JP6010811B2 - 吸着盤 - Google Patents

吸着盤 Download PDF

Info

Publication number
JP6010811B2
JP6010811B2 JP2011287381A JP2011287381A JP6010811B2 JP 6010811 B2 JP6010811 B2 JP 6010811B2 JP 2011287381 A JP2011287381 A JP 2011287381A JP 2011287381 A JP2011287381 A JP 2011287381A JP 6010811 B2 JP6010811 B2 JP 6010811B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pad portion
pad
semiconductor wafer
suction
porous material
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2011287381A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2013138056A (ja
Inventor
清隆 藤平
清隆 藤平
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tanken Seal Seiko Co Ltd
Original Assignee
Tanken Seal Seiko Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tanken Seal Seiko Co Ltd filed Critical Tanken Seal Seiko Co Ltd
Priority to JP2011287381A priority Critical patent/JP6010811B2/ja
Priority to KR1020147019782A priority patent/KR20140117413A/ko
Priority to TW101150931A priority patent/TWI571350B/zh
Priority to CN201280065051.1A priority patent/CN104040709B/zh
Priority to PCT/JP2012/084109 priority patent/WO2013100134A1/ja
Publication of JP2013138056A publication Critical patent/JP2013138056A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6010811B2 publication Critical patent/JP6010811B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23QDETAILS, COMPONENTS, OR ACCESSORIES FOR MACHINE TOOLS, e.g. ARRANGEMENTS FOR COPYING OR CONTROLLING; MACHINE TOOLS IN GENERAL CHARACTERISED BY THE CONSTRUCTION OF PARTICULAR DETAILS OR COMPONENTS; COMBINATIONS OR ASSOCIATIONS OF METAL-WORKING MACHINES, NOT DIRECTED TO A PARTICULAR RESULT
    • B23Q3/00Devices holding, supporting, or positioning work or tools, of a kind normally removable from the machine
    • B23Q3/02Devices holding, supporting, or positioning work or tools, of a kind normally removable from the machine for mounting on a work-table, tool-slide, or analogous part
    • B23Q3/06Work-clamping means
    • B23Q3/08Work-clamping means other than mechanically-actuated
    • B23Q3/088Work-clamping means other than mechanically-actuated using vacuum means
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/6838Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping with gripping and holding devices using a vacuum; Bernoulli devices

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Jigs For Machine Tools (AREA)

