JP6024303B2 - Joining apparatus and method of manufacturing joined body - Google Patents

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Description

本発明は、接合装置および接合体の製造方法に関する。 The present invention relates to a bonding apparatus and a method for manufacturing a bonded body .

近年、ウェハー(半導体ウェハー)と樹脂フィルムとの接合体を、例えばMEMS(Micro Electro Mechanical System)等の母材として用いている。ウェハーと樹脂フィルムとの接合には、接合装置が用いられる(例えば、特許文献1参照)。
特許文献1に記載の接合装置は、円板状をなす本体部と、当該本体部の上面から突出し、その周方向に沿って円環状に形成された支持部とを有するステージを備えている。また、この接合装置では、支持部でウェハーを支持した状態では、当該ウェハーが自重により撓んでしまうため、本体部と支持部とウェハーとで囲まれた空間内に空気を供給して、その撓みを防止している。そして、このような支持状態のウェハーの上面に、粘着性を有する樹脂フィルムを接合していく。これにより、接合体が得られる。
なお、特許文献1に記載の接合装置では、空間内への空気は、本体部の中央部に形成された1つの空気吹出し口から供給され、本体部の縁部近傍に形成された4つの空気排出口から排出される。
In recent years, a joined body of a wafer (semiconductor wafer) and a resin film is used as a base material of, for example, a MEMS (Micro Electro Mechanical System). A joining device is used for joining the wafer and the resin film (see, for example, Patent Document 1).
The joining apparatus described in Patent Literature 1 includes a stage having a disk-shaped main body portion and a support portion that protrudes from the upper surface of the main body portion and is formed in an annular shape along the circumferential direction. In this bonding apparatus, in the state where the wafer is supported by the support portion, the wafer is bent by its own weight. Therefore, air is supplied into the space surrounded by the main body portion, the support portion, and the wafer, and the bending is performed. Is preventing. And the resin film which has adhesiveness is joined to the upper surface of the wafer of such a support state. Thereby, a joined body is obtained.
In the joining apparatus described in Patent Document 1, the air into the space is supplied from one air outlet formed in the center of the main body, and four airs formed in the vicinity of the edge of the main body. It is discharged from the outlet.

ところで、樹脂フィルムの種類によっては、当該樹脂フィルムとウェハーとを加熱により接合する場合もある。この場合、特許文献1に記載の接合装置を、ステージごとウェハーを加熱することができるよう構成することもできる。このような構成の装置では、空気吹出し口と空気排出口とが前述したような配置となっていることに起因する、空間内での空気の流れによって、ウェハーの温度分布が不均一となる、すなわち、ウェハーに高温の部分と低温の部分とが生じてしまう。そして、温度分布が不均一なウェハーに樹脂フィルムを接合すると、接合ムラ、すなわち、接合強度が高い部分と低い部分とが生じるという問題があった。   By the way, depending on the kind of resin film, the said resin film and a wafer may be joined by heating. In this case, the bonding apparatus described in Patent Document 1 can be configured so that the wafer can be heated together with the stage. In the apparatus having such a configuration, the temperature distribution of the wafer becomes non-uniform due to the air flow in the space due to the arrangement of the air outlet and the air outlet as described above. That is, a high temperature portion and a low temperature portion are generated on the wafer. When a resin film is bonded to a wafer having a non-uniform temperature distribution, there is a problem that uneven bonding, that is, a portion with high bonding strength and a portion with low bonding strength occur.

特開平3−204955号公報Japanese Patent Laid-Open No. 3-204955

本発明の目的は、基板とフィルムとを均一に接合することができる接合装置、および、かかる接合装置によって得られた接合体を提供することにある。   An object of the present invention is to provide a bonding apparatus capable of uniformly bonding a substrate and a film, and a bonded body obtained by the bonding apparatus.

このような目的は、下記の本発明により達成される。
本発明の接合装置は、可撓性を有する基板と、樹脂材料で構成されたフィルムとを加熱により接合する接合装置であって、
板状をなす本体部と、前記本体部の一方の面から突出し、該本体部の周方向に沿ってリング状に形成され、前記基板に当接して該基板を支持する支持部とを有するステージと、
前記支持部で前記基板を支持した支持状態で、前記支持部を介して前記基板を加熱する加熱手段と
前記本体部と前記支持部と前記支持状態の基板とで囲まれた空間内にガスを供給するガス供給手段とを備え、
前記ガス供給手段は
前記支持状態の基板に対向するとともに前記空間に向かって開口する開口部を有し、前記支持状態の基板に向けて前記空間内にガスを流入させる流入口と、
前記流入口と異なる位置に設けられ、前記支持状態の基板に対向するとともに前記空間に向かって開口する開口部を有し、前記空間内から、該空間内のガスを流出させる流出口を有し、
前記流入口の開口部は、前記支持部の内周部に臨むように配置され、
前記流出口の開口部は、前記本体部の中心部に配置され、
前記流入口の開口部から流入した前記ガスは、前記支持部の内周部から前記本体部の中心部に向かって、前記支持状態の基板に沿って前記空間内を流れることを特徴とする。
Such an object is achieved by the present invention described below.
The joining device of the present invention is a joining device that joins a flexible substrate and a film made of a resin material by heating,
Has a body portion which forms a plate, projecting from one surface of the main body portion, is formed in the circumferential direction of the body portion ring, and a support portion for supporting the contact with the substrate on the substrate Stage,
Heating means for heating the substrate via the support portion in a support state in which the substrate is supported by the support portion ;
And a gas supply means for supplying a gas in a space surrounded by the substrate of the support with said main body portion and the support portion,
It said gas supply means,
An inlet that faces the substrate in the supported state and has an opening that opens toward the space, and allows the gas to flow into the space toward the substrate in the supported state ;
An outlet that is provided at a position different from the inlet, has an opening that faces the substrate in the support state and opens toward the space, and allows the gas in the space to flow out from the space ; Have
The opening portion of the inflow port is disposed so as to face the inner peripheral portion of the support portion,
The opening of the outlet is disposed at the center of the main body,
The gas flowing in from the opening of the inflow port flows in the space along the substrate in the support state from the inner peripheral portion of the support portion toward the center portion of the main body portion .

支持状態の基板の支持部に当接している部分は、その温度が加熱手段の作動によって上昇しそうであるが、流入口から流入するガスにより冷却されて、当該温度上昇が抑制される。また、流入口から流出口に向かうガスによって、基板の温度がならされることとなる。その結果、基板の表面は、フィルムと接合可能な程に加熱され、その温度分布は、均一となる。そして、この温度分布が均一な状態で、基板にフィルムを加圧ローラーで押し付けることにより、基板とフィルムとを確実に均一に接合することができる。   The temperature of the portion in contact with the support portion of the substrate in the support state is likely to increase due to the operation of the heating means, but is cooled by the gas flowing in from the inflow port, and the temperature increase is suppressed. Further, the temperature of the substrate is smoothed by the gas from the inlet to the outlet. As a result, the surface of the substrate is heated to such an extent that it can be bonded to the film, and the temperature distribution becomes uniform. And in this state with a uniform temperature distribution, a board | substrate and a film can be joined uniformly reliably by pressing a film with a pressurization roller to a board | substrate.

