JP6010967B2 - Inspection object receiver, inspection device, and inspection method - Google Patents

Inspection object receiver, inspection device, and inspection method Download PDF

Info

Publication number
JP6010967B2
JP6010967B2 JP2012075766A JP2012075766A JP6010967B2 JP 6010967 B2 JP6010967 B2 JP 6010967B2 JP 2012075766 A JP2012075766 A JP 2012075766A JP 2012075766 A JP2012075766 A JP 2012075766A JP 6010967 B2 JP6010967 B2 JP 6010967B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
surface portion
inspection
test
liquid
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2012075766A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2013205284A (en
Inventor
由美子 大鹿
由美子 大鹿
千里 吉村
千里 吉村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Brother Industries Ltd
Original Assignee
Brother Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Brother Industries Ltd filed Critical Brother Industries Ltd
Priority to JP2012075766A priority Critical patent/JP6010967B2/en
Publication of JP2013205284A publication Critical patent/JP2013205284A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6010967B2 publication Critical patent/JP6010967B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Description

この発明は、検査対象となる物質に対して化学的、医学的、生物学的な検査を行うための検査対象受体、検査方法および検査装置に関する。   The present invention relates to a test object receiver, a test method, and a test apparatus for performing chemical, medical, and biological tests on a substance to be tested.

近年、医療や健康、食品、創薬などの分野でDNA(Deoxyribo Nucleic Acid)や酵素、抗原、抗体、タンパク質、ウィルス、細胞などの生体物質、ならびに化学物質を検知、検出あるいは定量する重要性が増している。それら生体物質や化学物質などを簡便に測定できる様々なバイオチップおよびマイクロ化学チップなどのマイクロチップ(検査チップ)が提案されている。   In recent years, the importance of detecting, detecting or quantifying DNA (Deoxyribo Nucleic Acid), biological substances such as enzymes, antigens, antibodies, proteins, viruses, cells, and chemical substances in the fields of medicine, health, food, drug discovery, etc. It is increasing. Various biochips and microchips (inspection chips) such as microchemical chips that can easily measure such biological substances and chemical substances have been proposed.

マイクロチップは、内部に流体回路を有している。流体回路は、たとえば、液体試薬を保持する液体試薬保持部、血液など検査・分析の対象となる血液などの検体あるいは検体中の特定成分や液体試薬を計量するための計量部、検体や検体中の特定成分と、液体試薬とを混合する混合部、混合液について検査・分析をおこなうための検出部などの各部と、これら各部を適切に接続する微細な経路とから構成されている。   The microchip has a fluid circuit inside. The fluid circuit includes, for example, a liquid reagent holding unit for holding a liquid reagent, a sample such as blood to be tested and analyzed, a measuring unit for measuring a specific component or liquid reagent in the sample, a sample in the sample or sample, and the like. Each component such as a mixing unit that mixes a specific component and a liquid reagent, a detection unit that performs inspection and analysis of the mixed solution, and a fine path that appropriately connects these units.

具体的には、たとえば、マイクロチップでは血液中の血漿成分などを用いて各種検査をおこなうことがある。特許文献1では、流体経路内に注入された血液から遠心分離などによって血漿成分を分離・抽出し、計量をおこなう。計量された血漿と、液体試薬と混合部へ移動させて混合する。混合された検体を検出部へ移動させて、光学計測をおこなうマイクロチップが開示されている。   Specifically, for example, a microchip may perform various tests using plasma components in blood. In Patent Document 1, plasma components are separated and extracted from blood injected into a fluid path by centrifugation or the like, and measurement is performed. The measured plasma and the liquid reagent are moved to the mixing unit and mixed. A microchip for performing optical measurement by moving a mixed specimen to a detection unit is disclosed.

特開2009−258013号公報JP 2009-258013 A

しかしながら、上述した特許文献1に記載の技術では、マイクロチップに付与された遠心力によって検体を検出部へ導入し、検出部に光を照射する。混合部から検出部までの経路は、検体が通過することによって濡れるため、検体と、マイクロチップとの親和性によって、検出部において光を照射している間に検体が混合部へ逆流してしまうことがあるという問題が一例として挙げられる。検体が混合部へ逆流してしまうと、測定対象となる検体の分析を正確に実施できないこととなる。   However, in the technique described in Patent Document 1 described above, the specimen is introduced into the detection unit by the centrifugal force applied to the microchip, and the detection unit is irradiated with light. Since the path from the mixing unit to the detection unit gets wet when the sample passes, due to the affinity between the sample and the microchip, the sample flows back to the mixing unit while irradiating light in the detection unit. An example of this is the problem. If the sample flows back to the mixing unit, the sample to be measured cannot be accurately analyzed.

この発明は、上述した問題を解決するためになされたものであり、検査液体を測定する際、検査液体が前工程側へ逆流することを防ぎ、適切な検査をおこなうことができる検査対象受体提供することを目的とする。 This invention was made in order to solve the above-mentioned problem, and when a test liquid is measured, a test target receptacle that can prevent the test liquid from flowing back to the previous process side and perform an appropriate test. The purpose is to provide.

上述した課題を解決し、目的を達成するため、請求項1の発明の検査対象受体は、公転によって生じる遠心力と、自転によって保持される所定角度とに応じて検査対象となる検査液体を内部で移動させて検査する用途に用いられる検査対象受体であって、前記検査液体に対して、光学的測定を実施するための測定部と、前記遠心力によって内部を移動する前記検査液体を、前記測定部に流入させる案内流路と、前記測定部と、前記案内流路との間に、前記検査液体との接面を防止する濡れ防止部と、を備える。また、前記測定部は、前記案内流路との接続部位に対して、前記検査液体が流入される際に印加される遠心力が作用する方向であって、前記供給口から前記案内流路に向かう方向にある第一側面部と、前記第一側面部と接続され、前記検査液体について前記光学的測定を実施する際に重力方向にある底面部と、前記底面部と接続され、前記第一側面部と対向する第二側面部と、を備え、前記濡れ防止部は、前記第二側面部のうち、前記接続部位と前記底面部との間に、前記第一側面部から離れる方向に段差部を有すると共に、前記第二側面部のうち、前記接続部位と前記底面部との間に、前記段差部と接続され、前記第二側面部に凹部を有することを特徴とするIn order to solve the above-described problems and achieve the object, the inspection object receiver of the invention of claim 1 provides an inspection liquid to be inspected according to the centrifugal force generated by revolution and a predetermined angle held by rotation. A test object receiver used for an application to be inspected by being moved inside, a measuring unit for performing optical measurement on the test liquid, and the test liquid moving inside by the centrifugal force And a guide channel that flows into the measurement unit, and a wetting prevention unit that prevents a contact surface with the test liquid between the measurement unit and the guide channel . In addition, the measurement unit is in a direction in which a centrifugal force applied when the test liquid flows into the connection site with the guide channel, and is applied from the supply port to the guide channel. A first side surface portion that is in a direction toward the first surface portion, and a first bottom surface portion that is connected to the first side surface portion and is connected to the bottom surface portion that is in a gravitational direction when the optical measurement is performed on the test liquid; A second side surface portion that faces the side surface portion, and the wetting prevention portion has a step in a direction away from the first side surface portion between the connection site and the bottom surface portion of the second side surface portion. The second side surface portion is connected to the step portion between the connection site and the bottom surface portion, and the second side surface portion has a recess .

請求項の発明の検査対象受体は、上記発明において、前記濡れ防止部は、前記測定部内部における前記第二側面部に対して鋭角である前記段差部を有することを特徴とする。 According to a second aspect of the present invention, there is provided the inspection subject receiver, wherein the wetting prevention portion includes the step portion having an acute angle with respect to the second side surface portion in the measurement portion.

請求項の発明の検査対象受体は、上記発明において、前記第二側面部は、前記凹部の開口部の前記接続部位側の方が、前記開口部の前記底面部側の方よりも前記第一側面部に近い距離にあることを特徴とする。 The inspection object receptacle according to a third aspect of the present invention is the inspection object receiver according to the above invention, wherein the second side surface portion is closer to the connection site side of the opening of the recess than to the bottom surface side of the opening. It is a distance close to the first side surface portion.

請求項の発明の検査対象受体は、上記発明において、前記濡れ防止部は、前記凹部の重力方向に液受け部を備えることを特徴とする。 According to a fourth aspect of the present invention, there is provided the inspection subject receiver, wherein the wetting prevention portion includes a liquid receiving portion in a direction of gravity of the concave portion.

請求項1に記載の発明によれば、測定部と案内流路との間に、検査液体との接面を防止する濡れ防止部を備える構成であるため、測定部で検査液体の測定をおこなう際に、検査液体が前工程側へ逆流することを防止することができる。特に、検査対象受体と、親和性の高い検査液体の測定をおこなう場合であっても、逆流することはない。したがって、正確な測定を実施できるため、適切な検査をおこなうことができる。また、測定部と案内流路との接続部位から、測定部の底面までの間に設けられた段差部によって、濡れ防止部を構成する。したがって、簡易な構成によって、案内流路の接続部位から測定部に検査液体が流入される際、確実に濡れることのない濡れ防止部を設けることができ、検査液体の逆流を防ぐことができる。さらに、凹部によって、確実に検査液体との接面をしない濡れ防止部を設け、検査液体の逆流を防ぐことができる。 According to the first aspect of the present invention, since the wetting prevention unit that prevents the contact surface with the test liquid is provided between the measurement unit and the guide channel, the test unit measures the test liquid. In this case, it is possible to prevent the inspection liquid from flowing backward to the previous process side. In particular, even when measuring a test liquid having a high affinity with a test target receptacle, there is no backflow. Therefore, since an accurate measurement can be performed, an appropriate inspection can be performed. Further, the wetting prevention part is constituted by the step part provided between the connection part of the measurement part and the guide channel to the bottom surface of the measurement part. Therefore, with a simple configuration, it is possible to provide a wetting prevention unit that does not get wet reliably when the test liquid flows into the measurement unit from the connection portion of the guide flow path, thereby preventing the back flow of the test liquid. Furthermore, the concave portion can be provided with a wetting prevention portion that does not reliably contact the test liquid, thereby preventing backflow of the test liquid.

