JP5950246B2 - リアクトル - Google Patents
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Description
相互に対向して並列配置され、各々に巻線が巻回されたコイルを備えた一対のセンターコアと、
前記一対のセンターコアの両端に、相互に対向して並列配置された一対のサイドコアと
を備えたリアクトルであって、
前記リアクトルの漏れ磁束を利用して前記リアクトルに流れる電流を測定する電流測定手段が、前記リアクトルの外周面に設置されている
ことを特徴とするリアクトルである。
前記電流測定手段が、ホール素子またはホールICを使用することを特徴とする第1の技術に記載のリアクトルである。
前記電流測定手段が、前記センターコアに沿って配置されていることを特徴とする第1の技術または第2の技術に記載のリアクトルである。
前記電流測定手段が、前記センターコアの上面または下面に沿って配置されていることを特徴とする第3の技術に記載のリアクトルである。
前記電流測定手段が、前記センターコアの側面に沿って配置されていることを特徴とする第3の技術に記載のリアクトルである。
前記一対のセンターコアは、それぞれ2個以上のミドルコアで構成されており、
前記電流測定手段が、前記サイドコアに近いミドルコアに沿って配置されていることを特徴とする第3の技術ないし第5の技術いずれか1つに記載のリアクトルである。
前記電流測定手段の中心部が、前記漏れ磁束の磁束密度がピーク値の50%以上である領域内に配置されていることを特徴とする第3の技術ないし第6の技術のいずれか1つに記載のリアクトルである。
前記電流測定手段の中心部が、前記漏れ磁束の磁束密度がピーク値の70%以上である領域内に配置されていることを特徴とする第3の技術ないし第6の技術のいずれか1つに記載のリアクトルである。
前記電流測定手段の中心部が、
前記サイドコアに近いミドルコアの上面で、
前記ミドルコアの上面の長さをL、幅をWとしたときに、前記ミドルコアの前記サイドコア側の端から0.2L〜0.6L、外周面側の端から0〜0.7Wの領域内に配置されている
ことを特徴とする第6の技術に記載のリアクトルである。
前記サイドコアの一方に、一方のセンターコアから他方のセンターコアへコイルを巻き返す巻き返し部が設けられており、
前記電流測定手段が、前記巻き返し部の上部に設置されている
ことを特徴とする第1の技術または第2の技術に記載のリアクトルである。
前記センターコア、前記サイドコアおよび前記電流測定手段が、モールド樹脂加工により固定されていることを特徴とする第1の技術ないし第10の技術のいずれか1つに記載のリアクトルである。
相互に対向して並列配置され、各々に巻線が巻回されたコイルを備えた一対のセンターコアと、
前記一対のセンターコアの両端に、相互に対向して並列配置された一対のサイドコアと
を備えたリアクトルであって、
前記リアクトルの漏れ磁束を利用して前記リアクトルに流れる電流を測定する電流測定手段が、前記リアクトルの外周面に設置されており、
前記電流測定手段が、前記センターコアに沿って配置されており、
前記電流測定手段の中心部が、前記漏れ磁束の磁束密度がピーク値の50%以上である領域内に配置されている
ことを特徴とするリアクトルである。
相互に対向して並列配置され、各々に巻線が巻回されたコイルを備えた一対のセンターコアと、
前記一対のセンターコアの両端に、相互に対向して並列配置された一対のサイドコアと
を備えたリアクトルであって、
前記リアクトルの漏れ磁束を利用して前記リアクトルに流れる電流を測定する電流測定手段が、前記リアクトルの外周面に設置されており、
前記電流測定手段が、前記センターコアに沿って配置されており、
前記電流測定手段の中心部が、前記漏れ磁束の磁束密度がピーク値の70%以上である領域内に配置されている
ことを特徴とするリアクトルである。
相互に対向して並列配置され、各々に巻線が巻回されたコイルを備えた一対のセンターコアと、
前記一対のセンターコアの両端に、相互に対向して並列配置された一対のサイドコアと
を備えたリアクトルであって、
前記リアクトルの漏れ磁束を利用して前記リアクトルに流れる電流を測定する電流測定手段が、前記リアクトルの外周面に設置されており、
前記電流測定手段が、前記センターコアに沿って配置されており、
前記一対のセンターコアは、それぞれ2個以上のミドルコアで構成されており、
前記電流測定手段が、前記サイドコアに近いミドルコアに沿って配置されており、
前記電流測定手段の中心部が、
