JP6170827B2 - パッケージ基板の加工方法 - Google Patents

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本発明は、CSP(Chip Size Package)、QFN(Quad Flat Non-leaded Package)等のパッケージ基板の加工方法に関する。
CSPやQFN等のパッケージ基板は、IC、LSI等の回路が作り込まれた複数の半導体チップを配列させ、モールド樹脂等で封止して略長方形の板状に形成されている。パッケージ基板には、パッケージデバイスとなるデバイス領域の周囲に余剰領域が設けられている。このため、デバイス領域が分割予定ラインに沿って切削されると、パッケージデバイスだけでなく余剰領域も端材としてパッケージ基板から切り離される。このため、パッケージデバイスの回収時に端材が混入しないように、パッケージ基板からパッケージデバイスだけを抜き取る方法が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
特許文献1に記載の方法では、パッケージ基板の余剰領域を残した状態で、余剰領域の内側のデバイス領域だけが分割される。先ず、パッケージ基板の表面側に、余剰領域を避けるようにして分割予定ラインに沿って所定深さの分割溝が形成される。続いて、パッケージ基板の裏面側に、余剰領域を含むパッケージ基板全体について表面側の分割溝に連通するように分割溝が形成される。これにより、余剰領域については完全切断されずに、分割溝が連通したパッケージ基板のデバイス領域だけが、個々のパッケージデバイスに分割されてパッケージ基板から回収されている。
特開2012−227485号公報
しかしながら、特許文献1に記載の方法では、パッケージ基板からパッケージデバイスだけを回収することができるが、加工が煩雑になるという問題がある。すなわち、パッケージ基板の表面側の加工後に、パッケージ基板を表裏反転させて裏面側を加工するため、それぞれの加工時にアライメントを実施しなければならなかった。さらに、パッケージ基板がダイシングテープを介して環状フレームに支持されている場合には、加工の度にダイシングテープを貼り直す必要があった。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、煩雑な手順を踏むことなく、パッケージ基板からパッケージデバイスだけを回収することができるパッケージ基板の加工方法を提供することを目的とする。
本発明のパッケージ基板の加工方法は、表面に複数の分割予定ラインが格子状に形成され該複数の分割予定ラインによって区画された複数の領域にデバイスが配設されたデバイス領域と該デバイス領域を囲繞する余剰領域とを有する金属板と、該金属板の裏面側から該デバイスをモールディングした合成樹脂部とからなるパッケージ基板を、該複数の分割予定ラインに沿って個々のパッケージデバイスに分割するパッケージ基板の加工方法であって、紫外線で硬化する紫外線粘着層を備えたUVテープを該パッケージ基板に貼着するUVテープ貼着工程と、該UVテープ貼着工程で該パッケージ基板に貼着された該UVテープに紫外線硬化しない粘着層を備えたダイシングテープを貼着すると共に、該ダイシングテープを介して開口部を有するリングフレームで該パッケージ基板を支持するダイシングテープ貼着工程と、該ダイシングテープ貼着工程を経た該パッケージ基板の該ダイシングテープを接触させチャックテーブルで保持し、切削ブレードを用いて該デバイス領域と該余剰領域との境に沿って該パッケージ基板の表面から該UVテープよりも深い位置にある該ダイシングテープに達する深さで該パッケージ基板に第1の溝を形成する第1の溝形成工程と、該切削ブレードを用いて該分割予定ラインに沿って、該パッケージ基板の表面から該UVテープに達する深さで該パッケージ基板に第2の溝を形成する第2の溝形成工程と、該第1の溝で分割させ該パッケージ基板の該余剰領域を該UVテープと共に除去させる余剰領域除去工程と、該余剰領域除去工程にて該UVテープと共に該余剰領域が除去された該パッケージ基板に貼着している該UVテープに紫外線を照射して該紫外線粘着層を硬化させる紫外線照射工程と、該紫外線照射工程にて該紫外線粘着層が硬化された該パッケージ基板を該第2の溝で分割させパッケージデバイスを取得する。
この構成によれば、第1の溝によってデバイス領域と余剰領域とが分割され、第2の溝によってパッケージ基板が個々のパッケージデバイスに分割される。そして、先にパッケージ基板から余剰領域が除去された状態で、パッケージ基板からパッケージデバイスが取得される。よって、パッケージデバイスだけをケースに回収して、ケース内に余剰領域が混入することを防止することができる。また、第1の溝によってUVテープが完全に切断されているため、余剰領域がUVテープと共にダイシングテープから剥がされる。この場合、UVテープを掴んでダイシングテープから余剰領域を剥がすことができるため、比較的容易にパッケージ基板から余剰領域を除去することができる。さらに、第2の溝によってUVテープが切断されないため、硬化したUVテープからパッケージデバイスだけを容易に取得することができる。この場合、1度のアライメントで第1、第2の溝を形成することができ、テープの貼り替え作業等が発生することがない。よって、煩雑な手順を踏むことなく、パッケージ基板からパッケージデバイスだけを回収することができる。
また本発明のパッケージ基板の加工方法において、該第1の溝形成工程の後に該余剰領域除去工程が実施され、該余剰領域除去工程の後に該第2の溝形成工程が実施される。
また本発明のパッケージ基板の加工方法において、該第1の溝形成工程において、該パッケージ基板の格子状の分割予定ラインのうち、一方の分割予定ラインに沿って該デバイス領域と該余剰領域との境に第1の溝が形成された後、該余剰領域除去工程において、一方の分割予定ラインに沿う第1の溝で該パッケージ基板を分割させて該パッケージ基板から一部の該余剰領域が除去され、該一部の余剰領域が除去された後、該第1の溝形成工程において、該パッケージ基板の格子状の分割予定ラインのうち、他方の分割予定ラインに沿って該デバイス領域と該余剰領域との境に第1の溝が形成された後、該余剰領域除去工程において、他方の分割予定ラインに沿う第1の溝で該パッケージ基板を分割させて該パッケージ基板から残りの該余剰領域が除去される。
本発明によれば、UVテープを介してダイシングテープにパッケージ基板を貼着して、余剰領域をUVテープごと除去した後にパッケージデバイスを取得することで、煩雑な手順を踏むことなく、パッケージ基板からパッケージデバイスだけを回収することができる。
本実施の形態に係る切削装置の斜視図である。 本実施の形態に係るパッケージ基板の斜視図である。 本実施の形態に係るパッケージ基板の加工方法の説明図である。 本実施の形態に係るパッケージ基板の加工方法の説明図である。 第1の変形例に係るパッケージ基板の加工方法の説明図である。 第2の変形例に係るパッケージ基板の加工方法の説明図である。
以下、添付図面を参照して、本実施の形態に係るパッケージ基板の加工方法に用いられる切削装置について説明する。図1は、本実施の形態に係る切削装置の斜視図である。図2は、本実施の形態に係るパッケージ基板の斜視図である。なお、本実施の形態に係る切削装置は、図1に示す構成に限定されない。本発明は、パッケージ基板を切削可能な切削装置であれば、どのような切削装置にも適用可能である。
図1に示すように、切削装置1は、加工手段17に対してチャックテーブル13を相対移動させることで、チャックテーブル13に保持されたパッケージ基板Wを個々のパッケージデバイス77(図4参照)に分割するように構成されている。図2A及び図2Bに示すように、パッケージ基板Wは、デバイス63が形成された金属板61に合成樹脂部62を積層した略長方形の板状に形成されている。金属板61の表面65は、格子状の分割予定ライン71によって複数の領域に区画されており、複数のデバイス63が配設されるデバイス領域72とデバイス領域72を囲繞する余剰領域73に分かれている。