請求項に記載の発明によれば、段差部が測定部内部に対して鋭角であるため、確実に検査液体との接面をしない濡れ防止部によって、検査液体の逆流を防ぐことができる。 According to the second aspect of the present invention, since the step portion has an acute angle with respect to the inside of the measurement unit, the backflow of the test liquid can be prevented by the wetting prevention unit that does not reliably contact the test liquid.

請求項に記載の発明によれば、接続部位から底面に向かって第二側面部を介して検査液体が流入する場合があったとしても、確実に検査液体と接面しない部位を濡れ防止部として、検査液体の逆流を防ぐことができる。 According to the third aspect of the present invention, even if the inspection liquid may flow from the connection portion toward the bottom surface via the second side surface portion, the portion that does not come into contact with the inspection liquid is surely removed from the wetting prevention portion. As a result, the backflow of the test liquid can be prevented.

請求項に記載の発明によれば、さらに、凹部に逆流する検査液体を留保することができる。 According to invention of Claim 4 , the test | inspection liquid which flows back into a recessed part can be retained further.

以上説明したように、本発明にかかる検査対象受体よれば、検査液体を測定する際、測定部から検査液体が前工程の流路へ逆流することを防ぎ、適切な検査をおこなうことができるという効果を奏する。

As described above , according to the test object receptacle according to the present invention, when measuring the test liquid, it is possible to prevent the test liquid from flowing back from the measurement unit to the flow path of the previous process and perform an appropriate test. There is an effect that can be done.

本発明の実施形態の検査装置の一例を示す平面図である。It is a top view which shows an example of the test | inspection apparatus of embodiment of this invention. 本発明の実施形態の検査装置の一例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows an example of the test | inspection apparatus of embodiment of this invention. 本発明の実施形態の検査装置における角度調整機構の一例を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows an example of the angle adjustment mechanism in the test | inspection apparatus of embodiment of this invention. 本発明の実施形態の検査チップの一例を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows an example of the test | inspection chip of embodiment of this invention. 本発明の実施形態の検査装置の処理の内容を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the content of the process of the test | inspection apparatus of embodiment of this invention. 本発明の実施形態の検査装置による遠心力の印加によって、測定部へ検査液体が流出する工程の検査チップおよび検査液体の一例を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows an example of the test | inspection chip and test | inspection liquid of the process in which a test | inspection liquid flows out to a measurement part by application of the centrifugal force by the test | inspection apparatus of embodiment of this invention. 本発明の変形例における検査チップの形状の一例(その1)を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows an example (the 1) of the shape of the test | inspection chip in the modification of this invention. 本発明の変形例における検査チップの形状の一例(その2)を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows an example (the 2) of the shape of the test | inspection chip in the modification of this invention.

以下に添付図面を参照して、この発明にかかる検査対象受体、検査装置および検査方法の好適な実施の形態を詳細に説明する。   Exemplary embodiments of an inspection object receiver, an inspection apparatus, and an inspection method according to the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings.

(実施形態)
(検査装置の構成)
図1〜図3を用いて、本発明にかかる検査対象受体としての検査チップ内部に収容される検査対象となる検査液体に対して、所定の検査をおこなうために遠心力を印加する検査装置の概要について説明する。なお、本発明の実施形態では、検査液体として、血液など検査・分析の対象となる検体あるいは検体中の特定成分や液体試薬などを用いる場合について説明する。
(Embodiment)
(Configuration of inspection equipment)
1 to 3, an inspection apparatus that applies a centrifugal force to perform a predetermined inspection on an inspection liquid to be inspected contained in an inspection chip as an inspection object receiver according to the present invention. The outline of will be described. In the embodiment of the present invention, a case will be described in which a sample to be tested or analyzed, such as blood, a specific component in the sample, a liquid reagent, or the like is used as the test liquid.

図1は、本発明の実施形態の検査チップが定常状態にある検査装置の一例を示す側面図である。図2は、本発明の実施形態の検査チップが変位状態にある検査装置の一例を示す側面図である。図3は、本発明の実施形態の検査装置の一例を示す平面図である。なお、説明を簡略とするため、図1および図2に示す上部筐体300は仮想線で示し、図3では上部筐体300の天板が取り除かれた状態を示す。   FIG. 1 is a side view showing an example of an inspection apparatus in which an inspection chip according to an embodiment of the present invention is in a steady state. FIG. 2 is a side view showing an example of an inspection apparatus in which the inspection chip according to the embodiment of the present invention is in a displaced state. FIG. 3 is a plan view showing an example of the inspection apparatus according to the embodiment of the present invention. For simplicity, the upper casing 300 shown in FIGS. 1 and 2 is indicated by a virtual line, and FIG. 3 shows a state where the top plate of the upper casing 300 is removed.

検査装置100は、上部筐体300と、検査装置100の駆動を制御する駆動機構を備える下部筐体101と、駆動機構の制御によって垂直軸Lを中心として回転可能なターンテーブル102と、検査チップ400を内部に保持する箱状のホルダ103と、検査チップ400の保持角度を変更させる角度変更機構150と、検査装置100における遠心処理や計測処理などを制御する制御装置180とを備える。なお、図示の例は、検査装置100の説明のための概略を示すものであり、同等の機能を備える構成であれば各部位の寸法比率や詳細形状などはこれに限ることはない。   The inspection apparatus 100 includes an upper casing 300, a lower casing 101 that includes a drive mechanism that controls driving of the inspection apparatus 100, a turntable 102 that can be rotated about the vertical axis L by the control of the drive mechanism, and an inspection chip. A box-shaped holder 103 that holds 400 inside, an angle changing mechanism 150 that changes a holding angle of the inspection chip 400, and a control device 180 that controls centrifugal processing, measurement processing, and the like in the inspection device 100. In addition, the example of illustration shows the outline for description of the test | inspection apparatus 100, and if it is a structure provided with an equivalent function, the dimension ratio, detailed shape, etc. of each site | part will not be restricted to this.

検査装置100は、ホルダ103に保持される検査チップ400から離間した垂直軸Lを中心とした回転によって、検査チップ400に遠心力を付与する。また、検査装置100は、検査チップ400を水平軸Tまわりに回転させることによって、検査チップ400に付与される遠心力の方向である遠心方向を切り替えることができる。   The inspection apparatus 100 applies a centrifugal force to the inspection chip 400 by rotation about the vertical axis L that is separated from the inspection chip 400 held by the holder 103. Further, the inspection apparatus 100 can switch the centrifugal direction that is the direction of the centrifugal force applied to the inspection chip 400 by rotating the inspection chip 400 about the horizontal axis T.

ホルダ103は、たとえば、底板と上板と側壁とで外形が形成された箱状体である。具体的には、ホルダ103は、平面視長方形に形成された検査チップ400を内部に収納および保持できるように、検査チップ400より一回り大きい平面視長方形に形成された箱状の部材である。   The holder 103 is, for example, a box-shaped body having an outer shape formed by a bottom plate, an upper plate, and a side wall. Specifically, the holder 103 is a box-shaped member formed in a rectangular shape in plan view that is slightly larger than the test chip 400 so that the test chip 400 formed in rectangular shape in plan view can be stored and held therein.

検査装置100は、床面に設置され、下部筐体101内部にターンテーブル102を垂直軸Lまわりに回転させる駆動機構を備える。ターンテーブル102は、下部筐体101の上面側に設けられ、L型プレート151によってホルダ103を保持する円盤状の回転体である。具体的には、ターンテーブル102は、制御装置180から入力される制御信号にしたがって制御される駆動機構によって、垂直軸Lまわりに回転する。   The inspection apparatus 100 includes a drive mechanism that is installed on the floor and rotates the turntable 102 around the vertical axis L inside the lower housing 101. The turntable 102 is a disk-shaped rotating body that is provided on the upper surface side of the lower housing 101 and holds the holder 103 by an L-shaped plate 151. Specifically, the turntable 102 rotates around the vertical axis L by a driving mechanism controlled according to a control signal input from the control device 180.

角度変更機構150は、ターンテーブル102に設けられたホルダ103を、水平軸Tまわりに回転させる駆動機構である。具体的には、角度変更機構150は、ターンテーブル102の上面に固定された一対のL字型板状の連結金具であるL型プレート151を有する。L型プレート151は、ターンテーブル102の中心近傍に固定された基部から上方に延設され、上端部がターンテーブル102の径方向外側に延設されている。   The angle changing mechanism 150 is a drive mechanism that rotates the holder 103 provided on the turntable 102 around the horizontal axis T. Specifically, the angle changing mechanism 150 includes an L-shaped plate 151 that is a pair of L-shaped plate-shaped connecting fittings fixed to the upper surface of the turntable 102. The L-shaped plate 151 extends upward from a base portion fixed near the center of the turntable 102, and an upper end portion extends outward in the radial direction of the turntable 102.

