JP6037894B2 - ORGANIC ELECTROLUMINESCENCE ELEMENT, ITS MANUFACTURING METHOD, AND DISPLAY DEVICE - Google Patents

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Description

本発明は、表示装置や照明装置に好適に用いられる有機エレクトロルミネッセンス(以下、エレクトロルミネッセンス(電界発光)を「EL」と記す場合がある。)素子およびその製造方法に関する。   The present invention relates to an organic electroluminescence (hereinafter, electroluminescence (electroluminescence) may be referred to as “EL”) element suitably used for a display device or a lighting device and a method for manufacturing the same.

有機EL素子は、薄く、柔軟でフレキシブルである。また、有機EL素子を用いた表示装置は、現在主流となっている液晶表示装置やプラズマ表示装置と比べて、高輝度、高精細な表示が可能である。さらに、有機EL素子を用いた表示装置は、液晶表示装置に比べて視野角が広い。このため、有機EL素子は、今後、テレビや携帯電話のディスプレイ等として、利用の拡大が期待されている。
また、有機EL素子は、照明装置としての利用も期待されている。
The organic EL element is thin, flexible and flexible. In addition, a display device using an organic EL element can display with high brightness and high definition as compared with a liquid crystal display device and a plasma display device which are currently mainstream. Furthermore, a display device using an organic EL element has a wider viewing angle than a liquid crystal display device. For this reason, the use of organic EL elements is expected in the future as displays for televisions and mobile phones.
The organic EL element is also expected to be used as a lighting device.

有機EL素子は、陰極と陽極との間に、電子輸送層、発光層、正孔輸送層等の複数の層が積層された構造を有している。有機EL素子には、基板と発光層との間に陽極が配置された順構造のものと、基板と発光層との間に陰極が配置された逆構造のものとがある。
また、有機EL素子の1つとして、無機化合物を用いて有機EL素子を構成する層の一部を形成した有機無機ハイブリッド型の有機電界発光素子(以下、「HOILED素子」と記す場合がある。)がある。
The organic EL element has a structure in which a plurality of layers such as an electron transport layer, a light emitting layer, and a hole transport layer are laminated between a cathode and an anode. Organic EL elements include a normal structure in which an anode is disposed between a substrate and a light emitting layer, and a reverse structure in which a cathode is disposed between the substrate and the light emitting layer.
In addition, as one of the organic EL elements, an organic-inorganic hybrid organic electroluminescent element (hereinafter referred to as “HOILED element”) in which a part of a layer constituting the organic EL element is formed using an inorganic compound may be described. )

逆構造の有機EL素子は、陽極から発光層に注入する正孔の速度が早く、正孔輸送性に優れている。しかし、逆構造の有機EL素子では、陰極から発光層に注入する電子の速度が遅いため、陽極から注入される正孔を発光に充分に活用できない。このため、逆構造の有機EL素子においては、陰極から発光層への電子の注入の速度を改善し、発光効率を高めることが要求されている。   The organic EL element having a reverse structure has a high hole transport rate from the anode to the light emitting layer and is excellent in hole transportability. However, in an organic EL element having a reverse structure, the rate of electrons injected from the cathode into the light emitting layer is slow, so that holes injected from the anode cannot be fully utilized for light emission. For this reason, in an organic EL element having a reverse structure, it is required to improve the speed of injection of electrons from the cathode to the light emitting layer and increase the light emission efficiency.

従来、逆構造の有機EL素子において、陰極から発光層への電子の注入の速度を改善するために、陰極と発光層との間に、様々な材料を用いて電子注入層を配置することが提案されている。
例えば、非特許文献1には、ポリエチレンイミンからなる電子注入層を有する有機電界発光素子が記載されている。また、非特許文献2および非特許文献3には、アミンが電子の注入速度改善に有効であることが記載されている。
Conventionally, in an organic EL device having a reverse structure, in order to improve the speed of electron injection from the cathode to the light emitting layer, an electron injection layer can be arranged using various materials between the cathode and the light emitting layer. Proposed.
For example, Non-Patent Document 1 describes an organic electroluminescent element having an electron injection layer made of polyethyleneimine. Non-Patent Document 2 and Non-Patent Document 3 describe that amines are effective for improving the injection rate of electrons.

また、有機EL素子を製造する際には、有機EL素子を安定して製造するために、素子のリークを低減することが要求される。通常、有機EL素子においては、製造時における素子の電流漏れを低減するために、基板上に形成した電極上に、塗布法により、ある程度の膜厚でPEDOT:PSS(ポリ(3,4−エチレンジオキシチオフェン/スチレンスルホン酸))を成膜している。   Moreover, when manufacturing an organic EL element, in order to manufacture an organic EL element stably, it is requested | required to reduce the leak of an element. In general, in an organic EL device, in order to reduce current leakage of the device at the time of manufacture, PEDOT: PSS (poly (3,4-ethylene) is formed on an electrode formed on a substrate with a certain thickness by a coating method. Dioxythiophene / styrene sulfonic acid)).

また、基板上に形成した電極上に、塗布法によりポリエチレンイミン膜を形成することで、製造時における素子のリークを低減できるとともに、ポリエチレンイミン膜上に形成する有機膜の結晶化を抑制でき、得られた有機EL素子のリークを低減できることが知られている。   In addition, by forming a polyethyleneimine film on the electrode formed on the substrate by a coating method, it is possible to reduce element leakage during production and to suppress crystallization of the organic film formed on the polyethyleneimine film, It is known that leakage of the obtained organic EL element can be reduced.

ジャンシャン チェン(Jiangshan Chen)外6名「ジャーナル オブ マテリアルズ ケミストリー(Journal Of Materials Chemistry)」、第22巻、2012年、p5164−5170Jiangshan Chen and six others, “Journal of Materials Chemistry”, Vol. 22, 2012, p5164-5170 ヒョサン チョイ(Hyosung Choi)外8名「アドバンスト マテリアルズ(Advanced Materials)」、第23巻、2011年、p2759Hyosung Choi and 8 others "Advanced Materials", Vol. 23, 2011, p2759 ウェンジン チェン(Wenjin Zeng)外6名「アドバンスト マテリアルズ(Advanced Materials)」、第19巻、2007年、p810Wenjin Zeng and six others "Advanced Materials", Vol. 19, 2007, p810

陰極と発光層との間に無機の酸化物層が設けられている逆構造のHOILED素子では、酸化物層の表面が凹凸を有するものとなりやすい。表面に凹凸を有する酸化物層上に発光層を形成すると、酸化物層の表面に形成されている凹凸が結晶核となって、発光層を形成する材料の結晶化が促進される。このため、得られたHOILED素子が、大きなリーク電流が流れ、発光面が不均一であるものとなりやすく、実用に耐えるものとならない場合があった。   In a HOILED element having an inverted structure in which an inorganic oxide layer is provided between the cathode and the light emitting layer, the surface of the oxide layer tends to have irregularities. When a light emitting layer is formed over an oxide layer having unevenness on the surface, the unevenness formed on the surface of the oxide layer becomes a crystal nucleus, and crystallization of the material forming the light emitting layer is promoted. For this reason, the obtained HOILED element tends to have a large leakage current, a non-uniform light emitting surface, and may not endure practical use.

この問題を解決するとともに、陰極から発光層への電子の注入の速度を改善し、製造時における素子のリークを低減するために、例えば、無機の酸化物層と発光層との間にポリエチレンイミンからなる電子注入層を形成することが考えられる。しかし、ポリエチレンイミン膜からなる電子注入層は、電荷を運ぶ能力が乏しいという不都合がある。このため、電子注入層としてポリエチレンイミン膜を形成すると、得られたHOILED素子の駆動電圧が高くなる。しかし、HOILED素子の駆動電圧の上昇を抑制するために、ポリエチレンイミン膜の膜厚を薄くすると、酸化物層の上面に形成されている凹凸を覆うことができず、平滑な表面が得られないし、HOILED素子の製造時にリークが生じやすくなる。   In order to solve this problem and improve the speed of electron injection from the cathode to the light emitting layer and reduce device leakage during manufacturing, for example, a polyethyleneimine between an inorganic oxide layer and a light emitting layer is used. It is conceivable to form an electron injection layer made of However, an electron injection layer made of a polyethyleneimine film has a disadvantage that its ability to carry charges is poor. For this reason, when a polyethyleneimine film is formed as the electron injection layer, the driving voltage of the obtained HOILED element is increased. However, if the thickness of the polyethyleneimine film is reduced in order to suppress an increase in the driving voltage of the HOILED element, the unevenness formed on the upper surface of the oxide layer cannot be covered, and a smooth surface cannot be obtained. Leakage is likely to occur during the manufacture of the HOILED element.

本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、陰極と発光層との間に無機の酸化物層が設けられている逆構造の有機EL素子において、陰極から発光層への電子の注入の速度を改善して素子の発光効率を向上させることができ、製造時における素子のリークを低減して安定して製造でき、リーク電流の抑制された均一な発光面が得られる有機EL素子を提供することを課題とする。
また、本発明は、上記有機EL素子の製造方法、上記有機EL素子を備える表示装置および照明装置を提供することを課題とする。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and injects electrons from the cathode to the light emitting layer in an organic EL device having an inverted structure in which an inorganic oxide layer is provided between the cathode and the light emitting layer. An organic EL device that can improve the luminous efficiency of the device by improving the speed of the device, can reduce the leakage of the device at the time of manufacturing, can be stably manufactured, and can obtain a uniform light emitting surface with suppressed leakage current The issue is to provide.
Moreover, this invention makes it a subject to provide the manufacturing method of the said organic EL element, a display apparatus provided with the said organic EL element, and an illuminating device.

本発明者は、上記課題を解決するために、陰極と発光層との間に無機の酸化物層が設けられている逆構造の有機EL素子において、陰極と発光層との間に設けるバッファ層の材料として、陰極から発光層への電子の注入の速度を改善でき、素子の発光効率を向上させることができるとともに、製造時および製造後における素子のリークを防止できる十分な厚みで形成しても、有機EL素子の駆動電圧の上昇を抑制できる材料について種々検討した。   In order to solve the above problems, the present inventor has proposed a buffer layer provided between a cathode and a light emitting layer in an organic EL device having an inverted structure in which an inorganic oxide layer is provided between the cathode and the light emitting layer. As a material of this, it can be formed with a sufficient thickness that can improve the speed of electron injection from the cathode to the light emitting layer, improve the light emitting efficiency of the device, and prevent device leakage during and after manufacture. Also, various studies were made on materials that can suppress an increase in driving voltage of the organic EL element.

その結果、バッファ層として、1〜4級のアミンを有する構造または炭素数2〜4のアルキレンオキシドを有する構造からなる第1材料と、電子を輸送する第2材料とを含むものを形成すればよいことを見出した。
すなわち、このようなバッファ層では、第1材料を含むことによって、陰極から発光層への電子の注入の速度を改善できるとともに、製造時における素子のリークを防止できる。しかも、このようなバッファ層は、第2材料の電子を輸送する作用によって、有機EL素子の駆動電圧の上昇を抑制できるものであるため、酸化物層の表面が凹凸を有するものであっても、凹凸を覆って平滑な表面を得ることができ、製造時および製造後における素子のリークを防止できる十分な厚みで形成できる。
As a result, if the buffer layer includes a first material having a structure having a primary to quaternary amine or a structure having an alkylene oxide having 2 to 4 carbon atoms and a second material that transports electrons, I found a good thing.
That is, in such a buffer layer, by including the first material, it is possible to improve the speed of electron injection from the cathode to the light emitting layer, and to prevent element leakage during manufacturing. Moreover, since such a buffer layer can suppress an increase in the driving voltage of the organic EL element by the action of transporting electrons of the second material, even if the surface of the oxide layer has irregularities. A smooth surface can be obtained by covering the unevenness, and it can be formed with a thickness sufficient to prevent device leakage during and after manufacture.

さらに、本発明者は、バッファ層として、第1材料と第2材料に加えて、前記第1材料および前記第2材料に化学的なドーピングが可能な第3材料を含有するものを形成することで、より一層バッファ層における電子の輸送性を向上させることができ、より効果的に有機EL素子の駆動電圧の上昇を抑制できることを見出した。
本発明は、上記知見に基づいてなされたものであり、その要旨とするところは以下の通りである。
Furthermore, the inventor forms a buffer layer containing a first material and a second material in addition to the first material and a third material that can be chemically doped in the second material. Thus, it has been found that the electron transport property in the buffer layer can be further improved, and the increase in the driving voltage of the organic EL element can be more effectively suppressed.
This invention is made | formed based on the said knowledge, The place made into the summary is as follows.

すなわち、本発明は、以下の発明に関わるものである。
(1)基板上に陰極と、無機の酸化物層と、バッファ層と、発光層と、陽極とがこの順に形成され、前記バッファ層が、1〜4級のアミンを有する構造または炭素数2〜4のアルキレンオキシドを有する構造からなる第1材料と、電子を輸送する第2材料とを含むものであることを特徴とする有機エレクトロルミネッセンス素子。
(2)前記バッファ層の平均厚さが5〜100nmであることを特徴とする(1)に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。
(3)前記バッファ層に含まれる第2材料の含有量は、10〜90質量%であることを特徴とする(1)または(2)に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。
(4)前記バッファ層が、前記第1材料および前記第2材料に化学的なドーピングが可能な第3材料を含むことを特徴とする(1)〜(3)のいずれか一項に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。
That is, the present invention relates to the following inventions.
(1) A cathode, an inorganic oxide layer, a buffer layer, a light-emitting layer, and an anode are formed in this order on a substrate, and the buffer layer has a structure having 1 to quaternary amine or 2 carbon atoms. An organic electroluminescent device comprising a first material having a structure having an alkylene oxide of ˜4 and a second material that transports electrons.
(2) The organic electroluminescence element according to (1), wherein the buffer layer has an average thickness of 5 to 100 nm.
(3) Content of the 2nd material contained in the said buffer layer is 10-90 mass%, The organic electroluminescent element as described in (1) or (2) characterized by the above-mentioned.
(4) The buffer layer includes a third material capable of chemically doping the first material and the second material, according to any one of (1) to (3), Organic electroluminescence device.

(5)前記第1材料が、ポリアミンであることを特徴とする(1)〜(4)のいずれか一項に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。
(6)前記第2材料が、ホスフィンオキサイド誘導体、金属錯体、ピリジン誘導体ポリエチレンイミンから選ばれるいずれか一種であることを特徴とする(1)〜(5)のいずれか一項に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。
(7)前記第3材料が、リチウムキノリンまたは炭酸セシウムであることを特徴とする(1)〜(6)のいずれか一項に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。
(8)前記陽極と前記発光層との間に正孔注入層が配置されていることを特徴とする(1)〜(7)のいずれか一項に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。
(5) The organic electroluminescent element according to any one of (1) to (4), wherein the first material is a polyamine.
(6) The organic electro according to any one of (1) to (5), wherein the second material is any one selected from a phosphine oxide derivative, a metal complex, and a pyridine derivative polyethyleneimine. Luminescence element.
(7) The organic electroluminescence element according to any one of (1) to (6), wherein the third material is lithium quinoline or cesium carbonate.
(8) The organic electroluminescence device according to any one of (1) to (7), wherein a hole injection layer is disposed between the anode and the light emitting layer.

(9)基板上に陰極と、無機の酸化物層と、バッファ層と、発光層と、陽極とをこの順に形成する有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法であり、前記バッファ層を形成する工程は、1〜4級のアミンを有する構造または炭素数2〜4のアルキレンオキシドを有する構造からなる第1材料と、電子を輸送する第2材料とを含む混合溶液を塗布する工程を含むことを特徴とする有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法。 (9) A method for producing an organic electroluminescent element in which a cathode, an inorganic oxide layer, a buffer layer, a light emitting layer, and an anode are formed in this order on a substrate, and the step of forming the buffer layer comprises: Including a step of applying a mixed solution containing a first material having a structure having a primary to quaternary amine or a structure having an alkylene oxide having 2 to 4 carbon atoms and a second material that transports electrons. A method for manufacturing an organic electroluminescence element.

(10)(1)〜(8)のいずれか一項に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子を備えることを特徴とする表示装置。
(11)(1)〜(8)のいずれか一項に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子を備えることを特徴とする照明装置。
(10) A display device comprising the organic electroluminescence element according to any one of (1) to (8).
(11) An illuminating device comprising the organic electroluminescent element according to any one of (1) to (8).