複数のデバイス63は、金属板61の裏面側から合成樹脂部62によってモールディングされている。このパッケージ基板Wが分割予定ライン71に沿って切削されることで、余剰領域73は端材として分割され、デバイス領域72は個々のパッケージデバイス77(図4参照)として分割される。パッケージ基板Wの裏面66には、UVテープT1を介してダイシングテープT2が貼着されている。UVテープT1はパッケージ基板Wに合わせて略長方形状に形成されており、ダイシングテープT2はUVテープT1よりも大きな円形状に形成されている。
UVテープT1の表面68には紫外線で硬化する紫外線粘着層が塗布されており、ダイシングテープT2の表面69には紫外線で硬化しない粘着層が塗布されている。ダイシングテープT2の粘着層としては、硬化前の紫外線粘着層よりも粘着力が弱く、硬化後の紫外線粘着層よりも粘着力の強い粘着剤が使用される。ダイシングテープT2の中央にはパッケージ基板Wが貼着され、ダイシングテープT2の外周には開口部を有するリングフレームFが貼着されている。パッケージ基板Wは、ダイシングテープT2を介してリングフレームFの内側に支持された状態で切削装置1に搬入される。
なお、パッケージ基板Wは、CSP(Chip Size Package)基板、QFN(Quad Flat Non-leaded package)基板等のようにチップを搭載後の基板に限らず、チップ搭載前の基板でもよい。また、ダイシングテープT2の粘着層は、紫外線で完全に硬化しないものに限定されず、紫外線で粘着力が大幅に低下しないものであればよい。図1に戻り、切削装置1の基台11上には、パッケージ基板Wを保持したチャックテーブル13をX軸方向に加工送りする移動機構12が設けられている。
移動機構12は、基台11上に配置されたX軸方向に平行な一対のガイドレール21と、一対のガイドレール21にスライド可能に設置されたモータ駆動のX軸テーブル22とを有している。X軸テーブル22の上部には、チャックテーブル13が設けられている。X軸テーブル22の背面側には、不図示のナット部が形成され、これらナット部にボールネジ23が螺合されている。そして、ボールネジ23の一端部には、駆動モータ24が連結されている。駆動モータ24によりボールネジ23が回転駆動されることで、チャックテーブル13がガイドレール21に沿ってX軸方向に移動される。
チャックテーブル13の表面には、ポーラスセラミック材により保持面26が形成されており、この保持面26に生じる負圧によってパッケージ基板Wが吸引保持される。チャックテーブル13の周囲には、エアー駆動式の4つのクランプ部27が設けられ、各クランプ部27によってパッケージ基板Wの周囲のリングフレームFが挟持固定される。また、基台11上には、チャックテーブル13の移動経路を避けるように部分的に開口された立壁部14が設けられている。立壁部14には、チャックテーブル13の上方で加工手段17をY軸方向に割出送りすると共にZ軸方向に昇降させる移動機構15が設けられている。
移動機構15は、立壁部14の前面に対してY軸方向に平行な一対のガイドレール31と、一対のガイドレール31にスライド可能に設置されたモータ駆動のY軸テーブル32を有している。また、移動機構15は、Y軸テーブル32の前面に配置されたZ軸方向に平行な一対のガイドレール33と、このガイドレール33にスライド可能に設置されたモータ駆動のZ軸テーブル34とを有している。Z軸テーブル34の下部には、それぞれパッケージ基板Wを分割予定ライン71(図2参照)に沿って加工する加工手段17が設けられている。
Y軸テーブル32の背面側には、不図示のナット部が形成され、このナット部にボールネジ35が螺合されている。また、Z軸テーブル34の背面側には、不図示のナット部が形成され、このナット部に不図示のボールネジが螺合されている。Y軸テーブル32用のボールネジ35、Z軸テーブル34用のボールネジの一端部には、それぞれ駆動モータ36、37が連結されている。これら駆動モータ36、37によりボールネジ35が回転駆動されることで、加工手段17がガイドレール31、33に沿ってY軸方向及びZ軸方向に移動される。
加工手段17は、スピンドル41の先端に切削ブレード42を装着して構成される。切削ブレード42はブレードカバー43によって周囲が覆われており、ブレードカバー43には切削部分に向けて切削水を噴射する噴射ノズルが設けられている。また、スピンドル41には撮像手段18が設けられており、撮像手段18の撮像画像に基づいてパッケージ基板Wの分割予定ライン71(図2参照)に対して切削ブレード42がアライメントされる。加工手段17では、複数の噴射ノズルから切削水が噴射され、切削ブレード42によってパッケージ基板Wが分割予定ライン71に沿って切削されることで、個々のパッケージデバイス77(図4参照)に分割される。
この場合、パッケージ基板Wには、デバイス領域72と余剰領域73とを分離する第1の溝75とデバイス領域72を個々のパッケージデバイス77に分離する第2の溝76が形成される(図3C及び図3D参照)。第1の溝75の深さは、パッケージ基板Wの表面65からUVテープT1の奥方(下方)のダイシングテープT2まで達しており、UVテープT1ごとパッケージ基板Wを切断している。第2の溝76の深さは、パッケージ基板Wの表面65からUVテープT1まで達しており、UVテープT1を完全切断せずにパッケージ基板Wだけを切断している。
本実施の形態に係るパッケージ基板Wの加工方法は、この第1、第2の溝75、76の深さの違いと、UVテープT1とダイシングテープT2の粘着力の違いを利用して、パッケージデバイス77の回収前に余剰領域73を除去するようにしている。パッケージ基板Wから余剰領域73を事前に除去することで、圧縮エアー等でパッケージデバイス77を吹き飛ばして回収する場合であっても、余剰領域73を端材として混在させることなくパッケージデバイス77だけを回収可能にしている。
以下、図3及び図4を参照して、本実施の形態に係るパッケージ基板の加工方法について詳細に説明する。図3及び図4は、本実施の形態に係る加工方法の説明図である。なお、図3AがUVテープ貼着工程、図3Bがダイシングテープ貼着工程、図3Cが第1の溝形成工程、図3Dが第2の溝形成工程をそれぞれ示している。また、図4Aが余剰領域除去工程、図4Bが紫外線照射工程、図4Cがパッケージデバイス取得工程をそれぞれ示している。
図3Aに示すように、先ずUVテープ貼着工程が実施される。UVテープ貼着工程では、パッケージ基板Wの裏面66を覆うようにUVテープT1が貼着される。UVテープT1の表面68には紫外線によって硬化する紫外線粘着層が塗布されており、紫外線粘着層の紫外線硬化後にパッケージ基板WからUVテープT1が剥離し易くなっている。なお、UVテープ貼着工程は、オペレータによる手作業で実施されてもよいし、不図示の貼着装置によって実施されてもよい。
図3Bに示すように、UVテープ貼着工程が実施された後には、ダイシングテープ貼着工程が実施される。ダイシングテープ貼着工程では、リングフレームFの開口部を覆うようにダイシングテープT2が貼着され、ダイシングテープT2の表面69にUVテープT1を介してパッケージ基板Wが貼着される。ダイシングテープT2の表面69には、UVテープT1とは異なり、紫外線によって硬化しない粘着層が塗布されている。なお、ダイシングテープ貼着工程は、オペレータによる手作業で実施されてもよいし、不図示の貼着装置によって実施されてもよい。ダイシングテープT2の貼着後のパッケージ基板Wは切削装置1(図1参照)に搬入される。
図3Cに示すように、ダイシングテープ貼着工程が実施された後には、第1の溝形成工程が実施される。第1の溝形成工程では、パッケージ基板WのダイシングテープT2を接触させチャックテーブル13にパッケージ基板Wが保持され、パッケージ基板Wの周囲のリングフレームFがクランプ部27に保持されている。そして、パッケージ基板Wに対して切削ブレード42がアライメントされてデバイス領域72と余剰領域73の境となる分割予定ライン71に位置合わせされた後、切削ブレード42によって切削加工が実施される。
