JP6226854B2 - 光パルス試験装置及び光パルス試験方法 - Google Patents
光パルス試験装置及び光パルス試験方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6226854B2 JP6226854B2 JP2014230643A JP2014230643A JP6226854B2 JP 6226854 B2 JP6226854 B2 JP 6226854B2 JP 2014230643 A JP2014230643 A JP 2014230643A JP 2014230643 A JP2014230643 A JP 2014230643A JP 6226854 B2 JP6226854 B2 JP 6226854B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- test
- frequency
- pulse
- optical
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
Pth ∝ (1+Δvs/Δvb)/Leff (式1)
ここで、Δvbはブリルアン利得帯域幅であり、一般の石英系光ファイバではその半値全幅で約35MHz程度で、全体的に約100MHz程度の広がりを有していると言われている。
<第1の実施形態>
図1は本発明の第1の実施形態の光パルス試験装置を示すブロック構成図である。
上記光周波数制御器16から出力された試験光は、光パルス化処理器17で光パルス化された後、光増幅器18で信号光パワーが増幅される。また、第2の光源11から出力されたダミー光は、光パルス化処理器12で光パルス化された後、光増幅器18で信号光パワーが増幅される。
(条件1)
局発光の周波数をfLOとし、試験パルス光を構成する複数の周波数成分のうち、前記局発光の周波数と周波数領域で最も離れた周波数成分の周波数をfN、とした時、その差分周波数|fLO−fN|は、バランス型光受信器25及び数値化処理器27の受信帯域の半分以下、すなわち実効的なサンプリング帯域以下となるようにする。これは、サンプリングにおけるナイキストの定理による要請のためである。
(条件2)
時間領域において隣り合う周波数成分の間、すなわち周波数が切り替わる境界点において位相が連続である必要がある。これは、周波数が切り替わる境界点において位相が不連続となると、後方散乱光を受信した信号のスペクトルサイドローブが高くなり、複数の周波数成分間のクロストークの影響が顕著になるためである。
(条件3)
前記複数の周波数成分は、所定の時間範囲S(秒)で区切られた複数のグループから構成され、周波数領域で隣り合う周波数成分同士は互いに異なるグループに配置され、かつ時間領域で隣り合う周波数成分同士の周波数差が、前記被試験光ファイバのブリルアン利得帯域に対応する周波数帯域幅よりも大きくする必要がある。
<第2の実施形態>
図3は、本発明の第2の実施形態の光パルス試験装置を示すブロック構成図である。前記第1の実施形態と基本的な構成は同様であり、異なる点のみを以下に説明する。
Claims (8)
- コヒーレント光を発する信号光発生手段と、
前記信号光発生手段からの出力光を分岐し局発光と試験光とを生成する光分岐手段と、
前記試験光の周波数を時間的に変化させる試験光周波数制御手段と、
前記周波数が時間的に変化させられた試験光をパルス化して試験パルス光を生成するパルス化手段と、
前記試験パルス光を被試験光ファイバに入射し、前記被試験光ファイバの各地点で反射または散乱により発生した後方散乱光と前記局発光をヘテロダイン検波して得られるビート信号をサンプリングする数値化手段と、
前記サンプリングされたビート信号を周波数分離し、前記被試験光ファイバの長さ方向の後方散乱光強度分布を演算する演算処理手段と
を備えた光パルス試験装置であって、
前記試験パルス光は、所定の時間で連続する複数の周波数成分を有し、
前記複数の周波数成分の時間領域および周波数領域における配置は、
所定の時間範囲で区切られた複数のグループを有し、
周波数領域で隣り合う周波数成分同士は互いに異なるグループに配置され、
時間領域で隣り合う周波数成分同士の周波数差が、前記被試験光ファイバのブリルアン利得帯域に対応する周波数帯域幅と同等かそれよりも大きい、光パルス試験装置。 - 前記所定の時間範囲は、前記被試験光ファイバの有効相互作用長に対応した時間と同等かそれよりも大きい、請求項1に記載の光パルス試験装置。
- 前記局発光に対して抑圧搬送波両側波帯変調する局発光周波数制御手段をさらに備え、
前記試験パルス光の周波数帯域が前記数値化処理手段の実効的なサンプリング帯域よりも大きい、請求項1または請求項2に記載の光パルス試験装置。 - 前記試験パルス光の強度波形は、前記時間領域で隣り合う周波数成分の間で強度が零になるように変調されている、請求項3に記載の光パルス試験装置。
- コヒーレント光を分岐し局発光と試験光とを生成し、
前記試験光の周波数を時間的に変化させ、
前記周波数が時間的に変化させられた試験光をパルス化して試験パルス光を生成し、
前記試験パルス光を被試験光ファイバに入射し、前記被試験光ファイバの各地点で反射または散乱により発生した後方散乱光と前記局発光をヘテロダイン検波して得られるビート信号をサンプリングし、
前記サンプリングされたビート信号を周波数分離し、前記被試験光ファイバの長さ方向の後方散乱光強度分布を演算し、
前記試験パルス光は、所定の時間で連続する複数の周波数成分を有し、
前記複数の周波数成分の時間領域および周波数領域における配置は、
所定の時間範囲で区切られた複数のグループを有し、
周波数領域で隣り合う周波数成分同士は互いに異なるグループに配置され、
時間領域で隣り合う周波数成分同士の周波数差が、前記被試験光ファイバのブリルアン利得帯域に対応する周波数帯域幅と同等かそれよりも大きい、
光パルス試験装置における光パルス試験方法。 - 前記所定の時間範囲は、前記被試験光ファイバの有効相互作用長に対応した時間と同等かそれよりも大きい、請求項5に記載の光パルス試験方法。
- 前記局発光に対して抑圧搬送波両側波帯変調することをさらに備え、
前記試験パルス光の周波数帯域が前記数値化処理手段の実効的なサンプリング帯域よりも大きい、請求項5または請求項6に記載の光パルス試験方法。 - 前記試験パルス光の強度波形は、前記時間領域で隣り合う周波数成分の間で強度が零になるように変調されている、請求項7に記載の光パルス試験方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014230643A JP6226854B2 (ja) | 2014-11-13 | 2014-11-13 | 光パルス試験装置及び光パルス試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014230643A JP6226854B2 (ja) | 2014-11-13 | 2014-11-13 | 光パルス試験装置及び光パルス試験方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016095193A JP2016095193A (ja) | 2016-05-26 |
JP6226854B2 true JP6226854B2 (ja) | 2017-11-08 |