本発明の接合装置では、前記支持状態の基板の前記支持部に当接した部分の温度が、前記加熱手段の作動により上昇した際には、前記流入口から流入するガスの量を増加するのが好ましい。
これにより、基板の表面の温度分布が確実に均一となり、この状態で基板とフィルムとを接合することによって、これらをより確実に均一に接合することができる。
In the bonding apparatus according to the present invention, when the temperature of the portion in contact with the support portion of the substrate in the support state is increased by the operation of the heating means, the amount of gas flowing in from the inflow port is increased. Is preferred.
Thereby, the temperature distribution on the surface of the substrate is surely uniform, and by bonding the substrate and the film in this state, they can be bonded more reliably and uniformly.

本発明の接合装置では、前記本体部の平面視で、前記流入口と前記支持部との距離は、前記流入口と前記流出口との距離よりも短いのが好ましい。
これにより、流入口が流出口よりも支持部にできる限り近い位置に配置されることとなり、よって、流入口からのガスで、支持状態の基板の支持部に当接している部分に対する冷却効果が向上する。
In the joining device of the present invention, it is preferable that the distance between the inflow port and the support portion is shorter than the distance between the inflow port and the outflow port in a plan view of the main body.
As a result, the inflow port is arranged as close as possible to the support portion relative to the outflow port, so that the gas from the inflow port has a cooling effect on the portion in contact with the support portion of the substrate in the support state. improves.

本発明の接合装置では、前記流入口の中心位置は、前記支持部の内周部から、前記流入口の直径の長さ以内に配置されているのが好ましい。
これにより、流入口が流出口よりも支持部にできる限り近い位置に配置されることとなり、よって、流入口からのガスで、支持状態の基板の支持部に当接している部分に対する冷却効果が向上する。
In the joining device of the present invention, it is preferable that the center position of the inflow port is disposed within the length of the diameter of the inflow port from the inner peripheral portion of the support portion.
As a result, the inflow port is arranged as close as possible to the support portion relative to the outflow port, so that the gas from the inflow port has a cooling effect on the portion in contact with the support portion of the substrate in the support state. improves.

本発明の接合装置では、前記本体部は、平面視で円形をなし、
前記流入口は、前記本体部の周方向に沿って等間隔に複数配置され、前記流出口は、前記本体部の中心部に前記流入口の配置数よりも少ない個数配置されているのが好ましい。
これにより、前記空間内を確実に加圧することができ、よって、基板に撓みが生じるのを確実に防止することができる。
In the bonding apparatus of the present invention, the main body portion is circular in plan view,
It is preferable that a plurality of the inflow ports are arranged at equal intervals along the circumferential direction of the main body, and the number of the outflow ports is less than the number of the inflow ports arranged at the center of the main body. .
Thereby, the inside of the space can be surely pressurized, and thus it is possible to reliably prevent the substrate from being bent.

本発明の接合装置では、前記流入口および前記流出口は、それぞれ、前記本体部に貫通して形成され、前記支持状態の基板に対向しているのが好ましい。
これにより、流入口および流出口をそれぞれ別部材で構成するのが省略され、よって、接合装置が簡単な構成のものとなる。また、流入口からのガスが確実に基板に衝突することとなり、よって、当該基板を確実に冷却することできる。
In the bonding apparatus according to the aspect of the invention, it is preferable that the inflow port and the outflow port are formed so as to penetrate the main body portion and face the substrate in the support state.
Thereby, it is omitted that the inlet and the outlet are formed of separate members, and thus the joining apparatus has a simple configuration. Further, the gas from the inflow port surely collides with the substrate, so that the substrate can be reliably cooled.

本発明の接合装置では、前記流入口から流入されるガスの総流入量は、前記流出口から排出されるガスの総流出量以上であるのが好ましい。
これにより、前記空間内の圧力を大気圧よりも高く設定して、支持状態の基板に撓みが生じるのを確実に防止することができる。
本発明の接合装置では、前記加熱手段は、前記本体部に対して、前記空間の反対側に配置された電熱線を有するのが好ましい。
これにより、電熱線に対して電圧を印加すると当該電熱線が発熱して、支持状態の基板をステージ(支持部)を介して確実に加熱することができる。
In the joining device of the present invention, it is preferable that the total inflow amount of the gas flowing in from the inflow port is equal to or larger than the total outflow amount of the gas discharged from the outflow port.
Thereby, the pressure in the said space can be set higher than atmospheric pressure, and it can prevent reliably that bending arises in the board | substrate of a support state.
In the joining apparatus of this invention, it is preferable that the said heating means has a heating wire arrange | positioned with respect to the said main-body part on the opposite side of the said space.
Thereby, when a voltage is applied to the heating wire, the heating wire generates heat, and the substrate in the support state can be reliably heated via the stage (support portion).

本発明の接合装置では、前記支持部は、前記本体部と一体的に形成されているのが好ましい。
これにより、加熱手段の作動により発生した熱が本体部、支持部、基板の順に確実に伝達され、よって、基板を確実に加熱することができる。
本発明の接合装置では、前記支持部に設けられ、前記支持状態の基板を前記支持部から離間する方向に押圧する少なくとも1本の押圧ピンを有する押圧手段をさらに備えるのが好ましい。
これにより、押圧手段が作動した、すなわち、押圧ピンが支持状態の基板を支持部から離間する方向に押圧した際には、基板を支持部から剥離することができる。
In the joining device of the present invention, it is preferable that the support portion is formed integrally with the main body portion.
Thereby, the heat generated by the operation of the heating means is reliably transmitted in the order of the main body portion, the support portion, and the substrate, and thus the substrate can be reliably heated.
In the bonding apparatus according to the aspect of the invention, it is preferable that the bonding apparatus further includes a pressing unit that is provided in the support portion and includes at least one pressing pin that presses the substrate in the support state in a direction away from the support portion.
Thereby, when the pressing means is operated, that is, when the pressing pin presses the supporting substrate in the direction away from the supporting portion, the substrate can be peeled from the supporting portion.

本発明の接合装置では、前記押圧ピンは、前記支持部の周方向に沿って前記流入口と同数配置されており、
前記本体部の平面視で、前記流入口は、前記押圧ピンと前記流出口との間に配置されているのが好ましい。
これにより、流入口を流出口よりも支持部にできる限り近い位置に配置することができ、よって、流入口からのガスで、支持状態の基板の支持部に当接している部分に対する冷却効果が向上する。
In the joining device of the present invention, the pressing pins are arranged in the same number as the inflow ports along the circumferential direction of the support portion.
In the plan view of the main body, the inflow port is preferably disposed between the pressing pin and the outflow port.
Thus, the inlet can be arranged as close as possible to the support portion relative to the outlet, so that the gas from the inlet has a cooling effect on the portion in contact with the support portion of the substrate in the support state. improves.