L型プレート151の間には、内軸104に固定されたラックギア152が設けられている。ラックギア152は、縦長の金属製の板状部材であり、両端面にギアが各々刻まれている。なお、L型プレート151を一対設けることとして説明したが、これに限ることはない。具体的には、1つ以上であればよく、複数対であってもよい。対とすることで、回転時にバランスをとることができる。   A rack gear 152 fixed to the inner shaft 104 is provided between the L-shaped plates 151. The rack gear 152 is a vertically long metal plate-like member, and gears are carved on both end faces. In addition, although demonstrated as providing the L type | mold plate 151 as a pair, it does not restrict to this. Specifically, it may be one or more and may be a plurality of pairs. By making a pair, it is possible to achieve a balance during rotation.

L型プレート151の延設方向の先端側では、ギア153によって水平軸Tを中心にホルダ103を回転自在に保持している。ギア153と、ラックギア152との間には、L型プレート151によって支持されたピニオンギア154が介在している。ピニオンギア154は、ギア153およびラックギア152にそれぞれ噛合している。   At the leading end side in the extending direction of the L-shaped plate 151, the holder 103 is rotatably held around the horizontal axis T by a gear 153. A pinion gear 154 supported by an L-shaped plate 151 is interposed between the gear 153 and the rack gear 152. The pinion gear 154 meshes with the gear 153 and the rack gear 152, respectively.

ラックギア152の上端部には、柱状のガイド部材155が設けられている。ガイド部材155は、上下方向に摺動可能に保持されている。ラックギア152の上下動に連動して、ピニオンギア154、ギア153がそれぞれ従動回転することで、ホルダ103が水平軸Tを中心に回転する。   A columnar guide member 155 is provided at the upper end of the rack gear 152. The guide member 155 is held so as to be slidable in the vertical direction. The holder 103 rotates about the horizontal axis T as the pinion gear 154 and the gear 153 rotate in conjunction with the vertical movement of the rack gear 152.

本発明の実施形態では、制御装置180による制御にしたがって、駆動機構によってターンテーブル102を回転駆動するのに伴い、検査チップ400を保持したホルダ103が垂直軸Lを中心とした回転である公転をする。検査チップ400には、公転によって遠心力が付与される。   In the embodiment of the present invention, the holder 103 holding the inspection chip 400 rotates around the vertical axis L as the turntable 102 is rotationally driven by the drive mechanism according to the control by the control device 180. To do. Centrifugal force is applied to the inspection chip 400 by revolution.

制御装置180による制御にしたがって、角度変更機構150によってガイド部材155を摺動するのに伴い、ラックギア152、ピニオンギア154、ギア153が従動回転し、検査チップ400を保持したホルダ400が水平軸Tを中心とした回転である自転をする。自転によって、検査チップ400に作用する遠心方向が相対変化する。   As the guide member 155 is slid by the angle changing mechanism 150 according to the control by the control device 180, the rack gear 152, the pinion gear 154, and the gear 153 are driven to rotate, and the holder 400 holding the inspection chip 400 is moved to the horizontal axis T. Rotate around the center of rotation. Due to the rotation, the centrifugal direction acting on the test chip 400 changes relatively.

検査装置100は、ターンテーブル102および角度回転機構150による検査チップ400の公転および自転によって印加される遠心力によって、検査チップ400内部の流体回路に収容された検査液体に対して、各部への移動、複数の相に分離する遠心分離、薬剤との混合、希釈、定量、保持、各種測定などがおこなわれる。   The inspection apparatus 100 moves to each part with respect to the inspection liquid stored in the fluid circuit inside the inspection chip 400 by the centrifugal force applied by the revolution and rotation of the inspection chip 400 by the turntable 102 and the angle rotation mechanism 150. Centrifugal separation into a plurality of phases, mixing with a drug, dilution, quantification, retention, various measurements, etc. are performed.

本発明の実施形態において、ホルダ103の状態を説明するため、図示の下方向である重力方向となす角度である自転角度として説明する。図1に示すように、ラックギア152が可動範囲の最下端まで下降した状態であるとき、ホルダ103は、自転角度が0度である定常状態となる。なお、本発明の実施形態では、水平軸Tまわりに自転する構成としたが、これに限ることはない。具体的には、各ホルダ103について垂直軸Lと平行な軸まわりに自転して遠心方向を変更させる構成としてもよい。   In the embodiment of the present invention, in order to describe the state of the holder 103, it will be described as a rotation angle that is an angle formed with the gravitational direction that is the downward direction in the figure. As shown in FIG. 1, when the rack gear 152 is lowered to the lowest end of the movable range, the holder 103 is in a steady state where the rotation angle is 0 degree. In the embodiment of the present invention, the structure rotates around the horizontal axis T. However, the present invention is not limited to this. Specifically, a configuration may be adopted in which each holder 103 rotates around an axis parallel to the vertical axis L to change the centrifugal direction.

図2に示すように、ラックギア152が可動範囲の最上端まで上昇した状態であるとき、ホルダ103は、自転角度が90度である変位状態となる。具体的には、変位状態では、ホルダ103は、定常状態から水平軸Tまわりに90度回転した状態である。   As shown in FIG. 2, when the rack gear 152 is in the state of being raised to the uppermost end of the movable range, the holder 103 is in a displacement state in which the rotation angle is 90 degrees. Specifically, in the displaced state, the holder 103 is rotated 90 degrees around the horizontal axis T from the steady state.

すなわち、ホルダ103が自転可能な角度幅である自転可能範囲は、定常状態の0度から、変位状態の90度までとなる。なお、本発明の実施形態では、自転可能範囲を0度から90度として説明するが、これに限ることはなく、検査内容に応じた検査チップ400内での検査液体の移動方向に基づいて定められることとしてもよい。なお、本発英の実施形態では、図1および図2で示したホルダ103のうち、紙面右側のホルダ103について説明する。具体的には、自転角度が0度から90度方向に回転する場合は、反時計回りとし、90度から0度方向に回転する場合は時計回りとして説明する。   In other words, the range in which the holder 103 can rotate is an angular width in which the holder 103 can rotate from 0 degrees in the steady state to 90 degrees in the displaced state. In the embodiment of the present invention, the rotation range is described as 0 to 90 degrees, but is not limited to this, and is determined based on the moving direction of the test liquid in the test chip 400 according to the test content. It may be done. In the embodiment of the present invention, among the holders 103 shown in FIGS. 1 and 2, the holder 103 on the right side of the drawing will be described. Specifically, when the rotation angle rotates from 0 degrees to 90 degrees, it is assumed to be counterclockwise, and when it rotates from 90 degrees to 0 degrees, it is described as clockwise.

上部筐体300は、下部筐体101の上側に固定されており、検査チップ400に収容された検査液体を光学的に計測する計測部310が内部に設けられている。計測部310は、制御装置180から入力される制御信号にしたがって、検査液体に対して光学的計測をおこなう。   The upper housing 300 is fixed to the upper side of the lower housing 101, and a measuring unit 310 that optically measures the test liquid contained in the test chip 400 is provided therein. The measuring unit 310 performs optical measurement on the test liquid in accordance with a control signal input from the control device 180.

詳細には、上部筐体300は、ターンテーブル102の回転中心である垂直軸Lに対して、ホルダ103が回転される範囲の外側に設けられている。上部筐体300は、ターンテーブル102の外周側において平面視で円弧上に延びる対向壁321を有する。   Specifically, the upper casing 300 is provided outside the range in which the holder 103 is rotated with respect to the vertical axis L that is the rotation center of the turntable 102. The upper housing 300 has an opposing wall 321 that extends on an arc in a plan view on the outer peripheral side of the turntable 102.

上部筐体300に設けられた計測部310は、計測位置となる所定位置でホルダ103交差する方向に延びる光を、計測対象となる検査チップ400に透過させることで、検査チップ400内の検査液体を計測する。   The measurement unit 310 provided in the upper housing 300 transmits light extending in a direction intersecting the holder 103 at a predetermined position serving as a measurement position to the inspection chip 400 to be measured, thereby allowing the inspection liquid in the inspection chip 400 to be transmitted. Measure.

計測部310は、発光部313によって計測光を発する光源311と、受光部314によって光源311から発せられた計測光を検出する光センサ312とを有する。なお、本発明の実施形態では、検査チップ400を透過した計測光を計測することとして説明するが、これに限ることはなく、反射する計測光を計測することとしてもよい。   The measurement unit 310 includes a light source 311 that emits measurement light by the light emitting unit 313 and an optical sensor 312 that detects measurement light emitted from the light source 311 by the light receiving unit 314. In the embodiment of the present invention, the measurement light transmitted through the inspection chip 400 is described as being measured. However, the present invention is not limited to this, and the reflected measurement light may be measured.

光源311および光センサ312は、ホルダ103の回転範囲の外側に配置されている。光源311と、光センサ312とを結ぶ光路の高さ位置は、定常状態であるホルダ103を基準として、ホルダ103に保持される検査チップ400における計測対象となる検査液体が収容される部位の高さ位置に応じて設定される。   The light source 311 and the optical sensor 312 are arranged outside the rotation range of the holder 103. The height position of the optical path connecting the light source 311 and the optical sensor 312 is based on the height of the portion of the test chip 400 held by the holder 103 that stores the test liquid to be measured with reference to the holder 103 in a steady state. It is set according to the position.