本発明の有機エレクトロルミネッセンス素子は、基板上に陰極と、無機の酸化物層と、バッファ層と、発光層と、陽極とがこの順に形成され、バッファ層が、1〜4級のアミンを有する構造または炭素数2〜4のアルキレンオキシドを有する構造からなる第1材料と、電子を輸送する第2材料とを含むものであるので、陰極から発光層への電子の注入の速度が速いものとなる。このため、陽極から注入される正孔のうち、発光に利用される正孔の割合が高くなり、有機エレクトロルミネッセンス素子の発光効率を向上させることができる。   In the organic electroluminescence device of the present invention, a cathode, an inorganic oxide layer, a buffer layer, a light emitting layer, and an anode are formed in this order on a substrate, and the buffer layer has a 1-4th class amine. Since it includes a first material having a structure or a structure having an alkylene oxide having 2 to 4 carbon atoms and a second material that transports electrons, the rate of injection of electrons from the cathode into the light emitting layer is high. For this reason, the ratio of the hole utilized for light emission among the holes inject | poured from an anode becomes high, and the luminous efficiency of an organic electroluminescent element can be improved.

しかも、本発明の有機エレクトロルミネッセンス素子では、バッファ層に含まれる第2材料の電子を輸送する作用によって、有機EL素子の駆動電圧の上昇を抑制できるため、バッファ層を製造時における素子のリークを防止できる十分な厚みで形成でき、安定して製造できる。   In addition, in the organic electroluminescence element of the present invention, an increase in the driving voltage of the organic EL element can be suppressed by the action of transporting electrons of the second material contained in the buffer layer. It can be formed with a sufficient thickness that can be prevented, and can be manufactured stably.

また、本発明の有機エレクトロルミネッセンス素子では、バッファ層を設けることによる駆動電圧の上昇が抑制されているため、酸化物層の表面が凹凸を有するものであっても、バッファ層を十分な厚みで形成することにより、酸化物層による凹凸を覆って平滑な表面を得ることができる。よって、本発明の有機エレクトロルミネッセンス素子は、バッファ層上に形成される発光層の結晶化が抑制され、リーク電流の抑制されたものとなる。
本発明の有機エレクトロルミネッセンス素子は、優れた発光効率が得られ、安定して製造できるものであり、表示装置や照明装置等に好適に用いることができる。
Further, in the organic electroluminescence element of the present invention, since the increase in driving voltage due to the provision of the buffer layer is suppressed, the buffer layer can be sufficiently thick even if the surface of the oxide layer has irregularities. By forming, a smooth surface can be obtained covering the unevenness due to the oxide layer. Therefore, in the organic electroluminescence element of the present invention, the crystallization of the light emitting layer formed on the buffer layer is suppressed, and the leakage current is suppressed.
The organic electroluminescent element of the present invention has excellent luminous efficiency and can be produced stably, and can be suitably used for a display device, a lighting device, and the like.

本発明の有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法は、基板上に陰極と、無機の酸化物層と、バッファ層と、発光層と、陽極とをこの順に形成する有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法であり、バッファ層を形成する工程は、1〜4級のアミンを有する構造または炭素数2〜4のアルキレンオキシドを有する構造からなる第1材料と、電子を輸送する第2材料とを含む混合溶液を塗布する工程を含む方法であるので、酸化物層の表面が凹凸を有するものであっても、表面の平滑なバッファ層が得られる。その結果、製造時における素子のリークを低減できるとともに、バッファ層を形成した後に形成される発光層の結晶化が抑制され、リーク電流の抑制された有機エレクトロルミネッセンス素子が得られる。   The method for producing an organic electroluminescent element of the present invention is a method for producing an organic electroluminescent element in which a cathode, an inorganic oxide layer, a buffer layer, a light emitting layer, and an anode are formed in this order on a substrate. The step of forming the buffer layer is performed by applying a mixed solution containing a first material having a structure having a primary to quaternary amine or a structure having an alkylene oxide having 2 to 4 carbon atoms and a second material that transports electrons. Thus, even if the surface of the oxide layer has irregularities, a buffer layer having a smooth surface can be obtained. As a result, it is possible to reduce the leakage of the element at the time of manufacture, suppress the crystallization of the light emitting layer formed after forming the buffer layer, and obtain an organic electroluminescence element in which the leakage current is suppressed.

図1は、本発明の有機EL素子の一例を説明するための概略断面図である。FIG. 1 is a schematic cross-sectional view for explaining an example of the organic EL element of the present invention. 図2(a)は素子1〜4の電圧印加と発光輝度との関係を示したグラフである。図2(b)は素子1〜4の電圧印加と電流密度との関係を示したグラフである。図2(c)は素子1〜4の電流密度と外部量子効率との関係を示したグラフである。FIG. 2A is a graph showing the relationship between the voltage application of the elements 1 to 4 and the light emission luminance. FIG. 2B is a graph showing a relationship between voltage application and current density of the elements 1 to 4. FIG. 2C is a graph showing the relationship between the current density of the elements 1 to 4 and the external quantum efficiency. 図3は、素子5〜8の電流密度と外部量子効率との関係を示したグラフである。FIG. 3 is a graph showing the relationship between the current density of elements 5 to 8 and the external quantum efficiency. 図4(a)は素子9、10の電圧印加と発光輝度との関係を示したグラフである。図4(b)は素子9、10の電流密度と外部量子効率との関係を示したグラフである。FIG. 4A is a graph showing a relationship between voltage application of the elements 9 and 10 and light emission luminance. FIG. 4B is a graph showing the relationship between the current density of the elements 9 and 10 and the external quantum efficiency. 図5は素子9、11、12の電流密度と外部量子効率との関係を示したグラフである。FIG. 5 is a graph showing the relationship between the current density of the devices 9, 11, and 12 and the external quantum efficiency.

以下、本発明の有機EL素子について、例を挙げて詳細に説明する。
図1は、本発明の有機EL素子の一例を説明するための概略断面図である。図1に示す本実施形態の有機EL素子1は、基板2上に陰極3と、無機の酸化物層4と、バッファ層5と、発光層6と、正孔輸送層7と、正孔注入層8と、陽極9とがこの順に形成された積層構造を有するものである。
Hereinafter, the organic EL element of the present invention will be described in detail with examples.
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view for explaining an example of the organic EL element of the present invention. An organic EL device 1 according to this embodiment shown in FIG. 1 includes a cathode 3, an inorganic oxide layer 4, a buffer layer 5, a light emitting layer 6, a hole transport layer 7, and hole injection on a substrate 2. The layer 8 and the anode 9 have a laminated structure formed in this order.

図1に示す有機EL素子1は、基板2上に形成された有機EL素子1を構成する積層構造に、無機化合物からなる層が含まれているHOILED素子である。図1に示す有機EL素子1では、無機化合物からなる層として、無機の酸化物からなる酸化物層4と、無機の酸化物からなる正孔注入層8とが設けられている。
無機化合物は、有機化合物と比較して安定であるため、HOILED素子は、無機化合物からなる層を含まない有機EL素子と比較して、酸素や水に対する耐性が高く、好ましい。
An organic EL element 1 shown in FIG. 1 is a HOILED element in which a layered structure of the organic EL element 1 formed on a substrate 2 includes a layer made of an inorganic compound. In the organic EL element 1 shown in FIG. 1, an oxide layer 4 made of an inorganic oxide and a hole injection layer 8 made of an inorganic oxide are provided as layers made of an inorganic compound.
Since inorganic compounds are more stable than organic compounds, HOILED elements are preferable because they have higher resistance to oxygen and water than organic EL elements that do not include layers made of inorganic compounds.

なお、図1に示す有機EL素子1においては、無機化合物からなる層として、無機の酸化物からなる酸化物層4と、無機の酸化物からなる正孔注入層8とが設けられている場合を例に挙げて説明するが、例えば、正孔注入層8はなくてもよい。また、図1に示す有機EL素子1においては、正孔注入層8に代えて、有機化合物からなる正孔注入層を設けてもよい。   In the organic EL element 1 shown in FIG. 1, the oxide layer 4 made of an inorganic oxide and the hole injection layer 8 made of an inorganic oxide are provided as the layer made of an inorganic compound. For example, the hole injection layer 8 may not be provided. Further, in the organic EL element 1 shown in FIG. 1, a hole injection layer made of an organic compound may be provided instead of the hole injection layer 8.

また、図1に示す有機EL素子1は、基板2側と反対側に光を取り出すトップエミッション型のものであってもよいし、基板2側に光を取り出すボトムエミッション型のものであってもよい。
また、図1に示す有機EL素子1は、基板2上に陰極3が形成され、基板2と発光層6との間に陰極3が配置された逆構造のものである。なお、「基板上に形成された陰極」とは、陰極3が基板2に直接接触して形成されていることを意味する。
The organic EL element 1 shown in FIG. 1 may be a top emission type that extracts light to the side opposite to the substrate 2 side, or may be a bottom emission type that extracts light to the substrate 2 side. Good.
Further, the organic EL element 1 shown in FIG. 1 has a reverse structure in which a cathode 3 is formed on a substrate 2 and the cathode 3 is disposed between the substrate 2 and the light emitting layer 6. The “cathode formed on the substrate” means that the cathode 3 is formed in direct contact with the substrate 2.

「基板」
基板2の材料としては、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリプロピレン、シクロオレフィンポリマー、ポリアミド、ポリエーテルサルフォン、ポリメチルメタクリレート、ポリカーボネート、ポリアリレートのような樹脂材料や、石英ガラス、ソーダガラスのようなガラス材料等が挙げられ、これらの1種又は2種以上を用いることができる。
"substrate"
As the material of the substrate 2, resin materials such as polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, polypropylene, cycloolefin polymer, polyamide, polyethersulfone, polymethyl methacrylate, polycarbonate, polyarylate, quartz glass, soda glass, etc. A glass material etc. are mentioned, These 1 type (s) or 2 or more types can be used.

有機EL素子1がボトムエミッション型のものである場合には、基板2の材料として、透明のものを用いる。
有機EL素子1がトップエミッション型のものである場合には、基板2の材料として、透明のものだけでなく不透明のものも用いることができる。不透明基板としては、例えば、アルミナのようなセラミックス材料で構成された基板、ステンレス鋼のような金属基板の表面に酸化膜(絶縁膜)を形成したもの、樹脂材料で構成された基板等が挙げられる。
When the organic EL element 1 is a bottom emission type, a transparent material is used as the material of the substrate 2.
When the organic EL element 1 is a top emission type, not only a transparent material but also an opaque material can be used as the material of the substrate 2. Examples of the opaque substrate include a substrate made of a ceramic material such as alumina, an oxide film (insulating film) formed on the surface of a metal substrate such as stainless steel, and a substrate made of a resin material. It is done.

基板2の平均厚さは、0.1〜30mmであることが好ましく、0.1〜10mmであることがより好ましい。基板2の平均厚さは、デジタルマルチメーター、ノギスにより測定できる。   The average thickness of the substrate 2 is preferably 0.1 to 30 mm, and more preferably 0.1 to 10 mm. The average thickness of the substrate 2 can be measured with a digital multimeter or a caliper.

「陰極」
陰極3の材料としては、ITO(インジウム酸化錫)、IZO(インジウム酸化亜鉛)、FTO(フッ素酸化錫)、In、SnO、Sb含有SnO、Al含有ZnO等の酸化物等が挙げられる。この中でも、陰極3の材料として、ITO、IZO、FTOを用いることが好ましい。
陰極3の平均厚さは、特に制限されないが、10〜500nmであることが好ましく、100〜200nmであることがより好ましい。
陰極3の平均厚さは、触針式段差計、分光エリプソメトリーにより測定できる。
"cathode"
Examples of the material of the cathode 3 include ITO (indium tin oxide), IZO (indium zinc oxide), FTO (fluorine tin oxide), oxides such as In 3 O 3 , SnO 2 , Sb-containing SnO 2 , and Al-containing ZnO. Can be mentioned. Among these, it is preferable to use ITO, IZO, or FTO as the material of the cathode 3.
The average thickness of the cathode 3 is not particularly limited, but is preferably 10 to 500 nm, and more preferably 100 to 200 nm.
The average thickness of the cathode 3 can be measured by a stylus profilometer or spectroscopic ellipsometry.

「酸化物層」
酸化物層4は、無機の酸化物からなるものであり、電子注入層としての機能や、電極(陰極)としての機能を備えるものであってもよい。
酸化物層4は、単体の金属酸化物の一層からなる層、もしくは、単体又は二種類以上の金属酸化物を積層及び/又は混合した層である半導体もしくは絶縁体積層薄膜の層であることが好ましい。
"Oxide layer"
The oxide layer 4 is made of an inorganic oxide, and may have a function as an electron injection layer or a function as an electrode (cathode).
The oxide layer 4 may be a layer made of a single metal oxide layer, or a layer of a semiconductor or insulator laminated thin film that is a single layer or a layer obtained by laminating and / or mixing two or more types of metal oxides. preferable.

酸化物層4に含まれる金属酸化物としては、例えば、マグネシウム、カルシウム、ストロンチウム、バリウム、チタン、ジルコニウム、ハフニウム、バナジウム、ニオブ、タンタル、クロム、モリブデン、タングステン、マンガン、インジウム、ガリウム、鉄、コバルト、ニッケル、銅、亜鉛、カドミウム、アルミニウム、ケイ素からなる群から選ばれる金属元素の酸化物が挙げられる。   Examples of the metal oxide contained in the oxide layer 4 include magnesium, calcium, strontium, barium, titanium, zirconium, hafnium, vanadium, niobium, tantalum, chromium, molybdenum, tungsten, manganese, indium, gallium, iron, and cobalt. And oxides of metal elements selected from the group consisting of nickel, copper, zinc, cadmium, aluminum and silicon.

酸化物層4が、二種類以上の金属酸化物を含むものである場合、二種類以上の金属酸化物に含まれる金属元素の少なくとも一つが、マグネシウム、カルシウム、チタン、ジルコニウム、ハフニウム、亜鉛、アルミニウム、ケイ素であることが好ましい。
具体的には、酸化物層4には、酸化マグネシウム、酸化チタン、酸化ジルコニウム、酸化ハフニウム、酸化亜鉛、酸化アルミニウム、酸化ケイ素からなる群から選ばれる金属酸化物が含まれていることが好ましい。
When the oxide layer 4 contains two or more kinds of metal oxides, at least one of the metal elements contained in the two or more kinds of metal oxides is magnesium, calcium, titanium, zirconium, hafnium, zinc, aluminum, silicon It is preferable that
Specifically, the oxide layer 4 preferably contains a metal oxide selected from the group consisting of magnesium oxide, titanium oxide, zirconium oxide, hafnium oxide, zinc oxide, aluminum oxide, and silicon oxide.

酸化物層4が、上記単体又は二種類以上の金属酸化物を積層及び/又は混合した層である場合、例えば、酸化チタン/酸化亜鉛、酸化チタン/酸化マグネシウム、酸化チタン/酸化ジルコニウム、酸化チタン/酸化アルミニウム、酸化チタン/酸化ハフニウム、酸化チタン/酸化ケイ素、酸化亜鉛/酸化マグネシウム、酸化亜鉛/酸化ジルコニウム、酸化亜鉛/酸化ハフニウム、酸化亜鉛/酸化ケイ素、酸化カルシウム/酸化アルミニウムなどの金属酸化物の組合せを積層及び/又は混合したものや、酸化チタン/酸化亜鉛/酸化マグネシウム、酸化チタン/酸化亜鉛/酸化ジルコニウム、酸化チタン/酸化亜鉛/酸化アルミニウム、酸化チタン/酸化亜鉛/酸化ハフニウム、酸化チタン/酸化亜鉛/酸化ケイ素、酸化インジウム/酸化ガリウム/酸化亜鉛などの三種の金属酸化物の組合せを積層及び/又は混合したものなどが挙げられ、特殊な組成として良好な特性を示す酸化物半導体であるIGZOやエレクトライドである12CaO・7Alも含まれる。 When the oxide layer 4 is a layer obtained by laminating and / or mixing the above simple substance or two or more kinds of metal oxides, for example, titanium oxide / zinc oxide, titanium oxide / magnesium oxide, titanium oxide / zirconium oxide, titanium oxide Metal oxides such as aluminum oxide / aluminum oxide, titanium oxide / hafnium oxide, titanium oxide / silicon oxide, zinc oxide / magnesium oxide, zinc oxide / zirconium oxide, zinc oxide / hafnium oxide, zinc oxide / silicon oxide, calcium oxide / aluminum oxide Laminated and / or mixed combinations of the above, titanium oxide / zinc oxide / magnesium oxide, titanium oxide / zinc oxide / zirconium oxide, titanium oxide / zinc oxide / aluminum oxide, titanium oxide / zinc oxide / hafnium oxide, titanium oxide / Zinc oxide / Silicon oxide, Indium oxide / Gallium oxide N / a such a combination of three kinds of metal oxides such as zinc oxide laminated and / or mixed ones can be mentioned, with IGZO and electride an oxide semiconductor having good characteristics as a special composition 12CaO · 7Al 2 O 3 is also included.