Family
ID=56070219
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014230643A Active JP6226854B2 (ja) | 2014-11-13 | 2014-11-13 | 光パルス試験装置及び光パルス試験方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6226854B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108072506B (zh) * | 2016-11-15 | 2019-10-15 | 上海朗研光电科技有限公司 | 双重复频率otdr的快速测量方法 |
CN113884753B (zh) * | 2021-08-17 | 2024-05-03 | 之江实验室 | 一种激光器输出功率测量电路 |
CN117590300A (zh) * | 2023-11-21 | 2024-02-23 | 兰州大学 | 基于分布式光纤声波传感的超导磁体失超检测***及方法 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB9700269D0 (en) * | 1997-01-08 | 1997-02-26 | York Sensors Ltd | Improvements to optical time domain reflectometry |
JP4898555B2 (ja) * | 2007-05-23 | 2012-03-14 | 日本電信電話株式会社 | 光パルス試験装置 |
JP2009293950A (ja) * | 2008-06-02 | 2009-12-17 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光反射測定装置 |
CN102047092B (zh) * | 2008-06-02 | 2013-01-30 | 住友电气工业株式会社 | 光线路监视装置及光线路监视*** |
JP5448903B2 (ja) * | 2010-02-15 | 2014-03-19 | 日本電信電話株式会社 | 光パルス試験装置 |
CN102142892B (zh) * | 2010-06-30 | 2014-12-17 | 华为技术有限公司 | 一种探测脉冲的产生方法和相干光时域反射仪 |
JP5849056B2 (ja) * | 2013-02-18 | 2016-01-27 | 日本電信電話株式会社 | 光パルス試験装置及び光パルス試験方法 |
-
2014
- 2014-11-13 JP JP2014230643A patent/JP6226854B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2016095193A (ja) | 2016-05-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5448903B2 (ja) | 光パルス試験装置 | |
WO2017054564A1 (zh) | 一种激光器相位噪声消除装置、***及方法 | |
JP2019507327A (ja) | 周波数合成に基づいた光周波数領域反射方法及びシステム | |
US20200116556A1 (en) | High-Rate Distributed Acoustic Sensing Using High-Power Light Pulses | |
JP7156386B2 (ja) | 光パルス試験装置及び光パルス試験方法 | |
JP2010127840A (ja) | 光波レーダ装置 | |
WO2020071128A1 (ja) | 後方散乱光増幅装置、光パルス試験装置、後方散乱光増幅方法、及び光パルス試験方法 | |
JP6308184B2 (ja) | 光ファイバ歪み測定装置及び光ファイバ歪み測定方法 | |
JP2021156822A (ja) | 光ファイバ振動検知装置及び振動検知方法 | |
JP6226854B2 (ja) | 光パルス試験装置及び光パルス試験方法 | |
JP6308183B2 (ja) | 光ファイバ歪み測定装置及び光ファイバ歪み測定方法 | |
JP5849056B2 (ja) | 光パルス試験装置及び光パルス試験方法 | |
US11385127B2 (en) | Optical frequency multiplexing coherent OTDR, testing method, signal processing device, and program | |
US11486791B2 (en) | Backscattering optical amplification device, optical pulse testing device, backscattering optical amplification method and optical pulse testing method | |
JP5753834B2 (ja) | 光パルス試験装置及び光パルス試験方法 | |
JP6658256B2 (ja) | ガス検知システム | |
JP5753882B2 (ja) | 光パルス試験装置とその試験光パルス送信ユニット及び光パルス試験方法 | |
Iida et al. | Ultra high dynamic range coherent optical time domain reflectometry employing frequency division multiplexing | |
JP5907908B2 (ja) | 光分岐線路の特性解析装置及びその特性解析方法 | |
JP5941877B2 (ja) | 光パルス試験装置及び光パルス試験方法 | |
JP2009293950A (ja) | 光反射測定装置 | |
Ishimaru et al. | Single-end vibration measurement in fast BOTDA method based on broadband light with fiber mirror reflector | |
JP4898555B2 (ja) | 光パルス試験装置 | |
JP2024024903A (ja) | 光ファイバセンサ及びブリルアン周波数シフト測定方法 | |
JP2011174760A (ja) | 光周波数領域反射測定方法及び光周波数領域反射測定装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20161208 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20170920 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20171003 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20171010 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6226854 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |