JP5892011B2 - 一軸配向をもつ物品の複屈折測定方法及び装置 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 28
- 238000000411 transmission spectrum Methods 0.000 claims description 103
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 48
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 35
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 30
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 27
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 claims description 20
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 17
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims description 14
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 11
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 5
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 9
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000001125 extrusion Methods 0.000 description 3
- 229920002799 BoPET Polymers 0.000 description 2
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 235000012438 extruded product Nutrition 0.000 description 1
- 238000007429 general method Methods 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
(S2)前記位相差測定装置を用いて被測定物の透過光分光スペクトルから透過率スペクトルTobs(λ)(=I(θ)/I0(θ))を求めるステップ、
(S3)ステップS1で用意された計算透過率スペクトルTcal(λ)のうちで透過率スペクトルTobs(λ)に最も近い計算透過率スペクトルTcal(λ)に該当する位相差Rとして位相差Rmを求めるステップ、及び
(S4)ステップS3で求められた位相差Rmを被測定物の厚さtで割り算することにより複屈折ΔnをΔn=Rm/tとして求めるステップ。
I(θ)
=I0{α2cos4(θ−φ)+sin4(θ−φ)+(Cα/2)sin2 2(θ−φ )}
(1)
ただし、C =cos(2πR /λ ) (2)
I(45)=I0(45)・(1+C)/2 (3)
R(λ)=a+b/(λ2−c2) (4)
a、b、cの各係数の値は、被測定物と同じ材料でフィルム状の試料を作製することにより、例えば王子計測機器(株)製の位相差測定装置KOBRA−WRを用いて容易に求めることができる。波長分散を(4)式で表すことができることについては非特許文献1に記載されている。
T'obs(λ)=(Tobs(λ)−Tobs(λ).mv-min)/K (5)
ただし、
K=(Tobs.mv-max(λ)−Tobs(λ).mv-min)/(Tcal(λ).max−Tcal(λ).min)
Tobs(λ).mv-min:実測透過率スペクトルTobs(λ)の移動平均の最小値
Tobs(λ).mv-max:実測透過率スペクトルTobs(λ)の移動平均の最大値
Tcal(λ).max:計算透過率スペクトルの最大値
Tcal(λ).max:計算透過率スペクトルの最小値
である。
Dout=Y8−Y1 (6)
Din=Y5−Y4+(Y4−Y3)/K+(Y6−Y5)/K (7)
t=(Dout−Din)/2 (8)
Δn=Rm(λo)/2t又は
Δn=Rm(λo)/D (9)
2 ライトガイド
3 集光レンズ
4 偏光子
5 試料台
6 被測定物
7 検光子
8 レンズ
9 イメージング分光器
9a スリット
9b グレーティング
9c CCD素子
9d CCDカメラ
10 演算処理部
100 分散比率算出部
102 透過率スペクトル保持部
104 透過率スペクトル算出部
106 透過率スペクトル補正部
108 位相差算出部
110 画像処理部
Claims (10)
- 一軸配向をもつ光透過性物品からなる被測定物を挟んで偏光子と検光子を平行ニコルに配置するとともに、偏光子・検光子の透過軸を被測定物の配向軸に対して特定の方位角θで固定した状態で、偏光子を通して被測定物に多波長成分を含む測定光を照射し、被測定物を透過した測定光を検光子を通してイメージング分光器に入射させて透過光分光スペクトルを取り込む位相差測定装置を用い、以下のステップを備えて被測定物の複屈折を測定する複屈折測定方法。
(S1)計算透過率スペクトルTcal(λ)(=I(θ)/I0(θ))を複数の位相差について予め求めて用意しておくステップ、
(S2)前記位相差測定装置を用いて被測定物の透過光分光スペクトルから透過率スペクトルTobs(λ)(=I(θ)/I0(θ))を求めるステップ、
(S3)ステップS1で用意された計算透過率スペクトルTcal(λ)のうちで透過率スペクトルTobs(λ)に最も近い計算透過率スペクトルTcal(λ)に該当する位相差として位相差Rmを求めるステップ、及び
(S4)ステップS3で求められた位相差Rmを被測定物の厚さtで割り算することにより複屈折Δnを
Δn=Rm/t
として求めるステップ。
ここで、I0は被測定物がないときの検出光強度、Iは被測定物があるときの検出光強度、λは測定光の波長である。 - 被測定物がチューブ又は棒状物であり、
被測定物の厚さtはイメージング分光器に入射した被測定物の画像を処理して得ることにより、一台の位相差測定装置で位相差Rmと厚さtをともに得て複屈折Δnを求める請求項1に記載の複屈折測定方法。 - 被測定物の配向軸に対する偏光子・検光子の透過軸の方位角θを45°とし、計算透過率スペクトルTcal(λ)と透過率スペクトルTobs(λ)を
(1+C)/2
として求める請求項1又は2に記載の複屈折測定方法。
ここで、C=cos(2πR/λ)(R:位相差)である。 - 前記ステップ(S2)と(S3)の間に、前記ステップ(S2)で求められた透過率スペクトルTobs(λ)と前記ステップ(S1)で用意されている計算透過率スペクトルTcal(λ)それぞれの最大値と最小値が一致するように透過率スペクトルTobs(λ)を補正して補正透過率スペクトルT'obs(λ)を算出するステップをさらに備え、
前記ステップ(S3)では透過率スペクトルTobs(λ)に替えて補正透過率スペクトルT'obs(λ)を使用して位相差Rmを求める請求項1から3のいずれか一項に記載の複屈折測定方法。 - 前記ステップ(S1)での計算透過率スペクトルTcal(λ)は、被測定物についての位相差R(λ)の波長分散式に基づいて基準波長λ0での位相差R(λ0)を複数に変化させたときの対応する位相差R(λ)から算出したものである請求項1から4のいずれかに記載の複屈折測定方法。
- 偏光子と検光子が平行ニコルに配置され、多波長成分を含む測定光が偏光子から検光子を通してイメージング分光器に入射して透過光分光スペクトルを測定する分光スペクトル測定部と、
偏光子と検光子の間に被測定物を保持し、被測定物の配向軸が偏光子・検光子の透過軸に対して特定の方位角θとなるように位置決めする試料台と、
前記分光スペクトル測定部で測定された透過光分光スペクトルから被測定物の複屈折を算出する演算処理部と、を備え、
前記演算処理部は、計算透過率スペクトルTcal(λ)を複数の位相差について予め求めて保持しておく透過率スペクトル保持部と、
前記分光スペクトル測定部により測定された被測定物の透過光分光スペクトルから透過率スペクトルTobs(λ)を算出する透過率スペクトル算出部と、
前記透過率スペクトル保持部に保持された計算透過率スペクトルTcal(λ)のうちで前記透過率スペクトル算出部で算出された透過率スペクトルTobs(λ)に最も近い計算透過率スペクトルTcal(λ)に該当する位相差Rmを求める位相差算出部と、
前記位相差算出部で求められた位相差Rmを被測定物の厚さtで割り算することにより複屈折Δnを
Δn=Rm/t
として求める複屈折算出部と
を備えている複屈折測定装置。 - 被測定物としてチューブ又は棒状物を測定したとき、前記イメージング分光器に入射した被測定物の画像を処理して被測定物の厚さtを算出する画像処理部をさらに備え、
前記複屈折算出部は被測定物の厚さtとして前記画像処理部で算出された被測定物の厚さtを使用する請求項6に記載の複屈折測定装置。 - 前記試料台は偏光子・検光子の透過軸に対する被測定物の配向軸の方位角θが45°となるように被測定物を保持するものであり、
前記演算処理部は計算透過率スペクトルTcal(λ)と透過率スペクトルTobs(λ)を
(1+C)/2
として処理する請求項6又は7に記載の複屈折測定装置。 - 前記透過率スペクトル算出部で算出された透過率スペクトルTobs(λ)と前記透過率スペクトル保持部に保持された計算透過率スペクトルTcal(λ)それぞれの最大値と最小値が一致するように透過率スペクトルTobs(λ)を補正して補正透過率スペクトルT'obs(λ)を算出する透過率スペクトル補正部をさらに備え、
前記位相差算出部は透過率スペクトルTobs(λ)に替えて前記透過率スペクトル補正部で算出された補正透過率スペクトルT'obs(λ)を使用して位相差Rmを求める請求項6から8のいずれか一項に記載の複屈折測定装置。 - 前記演算処理部は被測定物についての位相差R(λ)の波長分散式から基準波長λ0に対する位相差の分散比率R(λ)/R(λ0)を計算する分散比率算出部をさらに備え、
前記透過率スペクトル保持部に保持されている透過率スペクトルTcal(λ)は、R(λ0)を複数に変化させたときの対応するR(λ)から算出されたものである請求項6から9のいずれか一項に記載の複屈折測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012197860A JP5892011B2 (ja) | 2012-09-07 | 2012-09-07 | 一軸配向をもつ物品の複屈折測定方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012197860A JP5892011B2 (ja) | 2012-09-07 | 2012-09-07 | 一軸配向をもつ物品の複屈折測定方法及び装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014052317A JP2014052317A (ja) | 2014-03-20 |
JP5892011B2 true JP5892011B2 (ja) | 2016-03-23 |
Family
ID=50610904
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012197860A Active JP5892011B2 (ja) | 2012-09-07 | 2012-09-07 | 一軸配向をもつ物品の複屈折測定方法及び装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5892011B2 (ja) |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2898298B2 (ja) * | 1989-03-24 | 1999-05-31 | シチズン時計株式会社 | 液晶層厚測定装置およびこの液晶層厚測定装置を用いた液晶層厚の測定方法 |
JP3474021B2 (ja) * | 1995-02-21 | 2003-12-08 | 積水化学工業株式会社 | 複屈折測定装置 |
JP2000111472A (ja) * | 1998-09-30 | 2000-04-21 | Mitsui Chemicals Inc | 複屈折測定装置及びフィルムの配向測定装置 |
WO2007046348A1 (ja) * | 2005-10-17 | 2007-04-26 | Kaneka Corporation | 医療用カテーテルチューブ及びその製造方法 |
JP5116345B2 (ja) * | 2007-04-06 | 2013-01-09 | 富士フイルム株式会社 | 位相差測定方法及び装置 |
JP5115928B2 (ja) * | 2008-05-20 | 2013-01-09 | 王子計測機器株式会社 | 位相差分布測定装置 |
WO2011074261A1 (ja) * | 2009-12-17 | 2011-06-23 | 住友金属工業株式会社 | 管状品の検査装置およびその検査方法 |
-
2012
- 2012-09-07 JP JP2012197860A patent/JP5892011B2/ja active Active
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2014052317A (ja) | 2014-03-20 |
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