前記サイドコアに近いミドルコアの上面で、
前記ミドルコアの上面の長さをL、幅をWとしたときに、前記ミドルコアの前記サイドコア側の端から0.2L〜0.6L、外周面側の端から0〜0.7Wの領域内に配置されている
ことを特徴とするリアクトルである。
相互に対向して並列配置され、各々に巻線が巻回されたコイルを備えた一対のセンターコアと、
前記一対のセンターコアの両端に、相互に対向して並列配置された一対のサイドコアと
を備えたリアクトルであって、
前記リアクトルの漏れ磁束を利用して前記リアクトルに流れる電流を測定する電流測定手段が、前記リアクトルの外周面に設置されており、
前記サイドコアの一方に、一方のセンターコアから他方のセンターコアへコイルを巻き返す巻き返し部が設けられており、
前記電流測定手段が、前記巻き返し部の上部に設置されている
ことを特徴とするリアクトルである。
前記電流測定手段が、ホール素子またはホールICを使用することを特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれか1項に記載のリアクトルである。
前記電流測定手段が、前記センターコアの上面または下面に沿って配置されていることを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載のリアクトルである。
前記電流測定手段が、前記センターコアの側面に沿って配置されていることを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載のリアクトルである。
前記一対のセンターコアは、それぞれ2個以上のミドルコアで構成されており、
前記電流測定手段が、前記サイドコアに近いミドルコアに沿って配置されていることを特徴とする請求項1、請求項2および請求項7のいずれか1項に記載のリアクトルである。
前記センターコア、前記サイドコアおよび前記電流測定手段が、モールド樹脂加工により固定されていることを特徴とする請求項1ないし請求項8のいずれか1項に記載のリアクトルである。
図1は、本実施の形態におけるリアクトルを模式的に示す斜視図である。図1において、1はリアクトル、11はセンターコア、12はコイル、13はサイドコア、14は電流測定部、14aはホールIC(電流測定手段)、14bは基板である。なお、本実施の形態においては、リアクトル1は、(縦)80×(横)120×(高さ)60mmの大きさに作製されている。
ホールIC14aはその中心部が、漏れ磁束の磁束密度が高い領域に配置されていることが好ましく、具体的には、計測されるピーク値の50%以上の領域に配置されていることが好ましい。この領域にホールIC14aを配置することにより、漏れ磁束の磁束密度から電流の確実な検出が可能となり、70%以上の領域であればより精度高く電流を検出することが可能となる。
ホールICを配置する具体的な領域は、リアクトルにおける漏れ磁束の磁束密度を、リアクトルのX方向およびY方向に測定した結果に基づいて設定される。図2は、本実施例におけるリアクトルの磁束密度の測定について説明する図であり、(a)は測定結果を示す図、(b)は測定方法を説明する図である。本実施の形態においては、リアクトルの上面に沿って、X方向、Y方向の座標を設定し、各座標における磁束密度を測定することにより、磁束分布を求めた。
X方向:一方のセンターコアの外周側端面から他方のセンターコアの外周側端面に向けて、両端をそれぞれX(0)、X(50)として、その間を50等分し、X(0)〜X(50)の座標を設定した。なお、図2(b)においては、下方のセンターコアにおけるX座標、即ち、X(25)〜X(50)のみを示している。
コイルに30Aの電流を流し、X(0)〜X(50)までX座標を5ずつ変化させながら、各X位置でホールIC(Melexis社製、IC90288)をY方向にY(0)〜Y(75)までスキャンさせて、各座標におけるホールICの出力電圧を測定した(offset値:2.465V)。測定結果を表1に示すと共に、この結果に基づいて、各X座標におけるY方向のホールICの出力電圧を図3に示し、また各X座標および各Y座標を底面とする立体表示図を図4に示す。なお、表1において、縦方向がX座標であり、横方向がY座標である。
次に、上記の測定結果を用いて、ホールICの感度値により、200Aの時の各座標における磁束密度B(T)を求めた。算定結果を表2に示す。なお、表2において、縦方向がX座標、横方向がY座標である。