本発明の接合装置では、前記支持部に設けられ、前記支持状態の基板を前記本体部側に吸引する少なくとも1つの吸引口を有する吸引手段をさらに備えるのが好ましい。
これにより、支持状態を確実に維持することができ、よって、当該支持状態の基板が支持部から不本意にズレてしまうのを確実に防止することができる。これにより、基板とフィルムとを正確に接合することができる。
In the bonding apparatus according to the aspect of the invention, it is preferable that the bonding apparatus further includes a suction unit that is provided in the support part and has at least one suction port that sucks the substrate in the support state toward the main body part side.
Thereby, a support state can be maintained reliably and, therefore, it can prevent reliably that the board | substrate of the said support state shifts unintentionally from a support part. Thereby, a board | substrate and a film can be joined correctly.

本発明の接合体は、可撓性を有する基板と、
樹脂材料で構成されたフィルムとを備え、
本発明の接合装置によって前記基板と前記フィルムとが接合されたことを特徴とする。
これにより、接合体が確実に接合装置によって得られたものとなり、例えば、基板がウェハーで構成されている場合、当該接合体を薄膜トランジスタ(TFT)やMEMS等に用いることができる。
本発明の接合体では、前記基板は、ウェハーであるのが好ましい。
これにより、接合体を薄膜トランジスタ(TFT)やMEMS等に用いることができる。
The joined body of the present invention includes a flexible substrate,
A film made of a resin material,
The board | substrate and the said film were joined by the joining apparatus of this invention, It is characterized by the above-mentioned.
Thereby, the joined body is surely obtained by the joining apparatus. For example, when the substrate is formed of a wafer, the joined body can be used for a thin film transistor (TFT), a MEMS, or the like.
In the joined body of the present invention, the substrate is preferably a wafer.
Accordingly, the joined body can be used for a thin film transistor (TFT), a MEMS, or the like.

本発明の接合装置の実施形態を示す平面図である。It is a top view which shows embodiment of the joining apparatus of this invention. 図1中のA−A線断面図(基板とフィルムとの接合過程を経時的示す断面側面図)である。FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. 図1中のA−A線断面図(基板とフィルムとの接合過程を経時的示す断面側面図)である。FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. 図1中のB−B線断面図である。It is the BB sectional view taken on the line in FIG. 本発明の接合装置と従来の接合装置とをそれぞれ用いたときの基板の表面の温度分布を示すグラフである。It is a graph which shows the temperature distribution of the surface of a board | substrate when each using the joining apparatus of this invention and the conventional joining apparatus.

以下、本発明の接合装置および接合体を添付図面に示す好適な実施形態に基づいて詳細に説明する。
図1は、本発明の接合装置の実施形態を示す平面図、図2および図3は、それぞれ、図1中のA−A線断面図(基板とフィルムとの接合過程を経時的示す断面側面図)、図4は、図1中のB−B線断面図、図5は、本発明の接合装置と従来の接合装置とをそれぞれ用いたときの基板の表面の温度分布を示すグラフである。なお、以下では、説明の都合上、図2〜図4中の上側を「上(上方)」または「表」、下側を「下(下方)」または「裏」と言う。
図1〜図4に示す接合装置1は、基板201とフィルム202とを加熱により接合して接合体20を製造する装置である。
Hereinafter, the joining device and joined body of the present invention are explained in detail based on the suitable embodiment shown in an accompanying drawing.
FIG. 1 is a plan view showing an embodiment of the bonding apparatus of the present invention, and FIGS. 2 and 3 are cross-sectional views taken along line AA in FIG. 1 (cross-sectional side views showing the bonding process between the substrate and the film over time). FIG. 4 is a cross-sectional view taken along line BB in FIG. 1, and FIG. 5 is a graph showing the temperature distribution on the surface of the substrate when the bonding apparatus of the present invention and the conventional bonding apparatus are used. . In the following, for convenience of explanation, the upper side in FIGS. 2 to 4 is referred to as “upper (upward)” or “front”, and the lower side is referred to as “lower (lower)” or “back”.
The bonding apparatus 1 shown in FIGS. 1 to 4 is an apparatus that manufactures a bonded body 20 by bonding a substrate 201 and a film 202 by heating.

まず、接合体20について説明する。
図4に示すように、接合体20は、基板201とフィルム202とで構成され、基板201の表側の面(上面)203にフィルム202の裏側の面(下面)205が接合されたものである。
基板201は、その平面視が円形をなし、可撓性を有するウェハー(半導体ウェハー)である。この場合、接合体20を薄膜トランジスタ(TFT)やMEMS等に用いることができる。
また、基板201の大きさとしては、特に限定されず、例えば接合体20をMEMSに用いる場合、直径を152.4〜203.2mm(6〜8インチ)とすることができ、厚さを200〜800μmとすることができる。
基板201は、主にシリコンを含有する材料で構成されている。
First, the joined body 20 will be described.
As shown in FIG. 4, the bonded body 20 includes a substrate 201 and a film 202, and a surface (lower surface) 205 on the back side of the film 202 is bonded to a surface (upper surface) 203 of the substrate 201. .
The substrate 201 is a wafer (semiconductor wafer) having a circular shape in plan view and having flexibility. In this case, the bonded body 20 can be used for a thin film transistor (TFT), a MEMS, or the like.
The size of the substrate 201 is not particularly limited. For example, when the joined body 20 is used for MEMS, the diameter can be set to 152.4 to 203.2 mm (6 to 8 inches), and the thickness can be set to 200. It can be set to ˜800 μm.
The substrate 201 is mainly composed of a material containing silicon.

フィルム202は、基板201よりも可撓性に富み、樹脂材料で構成されたものである。このフィルム202は、基板201に接合される以前は、すなわち、母材としては帯状をなしており(図2、図3参照)、基板201に接合された後に余分な部分が切断される。これにより、接合体20でのフィルム202は、平面視で基板201と同じ大きさの円形状をなすものとなる。そして、フィルム202は、接合体20に例えばエッチングを施す場合に基板201を保護する保護フィルムとして機能したり、接合体20を例えば切削する場合に切りくずが飛散するのを防止するバックグラインド(BG)として機能したりする。   The film 202 is more flexible than the substrate 201 and is made of a resin material. Before the film 202 is bonded to the substrate 201, that is, as a base material, the film 202 has a band shape (see FIGS. 2 and 3), and after the film 202 is bonded to the substrate 201, an excess portion is cut. Thereby, the film 202 in the joined body 20 has a circular shape having the same size as the substrate 201 in plan view. The film 202 functions as a protective film that protects the substrate 201 when, for example, etching is performed on the bonded body 20, or when the bonded body 20 is cut, for example, the back grind (BG ).

このようなフィルム202の構成材料としては、例えば、ポリエチレン、ポリプロピレン、その他フッ素系樹脂等の各種樹脂材料を用いることができる。そして、このような樹脂材料で構成されたフィルム202は、加熱により基板201と化学的に接合される。
なお、フィルム202の厚さは、例えば接合体20をMEMSに用いる場合、40〜60μmとすることができる。
As a constituent material of such a film 202, for example, various resin materials such as polyethylene, polypropylene, and other fluorine-based resins can be used. The film 202 made of such a resin material is chemically bonded to the substrate 201 by heating.
In addition, the thickness of the film 202 can be 40-60 micrometers, for example, when using the conjugate | zygote 20 for MEMS.

