複数のラインセンサからの出力に基づく画像データを格納する画像メモリと、
   前記画像メモリに格納された画像データのうちの前記オーバーラップ領域における画像データに対して、注目画素と該注目画素の周辺画素とを含む画素範囲における画像データから予め決められた周波数よりも低い周波数成分である低域周波数成分を除去し、前記低域周波数成分が除去された画像データの前記オーバーラップ領域における副走査方向の予め決められた位置における低域除去基準データと、前記低域除去基準データの前記オーバーラップ領域に重複する領域における前記低域周波数成分が除去された画像データに基づく低域除去比較データとを求める低域除去部と、
   前記低域除去部で求められた前記低域除去基準データと前記低域除去比較データとを比較する処理を、前記低域除去比較データの位置を副走査方向に移動させた複数の位置における複数の低域除去比較データについて行い、前記低域除去基準データと前記複数の低域除去比較データとの間の複数の類似度を算出する類似度算出部と、
   前記低域除去基準データの副走査方向の位置と、前記複数の低域除去比較データのうちの最も高い類似度を持つ低域除去比較データの副走査方向の位置との差分に基づいて、シフト量データを算出するシフト量推定部と、
   前記シフト量推定部によって算出された前記シフト量データに基づいて前記画像メモリから読み出される画像データの副走査方向の位置を決定し、前記決定された位置の画像データを前記画像メモリから読み出し、前記互いに異なる列の隣接するラインセンサによって読み出された画像データを結合することによって合成画像データを生成する結合処理部と
   を備え、
   前記低域除去部は、前記画像メモリから読み出された画像データのうちの前記画素範囲における画像データから、前記注目画素と同じ主走査方向の位置にある副走査方向の複数の位置の画像データに基づく、副走査方向の低域周波数成分を除去して、前記副走査方向の低域周波数成分が除去された前記低域除去基準データと前記低域除去比較データを生成する
   ことを特徴とする画像処理装置。
2. 前記低域除去部は、前記副走査方向の低域周波数成分を、前記注目画素と同じ主走査方向の位置にある副走査方向の複数の位置の画像データの平均を算出して得る
   ことを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
3. 前記低域除去部は、
   前記画像メモリから読み出された画像データのうちの前記画素範囲における画像データから前記低域周波数成分を除去した低域除去画像データを生成するオーバーラップ低域除去部を備えており、
   前記低域除去画像データのうち、前記オーバーラップ領域における副走査方向の予め決められた位置における画像データを前記低域除去基準データとして出力し、
   前記オーバーラップ領域において、前記低域除去基準データの副走査方向の位置と同じ位置及びその前後の副走査方向の位置における前記低域除去画像データから選択された予め決められたライン数の副走査方向の位置におけるデータを前記低域除去比較データとして出力する
   ことを特徴とする請求項１又は２に記載の画像処理装置。
4. 前記オーバーラップ低域除去部は、
   前記画像メモリから読み出された画像データのうちの前記画素範囲における画像データから前記低域周波数成分を抽出する低域成分抽出部と、
   前記低域成分抽出部により抽出された前記低域周波数成分を、前記画像メモリから読み出された前記注目画素の画像データから減算する減算部とを備え、
   前記減算部で得られた前記低域周波数成分が減算された画像データを前記低域除去画像データとする
   ことを特徴とする請求項３に記載の画像処理装置。
5. 前記オーバーラップ低域除去部は、
   前記画像メモリから読み出された画像データのうちの前記画素範囲における画像データから高域周波数成分を抽出する高域成分抽出部を備えており、
   前記抽出された高域周波数成分を、前記低域除去画像データとする
   ことを特徴とする請求項３に記載の画像処理装置。
6. 主走査方向に並ぶ複数のラインセンサを、副走査方向の異なる位置に少なくとも２列有し、互いに異なる列の隣接するラインセンサの端部同士が主走査方向における同じ範囲内で重なるオーバーラップ領域を有するように配置されている撮像部によって生成された画像データを処理する画像処理方法において、
   前記複数のラインセンサからの出力に基づく画像データを画像メモリに格納する格納ステップと、
   前記画像メモリに格納された画像データのうちの前記オーバーラップ領域における画像データに対して、注目画素と該注目画素の周辺画素とを含む画素範囲における画像データから予め決められた周波数よりも低い周波数成分である低域周波数成分を除去し、前記低域周波数成分が除去された画像データの前記オーバーラップ領域における副走査方向の予め決められた位置における低域除去基準データと、前記低域除去基準データの前記オーバーラップ領域に重複する領域における前記低域周波数成分が除去された画像データに基づく低域除去比較データとを求める低域除去ステップと、
   前記低域除去ステップで求められた前記低域除去基準データと前記低域除去比較データとを比較する処理を、前記低域除去比較データの位置を副走査方向に移動させた複数の位置における複数の低域除去比較データについて行い、前記低域除去基準データと前記複数の低域除去比較データとの間の複数の類似度を算出する類似度算出ステップと、
   前記低域除去基準データの副走査方向の位置と、前記複数の低域除去比較データのうちの最も高い類似度を持つ低域除去比較データの副走査方向の位置との差分に基づいて、シフト量データを算出するシフト量推定ステップと、