Description

本発明は、吸着盤に関し、特に、真空源に接続されるように構成され、この真空源を作動させることによって板状の被吸着物を吸着するための吸着盤に関する。
従来から、半導体ウエハを或る処理工程から次の処理工程に搬送する設備において、搬送対象である半導体ウエハを吸着し固定する吸着盤が用いられている。このような吸着盤は、均一に孔が分布している多孔質体で構成されたステージを有している。半導体ウエハをステージに吸着し固定するとき、先ずこのステージの平らな上面に半導体ウエハを接触させ、次いで多孔質体の孔内を真空ポンプによって真空化することによって、ステージの平らな上面に半導体ウエハを吸着盤に吸着し、固定するようになっている。
ところで近年では、半導体ウエハの大型化・薄型化が進むにつれて、上述のような吸着盤においても、大型化・薄型化した半導体ウエハを適切に吸着・固定できるようにすることが望まれている。一般的に、半導体ウエハが大型化・薄型化すると半導体ウエハが撓み易くなってしまい、従来用いられていた吸着盤を用いた場合、半導体ウエハが破損してしまう恐れがあった。
即ち、大型化・薄型化された半導体ウエハを一般的な吸着盤を用いて吸着・固定する際、吸着盤には、多孔質体の孔が均一に分布しているため、吸着盤に接続された真空ポンプを作動させたときに吸着盤と多孔質体との接触面に開口している全て孔において同時に吸着が開始されてしまう。
ここで、特に大型化した半導体ウエハは、吸着盤上に撓みがない状態で載置することは困難であるため、半導体ウエハは、撓んだ状態で吸着盤上に載置されることになる。そして半導体ウエハが撓んだ状態で吸着盤上に載置されると、半導体ウエハにおいて吸着盤と接触している部分と、接触していない部分とができてしまう。
この状態で真空ポンプを作動させ、吸着盤と多孔質体との接触面に開口している全ての孔において同時に空気の吸引が開始させると、半導体ウエハと吸着盤とが接触している部分から吸着が始まる。これにより、吸引速度の差によって、撓んだ半導体ウエハを変形させる外力が生じ、半導体ウエハの内部応力に著しい偏りが生じてしまい、その結果、半導体ウエハが破損してしまう。
このような半導体ウエハの破損を防ぐための技術としては、特許文献1に記載された装置が知られている。
特開平7−58191号公報
この特許文献1の装置は、半導体ウエハが載置されるステージと、ステージに形成された複数の貫通孔と、各貫通孔と真空ポンプとの間を結ぶ流路の各々に配置された電磁弁と、電磁弁を制御するための制御部とを備えている。そして特許文献1の装置では、制御部によって、半導体ウエハの反りに応じて各々の電磁弁を独立制御して貫通孔から半導体ウエハに作用する吸引速度を貫通孔毎に独立して制御しており、これにより半導体ウエハの吸着・固定時に半導体ウエハが破損するのを防止している。
しかしながら上述した特許文献1の装置では、ステージに形成された複数の貫通孔毎に電磁弁を設け、更に各電磁弁を個別に制御するために複雑な設備が必要となってしまうという問題があった。この問題は、半導体ウエハを大型化させた場合に特に顕著になる。
また、例えばFPD(Flat Panel Display)用のガラスパネルのような大型の薄板を取り扱う場合においても同様の問題が生じていた。
そこで本発明は、上述した問題点を解決するためになされたものであり、複雑な設備を用いずに、半導体ウエハやFPD用のガラスパネル等の被吸着物を破損させることなく吸着することができる吸着盤を提供することを目的とする。
上述した課題を解決するために、本発明は、真空源に接続されるように構成され、この真空源を作動させることによって板状の被吸着物を吸着するための吸着盤であって、被吸着物が載置される上面、及び下面を有する多孔質なパッド部と、パッド部を保持するための保持部とを備え、パッド部は、パッド部の上面から下面の方向に所定の気体透過量を有する第1多孔質材料で形成されている第1部分と、パッド部の上面から下面の方向での気体透過量が、第1多孔質材料よりも多い第2多孔質材料で形成されている第2部分と有しており、保持部は、パッド部を形成する第1多孔質材料の気孔及び第2多孔質材料の気孔をパッド部の下面側から真空源に直接接続するための流路を備えていることを特徴とする。
このように構成された本発明によれば、被吸着物が載置されるパッド部は、第1部分と第2部分に対応する部分において気体透過量が異なっている。そしてこのような吸着盤の上面に被吸着物を載置し真空源に接続して下面側からパッド部の気孔内の真空化を開始すると、比較的気体透過量が少ない第1多孔質材料で形成されている第1部分よりも、比較的気体透過量が多い第2多孔質材料で形成されている第2部分の方が、吸着速度が速い。従って、真空化を開始すると、先ず、パッド部の上面のうち第2部分に対応する部分に接触している被吸着物の一部がパッド部に吸着される。そしてこれに遅れてパッド部の上面のうち第1部分に対応する部分に接触している被吸着物の一部がパッド部に吸着される。このように、パッド部を異なる気体透過量を有する二つの多孔質材料で形成することによって、パッド部の上面のうち第1部分に対応する部分と、第2部分に対応する部分とで吸着速度の差を生じさせることができる。これにより被吸着物を二段階にわたってパッド部に吸着し固定することができるので、被吸着物が過度に撓むのを防止することができ、これにより、被吸着物内部に過度の応力集中が生じるのを防止することができる。
また、このように構成された本発明によれば、吸引速度が比較的遅い第1部分を形成する第1多孔質材料の気孔、及び吸引速度が比較的速い第2部分を形成する第2多孔質材料の気孔を、流路を介して真空源に直接接続することが可能となる。これにより、真空源を作動させるだけでパッド部の上面のうち第1部分に対応する部分と、第2部分に対応する部分とで異なる吸着速度を生じさせることができる。そしてこの場合、制御弁等を用いる必要がないので、簡単な構造で被吸着物が破損するのを防止することができる。
本発明の他の好ましい態様によれば、
前記パッド部は、矩形形状を有しており、前記第2部分は、該パッド部の角に位置決めされている。
このような構成によれば、矩形の薄板をパッド部上の所定位置に、正確に位置決めすることができる。
本発明の他の好ましい態様によれば、
前記パッド部は、円形形状を有しており、前記第2部分は、該パッド部の中央に位置決めされている。
本発明の他の好ましい態様によれば、