次に、接合装置1について説明する。
図1〜図4に示すように、接合装置1は、ステージ2と、加熱手段3と、加圧ローラー4と、押圧手段5と、吸引手段6と、ガス供給手段7とを備えている。
図2〜図4に示すように、ステージ2は、板状をなす本体部21と、基板201を支持する支持部22とで構成されている。
Next, the bonding apparatus 1 will be described.
As shown in FIGS. 1 to 4, the bonding apparatus 1 includes a stage 2, a heating unit 3, a pressure roller 4, a pressing unit 5, a suction unit 6, and a gas supply unit 7.
As shown in FIGS. 2 to 4, the stage 2 includes a plate-shaped main body portion 21 and a support portion 22 that supports the substrate 201.

図1に示すように、本体部21は、平面視で円形をなす部分である。この本体部21は、ハウジング31上に水平に載置されている。
なお、本体部21の直径としては、特に限定されず、例えば、基板201の直径と同じかまたはそれよりも大きい。
本体部21の上面(一方の面)211の縁部には、支持部22が上方に向かって突出して形成されている。この支持部22の高さとしては、特に限定されず、例えば、基板201の厚さの10〜100倍であるのが好ましい。
また、支持部22は、本体部21の周方向に沿って円環状(リング状)をなす部分となっている。これにより、支持部22は、その上面221が基板201の裏側の面(下面)204の縁部に当接して、当該基板201を確実に支持することができる。以下、支持部22で基板201を支持した状態を「支持状態」と言う。
As shown in FIG. 1, the main body 21 is a circular part in plan view. The main body 21 is placed horizontally on the housing 31.
Note that the diameter of the main body 21 is not particularly limited, and is, for example, the same as or larger than the diameter of the substrate 201.
At the edge of the upper surface (one surface) 211 of the main body portion 21, a support portion 22 is formed to protrude upward. The height of the support portion 22 is not particularly limited, and is preferably 10 to 100 times the thickness of the substrate 201, for example.
The support portion 22 is a portion that forms an annular shape (ring shape) along the circumferential direction of the main body portion 21. As a result, the upper surface 221 of the support portion 22 comes into contact with the edge portion of the back surface (lower surface) 204 of the substrate 201, so that the substrate 201 can be reliably supported. Hereinafter, a state in which the substrate 201 is supported by the support portion 22 is referred to as a “supported state”.

ステージ2では、本体部21と支持部22とが一体的に形成されている。これにより、後述するように加熱手段3の作動により発生した熱が、本体部21、支持部22、基板201の順に確実に伝達され、よって、基板201を確実に加熱することができる。
ステージ2の構成材料としては、特に限定されず、例えば、アルミニウムやステンレス鋼等のような金属材料を用いることができる。金属材料は、熱伝導性が比較的高い材料であり、加熱手段3からの熱を基板201に伝達するのに寄与する。
In the stage 2, the main body portion 21 and the support portion 22 are integrally formed. Thereby, as will be described later, the heat generated by the operation of the heating means 3 is reliably transmitted in the order of the main body portion 21, the support portion 22, and the substrate 201, so that the substrate 201 can be reliably heated.
The constituent material of the stage 2 is not particularly limited, and for example, a metal material such as aluminum or stainless steel can be used. The metal material is a material having a relatively high thermal conductivity, and contributes to transferring the heat from the heating unit 3 to the substrate 201.

図2、図3に示すように、加熱手段3は、支持状態の基板201を、支持部22を介して加熱するものである。この加熱手段3は、本体部21の下側(本体部21の空間24と反対側)に配置されたハウジング31と、ハウジング31内に収納された電熱線32と、電熱線32に電気的に接続された交流電源33と、電熱線32と交流電源33との間に配置されたスイッチ34とを有している。
ハウジング31は、外形形状が円板状をなす中空体で構成されている。このハウジング31の直径は、ステージ2(本体部21)の直径と同じとなっている。また、ハウジング31の構成材料もステージ2の構成材料と同様のものを用いることができる。これにより、電熱線32で発生した熱をステージ2に確実に伝えることができる。
As shown in FIGS. 2 and 3, the heating unit 3 heats the substrate 201 in a supported state via the support unit 22. The heating means 3 is electrically connected to the housing 31 disposed on the lower side of the main body 21 (the side opposite to the space 24 of the main body 21), the heating wire 32 accommodated in the housing 31, and the heating wire 32. A connected AC power supply 33 and a switch 34 disposed between the heating wire 32 and the AC power supply 33 are provided.
The housing 31 is configured by a hollow body whose outer shape is a disk shape. The diameter of the housing 31 is the same as the diameter of the stage 2 (main body portion 21). Also, the constituent material of the housing 31 can be the same as the constituent material of the stage 2. Thereby, the heat generated by the heating wire 32 can be reliably transmitted to the stage 2.

ハウジング31内には、螺旋状に巻回されたニクロム線等の発熱体で構成された電熱線32が収納されている。この電熱線32は、交流電源33により電圧が印加されると発熱することができる。これにより、前述したように支持状態の基板201を、ステージ2(支持部22)を介して確実に加熱することができる。また、加熱手段3は、図示しない温度調節機能を有する。
交流電源33は、例えば200Vの電圧を電熱線32に印加することができる。
また、スイッチ34は、電熱線32に対して電圧を印加する状態と、電圧印加を停止する状態とに切り換えるものである。
Housed in the housing 31 is a heating wire 32 composed of a heating element such as a nichrome wire wound spirally. The heating wire 32 can generate heat when a voltage is applied by the AC power source 33. Thereby, as described above, the substrate 201 in the support state can be reliably heated via the stage 2 (support portion 22). Moreover, the heating means 3 has a temperature adjusting function (not shown).
For example, the AC power supply 33 can apply a voltage of 200 V to the heating wire 32.
The switch 34 switches between a state where a voltage is applied to the heating wire 32 and a state where the voltage application is stopped.

ステージ2の上側には、加圧ローラー4が配置されている。加圧ローラー4は、支持状態の基板201にフィルム202を押し付けつつ、基板201上を水平に転動することができる(図2、図3参照)。これにより、加熱された基板201と、フィルム202とを確実に接合させることができる。なお、加圧ローラー4の転動は、図示しない駆動機構により行なわれる。この駆動機構としては、特に限定されず、例えば、モーター等を有する構成とすることができる。
また、加圧ローラー4は、図2、図3に示す構成で中実体で構成されているが、これに限定されず、中空体であってもよい。
A pressure roller 4 is disposed on the upper side of the stage 2. The pressure roller 4 can roll horizontally on the substrate 201 while pressing the film 202 against the substrate 201 in a supported state (see FIGS. 2 and 3). Thereby, the heated board | substrate 201 and the film 202 can be joined reliably. The pressure roller 4 is rolled by a driving mechanism (not shown). The drive mechanism is not particularly limited, and for example, a configuration having a motor or the like can be adopted.
Moreover, although the pressurization roller 4 is comprised with the solid body by the structure shown in FIG. 2, FIG. 3, it is not limited to this, A hollow body may be sufficient.

また、図1に示すように、加圧ローラー4の全長は、ステージ2の直径よりも大きいのが好ましい。これにより、一方向の走査で、フィルム202の裏側の面205全体を、基板201の表側の面203全体に確実に押し付けることができる。
加圧ローラー4の構成材料としては、特に限定されず、例えば、ステンレス鋼等のような比較的硬質の金属材料を用いるのが好ましい。これにより、フィルム202を基板201により確実に押し付けることができる。
Further, as shown in FIG. 1, the entire length of the pressure roller 4 is preferably larger than the diameter of the stage 2. Thus, the entire back surface 205 of the film 202 can be reliably pressed against the entire front surface 203 of the substrate 201 by scanning in one direction.
The constituent material of the pressure roller 4 is not particularly limited, and for example, it is preferable to use a relatively hard metal material such as stainless steel. Thereby, the film 202 can be reliably pressed by the substrate 201.

図1〜図3に示すように、吸引手段6は、ステージ2の支持部22に設けられた4つの吸引口61と、ポンプ(吸引ポンプ)62と、各吸引口61とポンプ62とを接続するチューブ63とを有している。
なお、図1に示すように、支持部22の上面221には、その周方向に沿って4本の溝222が形成されている。これらの溝222は、支持部22の周方向に沿って間隔を置いて互いに独立して配置され、支持状態の基板201により、上方から気密的に封止される。
As shown in FIGS. 1 to 3, the suction means 6 connects four suction ports 61 provided in the support portion 22 of the stage 2, a pump (suction pump) 62, and each suction port 61 and the pump 62. And a tube 63 to be used.
As shown in FIG. 1, four grooves 222 are formed on the upper surface 221 of the support portion 22 along the circumferential direction. These grooves 222 are arranged independently from each other at intervals along the circumferential direction of the support portion 22 and are hermetically sealed from above by the substrate 201 in a supported state.

そして、各溝222の底部に、それぞれ、1つの吸引口61が開口している。すなわち、各溝222の底部から本体部21の下面212(他方の面)までを1つずつの吸引口61が貫通して形成されている。
また、各吸引口61は、支持部22の周方向に沿って等間隔に配置されている。
吸引口61の形成数は、本実施形態では4つであるが、これに限定されず、例えば、1つ、2つ、3つまたは5つ以上であってもよい。
One suction port 61 is opened at the bottom of each groove 222. That is, one suction port 61 is formed so as to penetrate from the bottom of each groove 222 to the lower surface 212 (the other surface) of the main body 21.
Further, the suction ports 61 are arranged at equal intervals along the circumferential direction of the support portion 22.
The number of the suction ports 61 is four in the present embodiment, but is not limited thereto, and may be one, two, three, five or more, for example.

各吸引口61の下端部には、それぞれ、チューブ63が気密的に接続されている。このチューブ63は、硬質のものであってもよいし、軟質のもの、すなわち、可撓性を有するものであってもよい。
また、4本のチューブ63のうちの1本のチューブ63には、ポンプ62の近傍に、圧力計64が設置されている。この圧力計64により、チューブ63内の圧力を検出することができ、よって、ポンプ62による吸引力を把握することができる。
Tubes 63 are airtightly connected to the lower ends of the suction ports 61, respectively. The tube 63 may be a hard tube or a soft tube, that is, a tube having flexibility.
Further, a pressure gauge 64 is installed in the vicinity of the pump 62 in one of the four tubes 63. With this pressure gauge 64, the pressure in the tube 63 can be detected, and therefore the suction force by the pump 62 can be grasped.

そして、ポンプ62が作動することにより、支持状態の基板201を吸引口61を介してステージ2の本体部21側に吸引することができる。これにより、支持状態を確実に維持することができ、よって、当該支持状態の基板201が支持部22から不本意にズレてしまうのを確実に防止することができる。これにより、基板201とフィルム202とを正確に接合することができる。
このポンプ62としては、特に限定されず、例えば、真空ポンプを用いることができる。
Then, when the pump 62 is operated, the substrate 201 in a supported state can be sucked to the main body 21 side of the stage 2 through the suction port 61. Accordingly, the support state can be reliably maintained, and thus the substrate 201 in the support state can be reliably prevented from being unintentionally displaced from the support portion 22. Thereby, the board | substrate 201 and the film 202 can be joined correctly.
The pump 62 is not particularly limited, and for example, a vacuum pump can be used.

図1、図4に示すように、押圧手段5は、ステージ2の支持部22に設けられた4本の押圧ピン51を有している。
なお、支持部22には、隣接する溝222同士の間に、支持部22の上面221から本体部21の下面212までを貫通する貫通孔223が形成されている。各貫通孔223は、支持部22の周方向に沿って等間隔に配置されている。
As shown in FIGS. 1 and 4, the pressing means 5 has four pressing pins 51 provided on the support portion 22 of the stage 2.
Note that a through hole 223 that penetrates from the upper surface 221 of the support portion 22 to the lower surface 212 of the main body portion 21 is formed between the adjacent grooves 222 in the support portion 22. The through holes 223 are arranged at equal intervals along the circumferential direction of the support portion 22.

そして、各押圧ピン51は、それぞれ、円柱状をなす部材で構成され、貫通孔223に対し出没自在に挿入されている。この押圧ピン51の出没動作は、図示しない駆動機構により行なわれる。この駆動機構としては、特に限定されず、例えば、エアシリンダー等を有する構成とすることができる。
図4に示すように、吸引手段6の作動を停止し、支持状態の基板201に対する吸引を解除した状態で、各押圧ピン51がそれぞれ突出した際には、支持状態の基板201を支持部22から離間する方向に押圧することができる。これにより、接合体20を支持部22から剥離することができる。
Each pressing pin 51 is formed of a cylindrical member, and is inserted into the through hole 223 so as to be able to appear and retract. The pushing-in / out operation of the pressing pin 51 is performed by a driving mechanism (not shown). The drive mechanism is not particularly limited, and for example, a configuration having an air cylinder or the like can be adopted.
As shown in FIG. 4, when each pressing pin 51 protrudes in a state where the operation of the suction unit 6 is stopped and suction to the supported substrate 201 is released, the supported substrate 201 is supported by the support portion 22. Can be pressed in a direction away from the head. Thereby, the joined body 20 can be peeled from the support portion 22.

なお、押圧ピン51の上面511は、丸みを帯びているのが好ましい。
また、押圧ピン51の本数は、本実施形態では4本であるが、これに限定されず、例えば、1本、2本、3本または5本以上であってもよい。
押圧ピン51の構成材料としては、特に限定されず、例えば、ステンレス鋼等のような比較的硬質の金属材料を用いるのが好ましい。
Note that the upper surface 511 of the pressing pin 51 is preferably rounded.
Moreover, although the number of the pressing pins 51 is four in this embodiment, it is not limited to this, For example, one, two, three, or five or more may be sufficient.
The constituent material of the pressing pin 51 is not particularly limited. For example, it is preferable to use a relatively hard metal material such as stainless steel.

図2、図3に示すように、ガス供給手段7は、ステージ2の本体部21と支持部22と支持状態の基板201とで囲まれた空間24内にガスGを供給するものである。このガスGの供給により、前記空間24内の圧力が上昇する。これにより、支持状態の基板201は、前記空間24に臨む部分、すなわち、支持部22に支持されている部分以外の部分撓撓みが生じるのが防止される。そして、この状態でフィルム202を接合することにより、基板201の表側の面203とフィルム202の裏側の面205とが確実に接合される。   As shown in FIGS. 2 and 3, the gas supply means 7 supplies the gas G into a space 24 surrounded by the main body 21, the support 22, and the substrate 201 in a supported state. By supplying the gas G, the pressure in the space 24 increases. As a result, the substrate 201 in the supported state is prevented from being partially bent except for the portion facing the space 24, that is, the portion supported by the support portion 22. Then, by bonding the film 202 in this state, the front surface 203 of the substrate 201 and the back surface 205 of the film 202 are securely bonded.

ガス供給手段7は、空間24内にガスGを流入させる(供給する)4つの流入口71と、空間24内のガスGを流出させる(排出する)1つの流出口72と、ポンプ73と、各流入口71とポンプ73とを接続するチューブ74と、流出口72に接続されたチューブ75とを有している。また、4本のチューブ74のうちの1本のチューブ74には、ポンプ73の近傍にバルブ76と流量計77とが設置されている。また、チューブ75の途中には、バルブ78と圧力計79とが設置されている。   The gas supply means 7 includes four inflow ports 71 for introducing (supplying) the gas G into the space 24, one outflow port 72 for causing the gas G in the space 24 to flow out (discharge), a pump 73, It has a tube 74 that connects each inlet 71 and the pump 73, and a tube 75 that is connected to the outlet 72. One of the four tubes 74 is provided with a valve 76 and a flow meter 77 in the vicinity of the pump 73. Further, a valve 78 and a pressure gauge 79 are installed in the middle of the tube 75.

図2、図3に示すように、各流入口71は、それぞれ、ステージ2の本体部21にその厚さ方向に貫通して形成されている。また、各流入口71の上端開口部(上端)711は、空間24に向かって開口している、すなわち、支持状態の基板201の裏側の面204に臨んでいる。
流出口72も、流入口71と同様に、ステージ2の本体部21にその厚さ方向に貫通して形成されている。さらに、流出口72の上端開口部(上端)721も、空間24に向かって開口している、すなわち、支持状態の基板201の裏側の面204に臨んでいる。
接合装置1は、各流入口71と流出口72とが互いに異なる位置に設けられており、これらの位置関係、すなわち、各流入口71が流出口72よりも支持部22側に偏在していることに特徴を有する装置である。以下、この位置関係について具体的に説明する。
As shown in FIGS. 2 and 3, each inflow port 71 is formed through the main body portion 21 of the stage 2 in the thickness direction. Further, the upper end opening (upper end) 711 of each inflow port 71 opens toward the space 24, that is, faces the surface 204 on the back side of the substrate 201 in a supported state.
Similarly to the inflow port 71, the outflow port 72 is formed through the main body portion 21 of the stage 2 in the thickness direction. Furthermore, the upper end opening (upper end) 721 of the outlet 72 is also open toward the space 24, that is, faces the surface 204 on the back side of the substrate 201 in a supported state.
In the joining device 1, the inflow ports 71 and the outflow ports 72 are provided at different positions, and the positional relationship between them, that is, the inflow ports 71 are unevenly distributed on the support portion 22 side with respect to the outflow port 72. It is a device that has particular characteristics. Hereinafter, this positional relationship will be specifically described.

まず、図1〜図3に示すように、各流入口71は、それぞれ、支持部22の直近に配置されている。ここで、「直近」とは、流入口の中心712の位置が支持部22の内周部224から当該流入口712の直径の長さ以内のことを言う。
図1に示すように、流出口72は、本体部21の中心部に配置されている。各流入口71は、それぞれ、流出口72よりも外側で、本体部21の周方向に沿って等間隔に配置されている。
First, as shown in FIGS. 1 to 3, each inflow port 71 is arranged in the immediate vicinity of the support portion 22. Here, “nearest” means that the position of the center 712 of the inlet is within the length of the diameter of the inlet 712 from the inner peripheral portion 224 of the support portion 22.
As shown in FIG. 1, the outlet 72 is disposed at the center of the main body 21. The inflow ports 71 are arranged at equal intervals along the circumferential direction of the main body 21 on the outer side of the outflow port 72.

また、本体部21の平面視で、各流入口71の中心712と支持部22の内周部224との距離Lは、それぞれ、各流入口71の中心712と流出口72の中心722との距離Lよりも短い(図1参照)。
また、本体部21の平面視で、各流入口71は、各押圧ピン51と流出口72との間に配置されている。
Further, in a plan view of the main body 21, the distance L 2 between the center 712 of each inlet 71 and the inner peripheral part 224 of the support portion 22 is the center 712 of each inlet 71 and the center 722 of the outlet 72, respectively. shorter than the distance L 1 (see Figure 1).
Further, each inflow port 71 is disposed between each pressing pin 51 and the outflow port 72 in a plan view of the main body 21.

ところで、接合装置1のステージ2のように円板状をなす本体部と、円環状をなす支持部とを有するステージを備える従来の接合装置(例えば特開平3−204955号公報の第1図および第2図に示す構成の装置)では、基板の表面の温度分布は、図5に示すように、支持部に接している部分の温度が最も高く、本体部の中心側に行くに従って温度が低下していく傾向がある。なお、この従来の接合装置では、流入口と流出口との位置関係が接合装置1での流入口71と流出口72との位置関係と異なっている。
しかしながら、接合装置1では、基板201の表面の温度分布は、図5に示すように、基板201の面方向に沿って均一(一定)となっている。これは、前述したような流入口71と流出口72との位置関係の特徴が起因している。
By the way, the conventional joining apparatus (for example, FIG. 1 of Unexamined-Japanese-Patent No. 3-204955 and FIG. 1) provided with the stage which has the main-body part which makes a disk shape like the stage 2 of the joining apparatus 1, and the support part which makes an annular | circular shape. In the apparatus having the structure shown in FIG. 2, the temperature distribution on the surface of the substrate is highest at the portion in contact with the support portion as shown in FIG. There is a tendency to do. In this conventional joining device, the positional relationship between the inlet and the outlet is different from the positional relationship between the inlet 71 and the outlet 72 in the joining device 1.
However, in the bonding apparatus 1, the temperature distribution on the surface of the substrate 201 is uniform (constant) along the surface direction of the substrate 201 as shown in FIG. This is due to the characteristics of the positional relationship between the inlet 71 and the outlet 72 as described above.

接合装置1でも、支持状態の基板201の支持部22に当接している部分は、その温度が加熱手段3の作動によって上昇しそうであるが、各流入口71から流入するガスGにより冷却されて、当該温度上昇が確実に抑制される。この場合、各流入口71から流入するガスGの量を増加するのが好ましい。また、流入口71から流出口72に向かうガスGによって、基板201の温度がならされることとなる。その結果、基板201の表面は、フィルム202と接合可能な程に加熱され、その温度分布は、均一となる。
そして、この温度分布が均一な状態で、基板201にフィルム202を加圧ローラー4で押し付けることにより、基板201とフィルム202とを確実に均一に接合することができる、すなわち、基板201とフィルム202との間(接合部)に接合ムラ(接合強度の高低差)が生じるのが確実に防止される。
Even in the bonding apparatus 1, the temperature of the portion that is in contact with the support portion 22 of the substrate 201 in the support state is likely to increase due to the operation of the heating means 3, but is cooled by the gas G flowing from each inflow port 71. The temperature rise is reliably suppressed. In this case, it is preferable to increase the amount of gas G flowing from each inflow port 71. Further, the temperature of the substrate 201 is smoothed by the gas G traveling from the inlet 71 to the outlet 72. As a result, the surface of the substrate 201 is heated to such an extent that it can be bonded to the film 202, and the temperature distribution becomes uniform.
Then, the substrate 201 and the film 202 can be reliably bonded to each other by pressing the film 202 against the substrate 201 with the pressure roller 4 in a state where the temperature distribution is uniform, that is, the substrate 201 and the film 202. It is possible to reliably prevent the occurrence of unevenness of bonding (the difference in height of the bonding strength) between the two.

また、流入口71から流入されるガスGの総流入量は、流出口72から排出されるガスGの流出量(総流出量)以上であるのが好ましい。その量としては、空間24内の圧力を大気圧よりも高く設定して、よって、前述した基板201の撓みを確実に防止することができる程度とすることができる。
総流入量が流出量以上となるよう調整するには、流入側の流量計77が示す値を確認しつつバルブ76の開度を適宜調整するとともに、流出側の圧力計79が示す値を確認しつつバルブ78の開度を調整することにより、行なわれる。
Further, the total inflow amount of the gas G flowing from the inflow port 71 is preferably equal to or larger than the outflow amount (total outflow amount) of the gas G discharged from the outflow port 72. The amount can be set such that the pressure in the space 24 is set higher than the atmospheric pressure, so that the above-described bending of the substrate 201 can be reliably prevented.
In order to adjust the total inflow amount to be equal to or greater than the outflow amount, the opening of the valve 76 is appropriately adjusted while confirming the value indicated by the inflow side flow meter 77 and the value indicated by the outflow side pressure gauge 79 is confirmed. However, the adjustment is performed by adjusting the opening degree of the valve 78.

なお、流入口71の形成数(配置数)は、本実施形態では4つであるが、これに限定されず、例えば、1つ、2つ、3つまたは5つ以上であってもよい。また、流出口72の形成数(配置数)は、本実施形態では1つであるが、これに限定されず、例えば、2つ以上であってもよい。そして、いずれの場合でも、流入口71の形成数は、流出口72の形成数よりも多いのが好ましい。   In addition, although the formation number (arrangement number) of the inflow port 71 is four in this embodiment, it is not limited to this, For example, one, two, three, or five or more may be sufficient. Moreover, although the number of formation (arrangement number) of the outflow ports 72 is one in this embodiment, it is not limited to this, For example, two or more may be sufficient. In any case, the number of inflow ports 71 formed is preferably larger than the number of outflow ports 72 formed.

ポンプ73は、その作動により、各チューブ74を介して、当該チューブ74が接続された流入口71向かってガスGを送り出すことができるものである。このポンプ73としては、特に限定されず、例えば、ベーンポンプを用いることができる。
なお、ガスGは、空気(ドライエア)や窒素であるのが好ましい。また、ガスGの温度は、常温とするのが好ましい。
The pump 73 is capable of sending the gas G through each tube 74 toward the inlet 71 to which the tube 74 is connected. The pump 73 is not particularly limited, and for example, a vane pump can be used.
The gas G is preferably air (dry air) or nitrogen. Moreover, it is preferable that the temperature of the gas G is normal temperature.

各流入口71の下端部には、それぞれ、チューブ74が気密的に接続されている。また、流出口72の下端部には、チューブ75が気密的に接続されている。チューブ74、75は、それぞれ、硬質のものであってもよいし、軟質のもの、すなわち、可撓性を有するものであってもよい。なお、チューブ74、75は、それぞれ、加熱手段3の電熱線32を回避して配設されている。   A tube 74 is hermetically connected to the lower end of each inlet 71. A tube 75 is hermetically connected to the lower end of the outlet 72. Each of the tubes 74 and 75 may be a hard tube or a soft tube, that is, a tube having flexibility. The tubes 74 and 75 are disposed so as to avoid the heating wire 32 of the heating means 3.

以上、本発明の接合装置および接合体を図示の実施形態について説明したが、本発明は、これに限定されるものではなく、接合装置および接合体を構成する各部は、同様の機能を発揮し得る任意の構成のものと置換することができる。また、任意の構成物が付加されていてもよい。
また、加圧ローラーは、それ自体を加熱可能に構成されていてもよい。
As mentioned above, although the joining apparatus and joined body of this invention were demonstrated about embodiment of illustration, this invention is not limited to this, Each part which comprises a joining apparatus and a joined body exhibits the same function. It can be replaced with any configuration obtained. Moreover, arbitrary components may be added.
Moreover, the pressure roller may be configured to be capable of heating itself.

1……接合装置 2……ステージ 21……本体部 211……上面(一方の面) 212……下面(他方の面) 22……支持部 221……上面 222……溝 223……貫通孔 224……内周部 24……空間 3……加熱手段 31……ハウジング 32……電熱線 33……交流電源 34……スイッチ 4……加圧ローラー 5……押圧手段 51……押圧ピン 511……上面 6……吸引手段 61……吸引口 62……ポンプ(吸引ポンプ) 63……チューブ 64……圧力計 7……ガス供給手段 71……流入口 711……上端開口部(上端) 712……中心 72……流出口 721……上端開口部(上端) 722……中心 73……ポンプ 74、75……チューブ 76……バルブ 77……流量計 78……バルブ 79……圧力計 20……接合体 201……基板 202……フィルム 203……表側の面(上面) 204、205……裏側の面(下面) G……ガス L、L……距離 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Joining device 2 ... Stage 21 ... Main part 211 ... Upper surface (one surface) 212 ... Lower surface (the other surface) 22 ... Support part 221 ... Upper surface 222 ... Groove 223 ... Through-hole 224 …… Inner circumference 24 …… Space 3 …… Heating means 31 …… Housing 32 …… Heating wire 33 …… AC power supply 34 …… Switch 4 …… Pressure roller 5 …… Pressing means 51 …… Pressing pin 511 …… Top surface 6 …… Suction means 61 …… Suction port 62 …… Pump (suction pump) 63 …… Tube 64 …… Pressure gauge 7 …… Gas supply means 71 …… Inlet 711 …… Upper end opening (upper end) 712 ... Center 72 ... Outlet 721 ... Upper end opening (upper end) 722 ... Center 73 ... Pump 74, 75 ... Tube 76 ... Valve 77 ... Flow meter 78 ... Valve 79 ... Pressure gauge 20 …… Joint 01 ...... substrate 202 ...... film 203 ...... front surface (upper surface) 204, 205 ...... back surface (lower surface) G ...... Gas L 1, L 2 ...... distance

Claims (16)

