JP6091391B2 - 太陽電池パネルの診断方法 - Google Patents
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- 238000002405 diagnostic procedure Methods 0.000 title description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 42
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 claims description 36
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 31
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 claims description 8
- 238000010248 power generation Methods 0.000 description 27
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 16
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 14
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 13
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 13
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 6
- 238000002847 impedance measurement Methods 0.000 description 5
- 230000001965 increasing effect Effects 0.000 description 5
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 5
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 5
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 4
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 4
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 4
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 4
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 241000238558 Eucarida Species 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 2
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 2
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000012631 diagnostic technique Methods 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 238000007667 floating Methods 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001028 reflection method Methods 0.000 description 1
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
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- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
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Description
実施の形態1にかかる太陽電池パネルの診断方法について説明する。
次に、実施の形態2にかかる太陽電池パネルの診断方法について説明する。以下では、実施の形態1と異なる部分を中心に説明する。
次に、実施の形態3にかかる太陽電池パネルの診断方法について説明する。以下では、実施の形態2と異なる部分を中心に説明する。
次に、実施の形態4にかかる太陽電池パネルの診断方法について説明する。以下では、実施の形態1と異なる部分を中心に説明する。
次に、実施の形態5にかかる太陽電池パネルの診断方法について説明する。以下では、実施の形態1と異なる部分を中心に説明する。
次に、実施の形態6にかかる太陽電池パネルの診断方法について説明する。以下では、実施の形態1と異なる部分を中心に説明する。
Claims (1)
- 複数枚の太陽電池パネルが直列あるいは並列に接続された太陽電池ストリングの中の1枚の太陽電池パネルの出力端子に測定周波数が掃引可能であるインピーダンス測定器を接続し、
前記太陽電池パネルと直接接続されている両隣の2枚の太陽電池パネルとの間に干渉防止用のダイオードが挿入された状態で、前記インピーダンス測定器を用いて前記太陽電池パネルのインピーダンスの周波数依存性を測定し、
前記測定された周波数依存性における共振周波数及び共振特性に基づいて、前記太陽電池パネルの等価回路定数を決定し、
前記決定された等価回路定数の値と前記太陽電池パネルが正常であるときとの値とを比較して、前記太陽電池パネルの劣化の程度を検知する
ことを特徴とする太陽電池パネルの診断方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013200259A JP6091391B2 (ja) | 2013-02-22 | 2013-09-26 | 太陽電池パネルの診断方法 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013033740 | 2013-02-22 | ||
JP2013033740 | 2013-02-22 | ||
JP2013200259A JP6091391B2 (ja) | 2013-02-22 | 2013-09-26 | 太陽電池パネルの診断方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014186022A JP2014186022A (ja) | 2014-10-02 |
JP6091391B2 true JP6091391B2 (ja) | 2017-03-08 |
Family
ID=51833708
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013200259A Active JP6091391B2 (ja) | 2013-02-22 | 2013-09-26 | 太陽電池パネルの診断方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6091391B2 (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5918390B2 (ja) * | 2013-12-10 | 2016-05-18 | 株式会社アイテス | 太陽電池パネルの検査装置、及び太陽電池パネルの検査方法 |
JP6611435B2 (ja) * | 2015-01-15 | 2019-11-27 | 日東工業株式会社 | 太陽光発電設備の異常検出システム |
JP6407100B2 (ja) * | 2015-06-05 | 2018-10-17 | 三菱電機株式会社 | 太陽電池モジュールの検査装置および太陽電池モジュールの検査方法 |
JP6387904B2 (ja) * | 2015-06-10 | 2018-09-12 | 三菱電機株式会社 | 太陽電池モジュールのはんだ接合評価装置及び評価方法 |
JP6702168B2 (ja) | 2016-12-14 | 2020-05-27 | オムロン株式会社 | 太陽光発電システムの検査装置および検査方法 |
US20220224287A1 (en) * | 2019-06-03 | 2022-07-14 | Mitsubishi Electric Corporation | Deterioration diagnosis device for solar cell string and photovoltaic power generation system provided with the same |
JP7306605B2 (ja) * | 2019-11-25 | 2023-07-11 | 株式会社アイテス | 太陽電池ストリングの検査装置、及び検査方法 |
JP7466502B2 (ja) | 2021-06-25 | 2024-04-12 | 三菱電機株式会社 | 測定装置 |
CN115099290B (zh) * | 2022-08-29 | 2022-11-01 | 瀚能太阳能(山东)集团有限公司 | 一种太阳能电池板生产质量检测方法 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3450697B2 (ja) * | 1998-02-13 | 2003-09-29 | キヤノン株式会社 | 太陽電池モジュールの接地状態測定方法および装置 |
JP2002131347A (ja) * | 2000-10-24 | 2002-05-09 | Nippon Telegraph & Telephone East Corp | 接地抵抗測定装置及び接地抵抗測定方法 |
JP5167527B2 (ja) * | 2005-10-18 | 2013-03-21 | 国立大学法人東京農工大学 | 電気特性測定装置 |
JP2013527613A (ja) * | 2010-05-18 | 2013-06-27 | エスエムエー ソーラー テクノロジー アーゲー | 光起電力システム及び装置の接点の診断方法 |
JP2012089789A (ja) * | 2010-10-22 | 2012-05-10 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 太陽電池アレイの検査装置及びこれを用いた検査方法 |
KR101150624B1 (ko) * | 2010-12-06 | 2012-05-30 | 주식회사 에프티랩 | 공진주파수 변이를 이용한 정전용량방식 터치스크린패널의 전기적 특성 검사장치 |
US20140111220A1 (en) * | 2011-05-11 | 2014-04-24 | Emazys Technologies Aps | Method for fault diagnosis on solar modules |
JP5774386B2 (ja) * | 2011-06-28 | 2015-09-09 | 日置電機株式会社 | インピーダンス測定装置 |
JP5691891B2 (ja) * | 2011-07-04 | 2015-04-01 | 日立金属株式会社 | 太陽光発電用接続箱 |
JP2013036747A (ja) * | 2011-08-03 | 2013-02-21 | Toshiba Corp | 太陽電池アレイ検査装置および太陽電池アレイ検査方法 |
JP5797055B2 (ja) * | 2011-08-08 | 2015-10-21 | 日置電機株式会社 | 等価回路解析装置及び等価回路解析方法 |
-
2013
- 2013-09-26 JP JP2013200259A patent/JP6091391B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2014186022A (ja) | 2014-10-02 |
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A621 | Written request for application examination |
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