JP6104016B2 - 液晶パネル検査装置 - Google Patents
液晶パネル検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6104016B2 JP6104016B2 JP2013075884A JP2013075884A JP6104016B2 JP 6104016 B2 JP6104016 B2 JP 6104016B2 JP 2013075884 A JP2013075884 A JP 2013075884A JP 2013075884 A JP2013075884 A JP 2013075884A JP 6104016 B2 JP6104016 B2 JP 6104016B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- liquid crystal
- crystal panel
- work table
- inspection apparatus
- light source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 99
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims description 183
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 58
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 27
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 17
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 16
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 claims description 9
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 8
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 claims description 8
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 26
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 11
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 6
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 4
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 4
- 206010027146 Melanoderma Diseases 0.000 description 3
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 3
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 230000001174 ascending effect Effects 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 238000000638 solvent extraction Methods 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
バックライト照射光下での非点灯検査では、傾斜照明光源32は消灯状態におかれ、バックライトユニット20すなわちバックライト光源が点灯される。また、プローブユニット40の各プローブ40aは、図2に示されているように、液晶パネル12の前記電極に非接触の状態におかれることから、液晶パネル12は非点灯(非駆動)状態におかれる。
傾斜照明光源下の非点灯検査では、バックライトユニット20に代えて傾斜照明光源32が点灯され、バックライトユニット20は消灯状態におかれる。また、プローブユニット40の各プローブ40aは、図3に示されているように、液晶パネル12の前記電極との非接触状態におかれることから、液晶パネル12は非点灯(非駆動)状態におかれる。
続いて、ワークテーブル16上の液晶パネル12は、各画素を駆動した状態での点灯検査を受ける。この点灯検査では、図4に示されているように、プローブユニット40の各プローブ40aは、ワークテーブル16上の液晶パネル12の対応する前記電極に接触し、各画素に駆動電圧が供給される。そのため、液晶パネル12の各画素はこれを透過する光の偏光面を回転させることない。したがって、傾斜照射光源32に代えて再びバックライトユニット20が点灯されると、バックライトユニット20からの光は光拡散板24及び第2の偏光板22bを経て均等な偏光に変換されるが、この偏光は、液晶パネル12が駆動状態におかれていることから、その偏光面を回転させることなく液晶パネル12を透過し、第1の偏光板22aに達する。この第1の偏光板22aは偏光面を回転されていない前記偏光の透過を許す。その結果、撮像手段18によって得られる液晶パネル12の画像は、点灯画面すなわち液晶パネル12が白黒パネルのときには白画面となり、液晶パネル12がカラーパネルのときにはフィルタの配色に応じた色画面となる。
12、12′ 液晶パネル
12a、12a′ 液晶パネルの上面
12b、12b′ 液晶パネルの下面
14 昇降台
16、16′ ワークテーブル
18 撮像手段
20 バックライトユニット
22a、22b 偏光板
26 スペーサ
28 枠体
32 傾斜照射光源
34 反射手段
34a 反射面
36 軸
38 作動装置
40 プローブユニット
Claims (10)
- 偏光板が無い液晶パネルを検査する液晶パネル検査装置であって、
昇降台と、
該昇降台上に配置されるワークテーブルであって全体に矩形の開口部を有する枠体を備え前記昇降台の上方で前記液晶パネルを保持すべく該液晶パネルの縁部を前記枠体で受けるワークテーブルと、
前記ワークテーブル上の液晶パネルの上方及び下方に配置される第1及び第2の偏光板であって互いに偏光方向を所定の関係に保持される第1及び第2の偏光板と、
前記ワークテーブル上の前記液晶パネルを前記第2の偏光板を通して前記液晶パネルの下面から該下面にほぼ直角な照射光で照射するバックライトユニットと、
前記ワークテーブル上の前記液晶パネルを前記下面の下方から角度的に照射するための傾斜照明光源と、
前記昇降台の上昇位置で前記液晶パネルの点灯検査のために該液晶パネルの画素に電圧を印加するためのプローブユニットと、
前記バックライトユニットからの前記直角な照射光及び前記傾斜照明光源からの斜め照射光のいずれか一方を選択的に受けた状態で前記第1の偏光板を通して前記液晶パネルの上面を撮影するための撮像装置と、
前記ワークテーブル内に配置され、前記傾斜照明光源からの斜め照射光が前記第2の偏光板を経ることなく適正な入射角で前記液晶パネルへ入射するように、前記斜め照射光の一部を前記液晶パネルの下面の周辺部に案内する反射手段とを含む、液晶パネル検査装置。 - 前記反射手段は、前記液晶パネルの大きさに応じた該液晶パネルの下面への均一な斜め照射を可能とすべく、前記ワークテーブルに支持された軸の回りに回動可能に支持されており、該反射手段は、前記軸の回りに回動させるための作動装置により、適正な角度に保持される、請求項1に記載の液晶パネル検査装置。
- 前記反射手段は、該反射手段で反射して前記液晶パネルに入射する前記下面への入射角が60度以上90度未満に設定されるように前記作動装置により角度を調整される、請求項2に記載の液晶パネル検査装置。
- 前記反射手段の前記軸は前記ワークテーブルの前記矩形の開口部の互いに対向する一対の辺の一方の辺に沿って配置され、前記傾斜照明光源は前記一対の辺の他方の辺に沿って伸長すべく配置されている、請求項2又は3に記載の液晶パネル検査装置。
- 前記反射手段は、上縁で水平な軸を介して前記ワークテーブルに支持された反射鏡からなり、前記作動装置は前記反射鏡を所望の前記立ち上がり角度で保持すべく前記反射鏡に作動的に結合されている、請求項4に記載の液晶パネル検査装置。
- 前記作動装置は、電動モータにより回転可能なボルト部材と該ボルト部材に螺合するナット部材とを備えるボールねじ機構及びリニアモータのいずれか一方を含む、請求項5に記載の液晶パネル検査装置。
- 前記傾斜照明光源は、その高さ位置が前記第2の偏光板よりも高い高さ位置にあるように前記昇降台に支持されている、請求項1に記載の液晶パネル検査装置。
- 前記ワークテーブルはスペーサ部材を介して前記昇降台から間隔をおいて保持されており、前記傾斜照明光源は前記スペーサ部材により規定される前記ワークテーブルと前記昇降台との間の空間に配置されている、請求項7に記載の液晶パネル検査装置。
- 前記ワークテーブルの前記枠体は、大きさの異なる液晶パネルに適するように前記開口部の各辺の寸法が調整可能である、請求項1に記載の液晶パネル検査装置。
- 前記ワークテーブルは、前記液晶パネルに適する前記開口部が設けられたワークテーブルに取り替え可能となるように、前記昇降台上に取り外し可能に支持されている、請求項1に記載の液晶パネル検査装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013075884A JP6104016B2 (ja) | 2013-04-01 | 2013-04-01 | 液晶パネル検査装置 |
TW103111926A TWI518404B (zh) | 2013-04-01 | 2014-03-31 | 液晶面板檢查裝置 |
CN201410129026.6A CN104102029B (zh) | 2013-04-01 | 2014-04-01 | 液晶面板检查装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013075884A JP6104016B2 (ja) | 2013-04-01 | 2013-04-01 | 液晶パネル検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014202779A JP2014202779A (ja) | 2014-10-27 |
JP6104016B2 true JP6104016B2 (ja) | 2017-03-29 |
Family
ID=51670294
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013075884A Active JP6104016B2 (ja) | 2013-04-01 | 2013-04-01 | 液晶パネル検査装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6104016B2 (ja) |
CN (1) | CN104102029B (ja) |
TW (1) | TWI518404B (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105093579A (zh) * | 2015-07-29 | 2015-11-25 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 液晶面板检测辅助装置 |
JP2017073622A (ja) * | 2015-10-06 | 2017-04-13 | 三星ダイヤモンド工業株式会社 | 撮像装置 |
JP2017198959A (ja) * | 2016-04-26 | 2017-11-02 | 日本電産サンキョー株式会社 | 処理装置 |
CN106840605A (zh) * | 2017-01-17 | 2017-06-13 | 武汉华星光电技术有限公司 | 检测装置及检测台 |
JP2019074323A (ja) * | 2017-10-12 | 2019-05-16 | 株式会社日本マイクロニクス | ディスプレイパネル検査装置およびディスプレイパネル検査方法 |
CN107942546A (zh) * | 2017-11-13 | 2018-04-20 | 深圳同兴达科技股份有限公司 | 液晶盒测试***及测试方法 |
CN108107614A (zh) * | 2017-12-28 | 2018-06-01 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 显示检查方法及显示检查装置 |
CN108982547B (zh) * | 2018-05-02 | 2020-12-29 | 芜湖立普德机械科技有限公司 | 一种用于检测玻璃基板凹陷的装置 |
CN110286507A (zh) * | 2019-06-27 | 2019-09-27 | 苏州精濑光电有限公司 | 一种基板检测装置 |
CN112198166A (zh) * | 2019-07-08 | 2021-01-08 | 夏普株式会社 | 检查装置 |
