JP6137725B2 - Conveying device and contact assembly device - Google Patents

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Description

本発明は、主要には、通電検査用の接触子等を搬送する搬送装置及び当該接触子を組み立てる組立装置に関する。   The present invention mainly relates to a transport device that transports a contact or the like for energization inspection and an assembly device that assembles the contact.

従来から、集積回路や回路基板が有する回路パターンが設計通りに完成しているかを検査することが行われる。この検査は、通電検査用の接触子を、集積回路等の表面に沿って移動させたり、表面に設定される複数の検査点に夫々対応する複数の接触子を導通接触させたりすることにより行われる。   Conventionally, it is inspected whether a circuit pattern of an integrated circuit or a circuit board is completed as designed. This inspection is performed by moving a contact for an energization inspection along the surface of an integrated circuit or the like, or by bringing a plurality of contacts corresponding to a plurality of inspection points set on the surface into conduction contact. Is called.

この通電検査用の接触子は、高い弾性特性を発揮できるように、スプリング構造を有することが好ましい。特許文献１は、スプリング構造を有する通電検査用の接触子を製造する方法を開示する。   It is preferable that the contact for inspecting current supply has a spring structure so that high elastic characteristics can be exhibited. Patent Document 1 discloses a method of manufacturing a contact for inspection of current having a spring structure.

特許文献１では、極細の心材の外周に、金メッキ層、Ｎｉ電鋳層、及びレジスト層を形成する。次に、このレジスト層に螺旋状にレーザを照射して、照射部分のレジスト層を除去する。次に、エッチングを行って、レジスト層が除去された部分のＮｉ電鋳層を除去し、その後に心材を除去する。これにより、Ｎｉ電鋳層から構成され、金メッキ層が内面に形成されたスプリング部材が製造される。このスプリング部材は筒状であり、この内部に接触ピン（プランジャ）を差し込んで溶接等により固定することで、通電検査用の接触子が製造される。   In Patent Document 1, a gold plating layer, a Ni electroforming layer, and a resist layer are formed on the outer periphery of an extremely fine core material. Next, this resist layer is spirally irradiated with a laser to remove the resist layer at the irradiated portion. Next, etching is performed to remove the Ni electroformed layer where the resist layer has been removed, and then the core material is removed. As a result, a spring member made of a Ni electroformed layer and having a gold plating layer formed on the inner surface is manufactured. The spring member has a cylindrical shape, and a contact pin (plunger) is inserted into the spring member and fixed by welding or the like, whereby a contact for an electric current inspection is manufactured.

特許第４５７２３０３号公報Japanese Patent No. 4572303

ところで、特許文献１において、スプリング部材と接触ピンとを自動的に溶接する装置（接触子組立装置）を考えた場合、組立前のスプリング部材及び接触ピン（以下、まとめて搬送対象物と称する）を載せておく供給トレイと、供給トレイに載せられた搬送対象物を捕捉及び保持して運ぶための搬送装置と、が少なくとも必要となる。   By the way, in Patent Document 1, when an apparatus (contact assembly apparatus) for automatically welding a spring member and a contact pin is considered, a spring member and a contact pin (hereinafter collectively referred to as a conveyance object) before assembly. At least a supply tray to be placed and a transport device for capturing and holding a transport object placed on the supply tray are required.

しかし、例えば負圧源を利用した空気吸引力を利用して搬送対象物を捕捉及び保持する場合、搬送対象物は極細であるので、搬送装置の位置制御を高精度にしないと、搬送対象物を適切に捕捉及び保持できない。   However, for example, when the object to be conveyed is captured and held using an air suction force using a negative pressure source, the object to be conveyed is extremely thin. Cannot be properly captured and retained.

また、例えば供給トレイ上の所定の位置に搬送対象物を並べて、その位置を目標として搬送装置を移動させる場合、搬送対象物の位置が変化することを防止するため、供給トレイに粘着性を持たせる場合がある。この場合、粘着力により搬送対象物を捕捉できないことが考えられる。   In addition, for example, when arranging the conveyance object at a predetermined position on the supply tray and moving the conveyance device with the position as a target, the supply tray has adhesiveness to prevent the position of the conveyance object from changing. There is a case to make it. In this case, it is considered that the conveyance object cannot be captured due to the adhesive force.

なお、従来では搬送対象物を適切に搬送できなかったため、通電検査用の接触子を自動で組み立てる装置は実現されていなかった。   Conventionally, since the object to be conveyed cannot be properly conveyed, an apparatus for automatically assembling a contact for inspecting the electric current has not been realized.

本発明は以上の事情に鑑みてされたものであり、その主要な目的は、通電検査用の接触子の構成部品等を精度良く捕捉して保持可能な搬送装置を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and a main object of the present invention is to provide a transport device that can accurately capture and hold the components and the like of the contact for inspection.

課題を解決するための手段及び効果Means and effects for solving the problems

本発明の解決しようとする課題は以上の如くであり、次にこの課題を解決するための手段とその効果を説明する。   The problems to be solved by the present invention are as described above. Next, means for solving the problems and the effects thereof will be described.

本発明の第１の観点によれば、供給部に載せられた細長状の搬送対象物を搬送する搬送装置において、以下の構成の搬送装置が提供される。即ち、この搬送装置は、挟み部と、吸引部と、アーム部と、を備える。前記挟み部は、前記供給部に載せられた前記搬送対象物を、少なくとも第１挟み部材及び第２挟み部材で挟み込んで前記供給部から浮かせる。前記吸引部は、前記挟み部が前記供給部から浮かせた前記搬送対象物を吸引する吸引孔が形成される。前記アーム部は、前記吸引部が吸引して保持した前記搬送対象物を移動させる。   According to the 1st viewpoint of this invention, the conveying apparatus of the following structures is provided in the conveying apparatus which conveys the elongate conveyance target object mounted on the supply part. That is, the transport device includes a pinching portion, a suction portion, and an arm portion. The sandwiching unit sandwiches the conveyance object placed on the supply unit with at least a first sandwiching member and a second sandwiching member and floats the conveyance object from the supply unit. The suction part is formed with a suction hole for sucking the transport object that the pinching part floats from the supply part. The arm unit moves the conveyance object sucked and held by the suction unit.

これにより、挟み部が搬送対象物を供給部から浮かせることで、吸引部による吸引保持を精度良く成功させることができる。   Thereby, the holding | maintenance part can be made to succeed in the suction holding | maintenance with a sufficient precision because a conveyance part floats a conveyance target object from a supply part.

