JP6185701B2 - 形状測定装置 - Google Patents
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Description
従って、光てこ方式の形状測定装置はその光センサで検出した反射光の変位量(角度変化)とカンチレバーの探針の変位量との相関関係を利用して、測定対象の表面上に存在する微細な凹凸部位の高さ情報が算定できる。このようにして、測定者は光てこ方式の形状測定装置により求めた各測定点での測定試料の表面の高さ情報に基づいて総合的に測定試料の表面の形状を評価することによって、その測定対象の表面の1次元および2次元の凹凸形状を取得することができる。
この要求に応えるために、例えば特許文献4では測定子に直角三面反射体を設け、その直角三面反射体からの複数の反射光を検出する技術が提案されている。その技術によれば、形状測定時の測定子の捻じれによる変位量を直角三面反射体からの複数の反射光の変位量から取得し、形状の測定結果の値からその捻じれ量を差し引くことで正確な測定結果のみを得ることができるとしている。
他方、その参照鏡26を透過した透過光はλ/4板60を透過した後、集光レンズ62によってカンチレバー16の測定部位16a(探針14の取り付け面とは反対側の面で探針14の取り付け部位の中心に対応する位置)へ集光される。その測定部位16aに集光された光は、測定対象の表面の凹凸形状に追従して上下方向に変位する探針14と共に変位する測定部位16aによって反射され、透過光の光路上へ戻ることになる。
そして、その測定部位16aで反射された光を測定光とするが、その測定光は集光レンズ62とλ/4板60を透過して参照鏡26へ入射する。測定光は再度λ/4板60を透過したために、参照光に対して直交する偏波面を持つ偏光光に変換される。
カンチレバー16に取り付けられた探針8は走査手段としての水平走査ステージ18の駆動によって測定対象40の表面上で水平走査されるが、探針14は測定対象40の表面の形状に追従して上下動するためにカンチレバー16が撓み、カンチレバー16の測定部位16aからの反射光である測定光には探針14の変位量が加わる。その測定光に含まれる探針14の変位量に基づいて、カンチレバー16の撓みが一定となるように、形状測定装置80は弾性ヒンジ20aと圧電素子20bとからなるZ方向駆動機構20を上下方向に作動させる。
このように、特許文献6に記載の移動誤差の低減機能を備えた形状測定装置80は、参照光を基準にし、測定対象の表面の凹凸に追従して変位する探針の測定部位からの反射光である測定光の信号を評価することにより、原理的には水平ステージ18およびZ方向駆動機構20による移動誤差の影響を受けない測定方法を提供することができるものである。
以前から移動誤差が非常に少ない高精度な走査手段の製作が考えられているが、移動誤差を生じない走査手段を開発することは現実的に不可能であり、かつそのような理想的な走査手段が開発されたとしても、それは極めて高価であることが予測される。したがって、走査手段の高精度化は本発明の課題解決の手段としては採用しなかった。
また、走査手段で発生する移動誤差の影響を排除することが可能であるとされているものとして特許文献4があるが、特許文献4の図1〜図6に示されている直角三面反射体56を用いた複雑な装置機構は汎用性に乏しいと考えられる。
例えば、測定中に周辺環境の温度変化によって移動誤差を引き起こす部材としては測定対象に対する位置および姿勢が固定された基準部材を支える支柱の長さなどが挙げられる。ここで支柱の熱膨張による基準部材の位置の変化についてより具体的に記述すれば、たとえ熱膨張率の低い材料であっても、微細な測定対象表面の凹凸形状に対する基準部材の位置の変化は無視できない。
例えば、温度に依存して変化する支柱の伸び量(Δd)は次の(数1)で示される。
Δd=α×d×ΔT
上記(数1)において、αは熱膨張係数(/℃)、dは支柱の長さ(mm)、ΔTは周辺温度の変化量(℃)である。
それぞれの変数に、以下に示す数値を当てはめて具体的な計算を行うと次のようになる。すなわち、支柱に使用している金属の熱膨張率α=18.7×10−6[/℃]、支柱の長さd=50[mm]、周辺温度の変化ΔT=1[℃]である時、支柱の伸び量Δdは(数2)で示される。
(数2)
Δd=18.7×10−6[/℃]×50[mm]×1[℃]
=935[nm]
ここで、本発明では周辺温度変化による測定値の変化を「温度ドリフト量」と呼ぶ。その温度ドリフトは、特に基準部材が装置周辺の温度変化に応じて生ずる長さの変化を指すが、別段、基準部材に限られるものでなく、それ以外の構成要素が周辺温度の変化によって熱膨張、熱収縮する際の影響も考慮するものである。
そのため、それら構成部材毎の熱膨張率、または熱伝導率を明らかにし、測定時間内で温度変化が起きた時刻に合わせて各部材の温度ドリフト量を計算しなければならず、そのような方法は現実的ではない。また、たとえ温度のモニター結果と形状測定装置を構成する各部材の金属の熱膨張率とに基づいて形状測定結果から温度ドリフト量を差し引くように補正したとしても、その補正値はあくまでその手法による値であり、その実測値から周辺温度変化による形状測定装置の各部材の微小な移動に基づく移動誤差の影響を完全には取り除くことはできない。
光源からの光を前記カンチレバーに集光する集光レンズを備え、集光レンズは前記カンチレバーと共に走査される。
また、本発明は温度センサなどを使用しないため、センサ用ケーブルの張力による影響を受けることなく形状測定が可能であり、さらに本発明の形状測定装置の各構成要素に熱膨張係数の小さい材料を使用する必要がなく、恒温室のような温度環境も必要としない。
図1は第一実施例の形状測定装置100の構成要素を示す図である。形状測定装置100はベースプレート102、載置台104、可動光学ベース106、可動光学ベース支持部材108、高さ位置の基準部材110、反射鏡112、探針114を備えたカンチレバー116、走査手段としての水平走査ステージ118、Z方向駆動機構120、第一光波干渉式変位計122、第二光波干渉式変位計124、第二の光波干渉式変位計が共用する参照鏡126、記憶手段128、演算手段130、制御手段132、および解析手段134を備えている。
ここで、上記の形状測定装置100は水平走査ステージ118を操作してカンチレバー116の探針114をX方向へ水平に走査する時のカンチレバー116の自由端側の背面において探針114に対応する測定部位116aのZ方向の変位を測定することを想定している。
基準部材110は支柱172を介してベースプレート102に固定されており、走査時においても載置台104および測定対象140に対する位置および姿勢は変化しない。なお、この基準部材110は、ベースプレート102と可動光学ベース106の間で、且つ、第一光波干渉式変位計122、および第二光波干渉式変位計124が有する光路上に位置するように設けられている。
反射鏡112は第二光波干渉式変位計124の光路上の反射鏡であり、載置台104上に設置される。反射鏡112の大きさは、載置台104上に載置される測定対象140の表面の測定領域の面積と同程度以上であることが好ましい。
探針114は測定対象140の表面の凹凸に追従して上下に変位するが、これに応じ得るようにカンチレバー116はZ方向(上下方向)に可撓性を有する。カンチレバー116の一方の端部は、固定端116bとしてZ方向駆動機構120に固定され、他方の端部の下面(載置台104に対向する側)には、探針114が取り付けられている。そして、カンチレバー116の探針114が取り付けられた側と反対側の位置(カンチレバー116の上面の探針114に対応する位置)を、測定部位116aとしている。
第一光波干渉式変位計122と第二光波干渉式変位計124とが共用する参照鏡126は、基準部材110の下面(載置台104に対向する面)に固定されているので、形状測定時において測定対象140に対する位置及び姿勢は変化しない。
第一光波干渉式変位計122は、測定対象140の表面の凹凸に追従して上下に変位する探針114と参照鏡126との間の距離の変位量である探針変位量を測定して、その探針変位量を記憶手段128および演算手段130へ出力し、また第二光波干渉式変位計124は、周辺温度変化による反射鏡112と参照鏡126との間の距離のZ方向の相対的な変位量、すなわち温度ドリフト量を測定して、その温度ドリフト量を記憶手段128および演算手段130へ出力する。
演算手段130はカンチレバー116の撓み量を第一光波干渉式変位計122で得られた探針変位情報と記憶手段128に記憶されている撓み量の設定値との間での差を算出することで、形状測定時のZ方向の駆動制御に必要な制御量を決定し、その制御量を制御手段132へ出力する。制御手段132は演算手段130から出力された制御量に応じて、Z方向駆動機構120の駆動を制御することにより、カンチレバー116の固定端116bのZ位置を制御する。解析手段134には記憶手段128に記憶された測定量(すなわち、探針変位量およびその温度ドリフト量)が同時に入力されると共に、水平走査ステージ118のXおよびY方向のXY変位量も制御手段132を介して入力される。解析手段134はそれら上記の測定量およびXY変位量に基づいて算出した測定対象140の表面の凹凸形状情報を不図示のモニターへ出力する。