酸化物層4の平均厚さは、特に限定されないが、1〜1000nmであることが好ましく、2〜100nmであることがより好ましい。
酸化物層4の平均厚さは、触針式段差計、分光エリプソメトリーにより測定できる。
Although the average thickness of the oxide layer 4 is not specifically limited, It is preferable that it is 1-1000 nm, and it is more preferable that it is 2-100 nm.
The average thickness of the oxide layer 4 can be measured by a stylus profilometer or spectroscopic ellipsometry.

「バッファ層」
バッファ層5は、1〜4級のアミンを有する構造または炭素数2〜4のアルキレンオキシドを有する構造からなる第1材料と、電子を輸送する第2材料とを含むものである。
第1材料は、バッファ層5に対して、陰極から発光層6への電子の注入の速度を改善する電子注入層としての機能と、製造時における素子のリークを防止する機能とを付与するものである。
"Buffer layer"
The buffer layer 5 includes a first material having a structure having a primary to quaternary amine or a structure having an alkylene oxide having 2 to 4 carbon atoms, and a second material that transports electrons.
The first material provides the buffer layer 5 with a function as an electron injection layer for improving the injection speed of electrons from the cathode to the light emitting layer 6 and a function for preventing element leakage during manufacturing. It is.

第1材料としては、例えば、ポリビニルピロリドンのようなピロリドン類、ポリピロールのようなピロール類又はポリアニリンのようなアニリン類、又はポリビニルピリジンのようなピリジン類、同様に、ピロリジン類、イミダゾール類、ピペリジン類、ピリミジン類、トリアジン類などの含窒素複素環を有する化合物や、アミン化合物が挙げられる。その中でも、窒素含有率の多い化合物が好ましく、ポリアミン類又はトリアジン環含有化合物が好ましい。   Examples of the first material include pyrrolidones such as polyvinyl pyrrolidone, pyrroles such as polypyrrole or anilines such as polyaniline, or pyridines such as polyvinyl pyridine, as well as pyrrolidines, imidazoles, and piperidines. , Compounds having a nitrogen-containing heterocycle such as pyrimidines and triazines, and amine compounds. Of these, compounds having a high nitrogen content are preferred, and polyamines or triazine ring-containing compounds are preferred.

第1材料としてポリアミン類を用いた場合、ポリアミン類が全原子数に対する窒素原子数の比率が高いものであるため、電子注入性の高いバッファ層5を有する駆動安定性に優れた有機EL素子1が得られるため好ましい。ポリアミン類としては、塗布により層を形成することができるものが好ましく、低分子化合物であっても高分子化合物であってもよい。なお、低分子化合物とは、高分子化合物(重合体)ではない化合物を意味し、分子量の低い化合物を必ずしも意味するものではない。
低分子化合物としては、ジエチレントリアミンのようなポリアルキレンポリアミンが好適に用いられる。
When polyamines are used as the first material, since the polyamines have a high ratio of the number of nitrogen atoms to the total number of atoms, the organic EL element 1 having a buffer layer 5 with high electron injection properties and excellent driving stability. Is preferable. As the polyamines, those capable of forming a layer by coating are preferable, and they may be low molecular compounds or high molecular compounds. In addition, a low molecular compound means the compound which is not a high molecular compound (polymer), and does not necessarily mean a compound with a low molecular weight.
As the low molecular weight compound, a polyalkylene polyamine such as diethylenetriamine is preferably used.

高分子化合物では、ポリアルキレンイミン構造を有する重合体が好適に用いられ、中でもポリアルキレンイミン構造を主鎖骨格に有する直鎖状構造の重合体を用いることが好ましい。このような構造の重合体を用いることで、素子駆動安定性と素子寿命のより優れた有機EL素子が得られる。これは、ポリアルキレンイミン構造を主鎖骨格に有する重合体は直鎖状構造であることから固体であり、これにより、デバイス中で安定に存在することによるものと推定される。   In the polymer compound, a polymer having a polyalkyleneimine structure is preferably used, and a polymer having a linear structure having a polyalkyleneimine structure in the main chain skeleton is preferably used. By using the polymer having such a structure, an organic EL element having more excellent element driving stability and element lifetime can be obtained. This is presumably due to the fact that the polymer having a polyalkyleneimine structure in the main chain skeleton is a solid because it has a linear structure, and thus exists stably in the device.

ポリアルキレンイミン構造を主鎖骨格に有する直鎖状構造の重合体は、主鎖骨格を形成するポリアルキレンイミン構造の大半が直鎖状に連結したものであればよく、一部に分岐構造を有するものであってもよい。
ポリアルキレンイミン構造を主鎖骨格に有する直鎖状構造の重合体は、主鎖骨格を形成するポリアルキレンイミン構造の80%以上が直鎖状に連結したものであることが好ましく、より好ましくは90%以上が直鎖状に連結したものであり、更に好ましくは95%以上が直鎖状に連結したものであり、最も好ましくは主鎖骨格を形成するポリアルキレンイミン構造の100%以上が直鎖状に連結したものである。
The polymer having a linear structure having a polyalkyleneimine structure in the main chain skeleton may be one in which most of the polyalkyleneimine structures forming the main chain skeleton are linearly linked, and a branched structure is partly formed. You may have.
The polymer having a linear structure having a polyalkyleneimine structure in the main chain skeleton is preferably one in which 80% or more of the polyalkyleneimine structures forming the main chain skeleton are linked in a linear form. 90% or more are linearly connected, more preferably 95% or more linearly connected, and most preferably 100% or more of the polyalkyleneimine structure forming the main chain skeleton is straight. They are linked in a chain.

上記ポリアルキレンイミン構造を有する重合体のポリアルキレンイミン構造は、炭素数2〜4のアルキレンイミンにより形成された構造であることが好ましく、炭素数2又は3のアルキレンイミンにより形成された構造であることがより好ましい。上記ポリアルキレンイミン構造を有する重合体は、主鎖骨格にポリアルキレンイミン構造を有するものであればよく、ポリアルキレンイミン構造以外の構造を有する共重合体であってもよい。   The polyalkyleneimine structure of the polymer having the polyalkyleneimine structure is preferably a structure formed by alkyleneimine having 2 to 4 carbon atoms, and is a structure formed by alkyleneimine having 2 or 3 carbon atoms. It is more preferable. The polymer having the polyalkyleneimine structure may be any polymer having a polyalkyleneimine structure in the main chain skeleton, and may be a copolymer having a structure other than the polyalkyleneimine structure.

上記ポリアルキレンイミン構造を有する重合体が、ポリアルキレンイミン構造以外の構造を有する場合、ポリアルキレンイミン構造以外の構造の原料となる単量体としては、例えば、エチレン、プロピレン、ブテン、アセチレン、アクリル酸、スチレン、又は、ビニルカルバゾール等が挙げられ、これらの1種又は2種以上を用いることができる。また、これらの単量体の炭素原子に結合した水素原子が他の有機基に置換された構造のものも好適に用いることができる。水素原子と置換する他の有機基としては、例えば、酸素原子、窒素原子、硫黄原子からなる群より選択される少なくとも1種の原子を含んでいてもよい炭素数1〜10の炭化水素基等が挙げられる。   When the polymer having a polyalkyleneimine structure has a structure other than the polyalkyleneimine structure, examples of the monomer that is a raw material for a structure other than the polyalkyleneimine structure include ethylene, propylene, butene, acetylene, and acrylic. Examples thereof include acid, styrene, and vinyl carbazole, and one or more of these can be used. Moreover, the thing of the structure where the hydrogen atom couple | bonded with the carbon atom of these monomers was substituted by the other organic group can also be used suitably. Examples of the other organic group substituted with a hydrogen atom include a hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms that may contain at least one atom selected from the group consisting of an oxygen atom, a nitrogen atom, and a sulfur atom. Is mentioned.

上記ポリアルキレンイミン構造を有する重合体は、重合体の主鎖骨格を形成する単量体成分100質量%のうち、ポリアルキレンイミン構造を形成する単量体が50質量%以上であることが好ましく、66質量%以上であることがより好ましく、更に好ましくは、80質量%以上である。最も好ましくは、ポリアルキレンイミン構造を形成する単量体が100質量%であること、すなわち、ポリアルキレンイミン構造を有する重合体がポリアルキレンイミンのホモポリマーであることである。   The polymer having a polyalkyleneimine structure is preferably 50% by mass or more of the monomer that forms the polyalkyleneimine structure out of 100% by mass of the monomer component that forms the main chain skeleton of the polymer. 66 mass% or more, more preferably 80 mass% or more. Most preferably, the monomer forming the polyalkyleneimine structure is 100% by mass, that is, the polymer having the polyalkyleneimine structure is a homopolymer of polyalkyleneimine.

上記ポリアルキレンイミン構造を有する重合体は、重量平均分子量が100000以下であることが好ましい。重量平均分子量が100000以下のものを用い、重合体が分解する温度での加熱処理を行って層を形成することで、有機EL素子をより駆動安定性に優れたものとすることができる。ポリアルキレンイミン構造を有する重合体の重量平均分子量は、より好ましくは10000以下であり、更に好ましくは100〜1000である。
また、ポリアルキレンイミン構造を有する重合体が、上述した直鎖状構造の重合体である場合には、重合体の重量平均分子量は、より好ましくは、250000以下であり、更に好ましくは、10000−50000である。
The polymer having a polyalkyleneimine structure preferably has a weight average molecular weight of 100,000 or less. By using a material having a weight average molecular weight of 100,000 or less and performing a heat treatment at a temperature at which the polymer is decomposed to form a layer, the organic EL device can be made more excellent in driving stability. The weight average molecular weight of the polymer having a polyalkyleneimine structure is more preferably 10,000 or less, and still more preferably 100 to 1,000.
Further, when the polymer having a polyalkyleneimine structure is a polymer having a linear structure as described above, the weight average molecular weight of the polymer is more preferably 250,000 or less, and still more preferably 10,000− 50000.

ポリアルキレンイミン構造を有する重合体の重量平均分子量は、以下の条件でGPC(ゲルパーミエーションクロマトグラフィー)測定により求めることができる。
測定機器:Waters Alliance(2695)(商品名、Waters社製)
分子量カラム:TSKguard column α、TSKgel α−3000、TSKgel α−4000、TSKgel α−5000(いずれも東ソー社製)を直列に接続して使用
溶離液:100mMホウ酸水溶液14304gに50mM水酸化ナトリウム水溶液96gとアセトニトリル3600gを混合した溶液
検量線用標準物質:ポリエチレングリコール(東ソー社製)
測定方法:測定対象物を固形分が約0.2質量%となるように溶離液に溶解し、フィルターにてろ過した物を測定サンプルとして分子量を測定する。
The weight average molecular weight of the polymer having a polyalkyleneimine structure can be determined by GPC (gel permeation chromatography) measurement under the following conditions.
Measuring instrument: Waters Alliance (2695) (trade name, manufactured by Waters)
Molecular weight columns: TSKguard column α, TSKgel α-3000, TSKgel α-4000, TSKgel α-5000 (all manufactured by Tosoh Corporation) are used in series. Eluent: 96 mM 50 mM sodium hydroxide aqueous solution to 14304 g 100 mM boric acid aqueous solution Solution containing 3600 g of acetonitrile and standard material for calibration curve: Polyethylene glycol (manufactured by Tosoh Corporation)
Measurement method: The molecular weight is measured by dissolving the object to be measured in the eluent so that the solid content is about 0.2% by mass, and using the product filtered through a filter as the measurement sample.

第1材料としてトリアジン環含有化合物を用いた場合、トリアジン環含有化合物が窒素含有環状化合物であって、全原子数に対する窒素原子数の比率が高いものであることと、剛直であることとにより、電子注入性の高いバッファ層5を有する駆動安定性に優れた有機EL素子1が得られるため好ましい。トリアジン環含有化合物としては、メラミンやベンゾグアナミン/アセトグアナミン等のグアナミン類の他、メチロール化されたメラミンやグアナミン類、メラミン樹脂/グアナミン樹脂等のメラミン/グアナミン骨格を有する化合物の1種又は2種以上を用いることができ、これらの中でも、化合物を構成する全原子中の窒素原子の割合が高い点でメラミンが好ましい。   When the triazine ring-containing compound is used as the first material, the triazine ring-containing compound is a nitrogen-containing cyclic compound, and the ratio of the number of nitrogen atoms to the total number of atoms is high, and the rigidity is high. It is preferable because an organic EL element 1 having a buffer layer 5 with high electron injection properties and excellent driving stability can be obtained. Examples of the triazine ring-containing compound include one or more compounds having a melamine / guanamine skeleton such as melamine and guanamines such as melamine and benzoguanamine / acetoguanamine, methylolated melamine and guanamines, and melamine resin / guanamine resin. Among these, melamine is preferable because the ratio of nitrogen atoms in all atoms constituting the compound is high.

第1材料としては、具体的には、ポリエチレンイミン、ポリ(9,9−ビス(6’’−トリメチルアンモニウムヘキシル)フルオレン−コ−アルト−フェニレン)ウィズブロマイドコウンテリオンズ(FPQ−Br)、ポリ(9,9−ビス(3’−ジメチルアミノ)プロピル)2,7−フルオレン−アルト−2,7−(9、9−ジオクティルフルオレン)(PFNR)、ポリアルキレンオキシド、下記式(1)〜(9)で表されるアミンを有する構造の繰り返し単位を有する重合体、式(10)で表されるトリエチルアミン、式(11)で表されるエチレンジアミンを好適に用いることができる。 Specific examples of the first material include polyethyleneimine, poly (9,9-bis (6 ″ -trimethylammonium hexyl) fluorene-co-alt-phenylene) with bromide Countys (FPQ-Br), poly (9,9-bis (3′-dimethylamino) propyl) 2,7-fluorene-alt-2,7- (9,9-dioctylfluorene) (PFNR 2 ), polyalkylene oxide, the following formula (1 ) To (9), a polymer having a repeating unit having a structure having an amine, triethylamine represented by the formula (10), and ethylenediamine represented by the formula (11) can be preferably used.