前記の搬送装置においては、前記第１挟み部材のうち前記第２挟み部材と向かい合う側の面には、傾斜が設けられており、前記搬送対象物を挟み込むときにおいて、この傾斜の形状が、前記第２挟み部材に近づくに従って鉛直方向の下側に近づくような形状であることが好ましい。 In the transport device, a slope is provided on a surface of the first sandwiching member facing the second sandwiching member, and when the transport object is sandwiched, the shape of the slope is The shape is preferably such that it approaches the lower side in the vertical direction as it approaches the second pinching member .

これにより、挟み部の傾斜により搬送対象物を浮かせ易くすることができるので、吸引部による吸引保持をより確実に成功させることができる。   Thereby, the conveyance object can be easily floated by the inclination of the pinching portion, so that the suction holding by the suction portion can be succeeded more reliably.

前記の搬送装置においては、前記第１挟み部材及び前記第２挟み部材のうち少なくとも一方が板バネにより構成されていることが好ましい。   In the transport apparatus, it is preferable that at least one of the first sandwiching member and the second sandwiching member is configured by a leaf spring.

これにより、板バネは力を受けることで変位するので、無理な力が掛かることを防止できる。   Thereby, since a leaf | plate spring is displaced by receiving force, it can prevent applying excessive force.

前記の搬送装置においては、以下の構成とすることが好ましい。即ち、この搬送装置は、前記吸引部が発生させる吸引力を利用して前記第１挟み部材を前記第２挟み部材に近づける第１挟み部材駆動部を備える。前記第１挟み部材駆動部により前記第１挟み部材を前記第２挟み部材に近づけて前記搬送対象物を吸引したときに、前記第１挟み部材が吸引孔の一部を塞ぐ。   In the said conveying apparatus, it is preferable to set it as the following structures. That is, the transport device includes a first pinching member driving unit that brings the first pinching member closer to the second pinching member by using a suction force generated by the suction unit. The first pinching member closes a part of the suction hole when the first pinching member is brought close to the second pinching member by the first pinching member driving unit to suck the conveyance object.

これにより、吸引流を用いて挟み動作を実現できるので他の駆動部が不要となる。また、第１挟み部材が吸引孔の一部を塞ぐことで、搬送対象物を強力に保持できる。   As a result, the pinching operation can be realized using the suction flow, so that no other driving unit is required. Moreover, a conveyance target can be hold | maintained strongly because a 1st clamping member blocks a part of suction hole.

前記の搬送装置においては、以下の構成とすることが好ましい。即ち、この搬送装置は、前記吸引孔の内部に位置する押出し部を備える。前記押出し部は、前記吸引部が吸引力を発生させたときには、前記吸引孔の内部に位置する。前記押出し部は、前記吸引部が吸引力を停止させたときには、前記吸引孔の外部へ突出する。   In the said conveying apparatus, it is preferable to set it as the following structures. That is, the transport device includes an extruding portion located inside the suction hole. The pushing portion is located inside the suction hole when the suction portion generates a suction force. The push-out portion protrudes outside the suction hole when the suction portion stops the suction force.

これにより、吸引力を発生させて搬送対象物を吸引しているときは邪魔にならず、吸引力を停止させたタイミング（搬送が完了したタイミング）で搬送対象物を押し出して所定の位置に載せることができる。   Accordingly, when the conveyance target is sucked by generating a suction force, the conveyance target is pushed out and placed at a predetermined position at the timing when the suction force is stopped (the timing when the conveyance is completed). be able to.

前記の搬送装置においては、前記搬送対象物は、前記供給部の粘着面に載せられることが好ましい。   In the said conveying apparatus, it is preferable that the said conveyance target object is mounted on the adhesion surface of the said supply part.

搬送対象物が極軽量である場合、粘着面に載せられることがある。この場合、従来では吸引部による吸引保持に失敗することがあった。この点、本発明では挟み部の動作により、吸引保持を精度良く成功させることができる。   If the object to be transported is extremely light, it may be placed on the adhesive surface. In this case, conventionally, suction holding by the suction unit may fail. In this respect, in the present invention, the suction holding can be succeeded with high accuracy by the operation of the pinching portion.

前記の搬送装置においては、前記搬送対象物は、通電検査用の接触子の一部でありスプリング構造を有する筒状の部材であるスプリング部材と、前記スプリング部材の内部に固定され、通電検査時の接触部分を有する接触ピンと、の少なくとも何れかであることが好ましい。   In the transport apparatus, the transport object is a part of a contact for inspecting current and is a cylindrical member having a spring structure and is fixed to the inside of the spring member. It is preferable that the contact pin has at least one of the contact portions.

これにより、通電検査用の接触子の構成部品を確実に他の装置へ搬送することができる。   Thereby, the component of the contact for an electric current inspection can be reliably conveyed to another device.

本発明の第２の観点によれば、以下の構成の接触子組立装置が提供される。即ち、この接触子組立装置は、スプリング部材搬送部と、接触ピン搬送部と、接続部と、荷重試験部と、テーブルと、接触子収容部と、を備える。前記スプリング部材搬送部は、通電検査用の接触子の一部でありスプリング構造を有する筒状の部材であるスプリング部材を搬送して供給する。前記接触ピン搬送部は、前記スプリング部材の内部に固定され、通電検査時の接触部分を有する接触ピンを搬送して供給する。前記接続部は、前記スプリング部材搬送部及び前記スプリング部材と、前記接触ピン搬送部により供給された前記接触ピンと、を接続する。前記荷重試験部は、前記接続部によって接続されることで形成された前記接触子の荷重試験を行う。前記テーブルは、前記スプリング部材及び前記接触ピンを前記接続部まで運び、前記接続部が作成した接触子を前記荷重試験部まで運ぶ。前記接触子搬送部は、前記荷重試験が行われた前記接触子を搬送して収容する。前記スプリング部材搬送部及び前記接触ピン搬送部のうち少なくとも１つが前記の搬送装置である。 According to the 2nd viewpoint of this invention, the contactor assembly apparatus of the following structures is provided. That is, the contact assembly apparatus includes a spring member transport unit, a contact pin transport unit, a connection unit, a load test unit, a table, and a contact housing unit. The spring member conveying unit conveys and supplies a spring member which is a part of a contact for inspecting the current and is a cylindrical member having a spring structure. The contact pin conveyance unit conveys and supplies a contact pin that is fixed inside the spring member and has a contact portion at the time of an energization inspection. The connecting portion connects the spring member conveying portion and the spring member to the contact pin supplied by the contact pin conveying portion. The load test section performs a load test of the contact formed by being connected by the connection section. The table carries the spring member and the contact pin to the connection part, and carries the contact created by the connection part to the load test part. The contact conveying unit conveys and accommodates the contact subjected to the load test. At least one of the spring member conveyance unit and the contact pin conveyance unit is the conveyance device.

これにより、前記スプリング部材及び前記接触ピンを接続する工程と、その荷重試験を行う工程と、を一連の流れで行うことができるので、効率的に接触子を組み立てることができる。   Thereby, since the process of connecting the spring member and the contact pin and the process of performing the load test can be performed in a series of flows, the contact can be efficiently assembled.

前記の接触子組立装置においては、以下の構成とすることが好ましい。即ち、前記テーブルは、少なくとも１つの円形テーブルを備えている。前記円形テーブルの円周部の近傍に、前記スプリング部材搬送部、前記接触ピン搬送部、前記接続部、前記荷重試験部、前記接触子搬送部が配置される。   The contact assembly apparatus preferably has the following configuration. In other words, the table includes at least one circular table. The spring member conveyance unit, the contact pin conveyance unit, the connection unit, the load test unit, and the contact conveyance unit are disposed in the vicinity of the circumferential portion of the circular table.

これにより、円形テーブルを回転させつつ各部により処理を行うだけで接触子を組み立てることができる。   Thereby, a contactor can be assembled only by processing by each part, rotating a circular table.

通電検査用の接触子を製造する工程の前半部を示す図。The figure which shows the first half part of the process of manufacturing the contact for electrical conductivity inspection. 通電検査用の接触子を製造する工程の後半部を示す図。The figure which shows the latter half part of the process which manufactures the contact for electric current inspection. 通電検査用の接触子を組み立てる接触子組立装置の概略を示す平面図。The top view which shows the outline of the contact assembly apparatus which assembles the contact for an electricity supply test | inspection. 搬送装置の捕捉部の近傍を示す正面図及び底面図。The front view and bottom view which show the vicinity of the capture part of a conveying apparatus. 搬送装置がスプリング部材（接触ピン）を捕捉して搬送する様子の前半を示す図。The figure which shows the first half of a mode that a conveyance apparatus captures and conveys a spring member (contact pin). 搬送装置がスプリング部材（接触ピン）を捕捉して搬送する様子の前半を示す図。The figure which shows the first half of a mode that a conveyance apparatus captures and conveys a spring member (contact pin). 搬送装置の捕捉部の変形例を示す正面断面図。Front sectional drawing which shows the modification of the capture part of a conveying apparatus.

次に、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。初めに、図１及び図２を参照して、通電検査用の接触子を製造する工程について簡単に説明する。図１及び図２は、通電検査用の接触子を製造する工程を示す図である。なお、以下では、各工程を行う対象を「処理対象物１０」と総称する。また、本願の図面では、視認性を向上させるために処理対象物１０を実際よりも太く描いている。   Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. First, with reference to FIG.1 and FIG.2, the process of manufacturing the contact for electrical conduction inspection is demonstrated easily. 1 and 2 are diagrams illustrating a process of manufacturing a contact for inspecting current. In the following, the target for performing each step is collectively referred to as “processing object 10”. Further, in the drawings of the present application, the processing object 10 is drawn thicker than actual in order to improve the visibility.

本処理では、心材１１をベースにして処理を行う。心材１１は、５μｍ以上の極細の金属線や樹脂線を用いることができる。金属線としてはステンレス又はアルミニウム等を用いることができ、樹脂線としてはナイロン樹脂又はポリエチレン樹脂等を用いることができる。   In this processing, processing is performed based on the core material 11. As the core material 11, an extremely fine metal wire or resin wire of 5 μm or more can be used. Stainless steel or aluminum can be used as the metal wire, and nylon resin or polyethylene resin can be used as the resin wire.

初めに、一般的なメッキ処理により、心材１１に金メッキ層１２を形成する（図１を参照、金メッキ層形成処理）。金メッキ層は、０．２μｍから１μｍ程度の厚さであることが好ましい。   First, a gold plating layer 12 is formed on the core material 11 by a general plating process (see FIG. 1, gold plating layer forming process). The gold plating layer preferably has a thickness of about 0.2 μm to 1 μm.

次に、所定の洗浄処理を行った後に電鋳処理を行うことにより、金メッキ層１２を覆うようにＮｉ電鋳層１３を形成する（Ｎｉ電鋳層形成処理）。Ｎｉ電鋳層１３は、５μｍから３５μｍの厚さであることが好ましい。   Next, by performing an electroforming process after performing a predetermined cleaning process, a Ni electroformed layer 13 is formed so as to cover the gold plating layer 12 (Ni electroformed layer forming process). The Ni electroformed layer 13 preferably has a thickness of 5 μm to 35 μm.

次に、Ｎｉ電鋳層１３を形成した処理対象物１０をフォトレジスト液に所定時間だけ浸漬させることで、レジスト層１４を形成する（レジスト層形成処理）。今回の説明ではポジ型のフォトレジスト液を用いるが、ネガ型のフォトレジスト液を用いても良い。   Next, the resist layer 14 is formed by immersing the processing object 10 on which the Ni electroformed layer 13 is formed in a photoresist solution for a predetermined time (resist layer forming process). In this explanation, a positive type photoresist solution is used, but a negative type photoresist solution may be used.

次に、処理対象物１０に螺旋状にレーザを照射する。具体的には、処理対象物１０を回転させた状態で、レーザ装置（又は処理対象物１０）を処理対象物１０の長手方向に沿って移動させることで、螺旋状にレーザが照射される。そして、処理対象物１０を現像液に浸漬させることで露光部分（螺旋状の部分）のレジスト層１４を除去する（レーザ照射処理）。なお、ポジ型ではなくネガ型のフォトレジスト液を用いた場合、螺旋状以外の部分を露光させれば良い。   Next, the processing object 10 is irradiated with a laser in a spiral shape. Specifically, the laser is irradiated spirally by moving the laser device (or the processing target 10) along the longitudinal direction of the processing target 10 while the processing target 10 is rotated. And the resist layer 14 of an exposure part (spiral part) is removed by immersing the process target object 10 in a developing solution (laser irradiation process). Note that when a negative type photoresist solution is used instead of a positive type, a portion other than the spiral may be exposed.

次に、処理対象物１０にエッチング処理を行うことにより、レジスト層１４に覆われていない部分のＮｉ電鋳層１３を除去して金メッキ層１２を露出させる（図２を参照）。なお、このエッチング処理及び以下のレジスト層除去処理は、エッチング装置を用いて行うが、このエッチング装置の詳細は後述する。   Next, by performing an etching process on the object 10 to be processed, the Ni electroformed layer 13 which is not covered with the resist layer 14 is removed to expose the gold plating layer 12 (see FIG. 2). The etching process and the resist layer removing process described below are performed using an etching apparatus. Details of the etching apparatus will be described later.

次に、処理対象物１０を洗浄した後に、処理対象物１０を所定のレジスト層除去液に浸漬させることで、レジスト層１４を除去する（レジスト層除去処理）。その後、例えば超音波洗浄等を行うことにより、螺旋状の溝部分における金メッキ層１２を除去する（金メッキ層除去処理）。   Next, after the processing object 10 is washed, the resist layer 14 is removed by immersing the processing object 10 in a predetermined resist layer removing solution (resist layer removal process). Thereafter, for example, by performing ultrasonic cleaning or the like, the gold plating layer 12 in the spiral groove portion is removed (gold plating layer removal process).

次に、Ｎｉ電鋳層１３の内側に位置している金メッキ層１２を残したまま心材１１のみを除去する（心材除去処理）。心材１１の除去は、例えば心材１１を変形させた後に引き抜く方法や、所定の溶液に心材１１を浸漬させることで、心材１１を溶解させる方法等を採用することができる。これにより、スプリング構造を有する部材（スプリング部材１５）を製造することができる。   Next, only the core material 11 is removed while leaving the gold plating layer 12 positioned inside the Ni electroformed layer 13 (core material removal process). The core material 11 can be removed by, for example, a method of drawing the core material 11 after it is deformed or a method of dissolving the core material 11 by immersing the core material 11 in a predetermined solution. Thereby, the member (spring member 15) which has a spring structure can be manufactured.

その後、スプリング部材１５の内部に導電性の接触ピン（プランジャ）１６を挿入して溶接等により固定することで、スプリング構造を有する通電検査用の接触子１７が完成する（ピン取付処理）。なお、集積回路等には、このスプリング部材１５の先端の尖った部分を接触させる。   Thereafter, a conductive contact pin (plunger) 16 is inserted into the spring member 15 and fixed by welding or the like, thereby completing a contact 17 for energization inspection having a spring structure (pin attachment process). A pointed portion of the spring member 15 is brought into contact with the integrated circuit or the like.

次に、上述のピン取付処理を自動的に行う接触子組立装置２０について説明する。初めに、図３を参照して、接触子組立装置２０の概要について説明する。図３は、通電検査用の接触子を組み立てる接触子組立装置２０の概略を示す平面図である。   Next, the contact assembly apparatus 20 that automatically performs the pin mounting process described above will be described. First, the outline of the contact assembly apparatus 20 will be described with reference to FIG. FIG. 3 is a plan view showing an outline of a contact assembly apparatus 20 that assembles a contact for inspecting an electric current.

接触子組立装置２０は、平面視で時計回りに回転する円板状の円形テーブル（テーブル）５０を備えている。円形テーブル５０には、複数の載置部５１が配置されている。載置部５１は、円形テーブル５０と一体的に回転するように構成され、スプリング部材１５及び接触ピン１６が載せられる部材である。   The contact assembly apparatus 20 includes a disk-shaped circular table (table) 50 that rotates clockwise in plan view. A plurality of placement portions 51 are arranged on the circular table 50. The placement portion 51 is configured to rotate integrally with the circular table 50, and is a member on which the spring member 15 and the contact pin 16 are placed.

また、円形テーブル５０の円周部分には、スプリング部材搬送装置（搬送装置）３０と、接触ピン搬送装置（搬送装置）３４と、が配置されている。   Further, a spring member conveying device (conveying device) 30 and a contact pin conveying device (conveying device) 34 are arranged on the circumferential portion of the circular table 50.

スプリング部材搬送装置３０は、スプリング部材供給トレイ３１と、ベース部３２と、アーム部３３と、を備えている。   The spring member transport device 30 includes a spring member supply tray 31, a base portion 32, and an arm portion 33.

スプリング部材供給トレイ３１は、粘着性を有する粘着面を有している。この粘着面には、上述のスプリング部材１５が並べて配置されている。これにより、スプリング部材１５の位置が変化することを防止できる。   The spring member supply tray 31 has an adhesive surface having adhesiveness. On the adhesive surface, the above-described spring members 15 are arranged side by side. Thereby, it can prevent that the position of the spring member 15 changes.

ベース部３２は、スプリング部材搬送装置３０の略中央に位置する台である。アーム部３３は、このベース部３２から外側へ延びる部材である。ベース部３２は回転軸を有しており、この回転軸を中心にして、アーム部３３を回転させることができる。また、アーム部３３は、スプリング部材供給トレイ３１に配置されたスプリング部材１５を捕捉できる捕捉部７０（詳細は後述）を有している。   The base portion 32 is a table that is positioned substantially at the center of the spring member conveyance device 30. The arm portion 33 is a member that extends outward from the base portion 32. The base portion 32 has a rotation shaft, and the arm portion 33 can be rotated around the rotation shaft. Further, the arm portion 33 has a capturing portion 70 (details will be described later) that can capture the spring member 15 disposed on the spring member supply tray 31.

この構成により、スプリング部材搬送装置３０は、アーム部３３をスプリング部材供給トレイ３１の上に移動させてスプリング部材１５を捕捉し、アーム部３３を再び移動させて載置部５１にスプリング部材１５を載せることができる。   With this configuration, the spring member transport device 30 moves the arm portion 33 onto the spring member supply tray 31 to capture the spring member 15, moves the arm portion 33 again, and places the spring member 15 on the mounting portion 51. Can be placed.

接触ピン搬送装置３４は、接触ピン供給トレイ３５と、ベース部３６と、アーム部３７と、を備えている。接触ピン搬送装置３４を構成する各部は、スプリング部材搬送装置３０を構成する各部と同等の構成である。   The contact pin transport device 34 includes a contact pin supply tray 35, a base portion 36, and an arm portion 37. Each part which comprises the contact pin conveying apparatus 34 is a structure equivalent to each part which comprises the spring member conveying apparatus 30. FIG.

従って、接触ピン搬送装置３４は、アーム部３７を接触ピン供給トレイ３５の上に移動させて接触ピン１６を捕捉し、アーム部３７を再び移動させて載置部５１に接触ピン１６を載せることができる。以上により、載置部５１にスプリング部材１５及び接触ピン１６を載せることができる。   Therefore, the contact pin transport device 34 moves the arm portion 37 onto the contact pin supply tray 35 to capture the contact pin 16, moves the arm portion 37 again, and places the contact pin 16 on the mounting portion 51. Can do. As described above, the spring member 15 and the contact pin 16 can be placed on the placement portion 51.

