JP6219264B2 - 入力装置とその制御方法及びプログラム - Google Patents

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Description

本発明は、静電容量の変化などを利用して物体の近接状態に応じた情報を入力する入力装置とその制御方法及びプログラムに係り、特に、コンピュータ等の各種の情報機器において指やペンなどの操作に応じた情報を入力する入力装置に関する。
静電容量の変化を検出するセンサは、簡易な構成で物体(指やペンなど)の近接を検出できることから、ノート型コンピュータのタッチパッドや、スマートフォンのタッチパネルなど、各種の電子機器のユーザーインターフェース装置に広く用いられている。
下記の特許文献1には、複数の電極が配置されたタッチパネル部を備えるタッチパネル装置が記載されている。タッチパネル部の複数の電極の中から走査電極が決定され、当該決定された走査電極に対してタッチパネル部が操作されることにより、各電極の静電容量の変化が反映された計測値が取得され、その取得された計測値に基づいてタッチパネル部へのタッチの有無が検出される。
国際公開第2012/117437号
しかしながら、このような入力装置は、センサの検出面に近接する物体を感度よく検出できるように構成されていることから、特にセンサにおいて外部からの電磁ノイズを受け易いという問題がある。例えば上述した静電容量式のセンサの場合、物体の近接に伴う電極の静電容量の変化を微小な電荷量の変化として検出するため、ノイズの影響により物体の座標や接触状態の誤検知を生じ易いという問題がある。
本発明はかかる事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、ノイズによる検出エラーの影響を低減できる入力装置とその制御方法及びプログラムを提供することにある。
本発明の第1の観点は、検出面への物体の近接状態に応じた情報を入力する入力装置に関する。この入力装置は、前記検出面の複数の位置における物体の近接の度合いを検出し、当該検出結果を示す検出データを前記複数の位置のそれぞれについて生成するセンサ部と、前記複数の位置における前記検出データを1サイクルごとに生成する周期的な検出動作を行うように前記センサ部を制御するセンサ制御部と、前記検出動作の1サイクルごとに、前記複数の位置について生成された複数の前記検出データを取得する検出データ取得部と、前記検出データの時間的な変化の度合い及び位置的な変化の度合いに応じて、ノイズによる前記検出動作のエラーの有無を1サイクルごとに判定するエラー判定部とを有する。前記検出データ取得部は、前記エラー判定部によって一のサイクルの検出動作にエラーがあると判定された場合、当該一のサイクルにおいて生成された検出データの取得処理をスキップする。
上記の構成によれば、前記検出面の複数の位置における物体の近接度合いを示す複数の検出データが、前記センサ部によって周期的に生成される。前記センサ部の周期的な検出動作の1サイクルごとに、前記複数の位置について生成された前記複数の検出データが前記検出データ取得部によって取得される。また、前記エラー判定部では、前記検出データの時間的な変化の度合い及び位置的な変化の度合いに応じて、ノイズによる前記検出動作のエラーの有無が1サイクルごとに判定される。前記エラー判定部によって一のサイクルの検出動作にエラーがあると判定された場合、前記検出データ取得部では、当該一のサイクルにおいて生成された検出データの取得処理がスキップされる。
従って、検出データの時間的な変化の度合い及び位置的な変化の度合いに応じて、ノイズによる検出動作のエラーの有無が的確に判定される。また、ノイズによる検出動作のエラーがあると判定されたサイクルにおいて生成された検出データの取得処理がスキップされるため、ノイズによる検出エラーの影響が効果的に低減される。
好適に、前記エラー判定部は、前記検出動作の1サイクルごとに、前記検出データの時間的な変化の度合いが更に位置的に変化する度合いに応じた評価値を算出し、当該算出した評価値が所定のエラー判定条件を満たす場合、前記検出動作のエラーがあると判定してよい。
この場合、前記エラー判定部は、前記検出動作の連続した複数サイクルにおける前記検出データの時間的変化量の差であって、前記検出面の一の位置における前記時間的変化量と当該一の位置に隣接する位置における前記時間的変化量との差に応じた前記評価値を、前記複数の位置の少なくとも一部について算出してよい。
好適に、前記エラー判定部は、前記検出動作の1サイクルごとに、前記検出データの位置的な変化の度合いが更に時間的に変化する度合いに応じた評価値を算出し、当該算出した評価値が所定のエラー判定条件を満たす場合、前記検出動作のエラーがあると判定してよい。
この場合、前記エラー判定部は、前記検出面の一の位置における前記検出データと当該一の位置に隣接する位置における前記検出データとの差が、前記検出動作の連続した複数サイクルにおいて変化した量に応じた前記評価値を、前記複数の位置の少なくとも一部について算出してよい。
好適に、前記エラー判定部は、前記複数の位置の少なくとも一部について算出した前記評価値の和と所定のしきい値とを比較し、当該比較結果に応じて前記検出動作のエラーの有無を判定してよい。
これにより、ノイズによって局所的に生じた検出データの変化が把握され易くなる。
好適に、前記エラー判定部は、前記複数の位置の少なくとも一部について算出した前記評価値と所定のしきい値とをそれぞれ比較し、当該比較結果が所定の大小関係の条件を満たす前記位置の数が所定の数に達する場合、前記検出動作のエラーがあると判定してよい。
これにより、非常に小さな領域の検出データだけがノイズによって大きく変化した場合、前記検出動作のエラーとして判定され難くなる。
好適に、前記エラー判定部は、前記検出動作の1サイクルごとに、前記検出面の一の位置における前記検出データと当該一の位置に隣接する位置における前記検出データとの差に応じた第1評価値、及び、前記検出動作の連続した2サイクルにおける前記検出データの時間的変化量に応じた第2評価値を、前記複数の位置の少なくとも一部について算出し、当該算出した第1評価値及び第2評価値が所定のエラー判定条件を満たす場合、前記検出動作のエラーがあると判定してよい。
この場合、前記エラー判定部は、前記複数の位置の少なくとも一部について算出した前記第1評価値の和と第1しきい値とを比較した結果、及び、前記複数の位置の少なくとも一部について算出した前記第2評価値の和と第2しきい値とを比較した結果に応じて、前記検出動作のエラーの有無を判定してよい。
あるいは、前記エラー判定部は、前記複数の位置の少なくとも一部について算出した前記第1評価値と第1しきい値とをそれぞれ比較した結果において、所定の大小関係の条件を満たす前記位置の数が所定の数に達すること、及び/又は、前記複数の位置の少なくとも一部について算出した前記第2評価値と所定の第2しきい値とをそれぞれ比較した結果において、所定の大小関係の条件を満たす前記位置の数が所定の数に達することを条件として、前記検出動作のエラーがあると判定してもよい。