次に、上記の測定結果に基づいて、ホールICを配置する好ましい領域を求めた。具体的には、前記したように、ピーク値の70%以上の領域であればより精度高く電流の検出が可能となるため、ピーク値が得られた箇所のX方向、Y方向のそれぞれの方向にピーク値の70%以上の磁束密度が得られる領域を求めた。
7 コア
11、71 センターコア
12 コイル
13、73 サイドコア
14 電流測定部
14a ホールIC
14b 基板
71a ミドルコア
A Y方向の範囲
B X方向の範囲
L ミドルコアの長さ
W ミドルコアの幅
Claims (9)
- 相互に対向して並列配置され、各々に巻線が巻回されたコイルを備えた一対のセンターコアと、
前記一対のセンターコアの両端に、相互に対向して並列配置された一対のサイドコアと
を備えたリアクトルであって、
前記リアクトルの漏れ磁束を利用して前記リアクトルに流れる電流を測定する電流測定手段が、前記リアクトルの外周面に設置されており、
前記電流測定手段が、前記センターコアに沿って配置されており、
前記電流測定手段の中心部が、前記漏れ磁束の磁束密度がピーク値の50%以上である領域内に配置されている
ことを特徴とするリアクトル。 - 相互に対向して並列配置され、各々に巻線が巻回されたコイルを備えた一対のセンターコアと、
前記一対のセンターコアの両端に、相互に対向して並列配置された一対のサイドコアと
を備えたリアクトルであって、
前記リアクトルの漏れ磁束を利用して前記リアクトルに流れる電流を測定する電流測定手段が、前記リアクトルの外周面に設置されており、
前記電流測定手段が、前記センターコアに沿って配置されており、
前記電流測定手段の中心部が、前記漏れ磁束の磁束密度がピーク値の70%以上である領域内に配置されている
ことを特徴とするリアクトル。 - 相互に対向して並列配置され、各々に巻線が巻回されたコイルを備えた一対のセンターコアと、
前記一対のセンターコアの両端に、相互に対向して並列配置された一対のサイドコアと
を備えたリアクトルであって、
前記リアクトルの漏れ磁束を利用して前記リアクトルに流れる電流を測定する電流測定手段が、前記リアクトルの外周面に設置されており、
前記電流測定手段が、前記センターコアに沿って配置されており、
前記一対のセンターコアは、それぞれ2個以上のミドルコアで構成されており、
前記電流測定手段が、前記サイドコアに近いミドルコアに沿って配置されており、
前記電流測定手段の中心部が、
前記サイドコアに近いミドルコアの上面で、
前記ミドルコアの上面の長さをL、幅をWとしたときに、前記ミドルコアの前記サイドコア側の端から0.2L〜0.6L、外周面側の端から0〜0.7Wの領域内に配置されている
ことを特徴とするリアクトル。 - 相互に対向して並列配置され、各々に巻線が巻回されたコイルを備えた一対のセンターコアと、
前記一対のセンターコアの両端に、相互に対向して並列配置された一対のサイドコアと
を備えたリアクトルであって、
前記リアクトルの漏れ磁束を利用して前記リアクトルに流れる電流を測定する電流測定手段が、前記リアクトルの外周面に設置されており、
前記サイドコアの一方に、一方のセンターコアから他方のセンターコアへコイルを巻き返す巻き返し部が設けられており、
前記電流測定手段が、前記巻き返し部の上部に設置されている
ことを特徴とするリアクトル。 - 前記電流測定手段が、ホール素子またはホールICを使用することを特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれか1項に記載のリアクトル。
- 前記電流測定手段が、前記センターコアの上面または下面に沿って配置されていることを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載のリアクトル。
- 前記電流測定手段が、前記センターコアの側面に沿って配置されていることを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載のリアクトル。
- 前記一対のセンターコアは、それぞれ2個以上のミドルコアで構成されており、
前記電流測定手段が、前記サイドコアに近いミドルコアに沿って配置されていることを特徴とする請求項1、請求項2および請求項7のいずれか1項に記載のリアクトル。 - 前記センターコア、前記サイドコアおよび前記電流測定手段が、モールド樹脂加工により固定されていることを特徴とする請求項1ないし請求項8のいずれか1項に記載のリアクトル。
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