前記パッド部の上面における前記第1部分と前記第2部分との面積比は、5:1乃至100:1である。
以上のように本発明によれば、複雑な設備を用いずに、半導体ウエハやFPD用のガラスパネル等の被吸着物を破損させることなく吸着することができる。
本発明の実施形態にかかる吸着盤を備える吸着システムを示す斜視図である。 本発明の実施形態にかかる吸着盤の断面図である。 本発明の実施形態にかかる吸着盤の保持部の上面図である。 本発明の実施形態によるパッド部の一例を示す上面図である。 本発明の変形例によるパッド部の上面図である。
以下、図面を参照して、本発明の実施形態による吸着盤について説明する。
図1は、本発明の実施形態にかかる吸着盤を備える吸着システムを示す斜視図であり、図2は、本発明の実施形態にかかる吸着盤の断面図である。
図1及び図2に示すように、吸着システムは、吸着盤1と、吸着盤に接続された真空源となるポンプ3とを備える。吸着盤1は、被吸着物である半導体ウエハ5が載置されるパッド部7と、パッド部7を保持するための保持部9とを備える。この吸着盤1は、ホース等の連結具11を介してポンプ3に接続されている。
パッド部7は、平坦な2つの円形面を各々、上面7a及び下面7bとした円板形状を有し、その上面に半導体ウエハ5を載置できるようになっている。本実施形態では、パッド部7は上面7aの寸法形状が、被吸着物である円形の半導体ウエハ5と略同一の寸法形状とされている。さらに、パッド部7は、後述するように、中心部に配置され相対的に気体透過量が少ない第1部分Lと、第1部分Lの周囲に配置され相対的に気体透過量が多い第2部分Hとを備えている。
また、保持部9は、パッド部7よりも大径の肉厚の円板形状であり、中央に上方に向かって開口する凹部を備えている。詳細には、保持部9は、その上面にパッド部を受け入れるようになった第1の円形凹み13を有する。第1の円形凹み13は、保持部9の側壁9aの内周側を矩形状に切り欠くことによって形成されている。この第1の円形凹み13は、パッド部7の外径とほぼ同一の直径を有し、パッド部7を受け入れたときにパッド部7と第1の円形凹み13の側壁との間に隙間が形成されないようになっている。
図3は、本発明の実施形態にかかる吸着盤の保持部9の上面図である。
図2及び図3に示すように、保持部9は、第1の円形凹み13の下方に連続的に設けられ、第1の円形凹み13よりも小径の第2の円形凹み15を備えている。第2の円形凹み15は、パッド部7を第1の円形凹み13に嵌めたときに、パッド部7によって覆われるようになっており、この第2の円形凹み15とパッド部7によって形成される空間17の天井は、パッド部7の下面7bによって構成される。
また、第2の円形凹み15の底面には、連結具11が連結されている開口15aが形成されている。このような構成によって、保持部9は、第2の円形凹み15とパッド部7の下面7bによって形成される空間17に介して、パッド部7の気孔とポンプ3を流体連通させている。
図4は、パッド部7の一例を示す上面図である。パッド部7は、多孔質カーボンの複合体によって形成されている。具体的には、パッド部7は、所定の気体透過量を有する第1多孔質カーボンによって形成された第1部分Lと、第1多孔質カーボンよりも気体透過量が多い第2多孔質カーボンによって形成された第2部分Hとを一体にして形成されている。
第1多孔質カーボンによって形成された第1部分Lは、上面視したときに、パッド部7の中央に配置された円形(詳細には円柱状)の第2部分Hを囲むリング形状を有する。そして第2部分Hは、リング形状の第1部分Lの中央の開口内に配置されている。
このようなパッド部7は、上面7aと下面7bとの間にわたって同一の水平断面形状、即ちリング形状の第1部分Lの中央に第2部分Hが配置された断面形状を有している。このように構成されたパッド部7は、第1部分Lが占める領域においては、上面7aから下面7bの方向に、第1多孔質カーボンが有する気体透過量を発揮し、第2部分Hが占める領域においては、上面7aから下面7bの方向に、第2多孔質カーボンが有する気体透過量を発揮する。
次に、パッド部の気体透過量について詳述する。
気体透過量は、一定の圧力下で、単位時間辺りに単位面積領域を通過する気体の量を示す。そしてこの気体透過量は、アルキメデス法により測定される多孔質カーボンの開気孔率[vol%]及び平均気孔径[μm]を調整することによって決定される。多孔質カーボンの開気孔率[vol%]及び平均気孔径[μm]を調整するためには、多孔質カーボンの製造工程のうちの加圧工程において、被成形体に加える圧力を調整する。
以下に、異なる多孔質カーボンの開気孔率[vol%]及び平均気孔径[μm]を有する2種類の多孔質カーボンの製造例を示す。
平均粒径20μmの自己焼結性炭素を型に入れて加圧するときの成形面圧を調整し、完成した成形体を非酸化雰囲気中で昇温速度30℃/hrで焼成することで開気孔率及び平均気孔率が異なる2つの多孔質カーボンを製造することができた。成形時の成形面圧を調整することによって得られる多孔質カーボンの例を以下の表1に示す。
Figure 0006010811
表1に示すように、成形時の成形面圧を大きくすることによって開気孔率が低く、且つ平均気孔径が小さい、気体透過量が少ない多孔質カーボンを製造することができる。また、成形時の成形面圧を小さくすることによって開気孔率が高く、且つ平均気孔径が大きい、気体透過量が多い多孔質カーボンを製造することができる。
上述の表1に示す例では、第1多孔質カーボンの気体透過量と、第2多孔質カーボンの気体透過量との比が、1:20〜1:300程度となっている。
尚、多孔質カーボンの開気孔率を調整することによって気体透過量を調整するための手段としては、成形体の焼成時に分解・気化する樹脂を添加する方法もある。
次に、上述した吸着盤1を含む吸着システムの作用について詳述する。
半導体ウエハを吸着盤1に吸着させるためには、先ず、半導体ウエハ5を吸着盤1のパッド部7の上面に載置する。このとき、例えば半導体ウエハ5が円板形状のものであれば、半導体ウエハ5の中心とパッド部7の中心が一致するようにする。そしてこの状態でポンプ3を作動させると、ポンプ3に連結された連結具11を介して保持部9の空間17内の空気がポンプ3の方向に吸引される。
空間17内の空気が吸引されると、パッド部7の第1多孔質カーボンの気孔及び第2多孔質カーボンの気孔から空気が吸引され、半導体ウエハ5のパッド部7への吸着が開始される。半導体ウエハ5の吸着が開始されると、先ず、気体透過量が多い第2多孔質カーボンで構成された第2部分Hの上面にある半導体ウエ5ハの部分、即ち半導体ウエハ5の中心近傍がパッド部7に吸着される。
このとき、上述したように第2部分Hの吸引速度は第1部分Lの吸引速度よりも十分に速いので、仮に半導体ウエハ5が第2部分Hの上面に接触していなくても、半導体ウエハ5の中心近傍が最初にパッド部7に吸引される。次いで、第2部分Hよりも吸着速度が遅い第1部分Lにおいて半導体ウエハ5の吸着が開始される。
このように、先ず、半導体ウエハ5の中心近傍を第2部分Hによって吸着してしっかりと固定し、次いで半導体ウエハ5の中心以外の部分を吸着するので、半導体ウエハ5は二段階にわたって吸着さる。これにより、パッド部7に載置された半導体ウエハ5が撓んでいたとしても、半導体ウエハ5の一部に応力が集中するのを防止することができる。
また、半導体ウエハを吸着盤1から解放するときには、ポンプ3を切り替えてポンプ3から吸着盤1に空気を送り込む。これにより、先ず、パッド部7における比較的気体透過量が多い第2多孔質カーボンで構成された第2部分Hの上面にある半導体ウエハ5の部分、即ち半導体ウエハ5の中心近傍がパッド部7から解放される。
そして、半導体ウエハ5の中心がパッド部7から解放されると、パッド部7と第2部分Hの上面との間に空間ができ、この空間内部が高圧になる。そしてこの空間内部が高圧になると、空間内の圧力によって空間の周囲の半導体ウエハ5(第1部分Lと接触している部分)がパッド部7から徐々に離れていき、空間がパッド部7の周方向に向けて広がり始める。そして空間が広がると、内部の圧力が低くなるが、空間がある程度広がるまでの間に、第1部分Lからも十分に空気が送り込まれる。そして、これにより第1部分Lと接触している残りの部分も徐々にパッド部7から解放される。
次いで、パッド部7における比較的気体透過量が少ない第1多孔質カーボンで構成された第1部分Lの上面にある半導体ウエハ5の部分、即ち半導体ウエハ5の周辺部がパッド部7から解放される。そして、最終的には、パッド部7の上面から送り出される圧縮空気によって半導体ウエハ5がパッド部7の上面から浮いた状態になる。これにより、半導体ウエハを解放するときにも、半導体ウエハの中心から周辺に向けて徐々に解放することができ、半導体ウエハ5の解放時にも半導体ウエハ5が破損するのを防止することができる。
以上のように本発明の実施形態によれば、吸引を開始したい位置を比較的気体透過量が多い第2多孔質カーボンで形成し、その他の部分を比較的気体透過量が少ない第1多孔質カーボンで形成することにより、パッド部7の上に載置された半導体ウエハ5の撓んだ形状に関わらず、所望の位置から吸引を開始することができる。そしてこれにより、吸着時に半導体ウエハ5が破損するのを防止することができる。
本発明の前記実施形態に限定されることなく、特許請求の範囲に記載された技術的思想の範囲内で種々の変更、変形が可能である。
上記実施形態では、上述したように、パッド部7は上面7aの寸法・形状が、被吸着物である半導体ウエハ5の吸着面と略同一である。しかしながら、パッド部7の上面7aの寸法、形状は、半導体ウエハ等の吸着物の大きさ、特性、または求められる吸着条件等に応じて適宜、変更可能である。
例えば、パッド部7を、上面7aが、半導体ウエハ5等の被吸着物の吸着面の寸法より大きな寸法、すなわち円形の半導体ウエハ5より大径の円形状となるものとしてもよい。この場合、パッド部7の第2部分Hは、半導体ウエハ5に覆われる部分に設けられる。
パッド部7をこのように構成することによって、パッド部7の上面7aのうち第1部分Lに対応する部分の吸着速度と、パッド部7の上面7aのうち第2部分Hに対応する部分の吸着速度との差を有効に活用することができるので、より確実に半導体ウエハの破損を防止することができる。
また、第2部分Hの形状・寸法、配置位置を、適宜変更してもよい。例えば、図5(a)に示されているように、第2部分Hを上記実施形態より大径に設定してもよい。なお、第1部分Lと第2部分Hとの大きさ(上面視したときの面積)の比は、5:1〜100:1の間で適宜設定されることが好ましい。
さらに、図5(b)に示すように、パッド部を矩形として、その中央に円形の第2部分Hを設け、他の部分を第1部分Lとした構成でもよい。この場合、保持部等もパッド部の形状に合わせて、矩形状とされる。
さらに、図5(c)に示すように、円形の第2部分Hを、矩形のパッド部の中心からオフセットさせて配置したものでもよい。これらの例は、例えばFPD用のガラスパネルのような長方形の被吸着物を吸着する場合に有効である。
さらに、図5(d)に示すように、略正方形の第2部分Hを矩形のパッド部の角に配置し、他の部分を第1部分Lとする構成、あるいは図5(e)に示すように、略正方形の第2部分Hを矩形のパッド部の長辺に沿った中央位置に配置し、他の部分を第1部分Lとする構成でもよい。
このように第2部分Hを、矩形のパッド部の角に配置し、又は一辺に沿って配置することによって、被吸着物の位置決めを容易にすることができる。例えばFPD用のガラスパネルのような比較的大型の被吸着物を位置決めする場合には、パッド部の角と、ガラスパネルの角とを位置合わせをし、この位置でガラスパネルを保持しながらポンプを作動させる。これにより、吸着時にガラスパネルに吸引力が作用したときにガラスパネルがパッド部に対してずれるのを確実に防止することができる。このような作用・効果は、第2部分Hが、パッド部の外周のいずれかの位置にある場合に達成することができ、
さらに、図5(f)又は(g)に示すように、矩形のパッド部の一辺又は隣接する二辺に沿って第2部分Hを配置し、他の部分を第1部分Lとする構成でもよい。このような構成によっても、図5(d)等の構成と同様の作用・効果を達成することができる。
また、上記実施形態では、パッド部7と支持部9の第2の円形凹み15との間に円板状の空間17が形成される構成であったが、支持部の円形凹みの形状を変更し、パッド部7と支持部との間の空間に、連結具11を介してポンプ3に流体連通された同心状の複数の環状流路が形成される構成としてもよい。
例えば、上記実施形態では、パッド部を構成する材料として多孔質カーボンを用いることとしたが、多孔質セラミック等の他の通気性材料を用いることも可能である。
1 吸着盤
3 ポンプ
5 半導体ウエハ
7 パッド部
9 保持部
13 第1の円形凹み
15 第2の円形凹み
L 第1部分
H 第2部分

Claims (3)

  1. 真空源に接続されるように構成され、この真空源を作動させることによって板状の被吸着物を吸着するための吸着盤であって、
    前記被吸着物が載置される上面、及び下面を有する多孔質なパッド部と、
    前記パッド部を保持するための保持部とを備え、
    前記パッド部は、前記パッド部の前記上面から前記下面の方向に所定の気体透過量を有する第1多孔質材料で形成されている第1部分と、前記パッド部の前記上面から前記下面の方向での気体透過量が、前記第1多孔質材料よりも多い第2多孔質材料で形成されている第2部分と有しており、
    前記保持部は、前記パッド部を形成する前記第1多孔質材料の気孔及び前記第2多孔質材料の気孔を前記パッド部の前記下面側から前記真空源に直接接続するようになっており、
    前記パッド部は矩形形状を有し、前記第2部分は該パッド部の角に位置決めされている、
    ことを特徴とする吸着盤。
  2. 真空源に接続されるように構成され、この真空源を作動させることによって板状の被吸着物を吸着するための吸着盤であって、
    前記被吸着物が載置される上面、及び下面を有する多孔質なパッド部と、
    前記パッド部を保持するための保持部とを備え、
    前記パッド部は、前記パッド部の前記上面から前記下面の方向に所定の気体透過量を有する第1多孔質材料で形成されている第1部分と、前記パッド部の前記上面から前記下面の方向での気体透過量が、前記第1多孔質材料よりも多い第2多孔質材料で形成されている第2部分と有しており、
    前記保持部は、前記パッド部を形成する前記第1多孔質材料の気孔及び前記第2多孔質材料の気孔を前記パッド部の前記下面側から前記真空源に直接接続するようになっており、
    前記パッド部は円形形状を有し、前記第2部分は該パッド部の中央に位置決めされている、
    ことを特徴とする吸着盤。
  3. 前記パッド部の上面における前記第1部分と前記第2部分との面積比は、5:1乃至100:1である、
    請求項1または2に記載の吸着盤。
JP2011287381A 2011-12-28 2011-12-28 吸着盤 Active JP6010811B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011287381A JP6010811B2 (ja) 2011-12-28 2011-12-28 吸着盤
KR1020147019782A KR20140117413A (ko) 2011-12-28 2012-12-28 흡착반
TW101150931A TWI571350B (zh) 2011-12-28 2012-12-28 吸著盤
CN201280065051.1A CN104040709B (zh) 2011-12-28 2012-12-28 吸附盘
PCT/JP2012/084109 WO2013100134A1 (ja) 2011-12-28 2012-12-28 吸着盤

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011287381A JP6010811B2 (ja) 2011-12-28 2011-12-28 吸着盤

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013138056A JP2013138056A (ja) 2013-07-11
JP6010811B2 true JP6010811B2 (ja) 2016-10-19

Family

ID=48697611

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011287381A Active JP6010811B2 (ja) 2011-12-28 2011-12-28 吸着盤

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JP6010811B2 (ja)
KR (1) KR20140117413A (ja)
CN (1) CN104040709B (ja)
TW (1) TWI571350B (ja)
WO (1) WO2013100134A1 (ja)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015136754A (ja) * 2014-01-22 2015-07-30 日立金属株式会社 多孔質焼結板、これを用いた真空吸着パッド、及び多孔質焼結板の製造方法
JP2016012600A (ja) * 2014-06-27 2016-01-21 京セラ株式会社 吸着用部材
CN105081971A (zh) * 2015-08-31 2015-11-25 平凉市老兵科技研发有限公司 一种用于减薄机的转移吸盘
GB2557866A (en) * 2015-10-19 2018-07-04 Advanced Mfg Sheffield Limited Apparatus and method for machining a thin-walled component
JP6815138B2 (ja) * 2016-09-06 2021-01-20 株式会社ディスコ 吸引保持システム
CN108247139A (zh) * 2018-01-10 2018-07-06 宁波海蔓汽车科技有限公司 变速器齿轮去毛刺装置
CN113130368A (zh) * 2021-04-13 2021-07-16 南京中安半导体设备有限责任公司 气浮卡盘及晶圆几何参数测量装置
CN111874623B (zh) * 2020-07-17 2022-08-26 苏州精濑光电有限公司 一种吸附机构及搬运装置
WO2023106859A1 (ko) * 2021-12-08 2023-06-15 주식회사 기공기술 진공 척
CN114147504B (zh) * 2021-12-14 2023-04-11 江苏集萃精凯高端装备技术有限公司 镜片固定装置及镜片的超精密车削加工方法
CN114857172A (zh) * 2022-05-30 2022-08-05 北京半导体专用设备研究所(中国电子科技集团公司第四十五研究所) 气浮支撑机构

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61252632A (ja) * 1985-05-02 1986-11-10 Hitachi Electronics Eng Co Ltd ウエハとマスクとの密着方法
JP4256780B2 (ja) * 2001-08-13 2009-04-22 ジージー21・カンパニー・リミテッド ユーザの位置情報の登録・サーチ方法及びシステム
JP2003273136A (ja) * 2002-03-12 2003-09-26 Seiko Epson Corp ピックアップ装置、ピックアップ方法及び半導体装置の製造方法
JP2004014603A (ja) * 2002-06-04 2004-01-15 Ngk Spark Plug Co Ltd 吸着用チャック
JP2004319885A (ja) * 2003-04-18 2004-11-11 Disco Abrasive Syst Ltd チャックテーブル及び半導体ウェーハの研削方法
JP2005050855A (ja) * 2003-07-29 2005-02-24 Lintec Corp 吸着搬送装置
TWM276650U (en) * 2005-04-25 2005-10-01 Grain Electronics Inc Vacuum pad
JP4703590B2 (ja) * 2007-03-13 2011-06-15 京セラ株式会社 真空吸着装置及びそれを用いた吸着方法
JP4423357B1 (ja) * 2008-10-24 2010-03-03 株式会社タンケンシールセーコウ 真空吸着装置
CN201346752Y (zh) * 2009-01-22 2009-11-18 华中科技大学 一种挠性印刷电路板专用真空吸盘
JP5297823B2 (ja) * 2009-01-27 2013-09-25 日東電工株式会社 吸着固定用シートおよびその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
TW201343317A (zh) 2013-11-01
CN104040709A (zh) 2014-09-10
JP2013138056A (ja) 2013-07-11
CN104040709B (zh) 2016-08-24
WO2013100134A1 (ja) 2013-07-04
KR20140117413A (ko) 2014-10-07
TWI571350B (zh) 2017-02-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6010811B2 (ja) 吸着盤
KR101384504B1 (ko) 기판 흡착 장치 및 그 제조 방법
KR101697839B1 (ko) 비접촉 흡착반
JP5652832B2 (ja) チャック装置、及びチャック方法
TWI690017B (zh) 基板保持裝置
JP4671841B2 (ja) 対象物間の脱ガス方法および脱ガス装置
JP5016523B2 (ja) 真空チャック
JP2008300426A (ja) 真空チャック
JP2017211604A (ja) 基板吸着保持装置および露光装置
JP2018190815A (ja) 真空吸着部材
JP4678787B2 (ja) 薄厚ウエハ搬送用吸着ハンド
JP2018037469A (ja) 真空吸着部材
JP4678788B2 (ja) 薄厚ウエハの搬送方法
CN108074848B (zh) 垫片、晶圆堆叠结构、吸附式移动装置与晶圆移动方法
KR200407743Y1 (ko) 진공척
TWI830090B (zh) 接合裝置及接合方法
JPH0516088A (ja) 吸着保持具
JP4965406B2 (ja) 装着装置及び装着方法
JP6101095B2 (ja) 搬送ハンド、搬送装置および搬送方法
JP4649066B2 (ja) 真空チャック
JP4629218B2 (ja) 導電性ボールの吸引配列装置及び吸引配列方法
JP2004165276A (ja) 吸着装置および搬送装置
JP2601925Y2 (ja) 板材吸着装置
JP2017112343A (ja) 基板保持装置および基板保持方法
JP2012231016A (ja) 球状体吸着ヘッドおよび球状体搭載装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20141031

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20160314

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160513

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20160824

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20160830

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6010811

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250