本発明の第2の観点は、検出面の複数の位置において物体の近接の度合い検出し、当該検出結果を示す検出データを前記複数の位置のそれぞれについて生成するセンサ部を備えており、前記検出面への物体の近接状態に応じた情報を入力する入力装置をコンピュータが制御する方法に関する。この入力装置の制御方法は、前記複数の位置における前記検出データを1サイクルごとに生成する周期的な検出動作を行うように前記センサ部を制御するステップと、前記検出動作の1サイクルごとに、前記複数の位置について生成された複数の前記検出データを取得するステップと、前記検出動作の1サイクルごとに、前記検出データの時間的な変化の度合い及び位置的な変化の度合いに応じて、ノイズによる前記検出動作のエラーの有無を判定するステップとを有する。前記検出データを取得するステップは、前記エラーを判定するステップにおいて一のサイクルの検出動作にエラーがあると判定された場合、当該一のサイクルにおいて生成された検出データの取得処理をスキップする。
好適に、前記エラーを判定するステップは、前記検出動作の1サイクルごとに、前記検出データの時間的な変化の度合いが更に位置的に変化する度合いに応じた評価値を算出し、当該算出した評価値が所定のエラー判定条件を満たす場合、前記検出動作のエラーがあると判定してよい。
この場合、前記エラーを判定するステップは、前記検出動作の連続した複数サイクルにおける前記検出データの時間的変化量の差であって、前記検出面の一の位置における前記時間的変化量と当該一の位置に隣接する位置における前記時間的変化量との差に応じた前記評価値を、前記複数の位置の少なくとも一部について算出してよい。
好適に、前記エラーを判定するステップは、前記検出動作の1サイクルごとに、前記検出データの位置的な変化の度合いが更に時間的に変化する度合いに応じた評価値を算出し、当該算出した評価値が所定のエラー判定条件を満たす場合、前記検出動作のエラーがあると判定してよい。
この場合、前記エラーを判定するステップは、前記検出面の一の位置における前記検出データと当該一の位置に隣接する位置における前記検出データとの差が、前記検出動作の連続した複数サイクルにおいて変化した量に応じた前記評価値を、前記複数の位置の少なくとも一部について算出してよい。
好適に、前記エラーを判定するステップは、前記複数の位置の少なくとも一部について算出した前記評価値の和と所定のしきい値とを比較し、当該比較結果に応じて前記検出動作のエラーの有無を判定してよい。
好適に、前記エラーを判定するステップは、前記複数の位置の少なくとも一部について算出した前記評価値と所定のしきい値とをそれぞれ比較し、当該比較結果が所定の大小関係の条件を満たす前記位置の数が所定の数に達する場合、前記検出動作のエラーがあると判定してよい。
好適に、前記エラーを判定するステップは、前記検出動作の1サイクルごとに、前記検出面の一の位置における前記検出データと当該一の位置に隣接する位置における前記検出データとの差に応じた第1評価値、及び、前記検出動作の連続した2サイクルにおける前記検出データの時間的変化量に応じた第2評価値を、前記複数の位置の少なくとも一部について算出し、当該算出した第1評価値及び第2評価値が所定のエラー判定条件を満たす場合、前記検出動作のエラーがあると判定してよい。
本発明の第3の観点は、本発明の第2の観点に係る上記入力装置の制御方法をコンピュータに実行させるためのプログラムに関する。
本発明によれば、ノイズによる検出エラーの影響を低減できる。
本発明の実施形態に係る入力装置の構成の一例を示す図である。 検出動作の1サイクルごとにセンサ部から入力される検出データ群の一例を示す図である。図2Aは、直近のサイクルにおいて入力された検出データ群を示す。図2Bは、図2Aに示す検出データ群より1つ前のサイクルにおいて入力された検出データ群を示す。 検出データの時間的変化量の位置的な分布が、ノイズによる場合と物体の近接による場合とで異なることを説明するための図である。図3Aはノイズの影響によって現れた検出データの時間的変化量の分布を示し、図3Bは物体の近接によって現れた検出データの時間的変化量の分布を示す。 第1の実施形態に係る入力装置における検出動作のエラー判定と検出データの取得に係わる処理を説明するためのフローチャートである。 第2の実施形態に係る入力装置における検出動作のエラー判定と検出データの取得に係わる処理を説明するためのフローチャートである。 第3の実施形態に係る入力装置における検出動作のエラー判定と検出データの取得に係わる処理を説明するためのフローチャートである。 第4の実施形態に係る入力装置における検出動作のエラー判定と検出データの取得に係わる処理を説明するための第1のフローチャートである。 第4の実施形態に係る入力装置における検出動作のエラー判定と検出データの取得に係わる処理を説明するための第2のフローチャートである。 第5の実施形態に係る入力装置における検出動作のエラー判定と検出データの取得に係わる処理を説明するための第1のフローチャートである。 第5の実施形態に係る入力装置における検出動作のエラー判定と検出データの取得に係わる処理を説明するための第2のフローチャートである。
<第1の実施形態>
図1は、本発明の実施形態に係る入力装置の構成の一例を示す図である。
図1に示す入力装置は、センサ部10と、処理部20と、記憶部30と、インターフェース部40を有する。本実施形態に係る入力装置は、センサが設けられた検出面に指やペンなどの物体を近接させることによって、その近接状態に応じた情報を入力する装置である。なお、本明細書における「近接」とは、接触した状態で近くにあることと、接触しない状態で近くにあることを両方含む。
[センサ部10]
センサ部10は、検出面に分布する複数の検出位置において、指やペンなどの物体の近接の度合いをそれぞれ検出する。例えばセンサ部10は、物体の近接に応じて静電容量が変化する容量性センサ素子(キャパシタ)12がマトリクス状に形成されたセンサマトリクス11と、容量性センサ素子12の静電容量に応じた検出データを生成する検出データ生成部13と、容量性センサ素子12に駆動電圧を印加する駆動部14を有する。
センサマトリクス11は、縦方向(Y方向)に延在した複数の駆動電極Lxと、横方向(X方向)に延在した複数の検出電極Lyを備える。複数の駆動電極Lxは横方向(X方向)へ平行に並び、複数の検出電極Lyは縦方向(Y方向)へ平行に並ぶ。複数の駆動電極Lxと複数の検出電極Lyが格子状に交差しており、互いに絶縁されている。駆動電極Lxと検出電極Lyの交差部付近に容量性センサ素子12が形成される。なお、図1の例では電極(Lx,Ly)の形状が短冊状に描かれているが、他の任意の形状(ダイヤモンドパターンなど)でもよい。
駆動部14は、センサマトリクス11の各容量性センサ素子12に駆動電圧を印加する。具体的には、駆動部14は、処理部20の制御に従って、複数の駆動電極Lxから順番に一の駆動電極Lxを選択し、当該選択した一の駆動電極Lxの電位を周期的に変化させる。駆動電極Lxの電位が所定の範囲で変化することにより、この駆動電極Lxと検出電極Lyとの交差点付近に形成された容量性センサ素子12に印加される駆動電圧が所定の範囲で変化し、容量性センサ素子12において充電や放電が生じる。
検出データ生成部13は、駆動部14による駆動電圧の印加に伴って容量性センサ素子12が充電又は放電される際に各検出電極Lyにおいて伝送される電荷に応じた検出データを生成する。すなわち、検出データ生成部13は、駆動部14の駆動電圧の周期的な変化と同期したタイミングで、各検出電極Lyにおいて伝送される電荷をサンプリングし、そのサンプリングの結果に応じた検出データを生成する。
例えば、検出データ生成部13は、容量性センサ素子12の静電容量に応じた電圧を出力する静電容量−電圧変換回路(CV変換回路)と、CV変換回路の出力信号をデジタル信号に変換し、検出データとして出力するアナログ−デジタル変換回路(AD変換回路)を有する。
CV変換回路は、駆動部14の駆動電圧が周期的に変化して容量性センサ素子12が充電又は放電される度に、処理部20の制御に従って、検出電極Lyにおいて伝送される電荷をサンプリングする。具体的には、CV変換回路は、検出電極Lyにおいて正又は負の電荷が伝送される度に、この電荷若しくはこれに比例した電荷を参照用のキャパシタに移送し、参照用のキャパシタに発生する電圧に応じた信号を出力する。例えば、CV変換回路は、検出電極Lyにおいて周期的に伝送される電荷若しくはこれに比例した電荷の積算値や平均値に応じた信号を出力する。AD変換回路は、処理部20の制御に従って、CV変換回路の出力信号を所定の周期でデジタル信号に変換し、検出データとして出力する。
なお、上述の例において示したセンサ部10は、電極間(Lx,Ly)に生じる静電容量(相互容量)の変化によって物体の近接を検出するものであるが、この例に限らず、他の種々の方式によって物体の近接を検出してもよい。例えば、センサ部10は、物体の接近によって電極とグランドの間に生じる静電容量(自己容量)を検出する方式でもよい。自己容量を検出する方式の場合、検出電極に駆動電圧が印加される。また、センサ部10は、静電容量方式に限定されるものではなく、例えば抵抗膜方式や電磁誘導式などでもよい。
[処理部20]
処理部20は、入力装置の全体的な動作を制御する回路であり、例えば、記憶部30に格納されるプログラムの命令コードに従って処理を行うコンピュータや、特定の機能を実現するロジック回路を含んで構成される。処理部20の処理は、その全てをコンピュータとプログラムにより実現してもよいし、その一部若しくは全部を専用のロジック回路で実現してもよい。
図1の例において、処理部20は、センサ制御部21と、検出データ取得部22と、エラー判定部23と、検出データ処理部24を有する。
センサ制御部21は、検出面の複数の検出位置(センサマトリクス11の各容量性センサ素子12)における検出データを1サイクルごとに生成する周期的な検出動作を行うようにセンサ部10を制御する。具体的には、センサ制御部21は、駆動部14における駆動電極の選択とパルス電圧の発生、並びに、検出データ生成部13における検出電極の選択と検出データの生成が周期的に適切なタイミングで行われるように、これらの回路を制御する。
検出データ取得部22は、センサ部10の検出動作の1サイクルごとに、検出面の複数の検出位置について生成された複数の検出データ(検出データ群)をセンサ部10から取得する。ただし、検出データ取得部22は、後述するエラー判定部23において一のサイクルの検出動作にエラーがあると判定された場合、当該一のサイクルにおいて生成された検出データの取得処理をスキップする。
例えば、検出データ取得部22は、検出動作の1サイクルごとにセンサ部10から検出データ群を入力し、これを入力データDIとして記憶部30に保存する。検出データ取得部22は、エラー判定部23によりエラーが無いと判定されたサイクルにおいて生成された入力データDIについては、これを出力データDOとして記憶部30に保存する。一方、検出データ取得部22は、エラーが有ると判定されたサイクルにおいて生成された入力データDIについては、出力データDOとして記憶部30に保存しない。エラー判定によって記憶部30の出力データDOが更新されなかったサイクルについては、例えば、前回のサイクルと同一値の検出データ群(出力データDO)が取得されたものとみなして後段ブロック(検出データ処理部24等)の処理が行われる。
エラー判定部23は、センサ部10において生成される検出データの時間的な変化の度合い及び位置的な変化の度合いに応じて、ノイズによる検出動作のエラーの有無を1サイクルごとに判定する。
例えば、エラー判定部23は、センサ部10による検出動作の1サイクルごとに、検出データの時間的な変化の度合いが更に位置的に変化する度合いに応じた評価値Eを算出し、当該算出した評価値Eが所定のエラー判定条件を満たす場合、センサ部10の検出動作のエラーがあると判定する。
具体的には、エラー判定部23は、連続した複数サイクルにおいて生成された検出データの時間的変化量の差に応じた評価値Eを算出する。
ここで「時間的変化量」とは、連続した複数サイクルにおいて生成された同一検出位置の検出データの変化量である。例えば、連続した2サイクルにおける検出データの差や、連続した3以上のサイクルにおける検出データの変化の大きさに関連する値(最大値と最小値との差、分散、標準偏差など)を「時間的変化量」としてよい。
また、「検出データの時間的変化量の差」とは、検出面の一の検出位置における時間的変化量と、当該一の検出位置に隣接する検出位置における時間的変化量との差である。「隣接する検出位置」は、1つのみでもよいし、複数でもよい。「隣接する検出位置」が複数の場合、例えば、一の検出位置における時間的変化量と、これに隣接する複数の検出位置における時間的変化量の平均値との差を「検出データの時間的変化量の差」としてよい。
エラー判定部23は、「検出データの時間的変化量の差」に応じた評価値Eを、検出面の複数の検出位置における少なくとも一部の検出位置について算出し、それらの和Sを求める。エラー判定部23は、算出した評価値Eの和Sを所定のしきい値TH1と比較し、当該比較結果に応じて検出動作のエラーの有無を判定する。
例えばエラー判定部23は、検出データ取得部22によってセンサ部10から1サイクルごとに入力される検出データ群(入力データDI,入力データOLD)を用いて、評価値Eの算出を行う。
図2は、検出動作の1サイクルごとにセンサ部10から入力される検出データ群(入力データDI)の一例を示す図である。図2Aは直近のサイクルにおいて入力された検出データ群(入力データDI)を示し、図2Bは入力データDIより1つ前のサイクルにおいて入力された検出データ群(入力データOLD)を示す。
図2の例に示す検出データ群(入力データDI,OLD)は、行列状の2次元データを形成する。“DI[n][m]”は入力データDIにおけるm行n列の行列要素を示し、“OLD[n][m]”は入力データOLDにおけるm行n列の行列要素を示す。