検査装置100の外部に接続された制御装置180は、計測部310によって計測された計測光に基づいて各種測定をおこなう。すなわち、制御装置180は、図示しないCPU、RAM、ROMなどを内蔵して、検査チップ400が保持された検査装置100における公転や自転を制御して、各種測定をおこなう。   The control device 180 connected to the outside of the inspection device 100 performs various measurements based on the measurement light measured by the measurement unit 310. That is, the control device 180 incorporates a CPU, RAM, ROM, and the like (not shown), and controls revolutions and rotations in the inspection device 100 that holds the inspection chip 400 to perform various measurements.

制御装置180は、利用者が検査装置100の各種動作を指示するための操作部を備えている。本発明の実施形態では、制御装置180を外部接続することとしたが、これに限ることはなく、制御装置180の機能を検査装置100内部に備えることとしてもよい。   The control device 180 includes an operation unit for a user to instruct various operations of the inspection device 100. In the embodiment of the present invention, the control device 180 is externally connected. However, the present invention is not limited to this, and the function of the control device 180 may be provided inside the inspection device 100.

なお、図1〜図3を用いて説明した本発明の実施形態では、下部筐体101の上面側に円盤状のターンテーブル102を備えることとして説明したが、これに限ることはない。すなわち、検査チップ400に遠心力を印加できる構成であればよく、筐体やターンテーブル102の形状は限定することはない。また、ホルダ103は、ターンテーブル102の円周近傍に一対設けることとしたが、これに限ることはない。すなわち、一つであったり複数であったりしてもよく、検査チップ400に所望の遠心力を印加できる配置であればよい。   In the embodiment of the present invention described with reference to FIGS. 1 to 3, the disk-like turntable 102 is provided on the upper surface side of the lower housing 101. However, the present invention is not limited to this. That is, any configuration that can apply a centrifugal force to the inspection chip 400 is acceptable, and the shape of the housing and the turntable 102 is not limited. Further, although the holder 103 is provided in a pair near the circumference of the turntable 102, the present invention is not limited to this. That is, it may be one or plural, and any arrangement that can apply a desired centrifugal force to the inspection chip 400 may be used.

(検査チップ400の構成)
図4を参照して、本発明の実施形態の検査チップ400の構成について説明する。図4は、本発明の実施形態の検査チップの内部構造の一例を示す説明図である。図4では、図1〜3に示した検査装置100に検査チップ400を設置する場合における検査チップ400の平面視について説明する。
(Configuration of inspection chip 400)
With reference to FIG. 4, the structure of the test | inspection chip 400 of embodiment of this invention is demonstrated. FIG. 4 is an explanatory diagram showing an example of the internal structure of the test chip according to the embodiment of the present invention. 4, a plan view of the inspection chip 400 when the inspection chip 400 is installed in the inspection apparatus 100 shown in FIGS.

図4において、検査チップ400は、平面視長方形で所定の厚みを有する板部材から構成されており、所定の検査の対象となる検査液体について収容、移動、測定などを実行するための流体回路を備えている。板部材の材質は、たとえば、ポリスチレン(PS)、ポリプロピレン(PP)、ポリエチレン(PE)、ポリエチレンテレフタラート(PET)、ポリブチレンテレフタラート(PBT)、ポリメチルメタクリレート(PMMA)、ポリカーボネート(PC)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリアリレート樹脂(PAR)、アクリロニトル・ブタジエン・スチレン樹脂(ABS)、塩化ビニル樹脂(PVC)、ポリメチルペンテン樹脂(PMP)、ポリブタジエン樹脂(PBD)、生分解性ポリマー(BP)、シクロオレフィンポリマー(COP)、ポリジメチルシロキサン(PDMS)などの有機材料や、シリコン、ガラス、石英などの無機材料など特に制限されない。   In FIG. 4, a test chip 400 is composed of a plate member that is rectangular in plan view and has a predetermined thickness, and is a fluid circuit for storing, moving, and measuring a test liquid that is a target of a predetermined test. I have. Examples of the material of the plate member include polystyrene (PS), polypropylene (PP), polyethylene (PE), polyethylene terephthalate (PET), polybutylene terephthalate (PBT), polymethyl methacrylate (PMMA), polycarbonate (PC), Polyethylene naphthalate (PEN), polyarylate resin (PAR), acrylonitrile butadiene styrene resin (ABS), vinyl chloride resin (PVC), polymethylpentene resin (PMP), polybutadiene resin (PBD), biodegradable polymer ( There are no particular restrictions on organic materials such as BP), cycloolefin polymer (COP), and polydimethylsiloxane (PDMS), and inorganic materials such as silicon, glass, and quartz.

また、検査チップ400は、図4における紙面手前側である検査チップ400の表面側は、内部に検査液体を保持するために上カバー401流体回路を覆う構成となっている。なお、検査チップ400の流体回路は、説明のための概略を示すものであり、特に記載のない限り各部位の寸法比率や容量などはこれに限ることはない。   Further, the inspection chip 400 has a configuration in which the surface side of the inspection chip 400 which is the front side of the sheet in FIG. 4 covers the upper cover 401 fluid circuit in order to hold the inspection liquid therein. In addition, the fluid circuit of the test | inspection chip 400 shows the outline for description, and unless otherwise indicated, the dimension ratio of each part, a capacity | capacitance, etc. are not restricted to this.

検査チップ400は、板部材の厚み方向における所定深さの凹部からなる検査チップ400内部の流体回路として、注入口420から注入される検査液体を一時保持する供給部410と、供給部410の供給口411から供給される検査液体を定量する定量部430と、定量部420に供給される検査液体のうち余剰分を貯留可能な貯留部470と、定量部430で定量された検査液体に対して、次工程として所定の測定を実施するために収容可能な測定部450と、定量部430から測定部450への検査液体の移動経路となる第一案内経路440と、定量部430から貯留部470への検査液体の移動経路となる第二案内経路460と、を備えている。   The inspection chip 400 is a fluid circuit inside the inspection chip 400 formed of a recess having a predetermined depth in the thickness direction of the plate member. The supply unit 410 temporarily holds the inspection liquid injected from the injection port 420 and the supply of the supply unit 410. For the quantification unit 430 that quantifies the test liquid supplied from the mouth 411, the storage unit 470 that can store the surplus of the test liquid supplied to the quantification unit 420, and the test liquid quantified by the quantification unit 430 As a next process, a measurement unit 450 that can be accommodated for carrying out a predetermined measurement, a first guide path 440 that serves as a movement path of the test liquid from the determination unit 430 to the measurement unit 450, and a storage unit 470 from the determination unit 430 And a second guide path 460 serving as a movement path of the inspection liquid to the.

なお、本発明の実施形態では、測定部450で、定量部430から流入される検査液体の分析をおこなうために光学的に計測をおこなうこととして説明するが、これに限ることはない。具体的には、たとえば、測定部450までの経路に、混合、分析、遠心分離、希釈、保持などの各種工程を実施するため部位があってもよいし、測定部450で分析以外の各種工程を実施することとしてもよい。   In the embodiment of the present invention, the measurement unit 450 is described as performing optical measurement in order to analyze the test liquid flowing in from the quantification unit 430, but is not limited thereto. Specifically, for example, there may be a site for performing various processes such as mixing, analysis, centrifugation, dilution, and retention in the path to the measurement unit 450, or various processes other than the analysis by the measurement unit 450. It is good also as implementing.

利用者などによって、注入口420から供給部410に検査液体が注入された検査チップ400は、角度変更機構150の制御による自転によって所定角度に保持され、ターンテーブル102上における公転によって遠心力が印加される。検査液体は、検査チップ400内において印加された遠心力によって、供給口411から定量をおこなうための定量部430へ供給される。なお、特に図示はしないが、検査液体を注入した後、注入口420は必要に応じてフィルムなどによってシールすることとしてもよい。   The inspection chip 400 in which the inspection liquid is injected from the injection port 420 into the supply unit 410 by a user or the like is held at a predetermined angle by rotation by the control of the angle changing mechanism 150, and centrifugal force is applied by revolution on the turntable 102. Is done. The inspection liquid is supplied from the supply port 411 to the quantification unit 430 for performing quantification by the centrifugal force applied in the inspection chip 400. Although not particularly illustrated, the injection port 420 may be sealed with a film or the like as necessary after the inspection liquid is injected.

具体的には、検査液体は、供給口11から流出され、定量部430と第一案内経路440との接続部位と、定量部430と第二案内経路460との接続部位とからなる開口を通過して定量部430内部の壁面の任意の方向に向かって供給される。   Specifically, the test liquid flows out from the supply port 11 and passes through an opening formed by a connection part between the quantitative unit 430 and the first guide path 440 and a connection part between the quantitative unit 430 and the second guide path 460. And it supplies toward the arbitrary directions of the wall surface inside fixed_quantity | quantitative_assay part 430.

供給部410から、定量部430に検査液体が供給されると、検査装置100は、制御装置180の制御にしたがって、定量部430に供給された検査液体の定量をおこなう。定量部430において定量をおこなう遠心力は、開口と垂直な方向であればよく、角度変更機構150の制御による検査チップ400の自転で保持される所定角度によって調整される。   When the inspection liquid is supplied from the supply unit 410 to the quantification unit 430, the inspection apparatus 100 quantifies the inspection liquid supplied to the quantification unit 430 according to the control of the control device 180. The centrifugal force for quantifying in the quantifying unit 430 may be in a direction perpendicular to the opening, and is adjusted by a predetermined angle held by the rotation of the inspection chip 400 under the control of the angle changing mechanism 150.