Figure 0006037894
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Figure 0006037894
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第2材料は、バッファ層5に電子を輸送する機能を付与するものである。第2材料としては、例えば、9,9−スピロビフルオレン−2−イル−ジフェニル−ホスフィンオキサイド(SPPO1)やフェニル−ディピレニルホスフィンオキサイド(POPy)のようなホスフィンオキサイド誘導体、トリス−1,3,5−(3’−(ピリジン−3’’−イル)フェニル)ベンゼン(TmPyPhB)のようなピリジン誘導体、(2−(3−(9−カルバゾリル)フェニル)キノリン(mCQ))のようなキノリン誘導体、2−フェニル−4,6−ビス(3,5−ジピリジルフェニル)ピリミジン(BPyPPM)のようなピリミジン誘導体、ピラジン誘導体、バソフェナントロリン(BPhen)のようなフェナントロリン誘導体、2,4−ビス(4−ビフェニル)−6−(4’−(2−ピリジニル)−4−ビフェニル)−[1,3,5]トリアジン(MPT)のようなトリアジン誘導体、3−フェニル−4−(1’−ナフチル)−5−フェニル−1,2,4−トリアゾール(TAZ)のようなトリアゾール誘導体、オキサゾール誘導体、2−(4−ビフェニリル)−5−(4−tert−ブチルフェニル−1,3,4−オキサジアゾール)(PBD)のようなオキサジアゾール誘導体、2,2’,2’’−(1,3,5−ベントリイル)−トリス(1−フェニル−1−H−ベンズイミダゾール)(TPBI)のようなイミダゾール誘導体、ナフタレン、ペリレン等の芳香環テトラカルボン酸無水物、ビス[2−(2−ヒドロキシフェニル)ベンゾチアゾラト]亜鉛(Zn(BTZ))、トリス(8−ヒドロキシキノリナト)アルミニウム(Alq3)などに代表される各種金属錯体、2,5−ビス(6’−(2’,2’’−ビピリジル))−1,1−ジメチル−3,4−ジフェニルシロール(PyPySPyPy)等のシロール誘導体に代表される有機シラン誘導体等が挙げられ、これらの1種又は2種以上を用いることができる。これらの第2材料の中でも9,9−スピロビフルオレン−2−イル−ジフェニル−ホスフィンオキサイド(SPPO1)やPOPyのようなホスフィンオキサイド誘導体、Alqのような金属錯体、TmPyPhBのようなピリジン誘導体が好ましい。 The second material imparts a function of transporting electrons to the buffer layer 5. Examples of the second material include phosphine oxide derivatives such as 9,9-spirobifluoren-2-yl-diphenyl-phosphine oxide (SPPO1) and phenyl-dipyrenylphosphine oxide (POPy 2 ), tris-1, Pyridine derivatives such as 3,5- (3 ′-(pyridin-3 ″ -yl) phenyl) benzene (TmPyPhB), such as (2- (3- (9-carbazolyl) phenyl) quinoline (mCQ)) Quinoline derivatives, pyrimidine derivatives such as 2-phenyl-4,6-bis (3,5-dipyridylphenyl) pyrimidine (BPyPPM), pyrazine derivatives, phenanthroline derivatives such as bathophenanthroline (BPhen), 2,4-bis ( 4-biphenyl) -6- (4 '-(2-pyridinyl) -4-biphenyl )-[1,3,5] triazine derivatives such as triazine (MPT), triazoles such as 3-phenyl-4- (1′-naphthyl) -5-phenyl-1,2,4-triazole (TAZ) Derivatives, oxazole derivatives, oxadiazole derivatives such as 2- (4-biphenylyl) -5- (4-tert-butylphenyl-1,3,4-oxadiazole) (PBD), 2,2 ′, 2 ''-(1,3,5-bentriyl) -tris (1-phenyl-1-H-benzimidazole) (TPBI), imidazole derivatives such as naphthalene and perylene, tetracyclic anhydrides such as bis [ 2- (2-hydroxyphenyl) benzothiazolato] zinc (Zn (BTZ) 2), tris (8-hydroxyquinolinato) aluminum (Alq3), etc. Represented by various metal complexes represented by silole derivatives such as 2,5-bis (6 ′-(2 ′, 2 ″ -bipyridyl))-1,1-dimethyl-3,4-diphenylsilole (PyPySPyPy) Organic silane derivatives and the like, and one or more of these can be used. Among these second material 9,9-spirobifluorene-2-yl - diphenyl - phosphine oxide derivatives such as phosphine oxide (SPPO1) and Popy 2, metal complexes, pyridine derivatives such as TmPyPhB such as Alq 3 Is preferred.

バッファ層5に含まれる第2材料の含有量は、10〜90質量%であることが好ましく、30〜70質量%であることがより好ましい。第2材料の含有量が上記範囲である場合、第1材料による電子注入層としての機能および製造時における素子のリークを防止する機能、第2材料による電子を輸送する機能のいずれもが、効果的に機能するものとなる。   It is preferable that content of the 2nd material contained in the buffer layer 5 is 10-90 mass%, and it is more preferable that it is 30-70 mass%. When the content of the second material is within the above range, both the function as the electron injection layer by the first material, the function of preventing the leakage of the element during manufacturing, and the function of transporting electrons by the second material are effective. Functionally.

バッファ層5は、第1材料と第2材料に加えて、第3材料を含むことが好ましい。第3材料は、第1材料および第2材料に化学的なドーピングが可能なものであり、電子供与性を有するものであることが好ましい。このような第3材料としては、例えば、リチウム・ナトリウム・カリウム・ルビジウム・セシウム・フランシウム等のアルカリ金属やベリリウム・マグネシウム・カルシウム・ストロンチウム・バリウム・ラジウム等のアルカリ土類金属を含む有機化合物および無機化合物が挙げられる。第3材料として用いられる有機化合物の代表例としては、リチウムキノリン(Liq)が挙げられ、無機化合物の代表例としては炭酸セシウムが挙げられる。第3材料が、リチウムキノリンまたは炭酸セシウムである場合、第3材料が電子供与性の材料であることにより、バッファ層5の電子輸送性を効果的に高めることができ、好ましい。   The buffer layer 5 preferably includes a third material in addition to the first material and the second material. The third material is preferably one that can be chemically doped into the first material and the second material, and has an electron donating property. Examples of such a third material include organic compounds and inorganic materials including alkali metals such as lithium, sodium, potassium, rubidium, cesium, and francium, and alkaline earth metals such as beryllium, magnesium, calcium, strontium, barium, and radium. Compounds. A typical example of the organic compound used as the third material is lithium quinoline (Liq), and a typical example of the inorganic compound is cesium carbonate. When the third material is lithium quinoline or cesium carbonate, it is preferable that the third material is an electron donating material, so that the electron transport property of the buffer layer 5 can be effectively increased.

バッファ層5が第3材料を含むものである場合、バッファ層5に含まれる第3材料の含有量は、第2材料の1〜10質量%であることが好ましく、1〜5質量%であることがより好ましい。第3材料の含有量が上記範囲である場合、第1材料および第2材料を含むことによる機能に支障を来すことなく、第3材料を含むことによるバッファ層5の電子の輸送性を向上させる効果が十分に得られる。   When the buffer layer 5 contains the third material, the content of the third material contained in the buffer layer 5 is preferably 1 to 10% by mass, and preferably 1 to 5% by mass of the second material. More preferred. When the content of the third material is within the above range, the electron transport property of the buffer layer 5 due to the inclusion of the third material is improved without hindering the function due to the inclusion of the first material and the second material. The effect to be obtained is sufficiently obtained.

バッファ層5の平均厚さは、5〜100nmであることが好ましく、10〜50nmであることがより好ましい。バッファ層5の平均厚さが上記範囲である場合、有機EL素子1の製造時におけるリークを十分に防止できるとともに、バッファ層5を設けることによる有機EL素子の駆動電圧の上昇を十分に抑制できる。
バッファ層5の平均厚さは、例えば、触針式段差計、分光エリプソメトリーにより測定できる。
The average thickness of the buffer layer 5 is preferably 5 to 100 nm, and more preferably 10 to 50 nm. When the average thickness of the buffer layer 5 is in the above range, leakage during the production of the organic EL element 1 can be sufficiently prevented, and an increase in the driving voltage of the organic EL element due to the provision of the buffer layer 5 can be sufficiently suppressed. .
The average thickness of the buffer layer 5 can be measured by, for example, a stylus profilometer or spectroscopic ellipsometry.

「発光層」
発光層6を形成する材料としては、発光層6の材料として通常用いることができるいずれの材料を用いてもよく、これらを混合して用いてもよい。具体的には、例えば、発光層6として、ビス[10−ヒドロキシベンゾキノリネート]ベリリウム(Bebq)と、トリス[1−フェニルイソキノリン]イリジウム(III)(Ir(piq))とを含むものとすることができる。
また、発光層6を形成する材料は、低分子化合物であってもよいし、高分子化合物であってもよい。なお、本発明において低分子材料とは、高分子材料(重合体)ではない材料を意味し、分子量が低い有機化合物を必ずしも意味するものではない。
"Light emitting layer"
As a material for forming the light emitting layer 6, any material that can be normally used as the material of the light emitting layer 6 may be used, or a mixture thereof may be used. Specifically, for example, the light-emitting layer 6 contains bis [10-hydroxybenzoquinolinate] beryllium (Bebq 2 ) and tris [1-phenylisoquinoline] iridium (III) (Ir (piq) 3 ). It can be.
The material forming the light emitting layer 6 may be a low molecular compound or a high molecular compound. In the present invention, the low molecular weight material means a material that is not a polymer material (polymer), and does not necessarily mean an organic compound having a low molecular weight.

発光層6を形成する高分子材料としては、例えば、トランス型ポリアセチレン、シス型ポリアセチレン、ポリ(ジ−フェニルアセチレン)(PDPA)、ポリ(アルキルフェニルアセチレン)(PAPA)のようなポリアセチレン系化合物;ポリ(パラ−フェンビニレン)(PPV)、ポリ(2,5−ジアルコキシ−パラ−フェニレンビニレン)(RO−PPV)、シアノ−置換−ポリ(パラ−フェンビニレン)(CN−PPV)、ポリ(2−ジメチルオクチルシリル−パラ−フェニレンビニレン)(DMOS−PPV)、ポリ(2−メトキシ,5−(2’−エチルヘキソキシ)−パラ−フェニレンビニレン)(MEH−PPV)のようなポリパラフェニレンビニレン系化合物;ポリ(3−アルキルチオフェン)(PAT)、ポリ(オキシプロピレン)トリオール(POPT)のようなポリチオフェン系化合物;ポリ(9,9−ジアルキルフルオレン)(PDAF)、ポリ(ジオクチルフルオレン−アルト−ベンゾチアジアゾール)(F8BT)、α,ω−ビス[N,N’−ジ(メチルフェニル)アミノフェニル]−ポリ[9,9−ビス(2−エチルヘキシル)フルオレン−2,7−ジル](PF2/6am4)、ポリ(9,9−ジオクチル−2,7−ジビニレンフルオレニル−オルト−コ(アントラセン−9,10−ジイル)のようなポリフルオレン系化合物;ポリ(パラ−フェニレン)(PPP)、ポリ(1,5−ジアルコキシ−パラ−フェニレン)(RO−PPP)のようなポリパラフェニレン系化合物;ポリ(N−ビニルカルバゾール)(PVK)のようなポリカルバゾール系化合物;ポリ(メチルフェニルシラン)(PMPS)、ポリ(ナフチルフェニルシラン)(PNPS)、ポリ(ビフェニリルフェニルシラン)(PBPS)のようなポリシラン系化合物;更には特願2010−230995号、特願2011−6457号に記載のホウ素化合物系高分子材料等が挙げられる。   Examples of the polymer material for forming the light emitting layer 6 include polyacetylene compounds such as trans-type polyacetylene, cis-type polyacetylene, poly (di-phenylacetylene) (PDPA), and poly (alkylphenylacetylene) (PAPA); (Para-phenvinylene) (PPV), poly (2,5-dialkoxy-para-phenylenevinylene) (RO-PPV), cyano-substituted-poly (para-phenvinylene) (CN-PPV), poly (2 Polyparaphenylene vinylene compounds such as -dimethyloctylsilyl-para-phenylene vinylene (DMOS-PPV), poly (2-methoxy, 5- (2'-ethylhexoxy) -para-phenylene vinylene) (MEH-PPV) Poly (3-alkylthiophene) (PAT), poly (oxyp) Polythiophene compounds such as pyrene) triol (POPT); poly (9,9-dialkylfluorene) (PDAF), poly (dioctylfluorene-alt-benzothiadiazole) (F8BT), α, ω-bis [N, N ′ -Di (methylphenyl) aminophenyl] -poly [9,9-bis (2-ethylhexyl) fluorene-2,7-zyl] (PF2 / 6am4), poly (9,9-dioctyl-2,7-divinylene) Polyfluorene-based compounds such as fluorenyl-ortho-co (anthracene-9,10-diyl); poly (para-phenylene) (PPP), poly (1,5-dialkoxy-para-phenylene) (RO— Polyparaphenylene compounds such as PPP); polycarbazoles such as poly (N-vinylcarbazole) (PVK) Compound: Polysilane compound such as poly (methylphenylsilane) (PMPS), poly (naphthylphenylsilane) (PNPS), poly (biphenylylphenylsilane) (PBPS); and Japanese Patent Application No. 2010-230995, Japanese Patent Application Examples thereof include boron compound-based polymer materials described in 2011-6457.

発光層6を形成する低分子材料としては、例えば、配位子に2,2’−ビピリジン−4,4’−ジカルボン酸を持つ、3配位のイリジウム錯体、ファクトリス(2−フェニルピリジン)イリジウム(Ir(ppy))、8−ヒドロキシキノリン アルミニウム(Alq)、トリス(4−メチル−8キノリノレート) アルミニウム(III)(Almq)、8−ヒドロキシキノリン 亜鉛(Znq)、(1,10−フェナントロリン)−トリス−(4,4,4−トリフルオロ−1−(2−チエニル)−ブタン−1,3−ジオネート)ユーロピウム(III)(Eu(TTA)(phen))、2,3,7,8,12,13,17,18−オクタエチル−21H,23H−ポルフィン プラチナム(II)のような各種金属錯体;ジスチリルベンゼン(DSB)、ジアミノジスチリルベンゼン(DADSB)のようなベンゼン系化合物;ナフタレン、ナイルレッドのようなナフタレン系化合物;フェナントレンのようなフェナントレン系化合物;クリセン、6−ニトロクリセンのようなクリセン系化合物;ペリレン、N,N’−ビス(2,5−ジ−t−ブチルフェニル)−3,4,9,10−ペリレン−ジ−カルボキシイミド(BPPC)のようなペリレン系化合物;コロネンのようなコロネン系化合物;アントラセン、ビススチリルアントラセンのようなアントラセン系化合物;ピレンのようなピレン系化合物;4−(ジ−シアノメチレン)−2−メチル−6−(パラ−ジメチルアミノスチリル)−4H−ピラン(DCM)のようなピラン系化合物;アクリジンのようなアクリジン系化合物;スチルベンのようなスチルベン系化合物;2,5−ジベンゾオキサゾールチオフェンのようなチオフェン系化合物;ベンゾオキサゾールのようなベンゾオキサゾール系化合物;ベンゾイミダゾールのようなベンゾイミダゾール系化合物;2,2’−(パラ−フェニレンジビニレン)−ビスベンゾチアゾールのようなベンゾチアゾール系化合物;ビスチリル(1,4−ジフェニル−1,3−ブタジエン)、テトラフェニルブタジエンのようなブタジエン系化合物;ナフタルイミドのようなナフタルイミド系化合物;クマリンのようなクマリン系化合物;ペリノンのようなペリノン系化合物;オキサジアゾールのようなオキサジアゾール系化合物;アルダジン系化合物;1,2,3,4,5−ペンタフェニル−1,3−シクロペンタジエン(PPCP)のようなシクロペンタジエン系化合物;キナクリドン、キナクリドンレッドのようなキナクリドン系化合物;ピロロピリジン、チアジアゾロピリジンのようなピリジン系化合物;2,2’,7,7’−テトラフェニル−9,9’−スピロビフルオレンのようなスピロ化合物;フタロシアニン(HPc)、銅フタロシアニンのような金属または無金属のフタロシアニン系化合物;更には特開2009−155325号公報、特開2011−184430号および特願2011−6458号に記載のホウ素化合物材料等が挙げられる。 Examples of the low molecular weight material forming the light emitting layer 6 include a tricoordinate iridium complex having 2,2′-bipyridine-4,4′-dicarboxylic acid as a ligand, and factory (2-phenylpyridine). Iridium (Ir (ppy) 3 ), 8-hydroxyquinoline aluminum (Alq 3 ), tris (4-methyl-8 quinolinolate) aluminum (III) (Almq 3 ), 8-hydroxyquinoline zinc (Znq 2 ), (1, 10-phenanthroline) -tris- (4,4,4-trifluoro-1- (2-thienyl) -butane-1,3-dionate) europium (III) (Eu (TTA) 3 (phen)), 2, Various metal complexes such as 3,7,8,12,13,17,18-octaethyl-21H, 23H-porphine platinum (II); Benzyl compounds such as tyrylbenzene (DSB) and diamino distyryl benzene (DADSB); naphthalene compounds such as naphthalene and nile red; phenanthrene compounds such as phenanthrene; chrysene compounds such as chrysene and 6-nitrochrysene A perylene compound such as perylene, N, N′-bis (2,5-di-t-butylphenyl) -3,4,9,10-perylene-di-carboximide (BPPC); Coronene compounds; anthracene compounds such as anthracene and bisstyrylanthracene; pyrene compounds such as pyrene; 4- (di-cyanomethylene) -2-methyl-6- (para-dimethylaminostyryl) -4H-pyran A pyran compound such as (DCM); Lysine compounds; stilbene compounds such as stilbene; thiophene compounds such as 2,5-dibenzoxazole thiophene; benzoxazole compounds such as benzoxazole; benzimidazole compounds such as benzimidazole; Benzothiazole compounds such as-(para-phenylenedivinylene) -bisbenzothiazole; butadiene compounds such as bistyryl (1,4-diphenyl-1,3-butadiene) and tetraphenylbutadiene; naphthalimide Naphthalimide compounds; coumarin compounds such as coumarin; perinone compounds such as perinone; oxadiazole compounds such as oxadiazole; aldazine compounds; 1,2,3,4,5-pentaphenyl- 1,3-cyclopen Cyclopentadiene compounds such as tadiene (PPCP); quinacridone compounds such as quinacridone and quinacridone red; pyridine compounds such as pyrrolopyridine and thiadiazolopyridine; 2,2 ′, 7,7′-tetraphenyl- Spiro compounds such as 9,9′-spirobifluorene; metal or metal-free phthalocyanine compounds such as phthalocyanine (H 2 Pc) and copper phthalocyanine; and JP2009-155325A and JP2011-184430A And boron compound materials described in Japanese Patent Application No. 2011-6458.

発光層6の平均厚さは、特に限定されないが、10〜150nmであることが好ましく、20〜100nmであることがより好ましい。
発光層6の平均厚さは、触針式段差計により測定してもよいし、水晶振動子膜厚計により発光層6の成膜時に測定してもよい。
Although the average thickness of the light emitting layer 6 is not specifically limited, It is preferable that it is 10-150 nm, and it is more preferable that it is 20-100 nm.
The average thickness of the light emitting layer 6 may be measured by a stylus type step meter, or may be measured at the time of forming the light emitting layer 6 by a crystal resonator film thickness meter.

「正孔輸送層」
正孔輸送層7に用いる正孔輸送性有機材料としては、各種p型の高分子材料(有機ポリマー)や、各種p型の低分子材料を単独または組み合わせて用いることができる。
具体的には、正孔輸送層7の材料として、例えば、N,N’−ジ(1−ナフチル)−N,N’−ジフェニル−1,1’−ビフェニル−4,4’−ジアミン(α−NPD)、ポリアリールアミン、フルオレン−アリールアミン共重合体、フルオレン−ビチオフェン共重合体、ポリ(N−ビニルカルバゾール)、ポリビニルピレン、ポリビニルアントラセン、ポリチオフェン、ポリアルキルチオフェン、ポリヘキシルチオフェン、ポリ(p−フェニレンビニレン)、ポリチニレンビニレン、ピレンホルムアルデヒド樹脂、エチルカルバゾールホルムアルデヒド樹脂またはその誘導体等が挙げられる。これらの正孔輸送層7の材料は、他の化合物との混合物として用いることもでき、一例として、ポリチオフェンを含有する混合物としては、ポリ(3,4−エチレンジオキシチオフェン/スチレンスルホン酸)(PEDOT/PSS)等が挙げられる。
`` Hole transport layer ''
As the hole transporting organic material used for the hole transport layer 7, various p-type polymer materials (organic polymers) and various p-type low molecular materials can be used alone or in combination.
Specifically, as a material of the hole transport layer 7, for example, N, N′-di (1-naphthyl) -N, N′-diphenyl-1,1′-biphenyl-4,4′-diamine (α -NPD), polyarylamine, fluorene-arylamine copolymer, fluorene-bithiophene copolymer, poly (N-vinylcarbazole), polyvinylpyrene, polyvinylanthracene, polythiophene, polyalkylthiophene, polyhexylthiophene, poly (p -Phenylene vinylene), polytinylene vinylene, pyrene formaldehyde resin, ethyl carbazole formaldehyde resin or derivatives thereof. These materials for the hole transport layer 7 can also be used as a mixture with other compounds. As an example, as a mixture containing polythiophene, poly (3,4-ethylenedioxythiophene / styrenesulfonic acid) ( PEDOT / PSS) and the like.

正孔輸送層7の平均厚さは、特に限定されないが、10〜150nmであることが好ましく、20〜100nmであることがより好ましい。
正孔輸送層7の平均厚さは、例えば、触針式段差計、分光エリプソメトリーにより測定することができる。
Although the average thickness of the positive hole transport layer 7 is not specifically limited, It is preferable that it is 10-150 nm, and it is more preferable that it is 20-100 nm.
The average thickness of the hole transport layer 7 can be measured by, for example, a stylus profilometer or spectroscopic ellipsometry.

「正孔注入層」
本実施形態における正孔注入層8は、無機の酸化物からなるものであり、金属酸化物層であることが好ましい。金属酸化物層としては、特に制限されないが、例えば、酸化バナジウム(V)、酸化モリブテン(MoO)、酸化ルテニウム(RuO)等の1種又は2種以上を用いることができる。これらの中でも、正孔注入層8は、酸化バナジウム又は酸化モリブテンを主成分とするものが好ましい。正孔注入層8が酸化バナジウムおよび/または酸化モリブテンを主成分とするものである場合、陽極9から正孔を注入して発光層6又は正孔輸送層7へ輸送する正孔注入層8としての機能が、より優れたものとなる。また、酸化バナジウムおよび酸化モリブテンは、それ自体の正孔輸送性が高いため、陽極9から発光層6又は正孔輸送層7への正孔の注入効率が低下するのを好適に防止できる。
"Hole injection layer"
The hole injection layer 8 in the present embodiment is made of an inorganic oxide, and is preferably a metal oxide layer. As the metal oxide layer is not particularly limited, for example, vanadium oxide (V 2 O 5), molybdenum oxide (MoO 3), can be used alone or in combination, such as ruthenium oxide (RuO 2). Among these, the hole injection layer 8 is preferably composed mainly of vanadium oxide or molybdenum oxide. When the hole injection layer 8 is composed mainly of vanadium oxide and / or molybdenum oxide, the hole injection layer 8 injects holes from the anode 9 and transports them to the light emitting layer 6 or the hole transport layer 7. The function will be better. Moreover, since vanadium oxide and molybdenum oxide itself have high hole transportability, it is possible to suitably prevent the efficiency of hole injection from the anode 9 to the light emitting layer 6 or the hole transport layer 7 from being lowered.

正孔注入層8が、無機の酸化物からなるものでない場合には、正孔注入層8の材料として通常用いることができるいずれの化合物を用いてもよく、これらを混合して用いてもよい。具体的には、正孔注入層8の材料として、フタロシアニン(HPc)、銅フタロシアニンのような金属または無金属のフタロシアニン系化合物等が挙げられ、これらの1種又は2種以上を用いることができる。 When the hole injection layer 8 is not made of an inorganic oxide, any compound that can be normally used as the material of the hole injection layer 8 may be used, or a mixture thereof may be used. . Specifically, examples of the material for the hole injection layer 8 include metal or metal-free phthalocyanine compounds such as phthalocyanine (H 2 Pc) and copper phthalocyanine, and one or more of these are used. Can do.

正孔注入層8の平均厚さは、特に限定されないが、1〜1000nmであることが好ましく、5〜50nmであることがより好ましい。
正孔注入層8の平均厚さは、水晶振動子膜厚計により成膜時に測定することができる。
Although the average thickness of the positive hole injection layer 8 is not specifically limited, It is preferable that it is 1-1000 nm, and it is more preferable that it is 5-50 nm.
The average thickness of the hole injection layer 8 can be measured at the time of film formation with a crystal oscillator thickness meter.

「陽極」
陽極9としては、Au、Pt、Ag、Cu、Alまたはこれらを含む合金等が挙げられる。この中でも、陽極9としてAu、Ag、Alを用いることが好ましい。
陽極9の平均厚さは、特に限定されないが、10〜1000nmであることが好ましく、30〜150nmであることがより好ましくい。また、陽極9として不透過な材料を用いる場合でも、例えば、平均厚さを10〜30nm程度にすることで、トップエミッション型及び透明型の陽極として使用できる。
陽極9の平均厚さは、水晶振動子膜厚計により陽極9の成膜時に測定できる。
"anode"
Examples of the anode 9 include Au, Pt, Ag, Cu, Al, and alloys containing these. Among these, it is preferable to use Au, Ag, or Al as the anode 9.
The average thickness of the anode 9 is not particularly limited, but is preferably 10 to 1000 nm, and more preferably 30 to 150 nm. Even when an opaque material is used as the anode 9, for example, by setting the average thickness to about 10 to 30 nm, the anode 9 can be used as a top emission type or transparent type anode.
The average thickness of the anode 9 can be measured at the time of film formation of the anode 9 with a crystal oscillator thickness meter.

「製造方法」
次に、本発明の有機EL素子の製造方法の一例として、図1に示す有機EL素子1の製造方法を説明する。
図1に示す有機EL素子1を製造するには、まず、基板2上に陰極3を形成する。
陰極3は、スパッタ法、真空蒸着法、ゾルゲル法、スプレー熱分解(SPD)法、原子層堆積(ALD)法、気相成膜法、液相成膜法等により形成することができる。陰極3の形成には、金属箔を接合する方法を用いてもよい。
"Production method"
Next, a method for manufacturing the organic EL element 1 shown in FIG. 1 will be described as an example of the method for manufacturing the organic EL element of the present invention.
To manufacture the organic EL element 1 shown in FIG. 1, first, the cathode 3 is formed on the substrate 2.
The cathode 3 can be formed by a sputtering method, a vacuum deposition method, a sol-gel method, a spray pyrolysis (SPD) method, an atomic layer deposition (ALD) method, a vapor phase film formation method, a liquid phase film formation method, or the like. For forming the cathode 3, a method of joining metal foils may be used.

次に、陰極3上に無機の酸化物層4を形成する。
酸化物層4は、例えば、スプレー熱分解法、ゾルゲル法、スパッタ法、真空蒸着法等の方法を用いて形成する。このようにして形成された酸化物層4の表面は、平滑ではなく凹凸を有するものとなる。
Next, an inorganic oxide layer 4 is formed on the cathode 3.
The oxide layer 4 is formed using, for example, a spray pyrolysis method, a sol-gel method, a sputtering method, a vacuum deposition method, or the like. The surface of the oxide layer 4 thus formed is not smooth but has irregularities.

次に、酸化物層4上にバッファ層5を形成する。
バッファ層5を形成する工程においては、1〜4級のアミンを有する構造または炭素数2〜4のアルキレンオキシドを有する構造からなる第1材料と、電子を輸送する第2材料とを含む混合溶液を塗布する。混合溶液は、第1材料と第2材料に加えて、第3材料を含むものであることが好ましい。
Next, the buffer layer 5 is formed on the oxide layer 4.
In the step of forming the buffer layer 5, a mixed solution containing a first material having a structure having a primary to quaternary amine or a structure having an alkylene oxide having 2 to 4 carbon atoms and a second material that transports electrons Apply. The mixed solution preferably includes a third material in addition to the first material and the second material.

混合溶液を製造する際に、第1材料と、第2材料と、必要に応じて含有される第3材料とを含む材料を溶解するために用いる溶媒としては、例えば、硝酸、硫酸、アンモニア、過酸化水素、水、二硫化炭素、四塩化炭素、エチレンカーボネイト等の無機溶媒や、メチルエチルケトン(MEK)、アセトン、ジエチルケトン、メチルイソブチルケトン(MIBK)、メチルイソプロピルケトン(MIPK)、シクロヘキサノン等のケトン系溶媒、メタノール、エタノール、イソプロパノール、エチレングリコール、ジエチレングリコール(DEG)、グリセリン等のアルコール系溶媒、ジエチルエーテル、ジイソプロピルエーテル、1,2−ジメトキシエタン(DME)、1,4−ジオキサン、テトラヒドロフラン(THF)、テトラヒドロピラン(THP)、アニソール、ジエチレングリコールジメチルエーテル(ジグリム)、ジエチレングリコールエチルエーテル(カルビトール)等のエーテル系溶媒、メチルセロソルブ、エチルセロソルブ、フェニルセロソルブ等のセロソルブ系溶媒、ヘキサン、ペンタン、ヘプタン、シクロヘキサン等の脂肪族炭化水素系溶媒、トルエン、キシレン、ベンゼン等の芳香族炭化水素系溶媒、ピリジン、ピラジン、フラン、ピロール、チオフェン、メチルピロリドン等の芳香族複素環化合物系溶媒、N,N−ジメチルホルムアミド(DMF)、N,N−ジメチルアセトアミド(DMA)等のアミド系溶媒、クロロベンゼン、ジクロロメタン、クロロホルム、1,2−ジクロロエタン等のハロゲン化合物系溶媒、酢酸エチル、酢酸メチル、ギ酸エチル等のエステル系溶媒、ジメチルスルホキシド(DMSO)、スルホラン等の硫黄化合物系溶媒、アセトニトリル、プロピオニトリル、アクリロニトリル等のニトリル系溶媒、ギ酸、酢酸、トリクロロ酢酸、トリフルオロ酢酸等の有機酸系溶媒のような各種有機溶媒、または、これらを含む混合溶媒等が挙げられる。   Examples of the solvent used for dissolving the material including the first material, the second material, and the third material contained as necessary when the mixed solution is manufactured include nitric acid, sulfuric acid, ammonia, Inorganic solvents such as hydrogen peroxide, water, carbon disulfide, carbon tetrachloride, ethylene carbonate, and ketones such as methyl ethyl ketone (MEK), acetone, diethyl ketone, methyl isobutyl ketone (MIBK), methyl isopropyl ketone (MIPK), and cyclohexanone Solvents, methanol, ethanol, isopropanol, ethylene glycol, diethylene glycol (DEG), alcohol solvents such as glycerin, diethyl ether, diisopropyl ether, 1,2-dimethoxyethane (DME), 1,4-dioxane, tetrahydrofuran (THF) Tetrahydropi (THP), anisole, ether solvents such as diethylene glycol dimethyl ether (diglyme), diethylene glycol ethyl ether (carbitol), cellosolv solvents such as methyl cellosolve, ethyl cellosolve, phenyl cellosolve, fats such as hexane, pentane, heptane, cyclohexane Aromatic hydrocarbon solvents such as aromatic hydrocarbon solvents such as toluene, xylene and benzene, aromatic heterocyclic compounds solvents such as pyridine, pyrazine, furan, pyrrole, thiophene and methylpyrrolidone, N, N-dimethylformamide (DMF) ), Amide solvents such as N, N-dimethylacetamide (DMA), halogen compound solvents such as chlorobenzene, dichloromethane, chloroform, 1,2-dichloroethane, ethyl acetate, methyl acetate, ethyl formate Of ester solvents such as dimethyl sulfoxide (DMSO), sulfur compound solvents such as sulfolane, nitrile solvents such as acetonitrile, propionitrile, acrylonitrile, organic acid solvents such as formic acid, acetic acid, trichloroacetic acid, trifluoroacetic acid Such various organic solvents, or mixed solvents containing these may be mentioned.

混合溶液を塗布する方法としては、例えば、スピンコート法、キャスティング法、マイクログラビアコート法、グラビアコート法、バーコート法、ロールコート法、ワイヤーバーコート法、ディップコート法、スプレーコート法、スクリーン印刷法、フレキソ印刷法、オフセット印刷法、インクジェット印刷法等の各種塗布法を用いることができる。   Examples of the method for applying the mixed solution include spin coating, casting, micro gravure coating, gravure coating, bar coating, roll coating, wire bar coating, dip coating, spray coating, and screen printing. Various coating methods such as a printing method, a flexographic printing method, an offset printing method, and an inkjet printing method can be used.

本実施形態においては、混合溶液を塗布する方法によりバッファ層5を形成するため、塗布法以外の他の方法を用いてバッファ層5を形成した場合と比較して、表面の平滑なバッファ層5が得られる。その結果、バッファ層5を形成した後に形成される発光層6の結晶化が抑制され、均一な面発光が得られるとともに、リーク電流の抑制された有機EL素子1が得られる。   In this embodiment, since the buffer layer 5 is formed by the method of applying the mixed solution, the buffer layer 5 having a smooth surface compared to the case where the buffer layer 5 is formed using a method other than the coating method. Is obtained. As a result, crystallization of the light emitting layer 6 formed after the buffer layer 5 is formed is suppressed, and uniform surface light emission is obtained, and the organic EL element 1 in which leakage current is suppressed is obtained.

また、本実施形態においては、無機の酸化物層4上に、酸化物層4に接して混合溶液を塗布する方法により、バッファ層5を形成するため、酸化物層4の表面が凹凸を有するものであっても、形成されたバッファ層5の表面は平滑なものとなる。
したがって、本実施形態においては、酸化物層4の表面が凹凸を有するものであって、バッファ層5を形成した後に形成される発光層6として結晶化しやすい材料を用いたとしても、発光層6の結晶化を効果的に抑制できる。
Moreover, in this embodiment, since the buffer layer 5 is formed on the inorganic oxide layer 4 by the method of applying the mixed solution in contact with the oxide layer 4, the surface of the oxide layer 4 has irregularities. Even if it is a thing, the surface of the formed buffer layer 5 will become smooth.
Therefore, in the present embodiment, even if a material that is easily crystallized is used as the light emitting layer 6 formed after forming the buffer layer 5 even if the surface of the oxide layer 4 has irregularities, the light emitting layer 6 Can be effectively suppressed.

なお、本実施形態においては、バッファ層5に含まれる第2材料の電子を輸送する作用によって、例えば、ポリエチレンイミンのみからなるバッファ層を形成した場合と比較して、バッファ層5を設けることによる有機EL素子1の駆動電圧の上昇を抑制できる。このため、バッファ層5の被形成面(本実施形態においては酸化物層4の上面)に形成されている凹凸を覆って平滑な表面を得るために、十分な厚みでバッファ層5を形成できる。   In the present embodiment, by the action of transporting electrons of the second material contained in the buffer layer 5, for example, by providing the buffer layer 5 as compared with the case where the buffer layer made only of polyethyleneimine is formed. An increase in driving voltage of the organic EL element 1 can be suppressed. Therefore, the buffer layer 5 can be formed with a sufficient thickness in order to cover the unevenness formed on the surface on which the buffer layer 5 is formed (in this embodiment, the upper surface of the oxide layer 4) and obtain a smooth surface. .

これに対し、例えば、無機の酸化物層4の上にバッファ層5を設けず、酸化物層4に接して真空蒸着等の方法で、結晶化しやすい材料からなる発光層6を形成すると、酸化物層4の表面に形成されている凹凸が結晶核となって、酸化物層4に接する発光層6を形成する材料の結晶化が促進される。このため、得られた有機EL素子が、大きなリーク電流が流れ、発光面が不均一であるものとなりやすく、実用に耐えるものとならない場合があった。   In contrast, for example, if the buffer layer 5 is not provided on the inorganic oxide layer 4 and the light emitting layer 6 made of a material that is easily crystallized is formed in contact with the oxide layer 4 by a method such as vacuum deposition, the oxidation is performed. Concavities and convexities formed on the surface of the physical layer 4 serve as crystal nuclei, and crystallization of the material forming the light emitting layer 6 in contact with the oxide layer 4 is promoted. For this reason, the obtained organic EL element tends to have a large leakage current, a non-uniform light emitting surface, and may not endure practical use.

次に、バッファ層5上に発光層6と、正孔輸送層7とをこの順に形成する。
本実施形態の有機EL素子1の製造方法において、発光層6や正孔輸送層7などの有機化合物から形成される層の形成方法は、特に限定されず、材料の特性に合わせて従来公知の種々の有機化合物から形成される層の形成方法を適宜用いることができる。
Next, the light emitting layer 6 and the hole transport layer 7 are formed in this order on the buffer layer 5.
In the method for manufacturing the organic EL element 1 of the present embodiment, the method for forming a layer formed from an organic compound such as the light emitting layer 6 and the hole transport layer 7 is not particularly limited, and is conventionally known according to the characteristics of the material. A method for forming a layer formed of various organic compounds can be used as appropriate.

例えば、有機化合物から形成される層は、有機化合物から形成される層となる有機化合物溶液を塗布する塗布法を用いて形成してもよい。この場合、スピンコート法、キャスティング法、マイクログラビアコート法、グラビアコート法、バーコート法、ロールコート法、ワイヤーバーコート法、ディップコート法、スプレーコート法、スクリーン印刷法、フレキソ印刷法、オフセット印刷法、インクジェット印刷法等の各種塗布法を用いることができる。これらの塗布法の中でも、膜厚をより制御しやすいという点で、スピンコート法やスリットコート法を用いることが好ましい。   For example, the layer formed from the organic compound may be formed by a coating method in which an organic compound solution that becomes a layer formed from the organic compound is applied. In this case, spin coating method, casting method, micro gravure coating method, gravure coating method, bar coating method, roll coating method, wire bar coating method, dip coating method, spray coating method, screen printing method, flexographic printing method, offset printing Various coating methods such as a printing method and an ink jet printing method can be used. Among these coating methods, it is preferable to use a spin coat method or a slit coat method in terms of easier control of the film thickness.

また、有機化合物から形成される層を形成する方法は、塗布法を用いる方法に限定されるものではなく、例えば、有機化合物から形成される層の溶媒溶解性が低い場合などには、真空蒸着法や、ESDUS(Evaporative Spray Deposition from Ultra−dilute Solution)法などを用いることが好ましい。   The method for forming a layer formed from an organic compound is not limited to a method using a coating method. For example, when the solvent solubility of the layer formed from an organic compound is low, vacuum deposition is performed. It is preferable to use a method, an ESDUS (Evaporative Spray Deposition from Ultra-dilute Solution) method, or the like.

上記有機化合物から形成される層を、塗布法を用いて形成する場合に、有機化合物を溶解するために用いる溶媒としては、無機溶媒や有機溶媒、またはこれらを含む混合溶媒等を用いることができる。
無機溶媒としては、例えば、硝酸、硫酸、アンモニア、過酸化水素、水、二硫化炭素、四塩化炭素、エチレンカーボネイト等が挙げられる。
When the layer formed from the organic compound is formed using a coating method, an inorganic solvent, an organic solvent, a mixed solvent containing these, or the like can be used as a solvent used for dissolving the organic compound. .
Examples of the inorganic solvent include nitric acid, sulfuric acid, ammonia, hydrogen peroxide, water, carbon disulfide, carbon tetrachloride, ethylene carbonate, and the like.

有機溶媒としては、例えば、メチルエチルケトン(MEK)、アセトン、ジエチルケトン、メチルイソブチルケトン(MIBK)、メチルイソプロピルケトン(MIPK)、シクロヘキサノン等のケトン系溶媒、メタノール、エタノール、イソプロパノール、エチレングリコール、ジエチレングリコール(DEG)、グリセリン等のアルコール系溶媒、ジエチルエーテル、ジイソプロピルエーテル、1,2−ジメトキシエタン(DME)、1,4−ジオキサン、テトラヒドロフラン(THF)、テトラヒドロピラン(THP)、アニソール、ジエチレングリコールジメチルエーテル(ジグリム)、ジエチレングリコールエチルエーテル(カルビトール)等のエーテル系溶媒、メチルセロソルブ、エチルセロソルブ、フェニルセロソルブ等のセロソルブ系溶媒、ヘキサン、ペンタン、ヘプタン、シクロヘキサン等の脂肪族炭化水素系溶媒、トルエン、キシレン、ベンゼン等の芳香族炭化水素系溶媒、ピリジン、ピラジン、フラン、ピロール、チオフェン、メチルピロリドン等の芳香族複素環化合物系溶媒、N,N−ジメチルホルムアミド(DMF)、N,N−ジメチルアセトアミド(DMA)等のアミド系溶媒、クロロベンゼン、ジクロロメタン、クロロホルム、1,2−ジクロロエタン等のハロゲン化合物系溶媒、酢酸エチル、酢酸メチル、ギ酸エチル等のエステル系溶媒、ジメチルスルホキシド(DMSO)、スルホラン等の硫黄化合物系溶媒、アセトニトリル、プロピオニトリル、アクリロニトリル等のニトリル系溶媒、ギ酸、酢酸、トリクロロ酢酸、トリフルオロ酢酸等の有機酸系溶媒等が挙げられる。   Examples of the organic solvent include ketone solvents such as methyl ethyl ketone (MEK), acetone, diethyl ketone, methyl isobutyl ketone (MIBK), methyl isopropyl ketone (MIPK), cyclohexanone, methanol, ethanol, isopropanol, ethylene glycol, diethylene glycol (DEG). ), Alcohol solvents such as glycerin, diethyl ether, diisopropyl ether, 1,2-dimethoxyethane (DME), 1,4-dioxane, tetrahydrofuran (THF), tetrahydropyran (THP), anisole, diethylene glycol dimethyl ether (diglyme), Ether solvents such as diethylene glycol ethyl ether (carbitol), methyl cellosolve, ethyl cellosolve, phenyl cellosolve, etc. Solvate solvent, aliphatic hydrocarbon solvent such as hexane, pentane, heptane, cyclohexane, aromatic hydrocarbon solvent such as toluene, xylene, benzene, aromatic such as pyridine, pyrazine, furan, pyrrole, thiophene, methylpyrrolidone Heterocyclic compound solvents, amide solvents such as N, N-dimethylformamide (DMF), N, N-dimethylacetamide (DMA), halogen compound solvents such as chlorobenzene, dichloromethane, chloroform, 1,2-dichloroethane, acetic acid Ester solvents such as ethyl, methyl acetate, ethyl formate, sulfur compound solvents such as dimethyl sulfoxide (DMSO), sulfolane, nitrile solvents such as acetonitrile, propionitrile, acrylonitrile, formic acid, acetic acid, trichloroacetic acid, trifluoroacetic acid Etc. Acid solvents, and the like.

これらの溶媒の中でも、非極性溶媒が好適であり、例えば、キシレン、トルエン、シクロヘキシルベンゼン、ジハイドロベンゾフラン、トリメチルベンゼン、テトラメチルベンゼン等の芳香族炭化水素系溶媒、ピリジン、ピラジン、フラン、ピロール、チオフェン、メチルピロリドン等の芳香族複素環化合物系溶媒、ヘキサン、ペンタン、ヘプタン、シクロヘキサン等の脂肪族炭化水素系溶媒等が挙げられ、これらを単独または混合して用いることができる。   Among these solvents, nonpolar solvents are suitable, for example, aromatic hydrocarbon solvents such as xylene, toluene, cyclohexylbenzene, dihydrobenzofuran, trimethylbenzene, tetramethylbenzene, pyridine, pyrazine, furan, pyrrole, Examples include aromatic heterocyclic compound solvents such as thiophene and methylpyrrolidone, and aliphatic hydrocarbon solvents such as hexane, pentane, heptane, and cyclohexane. These can be used alone or in combination.

次に、正孔輸送層7上に正孔注入層8と、陽極9とをこの順に形成する。
正孔注入層8は、例えば、酸化物層4と同様にして形成できる。
陽極9は、例えば、陰極3と同様にして形成できる。
以上の工程により、図1に示す有機EL素子1が得られる。
Next, the hole injection layer 8 and the anode 9 are formed in this order on the hole transport layer 7.
The hole injection layer 8 can be formed in the same manner as the oxide layer 4, for example.
The anode 9 can be formed in the same manner as the cathode 3, for example.
Through the above steps, the organic EL element 1 shown in FIG. 1 is obtained.

次に、このようにして形成された有機EL素子1を封止することが好ましい。図1に示す有機EL素子1は、無機化合物からなる層が含まれているHOILED素子であり、無機化合物からなる層を含まない有機EL素子と比較して、酸素や水に対する耐性が高いため、厳密な封止は必要ないが、必要に応じて封止を施しても良い。
封止工程としては、有機EL素子の封止に用いられる通常の方法を適宜使用できる。例えば、不活性ガス中で封止容器内に有機EL素子1を接着する方法や、有機EL素子1の上に直接封止膜を形成する方法などが挙げられる。封止容器を用いて封止する場合、封止容器内に水分吸収材を封入してもよい。また、封止膜を形成する場合、封止膜に水分吸収材を含有させてもよい。
Next, it is preferable to seal the organic EL element 1 thus formed. The organic EL element 1 shown in FIG. 1 is a HOILED element that includes a layer made of an inorganic compound, and has higher resistance to oxygen and water than an organic EL element that does not contain a layer made of an inorganic compound. Strict sealing is not necessary, but sealing may be performed as necessary.
As a sealing process, the normal method used for sealing of an organic EL element can be used suitably. For example, a method of adhering the organic EL element 1 in a sealing container in an inert gas, a method of forming a sealing film directly on the organic EL element 1, and the like can be mentioned. When sealing using a sealing container, you may enclose a moisture absorption material in a sealing container. Further, when the sealing film is formed, the sealing film may contain a moisture absorbing material.

本発明の有機EL素子は、図1に示す有機EL素子1に限定されるものではない。
例えば、図1に示す有機EL素子1において、バッファ層5と発光層6との間に、電子輸送層を備えていてもよい。
図1に示す有機EL素子1が電子輸送層を有するものである場合、その材料としては、電子輸送層の材料として通常用いることができるいずれの材料を用いてもよい。
The organic EL element of the present invention is not limited to the organic EL element 1 shown in FIG.
For example, in the organic EL element 1 shown in FIG. 1, an electron transport layer may be provided between the buffer layer 5 and the light emitting layer 6.
When the organic EL element 1 shown in FIG. 1 has an electron transport layer, any material that can be normally used as a material for the electron transport layer may be used.

具体的には、電子輸送層の材料として、フェニル−ディピレニルホスフィンオキサイド(POPy)のようなホスフィンオキサイド誘導体、トリス−1,3,5−(3’−(ピリジン−3’’−イル)フェニル)ベンゼン(TmPyPhB)のようなピリジン誘導体、(2−(3−(9−カルバゾリル)フェニル)キノリン(mCQ))のようなキノリン誘導体、2−フェニル−4,6−ビス(3,5−ジピリジルフェニル)ピリミジン(BPyPPM)のようなピリミジン誘導体、ピラジン誘導体、バソフェナントロリン(BPhen)のようなフェナントロリン誘導体、2,4−ビス(4−ビフェニル)−6−(4’−(2−ピリジニル)−4−ビフェニル)−[1,3,5]トリアジン(MPT)のようなトリアジン誘導体、3−フェニル−4−(1’−ナフチル)−5−フェニル−1,2,4−トリアゾール(TAZ)のようなトリアゾール誘導体、オキサゾール誘導体、2−(4−ビフェニリル)−5−(4−tert−ブチルフェニル−1,3,4−オキサジアゾール)(PBD)のようなオキサジアゾール誘導体、2,2’,2’’−(1,3,5−ベントリイル)−トリス(1−フェニル−1−H−ベンズイミダゾール)(TPBI)のようなイミダゾール誘導体、ナフタレン、ペリレン等の芳香環テトラカルボン酸無水物、ビス[2−(2−ヒドロキシフェニル)ベンゾチアゾラト]亜鉛(Zn(BTZ))、トリス(8−ヒドロキシキノリナト)アルミニウム(Alq3)などに代表される各種金属錯体、2,5−ビス(6’−(2’,2’’−ビピリジル))−1,1−ジメチル−3,4−ジフェニルシロール(PyPySPyPy)等のシロール誘導体に代表される有機シラン誘導体等が挙げられ、これらの1種又は2種以上を用いることができる。これらの電子輸送層の材料の中でも、POPyのようなホスフィンオキサイド誘導体、Alqのような金属錯体、TmPyPhBのようなピリジン誘導体を用いることが好ましい。 Specifically, as a material of the electron transport layer, a phosphine oxide derivative such as phenyl-dipyrenylphosphine oxide (POPy 2 ), tris-1,3,5- (3 ′-(pyridin-3 ″ -yl) ) Pyridine derivatives such as phenyl) benzene (TmPyPhB), quinoline derivatives such as (2- (3- (9-carbazolyl) phenyl) quinoline (mCQ)), 2-phenyl-4,6-bis (3,5 -Pyrimidine derivatives such as dipyridylphenyl) pyrimidine (BPyPPM), pyrazine derivatives, phenanthroline derivatives such as bathophenanthroline (BPhen), 2,4-bis (4-biphenyl) -6- (4 '-(2-pyridinyl) Triazine derivatives such as -4-biphenyl)-[1,3,5] triazine (MPT), 3-pheni Triazole derivatives such as -4- (1′-naphthyl) -5-phenyl-1,2,4-triazole (TAZ), oxazole derivatives, 2- (4-biphenylyl) -5- (4-tert-butylphenyl) Oxadiazole derivatives such as -1,3,4-oxadiazole) (PBD), 2,2 ′, 2 ″-(1,3,5-bentriyl) -tris (1-phenyl-1-H -Benzimidazole) (TPBI) imidazole derivatives, aromatic tetracarboxylic anhydrides such as naphthalene and perylene, bis [2- (2-hydroxyphenyl) benzothiazolato] zinc (Zn (BTZ) 2 ), tris (8 -Hydroxyquinolinato) Various metal complexes represented by aluminum (Alq3) and the like, 2,5-bis (6 ′-(2 ′, 2 ″ -bipyridyl))-1,1 Organic silane derivatives typified by silole derivative of dimethyl-3,4-diphenyl silole (PyPySPyPy) or the like, and the like, can be used alone or in combination of two or more thereof. Among these electron transport layer material, phosphine oxide derivatives such as Popy 2, metal complexes such as Alq 3, it is preferable to use pyridine derivatives such as TmPyPhB.

電子輸送層の平均厚さは、特に限定されないが、10〜150nmであることが好ましく、20〜100nmであることが、より好ましい。
電子輸送層の平均厚さは、触針式段差計、分光エリプソメトリーにより測定できる。
Although the average thickness of an electron carrying layer is not specifically limited, It is preferable that it is 10-150 nm, and it is more preferable that it is 20-100 nm.
The average thickness of the electron transport layer can be measured by a stylus profilometer or spectroscopic ellipsometry.

また、本発明の有機EL素子においては、基板2上に陰極3と、無機の酸化物層4と、バッファ層5と、発光層6と、陽極9とがこの順に形成されていればよく、電子輸送層、正孔輸送層、正孔注入層は、必要に応じて形成すればよい。
また、本発明の有機EL素子は、図1に示す各層の間に他の層を有していてもよいが、以下に示す各層からなるものであることが好ましい。すなわち、陰極3と、酸化物層4と、バッファ層5と、必要に応じて設けられる電子輸送層と、発光層6と、正孔輸送層7と、正孔注入層8と、陽極9とがこの順に隣接して積層された有機EL素子であることが好ましい。なお、これらの各層は、1層からなるものであってもよく、2層以上からなるものであってもよい。
In the organic EL device of the present invention, the cathode 3, the inorganic oxide layer 4, the buffer layer 5, the light emitting layer 6, and the anode 9 need only be formed in this order on the substrate 2. The electron transport layer, the hole transport layer, and the hole injection layer may be formed as necessary.
Moreover, the organic EL element of the present invention may have other layers between the layers shown in FIG. 1, but is preferably composed of the following layers. That is, the cathode 3, the oxide layer 4, the buffer layer 5, the electron transport layer provided as necessary, the light emitting layer 6, the hole transport layer 7, the hole injection layer 8, and the anode 9 Are preferably organic EL elements laminated adjacently in this order. Each of these layers may be composed of one layer, or may be composed of two or more layers.

なお、上記構成の有機EL素子が電子輸送層を有さない場合には、バッファ層5と発光層6とが隣接することになる。
また、上記構成の有機EL素子が、正孔輸送層7、正孔注入層8のいずれか一方のみを有する場合には、当該一方の層が発光層6と陽極9とに隣接して積層されることになり、正孔輸送層7と正孔注入層8の両方が設けられていない場合には、発光層6と陽極9とが隣接して積層されることになる。
In addition, when the organic EL element of the said structure does not have an electron carrying layer, the buffer layer 5 and the light emitting layer 6 will adjoin.
In addition, when the organic EL element having the above configuration has only one of the hole transport layer 7 and the hole injection layer 8, the one layer is laminated adjacent to the light emitting layer 6 and the anode 9. Therefore, when both the hole transport layer 7 and the hole injection layer 8 are not provided, the light emitting layer 6 and the anode 9 are laminated adjacent to each other.

本発明の有機EL素子においては、有機EL素子の特性をさらに向上させる等の理由から、必要に応じて例えば、正孔阻止層、電子素子層などを有していてもよい。
これらの層を形成するための材料としては、これらの層を形成するために通常用いられる材料を用いることができる。また、これらの層を形成する方法としては、これらの層を形成するために通常用いられる方法を用いることができる。
The organic EL element of the present invention may have, for example, a hole blocking layer, an electronic element layer, and the like as necessary for the purpose of further improving the characteristics of the organic EL element.
As a material for forming these layers, a material usually used for forming these layers can be used. Moreover, as a method for forming these layers, a method usually used for forming these layers can be used.

本発明の有機EL素子は、有機化合物層の材料を適宜選択することによって発光色を変化させることができるし、カラーフィルター等を併用して所望の発光色を得ることもできる。そのため、表示装置の発光部位や照明装置として好適に用いることができる。   The organic EL device of the present invention can change the emission color by appropriately selecting the material of the organic compound layer, and can also obtain a desired emission color by using a color filter or the like in combination. Therefore, it can be suitably used as a light emitting part of a display device or a lighting device.

本発明の表示装置は、優れた発光効率が得られ、安定して製造できる本発明の有機エレクトロルミネッセンス素子を備えるものである。このため、表示装置として好ましいものとなる。
また、本発明の照明装置は、優れた発光効率が得られ、安定して製造できる本発明の有機エレクトロルミネッセンス素子を備えるものである。このため、照明装置として好ましいものとなる。
The display device of the present invention is provided with the organic electroluminescence element of the present invention which has excellent luminous efficiency and can be manufactured stably. For this reason, it is preferable as a display device.
Moreover, the illuminating device of this invention is equipped with the organic electroluminescent element of this invention from which the outstanding luminous efficiency is obtained and it can manufacture stably. For this reason, it becomes a preferable thing as an illuminating device.

「実施例」
以下、実施例を掲げて本発明を更に詳細に説明するが、本発明はこれらの実施例のみに限定されるものではない。なお、特に断りのない限り、「部」は「重量部」を、「%」は「質量%」を意味するものとする。
"Example"
EXAMPLES Hereinafter, although an Example is hung up and this invention is demonstrated further in detail, this invention is not limited only to these Examples. Unless otherwise specified, “part” means “part by weight” and “%” means “mass%”.

(実施例1)
(有機EL素子の作製)
以下に示す方法により、図1に示す有機EL素子1を製造した。
[工程1]
基板2として、ITOからなる幅2mmのパターニングされた電極(陰極3)が形成されている平均厚さ0.7mmの市販されている透明ガラス基板を用意した。
そして、基板2を、アセトン中、イソプロパノール中でそれぞれ10分間超音波洗浄後、イソプロパノール中で5分間煮沸した。その後、基板2を、イソプロパノール中から取り出し、窒素ブローにより乾燥させ、UVオゾン洗浄を20分行った。
Example 1
(Production of organic EL element)
The organic EL element 1 shown in FIG. 1 was manufactured by the method shown below.
[Step 1]
As the substrate 2, a commercially available transparent glass substrate having an average thickness of 0.7 mm on which a patterned electrode (cathode 3) made of ITO and having a width of 2 mm was formed was prepared.
Then, the substrate 2 was subjected to ultrasonic cleaning in acetone and isopropanol for 10 minutes, respectively, and then boiled in isopropanol for 5 minutes. Thereafter, the substrate 2 was taken out from isopropanol, dried by nitrogen blowing, and UV ozone cleaning was performed for 20 minutes.

[工程2]
[工程1]において洗浄した基板2を、亜鉛金属ターゲットを持つミラトロンスパッタ装置の基板ホルダーに固定した。スパッタ装置のチャンバー内を、約1×10−4Paまで減圧した後、アルゴンと酸素を導入した状態でスパッタし、基板2上に膜厚約2nmの酸化亜鉛層を作製した。酸化亜鉛層を作製する際には、メタルマスクを用いて、ITO電極(陰極3)の一部の上に、電極取り出しのため、酸化亜鉛が成膜されないようにした。その後、大気中、400℃にセットしたホットプレートで1時間焼成することにより、酸化亜鉛層(酸化物層4)を形成した。
[Step 2]
The substrate 2 cleaned in [Step 1] was fixed to a substrate holder of a Miratron sputtering apparatus having a zinc metal target. After reducing the pressure in the chamber of the sputtering apparatus to about 1 × 10 −4 Pa, sputtering was performed with argon and oxygen introduced, and a zinc oxide layer having a thickness of about 2 nm was formed on the substrate 2. When preparing the zinc oxide layer, a metal mask was used to prevent zinc oxide from being deposited on a part of the ITO electrode (cathode 3) for electrode extraction. Then, the zinc oxide layer (oxide layer 4) was formed by baking for 1 hour with the hotplate set to 400 degreeC in air | atmosphere.

[工程3]
市販のポリエチレンイミン(日本触媒製 P1000)0.5%エタノール溶液を作製し、このエタノール溶液に含まれるポリエチレンイミン(第1材料)と同じ質量の9,9−スピロビフルオレン−2−イル−ジフェニル−ホスフィンオキサイド(SPPO1)(第2材料)を、0.5%エタノール溶液に加え、エタノールで1.5倍に希釈して混合溶液とした。また、[工程2]で作製した酸化亜鉛薄膜付き基板2をスピンコーターにセットした。そして、基板2上に混合溶液を滴下し、毎分2000回転で30秒間回転させ、バッファ層5を形成した。
混合溶液から作製したバッファ層5の平均厚さは30nmであった。
[Step 3]
A commercially available polyethyleneimine (Nippon Shokubai P1000) 0.5% ethanol solution was prepared, and 9,9-spirobifluoren-2-yl-diphenyl having the same mass as the polyethyleneimine (first material) contained in this ethanol solution. -Phosphine oxide (SPPO1) (second material) was added to a 0.5% ethanol solution and diluted 1.5 times with ethanol to obtain a mixed solution. The substrate 2 with a zinc oxide thin film produced in [Step 2] was set on a spin coater. Then, the mixed solution was dropped on the substrate 2 and rotated at 2000 rpm for 30 seconds to form the buffer layer 5.
The average thickness of the buffer layer 5 produced from the mixed solution was 30 nm.

[工程4]
バッファ層5まで形成した基板2を、真空蒸着装置の基板ホルダーに固定した。ビス[10−ヒドロキシベンゾキノリネート]ベリリウム(Bebq)、トリス[1−フェニルイソキノリン]イリジウム(III)(Ir(piq))、N,N’−ジ(1−ナフチル)−N,N’−ジフェニル−1,1’−ビフェニル−4,4’−ジアミン(α−NPD)をそれぞれアルミナルツボに入れて蒸着源にセットした。真空蒸着装置内を約1×10−5Paまで減圧し、Bebqをホスト、Ir(piq)をドーパントとして35nm共蒸着し、発光層6を成膜した。この時、ドープ濃度はIr(piq)が発光層6全体に対して6重量%となるようにした。次に、発光層6まで形成した基板2をα−NPDを60nm蒸着し、正孔輸送層7を成膜した。
[Step 4]
The substrate 2 formed up to the buffer layer 5 was fixed to a substrate holder of a vacuum deposition apparatus. Bis [10-hydroxybenzoquinolinate] beryllium (Bebq 2 ), tris [1-phenylisoquinoline] iridium (III) (Ir (piq) 3 ), N, N′-di (1-naphthyl) -N, N '-Diphenyl-1,1'-biphenyl-4,4'-diamine (α-NPD) was put in an alumina crucible and set in a vapor deposition source. The inside of the vacuum evaporation apparatus was depressurized to about 1 × 10 −5 Pa, and 35 nm was co-evaporated using Bebq 2 as a host and Ir (piq) 3 as a dopant to form a light emitting layer 6. At this time, the doping concentration was such that Ir (piq) 3 was 6 wt% with respect to the entire light emitting layer 6. Next, 60 nm of α-NPD was vapor-deposited on the substrate 2 on which the light emitting layer 6 was formed, and a hole transport layer 7 was formed.

[工程5]
次に、一度窒素パージした後、三酸化モリブデン、金をアルミナルツボに入れて蒸着源にセットした。真空蒸着装置内を約1×10−5Paまで減圧し、正孔輸送層7まで形成した基板2上に、三酸化モリブデン(正孔注入層8)を膜厚10nmになるように蒸着した。
次に、正孔注入層8まで形成した基板2上に、金(陽極9)を膜厚50nmになるように蒸着し、「素子5」を作製した。陽極9を蒸着する時、ステンレス製の蒸着マスクを用いて蒸着面が幅2mmの帯状になるようにした。すなわち、作製した素子5の発光面積は4mmとした。
[Step 5]
Next, after once purging with nitrogen, molybdenum trioxide and gold were put in an alumina crucible and set in a vapor deposition source. The inside of the vacuum deposition apparatus was depressurized to about 1 × 10 −5 Pa, and molybdenum trioxide (hole injection layer 8) was deposited to a thickness of 10 nm on the substrate 2 formed up to the hole transport layer 7.
Next, gold (anode 9) was deposited on the substrate 2 formed up to the hole injection layer 8 so as to have a film thickness of 50 nm, and "Element 5" was produced. When the anode 9 was deposited, a deposition mask made of stainless steel was used so that the deposition surface became a strip shape having a width of 2 mm. That is, the light emitting area of the fabricated element 5 was 4 mm 2 .

(実施例2)
実施例1の[工程3]において、実施例1で作製した混合溶液に、SPPO1の質量に対してリチウムキノリン(第3材料)を1%、5%、10%加えて、三種類の混合溶液を作製した。実施例1の[工程3]において、バッファ層5を形成する際に用いた混合溶液に代えて、三種類の混合溶液をそれぞれ用いた以外は実施例1と同様にして、素子6(リチウムキノリン1%)、素子7(リチウムキノリン5%)、素子8(リチウムキノリン10%)を作製した。
作製したバッファ層5の平均厚さはいずれも20nmであった。
(Example 2)
In [Step 3] of Example 1, 1%, 5%, and 10% of lithium quinoline (third material) are added to the mixed solution prepared in Example 1 with respect to the mass of SPPO1 to obtain three types of mixed solutions. Was made. In [Step 3] of Example 1, element 6 (lithium quinoline) was obtained in the same manner as in Example 1 except that three types of mixed solutions were used instead of the mixed solution used when forming the buffer layer 5. 1%), element 7 (lithium quinoline 5%), and element 8 (lithium quinoline 10%).
The average thickness of the prepared buffer layer 5 was 20 nm.

(比較例1)
[工程3−1]
市販のポリエチレンイミン(日本触媒製 P1000)の1%、5%および10%エタノール溶液を作製した。実施例1の[工程3]において、バッファ層5を形成する際に用いた混合溶液に代えて、各ポリエチレンイミン−エタノール溶液を成膜に用いた以外は実施例1と同様にして、素子1(ポリエチレンイミン1%)、素子2(3)(ポリエチレンイミン5%)、素子4(ポリエチレンイミン10%)を作製した。
ポリエチレンイミン1%溶液から作製したバッファ層の平均厚さは1nm、ポリエチレンイミン5%溶液から作製したバッファ層の平均厚さは5nm、ポリエチレンイミン10%溶液から作製したバッファ層の平均厚さは10nmであった。
(Comparative Example 1)
[Step 3-1]
1%, 5% and 10% ethanol solutions of commercially available polyethyleneimine (Nippon Shokubai P1000) were prepared. In the same manner as in Example 1 except that each polyethyleneimine-ethanol solution was used for film formation in place of the mixed solution used in forming the buffer layer 5 in [Step 3] of Example 1, Element 1 was obtained. (Polyethyleneimine 1%), element 2 (3) (polyethyleneimine 5%), element 4 (polyethyleneimine 10%) were produced.
The average thickness of a buffer layer prepared from a 1% solution of polyethyleneimine is 1 nm, the average thickness of a buffer layer prepared from a 5% solution of polyethyleneimine is 5 nm, and the average thickness of a buffer layer prepared from a 10% solution of polyethyleneimine is 10 nm. Met.

(素子1〜8の発光特性測定)
ケースレー社製の「2400型ソースメーター」により、素子への電圧印加と、電流測定を行った。また、コニカミノルタ社製の「LS−100」により、発光輝度を測定した。さらに、測定した電流密度と輝度および発光スペクトルから外部量子効率を算出した。
なお、5%ポリエチレンイミン溶液を用いた素子については、測定場所Aと、測定場所Aと異なる場所である測定場所Bとについて、それぞれ上記の各発光特性を測定した。以下、測定場所Aについての結果を素子2の結果といい、測定場所Bについての結果を素子3の結果という。
(Measurement of luminous characteristics of elements 1 to 8)
Voltage application to the device and current measurement were performed using a “2400 type source meter” manufactured by Keithley. The light emission luminance was measured with “LS-100” manufactured by Konica Minolta. Further, the external quantum efficiency was calculated from the measured current density, luminance, and emission spectrum.
In addition, about the element using a 5% polyethyleneimine solution, each said luminescent property was measured about the measurement place A and the measurement place B which is a place different from the measurement place A, respectively. Hereinafter, the result of the measurement location A is referred to as the result of the element 2, and the result of the measurement location B is referred to as the result of the element 3.

(素子1〜4の発光特性)
図2(a)は素子1〜4の電圧印加と発光輝度との関係を示したグラフである。図2(b)は素子1〜4の電圧印加と電流密度との関係を示したグラフである。図2(c)は素子1〜4の電流密度と外部量子効率との関係を示したグラフである。
図2(a)に示すように、素子1〜4では、ポリエチレンイミン溶液の濃度が薄い(バッファ層の厚みが薄い)ほど、低い電圧で高い輝度が得られている。このことから、ポリエチレンイミンにより電子注入の速度は改善できるが、厚膜化すると駆動電圧が高くなり、優れた発光効率が得られないことがわかる。
(Luminescent characteristics of elements 1 to 4)
FIG. 2A is a graph showing the relationship between the voltage application of the elements 1 to 4 and the light emission luminance. FIG. 2B is a graph showing a relationship between voltage application and current density of the elements 1 to 4. FIG. 2C is a graph showing the relationship between the current density of the elements 1 to 4 and the external quantum efficiency.
As shown in FIG. 2A, in the elements 1 to 4, the lower the voltage of the polyethyleneimine solution (the thinner the buffer layer), the higher the luminance is obtained. From this, it can be seen that the electron injection speed can be improved by polyethyleneimine, but when the film is thickened, the driving voltage becomes high and excellent luminous efficiency cannot be obtained.

図2(b)に示す素子1(1nm)のように、バッファ層の膜厚が薄すぎると電流のリークが観測される。また、図2(b)に示す素子4(10nm)のように、バッファ層の膜厚を厚くするとリークは抑制できるものの、電流が流れにくくなる。したがって、優れた発光効率を得るためには、素子2、3(5nm)のように、5%程度のポリエチレンイミン溶液を用いるのが好ましいと考えられる。   As in the element 1 (1 nm) shown in FIG. 2B, when the buffer layer is too thin, current leakage is observed. Further, as in the element 4 (10 nm) shown in FIG. 2B, when the buffer layer is made thick, leakage can be suppressed but current does not easily flow. Therefore, in order to obtain excellent luminous efficiency, it is considered preferable to use a polyethyleneimine solution of about 5% as in the elements 2 and 3 (5 nm).

しかし、図2(c)に示すように、1%ポリエチレンイミン溶液を用いた素子1(1nm)と、5%ポリエチレンイミン溶液を用いた素子3(5nm)では、電流密度が10−5程度に抑えられているべき低い印加電圧の領域において、電流密度が高くなっている。このことから、素子1、素子3では、リークが発生していることが分かる。なお、素子2ではリークが観測されておらず、5%ポリエチレンイミン溶液を用いた素子2、3(5nm)では、バッファ層の膜厚が薄いため、測定場所によってリークが発生することが分かった。したがって、バッファ層がポリエチレンイミンからなるものであって膜厚が5nmである場合、優れた発光効率を有する素子を安定的に作製することができない。 However, as shown in FIG. 2C, the current density is about 10 −5 in the element 1 (1 nm) using the 1% polyethyleneimine solution and the element 3 (5 nm) using the 5% polyethyleneimine solution. The current density is high in the region of the low applied voltage that should be suppressed. From this, it can be seen that leakage occurs in the element 1 and the element 3. Note that no leak was observed in element 2, and in elements 2 and 3 (5 nm) using a 5% polyethyleneimine solution, it was found that the leak occurred depending on the measurement location because the buffer layer was thin. . Therefore, when the buffer layer is made of polyethyleneimine and the film thickness is 5 nm, an element having excellent light emission efficiency cannot be stably produced.

(素子1〜8の発光特性)
表1に、素子1〜4(比較例)および素子5〜8(実施例)の素子の特性をまとめたものを示す。
(Luminescent characteristics of elements 1 to 8)
Table 1 summarizes the characteristics of the elements 1 to 4 (comparative example) and elements 5 to 8 (examples).

Figure 0006037894
Figure 0006037894

表1に示す電流密度の値から分かる通り、混合溶媒を用いた素子5〜8においては、電流のリークがほとんど観測されていない。これは、バッファ層の平均厚さが20nm以上であり、バッファ層がリークを抑制できる十分な膜厚を有しているためである。   As can be seen from the current density values shown in Table 1, almost no current leakage was observed in the elements 5 to 8 using the mixed solvent. This is because the average thickness of the buffer layer is 20 nm or more, and the buffer layer has a sufficient thickness that can suppress leakage.

また、素子4では低かった外部量子効率についても、素子5〜8については高い値が得られている。これは素子5〜8のバッファ層に含まれている電子輸送性のSPPO1により、バッファ層内で電子が輸送されたためと考えられる。
素子5で示す通り、ポリエチレンイミンとSPPO1の2種類の材料からなるバッファ層を形成した場合、十分な外部量子効率が得られる。素子7〜8に示すように、ポリエチレンイミンとSPPO1とLIqの3種類の材料からなるバッファ層を形成した場合には、さらに高い外部量子効率が得られている。
In addition, as for the external quantum efficiency, which was low in the element 4, high values are obtained for the elements 5 to 8. This is considered to be because electrons were transported in the buffer layer by the electron transporting SPPO1 contained in the buffer layers of the elements 5 to 8.
As shown by the element 5, when a buffer layer made of two kinds of materials, polyethyleneimine and SPPO1, is formed, a sufficient external quantum efficiency can be obtained. As shown in the elements 7 to 8, when a buffer layer made of three kinds of materials, polyethyleneimine, SPPO1, and LIq, is formed, higher external quantum efficiency is obtained.

図3は素子5〜8の電流密度と外部量子効率との関係を示したグラフである。
図3に示すように、ポリエチレンイミンとSPPO1とLIqの3種類の材料からなるバッファ層を形成した素子6〜8を、ポリエチレンイミンとSPPO1の2種類の材料からなるバッファ層を形成した素子5と比較すると、電流が良好に流れている。これはリチウムキノリン(Liq)の化学的なドーピングにより、バッファ層の電子輸送性が向上したためであると考えられる。
FIG. 3 is a graph showing the relationship between the current density of elements 5 to 8 and the external quantum efficiency.
As shown in FIG. 3, the elements 6 to 8 in which the buffer layers made of three kinds of materials of polyethyleneimine, SPPO1, and LIq are formed, and the elements 5 in which the buffer layer made of two kinds of materials of polyethyleneimine and SPPO1 are formed. In comparison, the current flows well. This is considered to be because the electron transport property of the buffer layer was improved by chemical doping of lithium quinoline (Liq).

(実施例3)
[工程3−2]
市販のポリエチレンイミン(日本触媒製 P1000)0.5%エタノール溶液を作製し、このエタノール溶液に含まれるポリエチレンイミン(第1材料)と同じ質量の9,9−スピロビフルオレン−2−イル−ジフェニル−ホスフィンオキサイド(SPPO1)(第2材料)を、0.5%エタノール溶液に加え、さらにSPPO1の質量に対してリチウムキノリン(第3材料)を1%加え、混合溶液とした。
Example 3
[Step 3-2]
A commercially available polyethyleneimine (Nippon Shokubai P1000) 0.5% ethanol solution was prepared, and 9,9-spirobifluoren-2-yl-diphenyl having the same mass as the polyethyleneimine (first material) contained in this ethanol solution. -Phosphine oxide (SPPO1) (second material) was added to a 0.5% ethanol solution, and further 1% lithium quinoline (third material) was added to the mass of SPPO1 to obtain a mixed solution.

このようにして得られた混合溶液を、実施例1の[工程3]において、バッファ層5を形成する際に用いた混合溶液に代えて成膜に用いた以外は、実施例1と同様にして「素子9」を作製した。
また、素子9の作製に使用した混合溶液をエタノールで1.5倍に希釈した混合溶液を用いた以外は、実施例1と同様にして「素子10」を作製した。
素子10において作製したバッファ層の平均膜厚は30nmであった。また、混合溶液を希釈せずに使用して作製した素子9のバッファ層の膜厚はそれよりも厚いものであった。
The mixed solution thus obtained was used in the same manner as in Example 1 except that it was used for film formation instead of the mixed solution used in forming the buffer layer 5 in [Step 3] of Example 1. Thus, “Element 9” was produced.
Further, “Element 10” was produced in the same manner as in Example 1 except that the mixed solution used for the production of Element 9 was diluted 1.5 times with ethanol.
The average film thickness of the buffer layer produced in the element 10 was 30 nm. Moreover, the film thickness of the buffer layer of the element 9 produced by using the mixed solution without diluting was larger than that.

(素子9、10の発光特性)
素子9、10について、それぞれ素子1と同様にして素子への電圧印加と、電流測定を行った。また、素子9、10について、素子1と同様にして発光輝度を測定し、外部量子効率を算出した。その結果を図4に示す。
図4(a)は素子9、10の電圧印加と発光輝度との関係を示したグラフである。図4(b)は素子9、10の電流密度と外部量子効率との関係を示したグラフである。
図4に示すように、素子9と素子10とを比較すると、バッファ層の厚みが薄い素子10の方が、低い駆動で高い輝度が得られ、高い外部量子効率が得られた。また、素子9、10は、いずれも外部量子効率の最大値は15%程度であった。
(Luminescent characteristics of elements 9 and 10)
For elements 9 and 10, voltage application and current measurement were performed in the same manner as element 1. In addition, for the devices 9 and 10, the emission luminance was measured in the same manner as the device 1, and the external quantum efficiency was calculated. The result is shown in FIG.
FIG. 4A is a graph showing a relationship between voltage application of the elements 9 and 10 and light emission luminance. FIG. 4B is a graph showing the relationship between the current density of the elements 9 and 10 and the external quantum efficiency.
As shown in FIG. 4, when the element 9 and the element 10 were compared, the element 10 with a thinner buffer layer obtained higher luminance with lower driving and higher external quantum efficiency. In each of the elements 9 and 10, the maximum value of the external quantum efficiency was about 15%.

(実施例4)
[工程3−3]
市販のポリエチレンイミン(日本触媒製 P1000)0.5%エタノール溶液を作製し、このエタノール溶液に含まれるポリエチレンイミン(第1材料)の質量に対して、ポリエチレンイミンとSPPO1(第2材料)の質量比が1:0.5、1:1.5となるようにSPPO1を0.5%エタノール溶液に加え、さらにSPPO1の質量に対してリチウムキノリン(第3材料)を1%加え、混合溶液とした。
Example 4
[Step 3-3]
A commercially available polyethyleneimine (Nippon Shokubai P1000) 0.5% ethanol solution was prepared, and the mass of polyethyleneimine and SPPO1 (second material) relative to the mass of polyethyleneimine (first material) contained in this ethanol solution. SPPO1 was added to the 0.5% ethanol solution so that the ratio was 1: 0.5, 1: 1.5, and 1% of lithium quinoline (third material) was added to the mass of SPPO1, did.

このようにして得られた混合溶液を、実施例1の[工程3]において、バッファ層5を形成する際に用いた混合溶液に代えて成膜に用いた以外は、実施例1と同様にして素子11(ポリエチレンイミン:SPPO1=1:0.5)と、素子12(ポリエチレンイミン:SPPO1=1:1.5)とを作製した。   The mixed solution thus obtained was used in the same manner as in Example 1 except that it was used for film formation instead of the mixed solution used in forming the buffer layer 5 in [Step 3] of Example 1. Element 11 (polyethyleneimine: SPPO1 = 1: 0.5) and element 12 (polyethyleneimine: SPPO1 = 1: 1.5) were produced.

(素子11、12の発光特性)
素子11、12について、それぞれ素子1と同様にして電流密度と外部量子効率との関係を調べた。その結果を、素子9の結果とともに図5に示す。
図5は素子9、11、12の電流密度と外部量子効率との関係を示したグラフである。
図5に示すように、素子9、11、12は、いずれも外部量子効率の最大値は15%程度であった。
(Luminescent characteristics of elements 11 and 12)
For the elements 11 and 12, the relationship between the current density and the external quantum efficiency was examined in the same manner as the element 1. The result is shown in FIG.
FIG. 5 is a graph showing the relationship between the current density of the devices 9, 11, and 12 and the external quantum efficiency.
As shown in FIG. 5, the elements 9, 11, and 12 all had a maximum external quantum efficiency of about 15%.

1:有機EL素子、2:基板、3:陰極、4:酸化物層、5:バッファ層、6:発光層、7:正孔輸送層、8:正孔注入層、9:陽極。 1: organic EL element, 2: substrate, 3: cathode, 4: oxide layer, 5: buffer layer, 6: light-emitting layer, 7: hole transport layer, 8: hole injection layer, 9: anode.

Claims (11)

基板上に陰極と、無機の酸化物層と、バッファ層と、発光層と、陽極とがこの順に形成され、
前記バッファ層が、1〜4級のアミンを有する構造または炭素数2〜4のアルキレンオキシドを有する構造からなる第1材料と、電子を輸送する第2材料とを含むものであることを特徴とする有機エレクトロルミネッセンス素子。
A cathode, an inorganic oxide layer, a buffer layer, a light emitting layer, and an anode are formed in this order on the substrate,
The organic material, wherein the buffer layer includes a first material having a structure having a primary to quaternary amine or a structure having an alkylene oxide having 2 to 4 carbon atoms, and a second material that transports electrons. Electroluminescence element.
前記バッファ層の平均厚さが5〜100nmであることを特徴とする請求項1に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。   The organic electroluminescence device according to claim 1, wherein the buffer layer has an average thickness of 5 to 100 nm. 前記バッファ層に含まれる第2材料の含有量は、10〜90質量%であることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。   3. The organic electroluminescent element according to claim 1, wherein the content of the second material contained in the buffer layer is 10 to 90% by mass. 前記バッファ層が、前記第1材料および前記第2材料に化学的なドーピングが可能な第3材料を含むことを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。   4. The organic electroluminescence according to claim 1, wherein the buffer layer includes a third material capable of chemically doping the first material and the second material. 5. element. 前記第1材料が、ポリアミンであることを特徴とする請求項1〜請求項4のいずれか一項に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。   The organic electroluminescence device according to any one of claims 1 to 4, wherein the first material is a polyamine. 前記第2材料が、ホスフィンオキサイド誘導体、金属錯体、ピリジン誘導体ポリエチレンイミンから選ばれるいずれか一種であることを特徴とする請求項1〜請求項5のいずれか一項に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。   The organic electroluminescence device according to any one of claims 1 to 5, wherein the second material is any one selected from a phosphine oxide derivative, a metal complex, and a pyridine derivative polyethyleneimine. 前記第3材料が、リチウムキノリンまたは炭酸セシウムであることを特徴とする請求項1〜請求項6のいずれか一項に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。   The organic electroluminescent element according to claim 1, wherein the third material is lithium quinoline or cesium carbonate. 前記陽極と前記発光層との間に正孔注入層が配置されていることを特徴とする請求項1〜請求項7のいずれか一項に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子。   The organic electroluminescence device according to any one of claims 1 to 7, wherein a hole injection layer is disposed between the anode and the light emitting layer. 基板上に陰極と、無機の酸化物層と、バッファ層と、発光層と、陽極とをこの順に形成する有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法であり、
前記バッファ層を形成する工程は、1〜4級のアミンを有する構造または炭素数2〜4のアルキレンオキシドを有する構造からなる第1材料と、電子を輸送する第2材料とを含む混合溶液を塗布する工程を含むことを特徴とする有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法。
It is a method for producing an organic electroluminescent element, in which a cathode, an inorganic oxide layer, a buffer layer, a light emitting layer, and an anode are formed in this order on a substrate.
The step of forming the buffer layer includes a mixed solution containing a first material having a structure having a primary to quaternary amine or a structure having an alkylene oxide having 2 to 4 carbon atoms, and a second material that transports electrons. The manufacturing method of the organic electroluminescent element characterized by including the process to apply | coat.
請求項1〜請求項8のいずれか一項に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子を備えることを特徴とする表示装置。   A display device comprising the organic electroluminescence element according to claim 1. 請求項1〜請求項8のいずれか一項に記載の有機エレクトロルミネッセンス素子を備えることを特徴とする照明装置。   An illuminating device comprising the organic electroluminescent element according to any one of claims 1 to 8.
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