この2次元データの各行列要素は、検出面において行列状に配置されたM×N個の検出位置の各々について生成された検出データを示す。検出位置の行列状の配置における行方向をX方向とし、列方向をY方向とすると、2次元データの行番号と列番号は、検出位置のX座標とY座標をそれぞれ表わす。すなわち、2次元データにおけるm行n列の要素は、検出面におけるX座標が“n”、Y座標が“m”の検出位置(以下、「検出位置P(n,m)」と記す)について生成された検出データを示す。
検出位置P(n,m)における評価値E(n,m)は、例えば次の式で表わされる。
式(1)における「dDI(n,m)/dt」は、検出位置P(n,m)について生成される検出データの時間的変化量を示す。また「dDI(n+1,m)/dt」は、検出位置P(n+1,m)について生成される検出データの時間的変化量を示す。これらの時間的変化量は、例えば次の式で表わされる。
エラー判定部23は、検出面の全体における評価値E(n,m)の和Sを、例えば次の式により算出する。
エラー判定部23は、この和Sが所定のしきい値TH1より大きい場合、ノイズによる検出動作のエラーがあると判定する。
検出データ処理部24は、検出データ取得部22において1サイクルごとに取得される出力データDOに基づいて、物体が近接する位置の座標を算出する処理や、物体の種類を判定する処理などを行う。
例えば、検出データ処理部24は、検出データ取得部22によって取得された行列形式の出力データDOと、記憶部30の別の記憶領域(ベース値メモリ)に予め格納した行列形式のベース値との差を演算し、それらの演算結果を行列形式の2次元データとして記憶部30に格納する。ベース値メモリには、検出面に物体が近接していない状態における検出データの基準となる値(ベース値)が記憶される。
検出データ処理部24は、このベース値からの変化量を示す2次元データに基づいて、検出面上における物体の近接領域を特定し、特定した近接領域の形状や当該近接領域内のデータ値の分布などから物体の座標を算出する。また、検出データ処理部24は、座標が算出された物体の検出面における近接領域の面積や、近接領域内におけるデータ値の大きさなどに基づいて、物体の接触の有無や物体の種類(指/掌)を判定する。
[記憶部30]
記憶部30は、処理部20において処理に使用される定数データや変数データを記憶する。処理部20がコンピュータを含む場合、記憶部30は、そのコンピュータにおいて実行されるプログラムを記憶してもよい。記憶部30は、例えば、DRAMやSRAMなどの揮発性メモリ、フラッシュメモリなどの不揮発性メモリ、ハードディスクなどを含んで構成される。
[インターフェース部40]
インターフェース部40は、入力装置と他の制御装置(入力装置を搭載する情報機器のコントロール用ICなど)との間でデータをやり取りするための回路である。処理部20は、記憶部30に記憶される情報(物体の座標情報、物体数など)をインターフェース部40から図示しない制御装置へ出力する。また、インターフェース部40は、処理部20のコンピュータにおいて実行されるプログラムを不図示のディスクドライブ装置(非一時的記録媒体に記録されたプログラムを読み取る装置)やサーバなどから取得して、記憶部30にロードしてもよい。
次に、上述した構成を有する入力装置における検出動作のエラー判定とこれに応じた検出データの取得について説明する。
図3は、検出データの時間的変化量の位置的な分布が、ノイズによる場合と物体の近接による場合とで異なることを説明するための図である。図3Aはノイズの影響によって現れた検出データの時間的変化量の分布を示し、図3Bは物体(指など)の近接によって現れた検出データの時間的変化量の分布を示す。
指などの物体の近接によって検出データが変化する場合、その時間的変化量は図3Bにおいて示すように比較的小さく、また、時間的変化量の位置的な変化は比較的緩やかに現れる。これに対して、ノイズの影響により検出データが変化する場合は、その時間的変化量が図3Aにおいて示すように大きくなり、時間的変化量の位置的な変化は急峻に現れる。
従って、ノイズの影響により検出データが変化する場合は、式(2−1),(2−2)に示す時間的変化量が大きくなり、これらの時間的変化量の差を二乗して得られる式(1)の評価値E(n,m)も大きくなるため、評価値E(n,m)を足し合わせた式(3)の和Sは大きな値となる。従って、和Sが所定のしきい値TH1を超える場合、ノイズによる検出動作のエラーがあると判定することができる。
図4は、第1の実施形態に係る入力装置における検出動作のエラー判定と検出データの取得に係わる処理を説明するためのフローチャートである。
ST100:
動作を開始する際、処理部20は、記憶部30に記憶される入力データDI,DO及び出力データDOを初期化する。
ST110:
検出データ取得部22は、センサ部10から1サイクル分の検出データ群(検出面におけるN×M個の検出位置に対応したN×M個の検出データ)を入力し、これを入力データDIとして記憶部30に格納する。
ST120:
エラー判定部23は、検出位置のY座標を示す“m”と評価値Eの和を示す“S”をゼロに初期化する。
ST130:
エラー判定部23は、検出位置のX座標を示す“n”をゼロに初期化する。
ST140:
エラー判定部23は、記憶部30に記憶される直近の入力データDIと前回の入力データOLDを参照し、検出位置P(n,m)における評価値E(n,m)を算出する。なお、入力データDIと前回の入力データOLDに基づいた評価値Eの算出は、式(1)に示すような二乗の演算に限定されない。例えば、式(1)における二乗の演算の代わりに絶対値を算出してもよいし、二分の一乗(平方根)や四乗の演算を行ってもよい。
ST150:
エラー判定部23は、ステップST140において算出した評価値E(n,m)を和Sに加算する。
ST240,ST250:
エラー判定部23は、検出位置のX座標を示す“n”に「1」を加えて、この“n”が「N−1」以上になったか否か判定する。“n”が「N−1」より小さい場合、エラー判定部23はステップST140に戻り、上述した評価値E(n,m)の算出と和Sの更新を繰り返す。“n”が「N−1」以上の場合、エラー判定部23は次のステップST310に移行する。
ST310,ST320:
エラー判定部23は、検出位置のY座標を示す“m”に「1」を加えて、この“m”が「M」以上になったか否か判定する。“m”が「M」より小さい場合、エラー判定部23はステップST130に戻り、ステップST130〜ST250の処理を繰り返す。“m”が「M」以上の場合、エラー判定部23は次のステップST330に移行する。
ST330:
エラー判定部23は、検出面の全体の評価値Eを足し合わせた結果である和Sをしきい値TH1と比較する。和Sがしきい値TH1より小さい場合、エラー判定部23は、センサ部10の検出動作のエラーは無いと判定する。和Sがしきい値TH1以上となる場合、エラー判定部23は、検出動作のエラーがあると判定する。
ST350:
エラー判定部23においてエラーが無いと判定された場合、検出データ取得部22は、直近のサイクルにおいてセンサ部10から入力した入力データDIを出力データDOとして記憶部30に格納する(検出データ取得処理)。一方、エラー判定部23においてエラーがあると判定された場合、検出データ取得部22は、この検出データ取得処理をスキップする。検出データ取得処理がスキップされたサイクルでは、記憶部30に格納される出力データDOが更新されない。
ST360:
エラー判定部23は、記憶部30に記憶される入力データDIを入力データOLDに代入し、ステップST110に戻る。これにより、直近のサイクルの入力データDIが前回のサイクルの入力データOLDとして記憶部30に保存された上で、入力データDIが最新の値に更新される。
以上説明したように、本実施形態に係る入力装置によれば、検出データの時間的な変化の度合い及び位置的な変化の度合いに応じて、ノイズによる検出動作のエラーの有無を的確に判定することができる。また、ノイズによる検出動作のエラーがあると判定されたサイクルにおいて生成された検出データの取得処理がスキップされることにより、誤った検出データに基づいて座標の算出等が行われることを防止できるため、ノイズによる検出エラーの影響を効果的に低減できる。
また、本実施形態に係る入力装置によれば、検出面の各検出位置における評価値Eを足し合わせた和Sに基づいて検出動作のエラーの有無が判定されるため、ノイズの影響によって局所的に生じた検出データの変化が把握され易くなり、エラーの有無をより正確に判定することができる。
<第2の実施形態>
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。
第2の実施形態に係る入力装置は、第1の実施形態に係る入力装置におけるエラー判定部23の判定動作を変更したものであり、他の構成については第1の実施形態に係る入力装置と同じである。
第2の実施形態におけるエラー判定部23は、センサ部10による検出動作の1サイクルごとに、検出データの位置的な変化の度合いが更に時間的に変化する度合いに応じた評価値EAを算出する。エラー判定部23は、評価値EAが所定のエラー判定条件を満たす場合、センサ部10の検出動作のエラーがあると判定する。
具体的には、エラー判定部23は、検出動作の連続した複数サイクルにおいて、検出データの位置的変化量が更に時間的に変化した量に応じた評価値EAを算出する。
ここで「位置的変化量」とは、検出面の一の位置における検出データと、当該一の位置に隣接する位置における検出データとの差である。「隣接する検出位置」は、1つのみでもよいし、複数でもよい。「隣接する検出位置」が複数の場合、例えば、一の検出位置における検出データと、これに隣接する複数の検出位置における検出データの平均値との差を「位置的変化量」としてよい。
また、「位置的変化量が更に時間的に変化した量」とは、同一検出位置についての位置的変化量が連続した複数サイクルにおいて変化した量である。例えば、連続した2サイクルにおける位置的変化量の差や、連続した3以上のサイクルにおける位置的変化量の変化の大きさに関連する値(最大値と最小値との差、分散、標準偏差など)を「位置的変化量が更に時間的に変化した量」としてよい。
エラー判定部23は、「位置的変化量が更に時間的に変化した量」に応じた評価値EAを、検出面の複数の検出位置における少なくとも一部の検出位置について算出し、それらの和SAを求める。エラー判定部23は、算出した評価値EAの和SAを所定のしきい値TH1と比較し、当該比較結果に応じて検出動作のエラーの有無を判定する。
検出位置P(n,m)における評価値EA(n,m)は、例えば次の式で表わされる。
式(4)における「dDI(n,m)/dx」は、検出位置P(n,m)について算出される入力データDIの検出データの位置的変化量を示す。また「dOLD(n,m)/dx」は、検出位置P(n,m)について算出される入力データOLDの検出データの位置的変化量を示す。これらの位置的変化量は、例えば次の式で表わされる。
エラー判定部23は、検出面の全体における評価値EA(n,m)の和SAを、例えば次の式により算出する。
エラー判定部23は、この和SAが所定のしきい値TH1より大きい場合、ノイズによる検出動作のエラーがあると判定する。
図5は、第2の実施形態に係る入力装置における検出動作のエラー判定と検出データの取得に係わる処理を説明するためのフローチャートである。図5に示すフローチャートは、図4に示すフローチャートにおけるステップST120をステップST120Aに変更し、ステップST140,ST150をステップST140A,ST150Aに変更し、ステップST330をステップST330Aに変更したものであり、他のステップは図4に示すフローチャートと同じである。ここでは、変更したステップについてのみ説明する。
ST120A:
エラー判定部23は、検出位置のY座標を示す“m”と評価値EAの和を示す“SA”をゼロに初期化する。
ST140A:
エラー判定部23は、記憶部30に記憶される直近の入力データDIと前回の入力データOLDを参照し、検出位置P(n,m)における評価値EA(n,m)を算出する。
ST150A:
エラー判定部23は、ステップST140Aにおいて算出した評価値EA(n,m)を和SAに加算する。
ST330A:
エラー判定部23は、検出面の全体の評価値EAを足し合わせた結果である和SAをしきい値TH1と比較する。和SAがしきい値TH1より小さい場合、エラー判定部23は、センサ部10の検出動作のエラーは無いと判定する。和SAがしきい値TH1より大きい場合、エラー判定部23は、検出動作のエラーがあると判定する。
以上説明した第2の実施形態に係る入力装置においても、第1の実施形態に係る入力装置と同様の効果を奏することができる。すなわち、検出データの時間的な変化の度合い及び位置的な変化の度合いに応じて、ノイズによる検出動作のエラーの有無を的確に判定することができる。また、ノイズによる検出動作のエラーがあると判定されたサイクルにおいて生成された検出データの取得処理がスキップされるため、ノイズによる検出エラーの影響を効果的に低減できる。
<第3の実施形態>
次に、本発明の第3の実施形態について説明する。
第3の実施形態に係る入力装置は、第1の実施形態に係る入力装置におけるエラー判定部23の判定動作を変更したものであり、他の構成については第1の実施形態に係る入力装置と同じである。
第3の実施形態におけるエラー判定部23は、検出データの時間的な変化の度合い及び位置的な変化の度合いを示す評価値E(例えば式(1))を、検出面における複数の検出位置の少なくとも一部について算出し、この算出した評価値Eと所定のしきい値TH2とをそれぞれ比較する。そして、当該比較結果が所定の大小関係(例えば「E≧TH2」)の条件を満たす検出位置の数「K」を計数し、この計数値Kが所定のしきい値TH3に達した場合、検出動作のエラーがあると判定する。
図6は、第3の実施形態に係る入力装置における検出動作のエラー判定と検出データの取得に係わる処理を説明するためのフローチャートである。図6に示すフローチャートは、図4に示すフローチャートにおけるステップST120をステップST120Bに変更し、ステップST150をステップST160及びST170に置換し、ステップST330をステップST340に置換したものであり、他のステップは図4に示すフローチャートと同じである。ここでは、変更又は置換したステップについてのみ説明する。
ST120B:
エラー判定部23は、検出位置のY座標を示す“m”と計数値Kをゼロに初期化する。
ST160,ST170:
エラー判定部23は、ステップST140において算出した評価値Eをしきい値TH2と比較し、評価値Eがしきい値TH2より大きい場合は計数値Kに「1」を加算する。評価値Eがしきい値TH2より小さい場合、エラー判定部23は計数値Kの値を維持する。
ST340:
エラー判定部23は、評価値Eがしきい値TH2より大きい検出位置の数である計数値Kを所定のしきい値TH3と比較する。計数値Kがしきい値TH3より小さい場合、エラー判定部23は、センサ部10の検出動作のエラーは無いと判定する。計数値Kがしきい値TH3より大きい場合、エラー判定部23は、検出動作のエラーがあると判定する。
なお、上述したフローチャートの例において、エラー判定部23は式(1)の評価値Eをしきい値TH2と比較しているが、評価値Eの代わりに式(4)の評価値EAをしきい値TH2と比較してもよい。
以上説明した第3の実施形態に係る入力装置においても、第1の実施形態に係る入力装置と同様の効果を奏することができる。すなわち、検出データの時間的な変化の度合い及び位置的な変化の度合いに応じて、ノイズによる検出動作のエラーの有無を的確に判定することができる。また、ノイズによる検出動作のエラーがあると判定されたサイクルにおいて生成された検出データの取得処理がスキップされるため、ノイズによる検出エラーの影響を効果的に低減できる。
更に、本実施形態に入力装置では、ノイズによって評価値Eや評価値EAが局所的に極端に大きな値になっても、その領域が非常に小さい場合には、検出面全体の検出動作のエラーとして判定されないようにすることができる。非常に小さい領域で生じた検出データのエラーは、後段のフィルタ処理によって除去できる可能性があるため、このような場合には検出面全体の検出動作のエラーとして判定しないことにより、検出データの取得処理が一時停止されることによる物体の検知性能の低下を抑えることができる。
<第4の実施形態>
次に、本発明の第4の実施形態について説明する。
第4の実施形態に係る入力装置は、第1の実施形態に係る入力装置におけるエラー判定部23の判定動作を変更したものであり、他の構成については第1の実施形態に係る入力装置と同じである。
第4の実施形態におけるエラー判定部23は、検出データの位置的変化量に応じた第1評価値E1、及び、検出データの時間的変化量に応じた第2評価値E2を、検出面における複数の検出位置の少なくとも一部について算出し、当該算出した第1評価値E1及び第2評価値E2が所定のエラー判定条件を満たす場合、センサ部10の検出動作のエラーがあると判定する。
ここで、「位置的変化量」とは、検出面の一の位置における検出データと、当該一の位置に隣接する位置における検出データとの差である。「隣接する検出位置」は、1つのみでもよいし、複数でもよい。「隣接する検出位置」が複数の場合、例えば、一の検出位置における検出データと、これに隣接する複数の検出位置における検出データの平均値との差を「位置的変化量」としてよい。
また、「時間的変化量」とは、連続した複数サイクルにおいて生成された同一検出位置の検出データの変化量である。例えば、連続した2サイクルにおける検出データの差や、連続した3以上のサイクルにおける検出データの変化の大きさに関連する値(最大値と最小値との差、分散、標準偏差など)を「時間的変化量」としてよい。
検出位置P(n,m)における「位置的変化量」に応じた第1評価値E1は、例えば次の式で表わされる。
また、検出位置P(n,m)における「時間的変化量」に応じた第2評価値E2は、例えば次の式で表わされる。
エラー判定部23は、検出面の全体における第1評価値E1(n,m)の和S1及び第2評価値E2(n,m)の和S2を、例えば次の式により算出する。
エラー判定部23は、この和S1が所定のしきい値TH4より大きく、かつ、和S2が所定のしきい値TH5より大きい場合、ノイズによる検出動作のエラーがあると判定する。
図7及び図8は、第4の実施形態に係る入力装置における検出動作のエラー判定と検出データの取得に係わる処理を説明するためのフローチャートである。図7及び図8に示すフローチャートは、図4に示すフローチャートにおけるステップST120をステップST120Cに変更し、ステップST140をステップST140C,ST140Dに置換し、ステップST150をステップST150C,ST150Dに置換し、ステップST330をステップST330Cに変更したものであり、他のステップは図4に示すフローチャートと同じである。ここでは、変更又は置換したステップについてのみ説明する。
ST120C:
エラー判定部23は、検出位置のY座標を示す“m”、第1評価値E1の和を示す“S1”、及び、第2評価値E2の和を示す“S2”をそれぞれゼロに初期化する。
ST140C,ST140D:
エラー判定部23は、記憶部30に記憶される直近の入力データDIと前回の入力データOLDを参照し、検出位置P(n,m)における第1評価値E1(n,m)と第2評価値E2(n,m)を算出する。
ST150C,ST150D:
エラー判定部23は、ステップST140Cにおいて算出した第1評価値E1(n,m)を和S1に加算し、ステップST140Dにおいて算出した第2評価値E2(n,m)を和S2に加算する。
ST330C:
エラー判定部23は、検出面の全体の第1評価値E1を足し合わせた結果である和S1をしきい値TH4と比較するとともに、検出面の全体の第2評価値E2を足し合わせた結果である和S2をしきい値TH5と比較する。和S1がしきい値TH4より小さく、かつ和S2がしきい値TH5より小さい場合、エラー判定部23は、センサ部10の検出動作のエラーは無いと判定する。一方、和S1がしきい値TH4より大きいか、又は、和S2がしきい値TH5より大きい場合、エラー判定部23は、検出動作のエラーがあると判定する。
なお、別の変形例において、エラー判定部23は、和S1がしきい値TH4より小さいか、又は、和S2がしきい値TH5より小さい場合に、センサ部10の検出動作のエラーが無いと判定し、和S1がしきい値TH4より大きく、かつ、和S2がしきい値TH5より大きい場合に、センサ部10の検出動作のエラーがあると判定してもよい。
以上説明した第4の実施形態に係る入力装置においても、第1の実施形態に係る入力装置と同様の効果を奏することができる。すなわち、検出データの時間的な変化の度合い及び位置的な変化の度合いに応じて、ノイズによる検出動作のエラーの有無を的確に判定することができる。また、ノイズによる検出動作のエラーがあると判定されたサイクルにおいて生成された検出データの取得処理がスキップされるため、ノイズによる検出エラーの影響を効果的に低減できる。