   前記シフト量推定ステップで算出された前記シフト量データに基づいて前記画像メモリから読み出される画像データの副走査方向の位置を決定し、前記決定された位置の画像データを前記画像メモリから読み出し、前記互いに異なる列の隣接するラインセンサによって読み出された画像データを結合することによって合成画像データを生成する結合処理ステップと
   を備え、
   前記低域除去ステップでは、前記画像メモリから読み出された画像データのうちの前記画素範囲における画像データから、前記注目画素と同じ主走査方向の位置にある副走査方向の複数の位置の画像データに基づく、副走査方向の低域周波数成分を除去して、前記副走査方向の低域周波数成分が除去された前記低域除去基準データと前記低域除去比較データを生成する
   ことを特徴とする画像処理方法。
7. 主走査方向に並ぶ複数のラインセンサを、副走査方向の異なる位置に少なくとも２列有し、互いに異なる列の隣接するラインセンサの端部同士が主走査方向における同じ範囲内で重なるオーバーラップ領域を有するように配置されている撮像部と、
   前記複数のラインセンサからの出力に基づく画像データを格納する画像メモリと、
   前記画像メモリに格納された画像データのうちの前記オーバーラップ領域における画像データに対して、注目画素と該注目画素の周辺画素とを含む画素範囲における画像データから予め決められた周波数よりも低い周波数成分である低域周波数成分を除去し、前記低域周波数成分が除去された画像データの前記オーバーラップ領域における副走査方向の予め決められた位置における低域除去基準データと、前記低域除去基準データの前記オーバーラップ領域に重複する領域における前記低域周波数成分が除去された画像データに基づく低域除去比較データとを求める低域除去部と、
   前記低域除去部で求められた前記低域除去基準データと前記低域除去比較データとを比較する処理を、前記低域除去比較データの位置を副走査方向に移動させた複数の位置における複数の低域除去比較データについて行い、前記低域除去基準データと前記複数の低域除去比較データとの間の複数の類似度を算出する類似度算出部と、
   前記低域除去基準データの副走査方向の位置と、前記複数の低域除去比較データのうちの最も高い類似度を持つ低域除去比較データの副走査方向の位置との差分に基づいて、シフト量データを算出するシフト量推定部と、
   前記シフト量推定部によって算出された前記シフト量データに基づいて前記画像メモリから読み出される画像データの副走査方向の位置を決定し、前記決定された位置の画像データを前記画像メモリから読み出し、前記互いに異なる列の隣接するラインセンサによって読み出された画像データを結合することによって合成画像データを生成する結合処理部と
   を備え、
   前記低域除去部は、前記画像メモリから読み出された画像データのうちの前記画素範囲における画像データから、前記注目画素と同じ主走査方向の位置にある副走査方向の複数の位置の画像データに基づく、副走査方向の低域周波数成分を除去して、前記副走査方向の低域周波数成分が除去された前記低域除去基準データと前記低域除去比較データを生成する
   ことを特徴とする画像読取装置。
8. 主走査方向に並ぶ複数のラインセンサを、副走査方向の異なる位置に少なくとも２列有し、互いに異なる列の隣接するラインセンサの端部同士が主走査方向における同じ範囲内で重なるオーバーラップ領域を有するように配置されている撮像部によって生成された画像データの処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
   前記複数のラインセンサからの出力に基づく画像データを画像メモリに格納する格納処理と、
   前記画像メモリに格納された画像データのうちの前記オーバーラップ領域における画像データに対して、注目画素と該注目画素の周辺画素とを含む画素範囲における画像データから予め決められた周波数よりも低い周波数成分である低域周波数成分を除去し、前記低域周波数成分が除去された画像データの前記オーバーラップ領域における副走査方向の予め決められた位置における低域除去基準データと、前記低域除去基準データの前記オーバーラップ領域に重複する領域における前記低域周波数成分が除去された画像データに基づく低域除去比較データとを求める低域除去処理であって、前記画像メモリから読み出された画像データのうちの前記画素範囲における画像データから、前記注目画素と同じ主走査方向の位置にある副走査方向の複数の位置の画像データに基づく、副走査方向の低域周波数成分を除去して、前記副走査方向の低域周波数成分が除去された前記低域除去基準データと前記低域除去比較データを生成する低周波除去処理と、
   前記低域除去処理で求められた前記低域除去基準データと前記低域除去比較データとを比較する処理を、前記低域除去比較データの位置を副走査方向に移動させた複数の位置における複数の低域除去比較データについて行い、前記低域除去基準データと前記複数の低域除去比較データとの間の複数の類似度を算出する類似度算出処理と、
   前記低域除去基準データの副走査方向の位置と、前記複数の低域除去比較データのうちの最も高い類似度を持つ低域除去比較データの副走査方向の位置との差分に基づいて、シフト量データを算出するシフト量推定処理と、
   前記シフト量推定処理で算出された前記シフト量データに基づいて前記画像メモリから読み出される画像データの副走査方向の位置を決定し、前記決定された位置の画像データを前記画像メモリから読み出し、前記互いに異なる列の隣接するラインセンサによって読み出された画像データを結合することによって合成画像データを生成する結合処理と
   をコンピュータに実行させるプログラム。

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