この場合、切削ブレード42がダイシングテープT2の途中まで切り込み可能な高さに調整され、高速回転した切削ブレード42に対してチャックテーブル13が相対移動される。この結果、デバイス領域72と余剰領域73との境に沿って、パッケージ基板Wの表面65からUVテープT1よりも深い位置にあるダイシングテープT2に達する深さで第1の溝75が形成される。第1の溝75によってパッケージ基板Wと共にUVテープT1が完全に切断され、UVテープT1ごとパッケージ基板Wがデバイス領域72と余剰領域73に分割される。
図3Dに示すように、第1の溝形成工程が実施された後には、第2の溝形成工程が実施される。第2の溝形成工程では、切削ブレード42がデバイス領域72内の分割予定ライン71に位置合わせされた後、切削ブレード42によって切削加工が実施される。この場合、切削ブレード42がUVテープT1の途中まで切り込み可能な位置に調整され、高速回転した切削ブレード42に対してチャックテーブル13が相対移動される。この結果、分割予定ライン71に沿って、パッケージ基板Wの表面65からUVテープT1に達する深さで第2の溝76が形成される。第2の溝76によってUVテープT1は切断されず、パッケージ基板Wだけが個々のパッケージデバイス77に分割される。切削後のパッケージ基板Wは不図示の剥離装置に搬入される。
図4Aに示すように、第2の溝形成工程が実施された後には、余剰領域除去工程が実施される。余剰領域除去工程では、剥離装置のチャックテーブル52上にダイシングテープT2を介してパッケージ基板Wが保持され、パッケージ基板Wの周囲のリングフレームFがクランプ部53に保持される。チャックテーブル52の内部には後段の紫外線照射工程で使用されるUVランプ54が設けられている。上記したように紫外線硬化前のUVテープT1の粘着力は、ダイシングテープT2の粘着力よりも強く、UVテープT1からパッケージ基板Wを剥がすよりも、ダイシングテープT2からUVテープT1と共にパッケージ基板Wを剥がす方が容易である。
このため、UVテープT1の端を掴んで捲り上げることで、パッケージ基板Wの余剰領域73がダイシングテープT2から容易に引き剥がされる。このようにして、第1の溝75によって分割されたパッケージ基板Wの余剰領域73がUVテープT1と共に除去され、ダイシングテープT2上にはパッケージ基板Wのデバイス領域72(パッケージデバイス77)だけが残されている。ダイシングテープT2から剥がされたパッケージ基板Wの余剰領域73は端材として廃棄される。なお、余剰領域除去工程は、オペレータによる手作業で実施されてもよいし、不図示の除去装置によって実施されてもよい。
図4Bに示すように、余剰領域除去工程が実施された後には、紫外線照射工程が実施される。紫外線照射工程では、チャックテーブル52の内部に設けられたUVランプ54から紫外線が照射される。この場合、チャックテーブル52は透光性材等によって成形されており、UVランプ54から照射された紫外線がチャックテーブル52を透過してUVテープT1に照射される。これにより、UVテープT1の紫外線粘着層が硬化して、パッケージ基板Wに対するUVテープT1の粘着力が大幅に低下する。紫外線硬化後のUVテープT1の粘着力はダイシングテープT2の粘着力よりも弱くなり、UVテープT1からパッケージ基板Wのデバイス領域72(パッケージデバイス77)が剥がれ易くなる。
図4Cに示すように、紫外線照射工程が実施された後には、パッケージデバイス取得工程が実施される。パッケージデバイス取得工程では、高圧ノズル55からパッケージデバイス77に対して圧縮エアーが吹き付けられて、第2の溝76で分割されたパッケージデバイス77がケース56に向けて吹き飛ばされる。このとき、UVテープT1の粘着力よりもダイシングテープT2の粘着力が強いため、UVテープT1がダイシングテープT2から剥がれることなく、UVテープT1から剥がれたパッケージデバイス77だけが吹き飛ばされる。また、予めダイシングテープT2上からパッケージ基板Wの余剰領域73が除去されているため、パッケージ基板Wの余剰領域73がケース56に回収されることがない。
このように、ケース56には、UVテープT1から剥がれたパッケージデバイス77だけが回収される。よって、パッケージ基板Wの端材(余剰領域73)とパッケージデバイス77が混在している場合のように製品の振り分け作業が不要となり、パッケージデバイス77だけを効率的にケース56に回収することができる。ケース56に回収されたパッケージデバイス77は、洗浄後にケース56から取り出される。なお、本実施の形態においては、圧縮エアーによってパッケージデバイス77を回収する構成としたが、この構成に限定されない。パッケージデバイス取得工程では、例えば、チャックテーブル52の保持面57からエアーを噴射してパッケージデバイス77を吹き飛ばして回収してもよいし、ピックアップ機構によってパッケージデバイス77を回収してもよい。
なお、上記した実施の形態においては、第1の溝形成工程、第2の溝形成工程を切削装置1(図1参照)で実施し、余剰領域除去工程、紫外線照射工程、パッケージデバイス取得工程を剥離装置で実施する構成としたが、この構成に限定されない。例えば、切削装置1で紫外線を照射可能であれば、全ての工程を切削装置1で実施する構成にしてもよい。
以上のように、本実施の形態に係るパッケージ基板Wの加工方法は、第1の溝75によってデバイス領域72と余剰領域73とが分割され、第2の溝76によってパッケージ基板Wが個々のパッケージデバイス77に分割される。そして、先にパッケージ基板Wから余剰領域73が除去された状態で、パッケージ基板Wからパッケージデバイス77が取得される。よって、パッケージデバイス77だけをケース56に回収して、ケース56内に余剰領域73が混入することを防止することができる。また、第1の溝75によってUVテープT1が完全に切断されているため、UVテープT1を掴んでダイシングテープT2から余剰領域73を剥がすことができる。さらに、第2の溝76によってUVテープT1が切断されないため、硬化したUVテープT1からパッケージデバイス77だけを容易に取得することができる。この場合、1度のアライメントで第1、第2の溝75、76を形成することができ、テープの貼り替え作業等が発生することがない。よって、煩雑な手順を踏むことなく、パッケージ基板Wからパッケージデバイス77だけを回収することができる。
なお、本発明は上記実施の形態に限定されず、種々変更して実施することが可能である。上記実施の形態において、添付図面に図示されている大きさや形状などについては、これに限定されず、本発明の効果を発揮する範囲内で適宜変更することが可能である。その他、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施することが可能である。
例えば、上記実施の形態では、UVテープ貼着工程、ダイシングテープ貼着工程、第1の溝形成工程、第2の溝形成工程、余剰領域除去工程、紫外線照射工程、パッケージデバイス取得工程の順に実施される構成としたが、この構成に限定されない。例えば、第1の変形例として、第1の溝形成工程の後に余剰領域除去工程が実施され、余剰領域除去工程の後に第2の溝形成工程が実施されてもよい。
以下、図5を参照して、第1の変形例について説明する。図5Aは第1の溝形成工程、図5Bは第2の溝形成工程をそれぞれ示している。なお、第1の変形例は、一部の工程についてのみ上記実施の形態と相違するため、主に相違点について説明する。なお、図5においては説明の便宜上、チャックテーブルを省略している。
図5Aに示すように、UVテープ貼着工程、ダイシングテープ貼着工程の後に第1の溝形成工程が実施される。第1の溝形成工程では、ダイシングテープT2を介してパッケージ基板Wがチャックテーブルに保持され、パッケージ基板Wの周囲のリングフレームFがクランプ部27に保持されている。そして、破線に示すようにデバイス領域72と余剰領域73の境に沿って切削ブレード42で切削加工され、パッケージ基板Wに表面65からUVテープT1の奥方(下方)のダイシングテープT2に達する深さで第1の溝75(図3C参照)が形成される。これにより、パッケージ基板Wがデバイス領域72と余剰領域73に分割される。
余剰領域除去工程では、UVテープT1の端を掴んで捲り上げることで、デバイス領域72の周囲の余剰領域73がダイシングテープT2から引き剥がされる。この結果、ダイシングテープT2上にはパッケージ基板Wのデバイス領域72だけが残される。図5Bに示すように、第2の溝形成工程では、破線に示すように分割予定ライン71に沿って切削ブレード42で切削加工され、パッケージ基板Wの表面65からUVテープT1に達する深さで第2の溝76(図3D参照)が形成される。これにより、パッケージ基板Wが個々のパッケージデバイス77に分割される。
このとき、ダイシングテープT2上から余剰領域73が既に除去されているため、ダイシングテープT2に残されたデバイス領域72だけが切削される。すなわち、上記実施の形態の第2の溝形成工程では余剰領域73についても第2の溝76が形成されるが、第1の変形例の第2の溝形成工程では余剰領域73に第2の溝76が形成されることがない。よって、余剰領域73が除去された分だけ切削ブレード42の加工量を減らすことができ、切削ブレード42の消耗を抑えることができる。第2の溝形成工程の後には、上記実施の形態と同様に紫外線照射工程及びパッケージデバイス取得工程が実施される。
また、第1の変形例では、第1の溝形成工程でデバイス領域72と余剰領域73との全ての境が分割された後、余剰領域除去工程で全ての余剰領域73が除去される構成としたが、この構成に限定されない。例えば、第2の変形例として、第1の溝形成工程で格子状の分割予定ライン71のうち一方の分割予定ライン71に沿うデバイス領域72と余剰領域73との境が分割された後、余剰領域除去工程で一部の余剰領域が除去されてもよい。さらに、第1の溝形成工程で他方の分割予定ライン71に沿うデバイス領域72と余剰領域73との境が分割された後、余剰領域除去工程で残りの余剰領域が除去されてもよい。
以下、図6を参照して、第2の変形例について説明する。図6Aは一方の分割予定ラインに対する第1の溝形成工程及び余剰領域除去工程、図6Bは他方の分割予定ラインに対する第1の溝形成工程及び余剰領域除去工程、図6Cは第2の溝形成工程をそれぞれ示している。なお、第2の変形例は、一部の工程についてのみ上記実施の形態と相違するため、主に相違点について説明する。なお、図6においては説明の便宜上、チャックテーブルを省略している。
図6Aに示すように、UVテープ貼着工程、ダイシングテープ貼着工程の後に第1の溝形成工程が実施される。第1の溝形成工程では、ダイシングテープT2を介してパッケージ基板Wがチャックテーブルに保持され、パッケージ基板Wの周囲のリングフレームFがクランプ部27に保持されている。そして、破線に示すように、格子状の分割予定ライン71のうち一方の分割予定ライン71に沿ってデバイス領域72と一部の余剰領域73aの境に第1の溝75(図3C参照)が形成される。余剰領域除去工程では、UVテープT1の端を掴んで捲り上げることで、一部の余剰領域73aがダイシングテープT2から引き剥がされる。
図6Bに示すように、一部の余剰領域73aが除去されると、チャックテーブル13が90度回転されて、再び第1の溝形成工程が実施される。第1の溝形成工程では、破線に示すように、格子状の分割予定ライン71のうち他方の分割予定ライン71に沿ってデバイス領域72と残りの余剰領域73bの境に第1の溝75(図3C参照)が形成される。このとき、ダイシングテープT2上から余剰領域73aが既に除去されているため、余剰領域73bの切削時に余剰領域73aが切削されることがない。よって、余剰領域73aが事前に除去されている分だけ切削ブレード42の加工量を減らすことができ、切削ブレード42の消耗を抑えることができる。そして、再び余剰領域除去工程が実施され、UVテープT1の端を掴んで捲り上げることで、残りの余剰領域73bがダイシングテープT2から引き剥がされる。この結果、ダイシングテープT2上にはパッケージ基板Wのデバイス領域72だけが残される。
図6Cに示すように、第2の溝形成工程では、デバイス領域72内の分割予定ライン71に沿って第2の溝76が形成され、デバイス領域72が個々のパッケージデバイス77に分割される。このとき、ダイシングテープT2上から余剰領域73が既に除去されているため、第2の溝形成工程において余剰領域73が切削されることがない。よって、余剰領域73が除去された分だけ切削ブレード42の加工量を減らすことができ、切削ブレード42の消耗を抑えることができる。第2の溝形成工程の後には、上記実施の形態と同様に紫外線照射工程及びパッケージデバイス取得工程が実施される。
以上説明したように、本発明は、煩雑な手順を踏むことなく、パッケージ基板からパッケージデバイスだけを回収することができるという効果を有し、特にCSP(Chip Size Package)、QFN(Quad Flat Non-leaded Package)等のパッケージ基板の加工方法に有用である。
1 切削装置
13 チャックテーブル
17 加工手段
42 切削ブレード
51 剥離装置
54 UVランプ
56 ケース
61 金属板
62 合成樹脂部
63 デバイス
65 パッケージ基板の表面
71 分割予定ライン
72 デバイス領域
73 余剰領域
75 第1の溝
76 第2の溝
77 パッケージデバイス
F リングフレーム
T1 UVテープ
T2 ダイシングテープ
W パッケージ基板

Claims (3)

  1. 表面に複数の分割予定ラインが格子状に形成され該複数の分割予定ラインによって区画された複数の領域にデバイスが配設されたデバイス領域と該デバイス領域を囲繞する余剰領域とを有する金属板と、該金属板の裏面側から該デバイスをモールディングした合成樹脂部とからなるパッケージ基板を、該複数の分割予定ラインに沿って個々のパッケージデバイスに分割するパッケージ基板の加工方法であって、
    紫外線で硬化する紫外線粘着層を備えたUVテープを該パッケージ基板に貼着するUVテープ貼着工程と、
    該UVテープ貼着工程で該パッケージ基板に貼着された該UVテープに紫外線硬化しない粘着層を備えたダイシングテープを貼着すると共に、該ダイシングテープを介して開口部を有するリングフレームで該パッケージ基板を支持するダイシングテープ貼着工程と、
    該ダイシングテープ貼着工程を経た該パッケージ基板の該ダイシングテープを接触させチャックテーブルで保持し、切削ブレードを用いて該デバイス領域と該余剰領域との境に沿って該パッケージ基板の表面から該UVテープよりも深い位置にある該ダイシングテープに達する深さで該パッケージ基板に第1の溝を形成する第1の溝形成工程と、
    該切削ブレードを用いて該分割予定ラインに沿って、該パッケージ基板の表面から該UVテープに達する深さで該パッケージ基板に第2の溝を形成する第2の溝形成工程と、
    該第1の溝で分割させ該パッケージ基板の該余剰領域を該UVテープと共に除去させる余剰領域除去工程と、
    該余剰領域除去工程にて該UVテープと共に該余剰領域が除去された該パッケージ基板に貼着している該UVテープに紫外線を照射して該紫外線粘着層を硬化させる紫外線照射工程と、
    該紫外線照射工程にて該紫外線粘着層が硬化された該パッケージ基板を該第2の溝で分割させパッケージデバイスを取得するパッケージ基板の加工方法。
  2. 該第1の溝形成工程の後に該余剰領域除去工程が実施され、該余剰領域除去工程の後に該第2の溝形成工程が実施される請求項1に記載のパッケージ基板の加工方法。
  3. 該第1の溝形成工程において、該パッケージ基板の格子状の分割予定ラインのうち、一方の分割予定ラインに沿って該デバイス領域と該余剰領域との境に第1の溝が形成された後、該余剰領域除去工程において、一方の分割予定ラインに沿う第1の溝で該パッケージ基板を分割させて該パッケージ基板から一部の該余剰領域が除去され、
    該一部の余剰領域が除去された後、該第1の溝形成工程において、該パッケージ基板の格子状の分割予定ラインのうち、他方の分割予定ラインに沿って該デバイス領域と該余剰領域との境に第1の溝が形成された後、該余剰領域除去工程において、他方の分割予定ラインに沿う第1の溝で該パッケージ基板を分割させて該パッケージ基板から残りの該余剰領域が除去される請求項2に記載のパッケージ基板の加工方法。
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