集光レンズ162はカンチレバー116と所定の位置関係を有している。また、集光レンズ162は参照鏡126を透過した平行光をカンチレバー測定部位116aに集光すると共に、その測定部位116aからの反射光である測定光を再度平行光にする。
カンチレバー116の固定端116bは水平走査ステージ118に設けられたZ方向駆動機構120に固定されているので、カンチレバー116をXYZの任意の方向への移動や、カンチレバー116に取り付けられた探針114をX方向へのみ移動させる一次元の走査が可能である。
さらに第一光波干渉式変位計122および第二光波干渉式変位計124は可動光学ベース106に取り付けられているので、水平走査ステージ118の走査中は上記の第一光波干渉式変位計122と、第二光波干渉式変位計124と、カンチレバー116と、集光レンズ162との位置関係が固定された状態でX方向へ移動される。
測定対象140の表面の凹凸に応じて上下に変位する探針114のZ方向の変位量の大きさは基準部材110に取り付けられた参照鏡126を基準として測定されるため、高精度な測定を行うことができる。その際にカンチレバー116の撓み量が一定となるようにカンチレバー116の固定端116bをZ方向に上下させながら測定対象140の表面において探針114を走査することにより、高精度な測定を実現することができる。
そして、反射鏡112は測定対象140の表面の測定対象領域と同程度以上の面積を有しているので、探針114が測定対象140の表面の凹凸を走査している間は反射鏡112と参照鏡126との間の温度ドリフト量は第二光波干渉式変位計124によって測定することができる。
また、探針114の変位量を変位量検出器164により測定し、また、走査中における参照鏡126の温度ドリフト量を温度ドリフト量検出器170により測定する。その探針変位量から温度ドリフト量を差し引くことによって、走査手段に発生する温度ドリフト量に関する誤差の影響は原理的にキャンセルできる。
従って、水平走査ステージ118が走査される間において、第一光波干渉式変位計122、第二光波干渉式変位計124、およびZ方向駆動機構120はそれらの間の位置関係を変えることなくX方向へ走査することができる。
ここで、光源150からの可干渉光(レーザー光)はコリメータレンズ152により平行光にされた後、ビームスプリッタ154の反射面によって第一光波干渉式変位計122用の光と第二光波干渉式変位計124用の光とに分離される。
ビームスプリッタ154の反射面で反射され、次いでミラー156によって反射され、更にビームスプリッタ158を透過した光はカンチレバー116の測定部位116aへ導光されるが、その光の一部は光路上の参照鏡126で反射されて第一の参照光となり、他方、参照鏡126を透過した光はλ/4板160を透過した後、カンチレバー116の測定部位116aにおいて反射される。その反射光である第一の測定光は、集光レンズ162によって再度平行光化された後、再びλ/4板160を透過して参照光と直交する偏波面となり参照鏡126へ至り、その参照鏡126を透過した後に第一の測定光と第一の参照光とが合わさった合成光が形成される。その合成光が変位量検出器164に入射することによって、変位量検出器164では、第一の測定光と第二の参照光の位相差が検出される。
そして、第一の測定光と第一の参照光との間の位相差に基づいて演算された参照鏡126を基準とした探針114のZ方向の変位情報、すなわち探針変位量が解析手段134へ送信される。さらに、解析手段134は、制御手段132からXY方向の変位量も同時に取得していることから、解析手段134はそれら探針変位量およびXY方向の変位量に基づいた測定対象140の表面の凹凸形状の情報が不図示のモニター画面上へ表示される。
それら部材の長さや厚みの温度ドリフト量により、測定の前後または測定中の参照鏡126と測定対象140との間の位置関係が変化するために、解析手段134と変位量検出器164で検出した探針114の変位の原因が、測定対象140の凹凸形状に応じたカンチレバーの撓みによるものであるのか、それとも、参照鏡126と探針114との間の距離が周辺環境の変化に応じて変化したものであるのか、区別をすることができず、測定時間の増加に伴いその形状測定結果の精度が下がるものであった。
ビームスプリッタ154を透過し、次いでビームスプリッタ168を透過した光は、まず光路上の参照鏡126で反射されて第二の参照光となり、また参照鏡126を透過した光はλ/4板160を透過した後に載置台104上に設置された反射鏡112で反射される。その反射鏡112からの反射光は再びλ/4板160を透過した後、参照鏡126の上方へ透過して第二の参照光と直交した偏波面を持つ第二の測定光となる。その第二の測定光は参照鏡126を透過した後に第二の参照光と合わさり、合成光となる。その合成光が温度ドリフト量検出器170に入射することによって、温度ドリフト量検出器170では、第二の測定光と第二の参照光の位相差が検出される。その位相差情報に基づいて、反射鏡104と参照鏡126との間の距離の温度ドリフト量が演算され、演算された温度ドリフト量は記憶手段128を介して解析手段134へ送信される。
本実施例では、このようにして求められたカンチレバー116の撓み量の変化Δξが一定となるように、カンチレバー116の固定端116bをZ軸駆動機構120により制御することで、走査時に探針114が測定対象140の表面から浮き上がってしまうことも回避することができる。
探針114を走査の開始点からX方向へ走査すると、複数の発熱体の影響を受けて周辺環境の温度はT0からT1へ変化するが、参照鏡126からカンチレバー116の測定部位116aまでの間の距離は図2(B)に示すようにh0からh1へ減少する。
このとき、もし第一光波干渉式変位計122だけを使用して、h0からh1への変化量をリアルタイムに測定していたとすれば、測定対象140の表面が平らであるにも拘らず、その変化量がそのままカンチレバー116の撓み量として検出される。この周辺温度による撓み量は、図4に示す一つの光波干渉式変位計のみを使用した形状測定装置50では、探針の変位つまり測定対象140の表面形状によるものであるとして扱われてしまう。
(数3)
Δξ=(h0―h1)―Δl
= 0
この結果、本実施例は、形状測定中の周辺温度環境の昇温降温に関わらず、探針114の正確な変位量を取得できると共に、温度ドリフトに基づくカンチレバーの見かけ上の撓みによるZ軸方向駆動機構116の誤動作も防ぐこともできる。
例えば、図2に示したカンチレバー116と測定対象140表面との間に距離が変化していないにもかかわらず、温度ドリフトによって見かけ上の撓み量が変化する。
しかしながら、実際には、走査中のカンチレバー116には撓みの変化は生起しておらず、その撓み量と測定力との関係に差異が生じる。
本実施例では、この差異を温度ドリフト量の測定結果を使用することによって、測定力が一定に保たれるように測定対象140の表面と探針114との間の距離を制御することも可能である。
従って、本実施例は、第一光波干渉式変位計122による探針114の変位量に含まれる温度ドリフト量を第二光波干渉式変位計124により測定し、その変位量を温度ドリフト量で補正することができるので、従来よりも一層の移動誤差の低減が可能となった。
また、本発明は複数の温度センサ等を用いることなく温度ドリフト量を正確に求めることができるため、コストの大幅な削減および装置構成の簡素化を図ることができる。
図3は第二実施例の形状測定装置200の構成要素を示す図である。ここで、第一実施例と対応する部位には符号100を加えて示し、それらの説明を省略する。
第二実施例は測定対象表面を走査させるプローブとして、第一実施例で使用した探針114およびカンチレバー116に代えて、光プローブ214を使用している。そのため第一光波干渉式変位計222で使用する可干渉光は集光レンズ266によって、直接に測定対象240の表面の集光部位240aへ集光させる。そのため、同図に示す参照鏡226で反射された光は参照光となり、またその集光部位240aからの反射光は参照鏡226を透過して測定光となる。第一実施例と同様に参照光と測定光との間で干渉光を形成させて検出し、それら参照光と測定光との間の位相差情報を解析することによって測定対象240の表面形状を測定することが出来る。
その合成光は、その第一光波干渉式変位計222に内蔵されている変位量検出器264によって、参照光と測定光の位相差が検出され、その位相差情報に基づいて、光プローブ214と参照鏡226との間の距離のZ方向の変位情報が演算され、演算された温度ドリフト量は記憶手段228を介して解析手段234へ送信される。その検出結果に基づいて解析手段234は、測定対象240の表面の凹凸形状に追従したZ方向の変位情報を得ることができるので、その表面の凹凸情報を把握することができる。
その測定対象240の表面の凹凸による変位量から上記の温度ドリフト量を差し引くことで、第一実施例と同様に測定対象240表面の正確な凹凸情報を取得することができる。
また、本実施例では、探針およびカンチレバーを動作させる必要がないので装置の簡素化を図ることができ、かつ測定対象の表面に傷をつけることもない。
なお、本実施形態では、周辺温度変化による測定値の変化の補正について説明したが、
大気圧や湿度による測定値の変化を補正する際にも本発明の形状測定装置が適用可能である。
102、202 ベースプレート 124、224 第二光波干渉式変位計
104、204 載置台 126、226 参照鏡
106、206 可動光学ベース支持部材 128、228 記憶手段
108、208 可動光学ベース 130、230 演算手段
110、210 基準部材 132、232 制御手段
112、212 反射鏡 134、234 解析手段
114 探針 140、240 測定対象
116 カンチレバー 150、250 光源
214 光プローブ 160、260 λ/4板
118、218 水平走査ステージ 162、262 集光レンズ
120、220 Z方向駆動機構 172、272 支柱
122、222 第一光波干渉式変位計
Claims (5)
- 測定対象の表面を走査する探針を備えたカンチレバーと、
前記カンチレバーを走査させる走査手段と、
前記測定対象の走査時において、前記測定対象に対して位置と姿勢が変化しないように設けられた基準部材と、
前記基準部材に取り付けられた参照鏡と前記カンチレバーとの相対変位を測定する第一光波干渉式変位計と、
前記測定対象を載置する載置台の載置面に位置する反射鏡と前記基準部材に取り付けられた参照鏡との間の距離の変化から、温度ドリフト量を測定する第二光波干渉式変位計と、を備え、
前記第一光波干渉式変位計と前記第二光波干渉式変位計との間で、光源および前記参照鏡を共用し、
前記参照鏡から測定対象までの距離と該参照鏡から反射鏡までの距離は略同一であって、
前記探針の変位量を前記温度ドリフト量で補正することを特徴とする形状測定装置。 - 請求項1に記載の形状測定装置において
前記光源からの光を前記カンチレバーに集光する集光レンズを備え、
前記集光レンズは前記カンチレバーと共に走査されることを特徴とする形状測定装置。 - 請求項1および請求項2のいずれか1項に記載の形状測定装置において、
前記第二光波干渉式変位計は、前記光源からの光の一部を前記参照鏡へ入射して得られる反射光を第二参照光とし、
前記参照鏡を透過した後、前記反射鏡へ入射して得られる前記反射鏡からの反射光を第二測定光とし、
前記第二参照光と前記第二測定光との合成光を検出することによって、当該合成光に含まれる位相差に基づき前記基準部材と前記測定対象との間の距離の変化を温度ドリフト量として測定することを特徴とする形状測定装置。 - 請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載の形状測定装置において
前記第一光波干渉式変位計は、前記光源からの光の一部を前記参照鏡に入射して得られる反射光を第一参照光とし、
前記参照鏡を透過した後、前記カンチレバーに入射して得られるカンチレバーからの反射光を第一測定光とし、
前記第一参照光と前記第一測定光との合成光を検出することによって、当該合成光に含まれる位相差に基づき前記探針の変位量を測定することを特徴とする形状測定装置。 - 測定対象の表面を走査しながら集光レンズによって集光された光を測定対象の表面に照射するとともに、該測定対象を反射した光を集光する光プローブと、
前記光プローブを走査させる走査手段と、
前記測定対象の走査時において、前記測定対象に対して位置と姿勢が変化しないように設けられた基準部材と、
前記基準部材に取り付けられた参照鏡と前記測定対象との相対変位を測定する第一光波干渉式変位計と、
前記測定対象を載置する載置台の載置面に位置する反射鏡と前記基準部材に取り付けられた参照鏡との間の距離の変化から、温度ドリフト量を測定する第二光波干渉式変位計と、を備え、
前記第一光波干渉式変位計と前記第二光波干渉式変位計との間で、光源および前記参照鏡を共用し、
前記参照鏡から測定対象までの距離と該参照鏡から反射鏡までの距離は略同一であって、
前記光プローブの変位量を前記温度ドリフト量で補正することを特徴とする形状測定装置。
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