JP6166645B2 - 光断層画像撮影装置 - Google Patents
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Landscapes
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- Eye Examination Apparatus (AREA)
Description
12・・光源
20・・干渉計
22・・参照ミラー
24・・ビームスプリッタ
26・・受光素子
48・・ホットミラー
50・・観察光学系
62・・モニタ
64・・演算装置
Claims (4)
- 周期的に光の波長を掃引する光源と、
光源からの光を被検物の内部に照射すると共にその反射光を導く測定光学系と、
光源からの光を案内して参照光とする参照光学系と、
光源からの光の波長掃引速度又はその変動量を検出する波長掃引速度検出手段と、
測定光学系により導かれた反射光と参照光学系により案内された参照光とが合成された測定用干渉光を受光して測定用干渉信号を出力する受光素子と、
光源からの光の波長掃引時における光の「周波数―時間」の関係を規定するリスケーリングデータを記憶するメモリと、
光源からの光を周期的に掃引したときに受光素子から出力される測定用干渉信号に対して、周期毎に、リスケーリングデータと、波長掃引速度検出手段で検出される当該周期における光源の波長掃引速度又はその変動量とを用いて、等時間間隔でサンプリングした当該周期における測定用干渉信号を、等周波数間隔でサンプリングした測定用干渉信号に変換し、その変換した等周波数間隔でサンプリングした測定用干渉信号をフーリエ変換するフーリエ変換処理を実行可能な演算装置と、を有しており、
波長掃引速度検出手段は、光源からの光から波長掃引速度検出用干渉光を生成し、
演算装置は、波長掃引速度検出用干渉光から波長掃引速度の変動量を算出し、その算出した波長掃引速度の変動量を用いて前記リスケーリングデータを補正し、その補正されたリスケーリングデータを用いて、等時間間隔でサンプリングした当該周期における測定用干渉信号を、等周波数間隔でサンプリングした測定用干渉信号に変換する、光断層画像撮影装置。 - 光源からの光を複数周期掃引したときに、波長掃引速度検出手段は、周期毎に、当該周期の波長掃引速度検出用干渉光を生成し、
演算装置は、複数周期の波長掃引速度検出用干渉光の中から選択された1つの波長掃引速度検出用干渉光を基準として、周期毎の波長掃引速度の変動量を算出する、請求項1に記載の光断層画像撮影装置。 - 波長掃引速度検出手段は、光源からの光を少なくとも1つの反射面に照射すると共に、その反射面で反射される反射光を案内する波長掃引速度検出用光学系を有し、波長掃引速度検出用光学系により案内された反射光と参照光学系により案内された参照光とを合成して波長掃引速度検出用干渉光を生成する、請求項1〜2のいずれか一項に記載の光断層画像撮影装置。
- 被検物が人体の眼である、請求項1〜3のいずれか一項に記載の光断層画像撮影装置。
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