定量部430に対する検査液体の供給の際や、定量部430における定量の際に余剰となる検査液体は、第二案内経路460を経由して貯留部470へ流出する。遠心力の方向を変更させると、定量部430によって定量された検査液体は、第一案内経路440を経由して異なる部屋である測定部450へ流出する。具体的には、角度変更機構150の制御による検査チップ400の自転によって保持される所定角度と、ターンテーブル102上における公転によって印加される遠心力とに応じて、検査液体の流出がなされる。   When the test liquid is supplied to the quantification unit 430 or when the quantification is performed in the quantification unit 430, the excess test liquid flows out to the storage unit 470 via the second guide path 460. When the direction of the centrifugal force is changed, the test liquid quantified by the quantification unit 430 flows out to the measurement unit 450, which is a different room, via the first guide path 440. Specifically, the inspection liquid flows out according to a predetermined angle held by the rotation of the inspection chip 400 under the control of the angle changing mechanism 150 and the centrifugal force applied by the revolution on the turntable 102.

ここで、図6を用いて測定部450の構成について説明する。図6は、本発明の実施形態の検査装置による遠心力の印加によって、測定部へ検査液体が流入する工程の検査チップおよび検査液体の一例を示す説明図である。図6において、測定部450は、第一側面部621と、底面部622と、第二側面部623とによって区画されている。具体的には、第一側面部621および第二側面部623は、底面部622の両端からほぼ平行に延設さている。   Here, the structure of the measurement part 450 is demonstrated using FIG. FIG. 6 is an explanatory diagram illustrating an example of a test chip and a test liquid in a process in which the test liquid flows into the measurement unit by applying a centrifugal force by the test apparatus according to the embodiment of the present invention. In FIG. 6, the measurement unit 450 is partitioned by a first side surface part 621, a bottom surface part 622, and a second side surface part 623. Specifically, the first side surface portion 621 and the second side surface portion 623 extend substantially in parallel from both ends of the bottom surface portion 622.

第一側面部621は、第一案内経路440と、第二側面部623との接続部位624に対して、検査液体610が流入される際に印加される遠心力601の方向の区画面である。第二側面部623は、第一側面部621と対向した面で、底面部622の第一案内経路440側に設けられている。検査液体610は、たとえば、遠心力によって底面部622へ移動したり、定常状態とした場合に図6における下方向である重力によって底面部622へ移動したりする構成である。   The first side surface portion 621 is a section screen in the direction of the centrifugal force 601 applied when the test liquid 610 flows into the connection site 624 between the first guide path 440 and the second side surface portion 623. . The second side surface portion 623 is a surface facing the first side surface portion 621, and is provided on the first guide path 440 side of the bottom surface portion 622. For example, the test liquid 610 is configured to move to the bottom surface portion 622 by a centrifugal force, or to move to the bottom surface portion 622 by gravity in the downward direction in FIG.

測定部450の上方に延設される第二側面部623は、第一側面部621と対向し、接続部位624と、底面部622とを接続する区画面である。第二側面部623は、測定部450へ検査液体610が流入される際に、検査液体610と接面しない濡れ防止部650を有している。濡れ防止部650は、第二側面部623における接続部位624より底面部622側の少なくとも一部である。   The second side surface portion 623 extending above the measurement unit 450 is a section screen that faces the first side surface portion 621 and connects the connection portion 624 and the bottom surface portion 622. The second side surface portion 623 has a wetting prevention portion 650 that does not come into contact with the inspection liquid 610 when the inspection liquid 610 flows into the measurement portion 450. The wetting prevention part 650 is at least part of the bottom surface part 622 side of the connection part 624 in the second side surface part 623.

濡れ防止部650は、第二側面部623のうち、接続部位624と底面部622との間に第一側面部621から離れる方向に段差部625を有する。濡れ防止部650の段差部625は、測定部450内部に対し、第二側面部623と、段差部625とがなす内部角θ1を有する。内部角θ1は、好ましくは90度よりも小さい構成である。したがって、接続部位624から底面部622に対して検査液体610が第二側面部623を介して漏れ伝わる場合であっても、少なくとも第二側面部623における段差部625は、検査液体610が接面しない部位となる。   The wetting prevention portion 650 has a step portion 625 in the direction away from the first side surface portion 621 between the connection site 624 and the bottom surface portion 622 in the second side surface portion 623. The step portion 625 of the wetting prevention portion 650 has an internal angle θ1 formed by the second side surface portion 623 and the step portion 625 with respect to the inside of the measurement unit 450. The internal angle θ1 is preferably smaller than 90 degrees. Therefore, even when the inspection liquid 610 leaks from the connection portion 624 to the bottom surface portion 622 via the second side surface portion 623, at least the step portion 625 in the second side surface portion 623 is in contact with the inspection liquid 610. It becomes a part that does not.

なお、本発明の実施形態では、検査液体は、血液などの検体や、薬剤などの試料や、混合液体などであってもよく、所望の検査に応じて利用者によって適宜選択可能である。また、検査チップ400は、供給部410や、定量部430や、貯留部470や、測定部450など、各部位の数量や経由する経路の数量なども所望の検査に応じて適宜設定可能としてもよい。また、検査チップ400は、所望の検査に応じて、他の液体との混合、分析、遠心分離、希釈、保持などの各種工程を実施する部位を有する構成としてもよい。   In the embodiment of the present invention, the test liquid may be a specimen such as blood, a sample such as a drug, a mixed liquid, and the like, and can be appropriately selected by a user according to a desired test. Further, the inspection chip 400 may be configured such that the quantity of each part and the number of routes through the supply unit 410, the quantitative unit 430, the storage unit 470, the measurement unit 450, and the like can be appropriately set according to a desired test. Good. Moreover, the test | inspection chip 400 is good also as a structure which has a site | part which implements various processes, such as mixing with another liquid, analysis, centrifugation, dilution, and holding, according to a desired test | inspection.

(検査装置100の処理の内容)
図5、図6を用いて、本発明の実施形態の検査装置の処理の内容について説明する。図5は、本発明の処理の内容を示すフローチャートである。なお、本発明の実施形態においては、供給部410、供給口411、定量部430、貯留部470などにおける検査液体については説明を省略し、定量部430によって定量された検査液体が測定部450へ流入する場合について説明する。
(Contents of processing of inspection apparatus 100)
The contents of the processing of the inspection apparatus according to the embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 5 is a flowchart showing the contents of the processing of the present invention. In the embodiment of the present invention, the description of the test liquid in the supply unit 410, the supply port 411, the quantification unit 430, the storage unit 470, etc. is omitted, and the test liquid quantified by the quantification unit 430 is transferred to the measurement unit 450. A case of inflow will be described.

図5のフローチャートにおいて、まず、検査装置100の処理前に、利用者は、注入口420から検査チップ400内部の供給部410へ検査液体を注入する(ステップS501)。ステップS501において、検査液体の注入が完了すると、利用者は、ホルダ103に検査チップ400をセットする(ステップS502)   In the flowchart of FIG. 5, first, before the processing of the inspection apparatus 100, the user injects the inspection liquid from the injection port 420 into the supply unit 410 inside the inspection chip 400 (step S501). When the injection of the inspection liquid is completed in step S501, the user sets the inspection chip 400 in the holder 103 (step S502).

ステップS502において、検査チップ400のセットが完了すると、検査装置100の処理を実行するため、利用者は、制御装置180の操作部を操作して、検査装置100の電源をONする(ステップS503)。そして、利用者は、制御装置180の操作部を操作する。制御装置180のCPUは、ROMに記憶されている制御プログラムの制御にしたがって検査装置100を制御して、検査チップ400に所定の遠心力の印加を開始する(ステップS504)。所定の遠心力は、たとえば、供給部410から定量部430へ検査液体を供給するための遠心力や、定量部430において検査液体を定量するための遠心力や、定量部430から測定部450へ検査液体を流入させるための遠心力などである。   In step S502, when the setting of the inspection chip 400 is completed, in order to execute the processing of the inspection device 100, the user operates the operation unit of the control device 180 to turn on the power of the inspection device 100 (step S503). . Then, the user operates the operation unit of the control device 180. The CPU of the control device 180 controls the inspection device 100 according to the control program stored in the ROM, and starts applying a predetermined centrifugal force to the inspection chip 400 (step S504). The predetermined centrifugal force is, for example, centrifugal force for supplying the test liquid from the supply unit 410 to the quantification unit 430, centrifugal force for quantifying the test liquid in the quantification unit 430, or from the quantification unit 430 to the measurement unit 450. For example, centrifugal force for flowing the inspection liquid.

ここで、図6を用いて、本発明の実施形態の検査装置100による遠心力の印加(図5に示したステップS504)によって、定量部430から第一案内経路440を介して測定部450へ検査液体が流入する工程について説明する。図6では、検査チップ400のうち、第一案内経路440から測定部450への流体回路を抽出して説明する。なお、図6は、説明のために概略を示すものであり、特に記載のない限り検査チップ400の各部位および検査液体の寸法比率や容量などはこれに限ることはない。   Here, with reference to FIG. 6, the centrifugal force is applied by the inspection apparatus 100 according to the embodiment of the present invention (step S <b> 504 shown in FIG. 5) to the measuring unit 450 from the quantitative unit 430 through the first guide path 440. A process in which the inspection liquid flows will be described. In FIG. 6, the fluid circuit from the first guide path 440 to the measurement unit 450 in the inspection chip 400 is extracted and described. Note that FIG. 6 shows an outline for explanation, and unless otherwise specified, the dimensional ratio and capacity of each part of the test chip 400 and the test liquid are not limited to this.

図6において、定量部430によって定量された検査液体610は、検査装置100によって印加される遠心力601によって、流入方向611に沿って、測定部450の第一側面部621へと流入される。   In FIG. 6, the test liquid 610 quantified by the quantification unit 430 flows into the first side surface 621 of the measurement unit 450 along the inflow direction 611 by the centrifugal force 601 applied by the test apparatus 100.

検査装置100は、角度変更機構150の制御にしたがって、検査液体610が定量部430で定量される際に保持されていた検査チップ400を遠心力601が印加されるよう所定角度自転させる。検査液体610は、遠心力601によって、定量部430から第一案内経路440に沿って、接続部位624を介して、測定部450の第一側面部621へと流入される。   According to the control of the angle changing mechanism 150, the inspection apparatus 100 rotates the inspection chip 400 held when the inspection liquid 610 is quantified by the quantification unit 430 so that the centrifugal force 601 is applied. The test liquid 610 flows into the first side surface portion 621 of the measurement unit 450 via the connection portion 624 along the first guide path 440 from the fixed amount unit 430 by the centrifugal force 601.

検査装置100は、角度変更機構150の制御にしたがって検査チップ400を反時計回りに所定角度自転させて、印加されていた遠心力601を矢印603の方向に変化させて遠心力602とする。検査液体610は、印加される遠心力601から遠心力602となることで、流入方向611が矢印613の流入方向612となる。なお、図示の例では、第一側面部621の上方は検査液体610と接面しないこととなる。   The inspection apparatus 100 rotates the inspection chip 400 counterclockwise by a predetermined angle according to the control of the angle changing mechanism 150 and changes the applied centrifugal force 601 in the direction of the arrow 603 to obtain a centrifugal force 602. The inspection liquid 610 changes from the applied centrifugal force 601 to the centrifugal force 602, so that the inflow direction 611 becomes the inflow direction 612 indicated by the arrow 613. In the illustrated example, the upper side of the first side surface portion 621 does not come into contact with the test liquid 610.

検査装置100は、角度変更機構150の制御にしたがって、検査液体610を第一側面部621に接面させながら測定部450の底面部622方向に移動させて保持する。検査液体610は、たとえば、遠心力によって底面部622へ移動したり、定常状態とした場合に図示下方向である重力によって底面部622へ移動したりする構成である。   The inspection apparatus 100 moves and holds the inspection liquid 610 in the direction of the bottom surface portion 622 of the measurement unit 450 while contacting the first side surface portion 621 according to the control of the angle changing mechanism 150. For example, the test liquid 610 is configured to move to the bottom surface portion 622 by a centrifugal force, or to move to the bottom surface portion 622 by gravity, which is a downward direction in the drawing in a steady state.

第二側面部623は、第一側面部621と対向し、接続部位624と、底面部622とのに接続される区画面である。第二側面部623は、測定部450へ検査液体610が流入される際に、検査液体610と接面しない濡れ防止部650を有している。濡れ防止部650は、第二側面部623における接続部位624より底面部622側の少なくとも一部である。   The second side surface portion 623 is a section screen that faces the first side surface portion 621 and is connected to the connection portion 624 and the bottom surface portion 622. The second side surface portion 623 has a wetting prevention portion 650 that does not come into contact with the inspection liquid 610 when the inspection liquid 610 flows into the measurement portion 450. The wetting prevention part 650 is at least part of the bottom surface part 622 side of the connection part 624 in the second side surface part 623.

濡れ防止部650は、第二側面部623のうち、接続部位624と底面部622との間に第一側面部621から離れる方向に段差部625を有する。段差部625は、遠心力601,602に依らず接続部位624から底面部622に対して検査液体610が第二側面部623を介して漏れ伝わる場合であっても、検査液体610と接面しない部位となる。   The wetting prevention portion 650 has a step portion 625 in the direction away from the first side surface portion 621 between the connection site 624 and the bottom surface portion 622 in the second side surface portion 623. The step 625 does not contact the test liquid 610 even when the test liquid 610 leaks from the connection site 624 to the bottom surface 622 via the second side surface 623 regardless of the centrifugal force 601 or 602. It becomes a part.

濡れ防止部650の段差部625は、測定部450内部に対する内部角θ1を有する。内部角θ1は、好ましくは90度よりも小さい構成である。したがって、接続部位624から底面部622に対して検査液体610が第二側面部623を介して漏れ伝わる場合であっても、少なくとも第二側面部623における段差部625は、検査液体610が接面しない部位となる。   The step portion 625 of the wetting prevention unit 650 has an internal angle θ1 with respect to the inside of the measurement unit 450. The internal angle θ1 is preferably smaller than 90 degrees. Therefore, even when the inspection liquid 610 leaks from the connection portion 624 to the bottom surface portion 622 via the second side surface portion 623, at least the step portion 625 in the second side surface portion 623 is in contact with the inspection liquid 610. It becomes a part that does not.

上述の通り、濡れ防止部650および第一側面部621の上方は、検査液体610と接面しない構成となり、後述するステップS505の処理以降で遠心力の印加がされていない状態においても測定部450からの検査液体610の逆流を確実に防ぐことができる。なお、図6の説明では、第一側面部621の上方は、検査液体610と接面しないこととして説明したが、これに限ることはない。すなわち、微量の検査液体610が接面した場合であっても、底面部622から離間させる構成とすることで、検査液体610の逆流を防ぐことができる。   As described above, the upper part of the wetting prevention part 650 and the first side face part 621 is configured not to contact the test liquid 610, and the measurement part 450 is also in a state where centrifugal force is not applied after the process of step S505 described later. Thus, the back flow of the inspection liquid 610 can be reliably prevented. In the description of FIG. 6, it has been described that the upper side of the first side surface portion 621 does not contact the test liquid 610, but is not limited thereto. That is, even when a small amount of the test liquid 610 is in contact with the surface, the backflow of the test liquid 610 can be prevented by adopting a configuration in which the test liquid 610 is separated from the bottom surface portion 622.

図5に戻って、ステップS504における遠心力の印加の後、所定の処理を経て遠心力の印加を終了する(ステップS505)。遠心力の印加終了は、たとえば、検査液体610に対して所定のプログラムに基づいた必要な処理を経て終了することとなる。   Returning to FIG. 5, after the application of the centrifugal force in step S504, the application of the centrifugal force is terminated through a predetermined process (step S505). The application of the centrifugal force is terminated, for example, through a necessary process based on a predetermined program for the test liquid 610.

ステップS505において、遠心力の印加が終了すると、検査装置100は、検査液体610のうち計測部310による計測の対象となる検査液体610の保持された測定部450が、光源311と、光センサ312とを結ぶ光路上となるように検査チップ400を移動する(ステップS506)。   In step S <b> 505, when the application of the centrifugal force is finished, the inspection apparatus 100 includes the light source 311 and the optical sensor 312 in which the measurement unit 450 that holds the test liquid 610 to be measured by the measurement unit 310 among the test liquid 610. The inspection chip 400 is moved so as to be on the optical path connecting the two (step S506).

ステップS506において、検査チップ400を移動すると、検査装置100は、制御装置180の制御にしたがって、計測部310によって検査液体610の測定をおこなう(ステップS507)。検査液体610の測定は、たとえば、光源311から検査チップ400内部の検査液体610に対して光を照射する。そして、検査液体610によって透過された光を光センサ312によって検出することによっておこなわれる。   When the inspection chip 400 is moved in step S506, the inspection apparatus 100 measures the inspection liquid 610 by the measurement unit 310 according to the control of the control device 180 (step S507). For example, the test liquid 610 is measured by irradiating light from the light source 311 to the test liquid 610 inside the test chip 400. Then, the light transmitted through the test liquid 610 is detected by the optical sensor 312.

光学的測定の際、検査チップ400は、定常状態となっており、遠心力は印加されていない。検査チップ400内部では、第一案内経路440から測定部450の間に、検査液体610と接面していない濡れ防止部650がある。濡れ防止部650は、少なくとも光学的測定を実施する場合に検査液体610が接面しない構成である。具体的には、濡れ防止部650は、第一案内経路440から測定部450へ検査液体610が流入される流入時および光学的測定が実施される測定時において、検査液体610を接面しない部位である。したがって、検査チップ400と、検査液体610との親和性が高い場合であっても、測定部450の検査液体610は、第一案内経路440へ逆流することなく測定をおこなうことができる。   During the optical measurement, the inspection chip 400 is in a steady state and no centrifugal force is applied. Inside the inspection chip 400, there is a wetting prevention unit 650 that is not in contact with the inspection liquid 610 between the first guide path 440 and the measurement unit 450. The wetting prevention unit 650 is configured such that the test liquid 610 does not contact the surface when performing at least optical measurement. Specifically, the wetting prevention unit 650 is a portion that does not contact the test liquid 610 when the test liquid 610 flows into the measurement unit 450 from the first guide path 440 and when the optical measurement is performed. It is. Therefore, even when the affinity between the inspection chip 400 and the inspection liquid 610 is high, the inspection liquid 610 of the measurement unit 450 can perform measurement without flowing back to the first guide path 440.

ステップS507において、計測部310によって測定された情報は制御装置180に出力される。制御装置180は、測定された情報に基づいて、検査液体610の検査結果を出力し(ステップS508)、一連の処理を終了する。検査結果は、たとえば、測定された情報を所定のプログラムによって解析することによって取得し、図示しない表示部に表示することとしてもよい。   In step S <b> 507, information measured by the measurement unit 310 is output to the control device 180. The control device 180 outputs the inspection result of the inspection liquid 610 based on the measured information (step S508), and ends the series of processes. The inspection result may be acquired, for example, by analyzing the measured information using a predetermined program and displayed on a display unit (not shown).

なお、各構成要素と、各機能を対応付けて説明すると、図4および図6に示した測定部450によって、本発明の測定部の機能を実現する。第一案内経路440によって、本発明の案内流路の機能を実現する。濡れ防止部650によって、本発明の濡れ防止部の機能を実現する。第一側面部621によって、本発明の第一側面部の機能を実現する。底面部622によって、本発明の底面部の機能を実現する。第二側面部623によって、本発明の第二側面部の機能を実現する。接続部位624によって、本発明の接続部位の機能を実現する。段差部625によって、本発明の段差部の機能を実現する。   In addition, if each component and each function are demonstrated and matched, the function of the measurement part of this invention is implement | achieved by the measurement part 450 shown in FIG. 4 and FIG. The first guide path 440 realizes the function of the guide channel of the present invention. The anti-wetting unit 650 realizes the function of the anti-wetting unit of the present invention. The first side surface portion 621 realizes the function of the first side surface portion of the present invention. The function of the bottom surface portion of the present invention is realized by the bottom surface portion 622. The function of the second side surface portion of the present invention is realized by the second side surface portion 623. The connection part 624 realizes the function of the connection part of the present invention. The step portion 625 implements the function of the step portion of the present invention.

また、本発明の各構成要素における処理と、本発明の実施形態の各処理または各機能とを関連付けて説明すると、ステップS504、ステップS505、ステップS506およびステップS507における制御装置180のCPUによる検査装置100の駆動機構および角度変更機構150の制御によって、本発明の自転手段による自転工程、公転手段による公転工程、回動制御手段による回動制御工程の処理が実行される。   Further, the processing in each component of the present invention and each process or each function of the embodiment of the present invention will be described in association with each other. The inspection device by the CPU of the control device 180 in step S504, step S505, step S506, and step S507. By the control of the driving mechanism 100 and the angle changing mechanism 150, the rotation process by the rotation means of the present invention, the revolution process by the revolution means, and the rotation control process by the rotation control means are executed.

以上説明したように、本発明の実施形態によれば、第一案内経路440と、測定部450との間に、検査液体610と接面しない濡れ防止部650を備える構成である。したがって、検査液体610は、測定部450によって測定がおこなわれる際に意図しない逆流をおこすことがなく、精度の高い検査をおこなうことができる。   As described above, according to the embodiment of the present invention, the wetting prevention unit 650 that does not contact the test liquid 610 is provided between the first guide path 440 and the measurement unit 450. Therefore, the test liquid 610 does not cause an unintended backflow when the measurement is performed by the measurement unit 450, and can perform a highly accurate test.

また、検査チップ400は、測定部450の第二側面部623において、濡れ防止部650として、接続部位624と、底面部622との間に段差部625を有することとしてもよい。したがって、第一案内経路440と、測定部450との間に、確実に検査液体610と接面しない部位を設けることができる。具体的には、遠心力601,602に依らず接続部位624から底面部622に対して検査液体610が第二側面部623を介して漏れ伝わる場合であっても、検査液体610と接面することのない部位を含む濡れ防止部650によって、検査液体610の逆流を防止することができる。   In addition, the test chip 400 may include a stepped portion 625 between the connection portion 624 and the bottom surface portion 622 as the wetting prevention portion 650 in the second side surface portion 623 of the measurement portion 450. Therefore, a portion that does not contact the test liquid 610 can be reliably provided between the first guide path 440 and the measurement unit 450. Specifically, even when the test liquid 610 leaks from the connection portion 624 to the bottom surface portion 622 via the second side surface portion 623 regardless of the centrifugal forces 601 and 602, the test liquid 610 contacts the test liquid 610. The backflow of the test liquid 610 can be prevented by the wetting prevention unit 650 including a part that does not occur.

また、段差部625には、測定部450内部に対する角度が90度よりも小さい内部角θ1を有することとしてもよい。このようにすれば、接続部位624から底面部622に対して検査液体610が第二側面部623を介して漏れ伝わる場合であっても、検査液体610が説明しない部位を確実に確保することができ、検査液体610の逆流を防止することができる。   Further, the stepped portion 625 may have an internal angle θ1 whose angle with respect to the inside of the measuring unit 450 is smaller than 90 degrees. In this way, even if the test liquid 610 leaks from the connection part 624 to the bottom surface part 622 via the second side face part 623, it is possible to reliably secure a part that the test liquid 610 does not explain. And back flow of the test liquid 610 can be prevented.

(その他一部の変形例)
本発明の実施形態では特に、図6に示した検査チップ400における第二側面部623の一部に濡れ防止部650を設けることとして説明した。具体的には、第二側面部623は、濡れ防止部650として段差部625を有する構成としたが、これに限ることがない。第二側面部623は、濡れ防止部650として凹部や液受け部などを有する構成としてもよい。
(Some other variations)
In the embodiment of the present invention, in particular, it has been described that the wetting prevention portion 650 is provided on a part of the second side surface portion 623 of the inspection chip 400 shown in FIG. Specifically, the second side surface portion 623 includes the step portion 625 as the wetting prevention portion 650, but is not limited thereto. The second side surface portion 623 may have a recess or a liquid receiving portion as the wetting prevention portion 650.

図7、図8を用いて、本発明の変形例における検査チップ400の形状の一例について説明する。なお、図7、図8では、図6と同様にして検査チップ400のうち、第一案内経路440から測定部450への流体回路を抽出して説明する。なお、図7、図8では、検査液体610の図示は省略し、上述の実施形態とそれぞれ同一の構成には同符号を付して説明を省略する。   An example of the shape of the test chip 400 according to the modification of the present invention will be described with reference to FIGS. 7 and 8, the fluid circuit from the first guide path 440 to the measurement unit 450 in the test chip 400 is extracted and described in the same manner as in FIG. 6. 7 and 8, the illustration of the test liquid 610 is omitted, and the same reference numerals are given to the same components as those of the above-described embodiment, and the description thereof is omitted.

図7は、本発明の変形例における検査チップの形状の一例(その1)を示す説明図である。図7において、検査チップ400は、第二側面部623における濡れ防止部650として凹部701を含み構成されている。凹部701は、本発明における凹部として機能し、検査液体の逆流を確実に防ぐことができる。   FIG. 7 is an explanatory diagram showing an example (part 1) of the shape of the test chip in the modification of the present invention. In FIG. 7, the test chip 400 includes a recess 701 as the wetting prevention unit 650 in the second side surface unit 623. The recess 701 functions as a recess in the present invention, and can reliably prevent the backflow of the test liquid.

また、第二側面部623のうち、凹部701の開口よりも接続部位624側の第二側面部上方702の方が、凹部の開口よりも底面部622側の第二側面部下方703よりも第一側面部621に近い距離にあることとしてもよい。具体的には、第二側面部上方702は、第二側面部下方703よりも距離t分第一側面部621に近い構成である。   Further, in the second side surface portion 623, the second side surface portion upper portion 702 on the connection site 624 side than the opening of the concave portion 701 is more than the second side surface portion lower portion 703 on the bottom surface portion 622 side than the opening of the concave portion. The distance may be close to the one side surface portion 621. Specifically, the second side surface portion upper portion 702 is closer to the first side surface portion 621 by the distance t than the second side surface portion lower portion 703.

第二側面部上方702の方を第二側面部下方703よりも距離t分第一側面部621に近くしたことで、接続部位624から底面部622に対して検査液体610が第二側面部623を介して漏れ伝わる場合であっても、凹部701に検査液体が接面することを確実に防ぐことができる。   Since the second side surface portion upper 702 is closer to the first side surface portion 621 by the distance t than the second side surface portion lower portion 703, the test liquid 610 flows from the connection site 624 to the bottom surface portion 622. Even if it is a case where it leaks through, it can prevent reliably that a test | inspection liquid contacts the recessed part 701. FIG.

図8は、本発明の変形例における検査チップの形状の一例(その2)を示す説明図である。図8において、検査チップ400は、第二側面部623における濡れ防止部650として凹部701に、重力方向に液受け部801を含み構成されている。液受け部801は、本発明における液受け部として機能し、検査液体の逆流を確実に防ぐことができる。   FIG. 8 is an explanatory view showing an example (part 2) of the shape of the test chip in the modification of the present invention. In FIG. 8, the inspection chip 400 is configured to include a liquid receiving portion 801 in the gravity direction in the concave portion 701 as the wetting prevention portion 650 in the second side surface portion 623. The liquid receiver 801 functions as a liquid receiver in the present invention, and can reliably prevent the backflow of the test liquid.

具体的には、液受け部801は、凹部701において、測定部450によって測定がおこなわれる際の重力方向に備えられている。液受け部801は、検査液体が凹部701に逆流する場合であっても、第一案内経路440まで逆流させないよう、検査液体を測定部450内部に保持できる構成である。このようにすることで、測定部450から測定よりも前の工程への意図しない検査液体の流出を防ぐことができる。   Specifically, the liquid receiving portion 801 is provided in the direction of gravity when the measurement is performed by the measurement portion 450 in the concave portion 701. The liquid receiver 801 is configured to hold the test liquid inside the measurement unit 450 so that the test liquid does not flow back to the first guide path 440 even when the test liquid flows back to the recess 701. By doing so, it is possible to prevent unintentional outflow of the inspection liquid from the measurement unit 450 to the process prior to the measurement.

また、上述した説明では、実施形態および一部の変形例について別々の例として説明したが、これに限ることはない。すなわち、それぞれを組み合わせた構成として、実施形態および一部の変形例を適宜組み合わせて利用してもよい。具体的には、たとえば、段差部625を複数設けたり、凹部701と段差部625とを複数適宜組み合わせたりして、確実に検査液体の意図しない部位への流出を防ぐことができる。   In the above description, the embodiment and some of the modifications have been described as separate examples, but the present invention is not limited to this. That is, as a combination of the configurations, the embodiment and some of the modifications may be combined as appropriate. Specifically, for example, by providing a plurality of stepped portions 625 or appropriately combining a plurality of recessed portions 701 and stepped portions 625, it is possible to reliably prevent the test liquid from flowing out to an unintended portion.

なお、上述で説明した方法は、あらかじめ用意されたプログラムをパーソナルコンピュータやワークステーションなどのコンピュータで実行することにより実現することができる。このプログラムは、ハードディスク、フレキシブルディスク、CD−ROM、MO、DVDなどのコンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録され、コンピュータによって記録媒体から読み出されることによって実行される。またこのプログラムは、インターネットなどのネットワークを介して配布することが可能な伝送媒体であってもよい。   The method described above can be realized by executing a program prepared in advance on a computer such as a personal computer or a workstation. This program is recorded on a computer-readable recording medium such as a hard disk, a flexible disk, a CD-ROM, an MO, and a DVD, and is executed by being read from the recording medium by the computer. The program may be a transmission medium that can be distributed via a network such as the Internet.

100 検査装置
101 下部筐体
102 ターンテーブル
103 ホルダ
150 角度変更機構
180 制御装置
300 上部筐体
310 計測部
400 検査チップ
410 供給部
411 供給口
420 注入口
430 定量口
440 第一案内経路
450 測定部
460 第二案内経路
470 貯留部
601,602 遠心力
610 検査液体
621 第一側面部
622 底面部
623 第二側面部
624 接続部位
650 濡れ防止部
701 凹部
801 液受け部
θ1 内部角
DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 Inspection apparatus 101 Lower housing | casing 102 Turntable 103 Holder 150 Angle changing mechanism 180 Control apparatus 300 Upper housing | casing 310 Measuring part
400 Inspection Chip 410 Supply Portion 411 Supply Port 420 Injection Port 430 Metering Port 440 First Guide Route 450 Measurement Portion 460 Second Guide Route 470 Storage Portion 601 602 Centrifugal Force 610 Test Liquid 621 First Side Portion 622 Bottom Portion 623 Second Side part 624 Connection part 650 Wetting prevention part 701 Concave part 801 Liquid receiving part θ1 Internal angle

Claims (4)

公転によって生じる遠心力と、自転によって保持される所定角度とに応じて検査対象となる検査液体を内部で移動させて検査する用途に用いられる検査対象受体であって、
供給口から供給される前記検査液体に対して、光学的測定を実施するための測定部と、
前記供給口と接続され、前記遠心力によって内部を移動する前記検査液体を、前記測定部に流入させる案内流路と、
前記測定部と、前記案内流路との間に、前記検査液体との接面を防止する濡れ防止部と、を備え
前記測定部は、
前記案内流路との接続部位に対して、前記検査液体が流入される際に印加される遠心力が作用する方向であって、前記供給口から前記案内流路に向かう方向にある第一側面部と、
前記第一側面部と接続され、前記検査液体について前記光学的測定を実施する際に重力方向にある底面部と、
前記底面部と接続され、前記第一側面部と対向する第二側面部と、を備え、
前記濡れ防止部は、
前記第二側面部のうち、前記接続部位と前記底面部との間に、前記第一側面部から離れる方向に段差部を有すると共に、前記段差部と接続され、前記第二側面部のうち、前記接続部位と前記底面部との間に、前記第二側面部に凹部を有することを特徴とする検査対象受体。
A test object receiver used for the purpose of moving and inspecting a test liquid to be inspected according to a centrifugal force generated by revolution and a predetermined angle held by rotation,
A measurement unit for performing optical measurement on the test liquid supplied from the supply port ;
A guide channel that is connected to the supply port and moves the test liquid that moves inside by the centrifugal force into the measurement unit;
A wetting prevention unit for preventing a contact surface with the test liquid between the measurement unit and the guide channel ;
The measuring unit is
A first side surface in a direction in which a centrifugal force applied when the test liquid flows into the connection site with the guide channel, and in a direction from the supply port toward the guide channel. And
A bottom surface portion connected to the first side surface portion and in the direction of gravity when performing the optical measurement on the test liquid;
A second side surface portion connected to the bottom surface portion and facing the first side surface portion;
The wetting prevention part is
Of the second side surface portion, between the connection site and the bottom surface portion, having a step portion in a direction away from the first side surface portion, connected to the step portion, and of the second side surface portion, The test object receptacle having a recess in the second side surface portion between the connection site and the bottom surface portion .
前記濡れ防止部は、前記測定部内部における前記第二側面部に対して鋭角である前記段差部を有することを特徴とする請求項に記載の検査対象受体。 The test object receptacle according to claim 1 , wherein the wetting prevention part has the step part having an acute angle with respect to the second side face part inside the measurement part. 前記第二側面部は、前記凹部の開口部の前記接続部位側の方が、前記開口部の前記底面部側の方よりも前記第一側面部に近い距離にあることを特徴とする請求項1又は2に記載の検査対象受体。 The second side surface portion is characterized in that the connection site side of the opening portion of the recess is closer to the first side surface portion than the bottom surface side of the opening portion. 3. The test target receptor according to 1 or 2 . 前記濡れ防止部は、前記凹部の重力方向に液受け部を備えることを特徴とする請求項1から3のいずれか一つに記載の検査対象受体。 The anti-wetting portion, the test object receptacle according to claim 1, any one of 3, characterized in that it comprises a liquid receiving portion in the gravity direction of the recess.
JP2012075766A 2012-03-29 2012-03-29 Inspection object receiver, inspection device, and inspection method Expired - Fee Related JP6010967B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012075766A JP6010967B2 (en) 2012-03-29 2012-03-29 Inspection object receiver, inspection device, and inspection method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012075766A JP6010967B2 (en) 2012-03-29 2012-03-29 Inspection object receiver, inspection device, and inspection method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013205284A JP2013205284A (en) 2013-10-07
JP6010967B2 true JP6010967B2 (en) 2016-10-19

Family

ID=49524497

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012075766A Expired - Fee Related JP6010967B2 (en) 2012-03-29 2012-03-29 Inspection object receiver, inspection device, and inspection method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6010967B2 (en)

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NZ211887A (en) * 1984-05-03 1987-05-29 Abbott Lab Sample processor card for use with centrifuge
JP4754394B2 (en) * 2006-04-14 2011-08-24 ローム株式会社 Microchip
JP5359965B2 (en) * 2010-03-31 2013-12-04 ブラザー工業株式会社 Inspection device
JP2012013553A (en) * 2010-06-30 2012-01-19 Brother Ind Ltd Inspection object acceptor

Also Published As

Publication number Publication date
JP2013205284A (en) 2013-10-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5359987B2 (en) Inspection target
JP5359964B2 (en) Inspection object receiver, inspection apparatus and inspection method
JP5728217B2 (en) Microchip and inspection or analysis method using the same
JP2009156765A (en) Microchip
JP2012078115A (en) Inspection object acceptor
JP2012202736A (en) Inspection object acceptor, inspection method, and inspection device
JP5267515B2 (en) Inspection target
JP5459265B2 (en) Inspection target receptacle, liquid mixing system including the inspection target receptacle, and liquid mixing method using the liquid mixing system
JP5994116B2 (en) Rotary analysis chip and measurement system
JP5843160B2 (en) Inspection object receiver, inspection device, and inspection method
JP6010967B2 (en) Inspection object receiver, inspection device, and inspection method
JP2012078094A (en) Inspection object acceptor
JP5958452B2 (en) Inspection chip
JP2009276143A (en) Microchip
WO2013146579A1 (en) Inspection sample receiving body, inspection device and inspection method
JP2012013553A (en) Inspection object acceptor
JP5958451B2 (en) Inspection chip, liquid feeding method, and liquid feeding program
JP5915686B2 (en) Inspection chip
JP2014066540A (en) Inspection chip, method of manufacturing cover member, and inspection system
JP6137106B2 (en) Inspection chip and inspection system
JP5408094B2 (en) Inspection target
JP2015105888A (en) Inspection device, inspection method, and inspection program
KR101881203B1 (en) Apparatus for analysing platelet
JP2016188764A (en) Inspection chip
JP6049463B2 (en) Microchip

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20150317

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20151228

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20160126

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160328

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20160823

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20160905

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6010967

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees