JP6170482B2 - 部品を検査するための支持デバイス - Google Patents
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Description
−高い測定効率
−測定条件の再現性
−回転する計時器の車セット(プレート、アーバー、バランスバネなど)の傾き誤りの±0.15%までの正確な動的測定
−回転する計時器の車セット(プレート、アーバー、バランスバネなど)の集まり偏心誤りの±0.005mmまでの正確な動的測定
−磁気撮像装置の単純な較正及び検査
−控えめな大きさ
−容易な運動
−各部分の非常に単純な実装
−パルス空気による作動される回転の可能性
−部品の幾何学的構成のいずれも支持体によって隠されない
−傾き、重い計時器の部品の集まること、及び偏心誤りを測定できる可能性
−不均衡な計時器の部品の傾き、心合わせ、及び偏心誤りを測定できる可能性
−異なる部品構成に支持体を適応させるための端片の交換性
2 支持デバイス
10 フィールド集中要素
22 ベース部
26 軸方向ベース面
38 偏光部
24 集束部
28 軸方向端面
33 曲面
6 支持体
12 本体
13 空洞
15 ハウジング
14 端壁
16 支持部
18 端片
20 ワーク面
8 フィールド発生器
磁石/電気的キャパシター
4 相補的な支持デバイス
3 測定又は検査されるメンバー
5 アーバー
7a 第1の端
7b 他方の端
Claims (20)
- 測定または検査されるメンバー(3)をワーク面(20)を介して磁界及び/又は電界に起因する引力で受けるように構成された支持デバイス(2)であって、
支持体(6)と、
前記支持体に配置された前記ワーク面と、
前記支持体のハウジング(15)に取り付けられた磁界及び/又は電界を集中させるフィールド集中要素(10)と、前記磁界及び/又は電界を発生させるフィールド発生器(8)とを有し、
前記フィールド集中要素は、前記フィールド発生器に当接し又は近傍にある軸方向ベース面(26)を含んだベース部(22)と、前記ワーク面の近くに配置される軸方向端面(28)を含んだ集束部(24)とを有し、
前記軸方向ベース面の平均幅又は直径D2が前記軸方向端面の直径D1よりも大きく、
前記ベース部は、曲面(33)によって前記集束部に接続されており、
前記曲面は、前記フィールド集中要素(10)の中心方向に凹んだ形状である
ことを特徴とする支持デバイス。 - 前記曲面は、連続的形状を有する
ことを特徴とする請求項1に記載の支持デバイス。 - 前記曲面は、一定の曲率半径Rを有する
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の支持デバイス。 - 前記曲面は、曲率半径Rが変化し、その曲がった部分の半径は、前記集束部の側で大きい
ことを特徴とする請求項2に記載の支持デバイス。 - 前記曲面は、前記集束部と連続的に接続している
ことを特徴とする請求項2〜4に記載の支持デバイス。 - 前記集束部は、円筒形の区画と、及び前記支持デバイスの回転軸に垂直な平坦又は実質的に平坦な軸方向端面(28)とを有する
ことを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の支持デバイス。 - 前記軸方向端面の直径D1は、0.15〜0.6mmであり、
前記ベース部の直径又は幅D2は、2〜3mmであり、
前記曲面の半径Rは、1.5〜4mmである
ことを特徴とする請求項1〜6のいずれか一項に記載の支持デバイス。 - 前記フィールド集中要素の材料は、保磁力が5kA/m以上であって最大透磁率が100以上である軟鋼である
ことを特徴とする請求項1〜7のいずれか一項に記載の支持デバイス。 - 前記フィールド発生器は、1テスラを超える飽和磁界を有する希土類永久磁石である
ことを特徴とする請求項1〜8のいずれか一項に記載の支持デバイス。 - 前記フィールド発生器は、電気的キャパシターを有する
ことを特徴とする請求項1〜9のいずれか一項に記載の支持デバイス。 - 前記フィールド発生器は、前記支持体に前記ハウジングと連通するようにして形成される空洞(13)に配置され、
前記フィールド発生器は、前記フィールド集中要素の一部の軸方向ベース面(26)に対して当接し又はこれに近傍にある
ことを特徴とする請求項1〜10のいずれか一項に記載の支持デバイス。 - 前記ワーク面の材料は、コランダム、ダイヤモンド及びセラミックス材料から選択される
ことを特徴とする請求項1〜11のいずれか一項に記載の支持デバイス。 - 前記ワーク面は、前記ハウジング(15)を閉じる端壁(14)で組み立てられた端片(18)上にある
ことを特徴とする請求項1〜12のいずれか一項に記載の支持デバイス。 - 前記ハウジングは、円筒状の壁を有し、前記端壁は、前記端片を固定するための中央オリフィスを備える円形の円盤の形を実質的に有する
ことを特徴とする請求項13に記載の支持デバイス。 - 前記集束部は、回転軸近くの透磁率が他の部分の透磁率よりも高い磁気的に不均質なものである
ことを特徴とする請求項1〜14のいずれか一項に記載の支持デバイス。 - 第1の支持デバイス(2)及び第2の支持デバイス(4)を支持するフレーム(9)を有する測定及び検査機器(1)であって、
前記第1の支持デバイスは、請求項1〜14のいずれか一項に記載の支持デバイスの特徴を有し、
これらの2つの支持デバイスは、同じ軸線A上に整列しており、
互いに対して反対方向に向いており、これらの支持デバイスの間に、測定又は検査されるメンバー(3)を受けるように構成されている
ことを特徴とする測定及び検査機器。 - 前記フレームは、異なる長さを有するメンバーを測定又は検査することを可能にするように、前記2つの支持デバイスの間の距離を変えるスライドデバイスを有する
ことを特徴とする請求項16に記載の測定及び検査機器。 - 検査されるメンバー(3)のアーバー(5)の第1の端(7a)が、前記第1の支持デバイス(2)に当接し、
アーバー(5)の他方の端(7b)が、小空間によって前記第2の支持デバイス(4)から分けられており、
前記第1の支持デバイスによって与えられる磁気的及び/又は電気的な引力は、前記第2の支持デバイスによって与えられるものよりも大きい
ことを特徴とする請求項16または17のいずれか一項に記載の測定及び検査機器。 - 前記第2の支持デバイスは、請求項1〜14のいずれか一項に記載の支持デバイスの特徴を有する
ことを特徴とする請求項16〜18のいずれか一項に記載の測定及び検査機器。 - 光学カメラと、及び請求項16〜19のいずれか一項に記載の測定及び検査機器とを有する光学的測定又は検査装置。
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