JP6032878B2 - 基板処理装置および基板処理方法 - Google Patents
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Description
2 基板保持部
3 処理液供給部
5 基板回転機構
6 除電液供給部
7 IPA供給部
8 制御部
9 基板
81 比抵抗設定部
91 上面
S11〜S20,S31〜S33 ステップ
Claims (4)
- 基板を処理する基板処理装置であって、
基板に液体を付与しない前処理であるドライ工程を経て搬入前に帯電した状態となっている前記基板を、デバイスが予め形成されている主面を上側に向けた状態で保持する基板保持部と、
前記基板の前記主面上に処理液を供給する処理液供給部と、
イオンを含む液体または純水を前記処理液よりも比抵抗が大きい除電液として前記基板の前記主面上に供給する除電液供給部と、
前記除電液の目標比抵抗を0.05〜18MΩ・cmの範囲で設定する比抵抗設定部と、
前記処理液供給部および前記除電液供給部を制御することにより、前記除電液におけるイオン濃度を制御して前記除電液の比抵抗を前記目標比抵抗に維持しつつ、前記除電液を前記基板の前記主面上に供給して前記基板の前記主面全体を前記除電液にてパドルした後、前記処理液を前記基板の前記主面上に供給して所定の処理を行う制御部と、
を備え、
前記基板上に予め形成されている前記デバイスのサイズが小さくなるに従って、前記比抵抗設定部において、前記除電液の前記目標比抵抗が大きく設定されることを特徴とする基板処理装置。 - 請求項1に記載の基板処理装置であって、
前記処理液が、加熱された硫酸と過酸化水素水とを混合したSPM液であり、前記所定の処理がSPM処理であることを特徴とする基板処理装置。 - 請求項1または2に記載の基板処理装置であって、
前記イオンを含む液体が、純水に二酸化炭素を溶解させたものであることを特徴とする基板処理装置。 - 基板を処理する基板処理方法であって、
a)イオンを含む液体または純水である除電液の目標比抵抗を0.05〜18MΩ・cmの範囲で設定する工程と、
b)前記除電液のイオン濃度を制御して前記除電液の比抵抗を前記目標比抵抗とする工程と、
c)基板に液体を付与しない前処理であるドライ工程を経て帯電した状態となっている前記基板を、デバイスが予め形成されている主面を上側に向けた状態で保持し、前記b)工程よりも後に、前記基板の前記主面上に前記除電液を供給して前記基板の前記主面全体を前記除電液にてパドルする工程と、
d)前記c)工程よりも後に、前記除電液よりも比抵抗が小さい処理液を前記基板の前記主面上に供給して所定の処理を行う工程と、
を備え、
前記基板上に予め形成されている前記デバイスのサイズが小さくなるに従って、前記a)工程において、前記除電液の前記目標比抵抗が大きく設定されることを特徴とする基板処理方法。
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