<第5の実施形態>
次に、本発明の第5の実施形態について説明する。
第5の実施形態に係る入力装置は、第1の実施形態に係る入力装置におけるエラー判定部23の判定動作を変更したものであり、他の構成については第1の実施形態に係る入力装置と同じである。
第5の実施形態におけるエラー判定部23は、検出データの位置的変化量に応じた第1評価値E1(例えば式(7))、及び、検出データの時間的変化量に応じた第2評価値E2(例えば式(8))を、検出面における複数の検出位置の少なくとも一部について算出する。
エラー判定部23は、算出した第1評価値E1と所定のしきい値TH6とをそれぞれ比較し、当該比較結果が所定の大小関係(例えば「E1≧TH6」)の条件を満たす検出位置の数「K1」を計数する。また、エラー判定部23は、算出した第2評価値E2と所定のしきい値TH7とをそれぞれ比較し、当該比較結果が所定の大小関係(例えば「E2≧TH7」)の条件を満たす検出位置の数「K2」を計数する。
そして、エラー判定部23は、計数値K1が所定のしきい値TH8に達するとともに、計数値K2が所定のしきい値TH9に達した場合、検出動作のエラーがあると判定する。
図9及び図10は、第5の実施形態に係る入力装置における検出動作のエラー判定と検出データの取得に係わる処理を説明するためのフローチャートである。図9及び図10に示すフローチャートは、既に説明した図7及び図8に示すフローチャートにおけるステップST120CをステップST120Eに変更し、ステップST150CをステップST160E及びST170Eに置換し、ステップST150DをステップST160F及びST170Fに置換し、ステップST330CをステップST340Eに置換したものであり、他のステップは図7及び図8に示すフローチャートと同じである。ここでは、変更又は置換したステップについてのみ説明する。
ST120E:
エラー判定部23は、検出位置のY座標を示す“m”と計数値K1,K2をそれぞれゼロに初期化する。
ST160E,ST170E:
エラー判定部23は、ステップST140Cにおいて算出した第1評価値E1をしきい値TH6と比較し、第1評価値E1がしきい値TH6より大きい場合は計数値K1に「1」を加算する。第1評価値E1がしきい値TH6より小さい場合、エラー判定部23は計数値K1の値を維持する。
ST160F,ST170F:
エラー判定部23は、ステップST140Dにおいて算出した第2評価値E2をしきい値TH7と比較し、第2評価値E2がしきい値TH7より大きい場合は計数値K2に「1」を加算する。第2評価値E2がしきい値TH7より小さい場合、エラー判定部23は計数値K2の値を維持する。
ST340E:
エラー判定部23は、第1評価値E1がしきい値TH6より大きい検出位置の数である計数値K1を所定のしきい値TH8と比較するとともに、第2評価値E2がしきい値TH7より大きい検出位置の数である計数値K2を所定のしきい値TH9と比較する。計数値K1がしきい値TH8より小さく、かつ、計数値K2がしきい値TH9より小さい場合、エラー判定部23は、センサ部10の検出動作のエラーは無いと判定する。計数値K1がしきい値TH8より大きいか、又は、計数値K2がしきい値TH9より大きい場合、エラー判定部23は、検出動作のエラーがあると判定する。
なお、別の変形例において、エラー判定部23は、計数値K1がしきい値TH8より小さいか、又は、計数値K2がしきい値TH9より小さい場合に、センサ部10の検出動作のエラーが無いと判定し、計数値K1がしきい値TH8より大きく、かつ、計数値K2がしきい値TH9より大きい場合に、センサ部10の検出動作のエラーがあると判定してもよい。
以上説明した第5の実施形態に係る入力装置においても、第1の実施形態に係る入力装置と同様の効果を奏することができる。すなわち、検出データの時間的な変化の度合い及び位置的な変化の度合いに応じて、ノイズによる検出動作のエラーの有無を的確に判定することができる。また、ノイズによる検出動作のエラーがあると判定されたサイクルにおいて生成された検出データの取得処理がスキップされるため、ノイズによる検出エラーの影響を効果的に低減できる。
以上、本発明の種々の実施形態について説明したが、本発明は上述した実施形態にのみ限定されるものではなく、種々のバリエーションを含んでいる。
例えば、上述した各実施形態における処理部20の各処理ブロックは、コンピュータとプログラムによって構成してもよいし、専用のハードウェアを用いて構成してもよい。
また、上述した各実施形態のエラー判定部23において、評価値の算出に用いられる「検出データの位置的変化量」はX方向のみの変化量であるが、この位置的変化量はY方向のみの変化量でもよいし、X方向とY方向の両方(あるいは3以上の多方向)についての変化量でもよい。
本発明の入力装置は、指等の操作による情報を入力するユーザーインターフェース装置に限定されない。すなわち、本発明の入力装置は、人体に限定されない様々な物体の検出面への近接状態に応じた情報を入力する装置に広く適用可能である。
10…センサ部、11…センサマトリクス、13…検出データ生成部、14…駆動部、20…処理部、21…センサ制御部、22…検出データ取得部、23…エラー判定部、24…検出データ処理部、30…記憶部、40…インターフェース部。

Claims (19)

  1. 検出面への物体の近接状態に応じた情報を入力する入力装置であって、
    前記検出面の複数の位置における物体の近接の度合いを検出し、当該検出結果を示す検出データを前記複数の位置のそれぞれについて生成するセンサ部と、
    前記複数の位置における前記検出データを1サイクルごとに生成する周期的な検出動作を行うように前記センサ部を制御するセンサ制御部と、
    前記検出動作の1サイクルごとに、前記複数の位置について生成された複数の前記検出データを取得する検出データ取得部と、
    前記検出データの時間的な変化の度合い及び位置的な変化の度合いに応じて、ノイズによる前記検出動作のエラーの有無を1サイクルごとに判定するエラー判定部とを有し、
    前記検出データ取得部は、前記エラー判定部によって一のサイクルの検出動作にエラーがあると判定された場合、当該一のサイクルにおいて生成された検出データの取得処理をスキップする
    ことを特徴とする入力装置。
  2. 前記エラー判定部は、前記検出動作の1サイクルごとに、前記検出データの時間的な変化の度合いが更に位置的に変化する度合いに応じた評価値を算出し、当該算出した評価値が所定のエラー判定条件を満たす場合、前記検出動作のエラーがあると判定する
    ことを特徴とする請求項1に記載の入力装置。
  3. 前記エラー判定部は、前記検出動作の連続した複数サイクルにおける前記検出データの時間的変化量の差であって、前記検出面の一の位置における前記時間的変化量と当該一の位置に隣接する位置における前記時間的変化量との差に応じた前記評価値を、前記複数の位置の少なくとも一部について算出する
    ことを特徴とする請求項2に記載の入力装置。
  4. 前記エラー判定部は、前記検出動作の1サイクルごとに、前記検出データの位置的な変化の度合いが更に時間的に変化する度合いに応じた評価値を算出し、当該算出した評価値が所定のエラー判定条件を満たす場合、前記検出動作のエラーがあると判定する
    ことを特徴とする請求項1に記載の入力装置。
  5. 前記エラー判定部は、前記検出面の一の位置における前記検出データと当該一の位置に隣接する位置における前記検出データとの差が、前記検出動作の連続した複数サイクルにおいて変化した量に応じた前記評価値を、前記複数の位置の少なくとも一部について算出する
    ことを特徴とする請求項4に記載の入力装置。
  6. 前記エラー判定部は、前記複数の位置の少なくとも一部について算出した前記評価値の和と所定のしきい値とを比較し、当該比較結果に応じて前記検出動作のエラーの有無を判定する
    ことを特徴とする請求項3又は5に記載の入力装置。
  7. 前記エラー判定部は、前記複数の位置の少なくとも一部について算出した前記評価値と所定のしきい値とをそれぞれ比較し、当該比較結果が所定の大小関係の条件を満たす前記位置の数が所定の数に達する場合、前記検出動作のエラーがあると判定する
    ことを特徴とする請求項3又は5に記載の入力装置。
  8. 前記エラー判定部は、前記検出動作の1サイクルごとに、前記検出面の一の位置における前記検出データと当該一の位置に隣接する位置における前記検出データとの差に応じた第1評価値、及び、前記検出動作の連続した2サイクルにおける前記検出データの時間的変化量に応じた第2評価値を、前記複数の位置の少なくとも一部について算出し、当該算出した第1評価値及び第2評価値が所定のエラー判定条件を満たす場合、前記検出動作のエラーがあると判定する
    ことを特徴とする請求項1に記載の入力装置。
  9. 前記エラー判定部は、前記複数の位置の少なくとも一部について算出した前記第1評価値の和と第1しきい値とを比較した結果、及び、前記複数の位置の少なくとも一部について算出した前記第2評価値の和と第2しきい値とを比較した結果に応じて、前記検出動作のエラーの有無を判定する
    ことを特徴とする請求項8に記載の入力装置。
  10. 前記エラー判定部は、前記複数の位置の少なくとも一部について算出した前記第1評価値と第1しきい値とをそれぞれ比較した結果において、所定の大小関係の条件を満たす前記位置の数が所定の数に達すること、及び/又は、前記複数の位置の少なくとも一部について算出した前記第2評価値と所定の第2しきい値とをそれぞれ比較した結果において、所定の大小関係の条件を満たす前記位置の数が所定の数に達することを条件として、前記検出動作のエラーがあると判定する
    ことを特徴とする請求項8に記載の入力装置。
  11. 検出面の複数の位置において物体の近接の度合い検出し、当該検出結果を示す検出データを前記複数の位置のそれぞれについて生成するセンサ部を備えており、前記検出面への物体の近接状態に応じた情報を入力する入力装置をコンピュータが制御する方法であって、
    前記複数の位置における前記検出データを1サイクルごとに生成する周期的な検出動作を行うように前記センサ部を制御するステップと、
    前記検出動作の1サイクルごとに、前記複数の位置について生成された複数の前記検出データを取得するステップと、
    前記検出動作の1サイクルごとに、前記検出データの時間的な変化の度合い及び位置的な変化の度合いに応じて、ノイズによる前記検出動作のエラーの有無を判定するステップとを有し、
    前記検出データを取得するステップは、前記エラーを判定するステップにおいて一のサイクルの検出動作にエラーがあると判定された場合、当該一のサイクルにおいて生成された検出データの取得処理をスキップする
    ことを特徴とする入力装置の制御方法。
  12. 前記エラーを判定するステップは、前記検出動作の1サイクルごとに、前記検出データの時間的な変化の度合いが更に位置的に変化する度合いに応じた評価値を算出し、当該算出した評価値が所定のエラー判定条件を満たす場合、前記検出動作のエラーがあると判定する
    ことを特徴とする請求項11に記載の入力装置の制御方法。
  13. 前記エラーを判定するステップは、前記検出動作の連続した複数サイクルにおける前記検出データの時間的変化量の差であって、前記検出面の一の位置における前記時間的変化量と当該一の位置に隣接する位置における前記時間的変化量との差に応じた前記評価値を、前記複数の位置の少なくとも一部について算出する
    ことを特徴とする請求項12に記載の入力装置の制御方法。
  14. 前記エラーを判定するステップは、前記検出動作の1サイクルごとに、前記検出データの位置的な変化の度合いが更に時間的に変化する度合いに応じた評価値を算出し、当該算出した評価値が所定のエラー判定条件を満たす場合、前記検出動作のエラーがあると判定する
    ことを特徴とする請求項11に記載の入力装置の制御方法。
  15. 前記エラーを判定するステップは、前記検出面の一の位置における前記検出データと当該一の位置に隣接する位置における前記検出データとの差が、前記検出動作の連続した複数サイクルにおいて変化した量に応じた前記評価値を、前記複数の位置の少なくとも一部について算出する
    ことを特徴とする請求項14に記載の入力装置の制御方法。
  16. 前記エラーを判定するステップは、前記複数の位置の少なくとも一部について算出した前記評価値の和と所定のしきい値とを比較し、当該比較結果に応じて前記検出動作のエラーの有無を判定する
    ことを特徴とする請求項13又は15に記載の入力装置の制御方法。
  17. 前記エラーを判定するステップは、前記複数の位置の少なくとも一部について算出した前記評価値と所定のしきい値とをそれぞれ比較し、当該比較結果が所定の大小関係の条件を満たす前記位置の数が所定の数に達する場合、前記検出動作のエラーがあると判定する
    ことを特徴とする請求項13又は15に記載の入力装置の制御方法。
  18. 前記エラーを判定するステップは、前記検出動作の1サイクルごとに、前記検出面の一の位置における前記検出データと当該一の位置に隣接する位置における前記検出データとの差に応じた第1評価値、及び、前記検出動作の連続した2サイクルにおける前記検出データの時間的変化量に応じた第2評価値を、前記複数の位置の少なくとも一部について算出し、当該算出した第1評価値及び第2評価値が所定のエラー判定条件を満たす場合、前記検出動作のエラーがあると判定する
    ことを特徴とする請求項11に記載の入力装置の制御方法。
  19. 請求項11乃至18の何れか一項に記載された入力装置の制御方法をコンピュータに実行させるためのプログラム。
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