接触子組立装置２０は、円形テーブル５０に隣接するように配置された別の円形テーブル（テーブル）５５を備えている。円形テーブル５５には、円形テーブル５０と同様に、載置部５６が配置されるとともに、平面視で時計回りに回転可能に構成されている。また、円形テーブル５０と、円形テーブル５５とが隣接する部分では、載置部５１に載せられたスプリング部材１５及び接触ピン１６を、載置部５６に載せ変える（受け渡す）ことが可能に構成されている。   The contact assembly apparatus 20 includes another circular table (table) 55 disposed adjacent to the circular table 50. Similar to the circular table 50, the circular table 55 is provided with a placement portion 56 and is configured to be rotatable clockwise in plan view. Further, in a portion where the circular table 50 and the circular table 55 are adjacent to each other, the spring member 15 and the contact pin 16 mounted on the mounting unit 51 can be mounted on the mounting unit 56 (transferred). Has been.

円形テーブル５５の円周部分には、接続部６０と、荷重試験部６１と、接触子搬送装置６２と、が配置されている。   A connection portion 60, a load test portion 61, and a contact conveying device 62 are disposed on the circumferential portion of the circular table 55.

接続部６０は、スプリング部材１５と接触ピン１６とを接続する。スプリング部材１５と接触ピン１６とを接続する方法は任意だが、例えば、溶接、かしめ、接着剤による接続方法を採用することができる。なお、上述のように、スプリング部材１５と接触ピン１６とを接続した部材は、通電検査用の接触子１７として用いられる。   The connection part 60 connects the spring member 15 and the contact pin 16. Although the method of connecting the spring member 15 and the contact pin 16 is arbitrary, for example, a connection method using welding, caulking, or an adhesive can be employed. Note that, as described above, the member in which the spring member 15 and the contact pin 16 are connected is used as the contact 17 for energization inspection.

荷重試験部６１は、接触子１７に荷重を掛けたときの変位等を測定している。荷重試験部６１が所定の基準を満たさないと判定した接触子１７は、適切なタイミングで取り除かれる。   The load test unit 61 measures a displacement or the like when a load is applied to the contact 17. The contact 17 determined by the load test unit 61 not to satisfy the predetermined standard is removed at an appropriate timing.

接触子搬送装置６２は、接触子収容トレイ６３と、ベース部６４と、アーム部６５と、を備えている。接触子搬送装置６２を構成する各部は、スプリング部材搬送装置３０（接触ピン搬送装置３４）を構成する各部と略同等の略構成である。   The contact conveying device 62 includes a contact accommodating tray 63, a base part 64, and an arm part 65. Each part which comprises the contactor conveying apparatus 62 is the substantially same structure as each part which comprises the spring member conveying apparatus 30 (contact pin conveying apparatus 34).

従って、接触子搬送装置６２は、アーム部６５を載置部５６の上に移動させて接触子１７を捕捉し、アーム部６５を再び移動させて接触子収容トレイ６３に接触子１７を載せることができる。   Therefore, the contact conveying device 62 moves the arm unit 65 onto the placement unit 56 to capture the contact 17 and moves the arm unit 65 again to place the contact 17 on the contact accommodating tray 63. Can do.

以上の構成により、自動的かつスムーズに接触子１７の組立て（ピン取付工程）を行うことができる。   With the above configuration, the contact 17 can be automatically and smoothly assembled (pin mounting step).

次に、スプリング部材搬送装置３０（接触ピン搬送装置３４）の捕捉部７０の構成について説明する。図４は、搬送装置の捕捉部の近傍を示す正面図及び底面図である。なお、以下の説明では、スプリング部材１５と接触ピン１６の総称を「搬送対象物」として説明を行う。   Next, the configuration of the capturing unit 70 of the spring member conveying device 30 (contact pin conveying device 34) will be described. 4A and 4B are a front view and a bottom view showing the vicinity of the capturing unit of the transport device. In the following description, the generic name of the spring member 15 and the contact pin 16 will be described as “conveyance object”.

上述のアーム部３３，３７は、スプリング部材供給トレイ３１や載置部５１等よりも高い位置に配置されている。また、アーム部３３，３７の先端部には、捕捉部７０が配置されている。従って、捕捉部７０は、アーム部３３，３７の先端部から下方に延びるように形成されている。   The above-mentioned arm portions 33 and 37 are disposed at a position higher than the spring member supply tray 31 and the placement portion 51. In addition, a capture unit 70 is disposed at the distal ends of the arm units 33 and 37. Therefore, the capturing part 70 is formed so as to extend downward from the distal ends of the arm parts 33 and 37.

また、捕捉部７０は、吸引部７１と、吸引孔７２と、第１挟み部材７３と、第２挟み部材７４と、を備えている。また、第１挟み部材７３と第２挟み部材７４とで挟み部が構成されている。   The capturing unit 70 includes a suction unit 71, a suction hole 72, a first sandwiching member 73, and a second sandwiching member 74. Further, the first pinching member 73 and the second pinching member 74 constitute a pinching portion.

吸引部７１は、筒状の部材であり、図略の負圧源に接続されている。また、吸引部７１の先端側（搬送対象物が配置されている側）には、複数の吸引孔７２が並べて配置されている（図４（ｂ）を参照）。これにより、吸引孔７２から吸引流を発生させることができる。なお、吸引孔７２の配列方向は、搬送対象物の長手方向と同一である。   The suction part 71 is a cylindrical member and is connected to a negative pressure source (not shown). In addition, a plurality of suction holes 72 are arranged side by side on the distal end side (side on which the conveyance object is disposed) of the suction portion 71 (see FIG. 4B). Thereby, a suction flow can be generated from the suction hole 72. The arrangement direction of the suction holes 72 is the same as the longitudinal direction of the conveyance target.

吸引部７１の先端側であって、吸引孔７２の近傍には、細長状の第２挟み部材７４が形成されている。第１挟み部材７３は、この第２挟み部材７４に向かい合うように、配置されている（図４を参照）。第１挟み部材７３及び第２挟み部材７４は所定の間隔をあけて配置されているが、この間隔は接触子組立装置２０の制御装置等の指示に応じて変更可能である。なお、第１挟み部材７３及び第２挟み部材７４の間隔を変化させる方法は任意であり、何れか一方のみを移動させても良いし、両方を移動させても良い。   An elongated second pinching member 74 is formed on the distal end side of the suction portion 71 and in the vicinity of the suction hole 72. The 1st pinching member 73 is arrange | positioned so that this 2nd pinching member 74 may be faced (refer FIG. 4). The first pinching member 73 and the second pinching member 74 are arranged at a predetermined interval, but this interval can be changed in accordance with an instruction from the control device or the like of the contact assembly apparatus 20. In addition, the method of changing the space | interval of the 1st clamping member 73 and the 2nd clamping member 74 is arbitrary, You may move only any one, You may move both.

この第１挟み部材７３は板バネにより構成されている。また、第１挟み部材７３は、図４（ａ）に示すように、第２挟み部材７４と向かい合う側の面に傾斜が形成されている。これにより、第１挟み部材７３と第２挟み部材７４との間隔を狭めることで、搬送対象物を浮かせ易くすることができる。   The first pinching member 73 is configured by a leaf spring. Further, as shown in FIG. 4A, the first pinching member 73 is inclined on the surface facing the second pinching member 74. Thereby, the conveyance target can be easily floated by narrowing the interval between the first sandwiching member 73 and the second sandwiching member 74.

また、この傾斜が形成された箇所は、図４（ｂ）に示すように、吸引孔７２の形状に対応するように切欠きが形成されている。これにより、第１挟み部材７３と第２挟み部材７４との間隔を狭めた場合であっても吸引流を作用させることができる。   Further, as shown in FIG. 4B, a notch is formed in the portion where the inclination is formed so as to correspond to the shape of the suction hole 72. Thereby, even if it is a case where the space | interval of the 1st clamping member 73 and the 2nd clamping member 74 is narrowed, a suction flow can be made to act.

次に、捕捉部７０によりスプリング部材１５（接触ピン１６）を捕捉するときの流れについて説明する。図５及び図６は、搬送装置がスプリング部材１５（接触ピン１６）を捕捉して搬送する様子を示す図である。   Next, a flow when the spring member 15 (contact pin 16) is captured by the capture unit 70 will be described. 5 and 6 are diagrams illustrating a state in which the transport device captures and transports the spring member 15 (contact pin 16).

初めに、スプリング部材搬送装置３０（接触ピン搬送装置３４）は、第１挟み部材７３と第２挟み部材７４との間の真下に搬送対象物が位置するようにアーム部３３，３７を制御して動かす（図５（ａ）を参照）。そして、位置取りができた後に、捕捉部７０を下降させる（図５（ｂ）を参照）。   First, the spring member conveyance device 30 (contact pin conveyance device 34) controls the arm portions 33 and 37 so that the conveyance object is positioned directly between the first pinching member 73 and the second pinching member 74. (See FIG. 5A). Then, after the positioning is completed, the capturing unit 70 is lowered (see FIG. 5B).

これにより、第１挟み部材７３と第２挟み部材７４との間に搬送対象物を位置させることができる。次に、捕捉部７０は、第１挟み部材７３と第２挟み部材７４との間隔を狭めていく。これにより、第１挟み部材７３の傾斜部に沿って搬送対象物を浮かせることができる（図６（ａ）を参照）。   Thereby, a conveyance target object can be located between the 1st clamping member 73 and the 2nd clamping member 74. FIG. Next, the capturing unit 70 narrows the interval between the first sandwiching member 73 and the second sandwiching member 74. Thereby, a conveyance target object can be floated along the inclination part of the 1st clamping member 73 (refer Fig.6 (a)).

また、第１挟み部材７３と第２挟み部材７４との間には吸引孔７２が位置しているので、この状態で吸引流を発生させることで搬送対象物を捕捉して保持することができる。なお、吸引流は、第１挟み部材７３と第２挟み部材７４との間隔を狭めた後に発生させても良いし、その前から発生させていても良い。   Further, since the suction hole 72 is located between the first sandwiching member 73 and the second sandwiching member 74, the transport target can be captured and held by generating a suction flow in this state. . The suction flow may be generated after the interval between the first pinching member 73 and the second pinching member 74 is narrowed or may be generated before that.

その後、捕捉部７０は、再び上方に移動し（図６（ｂ）を参照）、捕捉部７０は搬送対象物を保持した状態でアーム部３３，３７を移動させ、円形テーブル５０の載置部５１の上で吸引流を弱めていくことで、搬送対象物を載置部５１に供給することができる。   Thereafter, the capturing unit 70 moves upward again (see FIG. 6B), and the capturing unit 70 moves the arm units 33 and 37 while holding the object to be transported, so that the mounting unit for the circular table 50 is placed. By weakening the suction flow on 51, the conveyance object can be supplied to the placement unit 51.

次に、本実施形態の変形例について説明する。図７は、搬送装置の捕捉部の変形例を示す正面断面図である。   Next, a modification of this embodiment will be described. FIG. 7 is a front cross-sectional view illustrating a modification of the capturing unit of the transport device.

本変形例の捕捉部７０は、吸引力により第１挟み部材７３を第２挟み部材７４に近づける構成である。具体的には、捕捉部７０は、カバー部８０と、カバー部８０の内部に配置されるジャバラ（第１挟み部材駆動部）８１と、を備えている。   The capturing unit 70 of the present modification is configured to bring the first pinching member 73 closer to the second pinching member 74 by suction force. Specifically, the capturing unit 70 includes a cover unit 80 and a bellows (first pinch member driving unit) 81 disposed inside the cover unit 80.

カバー部８０は、ジャバラ８１に固定されている。また、カバー部８０の下端部には、ボルト等により第１挟み部材７３が固定されている。   The cover part 80 is fixed to the bellows 81. Further, the first pinching member 73 is fixed to the lower end portion of the cover portion 80 with a bolt or the like.

ジャバラ８１は、伸縮性を有するゴム製の部材である。従って、ジャバラ８１は、特に力が掛かっていないときは、図７（ａ）に示す形状となっている。また、本変形例では、吸引流を発生させることで、ジャバラ８１を縮める方向に力が作用する。これにより、カバー部８０及び第１挟み部材７３は、中央部に近づく方向（図７の右側）に移動する（図７（ｂ）を参照）。これにより、吸引流により第１挟み部材７３を第２挟み部材７４に近づけて搬送対象物を捕捉することができる。   The bellows 81 is a rubber member having elasticity. Accordingly, the bellows 81 has a shape shown in FIG. 7A when no force is applied. Moreover, in this modification, force acts in the direction which contracts the bellows 81 by generating a suction flow. Thereby, the cover part 80 and the 1st clamping member 73 move to the direction (right side of FIG. 7) which approaches a center part (refer FIG.7 (b)). Thereby, the conveyance object can be captured by bringing the first pinching member 73 close to the second pinching member 74 by the suction flow.

このとき、第１挟み部材７３は、吸引孔７２の一部を塞ぐように構成されている。これにより、吸引流を有効に活用して搬送対象物を強力に保持することができる。   At this time, the first pinching member 73 is configured to block a part of the suction hole 72. Thereby, a conveyance target can be held strongly using a suction flow effectively.

また、本変形例では、吸引孔７２の上方の吸引経路中に、上下にスライド可能な可動部８２を備えている。可動部８２は、吸引流の停止中（図７（ａ））は、下側に位置している。一方、可動部８２は、吸引流の発生中（図７（ｂ））は、吸引流によって上側に位置する。   In the present modification, a movable portion 82 that can slide up and down is provided in the suction path above the suction hole 72. The movable portion 82 is positioned on the lower side while the suction flow is stopped (FIG. 7A). On the other hand, the movable portion 82 is positioned on the upper side by the suction flow during the generation of the suction flow (FIG. 7B).

また、可動部８２の下端部には押出し部８３が配置されている。押出し部８３は、可動部８２が下側に位置しているとき（吸引流の停止中、図７（ａ））は、吸引孔７２から突出するように構成されている。一方、押出し部８３は、可動部８２が上側に位置しているとき（吸引流の発生中、図７（ｂ））は、吸引孔７２の内側に位置するように構成される。   Further, an extruding portion 83 is disposed at the lower end portion of the movable portion 82. The push-out portion 83 is configured to protrude from the suction hole 72 when the movable portion 82 is positioned on the lower side (when the suction flow is stopped, FIG. 7A). On the other hand, the push-out portion 83 is configured to be positioned inside the suction hole 72 when the movable portion 82 is positioned on the upper side (during generation of the suction flow, FIG. 7B).

この構成により、吸引流の発生中は搬送対象物を吸引して保持できるとともに、吸引流を停止させると押出し部８３により搬送対象物を押し出して所定の位置に載せることができる。   With this configuration, while the suction flow is generated, the conveyance target can be sucked and held, and when the suction flow is stopped, the conveyance target can be pushed out by the push-out unit 83 and placed at a predetermined position.

以上に説明したように、本実施形態のスプリング部材搬送装置３０は、挟み部（第１挟み部材７３及び第２挟み部材７４）と、吸引部７１と、アーム部３３と、を備える。挟み部は、供給トレイに載せられたスプリング部材１５を挟み込んでスプリング部材供給トレイ３１から浮かせる。吸引部７１は、挟み部がスプリング部材供給トレイ３１から浮かせたスプリング部材１５を吸引する吸引孔７２が形成される。アーム部３３は、吸引部７１が吸引して保持したスプリング部材１５を移動させる。なお、接触ピン搬送装置３４についても同様である。   As described above, the spring member transport device 30 according to the present embodiment includes the pinching portions (the first pinching member 73 and the second pinching member 74), the suction portion 71, and the arm portion 33. The sandwiching portion sandwiches the spring member 15 placed on the supply tray and floats from the spring member supply tray 31. The suction portion 71 is formed with a suction hole 72 for sucking the spring member 15 whose pinching portion is lifted from the spring member supply tray 31. The arm part 33 moves the spring member 15 sucked and held by the suction part 71. The same applies to the contact pin conveying device 34.

これにより、挟み部がスプリング部材１５をスプリング部材供給トレイ３１から浮かせることで、吸引部７１による吸引保持を精度良く成功させることができる。   Thereby, the holding | maintenance part makes the spring member 15 float from the spring member supply tray 31, and the suction holding | maintenance by the suction part 71 can be succeeded accurately.

また、本実施形態のスプリング部材搬送装置３０は、吸引部７１が発生させる吸引力を利用して第１挟み部材７３を第２挟み部材７４に近づけるジャバラ８１を備える。ジャバラ８１により第１挟み部材７３を第２挟み部材７４に近づけてスプリング部材１５を吸引したときに、第１挟み部材７３が吸引孔７２の一部を塞ぐ。   Further, the spring member transport device 30 of the present embodiment includes a bellows 81 that brings the first pinching member 73 close to the second pinching member 74 using the suction force generated by the suction portion 71. When the first pinching member 73 is brought close to the second pinching member 74 by the bellows 81 and the spring member 15 is sucked, the first pinching member 73 closes a part of the suction hole 72.

これにより、吸引流を用いて挟み動作を実現できるので他の駆動部が不要となる。また、第１挟み部材７３が吸引孔７２の一部を塞ぐことで、スプリング部材１５を強力に保持できる。   As a result, the pinching operation can be realized using the suction flow, so that no other driving unit is required. Further, since the first pinching member 73 blocks a part of the suction hole 72, the spring member 15 can be held strongly.

以上に本発明の好適な実施の形態を説明したが、上記の構成は例えば以下のように変更することができる。   The preferred embodiment of the present invention has been described above, but the above configuration can be modified as follows, for example.

第１挟み部材７３及び第２挟み部材７４のうち少なくとも一方を他方に近づけても良いし、両方を互いに近づけても良い。また、例えば第２挟み部材７４を分割し、３つ以上の部材により搬送対象物を挟んでも良い。   At least one of the first pinching member 73 and the second pinching member 74 may be close to the other, or both may be close to each other. Further, for example, the second pinching member 74 may be divided and the conveyance object may be pinched by three or more members.

接触子組立装置２０を構成する円形テーブルは１つであっても良いし、３つ以上であっても良い。また、円形テーブルを用いずにベルトコンベア等を用いても良い。また、円形テーブルの回転方向は任意である。   The circular table constituting the contact assembly apparatus 20 may be one, or may be three or more. Further, a belt conveyor or the like may be used without using a circular table. Further, the rotation direction of the circular table is arbitrary.

第１挟み部材７３及び／又は第２挟み部材７４を駆動する駆動源は任意であり、負圧源やモータ以外にも適宜の構成を利用することができる。   The driving source for driving the first pinching member 73 and / or the second pinching member 74 is arbitrary, and an appropriate configuration other than the negative pressure source and the motor can be used.

搬送装置が吸引して搬送する対象は通電検査用の接触子に限られず、他の部材であっても良い。   The object to be sucked and transported by the transport device is not limited to the contact for inspecting the electric current, but may be another member.

１５ スプリング部材
１６ 接触ピン
１７ 接触子
２０ 接触子組立装置
３０ スプリング部材搬送装置（搬送装置）
３４ 接触ピン搬送装置（搬送装置）
５０，５５ 円形テーブル（テーブル）
６０ 接続部
６１ 荷重試験部
６２ 接触子搬送装置
７０ 捕捉部
７１ 吸引部
７２ 吸引孔
７３ 第１挟み部材
７４ 第２挟み部材
８１ ジャバラ（第１挟み部材駆動部）
８２ 可動部
８３ 押出し部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 15 Spring member 16 Contact pin 17 Contact 20 Contact assembly apparatus 30 Spring member conveyance apparatus (conveyance apparatus)
34 Contact pin conveyor (conveyor)
50,55 Round table (table)
Reference Signs List 60 connection unit 61 load test unit 62 contactor conveying device 70 capturing unit 71 suction unit 72 suction hole 73 first pinching member 74 second pinching member 81 bellows (first pinching member driving unit)
82 Movable part 83 Extruding part

Claims (9)

供給部に載せられた細長状の搬送対象物を搬送する搬送装置において、
前記供給部に載せられた前記搬送対象物を、少なくとも第１挟み部材及び第２挟み部材で挟み込んで前記供給部から浮かせる挟み部と、
前記挟み部が前記供給部から浮かせた前記搬送対象物を吸引する吸引孔が形成された吸引部と、
前記吸引部が吸引して保持した前記搬送対象物を移動させるアーム部と、
を備えることを特徴とする搬送装置。 In a transport device that transports an elongated transport object placed on a supply unit,
A sandwiching unit that sandwiches the transport object placed on the supply unit with at least a first sandwiching member and a second sandwiching member and floats from the supply unit;
A suction part in which a suction hole is formed for sucking the object to be transported, the gripping part floating from the supply part;
An arm for moving the object to be transported held by the suction part; and
A conveying device comprising: 請求項１に記載の搬送装置であって、
前記第１挟み部材のうち前記第２挟み部材と向かい合う側の面には、傾斜が設けられており、前記搬送対象物を挟み込むときにおいて、この傾斜の形状が、前記第２挟み部材に近づくに従って鉛直方向の下側に近づくような形状であることを特徴とする搬送装置。 It is a conveying apparatus of Claim 1, Comprising:
A slope is provided on a surface of the first sandwiching member facing the second sandwiching member, and when the transport object is sandwiched, the shape of the slope approaches the second sandwiching member. A conveying device characterized by having a shape that approaches the lower side in the vertical direction . 請求項１又は２に記載の搬送装置であって、
前記第１挟み部材及び前記第２挟み部材のうち少なくとも一方が板バネにより構成されていることを特徴とする搬送装置。 It is a conveying apparatus of Claim 1 or 2, Comprising:
At least one of the first pinching member and the second pinching member is configured by a leaf spring. 請求項１から３までの何れか一項に記載の搬送装置であって、
前記吸引部が発生させる吸引力を利用して前記第１挟み部材を前記第２挟み部材に近づける第１挟み部材駆動部を備え、
前記第１挟み部材駆動部により前記第１挟み部材を前記第２挟み部材に近づけて前記搬送対象物を吸引したときに、前記第１挟み部材が吸引孔の一部を塞ぐことを特徴とする搬送装置。 It is a conveying apparatus as described in any one of Claim 1 to 3,
A first pinch member drive unit that brings the first pinch member closer to the second pinch member using the suction force generated by the suction unit;
The first pinching member closes a part of the suction hole when the first pinching member is brought close to the second pinching member by the first pinching member driving unit to suck the conveyance object. Conveying device. 請求項４に記載の搬送装置であって、
前記吸引孔の内部に位置する押出し部を備え、
前記押出し部は、
前記吸引部が吸引力を発生させたときには、前記吸引孔の内部に位置し、
前記吸引部が吸引力を停止させたときには、前記吸引孔の外部へ突出することを特徴とする搬送装置。 It is a conveyance apparatus of Claim 4, Comprising:
An extrusion portion located inside the suction hole;
The extruding part is
When the suction part generates a suction force, it is located inside the suction hole,
When the suction portion stops the suction force, the transport device protrudes to the outside of the suction hole. 請求項１から５までの何れか一項に記載の搬送装置であって、
前記搬送対象物は、前記供給部の粘着面に載せられることを特徴とする搬送装置。 It is a conveying apparatus as described in any one of Claim 1-5,
The conveyance apparatus, wherein the conveyance object is placed on an adhesive surface of the supply unit. 請求項１から６までの何れか一項に記載の搬送装置であって、
前記搬送対象物は、
通電検査用の接触子の一部でありスプリング構造を有する筒状の部材であるスプリング部材と、前記スプリング部材の内部に固定され、通電検査時の接触部分を有する接触ピンと、の少なくとも何れかであることを特徴とする搬送装置。 It is a conveying apparatus as described in any one of Claim 1-6,
The transport object is
At least one of a spring member that is a part of a contact for inspection of current and a cylindrical member having a spring structure, and a contact pin that is fixed inside the spring member and has a contact portion at the time of inspection of current There is a conveying device. 通電検査用の接触子の一部でありスプリング構造を有する筒状の部材であるスプリング部材を搬送して供給するスプリング部材搬送部と、
前記スプリング部材の内部に固定され、通電検査時の接触部分を有する接触ピンを搬送して供給する接触ピン搬送部と、
前記スプリング部材搬送部及び前記スプリング部材と、前記接触ピン搬送部により供給された前記接触ピンと、を接続する接続部と、
前記接続部によって接続されることで形成された前記接触子の荷重試験を行う荷重試験部と、
前記スプリング部材及び前記接触ピンを前記接続部まで運び、前記接続部が作成した接触子を前記荷重試験部まで運ぶテーブルと、
前記荷重試験が行われた前記接触子を搬送して収容する接触子搬送部と、
を備え、
前記スプリング部材搬送部及び前記接触ピン搬送部のうち少なくとも１つは、請求項７に記載の搬送装置であることを特徴とする接触子組立装置。 A spring member transport unit that transports and supplies a spring member that is a part of a contact for inspecting current and is a cylindrical member having a spring structure;
A contact pin transport unit that is fixed inside the spring member and transports and supplies a contact pin having a contact portion at the time of energization inspection;
A connecting portion for connecting the spring member conveying portion and the spring member, and the contact pin supplied by the contact pin conveying portion;
A load test unit for performing a load test of the contact formed by being connected by the connection unit;
A table for carrying the spring member and the contact pin to the connection part, and carrying a contact created by the connection part to the load test part;
A contact transport unit for transporting and storing the contact subjected to the load test;
Equipped with a,
8. The contact assembly apparatus according to claim 7, wherein at least one of the spring member transport unit and the contact pin transport unit is the transport device according to claim 7 . 請求項８に記載の接触子組立装置であって、
前記テーブルは、少なくとも１つの円形テーブルを備えており、
前記円形テーブルの円周部の近傍に、前記スプリング部材搬送部、前記接触ピン搬送部、前記接続部、前記荷重試験部、前記接触子搬送部が配置されることを特徴とする接触子組立装置。 The contact assembly apparatus according to claim 8, wherein
The table comprises at least one circular table;
The contact assembly apparatus, wherein the spring member transport unit, the contact pin transport unit, the connection unit, the load test unit, and the contact transport unit are disposed in the vicinity of a circumferential portion of the circular table. .
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