可撓性を有する基板と、樹脂材料で構成されたフィルムとを加熱により接合する接合装置であって、
板状をなす本体部と、前記本体部の一方の面から突出し、該本体部の周方向に沿ってリング状に形成され、前記基板に当接して該基板を支持する支持部とを有するステージと、
前記支持部で前記基板を支持した支持状態で、前記支持部を介して前記基板を加熱する加熱手段と
前記本体部と前記支持部と前記支持状態の基板とで囲まれた空間内にガスを供給するガス供給手段とを備え、
前記ガス供給手段は
前記支持状態の基板に対向するとともに前記空間に向かって開口する開口部を有し、前記支持状態の基板に向けて前記空間内にガスを流入させる流入口と、
前記流入口と異なる位置に設けられ、前記支持状態の基板に対向するとともに前記空間に向かって開口する開口部を有し、前記空間内から、該空間内のガスを流出させる流出口を有し、
前記流入口の開口部は、前記支持部の内周部に臨むように配置され、
前記流出口の開口部は、前記本体部の中心部に配置され、
前記流入口の開口部から流入した前記ガスは、前記支持部の内周部から前記本体部の中心部に向かって、前記支持状態の基板に沿って前記空間内を流れることを特徴とする接合装置。
A joining device that joins a flexible substrate and a film made of a resin material by heating,
Has a body portion which forms a plate, projecting from one surface of the main body portion, is formed in the circumferential direction of the body portion ring, and a support portion for supporting the contact with the substrate on the substrate Stage,
Heating means for heating the substrate via the support portion in a support state in which the substrate is supported by the support portion ;
And a gas supply means for supplying a gas in a space surrounded by the substrate of the support with said main body portion and the support portion,
It said gas supply means,
An inlet that faces the substrate in the supported state and has an opening that opens toward the space, and allows the gas to flow into the space toward the substrate in the supported state ;
An outlet that is provided at a position different from the inlet, has an opening that faces the substrate in the support state and opens toward the space, and allows the gas in the space to flow out from the space ; Have
The opening portion of the inflow port is disposed so as to face the inner peripheral portion of the support portion,
The opening of the outlet is disposed at the center of the main body,
The gas flowing in from the opening portion of the inflow port flows in the space along the substrate in the support state from the inner peripheral portion of the support portion toward the center portion of the main body portion. apparatus.
前記支持状態の基板の前記支持部に当接した部分の温度が、前記加熱手段の作動により上昇した際には、前記流入口から流入するガスの量を増加する請求項1に記載の接合装置。   The bonding apparatus according to claim 1, wherein the amount of gas flowing in from the inflow port is increased when the temperature of the portion in contact with the support portion of the substrate in the support state is increased by the operation of the heating means. . 前記本体部の平面視で、前記流入口の開口部と前記支持部の内周部との距離は、前記流入口の開口部と前記流出口の開口部との距離よりも短い請求項1または2のいずれかに記載の接合装置。 In a plan view of the body portion, the distance between the inner peripheral portion of the support portion and the inlet openings, the inlet of shorter than the distance between the opening of the outlet and the opening claim 1 or The joining apparatus according to any one of 2 above. 前記流入口の開口部の中心位置は、前記支持部の内周部から、前記流入口の開口部の直径の長さ以内に配置されている請求項1ないし3のいずれかに記載の接合装置。 Center position of the inlet openings, the from the inner periphery of the support portion, the bonding apparatus according to any one of claims 1 to 3 are arranged within the length of the diameter of the inlet openings . 前記流入口の開口部は、前記本体部の周方向に沿って等間隔に複数配置され
前記流出口の開口部は、前記流入口の開口部の配置数よりも少ない個数配置されている請求項1ないし4のいずれかに記載の接合装置。
A plurality of openings of the inflow port are arranged at equal intervals along the circumferential direction of the main body ,
The joining apparatus according to claim 1 , wherein the number of openings at the outlet is smaller than the number of openings at the inlet .
前記流入口および前記流出口は、それぞれ、前記本体部に貫通して形成されている請求項1ないし5のいずれかに記載の接合装置。 The joining device according to claim 1, wherein each of the inflow port and the outflow port is formed so as to penetrate through the main body portion. 前記流入口から流入されるガスの総流入量は、前記流出口から排出されるガスの総流出量以上である請求項1ないし6のいずれかに記載の接合装置。   The joining apparatus according to any one of claims 1 to 6, wherein a total inflow amount of gas flowing in from the inflow port is equal to or greater than a total outflow amount of gas discharged from the outflow port. 前記加熱手段は、前記本体部に対して、前記空間の反対側に配置された電熱線を有する請求項1ないし7のいずれかに記載の接合装置。   The joining apparatus according to claim 1, wherein the heating unit includes a heating wire disposed on the opposite side of the space with respect to the main body. 前記支持部は、前記本体部と一体的に形成されている請求項1ないし8のいずれかに記載の接合装置。   The joining device according to claim 1, wherein the support portion is formed integrally with the main body portion. 前記支持部に設けられ、前記支持状態の基板を前記支持部から離間する方向に押圧する押圧ピンを有する押圧手段をさらに備える請求項1ないし9のいずれかに記載の接合装置。 The joining apparatus according to claim 1, further comprising pressing means provided on the support portion and having a pressing pin that presses the substrate in the support state in a direction away from the support portion. 前記押圧ピンは、前記支持部の周方向に沿って前記流入口と同数配置されており、
前記本体部の平面視で、前記流入口は、前記押圧ピンと前記流出口との間に配置されている請求項10に記載の接合装置。
The pressing pins are arranged in the same number as the inflow ports along the circumferential direction of the support part,
The joining device according to claim 10, wherein the inflow port is disposed between the pressing pin and the outflow port in a plan view of the main body.
前記支持部に設けられ、前記支持状態の基板を前記本体部側に吸引する少なくとも1つの吸引口を有する吸引手段をさらに備える請求項1ないし11のいずれかに記載の接合装置。   The bonding apparatus according to claim 1, further comprising suction means provided on the support portion and having at least one suction port for sucking the substrate in the support state toward the main body portion. 可撓性を有する基板と、
樹脂材料で構成されたフィルムとを備えた接合体の製造方法であって
請求項1ないし12のいずれかに記載の接合装置によって前記基板と前記フィルムとが接合されたことを特徴とする接合体の製造方法
A flexible substrate;
A film made of a resin material, a method for producing a joined body having a
A method for manufacturing a joined body, wherein the substrate and the film are joined by the joining apparatus according to claim 1.
前記基板は、ウェハーである請求項13に記載の接合体の製造方法The method for manufacturing a joined body according to claim 13, wherein the substrate is a wafer. 前記流入口は、前記押圧ピンと対応するように配置されている請求項11に記載の接合装置。The joining apparatus according to claim 11, wherein the inflow port is disposed so as to correspond to the pressing pin. 前記支持部は、前記基板を支持する側に前記支持部の周方向に沿って各前記吸引口と連通する溝が配置されている請求項12に記載の接合装置。The bonding apparatus according to claim 12, wherein the support part is provided with a groove communicating with each of the suction ports along a circumferential direction of the support part on a side supporting the substrate.
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JP2911997B2 (en) * 1989-10-20 1999-06-28 日本電気株式会社 Tape sticking device for semiconductor wafer
JP3934246B2 (en) * 1997-10-27 2007-06-20 大日本スクリーン製造株式会社 Substrate cooling device and substrate cooling method
JP2001308033A (en) * 2000-04-18 2001-11-02 Lintec Corp Method for fixing wafer
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