KR102068560B1 (ko) * | 2019-11-20 | 2020-01-21 | 금교필 | 디스플레이 패널 검사장치용 백라이트 유닛 |
CN112433398B (zh) * | 2020-11-12 | 2023-04-18 | 深圳创维-Rgb电子有限公司 | 液晶面板的贴合工艺方法及显示装置 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000275596A (ja) * | 1999-03-26 | 2000-10-06 | Ricoh Co Ltd | セル検査装置及びセル検査方法 |
JP4649051B2 (ja) * | 2001-03-21 | 2011-03-09 | オリンパス株式会社 | 検査画面の表示方法及び基板検査システム |
KR100955486B1 (ko) * | 2004-01-30 | 2010-04-30 | 삼성전자주식회사 | 디스플레이 패널의 검사장치 및 검사방법 |
KR20060044032A (ko) * | 2004-11-11 | 2006-05-16 | 삼성전자주식회사 | 표시패널용 검사 장치 및 이의 검사 방법 |
JP4884738B2 (ja) * | 2005-09-26 | 2012-02-29 | 株式会社日本マイクロニクス | 液晶パネル検査装置 |
KR101166828B1 (ko) * | 2005-12-29 | 2012-07-19 | 엘지디스플레이 주식회사 | 평판표시장치용 검사장비 및 검사 방법 |
JP4909672B2 (ja) * | 2006-08-08 | 2012-04-04 | 株式会社日本マイクロニクス | 液晶パネル検査方法及び装置 |
TWI467162B (zh) * | 2011-04-18 | 2015-01-01 | Ind Tech Res Inst | 電光調變裝置、電光檢測器及其檢測方法 |
CN202661749U (zh) * | 2012-05-17 | 2013-01-09 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种液晶盒测试设备 |
-
2013
- 2013-04-01 JP JP2013075884A patent/JP6104016B2/ja active Active
-
2014
- 2014-03-31 TW TW103111926A patent/TWI518404B/zh active
- 2014-04-01 CN CN201410129026.6A patent/CN104102029B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN104102029B (zh) | 2017-04-12 |
TWI518404B (zh) | 2016-01-21 |
JP2014202779A (ja) | 2014-10-27 |
CN104102029A (zh) | 2014-10-15 |
TW201447422A (zh) | 2014-12-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6104016B2 (ja) | 液晶パネル検査装置 | |
KR101147120B1 (ko) | Lcd 검사 장비 및 lcd 검사 방법 | |
KR100779135B1 (ko) | 액정패널 검사장치 | |
KR101444474B1 (ko) | 검사 장치 | |
US7800568B2 (en) | Apparatus and method for inspecting liquid crystal display | |
JP2006292412A (ja) | 表面検査装置、表面検査方法、及び基板の製造方法 | |
KR20130026264A (ko) | 도광판 검사장치 | |
KR20150010495A (ko) | 실링 검사 장치 및 방법 | |
KR101391312B1 (ko) | 백라이트유닛 불량검사용 카메라 조립체 | |
KR20100107175A (ko) | 액정 패널의 오토 프로브 검사장치 및 검사방법 | |
KR20100084829A (ko) | 라인스캔 카메라를 구비한 검사장치 | |
KR101153246B1 (ko) | 기판검사방법 | |
KR20130051874A (ko) | 기판 검사장치 | |
KR20190052516A (ko) | 표면 검사 장치 | |
JP2006078317A (ja) | 被検査体の検査方法及びその装置 | |
KR101362171B1 (ko) | 표시 장치의 검사 장치 및 방법 | |
KR101347689B1 (ko) | 사파이어 웨이퍼의 검사를 위한 장치 구조 | |
KR20140139929A (ko) | 표시 패널의 검사 장치 및 검사 방법 | |
KR101973482B1 (ko) | 동축 조명 장치 | |
CN211856404U (zh) | 一种用于模组显示图像的检测装置 | |
KR20080060027A (ko) | 액정 표시장치용 검사 장치 | |
CN217767102U (zh) | 一种液晶屏的外观检测装置 | |
KR101414273B1 (ko) | 반사 및 투과 효율을 향상시켜 기판을 검사하는 방법 및장치 | |
KR100825968B1 (ko) | 평판 디스플레이의 가장자리 검사 장치 | |
CN108226165B (zh) | 一种毛细玻璃管品质检测的方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160115 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20161122 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20161213 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170110 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20170207 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20170228 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6104016 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |